DE10243145B4

DE10243145B4 - Verfahren zur Überwachung eines Hardwaretreiberausgangs

Info

Publication number: DE10243145B4
Application number: DE10243145A
Authority: DE
Inventors: Andreas LÄUFER; Konstantin Thiveos
Original assignee: Siemens Corp
Current assignee: Siemens Corp
Priority date: 2002-09-17
Filing date: 2002-09-17
Publication date: 2006-01-26
Anticipated expiration: 2022-09-18
Also published as: DE10243145A1; US7185230B2; US20040153828A1; FR2849939A1

Abstract

Verfahren zur Überwachung eines Hardwaretreiberausgangs, bei dem der Hardwaretreiberausgang auf das Auftreten eines Fehlerzustandes überwacht wird und bei dem zur Durchführung einer Fehleranalyse eine aktive Beeinflussung des Hardwaretreiberausgangs vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass die aktive Beeinflussung des Hardwaretreiberausgangs nur dann erfolgt, wenn an dem Hardwaretreiberausgang für eine vorgegebene Zeitspanne ein Fehlerzustand aufgetreten ist.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung eines Hardwaretreiberausgangs, bei dem der Hardwaretreiberausgang auf das Auftreten eines Fehlerzustandes überwacht wird und bei dem zur Durchführung einer Fehleranalyse eine aktive Beeinflussung des Hardwaretreiberausgangs vorgesehen ist.

Derartige Verfahren zur Überwachung von Treiberausgängen sind bekannt, wobei die Fehleranalyse sowohl die Diagnose eines in und/oder an dem Treiber aufgetretenen Fehlers als auch die Diagnose eines in und/oder an einer von dem Treiber angesteuerten Komponente umfassen kann. Um mit den bekannten Verfahren eindeutige Diagnoseergebnisse zu erzielen, ist es, zumindest bei gewissen Schaltzuständen, erforderlich, den Treiberausgang derart aktiv zu beeinflussen, dass auch eine von dem Treiber angesteuerte Komponente beeinflusst wird. Eine Beeinflussung der Komponente findet bei den bekannten Verfahren somit auch dann statt, wenn kein oder nur ein sporadischer elektrischer Fehler vorliegt.

Weiterhin ist es aus "IBM Technical Diselosure Bulletin Vol.32, No.10B, März 1990, Seite 117" bekannt, die Häufigkeit des Auftretens eines Fehlerzustandes. auszuwerten. Hierzu wird zwischen dem Langzeitverhalten und dem Kurzzeitverhalten der überwachten Komponente unterschieden. Tritt ein Fehlerzustand in dem Langzeitintervall öfter als ein erster Schwellenwert auf, so wird der Betrieb der Hardware nicht unterbrochen. Tritt der Fehlerzustand jedoch in dem Kurzzeitintervall öfter als ein zweiter Schwellenwert auf, so wird der Fehler gemeldet und die Hardware automatisch heruntergefahren.

Aus "IBM Technical Diselosure Bulletin Vol.37, No.10, Oktober 1994, Seite 657" ist es bekannt, ein Fehlerlog für eine Micro-Channel-Adapterkarte vorzusehen. Dabei ist sowohl ein Abschnitt des Logs für die Aufzeichnung von internen als auch ein Abschnitt des Logs für die Aufzeichnung von externen Fehlern vorgesehen. Sobald der für interne Fehler der Adapterkarte vorgesehene Bereich des Fehlerlogs zumindest einen Eintrag enthält, wird der Benutzer benachrichtigt.

Aus der DE 2 237 925 ist ein Verfahren zur Fehleranalyse und -beseitigung in elektronischen Datenverarbeitungssystemen bekannt, bei dem eine Fehlerfeststellung zum sofortigen Stopp einer Instruktionsverarbeitungseinheit und zur Wiederholung der fehlerhaft ausgeführten Instruktion führt.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die gattungsgemäßen Verfahren derart weiterzubilden, dass eine nicht zwingend erforderliche Beeinflussung einer an dem Treiber angeschlossenen Komponente im Vergleich zu den bekannten Verfahren weniger häufig auftritt.

Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.

Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen.

Das erfindungsgemäße Verfahren baut auf dem gattungsgemäßen Stand der Technik dadurch auf, dass die aktive Beeinflussung des Hardwaretreiberausgangs nur dann erfolgt, wenn an dem Hardwaretreiberausgang für eine vorgegebene Zeitspanne ein Fehlerzustand aufgetreten ist. Diese Lösung ermöglicht es beispielsweise, dass eine an den Treiberausgang angeschlossene Komponente zu Zwecken der Fehleranalyse nur dann angesprochen wird, wenn ein dauerhafter elektrischer Fehler vorliegt. Bei einem dauerhaften elektrischen Fehler bestimmt in vielen Fällen der Fehler das Verhalten der Komponente. Ist beispielsweise eine elektrische Leitung an der Komponente unterbrochen, ist ein Ein- oder Ausschalten der Komponente nicht mehr möglich. Wird in diesem Fall der Treiberausgang aktiv beeinflusst, um eine nähere Fehleranalyse durchzuführen, so hat dies keine Beeinflussung der Komponente zur Folge. Unabhängig von der speziellen Art eines vorliegenden Fehlers ermöglicht es das Abwarten der vorgegebenen Zeitspanne, die aktive Beeinflussung des Treiberausgangs zu vermeiden, wenn kein oder nur ein sporadischer Fehler vorliegt.

Bei bevorzugten Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Verfahrens ist vorgesehen, dass der Treiberausgang zyklisch auf das Auftreten des Fehlerzustandes überprüft wird. Unter zyklischer Überprüfung ist hierbei insbesondere das Abarbeiten eines Algorithmus zur Detektion des Fehlerzustandes mit einer festen Wiederholrate zu verstehen.

In diesem Zusammenhang wird es weiterhin als vorteilhaft erachtet, wenn bei dem erfindungsgemäßen Verfahren vorgesehen ist, dass die vorgegebene Zeitspanne als abgelaufen betrachtet wird, wenn bei einer vorherbestimmten Anzahl von aufeinanderfolgenden Zyklen der Fehlerzustand am Treiberausgang aufgetreten ist.

Dabei kann beispielsweise vorgesehen sein, dass die vorherbestimmte Anzahl von aufeinanderfolgenden Zyklen konfigurierbar ist. Die Überwachung von drei aufeinanderfolgenden Zyklen hat sich beispielsweise in der Praxis als guter Kompromiss zwischen einer ausreichend schnellen aktiven Beeinflussung des Treiberausgangs im Falle eines dauerhaften elektrischen Fehlers und einer ausreichend langen Zeitspanne zum Abklingen sporadischer Fehler herausgestellt.

Das erfindungsgemäße Verfahren ist in vorteilhafter Weise dadurch weitergebildet, dass der Fehlerzustand am Treiberausgang durch einen binären Wert repräsentiert wird. Beispielsweise kann der binäre Wert logisch "1" sein, wenn ein elektrischer Fehler vorliegt, während er logisch "0" sein kann, wenn kein elektrischer Fehler vorliegt.

In diesem Zusammenhang ist vorzugsweise weiterhin vorgesehen, dass der den Fehlerzustand am Treiberausgang repräsentierende binäre Wert gespeichert wird. Beispielsweise wenn vorgesehen ist, dass die vorgegebene Zeitspanne als abgelaufen betrachtet wird, wenn bei einer vorherbestimmten Anzahl von aufeinanderfolgenden Zyklen der Fehlerzustand am Treiber aufgetreten ist, werden die binären Werte vorzugsweise für die vorherbestimmte Anzahl von aufeinanderfolgenden Zyklen gespeichert. Die Speicherung kann dabei auf irgendeine geeignete Art erfolgen, beispielsweise mittels eines über Software definierten Feldes beziehungsweise Arrays.

Bei allen Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Verfahrens kann weiterhin vorgesehen sein, dass die aktive Beeinflussung des Treiberausgangs das Anlegen einer Testpulsfolge an den Treibereingang und/oder den Treiberausgang umfasst. Dabei ist es möglich, die Bewertung des Fehlerzustandes bei der Testpulsgenerierung einzubeziehen.

Die Erfindung wird nun unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung anhand einer bevorzugten Ausführungsform beispielhaft erläutert.

Es zeigt:

1 ein Flussdiagramm, das eine Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens veranschaulicht.

Bei dem in 1 dargestellten Verfahren handelt es sich um einen Algorithmus, mit dem ein dauerhafter, das heißt zumindest ein für die vorgegebene Zeitspanne aufgetretener elektrischer Fehler erkannt werden kann. Das dargestellte Verfahren beginnt beim Schritt S1.
Im Schritt S2 werden die aktuelle elektrische Fehlerinformation und die Fehlerinformationen zwischen einem Zeitpunkt n bis n-m gespeichert. Anders ausgedrückt wird die vorgegebene Zeitspanne bei der dargestellten Ausführungsform als abgelaufen betrachtet, wenn bei m+1 aufeinanderfolgenden Zyklen ein elektrischer Fehler am Treiberausgang aufgetreten ist.
Im Schritt S3 wird überprüft, ob zwischen den Zeitpunkten n bis n-m durchgehend ein elektrischer Fehler detektiert wurde. Ist dies der Fall wird zum Schritt S4 verzweigt. Anderenfalls wird zum Schritt S5 verzweigt.
Im Schritt S4 erfolgt die aktive Beeinflussung des Treiberausgangs, beispielsweise durch das Anlegen einer Testpulsfolge an den Treibereingang und/oder Treiberausgang. Auf diese Weise kann eine genaue Symptom- beziehungsweise Fehleranalyse durchgeführt werden.
Im Anschluss an den Schritt S4 endet der dargestellte Algorithmus beim Schritt S6.
Falls im Schritt S3 festgestellt wurde, dass zwischen den Zeitpunkten n bis n-m nicht durchgehend ein elektrischer Fehler detektiert wurde, wird im Schritt S5 davon ausgegangen, dass es sich um einen sporadischen Fehler gehandelt hat. Der Endstufen- beziehungsweise Treiberausgang wird daher nicht aktiv beeinflusst, so dass auch keine Beeinflussung der von dem Treiber angesteuerten Komponente erfolgt. Da im Schritt S5 keine aktive Handlung vorgenommen wird, dient dessen Darstellung vor allem zum Zwecke der Erläuterung. Der Schritt S5 kann somit gegebenenfalls entfallen.
Die Erfindung lässt sich wie folgt zusammenfassen:
Die Erfindung betrifft eine Verfahren zur Überwachung eines Treiberausgangs, bei dem zur Durchführung einer Fehleranalyse eine aktive Beeinflussung des Treiberausgangs vorgesehen ist. Um zu vermeiden, dass eine von dem Treiber angesteuerte Komponente aufgrund der aktiven Beeinflussung des Treiberausgangs beeinflusst wird, obwohl kein oder nur ein sporadischer Fehler aufgetreten ist, ist erfindungsgemäß vorgesehen, dass die aktive Beeinflussung des Treiberausgangs nur dann erfolgt, wenn an dem Treiberausgang für eine vorgegebene Zeitspanne ein Fehlerzustand aufgetreten ist.
Die in der vorstehenden Beschreibung, in den Zeichnungen sowie in den Ansprüchen offenbarten Merkmale der Erfindung können sowohl einzeln als auch in beliebiger Kombination für die Verwirklichung der Erfindung wesentlich sein.

Claims

Verfahren zur Überwachung eines Hardwaretreiberausgangs, bei dem der Hardwaretreiberausgang auf das Auftreten eines Fehlerzustandes überwacht wird und bei dem zur Durchführung einer Fehleranalyse eine aktive Beeinflussung des Hardwaretreiberausgangs vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass die aktive Beeinflussung des Hardwaretreiberausgangs nur dann erfolgt, wenn an dem Hardwaretreiberausgang für eine vorgegebene Zeitspanne ein Fehlerzustand aufgetreten ist.
Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Hardwaretreiberausgang zyklisch auf das Auftreten des Fehlerzustandes überprüft wird.
Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die vorgegebene Zeitspanne als abgelaufen betrachtet wird, wenn bei einer vorherbestimmten Anzahl von aufeinanderfolgenden Zyklen der Fehlerzustand am Hardwaretreiberausgang aufgetreten ist.
Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die vorherbestimmte Anzahl von aufeinanderfolgen Zyklen konfigurierbar ist.
Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Fehlerzustand am Hardwaretreiberausgang durch einen binären Wert repräsentiert wird.
Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der den Fehlerzustand am Hardwaretreiberausgang repräsentierende binäre Wert gespeichert wird.
Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die aktive Beeinflussung des Hardwaretreiberausgangs das Anlegen einer Testpulsfolge an den Hardwaretreibereingang und/oder den Hardwaretreiberausgang umfasst.