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DE1283567B - Feldemissionsionenquelle - Google Patents

Feldemissionsionenquelle

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Publication number
DE1283567B
DE1283567B DEA42368A DEA0042368A DE1283567B DE 1283567 B DE1283567 B DE 1283567B DE A42368 A DEA42368 A DE A42368A DE A0042368 A DEA0042368 A DE A0042368A DE 1283567 B DE1283567 B DE 1283567B
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DE
Germany
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ion source
field emission
source according
emitter
wire
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Withdrawn
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DEA42368A
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English (en)
Inventor
Dr H D Beckey
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Varian Mat GmbH
Original Assignee
Varian Mat GmbH
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Publication date
Priority to GB1052902D priority Critical patent/GB1052902A/en
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Priority to US345407A priority patent/US3313934A/en
Priority to FR964319A priority patent/FR1383384A/fr
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

  • Feldemissionsionenquelle Bei den bisher bekannten Feldemissionsionenquellen für Massenspektrometer wurden ausschließlich feine Metallspitzen zur Felderzeugung verwandt (M. G. I n h r a m und R. G o rne r, Z. Naturforschg. 10a, 863 [1955]; E. W. Müller und K. H. Bahadur, Phys. Rev. 102, 624 [1956] ; H. D. B e c k e y und D. Schütte, Z. Instrkd. 68, 302 [1960]; H. D. Beckey, Z. Naturforschg. 17a, 1103 [1962]). Dabei wurde angenommen, daß sich nur mit Hilfe von Metallspitzen, die im Emissionsbereich einen sehr kleinen Krümmungsradius haben, die zur Feldionisierung erforderlichen hohen Feldstärken erzeugen lassen, wobei vorausgesetzt wurde, daß die notwendigen Feldstärken zwischen 108 und 5 - 108 V/cm liegen müssen.
  • Für Zwecke der Elektronenphysik ist ferner bekannt, dünne Drähte als Elektronen-Emitter zu verwenden. Die Emission von Elektronen und die Ionisierung von Molekülen durch hohe elektrische Felder sind völlig verschiedene physikalische Effekte, und es ist die Anwendung dünner Drähte für die Feldionisierung durch deren Benutzung als Elektronen-Emitter nicht nahegelegt (H e n d e r s o n in Phys. Rev., 38, 590 [1931], und 41, 261 [19321).
  • In einem Vortrag auf einer Tagung in London am 19.12.1962 wurde von A. J. B. R o b e r t s o n darauf hingewiesen, daß sich mit Emittern in Form von dünnen Drähten im Vergleich zu Spitzen eine Vergrößerung des erzeugten Ionenstromes ergibt, jedoch wurde über einen praktischen Einsatz von dünnen Drähten für die Feldionisations-Massenspektrometrie nicht berichtet.
  • Der Erfindung liegt die Beobachtung zugrunde, daß nur für die Edelgase und wenige permanente Gase Feldstärken von 108 bis 5 - 108 V/cm erforderlich sind, daß aber für die weitaus überwiegende Mehrzahl aller Moleküle schon Einsatzfeldstärken von etwa 2 - 107 bis 3 - 107 V/crn zur Feldionisierung genügen. Hiervon ausgehend besitzt der Emitter einer Feldemissionsionenquelle erfindungsgemäß die Form eines dünnen Drahtes oder einer scharfen Schneide mit einer irnVerhältnis zum in derQuerschnittsebene liegenden Krümmungsradius großen Längserstrekkung. Bei schneidenförmigen Emittern aus extrem dünnen Folien kann man zu kleinsten Krürnmungsradien und höchsten Feldstärken gelangen. Die Emissionseigenschaften einer Ionenquelle mit solchen Emittern sind stark abweichend von denen der bisherigen Feldionenquellen und zeichnen sich diesen gegenüber durch wesentliche Vorteile aus, insbesondere durch eine Erhöhung der langzeitigen Reproduzierbarkeit der Spektren, eine Verringerung der kurzzeitigen Ionenstromschwankungen, die Möglichkeit der Stabilisierung des Ionenstromes, eine geringere Bruchstückbildung aus den Molekülionen, die Möglichkeit der Verwendung unempfindlicherer Ionendetektoren wegen der hohen Ionenstromstärke und günstige ionenoptische Eigenschaften. Die maximale Emissionsfläche ist etwa 104mal größer als die von Feldemissionsspitzen. (Eine Spitze mit typischem Krümmungsradius von 5000 A hat eine effektiv emittierende Fläche von etwa az - r2, das ist etwa 1,5. 10-8 cm2. Ein Draht mit einem Durchmesser d = 2,5 jm und einer Länge L = 5 mm hat eine Oberfläche von L - d - z, das ist etwa 2,2 - 10-4 cm2.) Bezogen auf den gleichen Druck in der Ionenquelle und auf die gleiche sehr niedrige Feldstärke ergibt sich bei einer einfachen Spitze mit z. B. einem Krümmungsradius r = 5000 A eine Gesamtemission von 10-1o Ampere und bei einem Draht mit einem Durchmesser d = 2,5 gm und einer wirksamen Emissionslänge von 5 mm eine Gesamtemission von 10-B Ampere. Die Steigerung des am Massenspektrometerdetektor auftreffenden Feldionenstromes durch Verwendung der neuen Ionenquelle auf etwa 10-1B Ampere erlaubt es, an Stelle des bisher notwendigen Sekundärelektronenvervielfachers einen einfachen Faraday-Ionendetektor zu verwenden. Ferner besteht der Vorteil, daß die Emissionsschwankungen kleiner sind und auch eine Stabilisierung des Ionenstromes möglich ist.
  • Die Schwankungen desjenigen Bruchteils des Feldionenstromes, der den begrenzenden Austrittspalt der Feldionenquelle durchquert, sind bei dünnen Drähten etwa 102mal kleiner als bei Emissionsspitzen, für den Fall, daß an der Emissionsspitze (r = 5000 A) die gleiche niedrige Feldstärke wie an einem 2,5 gm-Draht bei Anlegung einer Spannung von 14 kV herrscht. Diese Feldstärke werde als »Einsatzfeldstärke« bezeichnet.
  • Bei der Einsatzfeldstärke betragen die am Ionendetektor eines Massenspektrometers gemessenen Stromschwankungen bei Verwendung von emittierenden Drähten etwa ±0,71/o des Meßwertes, während der Meßwert des am Ionendetektor gemessenen, von einer Spitze emittierenden Ionenstromes bei der Einsatzfeldstärke um ± 100 0/0 oder mehr schwankt. Eine einfache emittierende Spitze ist daher bei der Einsatzfeld'stärke für analytische Zwecke nicht brauchbar, sondern man. muß die Feldstärke etwa um den Faktor 2 erhöhen, um eine Konstanz des von einer einzelnen Spitze emittierten und am Massenspektrometerdetektor gemessenen Ionenstromes auf etwa ±5% zu erzielen. Auch bei noch höheren Feldstärken läßt sich mit einzelnen Spitzen nicht die mit Drähten erreichbare Meßgenauigkeit von ±0,7% erzielen.
  • Eine elektronische Stabilisierung des von einer Spitze feldemittierten Ionenstromes war bisher nicht möglich, weil die Schwankungen des Ionenstromes am Massenspektrometerdetektor auf starke Abweichungen vom Mittelwert des an der Spitze emittierten Ionenstromes zurückgehen. Die Ionendetektor-Stromschwankungen sind daher nicht den Schwankungen des an der Spitze emittierten Ionenstromes proportional. Die Schwankungen des Feldionenstromes an einer Spitze sind auf laufende Veränderungen der Oberflächen-Mikrostruktur der Spitze zurückzuführen. Die Gesamtemission der Spitze wird in einen Winkel von etwa 120° emittiert. Dabei mittels sich die unabhängigen Schwankungen vieler Mikrobereiche heraus. Vom Massenspektrometerdetektor wird nur ein Winkelbereich von etwa 1° an der Spitze erfaßt. Die lokalen Schwankungen in diesem Spitzenbereich sind viel höher als diejenigen des Mittelwertes über die gesamte Spitzenoberfläche. Bei Drähten hingegen wird vom Massenspektrometerdetektor ein Ionenstrom erfaßt, der von einer sehr großen Zahl (etwa 102 bis 104) von Oberflächenrauhigkeiten des Drahtes emittiert wird. Dabei mittels sich die Schwankungen der einzelnen Rauhigkeiten teilweise heraus, so daß die Schwankungen des vom Draht emittierten Gesamtionenstromes in etwa den Schwankungen des am Massenspektrometerdetektor gemessenenStromes proportional sind. Daher ist eine Stabilisierung des Detektorstromes über die Stabilisierung des vom Draht emittierten Gesamtstromes möglich. Der Sollwert des am Draht emittierten Stromes kann durch ein RC-Glied im Stromkreis des Drahtemitters eingestellt werden. Die Zeitkonstante beträgt etwa 10 Sekunden. Die kurzfristigen Abweichungen (Zeitkonstante etwa '/,()Sekunde) vom Sollwert können durch einen Differenzspannungsregler reduziert werden, der über die Spannung eines Ablenkplattenpaares die Ionenstrahlintensität steuert.
  • Als weiterer Vorteil ist zu vermerken, daß die Molekülbruchstückbildung bei einer Feldionisierung bei Verwendung von emittierenden Drähten unter den normalen Betriebsbedingungen wesentlich kleiner ist als bei Verwendung von Emissionsspitzen. Zur Charakterisierung der Molekülbruchstückbildung kann bei n-Paraffinen das C2H5+-Bruchstück (Masse 29) dienen. Zum Beispiel beträgt die Häufigkeit des C2 H5+-Bruchstücks des n-Hexans bei Drahtemission nur etwa 1% der Mutterionen, bei Spitzenemission jedoch mindestens 10% der Mutterionen.
  • Für massenspektrometrisch-analytische Anwendung der Feldionenquelle ist es wesentlich, daß die Massenspektren bei Verwendung von Emissionsdrähten noch wesentlich einfacher als bei Emissionsspitzen sind. Ferner ist die Reproduzierbarkeit der Massenspektren über lange Zeiten bei Draht- und Schneidenemission wesentlich besser als bei Spitzenemission. Die Reproduzierbarkeit bei Spitzenemission hängt von der mikroskopischen Gestalt der Spitze und damit von der Winkelverteilung der Ionenemission stark ab. Die geometrische Gestalt der Spitze ändert sich im Laufe längerer Zeiten, z. B. durch übergang von einer Paraboloid- zu einer Hyperboloid- oder einer stumpfen Kegelform; Drähte und Schneiden dagegen behalten auch über längere Zeiten ihre Kreissymmetrie.
  • Mit der Vergrößerung der Oberfläche ist andererseits die Gefahr unerwünschter Oberflächenreaktionen verbunden, die zu einer Abnahme des Auflösungsvermögens und zu Verfälschungen der Massenspektren führen können. Derartige ungünstige Rückwirkungen der Oberflächenvergrößerung auf das Meßergebnis lassen sich dadurch vermeiden, daß die Ionenquelle im Betrieb aufheizbar ist.
  • Die Erfindung ist in der Zeichnung an einem Ausführungsbeispiel veranschaulicht. Es zeigt F i g. 1 in halbschematischer Darstellung den Aufbau einer Feldionenquelle nach der Erfindung mit einem emittierenden Draht, F i g. 2 das Massenspektrum von Aceton in einem Massenspektrometer mit Feldemissionsionenquelle nach F i g. 1, bei unbeheizter Ionenquelle aufgenommen, F i g. 3 das Massenspektrum von Aceton, bei beheizter Ionenquelle aufgenommen, F i g. 4 Fragmente des Massenspektrums nach F i g. 3 bei unbeheizter und beheizter Ionenquelle, F i g. 5 einen Ausschnitt aus dem Massenspektrum von d-Ribose in einem Massenspektrometer mit Feldemissionsionenquelle nach F i g. 1, bei unbeheizter Ionenquelle aufgenommen.
  • Die in F i g. 1 dargestellte Feldionenquelle besteht in herkömmlicher Weise aus einem zweiteiligen, im wesentlichen zylindrischen Glasbehälter l a, 1 b mit Flanschverbindung 2, der unten offen und mit einem Flansch 3 an das Trennrohr 4 eines Massenspektrometers oder an ein sonstiges Vakuumgerät anschließbar ist. Zur Erzeugung und Aufrechterhaltung des Hochvakuums in der Ionenquelle und im Massenspektrometerrohr ist in der Wandung des Spektrometerrohres ein Kanal 5 vorgesehen, der an eine Hochvakuumpumpe angeschlossen ist und im Vakuumraum der Ionenquelle mündet. Im Vakuumraum 6 der Ionenquelle ist eine Ionenkammer 7 vorgesehen, in welcher die Ionen gebildet werden. An diese Ionenkammer 7 ist eine Gaszuführung 8 angeschlossen.
  • Zur Ionenbildung befindet sich in der Ionenkammer 7 ein Emitter 9 in Form eines Wollastondrahtes von 2,5 #tm Durchmesser und 5 mm freier Länge, der an seinen Enden von Leitern 10 gehalten wird. Dieser Draht befindet sich gegenüber einer Kathode 11, die einen Schlitz 12 von maximal 10 mm Länge und 1 mm Weite enthält. Der Draht liegt auf etwa -I-4 kV gegen Erde und die Kathode auf etwa -10 kV. Dadurch bildet sich auf der der Kathode zugeordneten Seite des Emitters 9 eine der wirksamen Länge des Drahtes entsprechende lang gestreckte Emissionszone, in welcher die Ionenbildung stattfindet. Mit Hilfe einer elektrostatischen Linse, bestehend aus der Kathode 11 und zwei weiteren Linsenelektroden 13 und 14 werden die gebildeten Ionen aus der Ionenkammer 7 herausgezogen und der so gebildete divergierende Ionenstrahl und auf Eintrittsschlitz 15 des Massenspektrometerrohres 4 fokussiert. Die Linsenelektrode 13 liegt auf einer Spannung zwischen + und -- einigen 100 V gegen Erde und die Linsenelektrode 14 auf Erdpotential.
  • Der Ionenstrahl wird durch Ablenkplattenpaare 16 und 16' in zwei zueinander senkrechten Richtungen justiert. Plattenpaar 16' wirkt außerdem als Linse zur Fokussierung des Ionenstrahls in derjenigen Richtung, in der das Magnetfeld des Massenspektrometers nicht fokussierend wirkt. Hierzu wird das mittlere Potential am Plattenpaar 16' einige hundert Volt positiv gegen Erde gemacht. Die Einstellung dieses Linsenpotentials ist sehr kritisch.
  • Alle gasförmigen, flüssigen oder festen Verbindungen, die zwischen 20 und 150° C einen Dampfdruck von mindestens 10-4 Torr haben, können im dampfförmigen Zustand in die Ionisierungszone geleitet werden.
  • Die Ionenquelle ist im Betrieb bis 150° C, im Sonderfall bis 350° C aufheizbar. Festkörper oder Flüssigkeiten mit Dampfdrucken unterhalb 10-4 Torr können in einem elektrischen Ofen seitlich von Elektrode 11 in den Ionisierungsraum hineinverdampft werden.
  • In F i g. 2 und 3 sind vergleichsweise mit der Einrichtung nach F i g.1 aufgenommene Massenspektren von AcetonmitunbeheizterundbeheizterIonenquelledargestellt. Die Ionen-MolekülreaktionM'- +M= (M+ 1) -'-+ M-1, die bei nicht beheiztem Emitter die stark erhöhte M + 1-Ionenkonzentration herbeiführt, spielt sich in einer kondensierten Schicht auf der Oberfläche des Wollastondrahtes ab. Bei Beheizung wird diese Oberflächenschicht durch die erhöhte Temperatur abgebaut, so daß die Gasphasen-Feldionisation mehr in den Vordergrund tritt. Auch die große relative Häufigkeit der Fragmentionen der Massenzahlen 43 und 41 bei unbeheiztem Emitter entsteht vorwiegend durch Oberflächenreaktionen in der adsorbierten Molekülschicht an der Drahtoberfläche. Bei Erhöhung der Temperatur durch Beheizung werden diese Reaktionen reduziert und damit die Fragmentionenintensität vermindert. Die Aufheizung des Emitters ist also besonders bei solchen Untersuchungen von Interesse, bei denen es darauf ankommt, daß die Intensität der Fragmentionen im Feldionen-Massenspektrum möglichst klein ist (z. B. zum Nachweis von freien Radikalen in sehr kleiner Konzentration).
  • F i g. 4 läßt erkennen, daß bei Zimmertemperatur Fragmente überwiegend durch Oberflächenreaktionen, bei geheizten Drähten jedoch überwiegend durch Felddissoziation in der Gasphase gebildet werden. Die Form der Fragmentmassenlinien ist in beiden Fällen verschieden. Bei Zimmertemperatur ist z. B. die Form der Massenlinie m - 43 nahezu symmetrisch, während bei erhöhter Temperatur die Massenlinie eine Verbreiterung zu kleineren Massen hin aufweist. Diese Erscheinung ist charakteristisch für die Felddissoziation organischer Moleküle in der Gasphase.
  • Von besonderer praktischer Bedeutung ist die Rufheizung bei der Untersuchung schwer verdampfbarer Substanzen. Bei Zimmertemperatur bilden sich nach einigen Minuten feste Ablagerungen auf dem Wollastondraht, so daß Schichten von undefiniertem elektischem Potential entstehen. Diese Unbestimmtheit des Potentials führt zu einer Verminderung des Auflösungsvermögens. F i g. 5 zeigt diesen Effekt und zeigt ferner die Molekülionenlinie und die benachbarten Linien von d-Ribose bei ungeheizter Ionenquelle unmittelbar nach Einschalten des Molekularstrahls und etwa 5 Minuten später. Das Auflösungsvermögen ist deutlich schlechter geworden. Nach Aufheizung ist das Auflösungsvermögen wieder wesentlich verbessert.
  • Für die Feldionenbildung an Drähten eignen sich Wollastondrähte. Die Platinseele des Wollastondrahtes sollte einen Durchmesser von 2,5 #tm besitzen. 5-Etm-Drähte ergeben eine vergleichbare Emission erst bei einer Spannung von etwa 25 kV zwischen Draht und Kathode, wobei Entladungen und elektrische Überschläge zu Störungen führen können. Falls 5-#trn-Drähte auch bei niedrigeren Spannungen emittieren, so ist dies auf Mikrospitzen zurückzuführen, die jedoch nicht zu gut reproduzierbaren Emissionsverhältnissen führen, da sie weniger zahlreich als auf 2,5-gm-Drähten sind. 2,5-#im-Wollastondrähte werden durch Abätzen des Silbermantels präpariert. Die Emissionszone bleibt auch nach der Abätzung noch elektronenoptisch rauh, eine derartige Restrauhigkeit stört aber nicht, vielmehr werden durch die vielen Rauhigkeiten auf der Oberfläche der dünnen Drähte oder scharfen Schneiden örtliche Erhöhungen des Feldes hervorgerufen, welche die Feldionisation der zu analysierenden Moleküle herbeiführen. Man kann deshalb auf die elektrolytische Politur auch verzichten. Die Länge des emittierenden Drahtes beträgt zweckmäßigerweise nur etwa 3 bis 5 mm, da bei größerer Länge mechanische Vibrationen des feinen Drahtes störend sein können. Längere Drähte können abschnittsweise gehaltert oder in ganzer Länge auf einer Unterlage aus Isoliermaterial gehaltert werden. Drähte mit Durchmessern unterhalb 2,5 gm erfordern kleinere Spannungen zur Feldionisierung, sind jedoch anfälliger gegenüber Zerstörung.
  • Der Emissionsbereich kann auch durch die Schneide einer Rasierklinge oder ähnlichen Emitterkörpern oder durch den Rand einer Folie gebildet werden, deren Stärke dem gewünschten Durchmesser des zu bildenden Emissionsbereiches entspricht. Scharfe Metallschneiden besonders feiner Rasierklingen erfordern im allgemeinen mindestens zweifach höhere Ziehspannungen zur Erzeugung der gleichen Feldstärke wie 2,5-#tm-Drähte. Hierbei machen nur wenige, ausgesuchte Exemplare eine Ausnahme, die bei etwa 14 kV Ziehspannung den gleichen Ionenstrom wie 2,5-gm-Drähte liefern. Extrem dünne Metallfolien sind daher bezüglich der Feldionenerzeugung Rasierklingen vorzuziehen.
  • Bei Drücken im Ionisierungsraum unterhalb einigen 10-4 Torr werden periodisch kondensierte Schichten auf den emittierten Drähten oder Schneiden aufgebaut und abgerissen, so daß der Ionenstrom periodisch schwankt. Dies kann dadurch vermieden werden, daß der Totaldruck in der Ionenquelle bei einer Analyse immer etwa 10-4 Torr beträgt. Bei diesem Druck bildet sich eine dickere, kondensierte Schicht auf dem Emissionsdraht oder der Schneide aus, die zu einem stabilen, langzeitig reproduzierbaren Ionenstrom führt. Wenn der Totaldruck in der Ionenquelle konstant gehalten wird, sind die Ionenströme proportional dem Partialdruck der Komponenten, vorausgesetzt, daß die Komponenten chemisch nicht zu unähnlich sind. Trifft diese Voraus- Setzung jedoch nicht zu, so fügt man zu der Mischung einen großen überschuß eines inerten Lösungsmittels hinzu, das die Abweichungen von der Proportionalität der Zonenströme mit den Partialdrucken stark herabsetzt.
  • Unabhängig von der Kombination der neuen Feldionenquelle mit einem Massenspektrometer kann die Feldionenemission an feinen Drähten oder Schneiden zur Messung des Total- oder Partialdruckes von Dämpfen anorganischer oder organischer Verbindung in Edelgasen und Permanentgasen wie H2, 02, CO, CII4 benutzt werden. Der Gesamtionenstrom ist bei Drücken unterhalb 1.0-4 Torf genau proportional dem Druck. Die Feldionisierungswahrscheinliehkeit ist für die genannten Edelgase und einige Permanentgase um mindestens einen Faktor 1000 kleiner als für anorganische oder organische Dämpfe. Daher kam eine einfache Zonenquelle, in der die Gesamtemission eines Drahtes oder einer Schneide gemessen wird, zur Total- oder Partialdruckmessung benutzt werden.
  • Im Rahmen der Erfindung sind noch mancherlei Abänderungen und. andere Ausführungen möglich. Insbesondere kann die Emissionszone bei entsprechend ausgebildeter Zonenoptik anders als in den genannten Beispielen gestaltet sein. Stets ist der Emitter jedoch so auszubilden und anzuordnen, daß sich eine Emissionszone ergibt, deren Gesamtausdehnung vielfach größer ist, als es ihrem kleineren Krümmungsradius entspricht. Der Emissionsbereich kann eine zweifach gekrümmte Fläche mit den Krümmungsradien r1 und r2 darstellen mit der Bedingung, daß r, groß ist gegenüber r2 und im Grenzfall unendlich und daß die Ausdehnung des Emissionsbereiches in der Richtung, in der er wenig oder gar nicht gekrümmt ist, groß ist gegenüber seiner Ausdehnung in der Richtung, in der er stark gekrümmt ist. Der Emissionsbereich kann auch aus einer Linien- oder flächenförmigen Gruppe vieler Kuppen gebildet sein, deren Krümmungsradius wie der des Drahtes vorzugsweise etwa gleich 2,5 gru ist.

Claims (2)

  1. Patentansprüche: 1. Feldemissionsionenquelle, insbesondere für Massenspektrometer, deren Emitter d a d u r c h gekennzeichnet ist, daß er die Form eines dünnen Drahtes oder eurer scharfen Schneide zeit einer im Verhältnis zum in der Querschnitts-ebene liegenden Krümmungsradius großen Längserstreckung besitzt. 2. Feldemissionsionenquelle nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, daß der Emitter in Längsrichtung gekrümmt ist mit einem Krümmungsradius, der gegenüber dem in der Querschnittsebene liegenden Krümmungsradius groß, im Grenzfall unendlich ist. 3. Feldemissionsionenquelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Durchmesser des Emitterdrahtes etwa 2,5 [,m beträgt. 4. Feldemissionsionenquelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der drahtförmige Emitter aus einem Wollastondraht besteht. 5. Feldemissionsionenquelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzliche Abstützungen des Emitterdrahtes vorgesehen sind. 6. Feldemissionsionenquelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der schneidenförmige Emitter eine Rasierklinge ist oder nach Art einer Rasierklinge hergestellt ist. 7. Feldemissionsionenquelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der schneidenförmige Emitter aus einet metallischen Folie besteht. $. Feldemissionsionenquelle nach Anspruch 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Emitter heizbar ist. 9. Feldemissionsionenquelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Emissionsfläche aus einer Gruppe vieler Kuppen besteht. 10. Feldemissionsionenquelle nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Kuppen linienförmig angeordnet sind. 11. Feldemissionsionenquelle nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Kuppen flächenförmig angeordnet sind. In Betracht gezogene Druckschriften: Physical Review, 38 (1:931), S. 590, und 41 (1932), S. 261; Zeitschrift für Naturforschung, 10a (1955), S. 863 bis 872, 11 a (1956), S. 88 bis 94; Zeitschrift für Instrumentenkunde, 71(1963), El.
  2. 2, S. 51, 52; British Journal of Applied Physics, 14 (1963), Nr. 5, S. 278 bis 283.
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