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DE1207639B - Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von geometrischen Daten an Koerpern mit gekruemmter Oberflaeche - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von geometrischen Daten an Koerpern mit gekruemmter Oberflaeche

Info

Publication number
DE1207639B
DE1207639B DEJ18544A DEJ0018544A DE1207639B DE 1207639 B DE1207639 B DE 1207639B DE J18544 A DEJ18544 A DE J18544A DE J0018544 A DEJ0018544 A DE J0018544A DE 1207639 B DE1207639 B DE 1207639B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measuring
measuring microscope
microscope
interference fringe
lighting device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEJ18544A
Other languages
English (en)
Inventor
Dipl-Phys Alois Erben
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Jenoptik Jena GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jenoptik Jena GmbH filed Critical Jenoptik Jena GmbH
Priority to DEJ18544A priority Critical patent/DE1207639B/de
Publication of DE1207639B publication Critical patent/DE1207639B/de
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von geometrischen Daten an Körpern mit gekrümmter Oberfläche Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung von geometrischen Daten an Körpern mit gekrümmter Oberfläche, bei dem die Oberfläche an zwei Meßstellen je mit Hilfe eines mindestens annähernd parallelstrahligen Lichtbündes streifend beleuchtet und damit ein jeder Meßstelle zugeordnetes, mikroskopisch zu betrachtendes Interferenzstreifensystem erzeugt, der Abstand eines Interferenzstreifens des einen Systems vom entsprechenden Interferenzstreifen des anderen Systems gemessen und der so erhaltene Meßwert mit einer rechnerisch ermittelten Verbesserung versehen wird.
  • Es ist bereits ein derartiges Verfahren zur Bestimmung von Durchmessern bekanntgeworden, bei dem zur streifenden Beleuchtung zwei zueinander parallele und zur optischen Achse des Meßmikroskops annähernd parallele Lichtstrahlenbündel verwendet werden. Das Meßmikroskop wird unter Verwendung besonderer mechanischer Hilfsmittel auf die Ebene des zu bestimmenden Durchmessers fokussiert, durch relative Einstellung von Meßmikroskop und Körper parallel zum Durchmesser wird der Abstand der zu beiden Seiten des Körpers erzeugten Interferenzstreifen gleicher Ordnung gemessen, und durch Anbringung einer von den Krümmungsradien der Flächenelemente an den Meßstellen, von der Streifenordnung und von der Wellenlänge des verwendeten Lichtes abhängigen Verbesserung wird der Abstand der Meßstellen voneinander erhalten.
  • Infolge einiger schwerwiegender Mängel ist dieses Verfahren jedoch kaum zur Anwendung gelangt. Die Genauigkeit einer Durchmesserbestimmung nach diesem Verfahren ist in hohem Grade abhängig von der Fokussierung des Meßmikroskops auf die Ebene des zu bestimmenden Durchmessers. Der Schärfentiefenbereich des Meßmikroskops und die Lagerung des Körpers sind in der Regel die Ursachen für geringe Fokussierfehler, die jedoch selbst, insbesondere bei kleineren Durchmessern, erhebliche Durchmesserfeh-1er hervorrufen, so daß die an sich durch. die Verwendung von Interferenzstreifen mögliche Präzisionsmessung von vornherein in Frage gestellt ist. Außerdem setzt die Berechnung der am gemessenen Wert vorzunehmenden Verbesserung die genäherte Kenntnis der Krümmungsradien bzw. des zu bestimmenden Durchmessers voraus. Abgesehen davon, daß es nicht immer einfach ist, die Krümmungsradien zu bestimmen, ist die relative Genauigkeit des genähert bekannten Durchmessers mit kleiner werdendem Durchmesser so gering, daß die berechnete Verbesserung schließlich die gesamte Messung unbrauchbar werden läßt.
  • Ziel der vorliegenden Erfindung ist daher ein Verfahren zur Bestimmung von Durchmessern und darüber hinaus von Profilhöhen, Sehnen und Winkeln an Körpern mit gekrümmter Oberfläche, das die empfindlich genaue Abhängigkeit von der Fokussierung des Meßmikroskops und von dem Durchmesser des Körpers ausschließt.
  • Erfindungsgemäß wird das dadurch erreicht, daß die zur Messung verwendeten Lichtstrahlenbündel so gerichtet werden, daß sie miteinander konvergieren und daß das Meßmikroskop auf denjenigen Interferenzstreifen eingestellt wird, der durch oberlage rung des an der Meßstelle reflektierten mit dem direkt von der Lichtquelle herkommenden Teillichtstrahlenbündel im endlichen Bereich entsteht.
  • Zum Zwecke der Einstellung wird das Meßmikroskop in Richtung seiner optischen Achse kontinuierlich verschoben (fokussiert), bis die in seiner Okularbildebene erscheinenden, sich bewegenden Interferenzstreifen zur Ruhe kommen. Diese im folgenden als Umkehrpunkt bezeichnete Stelle ist sehr genau einstellbar und ermöglicht die Fokussierung und die Kontrolle der Fokussierung des Meßmikroskops ohne jegliche mechanische Hilfsmittel wie Fokussierlehre od. dgl. Zwischen den zu beiden Seiten des Körpers zu seiner Vermessung in der eben beschriebenen Weise vorzunehmenden Einstellungen findet eine Änderung der relativen Lage von Körper und Meßmikroskop statt. Der Betrag dieser Anderung wird mit einer Feinmeßvorrichtung gemessen und mit einer Verbesserung versehen, die von dem Neigungswinkel jedes Lichtstrahienbündels gegenüber der optischen Achse des Meßmikroskops, der Streifenordnung und der Wellenlänge des verwendeten Lichtes abhängt. Die Verbesserung ist also vom zu vermessenden Körper unabhängig und kann durch geeignete Wahl der Lichtart, der Streifenordnung und des Neigungswinkels für alle Messungen und jeden Körper die gleiche sein.
  • Für das Verhalten der Interferenzstreifen im Umkehrpunkt oder in der Nähe des Umkehrpunktes ist das Größenverhältnis des Winkels zwischen Meßmikroskop- und Lichtstrahlenbündelachse zum Aperturwinkel des Meßmikroskops maßgebend. Ist der Winkel zwischen Meßmikroskop- und Lichtstrahlenbündelachse kleiner als der Aperturwinkel, so erfährt die Bewegung der im Gesichtsfeld des Meßmikroskops sichtbaren Interferenzstreifen beim kontinuierlichen Fokussieren eine Richtungsumkehr. Sind beide Winkel gleich, so kommen die Interferenzstreifen zum Stillstand, um beim weiteren Fokussieren schnell unsichtbar zu werden. Ist der Winkel zwischen Meßmikroskop- und Lichtstrahlenbündelachse größer als der Aperturwinkel, ist weder eine Richtungsumkehr der Bewegung noch ein Anhalten der Interferenzstreifen zu beobachten. Die günstigsten Meßbedingungen ergeben sich, wenn der Winkel zwischen Meßmikroskop- und Lichtstrahlenbündelachse das 0,5-bis 9fache des Aperturwinkels beträgt, weil dann auch der Kontrast der Interferenzstreifen am größten ist.
  • Wie eingehende theoretische und praktische Untersuchungen gezeigt haben, ermöglicht darüber hinaus die Verwendung von schräg zur optischen Achse des Meßmikroskops einfallenden Lichtstrahlenbündeln unter sonst gleichen Bedingungen die Abbildung der Interferenzstreifen mit größerer Apertur als bei Verwendung von zur optischen Achse des Meßmikroskops parallelen oder annähernd parallelen Lichtstrahlenbündeln. Dadurch ist es möglich, die Mikroskopvergrößerung zu erhöhen und damit die Meßgenauigkeit zu steigern. Ferner ergibt sich infolge der Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens im Meßmikroskop ein völlig symmetrischer Abbildungsstrahlengang, wodurch die volle Ausnutzung der Apertur des Meßmikroskopobjektivs und hinsichtlich der Abbildungsgüte günstige Bedingungen ermöglicht werden.
  • Bei der Bestimmung von Durchmessern und Sehnen ist es von Vorteil, wenn die auffallenden Lichtstrahlenbündel miteinander konvergieren und die Halbierende des Konvergenzwinkels wenigstens annähernd zur optischen Achse des Meßmikroskops verläuft.
  • Zur Durchführung des Verfahrens kann jede an sich bekannte Feinmeßvorrichtung benutzt werden, die ein Meßmikroskop zur Betrachtung des Körpers und der in seiner Nähe auftretenden Interferenzerscheinungen, eine Einrichtung zur meßbaren Veränderung der gegenseitigen Lage von Meßmikroskop und Körper und eine Beleuchtungseinrichtung enthält, sofern nur die optische Achse der dem Meßmikroskop zugeordneten Beleuchtungseinrichtung gegenüber der optischen Achse des Meßmikroskops um vorgegebene Beträge verstellbar ist. Die Verstellbarkeit der optischen Achse der Beleuchtungseinrichtung kann dadurch gewährleistet sein, daß entweder die gesamte Beleuchtungseinrichtung schwenkbar oder aber ein in der Brennebene eines Kollimatorobjektivs vorgesehener Spalt quer zu seiner Längserstreckung verschiebbar angeordnet ist.
  • Soll das Gerät auch zur Messung von Winkeln benutzt werden, ist es vom Vorteil, wenn das Mikro- skop mit einem an sich bekannten Winkelmeßokular ausgestattet ist.
  • Zur näheren Erläuterung des Gegenstandes der Erfindung dienen die Fig. 1 bis 3 der Zeichnung.
  • Dabei wird an Hand der F i g. 1 eine Erklärung des Meßprinzips gegeben; Fig.2 zeigt eine Vorrichtung zur Durchmesserbestimmung nach dem erfindungsgemäßen Verfahren im Längsschnitt; F i g. 3 stellt eine Beleuchtungseinrichtung in dem ihre optische Achse enthaltenden Längsschnitt dar.
  • In F i g. 1 ist mit z ein Querschnitt eines Zylinders bezeichnet, der einmal mit einem kohärenten Lichtbüschel 1,, ' und zum anderen mit einem kohärenten Lichtbüschel 12, 12' streifend so beleuchtet wird, daß ein Teil ll' bzw. I2' der Lichtstrahlen am Zylinder reflektiert wird, während ein anderer Teil 1, bzw. l2 der Lichtstrahlen am Zylinder vorbeigeht.
  • Beide Lichtbüschel 1l, It' und 12, 12' liegen in der Schnittebene des Zylinders. Die Teilstrahlenbüschel li und 1t' bzw. 12 und 12' kommen in einem Punkt Uj bzw. U2 zum Schnitt und wegen der Kohärenz der Teilstrahlenbüschel zur Interferenz. Die Punkte Ut und U2 gehören zwei parabelähnlichen Kurven kr und k2 an, die Spuren zweier räumlicher Flächen mit der Zeichenebene darstellen und die von den Schnittpunkten der Teilstrahlenbüschel gebildet werden, in denen ungestörter und reflektierter Strahl mit gleicher Phasendifferenz interferieren. Sind die Einfallswinkel der an den Enden des zu bestimmenden Durchmessers einfallenden Lichtstrahlenbüschels gegenüber der optischen Achse X-X eines Meßmikroskops mit dem Objektiv 0 entgegengesetzt gleich, so schneiden sich beide Kurvenk, und k2 auf einem zu dem zu bestimmenden Durchmesser senkrecht stehenden Zylinderdurchmesser. Erfolgt die Reflexion der Teilstrahlenbüschel l,' und 12' an den Enden des Durchmessers d, so sind Ul und U2 die Umkehrpunkte der Kurven gleicher Phasendifferenz in Richtung des zu bestimmenden Durchmessers. Der Abstand a der Punkte U, und U2 ist größer als der Zylinderdurchmesser d.
  • Zur Bestimmung des Durchmessers ist daher der Abstand mit einer stets negativen Verbesserungn zu versehen, die sich berechnet zu n = k . #/v , Das in F i g. 2 dargestellte Gerät besitzt eine Tischplatte 11, die auf vier Füßen 12 ruht und mit einer Schlittenführung 13 ausgestattet ist. In dieser Schlittenführung ist ein Schlitten 14 mit Hilfe einer Spindel 15 und eines auf der Spindel befestigten Handrades 16 verschiebbar. Auf dem Schlitten 14 sind zwei Meßmikroskope 17 und 18 mit Muffen 19 und 20 so befestigt, daß sie durch zwei Bohrungen 21 und 22 im Schlitten 14 und einen Längsschlitz 23 der Tischplatte 11 nach unten ragen und ihre optischen Achsen rechtwinklig zur Verschiebungsrichtung dieses Schlittens stehen. Das in Richtung seiner optischen Achse verschiebbare Meßmikroskop 17 ist mit einem Winkelmeßokular 24 mit in bekannter Weise drehbarem Fadenkreuz und das Winkelmeßmikroskop 18 mit einem Okularschraubenmikrometer 25 ausgestattet, das einen in der Verschiebungsrichtung des Schlittens 14 verschiebbaren Doppelfaden aufweist. An den vier Füßen 12 ist eine stufenförmig ausgebildete Zwischenplatte 26 befestigt. Der höher gelegene Teil dieser Zwischenplatte trägt einen an seiner Oberfläche mit einer Teilung versehenen Glasmaßstab27, während der tiefer gelegene Teil zur Aufnahme der Prüflinge, beispielsweise eines gestrichelt angegebenen Zylinders 28, mit zwei Lagerbökken 29 ausgestattet ist, in denen spitz auslaufende Bolzen 30 mittels Schrauben31 festgeklemmt sind.
  • Die Achsen der Bolzen30, die durch die Verbindungslinie ihrer Spitzen dargestellt wird, liegt rechtwinklig zur Verschiebungsrichtung des Schlittens 14 und zur Achse des Meßmikroskops 17. Im tiefer gelegenen Teil der Zwischenplatte 26 ist ein Schlitz 32 vorgesehen, der parallel zum Schlitz 23 verläuft. Die untere Seite dieses Teils der Zwischenplatte trägt eine Schlittenführung 33, in welcher ein Schlitten 34 mittels des Handrades 35 über eine Spindel 36 parallel zur Verschiebungsrichtung des Schlittens 14 verschiebbar ist. Das Handrad 35 ist ein Teil einer Skalentrommel 37, die in einem Gehäuse 38 drehbar ist und zur Anzeige der Verschiebung des Schlittens 34 dient. Der Schlitten 34 hat einen parallel zum Schlitz 32 verlaufenden Schlitz 39, durch welchen das Gehäuse 40 eines Kollimators hindurchragt, dessen optische Achse mit der des Meßmikroskops 17 im endlichen Bereich konvergiert. Der Kollimator ist in zwei am Schlitten 34 befestigten Lagerböcken 41 in der Verschiebungsrichtung dieses Schlittens schwenkbar gelagert. Ein mit dem Kollimator fest verbundener Zeiger 42 zeigt an einer Skala 43, die sich an einem der Lagerböcke 41 befindet, die Schwenkungen des Kollimators an. Im Inneren des Gehäuses 40 sind eine Glühlampe 44 und eine mit einem feinen Spalt versehene Blende 45 untergebracht (Fig. 3).
  • Der Spalt ist parallel zur Verbindungslinie der Spitzen der beiden Bolzen 30 und liegt in der Brennebene des Kollimatorobjektivs 46.
  • Beim Gebrauch des Gerätes ist die Glühlampe 44 durch Anschluß an einen Stromkreis zum Leuchten zu bringen. Der Kollimator sendet dann ein annähernd paralleles Lichtbündel nach oben. Er ist durch Verschiebung und Schwenkung so einzustellen, daß das von ihm ausgesandte Lichtbündel einseitig streifend auf den Zylinder 28 auffällt und der Mittelstrahl des Lichtbündels mit der Achse des Meßmikroskops 17 einen von Null verschiedenen Winkel einschließt. Das Meßmikroskop 17 ist so in der Höhe zu verstellen und mittels des Handrades 16 in der Längsrichtung zu verschieben, daß die beleuchtete Mantellinie des Zylinders 28 und ein parallel zu dieser Mantellinie verlaufendes System von Interferenzstreifen im Gesichtsfeld des Meßmikroskops sichtbar wird. Beim kontinuierlichen Verstellen des Mikroskops in der Höhe bewegen sich diese Interferenzstreifen in einer Richtung senkrecht zur Mantellinie des Zylinders 28, kommen zum Stillstand und bewegen sich schließlich in entgegengesetzter Richtung. Auf diesen Punkt der Richtungsumkehr der Streifenbewegung wird das Mikroskop scharf eingestellt und durch Drehen des Handrades 16 der gewünschte Interferenzstreifen mit dem Fadenkreuz des Winkelmeßokulars zur Deckung gebracht. Das Meßmikroskop 17 ist so einzustellen, daß die Teilung des Glasmaßstabs 27 scharf abgebildet wird, und der Doppelfaden des Okularschraubenmikrometers 25 so zu verschieben, daß die mikroskopische Abbildung des dem Doppelfaden zunächst gelegenen Striches der Teilung des Glasmaßstabes zwischen den Fäden liegt. Nunmehr werden die eingestellten Werte der Teilung des Glasmaßstabes 27, des Okularmikrometers 25 und der Schwenkungswinkel des Kollimators abgelesen. Danach wird der Kollimatorachse bezüglich der die Achse der Bolzen 30 enthaltenden Lotebene durch Drehen des Handrades 35 und Schwenken des Kollimatorgehäuses 40 eine entgegengesetzt gleiche Einstellung erteilt, die Einstellungen der beiden Mikroskope auf der anderen Seite des Zylinders 28 zweckmäßig für den Interferenzstreifen gleicher Ordnung wiederholt und auch hierbei die entsprechend eingestellten Werte abgelesen. Aus der Differenz der Längenablesungen am Glasmaßstab und Okularmikrometer ergibt sich der Abstand der beiden je auf einer Seite des Zylinders gelegenen Interferenzstreifen voneinander. Um den Durchmesser des Zylinders zu erhalten, ist von dieser Differenz die oben angegebene Verbesserung abzuziehen.
  • Damit mit dem beschriebenen Gerät auch Winkel, beispielsweise Kegel- und Flankenwinkel gemessen werden können, ist dem Meßmikroskop 17 das Winkelmeßokular 24 zugeordnet, dessen Fadenkreuz um seinen in der optischen Achse des Mikroskops liegenden Mittelpunkt drehbar ist. Beim Messen beispielsweise eines Kegelwinkels wird das Mikroskop 17 so verschoben und das Fadenkreuz so gedreht, daß jeweils derselbe seiner Fäden mit einem der parallel zu beiden Seiten des Kegels nacheinander erzeugten Interferenzstreifen zusammenfällt. Die zugehörigen beiden Abmessungen werden mittels eines Ablesemikroskops 24' am Teilkreis des Winkelmeßokulars vorgenommen und durch Differenzbildung der Kegelwinkel ermittelt. Anstatt das gesamte Kollimatorgehäuse 40 am Schlitten 34 drehbar zu lagern, ist es auch möglich, nur die den Spalt enthaltende Blende 45 in der Bewegungsrichtung des Schlittens verschiebbar anzuordnen, im übrigen aber das Gehäuse 40 fest mit dem Schlitten 34 zu verbinden.
  • F i g. 3 zeigt einen derart ausgebildeten Kollimator, dessen Blende 45 in einer Führung 47 über eine Spindel 48 mittels einer Meßschraube 49 verschiebbar ist, wobei diese Verschiebung mit Hilfe eines am Gehäuse 40 angeordneten Zeigers 50 an einer auf der Meßschraube vorgesehenen Teilung 51 ablesbar ist.

Claims (4)

  1. Patentansprüche: 1. Verfahren zur Bestimmung von geometrischen Daten an Körpern mit gekrümmter Oberfläche, bei dem die Oberfläche an zwei Meßstellen je mit Hilfe eines mindestens annähernd parallelstrahligen Lichtbündels streifend beleuchtet und damit ein jeder Meßstelle zugeordnetes, mikroskopisch zu betrachtendes Interferenzstreifensystem erzeugt, der Abstand eines Interferenzstreifens des einen Systems vom entsprechenden Interferenzstreifen des anderen Systems gemessen und der so erhaltene Meßwert mit einer rechnerisch ermittelten Verbesserung versehen wird, dadurch gekennzeichnet, daß die zur Messung verwendeten Lichtstrahlenbündel (I,, 1t' und 12, 12') so gerichtet werden, daß sie miteinander konvergieren und daß das Meßmikroskop (19) auf denjenigen Interferenzstreifen(Ul, U2) eingestellt wird, der durch Oberlagerung des an der Meßstelle (D1, D2) reJlektierten (II' 12') mit dem direkt von der Lichtquelle herkommenden Teillichtstrahlenbündel (II) 12) im endlichen Bereich entsteht.
  2. 2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, die ein Meßmikroskop zur Betrachtung des Körpers und der in seiner Nähe auftretenden Interferenzerscheinungen, eine Einrichtung zur meßbaren Veränderung der gegenseitigen Lage von Meßmikroskop und Körper sowie eine Beleuchtungseinrichtung enthält, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtungseinrichtung (40, 44, 45, 46) mit Einstellgliedern (42, 43 bzw. 47, 48, 49, 50, 51) versehen ist, die es gestatten, die Richtung der optischen Achse dieser Beleuchtungseinrichtung gegenüber der des Meßmikroskops (17) um vorgegebene Beträge zu ändern.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Meßmikroskop (17) mit einem an sich bekannten Winkelmeßokular(24) ausgestattet ist.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 578 744; Zeitschrift »Journal of Research of the National Bureau of Standards«, Vol. 62, Nr.
  4. 4, April 1959, S.137 bis 139.
DEJ18544A 1960-08-09 1960-08-09 Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von geometrischen Daten an Koerpern mit gekruemmter Oberflaeche Pending DE1207639B (de)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE578744C (de) * 1930-08-19 1933-06-16 Zeiss Carl Fa Verfahren und Geraet zur Bestimmung des Durchmessers von Koerpern mit gekruemmter Oberflaeche mit Hilfe von Interferenzerscheinungen

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE578744C (de) * 1930-08-19 1933-06-16 Zeiss Carl Fa Verfahren und Geraet zur Bestimmung des Durchmessers von Koerpern mit gekruemmter Oberflaeche mit Hilfe von Interferenzerscheinungen

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