DE1196933B - Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern - Google Patents
Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpernInfo
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- DE1196933B DE1196933B DET19889A DET0019889A DE1196933B DE 1196933 B DE1196933 B DE 1196933B DE T19889 A DET19889 A DE T19889A DE T0019889 A DET0019889 A DE T0019889A DE 1196933 B DE1196933 B DE 1196933B
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- H10P50/00—
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
- C23F1/00—Etching metallic material by chemical means
-
- H10P95/00—
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- H10W10/021—
-
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Description
- Verfahren zum Ätzen von Silizium-Halbleiterkörpern Die bekannten Ätzverfahren für Silizium-Halbleiterkristalle haben den Nachteil, daß die Oberfläche des Silizumkörpers nach dem Ätzprozeß noch eine zu große Rauhigkeit aufweist. Ein weiterer Nachteil besteht darin, daß bei den bekannten Verfahren die chemische Reaktion zu schnell abläuft, so daß eine Kontrolle des Ätzprozesses erschwert wird.
- Zur Vermeidung dieser Nachteile wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, daß die Halbleiterkristalle mit einer Perchlorsäure enthaltenden Ätzlösung behandelt werden.
- Es empfiehlt sich, als weitere Bestandteile der Ätzlösung Salpetersäure, Flußsäure und Essigsäure zu verwenden. Gute Ergebnisse wurden erzielt mit einer Ätzlösung, die 100 Teile Salpetersäure, 10 Teile Perchlorsäure, 10 Teile Flußsäure und 1.5 Teile Essigsäure enthält. Es hat sich bei diesen Versuchen herausgestellt, daß die Oberfläche des behandelten Siliziumkörpers nach dem Ätzen besonders glatt war.
- Die Erfindung soll an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden. Es handelt sich dabei um eine Dickenätzung eines Halbleiterkörpers aus Silizium, bei dem eine Abtragungsgeschwindigkeit von etwa 1 u pro Minute erzielt werden soll. Bei dieser Dickenätzung soll gleichzeitig eine ausgezeichnete Oberflächenqualität des behandelten Siliziumkörpers erreicht werden. Die gestellte Aufgabe wurde mit einer Ätzlösung erzielt, welche folgende Zusammensetzung hatte: 100 ml konz. Salpetersäure (HNO3, 65o/oig) + 10 ml Perchlorsäure (HC104, 70o/oig) -h 14 ml Eisessig (CH3COOH) -f- 10 ml Flußsäure (HF, 40o/oig) Soll eine schnellere Abtragung des Halbleitermaterials erfolgen, so empfiehlt es sich, die Lösung wie folgt abzuändern: 100 ml konz. Salpetersäure (HNO3, 65%ig) -h 15M1 Perchlorsäure (HC104, 60o/oig) -I- 14 ml Eisessig (CH3COOH) -i- 13 ml Flußsäure (HF, 40o/oig) Wie die Ausführungsbeispiele zeigen, läßt sich der Anteil der einzelnen Bestandteile je nach angestrebter Abtragungsgeschwindigkeit und Oberflächenglätte variieren.
Claims (3)
- Patentansprüche: 1. Verfahren zum Ätzen von Silizium-Halbleiterkristallen,dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterkristalle mit einer Perchlorsäure enthaltenden Ätzlösung behandelt werden.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterkristalle mit einer aus 100 ml 65o/oiger Salpetersäure, 10 ml 70o/oiger Perchlorsäure, 10 ml 40o/oiger Flußsäure und 14 ml Eisessig bestehenden Ätzlösung behandelt werden.
- 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterkristalle mit einer aus 100 ml 65 o/oiger Salpetersäure, 15 ml 60 o/oiger Perchlorsäure, 13 ml 40o/oiger Flußsäure und 14 ml Eisessig bestehenden Ätzlösung behandelt werden. In Betracht gezogene Druckschriften: »Zeitschrift für Metallkunde«, 1955, S. 227.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DET19889A DE1196933B (de) | 1961-03-30 | 1961-03-30 | Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DET19889A DE1196933B (de) | 1961-03-30 | 1961-03-30 | Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1196933B true DE1196933B (de) | 1965-07-15 |
Family
ID=7549483
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DET19889A Pending DE1196933B (de) | 1961-03-30 | 1961-03-30 | Verfahren zum AEtzen von Silizium-Halbleiter-koerpern |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE1196933B (de) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1287405B (de) * | 1963-10-24 | 1969-01-16 | Licentia Gmbh | AEtzmittel fuer Halbleiterkoerper aus Silizium |
| FR2356710A1 (fr) * | 1976-06-29 | 1978-01-27 | Gaf Corp | Nouvelle composition pour l'attaque d'une pellicule d'aluminium et son application |
| DE102014013591A1 (de) | 2014-09-13 | 2016-03-17 | Jörg Acker | Verfahren zur Herstellung von Siliciumoberflächen mit niedriger Reflektivität |
-
1961
- 1961-03-30 DE DET19889A patent/DE1196933B/de active Pending
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| None * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1287405B (de) * | 1963-10-24 | 1969-01-16 | Licentia Gmbh | AEtzmittel fuer Halbleiterkoerper aus Silizium |
| FR2356710A1 (fr) * | 1976-06-29 | 1978-01-27 | Gaf Corp | Nouvelle composition pour l'attaque d'une pellicule d'aluminium et son application |
| DE102014013591A1 (de) | 2014-09-13 | 2016-03-17 | Jörg Acker | Verfahren zur Herstellung von Siliciumoberflächen mit niedriger Reflektivität |
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