DE4005878C2 - - Google Patents
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- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 claims description 46
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 19
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 13
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 13
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 13
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 claims description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 31
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 13
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000002060 fluorescence correlation spectroscopy Methods 0.000 description 5
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003292 diminished effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N2021/3595—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using FTIR
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/08—Optical fibres; light guides
- G01N2201/084—Fibres for remote transmission
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
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Description
Die Erfindung betrifft ein Raman-Spektrometer zur Untersuchung einer Probe mit einer Laser-
Lichtquelle, einer mittels einer Einkoppelvorrichtung an die
Laser-Lichtquelle angeschlossen Meßeinheit, sowie einer
mittels einer Auskoppelvorrichtung an die Meßeinheit angeschlossenen
Auswerteinheit, wobei ein von der Laser-Lichtquelle
erzeugter erster Lichtstrahl innerhalb der als Mikroskop
ausgebildeten Meßeinheit mittels ersten optischen Strahlführungsmitteln
von der Einkoppelvorrichtung auf die Probe gelenkt
wird, ferner ein von der Probe abgegebener zweiter Lichtstrahl
mittels zweiten optischen Strahlführungsmitteln einerseits als ein
erster Teilstrahl zu visuellen Beobachtungsmitteln
und andererseits als ein zweiter Teilstrahl zu der Auskoppelvorrichtung
gelenkt wird, wobei die Strahlführungsmittel
mindestens jeweils einen Umlenkspiegel, einen teildurchlässigen
Spiegel und ein dichroitisches Filter umfassen und die Koppelvorrichtungen
parallel zu einer ersten Achse ausgerichtet sind.
Ein Raman-Spektrometer der vorstehend genannten Art ist aus
der US-PS 45 86 819 bekannt.
Bei dem bekannten Spektrometer wird ein von einer Laser-Lichtquelle
erzeugter Laserstrahl zunächst außerhalb des Mikroskops
von einer vertikalen in eine horizontale Richtung umgelenkt
und tritt in der horizontalen Richtung in das Mikroskop ein.
Dort trifft der Laserstrahl auf einen teildurchlässigen Spiegel
und wird senkrecht nach unten reflektiert, um dort auf die am
Boden des Mikroskops angeordnete Probe zu treffen. Von der
Probe wird demzufolge in vertikaler Richtung nach oben sowohl
Laserlicht wie auch gestreutes Raman-Licht reflektiert. Beide
reflektierten Lichtstrahlen durchsetzen den teildurchlässigen
Spiegel und gelangen auf ein dahinter angeordnetes dichroitisches
Filter. Das reflektierte Laserlicht durchsetzt das
dichroitische Filter und gelangt ohne weitere Ablenkung auf
eine vertikl ausgerichtete Kamera. Demgegenüber wird das
reflektierte Raman-Licht am dichroitischen Filter wiederum in
eine horizontale Richtung umgelenkt und tritt in dieser Richtung
aus dem Mikroskop aus und zwar auf der gegenüberliegenden
Seite, verglichen mit der Eintrittsseite des von der Laser-
Lichtquelle eintreffenden Laserstrahls. Das aus dem Mikroskop
austretende Raman-Licht wird dann in einem Monochromator
spektral analysiert, verstärkt und aufgezeichnet.
Das bekannte Spektrometer hat damit jedoch den Nachteil, daß
die Laser-Lichtquelle einerseits und der Monochromator andererseits
unmittelbar an das Mikroskop angesetzt werden müssen,
weil die Einfallrichtung bzw. die Ausfallrichtung der Lichtstrahlen
genau justiert werden müssen, um eine korrekte Funktion
sicherzustellen. Dies bedeutet, daß eine starre mechanische
Kopplung der Laser-Lichtquelle einerseits und des Monochromators
andererseits an das Mikroskop erforderlich sind, was wiederum
voraussetzt, daß ein stabiler Gesamtaufbau gewählt wird, der
die Flexibilität der Anordnung stark einschränkt. Auch die
Zugänglichkeit der Einzelkomponenten wird dadurch deutlich
vermindert, so daß es auch schwierig sein kann, an dem ohnehin
sehr komplexen Aufbau auch noch ein Okular vorzusehen, mit
dem eine unmittelbare visuelle Beobachtung möglich wäre.
Ferner setzt das bekannte Spektrometer eine bestimmte bauliche
Anordnung des Mikroskops voraus, weil der Strahlengang zwar
sehr einfach ist, andererseits aber dadruch eine bestimmte
Anordnung der Bauelemente zueinander vorausgesetzt wird.
Schließlich hat das bekannte Spektrometer noch die Besonderheit,
daß durch die Anordnung des teildurchlässigen Spiegels einerseits
und des dichroitischen Filters andererseits keine Wegstrecke
im Strahlengang existiert, auf der nur das einfallende
Laser-Licht und das reflektierte Raman-Licht vorhanden sind.
Bei dem Strahlengang des bekannten Spektrometers sind nämlich
im Bereich zwischen der Probe und dem teildurchlässigen Spiegel
alle drei Lichtstrahlen, nämlich das einfallende Laser-Licht,
das reflektierte Laser-Licht sowie das reflektierte Raman-
Licht vorhanden, während nach dem teildurchlässigen Spiegel
nur noch das reflektierte Laser-Licht und das reflektierte
Raman-Licht vorhanden sind, die dann im dichroitischen Filter
getrennt werden. Das bekannte Spektrometer gestattet daher
nicht, das einfallende Laser-Licht und das reflektierte Raman-
Licht gemeinsam zu beeinflussen, beispielsweise mittels einer
Blende.
Aus der US-Z "Rev. Sci. Instrum.", 59 (4), April 1988, Seiten 588
bis 590 ist eine Vorrichtung für die Fluoreszenz-Korrelations-
Spektroskopie (FCS) bekannt. Diese bekannte FCS-Vorrichtung
verwendet ein handelsübliches Mikroskop, auf dessen Objekttisch
die zu untersuchende Probe angebracht wird. Über einen Laser
wird ein Laserstrahl mittels eines Monomoden-Glasfaserkabels
dem Mikroskop zugeführt und über einen dichroitischen Spiegel
auf die Probe gelenkt. Das von der Probe reflektierte Laser-
Licht passiert den dichroitischen Spiegel und gelangt über ein
Glasfaser-Bündel auf eine Lichtverstärkerröhre.
Dieses bekannnte Spektrometer gestattet daher, die Laser-Lichtquelle
einerseits und die Auswerteeinheit (Fotoverstärker-Röhre)
andererseits im Abstand vom Mikroskop anzuordnen und es dürfte
auch möglich sein, durch Austausch der beiden genannten Einheiten
das Mikroskop in unterschiedlicher Weise betreiben zu
können. Das bekannte Spektrometer arbeitet jedoch nicht im
Infrarot-Bereich, sondern bei einer Wellenlänge von 458 nm,
also deutlich unterhalb der IR-Empfindlichkeitsgrenze des
Auges (760 nm). Darüber hinaus beruht der Meßeffekt einer FCS-
Apparatur auf der Fluoreszenz einer Meßprobe, während bekanntlich
bei der Raman-Spektroskopie der Meßeffekt auf der Erzeugung
von Streulicht beruht. Die bekannte FCS-Apparatur ist daher
nicht ohne weiteres auf den Anwendungsfall der Raman-Spektroskopie
zu übertragen, weil zu befürchten wäre, daß durch das
verwendete Laser-Licht insbesondere im Monomoden-Glasfaserkabel
zwischen dem Laser und dem Mikroskop wiederum Streuungen erzeugt
würden, die das Meßergebnis verfälschen.
Aus der US-PS 49 00 147 ist ein Gerät zur Überprüfung von
Diamanten bekannt, bei dem ein monochromatischer Laserstrahl
auf den zu untersuchenden Diamanten gerichtet und das vom
Diamanten reflektierte Raman-Licht über eine Video-Kamera auf
einem Monitor dargestellt wird. Bei der bekannten Anordnung
befindet sich der zu untersuchende Diamant unmittelbar in der
Richtung des Austrittsstrahls einer Laser-Lichtquelle. Im
Strahlengang zwischen der Lichtquelle und dem Diamant ist ein
teildurchlässiger Spiegel vorgesehen, der das vom Diamanten
reflektierte Raman-Licht über ein Filter auf die Video-Kamera
lenkt.
Die bekannte Anordnung lehrt daher zwar die Verwendung von
teildurchlässigen Spiegeln (Strahlenteilern) im Strahlengang
einer Raman-Apparatur, eine analytische Messung des Raman-
Lichtes bei gleichzeitiger visueller Beobachtung ist jedoch
bei der bekannten Anordnung weder vorgesehen noch möglich.
Aus der DE 27 27 265 A1 ist eine optische Mikroskop-Laser-
Mikrosonde für Raman-Spektroskopie bekannt. Die bekannte
Mikrosonde schlägt eine Vielzahl von möglichen Strahlengängen
vor, die jedoch äußerst kompliziert sind und eine spezielle
Apparatur voraussetzen, bei der die Verwendung eines handelsüblichen
Mikroskops ausscheidet. Auch bei dieser bekannten
Sonde gilt, daß die einzelnen optischen Komponenten starr
miteinander verbunden sind und daher nur eine begrenzte Flexibilität
besteht.
Aus der US-Z "Rev. Sci. Instrum.", 45 (12), Dezember 1974, Seiten
1598 bis 1601 ist eine Apparatur für die Raman-Spektroskopie
bei hohem Druck bekannt. Auch diese bekannte Apparatur lehrt
die Verwendung eines halbdruchlässigen Spiegels, um einerseits
eine analytische Untersuchung des Raman-Lichtes durchführen
und andererseits eine visuelle Beobachtung ermöglichen zu
können. Die bekannte Apparatur ist jedoch eine Spezialapparatur,
die an einem geschlossenen Kryostaten angebracht ist, um
Messungen bei hohem Druck und tiefer Temperatur vornehmen zu
können.
Aus der WO 89/01 622 A1 ist schließlich ein Raman-Spektrometer
bekannt, bei dem eine sogenannte Hadamard-Maske zum stationären
elektrooptischen Codieren einer Beobachtungsfläche verwendet
wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Raman-Spektrometer
der eingangs genannten Art dahingehend weiterzubilden,
daß ein modularer und flexibler Aufbau des Raman-Spektrometer-
Zusatzes im Verhältnis zur Auswerteinheit möglich wird und gleichzeitig eine Strahlführung erreicht wird, bei der das eingestrahlte Laser-Licht und das reflektierte Raman-Licht ungeachtet der visuellen Beobachtungsmöglichkeit beeinflußt werden können.
Zusatzes im Verhältnis zur Auswerteinheit möglich wird und gleichzeitig eine Strahlführung erreicht wird, bei der das eingestrahlte Laser-Licht und das reflektierte Raman-Licht ungeachtet der visuellen Beobachtungsmöglichkeit beeinflußt werden können.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß der
erste Lichtstrahl von der Einkoppelvorrichtung in Richtung
der ersten Achse zunächst das dichroitische Filter durchläuft,
danach mittels eines ersten Umlenkspiegels in eine zur ersten
Achse senkrechte Richtung parallel zu einer zweiten Achse
umgelenkt wird, und schließlich mittels des teildurchlässigen
Spiegels in einer zur ersten und zur zweiten Achse senkrechten Richtung
parallel zu einer dritten Achse auf die Probe gelenkt wird,
daß der zweite Lichtstrahl von der Probe auf den teildurchlässigen
Spiegel reflektiert wird, wobei der vom zweiten Lichtstrahl abgetrennte erste Teilstrahl den
teildurchlässigen Spiegel durchsetzt und auf die visuellen
Beobachtungsmittel fällt, während der vom zweiten Lichtstrahl abgetrennte zweite Teilstrahl von
dem teildurchlässigen Spiegel in eine Richtung parallel zur
zweiten Achse umgelenkt wird, alsdann auf den ersten Umlenkspiegel
trifft, um in eine Richtung parallel zur ersten Achse
umgelenkt zu werden, danach auf das dichroitische Filter trifft,
dort reflektiert wird und über einen zweiten Umlenkspiegel
wiederum in eine Richtung parallel zur ersten Achse in die
Auskoppelvorrichtung umgelenkt wird, und daß die Einkoppelvorrichtung
mit der Laser-Lichtquelle sowie die Auskoppelvorrichtung
mit der Auswerteeinheit jeweils über Glasfaserkabel verbunden
sind, wobei die Auswerteinheit für die Auswertung im infraroten
oder im sichtbaren Bereich ausgebildet ist.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe wird auf diese
Weise vollkommen gelöst.
So ermöglicht nämlich zum einen der Anschluß der Meßeinheit
über Glasfaserkabel an die Laser-Lichtquelle einerseits und an
das zur Auswertung dienende im infraroten oder im sichtbaren Bereich messende Spektrometer anderer
seits eine erhöhte Flexibilität der Anordnung, weil alle drei
genannten Einheiten unabhängig voneinander aufgestellt werden
können und ein Austausch problemlos durch Umstecken der Glasfaserkabel
möglich ist.
Zum anderen ermöglicht der genannte Strahlengang, auf der
Strecke zwischen dem ersten Umlenkspiegel und dem dichroitischen
Filter das einfallende Laser-Licht und das reflektierte Raman-
Licht gleichzeitig zu beeinflussen, beispielsweise mittels
einer dort angebrachten Blende. Das Beobachtungslicht, nämlich
das von der Probe reflektierte Laser-Licht ist auf diesem
Abschnitt des Strahlenganges nicht mehr vorhanden, weil es
bereits zuvor durch den teildurchlässigen Spiegel zu den
visuellen Beobachtungsmitteln umgelenkt wurde.
Bei einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung leitet der
teildurchlässige Spiegel weniger als 10%, vorzugsweise 4%
des von der Probe reflektierten zweiten Lichtstrahls an die
visuellen Beobachtungsmittel weiter.
Diese Maßnahme hat den Vorteil, daß einerseits eine visuelle
Beobachtung mit dem Meßlicht selbst möglich ist, das durch
den Strahlenteiler so weit abgeschwächt werden kann, daß es
entweder mit der CCD-Kamera oder gefahrlos auch mit dem menschlichen
Auge betrachtet werden kann und andererseits die Intensität
des Meßlichts nicht nennenswert geschwächt wird.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung
dargestellt und wird in der nachfolgenden Beschreibung näher
erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine Draufsicht, teilweise im Schnitt, durch ein
Ausführungsbeispiel eines Raman-
Spektrometers, entlang der Linie I-I von Fig. 2;
Fig. 2 eine Seitenansicht eines Teils des in Fig. 1
dargestellten Raman-Spektrometers, und zwar entlang
der Linie II-II von Fig. 1.
In den Figuren bezeichnet 10 insgesamt ein Raman-Spektrometer.
Das Raman-Spektrometer 10 umfaßt eine Meßeinheit 11, die weiter
unten noch im einzelnen erläutert werden wird. Die Meßeinheit
11 ist ausgangsseititg an eine Auswerteinheit 12 angeschlossen.
Die Auswerteinheit 12 kann entweder ein Fourier Infrarot-
Spektrometer sein, was voraussetzt, daß sie einen für Raman-
Wellenlängen geeigneten Detektor enthält, die Auswerteinheit
12 kann aber auch ein übliches Raman-Spektrometer sein.
Eine Laser-Lichtquelle 13, insbesondere ein Nd:YAG-Laser versorgt die Meßeinheit 11 mit Meßlicht.
Die Meßeinheit 11 umfaßt ein Gehäuse 20, das an einem Licht
mikroskop 15 angebracht ist und an dem ein erster Anschluß 21
sowie ein zweiter Anschluß 22 für ein erstes Glasfaserkabel
23 bzw. ein zweites Glasfaserkabel 24 vorgesehen sind. Das
erste Glasfaserkabel 23 verbindet den ersten Anschluß 21 mit
einem entsprechenden dritten Anschluß 25 an der Lichtquelle
13. Das zweite Glasfaserkabel 24 verbindet in entsprechender
Weise den zweiten Anschluß 22 mit einem zugehörigen vierten
Anschluß 26 an der Auswerteinheit 12.
Man erkennt, daß es auf diese Weise leicht möglich ist, die
Meßeinheit 11 mit verschiedenartigen Auswerteinheiten 12 oder
Lichtquellen 13 zu verbinden, indem die Glasfaserkabel 23, 24
in an sich bekannter Weise umgesteckt werden. In diesem Sinne
ist auch zu verstehen, wenn weiter vorne erwähnt wurde, daß
die Auswerteinheit 12 auch ein Raman-Spektrometer üblicher
Bauart sein kann, weil dann nämlich Meßlicht aus der Meßeinheit
11 über das zweite Glasfaserkabel 24 zu dem die Auswertein
heit 12 bildenden Raman-Spektrometer geleitet werden kann, um
dann schließlich dort einem Raman-Detektor zugeführt zu werden.
Von der Lichtquelle 13 wird über das erste Glasfaserkabel 23
ein ankommender Lichtstrahl 30 an den ersten Anschluß 21 gegeben
und gelangt von dort in das Innere des Gehäuses 20.
Der ankommende erste Lichtstrahl 30 durchläuft zunächst eine erste
Vergrößerungslinse 31, die z. B. austauschbar ausgebildet
ist, um Vergrößerungsfaktoren zwischen beispielsweise 1:1 und
1:5 einstellen zu können.
Der erste Lichtstrahl 30 durchläuft dann eine feste
erste Blende 32 sowie eine zweite, ebenfalls
feste Vergrößerungslinse 33, die z. B. einen Vergrößerungsfaktor
von 1:10 haben kann.
Danach durchläuft der erste Lichtstrahl 30 ein dichroitisches Filter
34, das für die Wellenlänge des ersten Lichtstrahls 30
durchlässig ist. Danach durchläuft der erste Lichtstrahl 30 eine
zweite, variable Blende 35, die als Irisblende
z. B. Blendenwerte zwischen 1 und 8 einstellen kann.
Ein erster Umlenkspiegel 36 lenkt den ersten Lichtstrahl
30 dann in Fig. 1 nach rechts auf einen teildurchlässigen Spiegel
37.
Wie man deutlich aus Fig. 2 erkennen kann, ist der teildurchlässige
Spiegel 37 um 45° nach unten geneigt, so daß der erste
Lichtstrahl 30 nun vertikal nach unten umgelenkt wird
und auf die äußerst schematisch angedeutete Objektivoptik 38
des Lichtmikroskops 15 gelangt, die den ersten Lichtstrahl 30 schließ
lich auf eine Probe 39 lenkt.
Das von der Probe 39 ausgehende Licht gelangt als zweiter Lichtstrahl
40 zunächst wieder auf dieselben optischen Strahl
führungsmittel, nämlich den teilduchlässigen Spiegel 37,
der den zweiten Lichtstrahl 40 in einen ersten Teilstrahl 40′ und einen zweiten
Teilstrahl 40′′ aufteilt.
Der zweite Teilstrahl
40′′ gelangt auf den ersten Umlenkspiegel 36. Von dort gelangt er
- immer noch auf demselben jetzt umgekehrten optischen Weg
wie der erste Lichtstrahl 30 - auf das dichroitische
Filter 34, das so ausgelegt ist, daß es für die Wellenlänge
des abgegebenen Raman-Lichts reflektierend wirkt, aber etwaiges,
ebenfalls von der Probe 39 ausgehendes Streulicht, durchläßt.
Hierzu ist folgendes zu beachten:
Der als Laser-Lichtquelle 13 eingesetzte Nd:YAG-Laser gibt Licht mit einer Wellenlänge von 1,06 µm ab, was etwa 9400 Wellenzahlen entspricht. Bei der Raman-Spektroskopie werden nun Linien im Spektrum erzeugt, die gegenüber der Linie des eingestrahlten Lichtes etwas versetzt sind. Diese Linien entstehen durch Schwingungen der Moleküle der Probe 39. Die Wellenlängen des abgegebenen Raman-Lichts liegen daher versetzt gegenüber der Wellenlänge des ersten Lichtstrahls 30, und zwar bei üblichen Raman-Spektren um etwa 50 bis 4000 Wellen zahlen.
Der als Laser-Lichtquelle 13 eingesetzte Nd:YAG-Laser gibt Licht mit einer Wellenlänge von 1,06 µm ab, was etwa 9400 Wellenzahlen entspricht. Bei der Raman-Spektroskopie werden nun Linien im Spektrum erzeugt, die gegenüber der Linie des eingestrahlten Lichtes etwas versetzt sind. Diese Linien entstehen durch Schwingungen der Moleküle der Probe 39. Die Wellenlängen des abgegebenen Raman-Lichts liegen daher versetzt gegenüber der Wellenlänge des ersten Lichtstrahls 30, und zwar bei üblichen Raman-Spektren um etwa 50 bis 4000 Wellen zahlen.
Das dichroitische Filter 34 ist nun so ausgelegt, daß es für
die Wellenlänge des ersten Lichtstrahls 30 lichtdurch
lässig, für die Wellenlängen des abgegebenen Raman-Lichts
jedoch reflektierend wirkt.
Aufgrunddessen wird das als zweiter Teilstrahl 40′′ abgegebene Licht auf dem Lichtweg
vom dichroitischen Filter 34 auf einen weiteren
festen zweiten Umlenkspiegel 41 gelenkt und gelangt von dort über
eine Sammellinse 42 in den zweiten Anschluß 22, um von dort
über das zweite Glasfaserkabel 24 der Auswerteinheit 12 zuge
führt zu werden.
Wie man deutlich aus Fig. 2
erkennen kann, bewirkt der teildurchlässige Spiegel 37, wie bereits erwähnt, daß von dem von der Probe
39 abgegebenen Licht ein Teil als erster Teilstrahl 40′ durch den
teildurchlässigen Spiegel 37 hindurchtritt und in vertikaler
Richtung nach oben gelangt. Dort ist bei dem in den Figuren
dargestellten Raman-Spektrometer 10 zum einen das Okular 51
des Lichtmikroskops 15 und zum anderen eine Videokamera 52 angeord
net.
Damit das Lichtmikroskop 15 auch weiterhin für normale lichtmikros
kopische Aufgaben einsetzbar bleibt, dient ein gemeinsamer
Schieber 55 dazu, die üblichen Hellfeld- 53 und Dunkelfeld
beleuchtungseinrichtungen 54 des Lichtmikroskops 15 so zu verschie
ben, daß jeweils eine, in Sonderfällen auch mehrere, der
Einheiten 37, 53 oder 54 in den Lichtweg des ersten Teilstrahls 40′ des Lichtmikroskops
15 gelangt.
Das Raman-Spektrometer 10 erlaubt folgende Betriebsweise:
Wenn eine Probe 39, insbesondere eine Probe mit Mikrostruktur, auf die in Fig. 2 dargestellte Position gebracht wird, so ist es möglich, die Probe 39 über das Okular 51 oder die Videokamera 52 zu beobachten. Das hierzu erforderliche Licht kann entweder ein separat einschaltbares Beleuchtungslicht sein, für das in der Zeichnung nicht dargestellte Leuchten einzuschalten wären, es ist aber auch möglich, die Probe 39 über das abgegebene Streulicht, d. h. über den Lichtweg des ersten Teilstrahls 40′, zu beobachten, wie dies in Fig. 2 eingezeichnet ist, oder die Beleuchtungseinrich tungen 53, 54 des Mikroskops 15 zu nutzen.
Wenn eine Probe 39, insbesondere eine Probe mit Mikrostruktur, auf die in Fig. 2 dargestellte Position gebracht wird, so ist es möglich, die Probe 39 über das Okular 51 oder die Videokamera 52 zu beobachten. Das hierzu erforderliche Licht kann entweder ein separat einschaltbares Beleuchtungslicht sein, für das in der Zeichnung nicht dargestellte Leuchten einzuschalten wären, es ist aber auch möglich, die Probe 39 über das abgegebene Streulicht, d. h. über den Lichtweg des ersten Teilstrahls 40′, zu beobachten, wie dies in Fig. 2 eingezeichnet ist, oder die Beleuchtungseinrich tungen 53, 54 des Mikroskops 15 zu nutzen.
Da Raman-Experimente aus physikalischen Gründen mit Lichtstrah
len hoher Intensität durchgeführt werden müssen, ist es erfor
derlich, die Lichtstärke im Bereich 50 des Lichtmikroskops 15 drastisch
zu reduzieren, um Schäden am Auge des Beobachters zu vermeiden.
Der teildurchlässige Spiegel 37 ist daher so ausgelegt, daß er
nur einen äußerst geringen Teil an Meßlicht durchläßt, nämlich
weniger als 10%, vorzugsweise etwa 4%. Damit geht auch weniger
Licht für den Meßvorgang verloren.
Wenn die Videokamera 52 mit üblichen CCD-Bauelementen zur
Bildwandlung versehen ist, so kann unmittelbar das Laserlicht
des Nd:YAG-Lasers ausgenutzt werden, weil übliche CCD-Bauele
mente für diese Wellenlänge empfindlich sind.
Als Glasfaserkabel
23 oder 24 kann z. B. ein einadriges Glasfaserkabel oder ein Mono
moden-Kabel verwendet werden. Damit läßt sich das Laserlicht
optimal auf einen kleinen Meßfleck auf der Probe fokussieren.
Wenn Laserlicht durch ein Glasfaserkabel geführt wird, so
entstehen durch Streuungen im Glas wiederum Raman-Linien, die
weggefiltert werden. Diese Filter können in ihrer Funktion
mit dem dichroitischen Filter 34 zusammenfallen, sie können
aber auch an anderer Stelle des Strahlenganges des ersten Lichtstrahls
30 angeordnet werden, je nachdem, wie dies im Einzelfall
zweckmäßig ist.
Entsprechendes gilt für Streulicht (Rayleigh-Licht) aus dem
Probenraum, das ebenfalls durch geeignete Filter im Strahlen
gang des zweiten Lichtstrahls 40 weggefiltert werden kann.
Es ist ferner möglich, die Größe des "Brennflecks" des Lasers
auf der Probe 39 zu variieren, indem man in der bereits an
gedeuteten Weise die Elemente im Strahlengang des ersten
Lichtstrahls 30 austauscht bzw. verstellt.
Weiterhin ist es möglich, die Probe 39 entlang mindestens
zweier Koordinatenrichtungen durch einen geeigneten Kreuztisch
definiert zu verfahren, um entweder einen gewünschten Meßpunkt
anzufahren oder nacheinander eine Vielzahl von Meßpunkten
ggf. automatisch durchzumessen.
Weitere Einzelheiten, wie sie vorteilhafterweise beim beschriebenen Raman-
Spektrometer 10 eingesetzt werden
können, finden sich beispielsweise in der EPO 1 16 321 A2, in
der ein Infrarot-Spektrometer beschrieben ist, bei der zugleich
oder nacheinander eine visuelle Beobachtung von u. a. mikrosko
pischen Bereichen der Probe und Infrarot-Messungen möglich sind.
Weiterhin ist es vorteilhaft möglich, beim Messen mehrerer
nahezu punktförmiger Bereiche der Probenoberfläche eine Orts
kodierung beim Abfahren der Meßpunkte einzusetzen, indem unter
Verwendung einer entsprechenden elektrisch schaltbaren Maske
zu jedem Zeitpunkt etwa die Hälfte der Probe ausgeleuchtet
und das Muster der ausgeleuchteten Punkte nach einem vorgege
benen Code (sogenannter Hadamard-Code) verändert (permutiert)
wird. Eine derartige Maske ist aus der WO 85/04 261 bekannt.
Ein Problem beim Einsatz derartiger Masken in Spektrometern
war bisher ihr sehr begrenzter nutzbarer Spektralbereich.
Diese Beschränkung spielt allerdings hier keine Rolle, da nur
Licht einer einzigen Wellenlänge kodiert werden muß. Damit
ist die Verwendung von Hadamard-Masken in einem Raman-Spektro
meter mit Lichtmikroskop besonders vorteilhaft. Die Maske
kann beispielsweise anstelle der Blende 32 der Meßeinheit 11
angebracht sein.
Claims (4)
1. Raman-Spektrometer zur Untersuchung einer Probe mit einer
Laser-Lichtquelle, einer mittels einer Einkoppelvorrichtung
an die Laser-Lichtquelle angeschlossenen Meßeinheit, sowie
einer mittels einer Auskoppelvorrichtung an die Meßeinheit
angeschlossenen Auswerteeinheit, wobei ein von der Laser-
Lichtquelle erzeugter erster Lichtstrahl innerhalb der
als Mikroskop ausgebildeten Meßeinheit mittels ersten
optischen Strahlführungsmitteln von der Einkoppelvorrichtung
auf die Probe gelenkt wird, ferner ein von der Probe
abgegebener zweiter Lichtstrahl mittels zweiten optischen
Strahlführungsmitteln einerseits als ein erster Teilstrahl
zu visuellen Beobachtungsmitteln, und andererseits als
ein zweiter Teilstrahl zu der Auskoppelvorrichtung gelenkt
wird, wobei die Strahlführungsmittel mindestens jeweils
einen Umlenkspiegel, einen teildurchlässigen Spiegel und
ein dichroitisches Filter umfassen und die Koppelvorrichtungen
parallel zu einer ersten Achse ausgerichtet
sind, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Lichtstrahl
(30) von der Einkoppelvorrichtung (erster Anschluß 21)
in Richtung der ersten Achse zunächst das dichroitische
Filter (34) durchläuft, danach mittels eines ersten
Umlenkspiegels (36) in eine zur ersten Achse senkrechte
Richtung parallel zu einer zweiten Achse umgelenkt wird,
und schließlich mittels des teildurchlässigen Spiegels
(37) in einer zur ersten und zur zweiten Achse senkrechten
Richtung parallel zu einer dritten Achse auf die Probe
(39) gelenkt wird, daß der zweite Lichtstrahl (40) von
der Probe (39) auf den teildurchlässigen Spiegel (37)
reflektiert wird, wobei der vom zweiten Lichtstrahl (40)
abgetrennte erste Teilstrahl (40′) den teildurchlässigen
Spiegel (37) durchsetzt und auf die visuellen Beobachtungsmittel
(Okular 51, Videokamera 52) fällt, während der vom
zweiten Lichtstrahl (40) abgetrennte zweite Teilstrahl
(40′′) von dem teildurchlässigen Spiegel (37) in eine
Richtung parallel zur zweiten Achse umgelenkt wird, alsdann
auf den ersten Umlenkspiegel (36) trifft, um in eine
Richtung parallel zur ersten Achse umgelenkt zu werden,
danach auf das dichroitische Filter (34) trifft, dort
reflektiert wird und über einen zweiten Umlenkspiegel (41)
wiederum in eine Richtung parallel zur ersten Achse in
die Auskoppelvorrichtung (zweiter Anschluß 22) umgelenkt
wird, und daß die Einkoppelvorrichtung (erster Anschluß
21) mit der Laser-Lichtquelle (13) sowie die Auskoppelvorrichtung
(zweiter Anschluß 22) mit der Auswerteinheit (12)
jeweils über Glasfaserkabel (23, 24) verbunden sind, wobei
die Auswerteinheit (12) für die Auswertung im infraroten
oder im sichtbaren Bereich ausgebildet ist.
2. Raman-Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der teildurchlässige Spiegel (37) weniger als 10%,
vorzugsweise 4% des von der Probe (39) reflektierten
zweiten Lichtstrahls (40) an die visuellen Beobachtungsmittel
(Okular 51, Videokamera 52) weiterleitet.
3. Raman-Spektrometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die visuellen Beobachtungsmittel eine Kamera,
vorzugsweise eine Video-Kamera (52) mit CCD-Bildwandler,
umfasen.
4. Raman-Spektrometer nach einem oder mehreren der Ansprüche
1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß im Strahlengang der
Strahlenführungsmittel eine der Ortscodierung dienende
elektrisch schaltbare Hadamark-Maske vorgesehen ist.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4005878A DE4005878A1 (de) | 1990-02-24 | 1990-02-24 | Raman-spektrometer |
| GB9103056A GB2241350B (en) | 1990-02-24 | 1991-02-13 | Raman spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4005878A DE4005878A1 (de) | 1990-02-24 | 1990-02-24 | Raman-spektrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4005878A1 DE4005878A1 (de) | 1991-08-29 |
| DE4005878C2 true DE4005878C2 (de) | 1993-04-08 |
Family
ID=6400900
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE4005878A Granted DE4005878A1 (de) | 1990-02-24 | 1990-02-24 | Raman-spektrometer |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE4005878A1 (de) |
| GB (1) | GB2241350B (de) |
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Also Published As
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| GB2241350A (en) | 1991-08-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: BRUKER ANALYTIK GMBH, 76287 RHEINSTETTEN, DE |
|
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: BRUKER OPTICS, INC., BILLERICA, MASS., US |
|
| 8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Free format text: WITTE, WELLER, GAHLERT, OTTEN & STEIL, 70178 STUTTGART |
|
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |