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DE1283559B - Mikrophotometrische Einrichtung zum Vergleich zweier von einer Lichtquelle ausgehender Lichtstroeme mittels einer Photozelle - Google Patents

Mikrophotometrische Einrichtung zum Vergleich zweier von einer Lichtquelle ausgehender Lichtstroeme mittels einer Photozelle

Info

Publication number
DE1283559B
DE1283559B DEC31468A DEC0031468A DE1283559B DE 1283559 B DE1283559 B DE 1283559B DE C31468 A DEC31468 A DE C31468A DE C0031468 A DEC0031468 A DE C0031468A DE 1283559 B DE1283559 B DE 1283559B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
sample
light source
observation
luminous flux
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEC31468A
Other languages
English (en)
Inventor
Daniel Lesage
Roger Monnot
Pierre Vialet
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Compteurs Schlumberger SA
Original Assignee
Compteurs Schlumberger SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Compteurs Schlumberger SA filed Critical Compteurs Schlumberger SA
Publication of DE1283559B publication Critical patent/DE1283559B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

  • Mikrophotometrische Einrichtung zum Vergleich zweier von einer Lichtquelle ausgehender Lichtströme mittels einer Photozelle Die Erfindung betrifft eine mikrophotometrische Einrichtung zum Vergleich zweier von einer Lichtquelle ausgehender Lichtströme mittels einer Photozelle, wobei einer der Lichtströme durch die zu untersuchende Probe geleitet wird und der andere einen Vergleichsstrahl bildet und wobei eine Hilfsbeleuchtungseinrichtung und eine Beobachtungseinrichtung zur Beobachtung der Probe vor und während der Messung vorgesehen ist.
  • Die Erfindung bezieht sich insbesondere auf diejenigen Teile derartiger Einrichtungen, deren häufiger Gebrauch bei der optischen Mikroanalyse feiner Einzelheiten mit großem Kontrast es erforderlich machen, manchmal sehr kleine Lichtströme zu vergleichen und in denen bestimmte Bedingungen, die die Meßgenauigkeit beeinflussen, gleichzeitig erfüllt sein müssen.
  • Bei derartigen Einrichtungen ist die Aufgabe zu lösen, den Einfluß von Streulicht auf das Meßergebnis zu vermeiden, gleichzeitig aber die Beobachtung eines Gesichtsfeldes, das größer ist als das zur Messung bestimmte Meßfeld, zu erlauben. Dabei soll eine Beobachtung auch während der Messung möglich sein.
  • Zur Beobachtung eines Gesichtsfeldes ist es bereits bekannt, den Meßlichtstrom selbst oder eine Hilfsbeleuchtungseinrichtung zu verwenden. Bei der Verwendung des Meßlichtstroms selbst tritt der Nachteil auf, daß der Einfluß des Streulichtes beträchtlich erhöht wird. Bei der Verwendung der bekannten Hilfsbeleuchtungseinrichtung ist es nicht möglich, gleichzeitig zu messen und auch eine Beobachtung während der Messung zu ermöglichen.
  • Es ist bereits ein Mikroskop-Spektrophotometer bekannt, bei welchem zwischen die Meßfotozelle und die Probe eine Hilfsbeleuchtungsvorrichtung eingeführt werden kann. Diese Hilfsbeleuchtungsvorrich tung weist ein total reflektierendes Prisma auf, so daß es unmöglich ist, gleichzeitig die Messung und die Beobachtung vorzunehmen. Bei diesem bekannten Photometer müssen zwei Operationen durchgeführt werden, und zwar muß zunächst die Hilfsbeleuchtungsvorrichtung in Betrieb gesetzt werden, und anschließend muß nach Entfernung der Hilfsbeleuchtungsvorrichtung die eigentliche Messung erfolgen.
  • Es ist ferner eine Vorrichtung bekannt, bei der vor der Fotozelle ein geneigter Hohlspiegel mit einer kleinen Öffnung angeordnet wird. Über diesen Hohlspiegel kann die Probe beobachtet werden. In diesem Fall erfolgt die Beobachtung mit Hilfe eines Lichtstromes, der aus der Meßlichtstromquelle stammt. Bei dieser bekannten Vorrichtung stört das dabei auftretende Streulicht die Messung ganz erheblich.
  • Weiterhin ist ein Mikroskop mit einer Fotoeinrichtung bekannt, bei welchem ebenfalls eine Beobachtung über ein Okular möglich ist. Bei diesem Mikroskop wird jedoch ebenfalls der Aufzeichnungslichtstrom zur Beobachtung verwendet. Falls bei dieser Vorrichtung die Messung und die Beobachtung gleichzeitig erfolgen sollen, so wird durch eine gegebenenfalls mehrmals erfolgende Aufspaltung des Meßlichtstromes dieser erheblich geschwächt. Außerdem ist bei dieser Vorrichtung eine direkte Beobachtung der Probe oder ihres Bildes auf der Analysenblende nicht möglich.
  • Erfindungsgemäß wird die obengenannte Aufgabe nun dadurch gelöst, daß die Hilfsbeleuchtungseinrichtung eine Lichtquelle aufweist, die einen kontinuierlichen und gefärbten Lichtstrom liefert, der mittels einer unter etwa 450 gegen die optische Achse des Meßstrahlenganges geneigten planparallelen Platte vor der Probe eingeführt wird und der einen bestimmten Bereich der Probe gleichmäßig beleuchtet.
  • Dadurch, daß zur Beobachtung ein Lichtstrahl ausgewählt wird, der eine bestimmte spektrale Zusammensetzung hat und der nicht wie der Meßlichtstrom moduliert ist, wird kein störender Einfluß auf die Messung ausgeübt.
  • Bei denjenigen Vorrichtungen, bei denen die Probe mit Hilfe eines modulierten Lichtstrahls untersucht wird, beispielsweise bei der im folgenden beschriebenen Vorrichtung, ist es ausreichend, die kontinuierliche und gefärbte Beobachtungsbeleuchtung in einem Wellenlängenbereich des Spektrums zu wählen, in dem die relative Empfindlichkeit der Zelle in bezug auf das Auge klein ist (orangefarbener oder roter Bereich des Spektrums, beispielsweise), um jegliche Störung der Messung durch Auftreffen eines Teils des Beobachtungslichts auf die Zelle zu vermeiden.
  • Für andere Vorrichtungen wird dasselbe Ergebnis erzielt, indem man den spektralen Emissionsbereich der kontinuierlichen Beleuchtung in einem Empfindlichkeitsbereich der Zelle anordnet, in dem die Empfindlichkeit annähernd Null ist, und erforderlichenfalls zusätzlich ein diesen Spektralbereich eliminierendes Filter einbaut.
  • Bei diesen Vorrichtungen stört das Vorhandensein des gefärbten Hilfsbeobachtungslichts in dem Beobachtungsbereich die Betrachtung des Meßbeleuchtungsbereichs oder des Meßbereiches, der »weiß« aus einer üblichen Lichtquelle beleuchtet wird, nicht.
  • Durch die erfindungsgemäße Anordnung ist es in einfachster Weise möglich, während des Meßvorganges das Bild der Probe an der Meßblende bzw. über das Dachprisma die Probe selbst zu beobachten, ohne daß dadurch der Meßlichtstrom geschwächt oder die Ergebnisse verfälscht oder der Meßfehler vergrößert oder das Streulicht erhöht wird.
  • In der Zeichnung ist schematisch der Aufbau eines Photometers gezeigt. Das Photometer weist einen Meßstrahlengang M und einen Vergleichsstrahlengang T auf, und für diese Strahlengänge werden an sich bekannte Elemente verwendet. Das Meßlichtbündel und das Vergleichslichtbündel sind moduliert, während, wie im folgenden noch dargelegt werden soll, das Hilfslichtbündel keine Modulation erfährt.
  • Die Hilfsbeleuchtungseinrichtung, die für die Probe 9 vorgesehen ist, besteht aus einer Hilfslichtquelle 21, einem Kondensor 22 und einem optischen Filter 23. Mit dieser Einrichtung wird in den optischen MeßwegM durch Reflexion an einer dünnen transparenten Platte 24 mit parallelen Flächen ein kontinuierlicher, d. h. nicht modulierter und gefärbter Lichtstrom eingeführt, der sich über einen weiten kreisförmigen Bereich der Probe entsprechend dem durch das Objektiv von der Hauptebene des Kondensorausgangs 22 erzeugten Bild gleichförmig ausbreitet.
  • Das Filter 23 begrenzt den Wellenlängenbereich der Hilfsbeleuchtungseinrichtung auf einen Bereich, in dem die Fotozelle des Photometers eine geringere Empfindlichkeit aufweist als das Auge.
  • Es ist eine Hilfsbetrachtungsvorrichtung 20 vorgesehen, die ein festes Mikrometer 26 und ein Beobachtungs- und Meßokular 16 und einen verschiebbaren Schlitten 17 aufweist und außer dem Spiegel 11 ein Objektiv 18 und ein Dachprisma 19 trägt.
  • Dieser Schlitten 17 kann nach Verschiebung senkrecht zur Zeichenebene zwei Arbeitseinstellungen einnehmen, in denen zwei verschiedene Betrachtungen der Probe in ein und demselben Mikrometerokular mit mikroskopischer Betrachtung in derselben Vergrößerung und Normalbetrachtung des Verschiebungssinns der Probe möglich sind.
  • In einer Stellung des Schlittens 17 ersetzt das Dachprisma 19 den Spiegelll und das Objektivl8 und lenkt das vom Objektiv 10 gelieferte Bild der Probe zum Mikrometer 26 des Okulars 16. Ein zweites zusammengesetztes Beobachtungssystem wird so zusammen mit dem Okular und dem Objektiv 10 zur normalen Beobachtung der Probe gebildet. Dieses Beobachtungssystem hat optimale Eigenschaften für eine mikroskopische Beobachtung der Probe während aller Einstellungen vor der Messung einschließlich der Einstellung des optischen Meßsystems. Alle Einstellungen können wirksam durchgeführt werden, obwohl die Meßöffnung 12 in dieser Stellung unsichtbar ist.

Claims (1)

  1. Patentanspruch: Mikrophotometrische Einrichtung zum Vergleich zweier von einer Lichtquelle ausgehender Lichtströme mittels einer Photozelle, wobei einer der Lichtströme durch die zu untersuchende Probe geleitet wird und der andere einen Vergleichsstrahl bildet, und wobei eine Hilfsbeleuchtungseinrichtung und eine Beobachtungseinrichtung zur Beobachtung der Probe vor und während der Messung vorgesehen ist, d a d u r c h g ekennzeichnet, daß die Hilfsbeleuchtungseinrichtung eine Lichtquelle (21) aufweist, die einen kontinuierlichen und gefärbten Lichtstrom liefert, der mittels einer unter etwa 450 gegen die optische Achse des Meßstrahlenganges (M) geneigten planparallelen Platte (24) vor der Probe (9) eingeführt wird, und der einen bestimmten Bereich der Probe gleichmäßig beleuchtet.
    In Betracht gezogene Druckschriften : Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 022 817; Zusatzpatent Nr. 78451 zur französischen Patentschrift Nr. 992 278 ; Optics and Spectroscopy, 6 (1959), S. 544, 545.
DEC31468A 1963-02-14 1963-11-20 Mikrophotometrische Einrichtung zum Vergleich zweier von einer Lichtquelle ausgehender Lichtstroeme mittels einer Photozelle Pending DE1283559B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1283559X 1963-02-14

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DE1283559B true DE1283559B (de) 1968-11-21

Family

ID=9678649

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DEC31468A Pending DE1283559B (de) 1963-02-14 1963-11-20 Mikrophotometrische Einrichtung zum Vergleich zweier von einer Lichtquelle ausgehender Lichtstroeme mittels einer Photozelle

Country Status (1)

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DE (1) DE1283559B (de)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR992278A (fr) * 1944-06-08 1951-10-16 Procédé et dispositif pour faciliter la mise au point de certains appareils comportant un système de projection, par exemple les microphotomètres
DE1022817B (de) * 1955-05-17 1958-01-16 Zeiss Carl Fa Photomikroskop
FR78451E (fr) * 1948-10-27 1962-07-27 Procédé et dispositif pour faciliter la mise au point de certains appareils comportant un système de projection, par exemple les micro-photomètres

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR992278A (fr) * 1944-06-08 1951-10-16 Procédé et dispositif pour faciliter la mise au point de certains appareils comportant un système de projection, par exemple les microphotomètres
FR78451E (fr) * 1948-10-27 1962-07-27 Procédé et dispositif pour faciliter la mise au point de certains appareils comportant un système de projection, par exemple les micro-photomètres
DE1022817B (de) * 1955-05-17 1958-01-16 Zeiss Carl Fa Photomikroskop

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