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DE1210085B - Method for manufacturing electrical semiconductor components - Google Patents

Method for manufacturing electrical semiconductor components

Info

Publication number
DE1210085B
DE1210085B DEJ21761A DEJ0021761A DE1210085B DE 1210085 B DE1210085 B DE 1210085B DE J21761 A DEJ21761 A DE J21761A DE J0021761 A DEJ0021761 A DE J0021761A DE 1210085 B DE1210085 B DE 1210085B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
semiconductor body
junction
semiconductor
semiconductor components
coating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEJ21761A
Other languages
German (de)
Inventor
Carl Pater Sandbank
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Standard Electric Corp
Original Assignee
International Standard Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Standard Electric Corp filed Critical International Standard Electric Corp
Publication of DE1210085B publication Critical patent/DE1210085B/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H10W20/40
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • H10P50/00
    • H10P95/00
    • H10W74/111
    • H10W74/131

Landscapes

  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLANDFEDERAL REPUBLIC OF GERMANY

DEUTSCHESGERMAN

PATENTAMTPATENT OFFICE

AUSLEGESCHRIFTEDITORIAL

Int. Cl.:Int. Cl .:

HOIlHOIl

Deutsche Kl.: 21g-11/02German class: 21g-11/02

Nummer: 1210 085Number: 1210 085

Aktenzeichen: J 21761 VIII c/21 gFile number: J 21761 VIII c / 21 g

Anmeldetag: 12. Mai 1962 Filing date: May 12, 1962

Auslegetag: 3. Februar 1966Opening day: February 3, 1966

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Herstellen von elektrischen Halbleiterbauelementen.The invention relates to a method for producing electrical semiconductor components.

Bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen ist es bekannt, Ätzbehandlungen zu verschiedenen Zwecken vorzunehmen.In the manufacture of semiconductor components, it is known to use various etching treatments Purposes.

So ist es beispielsweise bekannt, Halbleiterkörper zu ätzen, um freiliegende Teile des pn-Ubergangs zu reinigen. Es ist dabei nicht beabsichtigt, das Halbleitermaterial durch die Ätzsubstanz abzutragen.For example, it is known to etch semiconductor bodies in order to close exposed parts of the pn junction clean. It is not intended to remove the semiconductor material by the etching substance.

Ferner hat man schon durch elektrolytisches Ätzen an Halbleiterkörpern einen Teil der Oberflächenschicht abgetragen, um einen Kontakt an einer darunterliegenden Schicht anbringen zu können. Die Oberflächenteile, die nicht abgetragen werden sollen, sind dabei mit einem geeigneten Stoff abgedeckt.Furthermore, one already has part of the surface layer by electrolytic etching on semiconductor bodies removed in order to attach a contact to an underlying layer can. the Parts of the surface that should not be removed are covered with a suitable material.

Es wurden auch bereits mit Nickel überzogene Siliziumplättchen in der Umgebung der Lötstelle einer ohmschen Elektrode geätzt, um einen nahezu idealen Punktkontakt zu erhalten.There were also silicon platelets already coated with nickel in the vicinity of the solder joint an ohmic electrode in order to obtain an almost ideal point contact.

Weiterhin ist schon ein Verfahren beschrieben ao worden, dessen Aufgabe die Herstellung von Halbleiterbauelementen mit extrem niedrigem Basiswiderstand ist. Zu diesem Zweck wird eine Metallschicht niedergeschlagen, um einen Weg niedrigen Widerstands zwischen dem gleichrichtenden Übergang und dem Teil der Basiszone zu schaffen, an dem die Basiselektrode angebracht werden soll. Um die Metallschicht so nahe wie möglich am pn-übergang aufbringen zu können, ohne daß die gleichrichtende Sperrschicht kurzgeschlossen wird, soll das Halbleiterplättchen so geätzt werden, daß sich am pn-übergang eine Rinne bildet.Furthermore, a method has already been described, the task of which is the production of semiconductor components with extremely low base resistance. For this purpose, a metal layer is used down to a low resistance path between the rectifying junction and to create the part of the base zone where the base electrode is to be attached. To the metal layer to be able to apply as close as possible to the pn junction without the rectifying Junction is short-circuited, the semiconductor die should be etched so that the pn junction forms a channel.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Halbleiterbauelement zu schaffen, das bei hohen Frequenzen betrieben werden kann. Dabei ist es wesentlich, daß die Kapazität und damit die Fläche ihres Übergangs oder der Übergänge so klein wie möglich ist. Dies kann beispielsweise dadurch erreicht werden, daß ein großflächiger Übergang hergestellt und seine Größe durch Ätzen vermindert wird.The invention is based on the object of creating a semiconductor component which, at high Frequencies can be operated. It is essential that the capacity and thus the area their transition or transitions is as small as possible. This can be achieved, for example be that a large area transition is made and its size is reduced by etching.

Die obenerwähnten bekannten Verfahren sind jedoch, soweit sie überhaupt das Abtragen von Halbleitermaterial am pn-übergang betreffen, hierzu nicht geeignet, da diese nachträgliche Verminderung der pn-Übergangsfläche mechanisch sehr unstabile Halbleiterbauelemente ergibt. Durch die Erfindung wird dieser Nachteil vermieden.However, the above-mentioned known methods are, insofar as they are at all, the removal of semiconductor material concern at the pn junction, not suitable for this, as this is a subsequent reduction in the pn junction area mechanically very unstable semiconductor components results. The invention avoids this disadvantage.

Gemäß der Erfindung werden elektrische Halbleiterbauelemente in der Weise hergestellt, daß ein einen pn-übergang enthaltender und mit Elektroden versehener Halbleiterkörper mit Isolierstoff abgedeckt wird, daß der Isolierstoff so abgetragen wird, daß ein Verfahren zum Herstellen von elektrischen
Halbleiterbauelementen
According to the invention, electrical semiconductor components are produced in such a way that a semiconductor body containing a pn junction and provided with electrodes is covered with insulating material, that the insulating material is removed so that a method for producing electrical
Semiconductor components

Anmelder:Applicant:

International Standard Electric Corporation,International Standard Electric Corporation,

New York, N. Y. (V. St. A.)New York, N.Y. (V. St. A.)

Vertreter:Representative:

Dipl.-Ing. H. Ciaessen, Patentanwalt,Dipl.-Ing. H. Ciaessen, patent attorney,

Stuttgart 1, Rotebühlstr. 70Stuttgart 1, Rotebühlstr. 70

Als Erfinder benannt:Named as inventor:

Carl Pater Sandbank, LondonCarl Father Sandbank, London

Beanspruchte Priorität:Claimed priority:

Großbritannien vom 24. Mai 1961 (18 743)Great Britain May 24, 1961 (18 743)

Teil des Halbleiterkörpers freiliegt, und daß dann der Halbleiterkörper neben und unter einer nichtohmschen Elektrode so weggeätzt wird, daß die Fläche des pn-Übergangs verkleinert wird.Part of the semiconductor body is exposed, and that then the semiconductor body next to and under a non-ohmic Electrode is etched away so that the area of the pn junction is reduced.

Ein Beispiel für das Verfahren gemäß der Erfindung soll an Hand der Zeichnung näher erläutert werden. In F i g. 1 bis 3 sind die einzelnen Stufen des Verfahrens gemäß der Erfindung dargestellt.An example of the method according to the invention will be explained in more detail with reference to the drawing will. In Fig. 1 to 3 the individual stages of the method according to the invention are shown.

Bei dem Verfahrensschritt, der in F i g. 1 dargestellt ist, besteht das Halbleiterbauelement aus einem Germaniumkörper 1 mit einem pn-übergang 2, der durch Einlegieren des Legierungsmaterials 3 erhalten wurde. An dem Halbleiterkörper 1 und an der Legierungspille 3 sind Zuleitungen 4 beispielsweise in Form von Drähten angebracht. Die ganze Vorrichtung wurde mit einer Schicht 5 aus Kunstharz, z. B. mit Epoxydharz, bedeckt.In the method step shown in FIG. 1, the semiconductor device consists of a germanium body 1 with a pn junction 2, which is obtained by alloying the alloy material 3 became. On the semiconductor body 1 and on the alloy pill 3, leads 4 are, for example, in Attached in the form of wires. The whole device was covered with a layer 5 of synthetic resin, e.g. B. covered with epoxy resin.

Die nächste Verfahrensstufe besteht darin, daß ein Teil der Kunstharzumhüllung 5 und des Halbleiterkörpers 1 weggeschliffen wird, so daß eine Anordnung erhalten wird, wie sie in F i g. 2 dargestellt ist. Wie aus der Figur entnommen werden kann, wird der Halbleiterkörper so weit abgeschliffen, daß der pn-übergang 2 bei 6 freiliegt.The next step is that part of the synthetic resin envelope 5 and the semiconductor body 1 is ground away so that an arrangement is obtained as shown in FIG. 2 is shown. As can be seen from the figure, the semiconductor body is ground so far that the pn junction 2 at 6 is exposed.

Schließlich wird die Anordnung, die bei dem Verfahrensschritt nach F i g. 2 erhalten wurde, in ein Bad eingetaucht, das Kaliumhydroxyd enthält und einem elektrolytischen Ätzprozeß unterworfen. Hierbei wird der freiliegende Teil 6 des Halbleiterkörpers angegriffen, jedoch nicht die Legierungspille 3 und das Kunstharz 5 aufgelöst. Das Ätzverfahren wird soFinally, the arrangement that is made in the process step according to FIG. 2 was immersed in a bath containing potassium hydroxide and one subjected to electrolytic etching process. Here is the exposed part 6 of the semiconductor body attacked, but not the alloy pill 3 and that Resin 5 dissolved. The etching process will be like this

" ■ " ' ' 609 503/297"■" '' 609 503/297

lange fortgesetzt, bis der Halbleiterkörper 1 so weit entfernt wurde, daß der pn-übergang 2 die erforderliche geringe Fläche hat.continued for a long time until the semiconductor body 1 has been removed so far that the pn junction 2 provides the required has a small area.

Obwohl nach dem oben beschriebenen Beispiel der ganze Halbleiterkörper mit Kunstharz bedeckt und dann ein Teil des Harzes durch Schleifen entfernt werden soll, kann auch so vorgegangen werden, daß der Halbleiterkörper nur teilweise mit Kunstharz bedeckt wird, so daß ein Abschleifen nicht erforderlich ist. Das Entfernen eines Teiles der Kunstharzhülle kann auch durch Abschneiden an Stelle des Schleif ens geschehen, und es können auch andere Kunstharze verwendet werden, welche sich in der Kälte oder beim Stehenlassen verfestigen und durch, die Ätzflüssigkeit, welche den Halbleiter auflöst, nicht angegriffen werden. Although, according to the example described above, the entire semiconductor body is covered with synthetic resin and then a part of the resin is to be removed by grinding, the procedure can also be such that the semiconductor body is only partially covered with synthetic resin, so that grinding is not necessary is. Part of the synthetic resin shell can also be removed by cutting it off instead of grinding it happen, and other synthetic resins can be used, which are in the cold or when Let stand solidify and through, the etching liquid, which dissolves the semiconductor, are not attacked.

Das Verfahren gemäß der Erfindung kann außerdem auch bei anderem Halbleitermaterial als Germanium und bei der Herstellung anderer Bauelemente als Dioden, beispielsweise zur Herstellung von Transistoren verwendet werden.The method according to the invention can also be used with semiconductor material other than germanium and in the manufacture of components other than diodes, for example for the manufacture of transistors be used.

Schließlich kann chemisches Ätzen an Stelle des beschriebenen elektrolytischen Ätzens verwendet werden.Finally, chemical etching can be used instead of the electrolytic etching described will.

Claims (5)

Patentansprüche:Patent claims: 1. Verfahren zum Herstellen von elektrischen Halbleiterbauelementen, da durch gekennzeichnet, daß ein einen pn-übergang enthaltender und mit Elektroden versehener Halbleiterkörper mit Isolierstoff abgedeckt wird, daß der Isolierstoff so abgetragen wird, daß ein Teil des Halbleiterkörpers freiliegt, und daß dann der Halbleiterkörper neben und unter einer nichtohmschen Elektrode so weggeätzt wird, daß die Fläche des pn-Ubergangs verkleinert wird.1. A method for producing electrical semiconductor components, characterized in that that a semiconductor body containing a pn junction and provided with electrodes is covered with insulating material that the insulating material is removed so that a part of the semiconductor body is exposed, and that then the semiconductor body next to and under a non-ohmic Electrode is etched away so that the area of the pn junction is reduced. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Teil des Halbleiterkörpers gleichzeitig mit einem Teil des Überzugs so entfernt wird, daß der pn-übergang teilweise freigelegt wird.2. The method according to claim 1, characterized in that part of the semiconductor body is removed simultaneously with part of the coating so that the pn junction is partially exposed. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein Teil des Überzugs durch Schleifen entfernt wird.3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that part of the coating by Grinding is removed. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein Teil des Halbleiterkörpers durch elektrolytisches Ätzen entfernt wird.4. The method according to any one of claims 1 to 3, characterized in that part of the Semiconductor body is removed by electrolytic etching. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß als Überzugsmaterial ein Epoxydharz verwendet wird. 5. The method according to any one of claims 1 to 4, characterized in that an epoxy resin is used as the coating material. In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 097 574;
französische Patentschriften Nr. 1 217 793,
226 312;
Considered publications:
German Auslegeschrift No. 1 097 574;
French patents No. 1,217,793,
226 312;
USA.-Patentschrift Nr. 2 802 159.U.S. Patent No. 2,802,159. Bei der Bekanntmachung der Anmeldung ist ein Prioritätsbeleg ausgelegt worden.A priority document was displayed when the registration was announced. Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings 609 503/297 1.66 © Bundesdruckerei Berlin609 503/297 1.66 © Bundesdruckerei Berlin
DEJ21761A 1960-08-30 1962-05-12 Method for manufacturing electrical semiconductor components Pending DE1210085B (en)

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Publications (1)

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DEJ23252A Pending DE1208410B (en) 1960-08-30 1963-02-26 Method for manufacturing electrical semiconductor components with at least one tunnel junction, in particular tunnel diodes

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CH (2) CH397874A (en)
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