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DE1131811B - Verfahren zum sperrfreien Kontaktieren des Kollektors von Germanium-Transistoren - Google Patents

Verfahren zum sperrfreien Kontaktieren des Kollektors von Germanium-Transistoren

Info

Publication number
DE1131811B
DE1131811B DEJ19930A DEJ0019930A DE1131811B DE 1131811 B DE1131811 B DE 1131811B DE J19930 A DEJ19930 A DE J19930A DE J0019930 A DEJ0019930 A DE J0019930A DE 1131811 B DE1131811 B DE 1131811B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
collector
collector plate
temperature
aluminum
germanium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEJ19930A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Reinhard Dahlberg
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ELEKTRONIK MBH
TDK Micronas GmbH
Original Assignee
ELEKTRONIK MBH
TDK Micronas GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ELEKTRONIK MBH, TDK Micronas GmbH filed Critical ELEKTRONIK MBH
Priority to DEJ19930A priority Critical patent/DE1131811B/de
Publication of DE1131811B publication Critical patent/DE1131811B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D10/00Bipolar junction transistors [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D62/00Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
    • H10D62/10Shapes, relative sizes or dispositions of the regions of the semiconductor bodies; Shapes of the semiconductor bodies
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F71/00Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
    • H10P95/00
    • H10W70/69
    • H10W76/60

Landscapes

  • Bipolar Transistors (AREA)

Description

  • Verfahren zum sperrfreien Kontaktieren des Kollektors von Germanium-Transistoren Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum sperrfreien Kontaktieren des Kollektors von Germanium-Transistoren mit pnp-Schichtenfolge, bei denen in einer dünnen auf dem p-leitenden Kollektorkörper aufgebrachten n-leitenden Basisschicht je eine sperrende Emitterelektrode aus p-leitendem Material und eine sperrfreie Basiselektrode aus n-leitendem Material angeordnet sind, die nach dem Kontaktieren des Kollektors mittels eines Bleches, das mit einer Aluminium- oder Aluminium-Germanium-Schicht plattiert ist, ihrerseits unter Anwendung von Druck und Wärme mit Hilfe von dünnen Golddrähten kontaktiert werden.
  • Es sind sogenannte Mesa-Transistoren bekannt, bei denen eine Oberfläche eines halbleitenden Körpers, z. B. aus p-leitendem Germanium, mit einer dünnen n-leitenden Basisschicht versehen wird. Durch geeignete Diffusions- und Ätzbehandlung wird ein sogenannter Mesa-Berg erzeugt, der im vorliegenden Fall im wesentlichen aus der n-leitenden Basisschicht besteht. Auf der freien Oberfläche dieser Basisschicht werden je eine sperrfreie Basiselektrode und eine Emitterelektrode mit gleichrichtendem pn-übergang zur Basiszone hergestellt. Die Erzeugung dieser Elektroden ist ebenfalls bekannt. Die Basiselektrode wird z. B. durch Aufdampfen und Einlegieren von Gold-Antimon erzeugt. Für die Herstellung der Emitterelektrode kann z. B. eine dünne Schicht Aluminium aufgedampft und einlegiert werden.
  • Zum Anschluß der Halbleiteranordnung müssen die Elektroden sowie der Kollektorkörper sperrfrei kontaktiert werden. Zur Kontaktierung der Emitter-und Basiselektrode wird häufig das bekannte Thermo-Kompressionsverfahren angewendet. Dieses besteht im wesentlichen darin, daß ein feiner Golddraht unter Anwendung von Druck und Wärme mit der Emitter- bzw. Basiselektrode kontaktiert wird. Es werden dazu Temperaturen von 300'C angewendet. Der Kollektorkörper wird sperrfrei kontaktiert, indem man die Transistoranordnung mit der Kollektorseite auf ein Metallblech, z. B. aus einer Eisen-Nickel-Verbindung unter Zwischenschaltung einer Schicht aus einem Material, das den gleichen Leitfähigkeitstyp erzeugt wie ihn der Kollektorkörper besitzt, auflegiert. Um die relativ empfindlichen Kontakte der Emitter- und Basiszone nicht nachträglich zu zerstören, wird das Kollektorblech gewöhnlich vor der Kontaktierung dieser beiden Zonen aufgebracht.
  • Als Materialien, die in Germanium p-Leitfähigkeit erzeugen, sind Bor, Aluminium, Gallium und Indium bekannt. Diese Materialien sind jedoch nicht ohne weiteres als Zwischenschicht zwischen dem Kollektorblech und dem Kollektorkörper zu verwenden. Bor scheidet von vornherein aus, da es sich mit Germanium nicht legiert. Gallium und Indium sind zwar gut geeignet und werden allgemein häufig zur Herstellung eines sperrfreien Kontaktes mit p-leitendem Germanium verwendet. Im vorliegenden Falle scheiden sie jedoch ebenfalls aus, da sie einen relativ niedrigen Schmelzpunkt haben und bei Anwendung der für die Kontaktierung der Emitter- und Basiselektroden erforderlichen Temperatur wieder flüssig werden, was zu Ausfällen der Bauelemente führt. Man hat die Schwierigkeit dadurch zu beseitigen versucht, daß man diese Stoffe einem Material zufügte, das mit Germanium eine Eutektikum-Temperatur aufweist, die über der für die Kontaktierung der Em_itter- und Basiselektrode benötigten Temperaturen liegt. Es ist bekannt, zu diesem Zweck Gold-Gallium-Legierungen oder Gold-Indium-Legierungen zu verwenden, die im wesentlichen aus Gold bestehen, denen Gallium oder Indium in geringen Mengen zugesetzt ist. Die Eutektikum-Temperatur von Gold-Germanium beträgt 350° C und liegt somit über der bei dem Thermo-Kompressionsverfahren angewendeten Temperatur.
  • Transistoranordnungen, bei denen der Kollektor unter Verwendung der obengenannten Gold-Legierungen kontaktiert wird, weisen jedoch den in den meisten Fällen unerwünschten thyratronähnlichen Effekt auf. Dieser macht sich dadurch bemerkbar, daß bei überschreiten eines bestimmten Kollektorstromes vom Kollektorkontakt aus Träger injiziert werden. Bei Transistoranordnungen mit einem hohei,. x-Wert nahe 1 bewirkt die zusätzliche Injektion das scheinbare Ansteigen des a-Wertes über 1, bei dem ein Durchbruch des Transistors erfolgt.
  • Verursacht wird diese Erscheinung vermutlich dadurch, daß sich an der dem Kollektorblech benachbarten Oberfläche des Kollektors nicht, wie erwünscht, eine stark p-dotierte (p++) Schicht ausbildet, sondern eine Schichtenfolge mit unterschiedlicher p-Dotierung. Die Verhältnisse sind in Fig. 1 dargestellt, wo 1 einen Teil des Kollektorkörpers aus pleitendem Germanium darstellt, 2 eine Schicht, in der im wesentlichen Gold-Verunreinigungen vorhanden sind und die daher nur schwach p-dotiert (p-) ist und schließlich unmittelbar am Kollektorblech eine p+-Schicht mit Gold-Gallium-Verunreinigungen. Die übrigen Teile der Transistor-Anordnung sind in Fig. 1 nicht dargestellt.
  • Man hat auch bereits einer Gold-Indium- bzw. Gold-Gallium-Legierung geringe Spuren von Kupfer zugesetzt. Der thyrathronähnliche Effekt kann damit zwar verringert, jedoch nicht beseitigt werden.
  • Es verbleibt noch die Möglichkeit, Aluminium als Zwischenschicht zwischen dem Kollektorblech und dem Kollektorkörper zu verwenden. Die Eutektikum-Temperatur von Aluminium-Germanium beträgt 426° C. Aus Temperaturgründen würde demnach der Verwendung von Aluminium nichts im Wege stehen. Andererseits ist es aber in der Halbleitertechnik allgemein bekannt, daß es wegen der starken Oxydhaut, mit der die Aluminiumoberfläche überzogen ist, außerordentlich schwer ist, Aluminium zu legieren. Um eine einigermaßen brauchbare Legierung zu erreichen, ist es erforderlich, sehr hohe Temperaturen anzuwenden, in einer stark reduzierenden Atmosphäre zu arbeiten und gegebenenfalls während des Legierens Vibrationsbewegungen auszuführen. Im vorliegenden Falle kommt noch als weiteres Hindernis hinzu, daß in den meisten Fällen die Emitterelektrode aus einer Aluminiumschicht besteht. Diese wird bei dem Auflegieren des Kollektorbleches mit einer Aluminiumschicht und den dazu erforderlichen Temperaturen leicht ebenfalls verändert und damit die gesamte Transistoranordnung unbrauchbar. Weiterhin ist bei dem vorliegenden speziellen Problem störend, daß sich Germanium in Aluminium sehr stark löst. Es ist somit wegen der zusätzlichen Anwendung von Vibrierbewegungen und der hohen Temperatur, die benötigt wird, außerordentlich schwierig, die Legierungstiefe zu kontrollieren. Wegen der sehr kleinen Abmessungen der bekannten Mesa-Transistoren, bei denen der Kollektor eine Dicke von etwa 50 Et aufweist, besteht somit die Gefahr des Durchlegierens. Andererseits soll der Kollektor nur mit dem Kollektorblech kontaktiert werden, wozu ein Anlegieren ausreicht.
  • Das vorliegende Verfahren vermeidet die Nachteile der bekannten Verfahren und gibt eine Möglichkeit, das Kollektorblech mit dem Kallektorkörper eines Transistors so zu kontaktieren, daß der Thy_ratroneffekt vermieden wird und das Kollektorblech nur anlegiert wird. Erfindungsgemäß wird bei dem eingangs genannten Verfahren ein plattiertes Kollektorblech auf eine Temperatur kurz oberhalb der eutektischen Temperatur von Germanium-Alummium erhitzt, das Kollektorblech bei Ereichen dieser Temperatur einer starken Abkühlung ausgesetzt und gleichzeitig mit Beginn der Kühlung die Transistoranordnung mit ihrem Kollektorkörper auf die plattierte Oberfläche des Kollektorbleches aufgesetzt. Im folgenden wird die Erfindung an Hand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
  • Fig. 2 stellt den Aufbau eines sogenannten Mesa-Transistors mit Kollektorblech im Querschnitt dar. und Fig. 3 zeigt die Temperaturkurve bei der Durchführung des Verfahrens.
  • In Fig. 2 stellt 4 den Kollektorkörper dar, der im vorliegenden Falle aus p-leitendem Germanium besteht. 5 zeigt den im wesentlichen aus der eindiffundierten, n-leitenden Basiszone bestehenden herausgeätzten Mesa-Berg. In die Basiszone ist eine Emitter-Elektrode 6 eingebracht, die z. B. in bekannter Weise durch Aufdampfen einer sehr dünnen Aluminiumschicht von etwa 0,2 @u und anschließendes Einlegieren hergestellt werden kann. 7 stellt die Basiselektrode dar, die durch Aufdampfen und Anlegieren von Gold-Antimon hergestellt wird. Das Kollektorblech 9 besteht zweckmäßig aus einer Eisen-Nickel-Verbindung. Die eine Oberfläche des Kollektorbleches ist mit einer Aluminium- oder Aluminium-Germanium-Schicht 8 plattiert.
  • Zur Erläuterung des Kontaktierungsverfahrens dient Fig. 3. Sie stellt ein Temperatur-Zeit-Diagramm dar, das in drei Abschnitte I, II, III eingeteilt ist. Das aluminiumplattierte Kollektorblech 9 wird auf einer Temperatur etwas oberhalb der Aluminium-Germanium-Eutektikum-Temperatur erhitzt. Es durchläuft dabei Abschnitt I der Temperaturkurve bis zu einer Temperatur von etwa 450° C. Nach Erreichen dieser Temperatur wird das Kollektorblech stark abgekühlt. Gleichzeitig mit Einsetzen der Abkühlung wird die Transistoranordnung mit ihrer Kollektorseite 4 auf die aluminiumplattierte Seite 8 des Kollektorbleches 9 aufgesetzt. Das Aufsetzen muß während der Zeit geschehen, in der die Temperaturkurve den Abschnitt 1I durchläuft. Dieser Zeitabschnitt liegt im Bereich der Legierungstemperatur. Er wird sehr schnell durchlaufen, so daß automatisch durch die Kühlung erreicht wird, daß der Legierungsvorgang beendet ist, sobald die Temperaturkurve im Bereich des Abschnitts III verläuft. Man erreicht damit, daß nur sehr kurzzeitig anlegiert wird. Es ist leicht möglich, an Hand von Versuchen die Gipfeltemperatur, bei der die Kühlung einsetzt und die Stärke der Kühlung so festzulegen, daß die Gefahr des Durchlegierens beseitigt wird. Um eine möglichst gleichmäßige Legierung zu erhalten, läßt man das Kollektorblech beim Aufsetzen der Transistoranordnung zweckmäßig vibrieren.
  • Zum Erhitzen des Kollektorbleches kann dieses auf eine elektrisch geheizte Platte oder eine sonstige ähnliche Vorrichtung gelegt werden, die beim Aufbringen der Halbleiteranordnung gleichzeitig als feste Unterlage dient.
  • Es ist zweckmäßig, das Erhitzen des Kollektorbleches in einem Schutzgas, z. B. aus Stickstoff, durchzuführen. Das Kollektorblech kann z. B. in einen senkrecht von unten nach oben verlaufenden Gasstrom geringer Geschwindigkeit gebracht werden. Es ergibt sich dabei die Möglichkeit, gleichzeitig das Schutzgas zur Kühlung auszunutzen, indem man die Geschwindigkeit des Schutzgasstromes von dem Zeitpunkt an, bei dem die Kühlung erwünscht wird, vergrößert. Das Einschalten der Kühlung kann man automatisch mit dem Ereichen der Gipfeltemperatur koppeln. Zu diesem Zweck ist es z. B. möglich, ein die Temperatur anzeigendes Meßinstrument so einzurichten, daß es beim Anzeigen der gewünschten Gipfeltemperatur automatisch ein Gebläse einschaltet, das die Geschwindigkeit des Schutzgasstromes erhöht.

Claims (5)

  1. PATE 1\TTANSPRIJCHE: 1. Verfahren zum sperrfreien Kontaktieren des Kollektors von Germanium-Transistoren mit pnp-Schichtenfolge, bei denen in einer dünnen auf dem p-leitenden Kollektorkörper aufgebrachten n-leitenden Basisschicht je eine sperrende Emitter-Elektrode aus p-leitendem Material und eine sperrfreie Basiselektrode aus n-leitendem Material angeordnet sind, die nach dem Kontaktieren des Kollektors mittels eines Bleches, das mit einer Aluminium- oder Aluminium-Germanium-Schicht plattiert ist, ihrerseits unter Anwendung von Druck und Wärme durch dünne Golddrähte kontaktiert werden, dadurch gekennzeichnet, daß das plattierte Kollektorblech auf eine Temperatur kurz oberhalb der eutektischen Temperatur von Germanium-Aluminium erhitzt wird, daß das Kollektorblech bei Erreichen dieser Temperatur einer starken Kühlung ausgesetzt und gleichzeitig mit Beginn der Kühlung die Transistoranordnung mit ihrem Kollektorkörper auf die plattierte Oberfläche des Kollektorbleches aufgesetzt wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Kollektorblech auf eine Temperatur von etwa 450°C erhitzt wird.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Kollektorblech in einem schwachen Schutzgasstrom, z. B. aus Stickstoff, erhitzt wird.
  4. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur schnellen Abkühlung des Kollektorbleches die Strömungsgeschwindigkeit des Schutzgasstromes erhöht wird.
  5. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Kollektorblech beim Aufsetzen der Transistoranordnung vibriert wird. In Betracht gezogene Druckschriften: USA.- Patentschrift Nr. 2 916 604; französische Patentschrift Nr. 1226 492; »Bell Laboratories Record«, Bd. 36 (1958), Heft 4, S. 127 bis 130.
DEJ19930A 1961-05-17 1961-05-17 Verfahren zum sperrfreien Kontaktieren des Kollektors von Germanium-Transistoren Pending DE1131811B (de)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1238104B (de) * 1963-06-19 1967-04-06 Siemens Ag Germanium-Transistor, insbesondere Mesa-transistor, mit einer Kollektorelektrode aus einer Eisen-Kobalt-Nickel-Legierung
DE1245500B (de) * 1962-09-15 1967-07-27 Telefunken Patent Verfahren zum sperrfreien Kontaktieren eines Halbleiterkoerpers
DE1297237B (de) * 1964-09-18 1969-06-12 Itt Ind Gmbh Deutsche Flaechentransistor und Verfahren zu seiner Herstellung

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US2916604A (en) * 1957-09-20 1959-12-08 Philco Corp Fabrication of electrical units
FR1226492A (fr) * 1958-02-03 1960-07-13 Western Electric Co Semi-conducteurs à liaison conductrice formée par alliage

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