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Interferometer Die Erfindung betrifft ein Interferometer, insbesondere
ein Interferometer, wie es zu Meßzwecken z. B. als Laboratoriumsinterferometer,
Grubengasinterfere meter od. dgl. bekannt ist. Bekanntlich sind Idiese Interferometer
sehr empfindlich gegen von außen auf sie einwirkende mechanische Kräfte, weil Verbiegungen
des Gehäuses o,dler ein auf das Gehäuse ausgeübter Druck, gegebenenfalls auch Temperaturänderungen,
sich auf den Interferenzstrahlengang auswirken. Dies macht sich gewöhnlich in einer
Auswanderung der Interferenzstreifen bemerkbar, so daß die Ausgangslage tder Interferenzstreifen
nicht mehr justiert ist undldie Messung verfälscht wird.
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Es wurde erkannt, daß diese Nachteile deshalb auftreten, weil die
die Inferferenzstreifen erzseugenden Teile bei den bekannten Interferometern mit
dem Gehäuse des Interferometers fest verbunden .sind und deshalb bei Formänderungen
indes Gehäuses ihre Lage zueinander ändern. Bei einem bekannten Interferometer sind
die die Interferenzstreifen erzeugenden Teile auf einer gemeinsamen, mit dem Interferometergehäuse
nachgiebig verbundenen Platte angeordnet, wobei tdie Füße der Platte an Gummimeinbranen
befestigt sind, die ihrerseits wieder mit dem Gehäuse verbunden sind. Durch diese
Ausbildung soll eine direkte Stoßübertragung vom Gehäuse auf die optischen Teile
verhindert werten. Ein Nachteil dieses bekannten Interferometers ist aber, daß es
zu Eigenschwingungen neigt.
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Bei dem erfindungsgemäßen Interferometer ist die Platte, die die
Interferenzstreifen erzeugen,den Teile trägt, an zwei Punkten mit dem Gehäuse fest
verbunden und an einer dritten Stelle lose auf einen im Gehäuse befestigten Stift
aufgelegt. Bei einer derartigen Ausführung werden Formänderungen z. B. durch Verwindungen
oder Verbiegungen des Gehäuses nicht mehr auf Idie die optischen Teile tragende
Platte übertragen, und der Strahlengang bleibt justiert.
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Die Vorteile der ,erfindungsgemäßen Ausbildung äußern sich insbesondere
bei der konstruktiven Durchbildung eines tragbaren Gerätes, das vom Steiger vor
Ort meist unter ungünstigen Verhältnissen benutzt wird. Ein derartiges Gerät muß
leicht sein und handliche Formen (kleinstmögliche D,imensionen) aufweisen, trotzdem
aber {darf die Genaui,gkeit Ider Messungen nicht leiden. Da das Gerät beim Meßvorgang
meist in der Hand gehalten wird, spielen Wärmeeinflüsse bereits eine Rolle hinsichtlich
der Meßfehler Vor allem aber kommt Nes in noch stärkerem Maße auf die Verwindungsunempfindlichkeit
an.
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Die »Be£estifgung« ,der Montageplatte für die Spiegel usw. auf einer
Grundplatte mittels der Gummipuffer bei der bekannten Anordnung gibt .insbesondere
bei tragbaren Geräten in bedenklichem Maße Anlaß
zu Schwingungen, die auf IGrund
der erfindungsgemäß einseitig festen Montage mittels zweier relativ eng zueinander
angeordneter Befestigungsstellen und einer auf der anderen Seite lose aufgelegten,
frei nachgiebigen Auflagestelle vermieden sind. In jedem Falle werden auf diese
Weise auch die so sehr nachteiligen Verwindungen der Grundplatte und ihre Übertragung
auf die Montageplatte bei kleindimensionalen tragbaren Geräten vermieden.
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Vorteilhaft liegt der Stift in einer Längsausnehmung der Platte,
und eine Feder drückt die Platte gegen den Stift.
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Zweckmäßig hat,die Platte U-förmEiEgten Querschnitt, um ihr eine
größere Steifigkeit zu geben.
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In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes
dargestellt, und zwar zeigt Fig. 1 ein Grubengasinterferometer im Längsschnitt,
Fig. 2 einen Schnitt nach der Linie II-II der Fig. 1, Fig. 3 einen Schnitt nach
der Linie III-III der Ftig. 1, Fig. 3 a Idas Gesichtsfeld des Interferometers nach
Fig. 1.
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Die von einer Lichtquelle 1 ausgehenden Lichtstrahlein 7 werden durch
Linsen 2, 3 parallel gerichtet und unter Umlenkung an einem Spiegel 4 lin ein Prisma
5 gelenkt (Fig.3). Das Prisma 5 weist eine teiLdurchlässige Spiegelschicht 6 auf,
welche die von der Lichtquelle kommenden Lichtstrahlen in die Anteile 7' und 7"
teilt. Beide Anteile verlassen nach Reflexion an Außenflächen 8 und 9 das Prisma
5 in paralleler Richtung. Der Lichtstrahl 7' ,durchsetzt nunmehr Udie Kammer 10
einer Küvette, welche mit einem zu untersuchenden Gas gefüllt list. Der Lichtstrahl
7" durch setzt eine Kammer 11 mit einem Vergleichsgas, z.B.
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Luft. Der Lichtstrahl 7' wird an einem Spiegel 12 reflektiert
und
der Lichtstrahl 7" an einem Spiegel 13.
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Die Lichtstrahlen7' und 7" durchsetzen erneut die Kammern und treffen
in der halbdurchlässigen Spie-Uelschicht 6 wieder zusammen, wobei sie interferieren.
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Die entstehenden Interferenzstreifen werden durch eine Objektivlinse
14, einen Umlenkspiegel 15 auf eine Glasplatte 16 geworfen, welche in der Brennebene
Ides Objektiys 14 angeordnet ist. Die Glasplatte 16 weist eine Skala 17 auf (Fig.3a),
auf der die Auswanderung des Null-Streifens 18 der erzeugten Interferenzstreifen
abgelesen werden kann. Die Auswanderung der Interferenzstreifen ist ein Maß für
die Brechzahl des in Idie KammerlO eingefüllten Gases. Die Interferenzstreifen und
die Skala werden durch ein Okulag 19 betrachtet.
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Wie aus Fig. 1 zu erkennen ist, sind die optischen Teile 5, 12 und
13 in justierter Lage auf einer Platte 20 befestigt. Desgleichen können die Küvetten
10 und 11 auf dieser Platte angeordnet sein. Die Platte 20 ist über A;bstandsstücke21
mit einem Gehäuse 22 fest verbunden. Das Gehäuse 22 weist einen Stift 23 auf, welcher
in einer Längsnut24 der Platte 20 liegt. Die Platte 20 weist einen Durchbruch 25
auf, durch den eine Feder 26 greift, welche die Platte 20 auf den Stift 23 drückt.
Damit,di,e Platte 20 größere Steifigkeit erhält, hat sie, wie aus der Fig. 2 zu
erkennen ist, U-förmilgen Querschnitt.
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Wirken auf das Gehäuse22 äußere Kräfte, welche eine Verbiegung oder
Verdrehung des Gehäuses 22 bewirken, dann teilt sich diese Formänderung dem rechten
Ende der Platte 20 mit, jedoch ändert die Platte 20, da sie an ihrem linken Ende
auf dem Stift -23 lose gelagert ist, ihre Form nicht, so daß insbe-
sondere die optischen
Teile 5, 12 und 13 ihre relative Lage zueinander beibehalten und Dejustilerungen,
welche sich durch ein Auswandern der Interferenzstreifen längs der Skala 17 bemerkbar
machen würden, nicht auftreten.
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Selbstverständlich könnten auch die zur Bel,euchtungseinrichtung
gehörenden Teiler, 2, 3, 4 mit auf der Platte 20 angeordnet sein, lebenso die Beobachtungseinrichtung
14, 15, 16, 19, jedoch bewirken Lageänderungen dieser Teile kein Auswandern der
Interferenzstreifen.
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PATENTANSPRtJCHE 1. Interferometer, bei dem die die Interferenzstreifen
erzeugenden Teile auf einer gemeinsamen, nachgiebig mit dem Interferometergehäuse
verbundenen Platte angeordnet sind, dadurch gekenn zeichnet, daß die Platte an zwei
Punkten mit dem Gehäuse fest verbunden ist und an einer dritten Stelle lose auf
einem Stift liegt.