[go: up one dir, main page]

DE1112844B - Vorrichtung zum Ermitteln von inneren Spannungen nach dem Roentgenrueckstrahlverfahren - Google Patents

Vorrichtung zum Ermitteln von inneren Spannungen nach dem Roentgenrueckstrahlverfahren

Info

Publication number
DE1112844B
DE1112844B DEK34843A DEK0034843A DE1112844B DE 1112844 B DE1112844 B DE 1112844B DE K34843 A DEK34843 A DE K34843A DE K0034843 A DEK0034843 A DE K0034843A DE 1112844 B DE1112844 B DE 1112844B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
axis
arm
ray tube
internal stresses
pin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEK34843A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Frantisek Khol
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
FRANTISEK KHOL DR
Original Assignee
FRANTISEK KHOL DR
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by FRANTISEK KHOL DR filed Critical FRANTISEK KHOL DR
Publication of DE1112844B publication Critical patent/DE1112844B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/203Measuring back scattering

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

  • Vorrichtung zum Ermitteln von inneren Spannungen nach dem Röntgenrückstrahlverfahren Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Ermitteln von inneren Spannungen nach dem Röntgenrückstrahlverfahren, bei welcher der ein divergentes Strahlenbündel erzeugende Brennfleck der Röntgenröhre als Eintrittsspalt dient und der Strahlendetektor mittels eines Gestänges selbsttätig längs des Fokussierungskreises bewegt wird.
  • Die bekannten Verfahren und Vorrichtungen, mit denen sich zumindest annähernd die inneren elastin schen Spannungen von Maschinen-, Bau- oder Konstruktionselementen als Unterlage für deren Bereich nung und wirtschaftliche Bemessung ermitteln lassen, beruhen auf der Elastizitätstheorie, nach welcher die Deformation des Materials der Spannung proportional ist. Hierbei werden durch Imechanische Eingriffe, womit meistens eine Zerstörung oder Beschädigung des Werkstückes verbunden ist, die inneren Spannungen ermittelt. Die tensometrischen Methoden bestimmer lediglich die zusätzlichen Spannungen, welche durch äußere Kräfte bewirkt werden, können jedoch nicht die ursprünglichen Restspannungen ermitteln, die durch die technologische Bearbeitung des Werkstücks bei der Herstellung entstehen und dauernd im Werkstück bleiben, selbst wenn der Bestandteil nicht durch äußere Kräfte belastet wird.
  • Bessere Ergebnisse werden durch Methoden erzielt, welche die am Atomgitter erzeugten Interferenzen von Röntgenstrahlen ausnutzen und mittels deren sich die gesamten inneren Spannungen aus den Deformationen dieses Gitters ohne Zerstörung des Prüft körpers bestimmen lassen. Diese Methoden sind genau, doch ist die Messung mühsam und langwierig und erfordert kostspielige Einrichtungen und erfahrene Fachleute.
  • Die Erfindung bezweckt die Schaffung eines einfachen und billigen Gerätes, mit dem ein eingeschulter Arbeiter die inneren Spannungen im Material schnell und ohne Durchführung komplizierter Operationen und Berechnungen bestimrnen kann.
  • Die grundlegende Beziehung für die Bestimmung der tangentialen Komponente der inneren Spannung a auf der Oberfläche eines Prüfkörpers wird durch die bekannte Gleichung E . 1 . dç, - d#2 # = ï + v sin2wlsin2w2 do (l) ausgedrückt, in welcher bedeutet E den Youngschen Elastizitätsmodul, v die Poissonkonstante der Querkontraktion, X und 92 die Winkel zwischen den Normalen der interferierenden Systeme der Gitterebenen und der Normalen zur Probenoberfläche, d#1 - d0 , d#2 - d0 do do die relative minderung des Abstandes der interferierenden Gitterebenen unter Einwirkung der inneren Spannung a, do den Gitterabstand im Werkstoff ohne innere Spannung.
  • Sind der Elastizitätsmodul und die Poissonkonstante des zu prüfenden Werkstoffes bekannt, dann müssen für die Ermittlung der inneren Spannung die Winkel #1 und 92 und die Deformationen der Gitterabstände m den Richtungen nul und 2 bestimmt werden. Diese Werte werden aus der Lage der entstandenen Interferenzen an den entsprechenden Gitterebenen bestimmt, welche entweder auf einem Film aufgezeichnet werden, auf welchem die Entfernungen ausgemessen werden, oder mit einem sonstigen Detektor für Röntgenstrahlen, z. B. Geiger-Müller-Zähler, Szintillationszähler, ermittelt werden.
  • Alle röntgenografischen Methoden beruhen demnach auf der genauen Ermittlung der Entfernungen der Gitterebenen, welche aus dem Interferenzwinkel28 (Fig. 1) nach der Braggschen Bedingung für die Entstehung der Interferenz A cos # = 2 d (2) bestimmt werden, wobei A die Wellenlänge der intern ferierenden Strahlung bedeutet.
  • Erfindungsgemäß ist auf einem AIm, welcher um einen an der Röntgenröhre bRestigten Zapfen schwenkbar gelagert ist, dessen geometrische Achse durch den Brennfleck der Röntgenröhre hindurchgeht, ein Detektor befestigt, dessen Achse senkrecht zum Arm und parallel zu einem zweiten Arm gerichtet ist, welcher auf der einen Seite verschiebbar im ersten Arm in gleicher Entfernung von der Achse des ersten Armes wie der Detektor gelagert ist und dessen anderes Ende an einem weiteren Zapfen gelagert ist, dessen Achse tangential zur Probenoberfläche und parallel zur Achse des ersten Zapfens verläuft und der zusammen mit dem Prüfkörper in Richtung des Prîmärstrahles verschiebbar ist, und ist an einem verlängerten Teil des ersten Armes mittels eines weiteren Zapfens ein am einen Ende gabelfönnig ausgebildetes Meßlineal angelenkt, welches an einer Meßplatte anliegt und am anderen Ende um eine weitere Achse schwenkbar ist, die parallel zur Achse des ersten Armes in der gleichen Entfernung von der ersten Achse wie der Anlenkzapfen für das Meßlineal in einer zur Richtung der einfallenden Strahlung und zur Meßplatte senkrechten, durch den Brennfleck gehenden Ebene verläuft, so daß der Abstand zwischen der letzten Achse und dem Schnittpunkt des Meßlineals mit einer auf der Meßplatte parallel zur Achse des Primärstrahles angebrachten Geraden, deren Abstand von der letzten Achse proportional der halben Wellenlänge ist, ein Maß für die Gitterkonstante darstellt.
  • Bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung wird der Brennfleck der Röntgenröhre an Stelle einer Schlitzblende als Quelle der divergenten Primärstrahlung benutzt.
  • Es liegt im Rahmen der Erfindung, daß zwei oder mehrere Detektoren und dementsprechend zwei oder mehrere Dreharme und zwei oder mehrere Lineale für die gleichzeitige Messung zweier oder mehrerer verschiedener Interferenzen vorgesehen sind.
  • Ein Ausführungsbeispiel der Vorrichtung gemäß der Erfindung ist an Hand der Fig. 2 dargestellt.
  • Ein DetektorD ist an einem Arma so befestigt, daß dessen Achse zu diesem Arm senkrecht steht.
  • Der Arm a ist am einen Ende schwenkbar auf einem Zapfen gelagert, dessen geometrische Achsef durch den Brennfleck F der Röntgenröhre hindurchgeht, an welcher der Zapfen befestigt ist. Ein Arm b ist im Arm a in senkrechter Richtung zu diesem verschiebbar eingesetzt, und zwar am Ort des Detektors D und parallel zu dessen Achse. Das eine Ende des Armes b ist um einen Zapfen schwenkbar, dessen Achsen tangential zur Oberfläche des Prüfkörpers M und senkrecht zur Strahlrichtung verläuft. Bei der Messung wird die Röntgenröhre zum Probekörper M geschoben, falls dieser große Abmessungen aufweist, bzw. ein Probekörper kleiner Abmessungen der Röntgenröhre genähert. Bei Jeder Änderung der Entfernung zwischen dem Probekörper und der Röntgenröhre wird der Arm a so geschwenkt, daß die Detektorachse ständig zur Mitte des ProbekörpersM gerichtet ist. Es ist dann stets die Oberfläche des Prüfkörpers M vom Brennpunkt F der Röntgenröhre gleich weit entfernt wie die Zapfenachse m von der Zapfenachse f. Die virtuellen Achsen der Arme a und b bilden die Katheten eines rechtwinkligen Dreieckes von denen die eine eine konstante Länge am Alm a und dié andere eine veränderliche Länge am Arm b aufweist. Durch diese Anordnung wird gewährleistet, daß der sich im Scheitels des rechtwinkligen Dreieckes befindliche Schlitz des Detektors D, der Brennpunkts der Röntgenröhre und der Mittelpunkt der Probenoberfläche, welche die zwei anderen Ecken desselben rechtwinkligen Dreieckes bilden, sich stets auf einer gemeinsamen Fokussierungs-Kreislinie k befinden, unabhängig von der Entfernung FM.
  • Der Winkel21l, welcher die genaue Interferenzanlage anzeigt, läßt sich am Gerät als Ausschlag des Armesa von der durch den PunktF senkrecht zur Richtung FM hindurchgehenden Ebene ablesen. Den einfachen Winkel g zeigt ein Lineal P an, welches um eine Achse O schwenkbar ist, die in der durch den Brennpunkt F senkrecht zur Achse der Primärstrahlung hindurchgehenden Ebene angeordnet ist. Das Lineal P ist mit dem verlängerten Arm a durch einen in einen Ausschnitt des Lineals P verschiebbaren ZapfenS verbunden. Die Achse des ZapfensS ist von der Achse f gleich weit entfernt wie die Achse O von der Achsef. Das LinealP liegt an einer Meßplatte an, auf der eine zur Strahlungsachse parallele Gerade L eingeätzt ist, deren Abstand von der Achse O einem vorgegebenen Vielfachen der halben Wellenlänge entspricht. Der Abstand des Schnittpunktes der Geraden L mit dem Lineal P von der Achse O stellt somit ein Maß für die Gitterkonstante dar. Hierdurch erübrigt sich die Berechnung der Gitterkonstanten nach der Braggschen Formel.
  • Die Größen E, v, w 2 und do sind für einen vorgegebenen Probekörper konstant, so daß sich die Beziehung (1) auf die Form vereinfachen läßt: a = C(dfld4, E C = d0 . (1 + γ) . (sin² #1 - sin² #2) .
  • Zur Bestimmung der Spannung a ist daher für einen gegebenen Probekörper die Konstante C zu errechnen oder an einem Probekörper ohne innere Spannung zu messen. Zum Ermitteln der unter dem Einfluß von Spannungen geänderten Gitterkonstanten läßt man nacheinander auf die zu untersuchende Stelle den Röntgenstrahl in zwei Richtungen auffallen.
  • Ist das LinealP mit einem Maßstab versehen, auf dem anstatt der Gitterkonstanten direkt die Werte C d#1 und C d#2 ablesbar sind, so kann die Spannungo als Differenz der am Maßstab abgelesenen Werte bestimmt werden. Es ist vorteilhaft, einen auswechselbaren Satz von Linealen vorzusehen, deren Skalen entsprechend den Konstanten C für verschiedene Materialien geeicht sind.
  • In der vorstehend beschriebenen Vorrichtung ist es vorteilhaft, eine Röntgenröhre mit linienartigem Brennfleck zu verwenden und das ganze divergente Primärstrahlungsbündel auszunutzen. Dadurch wird die Intensität der Interferenzen wesentlich erhöht, so daß sie sich leicht feststellen lassen. Da die Vorrich tung ständig unter Erfüllung der Fokussierungsbedingung arbeitet, sind die InterferenElinien scharf und ermöglichen eine sehr genaue Einstellung des Detektors auf die Lage der einzelnen Interferenzen.
  • Die erfaßte Probenfläche ist so groß, daß nicht die Spannung in einem Punkt gemessen wird, sondern die durchschnittliche Spannung auf einer Fläche von etwa 1 cm2, so daß bei Betriebsprüfungen ein verläßliches Bild über den Zustand der Spannungen gewonnen wird. Mit der vorstehend beschriebenen Vorrichtung läßt sich die Spannung an der gegebenen Stelle in 5 bis 10 Minuten ermitteln gegenüber einer Meßdauer von 2 bis 3 Stunden nach den bisherigen Verfahren.
  • Die Vorrichtung kann auch mit zwei oder mehreren Detektoren D versehen sein, welche an zwei oder mehreren Dreharmena in verschiedenen Abständen von der Drehachse f der Arme a befestigt sind, sowie mit zwei oder mehreren verschiebbaren Armen (b), welche in einem gemeinsamen Gelenk m konvergieren und mit zwei oder mehreren Linealen P für die gleichzeitige Messung zweier oder mehrerer verschiedener Interferenzen.
  • PATENTANSPRtSCHE: 1. Vorrichtung zum Ermitteln von inneren Spannungen nach dem Röntgenrückstrahlverfahren, bei welcher der ein divergentes Strahlenbündel erzeugende Brennfleck der Röntgenröhre als Eintrittsspalt dient und der Strahlendetektor mittels eines Gestänges selbsttätig längs des Fokussierungskreises bewegt wird, dadurch gekennzeichnet, daß auf einem Arm (a), welcher um einen an der Röntgenröhre befestigten Zapfen schwenkbar gelagert ist, dessen geometrischeAchse(f) durch den Brennfleck der Röntgenröhre hindurchgeht, ein Detektor (D) befestigt ist, dessen Achse senkrecht zum Arm (a) und parallel zu einem Arm (b) gerichtet ist, welcher auf der einen Seite verschiebbar im ersten Arm (a) in gleicher Entfernung von der Achse (D wie der Detektor (D) gelagert ist und dessen anderes Ende an einem weiteren Zapfen gelagert ist, dessen Achse (m) tangential zur Probenoberftäche und parallel zur Achse (f) des ersten Zapfens verläuft und der zusammen mit dem Prüfkörper (M) in Richtung des Primärstrahles verschiebbar ist, und daß an einem verlängerten Teil des ersten Armes (a) mittels eines Zapfens (S) ein am einen Ende gabelförmig ausgebildetes Meßlineal (P) angelenkt ist, welches an einer Meßplatte anliegt und am anderen Ende um eine Achse (O) schwenkbar ist, die parallel zur Achse (n des ersten Armes (a) in einer Entfernung fo=fs in einer zur Richtung der einfallenden Strahlung und zur Meßplatte senkrechten, durch den Brennfteck (F) gehenden Ebene verläuft, so daß der Abstand zwischen der Achse (O) und dom Schnittpunkt des Lineals (P) mit einer auf der Meßplatte parallel zur Achse des Primärstrahles angebrachtenGeraden(L), deren Abstand von der Achse (O) proportional der halben Wellenlänge ist, ein Maß für die Gitterkonstante darstellt.

Claims (1)

  1. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwei oder mehrere Detektoren (D), welche an zugehörigen Armen (a) in verschiedenen Abständen von der gemeinsamen Schwenkachse (f) befestigt sind, und eine entsprechende Anzahl von zugeordneten verschiebbaren Armen (b), welche in einem gemeinsamen Gelenk (m) konvergieren, und eine entsprechende Anzahl von zugeordneten Linealen (P) für die gleichzeitige Ermittlung zweier oder mehrerer verschiedener Interferenzen vorgesehen sind.
    In Betracht gezogene Druckschriften: USA.-Patentschrift Nr. 2 648 011.
DEK34843A 1957-05-11 1958-05-09 Vorrichtung zum Ermitteln von inneren Spannungen nach dem Roentgenrueckstrahlverfahren Pending DE1112844B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS1112844X 1957-05-11

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1112844B true DE1112844B (de) 1961-08-17

Family

ID=5457328

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEK34843A Pending DE1112844B (de) 1957-05-11 1958-05-09 Vorrichtung zum Ermitteln von inneren Spannungen nach dem Roentgenrueckstrahlverfahren

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1112844B (de)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2648011A (en) * 1951-08-16 1953-08-04 Good James Nathan Apparatus for electronic spectrometric analysis of back-reflection diffraction

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2648011A (en) * 1951-08-16 1953-08-04 Good James Nathan Apparatus for electronic spectrometric analysis of back-reflection diffraction

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2014530B2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Konzentration von in einem Medium suspendierten Teilchen
DE2831311C2 (de) Vorrichtung zur Ermittlung innerer Körperstrukturen mittels Streustrahlung
DE10125454B4 (de) Gerät zur Röntgenanalyse mit einem Mehrschichtspiegel und einem Ausgangskollimator
DE1112844B (de) Vorrichtung zum Ermitteln von inneren Spannungen nach dem Roentgenrueckstrahlverfahren
DE2822479C2 (de) Verfahren zum Messen der Geschwindigkeit eines bewegten Objekts und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE1239501B (de) Roentgengeraet zum Ermitteln von inneren Spannungen
DE2200651A1 (de) Durchstrahlungs-Dickenmessanlage
AT215708B (de) Gerät zur Messung innerer Werkstoffspannungen
DE10035917A1 (de) Gerät zur Strahlungsanalyse mit variablem Kollimator
DE3120653A1 (de) "vorrichtung zur bestimmung von bewegungsgroessen bzw. kriechzustaenden an materialien"
CH332875A (de) Verfahren zur Einstellung eines Röntgen-Diffraktionsgoniometers und Visiereinrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens
DE1218169B (de) Vorrichtung zum Pruefen der Wandstaerke von Glasrohren
WO2021151792A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur charakterisierung eines kohärenten lichtfelds in amplitude und phase
DE3740614C1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur beruehrungsfreien Messung mechanischer Spannungen an schnell bewegten Objekten mit kristalliner Struktur
DE3322713A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur laufenden messung des rollwinkels eines beweglichen maschinenteiles
DE1094987B (de) Vorrichtung zum Messen der Staerke eines UEberzuges auf einem Grundmaterial
DE383967C (de) Einrichtung zum Pruefen von Bolzengewinden
DE349467C (de) Verfahren zum Messen der Rueckenbreite prismatischer Koerper, insbesondere von Prismenfuehrungen, mittels einer an den Prismenseiten angreifenden Schublehre
DE1573452A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Oberflaechenspannungen mittels Roentgenstrahlen an Werkstuecken beliebiger Groesse
DE102011113817A1 (de) Vorrichtung zum Vermessen eines Messobjektes mittels Röntgenstrahlung
AT358846B (de) Vorrichtung zur roentgenometrischen untersuchung von proben aus kolloiden strukturen
DE2241617C2 (de) Verfahren zum optischen Messen der Oberflächenrauhigkeit
DE2015606C (de) Vorrichtung zum Prüfen eines bandförmigen Materials
DE102015005779B4 (de) Verfahren zur Kalibrierung einer Vorrichtung zum Untersuchen einer optischen Einrichtung und Verfahren zum Untersuchen einer optischen Einrichtung
DE697971C (de) Geraet zum Bestimmen der Gitterkonstanten von mittels Roentgenstrahlung untersuchten Werkstoffen