DE1275779B - Messeinrichtung - Google Patents
MesseinrichtungInfo
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/244—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
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-
- G—PHYSICS
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-
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-
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Description
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND DEUTSCHES WWW" PATENTAMT
Int. CL:
GOId
AUSLEGESCHRIFT
Deutsche Kl.: 42 d-2/50
Nummer: 1275 779
Aktenzeichen: P 12 75 779.8-52 (Z 11177)
Anmeldetag: 14. November 1964
Auslegetag: 22. August 1968
Die Hauptpatentanmeldung Z10436IXb/42d
(deutsche Auslegeschrift 1266 989) beschreibt eine Einrichtung zur Interpolation von Meßwerten, die
von Längen- oder Winkelmeßgeräten geliefert werden, bei der zur digitalen Interpolation von periodischen
Signalfolgen ein Signalgeber vorgesehen ist, der über getrennte Ausgänge um 90° gegeneinander
phasenverschobene, vorzugsweise sinusförmige Signale liefert und bei der die Ausgänge des Signalgebers
an die Ablenksysteme einer Kathodenstrahl- ίο röhre angeschlossen sind, so daß der Elektronenstrahl
pro Signalfolge einmal auf einer geschlossenen Umlaufbahn umläuft und bei der zur Unterteilung
der Umlaufbahn oder eines Bildes derselben Rasterelemente vorgesehen sind.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, diese Einrichtung in einem Meßgerät zu verwenden, das
es gestattet, Interpolationen in verschiedenen Maßsystemen durchzuführen, z. B. im Zentimetersystem
und gleichzeitig im Zollsystem.
Diese Aufgabe wird nach der Erfindung dadurch gelöst, daß die Interpolationsraster auswechselbar
sind und ihre Rasterkonstante ein ganzzahliges Vielfaches der kleinsten Maßeinheit in jedem der Maßsysteme
ist.
Liefert bei dieser Ausbildung der Maßstab ζ. Β. 0,1 Zollschritte, dann ergeben sich bei Verwendung
eines Rasters mit 100 Interpolationsschritten V1000-Zoll-Meßeinheiten.
Bei Verwendung eines Rasters mit 254 Interpolationsschritten erhält man von ein und demselben Ausgangsmaßstab die V100 mm als
kleinste Meßeinheit.
Die Rasterauswechslung kann dadurch erfolgen, daß die Röhre gegen eine andere mit einem anderen
Raster oder Rastersystem austauschbar ist. Dies kann aber auch dadurch geschehen, daß dann, wenn der
umlaufende Elektronenstrahl durch optische Mittel auf ein Raster abgebildet wird, dieses Raster auswechselbar
ist. Dies kann aber auch dadurch geschehen, daß in der Röhre mehrere konzentrisch angeordnete
Raster vorgesehen sind, von denen je eines eine bestimmte Interpolation vermittelt und daß man,
um Meßwerte in dem einen oder anderen Maßsystem zu erhalten, die Grundspannung des umlaufenden
Elektronenstrahles ändert, so daß dieser sich auf einer Kreisbahn mit entsprechend geändertem Radius
bewegt und das zugeordnete Raster überstreicht.
In der Zeichnung ist eine Rasteranordnung für den letztgenannten Fall dargestellt.
Es sind zwei konzentrisch angeordnete Raster 1 und 2 vorgesehen, von denen das erst Raster
254 Stege und Lücken aufweist, das Raster 2 dagegen Meßeinrichtung
Zusatz zur Anmeldung: Z10436IX b/42 d Auslegeschrift
1 266 989
Anmelder:
Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim
Als Erfinder benannt:
Dr.-Ing. Dr.-Ing. E. h. Kurt Räntsch,
7920 Heidenheim;
Dr. Otto Trötscber, 7080 Aalen
nur 100. Werden die Ausgangsimpulse von einem 0,1-Zollmaßstab abgegriffen, dann liefert der über
das Raster 1 streichende Elektronenstrahl bei einem Umlauf 254 Zähleinheiten, d. h. Meßwerte in
Vioo mm Zählschritten. Das Raster 2 dagegen liefert Viooo Zoll. Die Bahn 3 des Elektronenstrahles wird
durch Spannungsänderung entweder auf das Raster 1 oder das Raster 2 gelegt.
Eine nachgeschaltete impulszählende Einrichtung 4 zeigt damit Meßeinheiten entweder in Zoll- oder
Millimeter-Schritten an.
Claims (4)
1. Einrichtung zur Interpolation von Meßwerten, die von Längen- oder Winkelmeßgeräten geliefert
werden unter Verwendung einer Kathodenstrahlröhre, bei der zur digitalen Interpolation
von periodischen Signalfolgen ein Signalgeber vorgesehen ist, der über getrennte Ausgänge um
90° gegeneinander phasenverschobene, vorzugsweise sinusförmige Signale liefert und bei der die
Ausgänge des Signalgebers an die Ablenksysteme einer Kathodenstrahlröhre angeschlossen sind,
so daß der Elektronenstrahl pro Signalfolge einmal auf einer geschlossenen Umlaufbahn umläuft
und bei der zur Unterteilung der Umlaufbahn oder eines Bildes derselben Rasterelemente
vorgesehen sind, nach Patentanmeldung Z10436 IX b/42 d (deutsche Auslegeschrift (1266 989),
dadurch gekennzeichnet, daß die Inter-
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polationsraster auswechselbar sind und ihre Rasterkonstante gleichzeitig ein ganzzahliges
Vielfaches der kleinsten Maßeinheit in den verschiedenen Maßsystemen ist.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Röhre gegen eine Röhre
mit geändertem Raster auswechselbar ist.
3. Einrichtung nach Anspruch 1, bei der der Umlauf des Elektronenstrahles optisch auf ein
Raster abgebildet wird, dadurch gekennzeichnet, daß dieses Raster auswechselbar ist.
4. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der Röhre wenigstens zwei
konzentrisch angeordnete Raster vorgesehen sind, derart, daß je eines für die Interpolation in einem
Maßsystem verwendbar ist und daß der Radius der Elektronenstrahlbahn durch Spannungsänderung beeinflußbar ist.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE1964Z0011177 DE1275779B (de) | 1963-10-30 | 1964-11-14 | Messeinrichtung |
| CH1533065A CH454479A (de) | 1964-11-14 | 1965-11-08 | Einrichtung zur Längen- oder Winkelmessung |
| GB47794/65A GB1103349A (en) | 1964-11-14 | 1965-11-10 | Measuring device |
| NL6514751A NL6514751A (de) | 1964-11-14 | 1965-11-12 |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEZ10436A DE1266989B (de) | 1963-10-30 | 1963-10-30 | Einrichtung zur Interpolation |
| DE1964Z0011177 DE1275779B (de) | 1963-10-30 | 1964-11-14 | Messeinrichtung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1275779B true DE1275779B (de) | 1968-08-22 |
Family
ID=39735140
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE1964Z0011177 Pending DE1275779B (de) | 1963-10-30 | 1964-11-14 | Messeinrichtung |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE1275779B (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3036830A1 (de) * | 1980-09-30 | 1982-04-15 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Laengen- oder winkelmesseinrichtung |
-
1964
- 1964-11-14 DE DE1964Z0011177 patent/DE1275779B/de active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3036830A1 (de) * | 1980-09-30 | 1982-04-15 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Laengen- oder winkelmesseinrichtung |
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