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DE1217637B - Vorrichtung zum Messen von Verschiebungen - Google Patents

Vorrichtung zum Messen von Verschiebungen

Info

Publication number
DE1217637B
DE1217637B DEN21014A DEN0021014A DE1217637B DE 1217637 B DE1217637 B DE 1217637B DE N21014 A DEN21014 A DE N21014A DE N0021014 A DEN0021014 A DE N0021014A DE 1217637 B DE1217637 B DE 1217637B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
grid
zone
area
optical system
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEN21014A
Other languages
English (en)
Inventor
Hendrik De Lang
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of DE1217637B publication Critical patent/DE1217637B/de
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/06Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
    • G01B21/065Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for stretchable materials

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Vorrichtung zum Messen von Verschiebungen Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Bestimmen der Lageänderungen eines Objektes gegenüber einem zweiten Objekt mittels eines mit dem einen Objekt verbundenen optischen Rasters mit nahezu senkrecht zur Bewegungsrichtung verlaufenden Linien und mit einer mit dem zweiten Objekt verbundenen, aus einer Lichtquelle, einem optischen System und einem oder mehreren foto elektrischen Elementen bestehenden Abtastvorrichtung, bei welcher eine Zone des Rasters auf eine andere Zone desselben als eine sich bei der Bewegung des Rasters gegensinnig zu der zweiten Zone bewegende Abbildung abgebildet und das Lichtbündel nach nochmaligem Zusammenwirken mit der zweiten Zone des Rasters auf eine oder mehrere foto elektrische Vorrichtungen geworfen wird zur Erzeugung von als periodische Funktion des Verschiebungsmaßes auswertbaren foto elektrischen Signalen, derart, daß durch entsprechende Mittel aus der Periodizität dieses elektrischen Signals die Größe und die Richtung oder nur die Größe des Verschiebungsweges abnehmbar ist. Eine solche Vorrichtung kann Anwendung finden bei Geräten, bei denen geradlinige oder kreisförmige Bewegungen ausgeführt werden, z. B. bei Werkzeugmaschinen, wie Bohrmaschinen, Fräsmaschinen u. dgl. Es kommt dabei vor, daß von Hand oder selbsttätig herbeigeführte Verschiebungen eines beweglichen Teiles gegenüber einem stillstehenden Teil, z. B. eines Schlittens gegenüber einem Gestell, mit großer Genauigkeit selbsttätig gemessen werden müssen. Eine ähnliche Vorrichtung ist z. B. aus der britischen Patentschrift 782 831 bekannt.
  • Bei dieser bekannten Vorrichtung wird Licht durch das Raster hindurch in ein optisches Abbildungssystem geworfen. Das Licht wird von letzterem wieder auf das Raster zurückgeworfen und erzeugt dort ein Bild in etwa natürlicher Größe, das sich gegensinnig zum Raster selbst bewegt. Die Bewegung kann eine lineare Verschiebung oder eine Drehung sein. In dem aus dem Raster rückwärts heraustretenden Licht treten dann Schwankungen auf, die der doppelten Periodenzahl entsprechen, über die das Raster verschoben worden ist und die fotoelektrisch gezählt werden.
  • In der französischen Patentschrift 1221019 ist eine Vorrichtung beschrieben, bei der ein Bild des Rasters an sich mittels eines optischen Systems erzeugt wird, welches aus einem flachen oder spärischen Spiegel, einem Dachspiegel oder einem Prisma und einem zwischen diesem Element und dem Raster angeordneten optischen System besteht, welches zweimal durchlaufen wird, nämlich in der Vorwärts- und der Rückwärtsrichtung. Auf diese Weise kann ein Bild einer bestimmten Zone des Rasters auf derselben Zone erzeugt werden.
  • Die vorliegende Erfindung bezweckt, solche Vorrichtungen zur Verwendung mit einem Reflexionsraster statt mit einem Durchlaßraster geeignet zu machen, derart, daß der Lichtverlust innerhalb zulässiger Grenzen gehalten wird. Das Reflexionsraster kann ein Phasenraster oder ein Absorptionsraster sein. Es ist dabei im allgemeinen nicht erwünscht, mehrere halbdurchlässige Spiegel zu verwenden, da diese einen großen Lichtverlust herbeiführen.
  • Hierzu sei bemerkt, daß es an sich bekannt ist, z. B. aus der britischen Patentschrift 787 641, bei solchen Anordnungen an Stelle von Durchlaßgittern Reflexionsgitter zu verwenden. Ebenso ist bekannt, bei der Abbildung eines Rasters auf ein anderes Raster oder auf sich selbst zur Vermeidung von optischen Störwirkungen streng parallele Strahlenbündel anzuwenden. So z. B. aus der Patentschrift 13 145 des Amtes für Erfindungs- und Patentwesen in der sowjetischen Besatzungszone Deutschlands. Es wurde auch bereits vorgeschlagen, bei fotoelektrischen Meßvorrichtungen, bei denen Objekte an sich selbst abgebildet werden, an Stelle der optischen eine geometrische Strahlenteilung vorzunehmen (vgl. dazu z. B. die deutsche Auslegeschrift 1089 561).
  • Die Erfindung besteht darin, daß das Raster in an sich bekannter Weise als Refiexionsraster ausgebildet ist und das von der Lichtquelle ausgehende Lichtbündel nach Reflexion an diejenige Stelle einer in dem optischen System angeordneten Fläche geleitet wird, welche von der abzubildenden Zone des ersten Rasters aus über den zwischen dieser Fläche rund dem Raster liegenden Teil des optischen Systems im Unendlichen beobachtbar ist, und dann weiter zunächst an diejenige Stelle einer weiteren Fläche geleitet wird, welche von der zweiten Zone aus über den zwischen der zweiten Zone und dieser letztgenannten Fläche liegenden Teil des .optischen Systems im Unendlichen beobachtbar ist, und dann den fotoelektrischen Elementen zugeleitet wird, in einer solchen Anordnung, daß dabei die Lichtquelle oder ein Bild derselben in der zuerst genannten Fläche liegt in einem Punkt, welcher senkrecht zur Streurichtung gegenüber dem Deckpunkt des in der ersten Fläche durch den ersten Teil des optischen Systems von der ersten Zone des Rasters erzeugten Bildes verschoben ist, und daß gleichzeitig durch den zweiten Teil des optischen Systems in der zweiten Fläche ein Bild der zweiten Rasterzone erzeugt wird, welches senkrecht zur Streu richtung gegenüber dem in dieser Fläche entsprechenden Deckpunkt verschoben ist, und daß dabei letzteres Bild unmittelbar oder über weitere optische Mittel auf das fotoelektrische Element einwirkt.
  • Durch diese Maßnahme werden die Verwendung halb durchlässiger Spiegel und die dadurch bedingten Lichtverluste vermieden.
  • Die erwähnten Zonen des Rasters können dabei, ebenso wie die Teile des optischen Systems, räumlich getrennt sein oder zusammenfallen.
  • Die Erfindung wird an Hand einiger in den Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispiele näher erläutert.
  • F i g. 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel mit einem um eine Achse A drehbaren, radialen Reflexionsraster R, das als Absorptionsraster ausgebildet ist.
  • Das Licht der Lichtquelle B wird über eine Linse L4, einen Spiegel 83 und eine Linse dem Raster zugeleitet. Es trifft auf das Raster in der Zone D1, das zurückgeworfene Licht tritt nochmals durch die Linse L1 hindurch und wird dann über Spiegel 8 und 82 zur Linse L3 und von dort zur zweiten Zone D2 des Rasters geleitet. Zwischen den Spiegeln S und 82 befindet sich noch die Linsen2, welche als Feldlinse wirksam ist und die Brennflächen V1 und V2 der Linsen L1 und L8 aufeinander abbildet.
  • Nachdem das Licht auch in der Zone D2 reflektiert worden ist. tritt es wieder durch die Linse L3 hindurch und wird über einen Spiegel 84 und eine Linse L5 auf das foto empfindliche Element F geworfen.
  • Die Linsen L1 und L3 sind z. B. Mikroskopobjektive; durch L1 ist die Zone D1 der Fläche der Linse L2 und ebenso ist durch L3 die Zone D2 der Fläche von L2 zugeordnet.
  • In F i g. la ist der Strahlengang schematisch dargestellt. Das Licht wird von einer Zone G1 aus, die in einer Fläche V1 im optischen System liegt, welche Fläche vom Raster aus im Unendlichen gesehen wird, dem Raster zugeleitet. Nach erfolgter Abbildung des Rasters an sich wird das Licht von der Zone G2 einer gleichartigen Fläche V2, die mit der ersten zusammenfallen kann, aus dem Strahlengang heraus und zum fotoelektrischen Element geleitet. Dpl und Dp2 sind die Deckpunkte der Bilder der Flächen, gegenüber denen die Zonen etwas verschoben gewählt werden können, so daß :Raum zum Anordnen der Spiegel 83 und 84 vorhanden ist. Die Rasternuten sind hier parallel zur Zeichenebene.
  • Hierbei kann bemerkt werden, daß das Bild der Lichtquelle aus den Beugungsmaxima des Rasters entsprechenden Abbildungen aufgebaut sein wird. Das der normalen Spiegelung an der Rasterobertläche entsprechende Bild ist das Bild der Oten Ordnung, das unter gewissen Voraussetzungen fehlen kann.
  • Dadurch, daß die Zone G1 an der Stelle des Spiegels 83, von der aus das Licht zum Raster geleitet wird, derart gewählt wird, daß sie außerhalb der Abbildung G1, liegt, kann hier die Verwendung eines halbdurchlässigen Spiegels vermieden werden. In gleicher Weise wird die Zone G2 gewählt, von der aus das Licht zu den Fotozellen geleitet wird. Auch dort wird also die Verwendung eines halbdurchlässigen Spiegels vermieden. Die Zone G wird vorzugsweise derart gewählt, daß die Zone G und ihre Abbildung G' in einer Richtung zueinander verschoben sind, die den Rasternuten entspricht und sich also senkrecht zur Streurichtung erstreckt.
  • Die Lichtquelle B wird von der LinseL4 in der Ebene V1 beim Spiegel 83 abgebildet. Es ist einleuchtend, daß die Lichtquelle in V2 beim Spiegel 84 abgebildet ist. Mittels der Linse L5 wird die Lichtquelle auf der Fotozelle F abgebildet, in der die sich aus der Drehung des Rasters R um seine Achse ergebenden Lichtschwankungen in Schwankungen eines elektrischen Stromes übergeführt werden. Bei jeder Drehung über eine Rasterperiode treten zwei Maxima im Lichtfluß auf.
  • Die beschriebene Vorrichtung kann in ähnlicher Weise wie bei bekannten Vorrichtungen dadurch richtungsempfindlich gemacht werden, daß z. B. zwischen der Linse L1 und der Zone D1 oder zwischen der Linsen, und der Zone D2 ein Doppelbrechungsplatte mit schräger optischer Achse angeordnet und das Licht über ein polarisierendes Teilsystem, in zwei gegenseitig senkrecht polarisierte Bestandteile geteilt, zwei Fotozellen zugeführt wird.
  • F i g. 2 zeigt schematisch ein Ausführungsbeispiel für eine Vorrichtung zum Messen linearer Verschiebungen eines Rasters R senkrecht zu den Rasternuten.
  • Vorausgesetzt ist, daß das Raster ein Phasenraster ist mit einem Durchschnitt senkrecht zu den Rasternuten, wie in F i g. 2 a dargestellt ist. Ä ist die mittlere Wellenlänge des verwendeten Lichtes. Bei dieser Ausführungsform fallen die Zonen D1 und D2 zusammen.
  • Die Vorrichtung besitzt einen einzigen Teilspiegel St.
  • Das Licht der Lichtquelle B wird über diesen Teilspiegel auf die Linse L1 geworfen, welche in der Öffnung H des Hohlspiegels ein Bild der Lichtquelle erzeugt. Der Hohlspiegel 82 befindet sich etwa in der Brennfläche einer Linse L2. Durch die Öffnung H hindurch trifft das Licht weiterhin über die Linsen, auf der Zone D1 des Rasters R auf.
  • Bei einem solchen Raster ist das Beugungsmaximum der Oten Ordnung sehr schwach, ebenso wie die Maxima sämtlicher geraden Ordnungen. Die. +lte und die -1te Ordnung sind stark und erzeugen am Spiegel 82 die Bilder B+1 und B-, der alten bzw. -Iten Ordnung.
  • Infolge der Streuung sind diese Bilder, wie in F i g. 2b dargestellt, senkrecht zu den Rasternuten spektral ausgedehnt. Nach Zurückwerfung durch den Hohlspiegel trifft das Licht wieder über die Linse L2 auf derselben Zone des Rasters R auf. Durch die Öffnung H hindurch werden dann die Bündel der Ordnung +1, 1 und -1 zurückgeworfen; dies sind die Bündel, die sich aus dem von B+1 herrührenden Licht der Ordnung +1 und aus dem von B-, herrührenden Licht der Ordnung - 1 ergeben. Diese kohärenten Bündel treten zusammen über die Öffnung im Spiegel 82 durch die Linse L1 und ergeben nach Zurückwerfung an 8i auf der Fotozelle F zwei kohärente Bilder von B.
  • Das Signal hat die Gestalt:
    const + sin
    4P /
    In F i g. 2b ist die Ansicht des Spiegels S2 von L aus nochmals dargestellt.
  • Wenn das Licht der Oten Ordnung störend ist, kann die Anordnung abgeändert werden, wie es durch F i g. 2 c verdeutlicht ist. Die Öffnung H liegt dann in der Nutenrichtung exzentrisch zur optischen 0 des aus L2 und 82 bestehenden Abbildungssystems. Die Ote Ordnung liegt dann symmetrisch gegenüber0, wenn vorausgesetzt wird, daß die Rasterfläche senkrecht zur optischen Achse des Abbildungssystems L2, 82 ist, und kann stellenweise durch örtliche Schwärzung des Spiegels S2 unschädlich gemacht werden.
  • Statt durch eine Öffnung Him Spiegel 82 kann mittels eines vor 82 gesetzten Prismas oder Spiegels das Licht nach L2 abgelenkt werden. Zur Erzielung eines phasenmodulierten Signals zwecks Bestimmung der Verschiebung, kann der Spiegel 82 in bekannter Weise in Schwingung versetzt werden. Auch können mehrere phasenverschobene Signale mittels einer zwischen: und R angebrachten Doppelbrechungsplatte mit schräger optischer Achse und eines polarisierenden Teilprismas erzeugt werden.
  • Beim Ausführungsbeispiel nach Fig. 3 trifft das Licht der Lichtquelle B längs des Spiegels S1 auf der Linse L1 auf. Die Lichtquelle B wird von L1 bei der Linse L2 und dem AblenkprismaP abgebildet, die nahe am Hohlspiegel 82 stehen. Der Hohlspiegel S2 befindet sich etwa in der Brennfläche der Linse L3. Das Licht trifft über der Linsen, auf der Zone des Rasters R auf, da die Linsen, die Kante E von 5 über das System, L2, P und L2 auf R abbildet.
  • Die Linse L2 ist praktisch entbehrlich, wenn die Lichtquelle klein ist. Das von der Zone D1 zurückgeworfene Licht fällt durch die Linse L3 auf den Hohlspiegel 82 zurück und erzeugt dort Bilder der Ordnung 1 und 0, welche durch B1 und Bo (s. F i g. 3 a) bezeichnet sind.
  • Das Bild B1 ist spektral ausgedehnt. Das Licht wird von dem Hohlspiegel 82 zurückgeworfen und trifft über die Linse L3 auf die Zone D2 auf. Auf dem von der Zone D2 zurückgeworfenen Licht werden die Bündel der Ordnung 0,0 und 1,1 verwendet, die beide wieder auf dem Prisma P auftreten und dort die Bilder Bo,o und B1,1 der Lichtquelle erzeugen. Das Licht trifft dann auf dem Spiegel S1 auf und wird zur Fotozelle F zurückgeworfen. Das in der Fotozelle erzeugte Signal hat die Gestalt:
    2zo;
    const + sin 1 .
    2P
    Das Raster kann die in F i g. 3b dargestellte Gestalt haben. Das Profil ist hier sinusförmig mit einer 1,5 Wellentiefe von 122 i, um »Auffiammen« in der -1ten und alten und der Oten Ordnung zu erzielen.
  • Auch bei diesem Ausführungsbeispiel ist es auf gleiche Weise wie vorher möglich, zwei gegenseitig phasenverschobene Signale zu erzielen.
  • Bei der Ausführungsform nach Fig.4 ist die Rastergestalt wie beim vorhergehenden Ausführungsbeispiel. Die Lichtquelle B wird von der Linse bei dem Prisma P1 abgebildet. Hierbei werden die Maxima BOP1 und Blso verwendet, die auf dem Prisma P2 auftreffen. Die Linse L3 bildet schließlich die Lichtquelle auf der FotozelleF ab. Das Signal ist wieder von gleicher Gestalt.
  • Bei diesem Ausführungsbeispiel ist kein Teilspiegel notwendig, während trotzdem die ganze Zone D1 an sich abgebildet wird. Die Abbildungen Bo,-l und B1,0 sind aber spektral ausgedehnt, so daß nur ein Teil des Spektrums in der Fotozelle einfällt. Um mehr Licht auf die Fotozelle zu erhalten, kann mittels eines geradsichtigen Dispersionsprismas im Weg vom Prisma P2 zur Fotozelle F die Streuung beseitigt oder wenigstens herabgesetzt werden.
  • Ebenso wie beim vorherigen Ausführungsbeispiel ist die Symmetrie in den Richtungen der verwendeten Maxima für nur eine Ordnung erfüllt.

Claims (4)

  1. Patentansprüche: 1. Vorrichtung zum Bestimmen der Lageänderungen eines Objektes gegenüber einem zweiten Objekt mittels eines mit dem einen Objekt verbundenen optischen Rasters mit nahezu senkrecht zur Bewegungsrichtung verlaufenden Linien und mit einer mit dem zweiten Objekt verbundenen, aus einer Lichtquelle, einem optischen System und einem oder mehreren foto elektrischen Elementen bestehenden Abtastvorrichtung, bei welcher eine Zone des Rasters auf eine andere Zone desselben als eine sich der bei Bewegung des Rasters gegensinnig zu der zweiten Zone bewegende Abbildung abgebildet und das Lichtbündel nach nochmaligem Zusammenwirken mit der zweiten Zone des Rasters auf eine oder mehrere foto elektrische Vorrichtungen geworfen wird zur Erzeugung von als periodische Funktion des Verschiebungsmaßes auswertbaren fotoelektrischen Signalen, derart, daß durch entsprechende Mittel aus der Periodizität dieses elektrischen Signals die Größe und die Richtung oder nur die Größe des Verschiebungsweges abnehmbar ist, dadurch gekennz e i c h n e t, daß das Raster (R) in an sich bekannter Weise als Reflexionsraster ausgebildet ist und das von der Lichtquelle (B) ausgehende Lichtbündel nach Reflexion an diejenige Stelle einer in dem optischen System angeordneten Fläche (Vl) geleitet wird, welche von der abzubildenden Zone (G) des ersten Rasters (R) aus über den zwischen dieser Fläche(Vl) und dem Raster(R) liegenden Teil des optischen Systems im Unendlichen beobachtbar ist, und dann weiter zunächst an diejenige Stelle einer weiteren Fläche (V2) geleitet wird, welche von der zweiten Zone (G2) aus über den zwischen der zweiten Zone (G2) und dieser letztgenannten Fläche (V2) liegenden Teil des optischen Systems im Unendlichen beobachtbar ist, und dann den fotoelektrischen Elementen (F) zugeleitet wird, in einer solchen Anordnung, daß dabei die Lichtquelle (B) oder ein Bild derselben in der zuerstgenannten Fläche (Vl) liegt in einem Punkt, welcher senkrecht zur Streurichtung gegenüber dem Deckpunkt (Dpl) des in der ersten Fläche durch den ersten Teil des optischen Systems von der ersten Zone(Dl) des Rasters (R) erzeugten Bildes verschoben ist, und daß gleichzeitig durch den zweiten Teil des optischen Systems in der zweiten Fläche (V2) ein Bild der zweiten Rasterzone (D2) erzeugt wird, welches senkrecht zur Streurichtung gegenüber dem in dieser Fläche (Ve entsprechenden Deckpunkt (Dp2) verschoben ist, und daß dabei letzteres Bild unmittelbar oder über weitere optische Mittel auf das fotoelektrische Element (F) einwirkt.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Zonen des Rasters (R) zusammenfallen.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Raster(R) als ein um seinen Mittelpunkt drehbares Radialraster ausgebildet ist.
  4. 4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Raster (R) als ein Phasenraster ausgebildet ist und daß Mittel angeordnet sind zum Ausnutzen wenigstens zweier sich bei der optischen Abbildung ergebender Beugungsmaxima.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 089 561; Patentschrift Nr. 13 145 des Amtes für Erfindungs-und Patentwesen in der sowjetischen Besatzungszone Deutschlands; britische Patentschrift Nr. 787 641.
DEN21014A 1961-01-04 1962-01-02 Vorrichtung zum Messen von Verschiebungen Pending DE1217637B (de)

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Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1673978B1 (de) * 1967-03-22 1972-03-09 Olympus Optical Co Photoelektrische messanordnung zum bestimmen der gegenseitigen verlagerung zweier objekte
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DE13145C (de) * G. A. SCHRÖPPEL in Zell a. Main bei Würzburg Fufs mit Cigarrenabschneider zur Aufnahme von Cigarren
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DE1089561B (de) * 1956-05-04 1960-09-22 Freiberger Praez Smechanik Veb Vorrichtung zur beruehrungsfreien Feinstmessung von Lageaenderungen

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