[go: up one dir, main page]

DE1196933B - Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern - Google Patents

Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern

Info

Publication number
DE1196933B
DE1196933B DET19889A DET0019889A DE1196933B DE 1196933 B DE1196933 B DE 1196933B DE T19889 A DET19889 A DE T19889A DE T0019889 A DET0019889 A DE T0019889A DE 1196933 B DE1196933 B DE 1196933B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
acid
etching
silicon semiconductor
treated
semiconductor crystals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DET19889A
Other languages
English (en)
Inventor
Dipl-Mineraloge Horst Schaefer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Telefunken Patentverwertungs GmbH
Original Assignee
Telefunken Patentverwertungs GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Telefunken Patentverwertungs GmbH filed Critical Telefunken Patentverwertungs GmbH
Priority to DET19889A priority Critical patent/DE1196933B/de
Publication of DE1196933B publication Critical patent/DE1196933B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H10P50/00
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • H10P95/00
    • H10W10/021
    • H10W10/20

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Weting (AREA)

Description

  • Verfahren zum Ätzen von Silizium-Halbleiterkörpern Die bekannten Ätzverfahren für Silizium-Halbleiterkristalle haben den Nachteil, daß die Oberfläche des Silizumkörpers nach dem Ätzprozeß noch eine zu große Rauhigkeit aufweist. Ein weiterer Nachteil besteht darin, daß bei den bekannten Verfahren die chemische Reaktion zu schnell abläuft, so daß eine Kontrolle des Ätzprozesses erschwert wird.
  • Zur Vermeidung dieser Nachteile wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, daß die Halbleiterkristalle mit einer Perchlorsäure enthaltenden Ätzlösung behandelt werden.
  • Es empfiehlt sich, als weitere Bestandteile der Ätzlösung Salpetersäure, Flußsäure und Essigsäure zu verwenden. Gute Ergebnisse wurden erzielt mit einer Ätzlösung, die 100 Teile Salpetersäure, 10 Teile Perchlorsäure, 10 Teile Flußsäure und 1.5 Teile Essigsäure enthält. Es hat sich bei diesen Versuchen herausgestellt, daß die Oberfläche des behandelten Siliziumkörpers nach dem Ätzen besonders glatt war.
  • Die Erfindung soll an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden. Es handelt sich dabei um eine Dickenätzung eines Halbleiterkörpers aus Silizium, bei dem eine Abtragungsgeschwindigkeit von etwa 1 u pro Minute erzielt werden soll. Bei dieser Dickenätzung soll gleichzeitig eine ausgezeichnete Oberflächenqualität des behandelten Siliziumkörpers erreicht werden. Die gestellte Aufgabe wurde mit einer Ätzlösung erzielt, welche folgende Zusammensetzung hatte: 100 ml konz. Salpetersäure (HNO3, 65o/oig) + 10 ml Perchlorsäure (HC104, 70o/oig) -h 14 ml Eisessig (CH3COOH) -f- 10 ml Flußsäure (HF, 40o/oig) Soll eine schnellere Abtragung des Halbleitermaterials erfolgen, so empfiehlt es sich, die Lösung wie folgt abzuändern: 100 ml konz. Salpetersäure (HNO3, 65%ig) -h 15M1 Perchlorsäure (HC104, 60o/oig) -I- 14 ml Eisessig (CH3COOH) -i- 13 ml Flußsäure (HF, 40o/oig) Wie die Ausführungsbeispiele zeigen, läßt sich der Anteil der einzelnen Bestandteile je nach angestrebter Abtragungsgeschwindigkeit und Oberflächenglätte variieren.

Claims (3)

  1. Patentansprüche: 1. Verfahren zum Ätzen von Silizium-Halbleiterkristallen,dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterkristalle mit einer Perchlorsäure enthaltenden Ätzlösung behandelt werden.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterkristalle mit einer aus 100 ml 65o/oiger Salpetersäure, 10 ml 70o/oiger Perchlorsäure, 10 ml 40o/oiger Flußsäure und 14 ml Eisessig bestehenden Ätzlösung behandelt werden.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterkristalle mit einer aus 100 ml 65 o/oiger Salpetersäure, 15 ml 60 o/oiger Perchlorsäure, 13 ml 40o/oiger Flußsäure und 14 ml Eisessig bestehenden Ätzlösung behandelt werden. In Betracht gezogene Druckschriften: »Zeitschrift für Metallkunde«, 1955, S. 227.
DET19889A 1961-03-30 1961-03-30 Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern Pending DE1196933B (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DET19889A DE1196933B (de) 1961-03-30 1961-03-30 Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DET19889A DE1196933B (de) 1961-03-30 1961-03-30 Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1196933B true DE1196933B (de) 1965-07-15

Family

ID=7549483

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DET19889A Pending DE1196933B (de) 1961-03-30 1961-03-30 Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1196933B (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1287405B (de) * 1963-10-24 1969-01-16 Licentia Gmbh AEtzmittel fuer Halbleiterkoerper aus Silizium
FR2356710A1 (fr) * 1976-06-29 1978-01-27 Gaf Corp Nouvelle composition pour l'attaque d'une pellicule d'aluminium et son application
DE102014013591A1 (de) 2014-09-13 2016-03-17 Jörg Acker Verfahren zur Herstellung von Siliciumoberflächen mit niedriger Reflektivität

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
None *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1287405B (de) * 1963-10-24 1969-01-16 Licentia Gmbh AEtzmittel fuer Halbleiterkoerper aus Silizium
FR2356710A1 (fr) * 1976-06-29 1978-01-27 Gaf Corp Nouvelle composition pour l'attaque d'une pellicule d'aluminium et son application
DE102014013591A1 (de) 2014-09-13 2016-03-17 Jörg Acker Verfahren zur Herstellung von Siliciumoberflächen mit niedriger Reflektivität

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2038564C3 (de) Quarzglasgeräteteil, insbesondere Quarzglasrohr, mit in seiner Außenoberflächenschicht enthaltenen, Kristallbildung fördernden Keimen zur Verwendung bei hohen Temperaturen, insbesondere für die Durchführung halbleitertechnologischer Verfahren
DE1196933B (de) Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern
DE1592535A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Uranylfluorid aus Uranhexafluorid
GB1349423A (en) Desmutting etched aluminium-base alloys
DE1185896B (de) Verfahren zum Stabilisieren der Oberflaeche von Halbleiterkoerpern mit p-n-UEbergaengen
DE1220699B (de) Beizbad fuer rostfreien Stahl
DE1166159B (de) Verfahren zum Reaktivieren der Katalysatoren von der Herstellung von Wasserstoffperoxyd nach dem Anthrachinonverfahren
AT237751B (de) Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes
DE1064153B (de) Verfahren zur Herstellung eines einseitig hochdotierten pn-UEbergangs fuer Emitterzonen durch Einlegieren von Aluminium und einem weiteren benetzenden Metall in einen Germaniumeinkristall
DE1287404B (de) Verfahren zum Vorbereiten von Siliziumkoerpern fuer das Dotieren durch AEtzen
DE753116C (de) UEberfuehrung von Stickstoffmonoxyd in Stickstoffdioxyd
DE1187803B (de) Verfahren zum Reinigen von Germanium
DE921145C (de) Verfahren zur Herstellung von Hydroxylammoniumsulfat
DE1053278B (de) Verwendung einer waessrigen Loesung einer komplexbildenden zwei- oder mehr-basischen organischen Saeure zum Reinigen von Oberflaechen
DD206168B1 (de) Aetzmittel fuer polykristalline siliciumschichten
DE897451C (de) Selengleichrichter mit Wismutelektrode, insbesondere zum Messen kleiner Wechselspannungen
DE830868C (de) Verfahren zum Nachdichten von porigen Metalloberflaechen bzw. von porigen, aus Metallsalzen, Oxyden oder Hydroxyden bestehenden Schutzschichten auf Metallen
DE765253C (de) Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern
DE971357C (de) Verfahren zur Oxydation der Oberflaeche kristalliner Selenschichten von Selengleichrichterplatten
DE1614760C3 (de) Halbleiteranordnung
DE816937C (de) Verfahren zum Schutz der Oberflaeche von chemisch und/oder elektrolytisch behandelten Gegenstaenden aus Aluminium oder Aluminiumlegierungen zwischen zwei Behandlungsstufen
AT205551B (de) Verfahren zur Herstellung eines halbleitenden Elektrodensystems
DE601285C (de) Verfahren zur Herstellung aktiven Schwefel enthaltender Produkte
DE1926435C (de) Vorrichtung zur Herstellung konzen tnerter Salpetersaure
AT149299B (de) Elektrodensystem mit unsymmetrischer Leitfähigkeit.