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DE1184971B - Verfahren zum tiegellosen Schmelzen von stabfoermigen Koerpern aus reinstem Halbleitermaterial - Google Patents

Verfahren zum tiegellosen Schmelzen von stabfoermigen Koerpern aus reinstem Halbleitermaterial

Info

Publication number
DE1184971B
DE1184971B DES39695A DES0039695A DE1184971B DE 1184971 B DE1184971 B DE 1184971B DE S39695 A DES39695 A DE S39695A DE S0039695 A DES0039695 A DE S0039695A DE 1184971 B DE1184971 B DE 1184971B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
semiconductor
rod
purest
crucible
zone
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DES39695A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Theodor Rummel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DES39695A priority Critical patent/DE1184971B/de
Publication of DE1184971B publication Critical patent/DE1184971B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B13/00Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
    • C30B13/16Heating of the molten zone

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

  • Verfahren zum tiegellosen Schmelzen von stabförmigen Körpern aus reinstem Halbleitermaterial In der deutschen Patentschrift 976 672 ist ein Verfahren zum tiegellosen Schmelzen von stabförmigen Körpern aus reinstem Halbleitermaterial für Halbleiterbauelemente unter Verwendung von Hochfrequenzenergie beschrieben, bei dem eine geschmolzene Zone durch einen nur an seinen Enden gehalterten Halbleiterstab geführt wird, welches dadurch gekennzeichnet ist, daß der Halbleiterstab am Ort der zu erzeugenden Schmelzzone zunächst durch eigens hierfür vorzusehende Mittel vorgewärmt und dann nur mittels Hochfrequenzenergie an der vorerwärmten Stelle aufgeschmolzen wird. Durch die Vorerwärmung wird die Leitfähigkeit des in kaltem Zustand sehr hochohmigen Halbleitermaterials so weit erhöht, daß in dem vorgewärmten Stellenbereich infolge der Einwirkung eines verhältnismäßig schwachen hochfrequenten elektromagnetischen Wechselfeldes die weitere Erhitzung des Halbleiters bis zur Entstehung der Schmelzzone stattfindet. Die Vorerwärmung kann auf verschiedene Weise erfolgen: so ist z. B. die Vorerwäimung durch Verwendung eines direkt oder indirekt geheizten Heizringes, der den Halbleiterstab konzentrisch umgibt und geen den Stab verschiebbar ist, möglich. Vorteilhaft ist, auch die Verwendung von elektrischen Mitteln, z. B. von direktem Stromdurchgang durch den Halbleiter oder einer kapazitiven Vorerwärmung, bei der der Verlustwinkel des Halbleitermaterials ausgenutzt wird.
  • Im Grunde genommen können die bekannten Methoden zur unmittelbaren Erzeugung der geschmolzenen Zone auch die Aufgabe der Vorerwärmung übernehmen. Dabei ist jedoch von Bedeutung, daß durch die Vorwärmung keine zusätzlichen Verunreinigungen des Halbleitermaterials entstehen. Eine bekannte Methode zur Erzeugung der Schmelzzone beim Zonenschmelzen besteht in der Verwendung einer elektrischen Bodenentladung, die sowohl im Vakuum als auch als Gasentladung betrieben werden kann.
  • Gemäß der Erfindung erfolgt die Vorerwärmung des zonenzuschmelzenden Halbleiterstabes mittels elektrischer Gasentladung. Dabei wird zweckmäßig die zunächst vorzuwärmende und dann aufzuschmelzende Zone des Halbleiterstabes als Elektrode der Gasentladung verwendet, die zu einer, insbesondere ringförmigen, Gegenelektrode in einer geeigneten Gasatmosphäre übergeht. Die Verwendung von Gasentladungen läßt bei geringem Energieverbrauch eine rasche und wirksame Vorwärmung der Halbleiteroberfläche zu, da das Elektronen- und Ionenbombardement der Halbleiteroberfläche in der Gasentladung zu einer intensiven Erhitzung führt. Bei Verwendung der Halbleitertechnik wohlbekannter Gase läßt sich jede Verunreinigung des Halbleiters bei einer solchen Vorerwärmung vermeiden.

Claims (1)

  1. Patentansprüche: 1. Verfahren zum tiegellosen Schmelzen von stabförmigen Körpern aus reinstem Halbleitermaterial für Halbleiterbauelemente unter Verwendung von Hochfrequenzenergie, bei dem eine geschmolzene Zone durch einen nur an seinen Enden gehalterten Halbleiterstab geführt wird, bei dem der Halbleiterstab am Ort der zu erzeugenden Schmelzzone zunächst durch eigens hierfür vorzusehende Mittel vorgewärmt und dann nur mittels Hochfrequenzenergie an der vorgewärmten Stelle aufgeschmolzen wird, nach Patent 976672, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorerwärmung mittels Gasentladung vorgenommen wird: 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der vorzuwärmende, in entsprechendem Abstand zu einer insbesondere klein ausgebildeten Elektrodenanordnung befindliche Halbleiterkörper als Elektrode geschaltet wird. 3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorerwärmung durch Gasentladung auf eine Zone gewünschter Größe und Gestalt der Halbleiteroberfläche konzentriert wird. 4. Verfahren nach einem der -Ansprüche 1 bis 3, gekennzeichnet durch eine rotationssymmetrisch oder axialsymmetrisch zu dem Halbleiterkörper angeordnete Elektrodenanordnung. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 665 540; deutsche Patentanmeldung T 6541 VIII c l 21 g (bekanntgemacht am 28. Januar 1954); schweizerische Patentschrift Nr. 291361; belgische Patentschrift Nr. 510 303; USA.-Patentschrift Nr. 2 602 211; australische Patentschrift Nr. 166 223.
DES39695A 1954-06-22 1954-06-22 Verfahren zum tiegellosen Schmelzen von stabfoermigen Koerpern aus reinstem Halbleitermaterial Pending DE1184971B (de)

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Family

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE510303A (de) * 1951-11-16
DE665540C (de) * 1931-07-26 1938-09-28 Siemens Schuckertwerke Akt Ges Herstellung von metallischen UEberzuegen auf Metallkoerpern
US2602211A (en) * 1945-12-29 1952-07-08 Bell Telephone Labor Inc Rectifier and method of making it
CH291361A (de) * 1950-08-18 1953-06-15 Berghaus Elektrophysik Anst Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung technischer Prozesse mittels Gasentladungen.

Patent Citations (4)

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