DE10233646A1 - Grenzscantesten von optoelektronischen Vorrichtungen - Google Patents

Abstract

Es sind Verfahren und Vorrichtungen zum Testen optoelektronischer Vorrichtungen offenbart. Testdaten werden in eine erste Grenzscanzelle geschoben. Ein Test wird dann von der ersten Grenzscanzelle durch Ausgeben der geschobenen Testdaten an einen Signalerzeuger gestartet. Der Signalerzeuger wiederum liefert ansprechend auf die geschobenen Testdaten konditionierte Testdaten an einen optoelektronischen Sender und mindestens eine Beschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders. Schließlich wird eine Antwort auf den Test erfaßt.

Description

• Die Erfindung bezieht sich auf einen Schaltungsplatinentest und insbesondere auf das Testen von Schaltungsplatinen, auf denen eine oder mehrere optoelektronische Vorrichtungen installiert sind.
• Die heutigen Hochgeschwindigkeits-Kommunikationssysteme weisen oft eine Mischung von elektrischen und optischen Teilsystemen 100, 102 (Fig. 1) auf. Während elektrische Teilsysteme Signale über Elektronen verbreiten, verbreiten optische Teilsysteme Signale über Photonen (das heißt Licht - gekennzeichnet in den Figuren durch das griechische Symbol Lambda "λ"). Eine Schnittstelle, die eine oder mehrere optoelektronische Vorrichtungen 104 aufweist wird daher benötigt, um elektrische Signale in optische Signale umzuwandeln und/oder umgekehrt.
• Eine optoelektronische (OE) Vorrichtung kann eine oder beide von zwei Rollen annehmen: die eines Senders 106 (das heißt einer Vorrichtung, die elektrische Signale in optische Signale umwandelt), oder die eines Empfängers 108 (das heißt einer Vorrichtung, die optische Signale in elektrische Signale umwandelt). In dem Fall eines OE-Senders treten elektrische Signale, die sich über Drähte, Kabel und/oder gedruckte Schaltungsplatinenspuren ausbreiten, in den elektronischen Abschnitt des OE-Senders ein. Die elektrischen Signale werden dann in Photonensignale umgewandelt, die von dem optischen Abschnitt des OE-Senders ausgegeben werden. Die Photonensignale verbreiten sich über faseroptische Kabel und/oder durch die Luft. In dem Fall eines OE-Empfängers treten Photonensignale, die über faseroptische Kabel und/oder durch die Luft verbreitet werden, in den optischen Abschnitt des OE-Empfängers ein. Die Photonensignale werden dann in elektrische Signale umgewandelt, die von dem elektrischen Abschnitt des OE-Empfängers ausgegeben werden.
• Im Hinblick auf die OE-Sender implementiert der elektronische Abschnitt eines Senders oft Überwachungs- und Steuerungs-Funktionen, die 1) die Qualität der Signalausgabe von dem optischen Abschnitt des Senders beibehalten und 2) Sicherheitsfaktoren betreffend die Operation des optischen Abschnitts des Senders steuern.
• Ein verbreiteter Sicherheitsfaktor, der während der Operation eines OE-Senders berücksichtigt wird, ist die Augensicherheit. Die Wellenlängen des Lichts, das durch einen OE- Sender emittiert wird, können für das menschliche Auge gefährlich sein, besonders wenn dieselben über einen längeren Zeitraum betrachtet werden (das heißt, längere Zeiträume im Hinblick auf die Operation des Senders - wie zum Beispiel einige Millisekunden). Augensicherheitsbedingungen können jedoch durch Verwenden des elektronischen Abschnitts zum dauerhaften Überwachen und Steuern der Leistungsausgabe des optischen Abschnitts des Senders eines OE-Senders eingehalten werden. Üblicherweise, wenn die stationäre Leistung nicht gesteuert werden kann (zum Beispiel aufgrund eines Senderdefekts), oder wenn die Gesamtleistungsausgabe eine definierte Schwelle überschreitet, dann schalten die elektronischen und/oder optischen Abschnitte des Senders automatisch ab und "sperren" den optischen Abschnitt des Senders. Auf das "Sperren" hin "entsperrt" (das heißt startet neu) der optische Abschnitt des Senders nur auf das Empfangen einer Rücksetzsequenz von dem elektronischen Abschnitt des Senders hin.
• Wenn OE-Vorrichtungen an eine gedruckte Schaltungsplatine (PC = printed circuit = gedruckte Schaltung) gelötet werden, stellen dieselben Testprobleme dar. Es wird zum Beispiel von einem OE-Sender ausgegangen, bei dem ein elektronischer Abschnitt an eine PC-Platine gelötet ist, der jedoch einen optischen Abschnitt aufweist, der als ein Platinenausgang dient. Um einen solchen Sender zu testen, muß ein Tester, wie zum Beispiel ein Agilent 3070 Board Tester (hergestellt durch Agilent Technologies, Inc. in Palo Alto, Kalifornien, USA) nicht nur in der Lage sein, die elektrischen Eingänge des Senders zu stimulieren, sondern er muß ferner in der Lage sein, eine Photonenantwort von dem Sender zu erfassen. Dies ist keine Standardfähigkeit einer Platinentestausrüstung. Sogar wenn ein herkömmlicher Photonenempfänger mit einem Photonenausgang des Senders gekoppelt werden kann (oder in die Sendeleitung desselben plaziert werden kann), kann es schwierig sein, einen Test zu konstruieren, der zumindest eine Antwort erzeugt, die erfaßt werden soll. Dies ist insbesondere der Fall im Hinblick auf "schaltungsintegriertes", "strukturelles" oder "Scan"-Testen, wobei der Entwurf von Testmustern, die die Stimulationsregeln der elektrischen Eingänge eines Senders einhält, schwierig sein. Wenn die Stimulationsregeln nicht befolgt werden, können die zuvor genannten Überwachungs- und Steuerungs-Funktionen des elektronischen Abschnitts eines Senders aufhören zu arbeiten (was zu potentiellen Augengefahren führt), oder wahrscheinlicher, die Überwachungs- und Steuerungs-Funktionen werden zu gut arbeiten und der optische Abschnitt eines Senders wird deaktiviert. In dem letzteren Fall sind weitere Tests des Senders nicht möglich, bis der Sender zurückgesetzt ist. Ferner, wenn ein intakter Sender unabsichtlich deaktiviert wird, erkennt dies ein Tester vielleicht nicht und identifiziert den Sender lediglich als fehlerhaft, ohne ein Zurücksetzen zu versuchen.
• Das Zurücksetzen eines OE-Senders ist an sich ein Problem. Erstens könnte das Auslösen einer Rücksetzsequenz nicht möglich sein, abhängig davon, welche externen Eingänge und/oder interne Knoten ein Tester gemäß Entwurf stimulieren soll. Zweitens, angenommen, daß das Auslösen einer Rücksetzsequenz möglich ist, sind die Testmuster vielleicht nicht bekannt, die zum Auslösen einer derartigen Sequenz gebraucht werden, oder dieselben werden erst nach umfassender Anstrengung erlangt. Schließlich, sogar im bestmöglichen Fall, in dem das Auslösen einer Rücksetzsequenz möglich ist und die Testmuster zum Auslösen der Rücksetzsequenz bekannt sind, kann das Auslösen eine große Anzahl von Testzyklen verbrauchen.
• Als nächstes wird ein OE-Empfänger mit einem elektrischen Abschnitt berücksichtigt, der an eine PC-Platine gelötet ist, der jedoch einen optischen Abschnitt aufweist, der als ein Platineneingang dient. Um einen derartigen Empfänger zu testen, muß ein Tester nicht nur in der Lage sein, eine elektrische Antwort von dem Empfänger zu erfassen, sondern derselbe muß ferner in der Lage sein, einen Photoneneingang an den Empfänger bereitzustellen. Dies ist wiederum keine Standardfähigkeit einer Platinentestausrüstung. Sogar wenn ein herkömmlicher Photonensender mit dem Photoneneingang eines Empfängers gekoppelt werden kann (oder vor demselben plaziert werden kann), kann es ein Tester in der Tat schwierig finden, den Typ von Photoneneingängen zu erzeugen, den der OE-Empfänger erwartet. Dies ist insbesondere der Fall, wenn so viele Tester nicht in der Lage sind, Testmuster "schnell" für eine elektronische Vorrichtung zu liefern, und OE-Vorrichtungen arbeiten üblicherweise mit sogar noch höheren Geschwindigkeiten.
• Abschließend wird der Fall eines OE-Paares berücksichtigt (das heißt ein OE-Sender, der optisch mit einem QE-Empfänger gekoppelt ist). In einem solchen Fall muß ein Tester keine Photonen mehr senden oder empfangen. Ein Tester hat jedoch immer noch die Aufgabe, die elektronischen Protokolle an jedem Ende des Paares zu verstehen, zu erzeugen und zu überwachen.
• Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Testen optoelektronischer Vorrichtungen zu schaffen.
• Diese Aufgabe wird durch ein System gemäß Anspruch 1 oder 8 und durch ein Verfahren gemäß Anspruch 14 gelöst.
• Die Erfinder haben neue Verfahren und Vorrichtungen betreffend das Grenzscantesten von optoelektronischen Vorrichtungen konstruiert.
• Auf der Sendeseite kann ein exemplarisches System einen optoelektronischen Sender und eine Grenzscanzelle aufweisen. Der optoelektronische Sender weist einen elektrischen Eingang und einen optischen Ausgang auf. Die Grenzscanzelle weist einen Signalerzeuger auf. Der Signalerzeuger wiederum weist einen Eingang, einen Ausgang und eine bestimmte Logik auf. Der Signalerzeugereingang ist gekoppelt, um Testdaten zu empfangen, die in die Grenzscanzelle geschoben werden, und der Signalerzeugerausgang ist gekoppelt, um konditionierte Testdaten an den elektrischen Eingang des optoelektronischen Senders zu liefern. Die Logik ist zwischen den Eingang und den Ausgang des Signalerzeugers gekoppelt und dient zum Erzeugen der zuvor genannten "konditionierten Testdaten" gemäß 1) den geschobenen Testdaten und 2) mindestens einer Einschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders.
• An der Empfangsseite kann ein exemplarisches System einen optoelektronischen Empfänger und eine Grenzscanzelle aufweisen. Der optoelektronische Empfänger weist einen optischen Eingang und einen elektrischen Ausgang auf. Die Grenzscanzelle weist einen Signaldetektor auf. Der Signaldetektor wiederum weist einen Eingang, einen Ausgang und eine bestimmte Logik auf. Der Signaldetektoreingang ist gekoppelt, um eine Antwort von dem elektrischen Ausgang des optoelektronischen Empfängers zu empfangen, und der Signaldetektorausgang ist gekoppelt, um eine bewertete Antwort an das Schieberegisterelement zu liefern. Die Logik ist zwischen den Eingang und den Ausgang des Signaldetektors gekoppelt und dient zum Erzeugen der zuvor genannten "bewerteten Antwort" nach dem Überwachen des Signaldetektoreingangs über einen Zeitraum.
• Schließlich kann ein Verfahren zum Testen optoelektronischer Vorrichtungen 1) das Schieben von Testdaten in eine erste Grenzscanzelle, 2) das Auslösen eines Tests von der ersten Grenzscanzelle durch Ausgeben der geschobenen Testdaten an einen Signalerzeuger und 3) das Erfassen einer Antwort auf den Test aufweisen. Der Signalerzeuger liefert konditionierte Testdaten an einen optoelektronischen Sender ansprechend auf die geschobenen Testdaten und mindestens eine Einschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders.
• Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
• Fig. 1 elektrische und optische Teilsysteme, die über eine optoelektronische Schnittstelle gekoppelt sind;
• Fig. 2 eine integrierte Schaltung, die eine Scankette einlagert; und
• Fig. 3 eine erste Implementierung einer Grenzscanzelle, die mit einem optoelektronischen Sender gekoppelt ist;
• Fig. 4 eine erste Implementierung einer Grenzscanzelle, die mit einem optoelektronischen Empfänger gekoppelt ist;
• Fig. 5 eine zweite Implementierung einer Grenzscanzelle, die mit einem optoelektronischen Sender gekoppelt ist;
• Fig. 6 ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Schaltungsanordnung von Fig. 5;
• Fig. 7 ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel des Signalerzeugers, der in Fig. 5 und 6 gezeigt ist;
• Fig. 8 eine erste Anzahl von Signalverläufen, die der Signalverlauferzeuger von Fig. 7 empfangen und erzeugen könnte;
• Fig. 9 eine zweite Anzahl von Signalverläufen, die der Signalverlauferzeuger von Fig. 7 empfangen und erzeugen könnte;
• Fig. 10 eine zweite Implementierung einer Grenzscanzelle, die mit einem optoelektronischen Empfänger gekoppelt ist;
• Fig. 11 ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Schaltungsanordnung von Fig. 10;
• Fig. 12 ein erstes bevorzugtes Ausführungsbeispiel des Signaldetektors, der in den Fig. 10 und 11 gezeigt ist;
• Fig. 13 ein zweites bevorzugtes Ausführungsbeispiel des Signaldetektors, der in den Fig. 10 und 11 gezeigt ist; und
• Fig. 14 ein Verfahren zum Testen optoelektronischer Vorrichtungen.
• Es gibt zwei allgemeine Formen von Tests, die verwendet werden, um Schaltungsplatinen zu verifizieren: Funktionstest und Strukturtest. Während Funktionstests verifizieren, daß eine Schaltungsplatine insgesamt arbeitet, wie sie entworfen wurde, verifizieren Strukturtests, daß die Komponenten einer Schaltungsplatine korrekt gelötet und funktionsfähig sind.
• Strukturtesten wurde Mitte der 70er Jahre interessant und wird detailliert in der Anmeldung von M.J.Y. Williams und J.B. Angell mit dem Titel "Enhancing Testability of Large- Scale Integrated Circuits Via Test Points and Additional Logic", IEEE Trans. on Computers, Band C-22, Nr. 1, Seiten 46-60 (Januar 1973) und in dem Dokument von E.B. Eichelberger und T.W. Williams mit dem Titel "A Logic Design Structure for LSI Testability" Proc. 14^th Design Automation Conf., IEEE Pub. 77CH1216-1C, Seiten 462-468 (Juni 1977) erörtert. Anfänglich bezeichnet als "Scan"-Testen ermöglicht das strukturelle Testen das Testen von Strukturen, die tief innerhalb einer integrierten Schaltung (IC = integrated circuit) eingebettet sind. Anstatt die interne Struktur der IC durch Anlegen eines Stimulus an den Eingängen der IC zu testen (wie es beim "funktionellen" Testen der Fall wäre), umfaßt das strukturelle Testen das Schieben einer Reihe von Testvektoren in den Kern einer IC, und nachdem jeder Testvektor hineingeschoben wurde, das Auslösen des Testvektors und das Erfassen einer Antwort. Jede Antwort wird dann aus der IC hinausgeschoben. Auf diese Weise kann ein Tester verifizieren, daß alle Elemente einer IC vorhanden und funktionsfähig sind. Es ist eine Annahme des strukturellen Testens, daß wenn alle Elemente vorhanden und funktionsfähig sind, die Elemente zum Durchführen der größeren und beabsichtigten Funktionen der IC beitragen werden (zum Beispiel Hinzufügen, Schieben, etc.), und die IC wie entworfen funktionieren wird.
• Fig. 2 stellt eine herkömmliche IC 200 dar, die eine Scankette 202-212 für den Zweck des strukturellen Testens umfaßt. Eine IC 200, die zum strukturellen Testen entworfen ist, wird allgemein als "entworfen für den Test" bezeichnet und lagert daher "Entwurf für Test"- (DFT = design for test = Entwurf für Test) Strukturen 202-212 ein. Die grundlegenden Regeln (das heißt DFT-Regeln) zum Aktivieren des strukturellen Testens einer IC 200 sind:
  
• 1. Implementieren der IC 200 unter Verwendung eines synchron getakteten Entwurfs (keine asynchrone Rückkopplung).
• 2. An die Stelle jedes Registerelements (zum Beispiel Flip-Flops) in der IC 200, Einfügen eines komplizierteren Registerelements (zum Beispiel einer Scankettenzelle 202-212), das zwei Betriebsmodi aufweist:
  • a) einen "Normalmodus", in dem das Element als ein getaktetes Speicherelement arbeitet, wie für die Funktionalität der IC 200 erforderlich ist; und
  • b) einen "Testmodus", bei dem das Element sich als ein Bauglied einer Scankette verhält (das heißt einer seriellen Schieberegisterkette).
• 3. Verbinden der Scankettenzellen 202-212, um eine Scankette zu bilden und entsprechende Signale (zum Beispiel Modus-, Verschiebe- und Daten-I/O-Signale) an jede der Zellen zu leiten.
• Falls erwünscht, kann das strukturelle Testen auf die Platinenebene erweitert werden. Beim Entwerfen einer Platine kann ein Entwerfer Signale von jeder IC an der Platinenebene (zum Beispiel Modus-, Verschiebe- und Daten-I/O-Signale) verbinden, um dadurch das strukturelle Testen auf die Platinentestebene zu erweitern.
• Eine detaillierte Erörterung von verschiedenen Scanketten findet sich in dem Dokument von T.W. Williams und K.P. Parker mit dem Titel "Design for Testability - A Survey", Proceedings of the IEEE, Band 71, Nr.9.b1 (Januar 1983).
• Eine bekannte DFT-Strategie in der Elektronikindustrie ist durch die IEEE-Norm 1149.1 definiert. Die neueste Version dieser Norm hat den Titel "IEEE Standard Text Access Port and Boundary-Scan Architecture", IEEE-Norm 1149.1, die hierbei umfassend durch Bezugnahme aufgenommen ist. Die IEEE-Norm 1149.1 schafft verschiedene Grenzscanoperationsmodi. Ein verbreiteter Modus ist INTEST, bei dem die internen Elemente 214 einer IC 200 durch Einführen eines Testvektors in den Kern der IC 200 und durch nachfolgendes Erfassen einer Antwort vom Kern der IC getestet werden. Ein anderer verbreiteter Modus ist der EXTEST, bei dem der I/O 216-226 einer IC 200 und/oder die Verbindungen zwischen ICs getestet werden. Während des EXTEST wird ein Testvektor von den ausgegebenen Grenzscanzellen 208-212 einer ersten IC 200 eingeführt und eine Antwort wird durch die eingegebenen Grenzscanzellen einer zweiten IC erfaßt (zum Beispiel Eingangszellen 216-222 ähnlich jenen der IC 200, die in Fig. 2 gezeigt ist). Auf diese Weise kann ein Tester folgendes testen: Die Ausgangssignaltreiber 222-226 der ersten IC 200, die Eingangssignaltreiber der zweiten IC und die Zwischenverbindungen zwichen der ersten und der zweiten IC. Ein Mangel der IEEE-Norm 1149.1, einschließlich des EXTEST ist, daß dieselbe von der Verwendung eines elektronischen I/O einer Schaltung ausgeht und nicht eines optoelektronischen (OE) I/O. Folglich wird EXTEST nicht zum Testen von OE-Vorrichtungen verwendet. Leider ist es sehr schwierig, einfache Herstellungsfehler, wie zum Beispiel Lötöffnungen und Lötkurzschlüsse, bei der Implementierung und der Verwendung von DFT-Strukturen und strukturellem Testen zu vermeiden. Ist kein DFT vorhanden, muß ein sehr viel teureres funktionales Testen (zum Beispiel optische Leistungsmessungen oder Bitfehlerdatentests) verwendet werden, um nach diesen Fehlern zu testen. Aber sogar nach diesen teueren Funktiontests weiß man nur, daß "ein Fehler irgendwo vorhanden ist". Wenn strukturelle Tests, wie zum Beispiel EXTEST und/oder andere Grenzscantests verwendet werden könnten, um OE-Vorrichtungen zu testen, könnten einfache Herstellungsfehler lokalisiert und schnell, kostengünstig und automatisch und oft mit einer gezielten Diagnose lokalisiert werden.
• Fig. 3 stellt die einfachste Weise dar, auf die eine IEEE 1149.1 Grenzscanzelle 300 verwendet werden könnte, um einen OE-Sender 302 (zum Beispiel eine Laserdiode) zu steuern. Beispielsweise ist die Grenzscanzelle 300 gezeigt, um in Reihe geschaltete Erfassungs-"C" und Aktualisierungs-"U" Flip-Flops 304, 306 sowie Eingangs- und Ausgangs- Multiplexer 308, 310 aufzuweisen. Die Flip-Flops 304, 306 können konfiguriert sein, um auf verschiedene Weisen zu arbeiten. Auf eine Weise jedoch empfängt die Grenzscanzelle 300 jedoch ein TEST-Signal zum Steuern, welcher von zwei Modi der Grenzscanzelle 300 aktiv ist. Im Normalmodus (TEST = 0) können Daten, die von einem internen Schaltungsknoten 312 hergeleitet wurden, durch den Eingangsmultiplexer 308 geleitet werden und durch das Erfassungs-Flip-Flop 304 erfaßt werden. Die gleichen Daten werden ebenfalls durch den Ausgangsmultiplexter 310 geleitet, um den OE-Sender 302 zu erreichen. Im Textmodus (TEST = 1) können die Testdaten zwischen einem SERIAL_IN-Eingang und einem SERIAL_OUT- Ausgang synchron mit einem SHIFT-Takt geschoben werden. Auf diese Weise können Testdaten von einer Grenzscanzelle zu einer anderen geschoben werden, zum Zweck des Schiebens von Testdaten in eine und/oder aus einer IC. Auch während des Testmodus ermöglicht eine Kontrollaussage des UPDATE- Signals, daß Testdaten durch den Ausgangsmultiplexer 310 zu dem OE-Sender 302 eingeführt werden. Die Signale TEST, SHIFT und UPDATE werden hierin als Teststeuerungssignale bezeichnet. Es wird darauf hingewiesen, daß diese Signale nur beispielhafte Teststeuersignale sind, und daß die tatsächliche Anzahl und die Art von Teststeuerungssignalen variieren kann, abhängig vom Typ der Grenzscanzelle 300, die implementiert wird.
• Die Grenzscanzelle 300 ist mit dem elektrischen Eingang des OE-Senders 302 über einen Multiplexer 310 gekoppelt. Der gleiche Multiplexer 310 weist einen zweiten Eingang auf, der direkt mit dem internen Schaltungsknoten 312 gekoppelt ist, von dem die Grenzscanzelle 300 ihre Daten herleitet (das heißt von dem die Grenzscanzelle 300 die Antwort auf einen Test erfaßt). Während eines EXTEST-Zyklus gibt der Multiplexer 310 Daten aus, die in die Grenzscanzelle geschoben wurden, und während der normalen Operation einer IC gibt der Multiplexer 310 Daten aus, die von einem internen Schaltungsknoten 312 empfangen wurden. In jedem Fall werden Daten, die von dem Multiplexer 310 ausgegeben werden 1) durch den elektronischen Abschnitt des OE-Senders 302 empfangen, 2) in ein Photonensignal umgewandelt (das heißt Licht - gekennzeichnet in den Figuren durch das griechische Symbol Lambda "λ"), und 3) von dem optischen Abschnitt des OE-Senders 302 ausgegeben.
• Ein Problem bei der Konfiguration von Fig. 3 ist, daß die Grenzscanzelle 300 nicht in der Lage ist, die Sicherheitsmerkmale des OE-Senders 302 zu überwachen und zu steuern. Wenn somit die Grenzscanzelle 300 ein logisches Hoch ausgibt, schaltet der Sender 302 EIN (und emittiert Licht), bis ein neuer Test in die Grenzscanzelle 300 geladen und von derselben eingeleitet wird. Da Grenzscanregister Dutzende, Hunderte oder sogar Tausende von Zellen aufweisen können, könnte der OE-Sender 302 für eine lange Zeit EIN bleiben, was zu einem oder zwei negativen Ergebnissen führt. Wenn der Tester unabsichtlich (oder absichtlich) die Überwachungs- und Steuerungs-Funktionen deaktiviert, die den Sender 302 deaktivieren, wenn eine Betriebsbeschränkung überschritten wurde, dann könnte der Sender 302 überschüssiges Licht erzeugen, und das überschüssige Licht könnte zu einer Gefahr für die Augensicherheit von Technikern führen, die in der Nähe des Senders 302 arbeiten. Alternativ, wenn die zuvor genannten Überwachungs- und Steuerungs-Funktionen während des Tests aktiv bleiben, könnte der Sender 302 unabsichtlich vor dem Einleiten des nächsten Tests deaktiviert werden. In diesem letzteren Fall kann der Sender 302 als fehlerhaft beflaggt werden, wenn derselbe tatsächlich intakt ist. Ohne ein Eingeben eines Funktionstestmodus, was das Verbinden einer Schaltungsplatine mit einer unterschiedlichen Testbefestigung und/oder einem unterschiedlichen Tester umfassen kann, könnte es schwierig sein, zu bestimmen, ob der Sender 302 in der Tat fehlerhaft oder nur deaktiviert ist. Wenn der Sender 302 nur deaktiviert ist, kann es dann schwierig sein, die geeignete Rücksetzsequenz zum Aktivieren des Senders 302 von innerhalb einer Testumgebung einzuleiten. Folglich wäre die Implementierung der Grenzscanprinzipien von Fig. 3 bestenfalls problematisch.
• Als nächstes wird die einfachste Weise betrachtet, auf die eine IEEE 1149.1 Grenzscanzelle 400 verwendet werden könnte, um eine Antwort von einem OE-Empfänger 402 (zum Beispiel einem Photodetektor, wie zum Beispiel einer PIN-Diode (einer Diode mit P-Typ und N-Typ Halbleiterregionen, getrennt durch eine "intrinsische" Region, bei der Photonen Elektronenlochpaare erzeugen können); einer Metall- Halbleiter-Metall(MSM - metal-semiconductor-metal)-Diode; oder einer Lawinenphotodiode (APD = avalanche photo diode)) zu erfassen. Siehe Fig. 4. Beispielsweise kann die Grenzscanzelle 400 ähnlich zu der Grenzscanzelle 300 konfiguriert sein, die in Fig. 3 gezeigt ist.
• Das Erfassungs-Flip-Flop 404 der Grenzscanzelle ist mit dem elektrischen Ausgang des OE-Empfängers 402 über einen Eingangsmultiplexer 408 gekoppelt, und das Aktualisierungs- Flip-Flop 406 der Zelle ist mit einem Eingang eines Ausgangsmultiplexers 410 gekoppelt. Der andere Eingang des Ausgangsmultiplexers 410 ist direkt mit dem elektrischen Ausgang des OE-Empfängers gekoppelt. Während eines INTEST- Zyklus gibt der Multiplexer 410 Daten aus, die von der Grenzscanzelle 400 empfangen wurden; und während der normalen Operation einer IC gibt der Multiplexer 410 Daten aus, die von dem OE-Empfänger 402 empfangen wurden.
• Ein Problem bei der Konfiguration von Fig. 4 ist, daß Signale, die durch den OE-Empfänger 402 empfangen wurden, wahrscheinlich in der Form eines Pulses oder mehrerer Pulse sind (weitgehend aufgrund der zuvor genannten Betriebsbeschränkungen der OE-Sender in bezug auf stationäre Leistungsausgabe, etc.). Folglich ist es schwierig, die Erfassung eines Signals zeitlich abzustimmen. Wenn die Grenzscanzelle 400 zu früh oder zu spät eine Datenerfassung versucht, wird keine Ausgabe eines logischen Hochs von dem OE- Empfänger 402 erfaßt, und der Empfänger 402 wird als fehlerhaft beflaggt, wenn derselbe tatsächlich intakt ist. Auf ähnliche Weise, wenn der Erfassungszyklus zu lang ist, und die Grenzscanzelle 400 ein Erfassungs-Flip-Flop 404 verwendet, dann könnte das Flip-Flop 404 während des gleichen Erfassungszyklus eingestellt und gelöscht werden. Folglich wäre die Implementierung der Grenzscanprinzipien von Fig. 4 ebenfalls problematisch.
• Grenzscanimplementierungen, die zum Testen von OE- Vorrichtungen 302, 402 effektiver sind, sind in den Fig. 5 und 10 dargestellt.
• Fig. 5 stellt ein System dar, das einen optoelektronischen Sender 302 und eine Grenzscanzelle 500 aufweist. Der optoelektronische Sender 302 weist einen elektrischen Eingang und einen optischen Ausgang auf. Die Grenzscanzelle 500 weist einen Signalerzeuger 502 auf. Der Signalerzeuger 502 weist wiederum einen Eingang, einen Ausgang und eine bestimmte Logik auf. Der Signalerzeugereingang ist gekoppelt, um Testdaten zu empfangen, die in die Grenzscanzelle 500 geschoben werden, und der Signalerzeugerausgang ist gekoppelt, um konditionierte Testdaten an den elektrischen Eingang des optoelektronischen Senders 302 zu liefern. Die Logik ist zwischen den Eingang und den Ausgang des Signalerzeugers gekoppelt und dient zum Erzeugen der zuvor genannten "konditionierten Testdaten" gemäß 1) den geschobenen Testdaten und 2) mindestens einer Einschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders.
• Die Grenzscanzelle 500, die in Fig. 5 dargestellt ist, kann verschieden konfiguriert sein. Die Grenzscanzelle 500 kann zum Beispiel im allgemeinen als eine Erfassungs-/Aktualisierungs-Zelle konfiguriert sein, die einen Ausgang aufweist, der "schwankt", wobei eine Erfassungs-/Aktualisierungs-Zelle einen verriegelten Ausgang, eine Nur-Aktualisierungs-Zelle etc. aufweist.
• Beispielhaft stellt Fig. 6 ein System dar, bei dem die Grenzscanzelle 500 von Fig. 5 als eine Erfassungs-/Aktualisierungs-Zelle konfiguriert wurde, die einen verriegelten Ausgang aufweist. Die Grenzscanzelle 500 ist ähnlich der, die in Fig. 3 gezeigt ist, insofern, daß dieselbe in Reihe geschaltete Erfassungs-"C" und Aktualisierungs-"U" Flip-Flops 304, 306 sowie ein Paar von Multiplexern 308, 310 aufweist. Die Flip-Flops 304, 306 und die Multiplexer 308, 310 funktionieren ähnlich jenen, die in Fig. 3 gezeigt sind, und empfangen (und sind gesteuert durch) eine Anzahl von Teststeuerungssignalen (zum Beispiel TEST, SHIFT und UPDATE). Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel sind die Teststeuerungssignale Grenzscansignale gemäß IEEE-Norm 1149.1.
• Der Signalerzeuger 502 von Fig. 6 ist zwischen das Aktualisierungs-Flip-Flop 302 der Grenzscanzelle und den Ausgangsmultiplexer 310 gekoppelt. Testdaten, die in das Erfassungs-Flip-Flop 304 der Zelle geschoben werden, werden schließlich in das Aktualisierungs-Flip-Flop 306 der Zelle geladen und eingeführt. Nach dem Einführen treiben die Testdaten das Eingangssignal des Signalerzeugers. Die Logik des Signalerzeugers antwortet dann auf die Testdaten durch Erzeugen von "konditionierten Testdaten". Die konditionierten Testdaten werden dann an den optoelektronischen Sender 302 über den Ausgangsmultiplexer 310 der Zelle ausgegeben.
• Die Signalerzeugerlogik kann verschieden implementiert sein, abhängig von der/den Beschränkungen zum Betreiben des optoelektronischen Senders, unter denen die Logik arbeitet. Wenn die Beschränkungen eine Augensicherheits- und/oder Stationärleistungs-Beschränkung aufweisen, dann kann die Logik einen Signalverlauferzeuger 700 aufweisen. Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist der Signalverlauferzeuger 700 konfiguriert, um rechteckige Signalverläufe zu erzeugen, die verursachen, daß der optoelektronische Sender 302 den zuvor genannten Augensicherheits- und/oder Stationärleistungs-Beschränkungen entspricht. Der Signalverlauferzeuger 700 kann zum Beispiel konfiguriert sein, um rechteckige Signalverläufe einer vorbestimmten Frequenz, eines Frequenzbereichs, einer Zeitdauer und/oder eines Leistungszyklus zu erzeugen, derart, daß die stationäre Leistung des optoelektronischen Senders 302 unter einer gewünschten Schwelle beibehalten wird.
• Die Logik des Signalerzeugers erzeugt konditionierte Testdaten nicht nur ansprechend auf Senderbetriebsbeschränkungen, sondern ferner ansprechend auf die geschobenen Testdaten, die dieselbe empfängt. Wenn die Logik des Signalerzeugers einen Signalverlauferzeuger 700 aufweist, dann sollten zumindest einige der konditionierten Testdaten, die von dem Signalerzeuger 602 ausgegeben werden, gemusterte Signalverläufe (zum Beispiel rechteckige Signalverläufe) aufweisen. Geschobene Testdaten zum Beispiel, die einen ersten logischen Pegel annehmen (zum Beispiel einem logischen Hoch; siehe Fig. 8), könnten verursachen, daß der Signalverlauferzeuger 700 einen Strom von Pulsen 800 erzeugt, die eine Frequenz und einen Arbeitszyklus aufweisen, die durch die Einschränkungen zum Betreiben des optoelektronischen Senders 302 vorgeschrieben werden. Auf ähnliche Weise könnten geschobene Testdaten, die einen zweiten logischen Pegel (zum Beispiel einem logischen Niedrig) annehmen, verursachen, daß der Signalverlauferzeuger 700 die Pulserzeugung beendet (das heißt geschobene Testdaten, die davon ausgehen, daß der zweite logische Pegel den Signalverlauferzeuger deaktivieren könnte).
• Alternativ dazu könnten geschobene Daten, die ein logisches Hoch annehmen verursachen, daß der Signalverlauferzeuger 700 einen Strom von Pulsen 902 erzeugt, die einen ersten Satz von Charakteristika aufweisen (zum Beispiel eine erste Frequenz, Dauer und/oder einen Arbeitszyklus vorgeschrieben durch die Beschränkungen zum Betreiben eines optoelektronischen Senders 302). Geschobene Daten, die ein logisches Niedrig annehmen, könnten dann verursachen, daß der Signalverlauferzeuger 700 einen Strom von Pulsen 900 erzeugt, die einen zweiten Satz von Charakteristika aufweisen (zum Beispiel eine zweite Frequenz, Dauer und/oder einen Arbeitszyklus, der durch die Beschränkungen zum Betreiben des optoelektronischen Senders 302 vorgegeben ist). In dem letzteren Fall könnte eine Antwort, die von dem optoelektronischen Sender 302 erfaßt wird, integriert und/oder decodiert werden, um zu unterscheiden, ob ein logisches Hoch oder ein logisches Niedrig übertragen wurde. Wenn der Sender 302 gezwungen wird, Photonen unter allen Testbedingungen zu erzeugen, wird niemals das Versäumen einer unabsichtlichen Deaktivierung des Senders 302 riskiert.
• Bei einem anderen Ausführungsbeispiel könnte der Signalerzeuger 502 Signale unter Verwendung eines 8b-10b Codierungsprozesses erzeugen, bei dem ein Byte von Testdaten in 10 Bit von Daten codiert wird. Ein derartiges Codieren könnte vorteilhaft sein, zum Beispiel, um die Übertragung von einem "0" Byte von einem nicht funktionsfähigen Treiber zu unterscheiden, etc.
• Wie Fachleuten auf dem Gebiet bekannt ist, könnte der Signalerzeuger 502 ferner andere Signalcodierungsschemata implementieren.
• Fig. 10 stellt ein System dar, das einen optoelektronischen Empfänger 402 und eine Grenzscanzelle 1000 aufweist. Der optoelektronische Empfänger 402 weist einen optischen Eingang und einen elektrischen Ausgang auf. Die Grenzscanzelle 1000 weist einen Signaldetektor 1002 und ein Schieberegisterelement 404 auf. Der Signaldetektor 1002 wiederum weist einen Eingang, einen Ausgang und eine bestimmte Logik auf. Der Signaldetektoreingang ist gekoppelt, um eine Antwort von dem elektrischen Ausgang des optoelektronischen Empfängers 402 zu empfangen, und der Signaldetektorausgang ist gekoppelt, um eine bewertete Antwort an das Schieberegisterelement 404 zu liefern. Die Logik ist zwischen den Eingang und den Ausgang des Signaldetektors gekoppelt und dient dazu, die zuvor genannte "bewertete Antwort" nach dem überwachen des Signaldetektoreingangs über eine gewisse Zeitspanne zu erzeugen.
• Die Grenzscanzelle, die in Fig. 10 dargestellt ist, kann verschieden konfiguriert sein. Die Grenzscanzelle 1000 kann zum Beispiel im allgemeinen als eine Erfassungs-/Aktualisierungs-Zelle mit einem Ausgang konfiguriert sein, der "schwankt", wobei eine Erfassungs-/Aktualisierungs- Zelle einen verriegelten Ausgang, eine Nur-Aktualisierungs- Zelle, etc. aufweist.
• Als Beispiel stellt Fig. 11 ein System dar, bei dem die Grenzscanzelle 1000 von Fig. 10 als eine Erfassungs-/Aktualisierungs-Zelle konfiguriert ist, die einen verriegelten Ausgang aufweist. Die Grenzscanzelle 1000 ist ähnlich der, die in Fig. 4 dargestellt ist, insofern, daß dieselbe in Reihe geschaltete Erfassungs-"C" und Aktualisierungs-"U" Flip-Flops 404, 406 sowie ein Paar von Multiplexern 408, 410 aufweist. Die Flip-Flops 404, 406 und die Multiplexer 408, 410 arbeiten ähnlich jenen, die in Fig. 4 gezeigt sind, und empfangen (und werden gesteuert durch) eine Anzahl von Teststeuerungssignalen (zum Beispiel TEST, SHIFT und UPDATE). Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel sind die Teststeuerungssignale Grenzscansignale gemäß IEEE Norm 1149.1.
• Der Signaldetektor 1002 von Fig. 11 ist zwischen den optoelektronischen Empfänger 402 und den Eingangsmultiplexer 408 der Grenzscanzelle gekoppelt. Der Signaldetektor 1002überwacht die Antwort(en), die an dessen Eingang über eine Zeitspanne empfangen wird/wurden und erzeugt dann eine "bewertete Antwort". Die bewertete Antwort wird dann an das Erfassungs-Flip-Flop 404 der Zelle über den Eingangsmultiplexer 408 ausgegeben.
• Die Signaldetektorlogik kann verschieden implementiert sein, abhängig von dem Typ der Antwort, die von dem optoelektronischen Empfänger 402 erwartet wird. Der Typ von Antwort, die von dem optoelektronischen Empfänger 402 erwartet wird, kann zum Beispiel von dem Typ des Signals abhängen, das durch einen optoelektronischen Sender 302 erzeugt wird, der gekoppelt ist, um Daten an den optoelektronischen Empfänger 402 zu liefern. Der Typ des Signals, das durch einen optoelektronischen Sender 302 erzeugt wird, kann wiederum davon abhängen, ob der Sender 302 konditionierte Testdaten von einem Signalerzeuger 502 empfängt, wie dem, der in den Fig. 5-7 dargestellt ist.
• Bei einem Ausführungsbeispiel (Fig. 12) kann die Signaldetektorlogik einen Integrierer 1200 zum Integrieren einer Antwort aufweisen, die an dem Signaldetektoreingang über eine Zeitspanne hinweg empfangen wird. Der Integrierer 1200 kann zum Beispiel konfiguriert sein, um 1) ein logisches Niedrig auszugeben, wenn eine Antwort eine erste Reihe von Pulsen aufweist, und 2) ein logisches Hoch auszugeben, wenn eine Antwort eine zweite Reihe von Pulsen aufweist. Auf diese Weise kann der Integrierer 1200 verwendet werden, um zwei oder mehr logische Pegel zu unterscheiden, die jeweils als eine Reihe von Pulsen (oder Signalverläufen) codiert sind. Der Integrierer 1200 könnte ferner konfiguriert sein, um 1) ein logisches Niedrig auszugeben, wenn eine Antwort durch eine Integrationsperiode hindurch auf einem logischen Niedrig bleibt, und 2) ein logisches Hoch auszugeben, wenn eine Antwort entweder einen Puls oder eine Reihe von Pulsen aufweist.
• Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann die Signaldetektorlogik einen Setzen-Rücksetzen-Flip-Flop 1300 aufweisen. Der Setzen-Rücksetz-Flip-Flop 1300 kann einen eingestellten (S) Eingang aufweisen, der mit dem Eingang des Signaldetektors gekoppelt ist, und einen Rücksetz- (R) Eingang, der gekoppelt ist, um mindestens ein Teststeuerungssignal zu empfangen (zum Beispiel das gleiche UPDATE-Signal, das durch die Grenzscanzelle 500 empfangen wird, die einen entsprechenden optoelektronischen Sender 302 treibt). Auf diese Weise kann eine Antwort, die aus einem oder mehreren Pulsen aufgebaut ist, die an unbestimmten Zeitpunkten empfangen werden, erfaßt werden. Der Rücksetzeingang dient als ein Löscheingang. Somit kann der Löscheingang am Anfang einer Antwortperiode zugewiesen werden, um den Signaldetektor 1002 zurückzusetzen.
• Die Signaldetektorlogik kann ferner andere Formen von Decodern oder ähnlichem aufweisen, wie durch Fachleute auf dem Gebiet erkannt wird (zum Beispiel könnte die Signaldetektorlogik einen 8b-10b-Decoder aufweisen).
• Es ist denkbar, daß eine Mehrzahl der Grenzscanzellen 500, 1000, die in den Fig. 5 und 10 dargestellt sind, in eine einzelne IC- und/oder PC-Platine aufgenommen sind. Auf diese Weise könnte eine Mehrzahl von gleichen oder unterschiedlichen optoelektronischen Vorrichtungen sowie eine Mehrzahl von gleichen oder unterschiedlichen optoelektronischen Schnittstellen parallel unter Verwendung von Grenzscanverfahren getestet werden.
• Fig. 14 stellt ein Verfahren 1400 zum Testen optoelektronischer Vorrichtungen 302, 402 dar. Das Verfahren weist folgende Schritte auf: 1) Schieben 1402 von Testdaten in eine erste Grenzscanzelle 500 (Fig. 5), 2) Starten 1404 eines Tests von der ersten Grenzscanzelle 500, und 3) Erfassen 1408 einer Antwort auf den Test. Der Test wird von der ersten Grenzscanzelle 500 durch Ausgeben der geschobenen Testdaten an einen Signalerzeuger 502 gestartet 1404. Der Signalerzeuger 502 liefert 1406 dann konditionierte Testdaten, ansprechend auf die geschobenen Testdaten, und mindestens eine Beschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Sender 302, an einen optoelektronischen Sender 302.
• Die Einschränkungen zum Betreiben des optoelektronischen Senders 302 können eine Augensicherheitsbeschränkung aufweisen. Obwohl eine Augensicherheitsbeschränkung auf verschiedene Weisen implementiert sein kann, ist eine Art, auf die eine Augensicherheitsbeschränkung implementiert sein kann, durch Steuern der stationären Leistung eines optoelektronischen Senders 302. Eine Augensicherheitsbeschränkung kann ferner durch Steuern der Gesamtleistung, der abgegebenen Wärme, etc. implementiert sein.
• Beschränkungen zum Betreiben des optoelektronischen Senders 302 können ferner Beschränkungen aufweisen, die sich auf die Wärmeabgabe, aufeinanderfolgende Stunden von Senderverwendung, usw. beziehen.
• Beschränkungen zum Betreiben des optoelektronischen Senders 302 können unterschiedlich verkörpert sein. Beschränkungen können zum Beispiel in einer Hardware, einer Software, einer Firmware oder einer anderen Einrichtung verkörpert sein. Vorzugsweise ist eine Beschränkung jedoch in mindestens einem Algorithmus verkörpert, der in einer Hardware implementiert ist.
• Gemäß den Beschränkungen, unter denen er arbeitet, kann der Signalerzeuger 502 konditionierte Testdaten an den optoelektronischen Sender 302 in einer Anzahl von Formen senden. Bei einer Form weisen einige oder alle konditionierten Testdaten eine Reihe von Pulsen auf. Bei einem Ausführungsbeispiel verursacht das Empfangen des Signalerzeugers von logisch hohen Testdaten zum Beispiel, daß der Signalerzeuger 502 eine Reihe von Pulsen an den Sender 302 liefert, und das Empfangen des Signalerzeugers von logisch niedrigen Testdaten verursacht, daß der Signalerzeuger 502 ein logisches Niedrig an den Sender 302 liefert (siehe zum Beispiel Fig. 8). Bei einem anderen Ausführungsbeispiel verursacht das Empfangen des Signalerzeugers von logisch hohen Testdaten, daß der Signalerzeuger 502 an den Sender 302 eine Reihe von Pulsen mit einem ersten Satz von Charakteristika liefert (zum Beispiel eine erste Frequenz, Dauer und/oder einen ersten Arbeitszyklus), und das Empfangen des Signalerzeugers von logisch niedrigen Testdaten verursacht, daß der Signalerzeuger 502 an den Sender 302 eine Reihe von Pulsen mit einem zweiten Satz von Charakteristika liefert (zum Beispiel eine zweite Frequenz, Dauer und/oder einen zweiten Arbeitszyklus; siehe zum Beispiel Fig. 9).
• Es gibt eine Anzahl von Arten, um eine Antwort auf einen Test zu erfassen. Vorzugsweise sendet der optoelektronische Sender 302 ein Signal an einen optoelektronischen Empfänger 402. Der Empfänger 402 erzeugt dann eine Antwort, die in einem Signaldetektor 1002 empfangen wird. Der Signaldetektor 1002 leitet wiederum die Antwort an ein Schieberegisterelement 404. Der Signaldetektor 1002 ist nicht unbedingt notwendig. Er dient jedoch für eine Vielzahl von nützlichen Zwecken. Der Signaldetektor 1002 kann zum Beispiel eine Antwort empfangen, die über einen Zeitraum empfangen wurde. Wenn diese Antwort "flüchtig" ist, kann der Signaldetektor 1002 über diesen Zeitraum nach der Antwort hören und bewerten, ob eine Antwort tatsächlich empfangen wurde. Wenn die Antwort lang ist (zum Beispiel eine Reihe von Pulsen), dann kann der Signaldetektor 1002 die Antwort vor dem Liefern einer Anzeige der Antwort an das Schieberegisterelement 404 integrieren und bewerten.
• Wenn nötig, kann das oben beschriebene Verfahren das Löschen des Signaldetektors 1002 aufweisen. Dies wird vorzugsweise durchgeführt, wenn ein Test gestartet wird, durch Liefern eines üblichen Teststeuerungssignals (zum Beispiel UPDATE) an sowohl die erste Grenzzelle als auch den Signaldetektor. Wenn die IEEE-Norm 1149.1 befolgt wird, kann das Löschsignal ein Signal sein, das in Synchronisierung mit den Zuständen UPDATE_DR und/oder UPDATE_IR gepulst ist.
• Obwohl der optoelektronische Empfänger 402 direkt mit dem Schieberegisterelement 404 gekoppelt sein könnte, ist das Einfügen eines Signaldetektors 1002 in den meisten Fällen aufgrund der Unfähigkeit notwendig, zeitlich abzustimmen, was eine sehr kurze, sehr lange oder eine gepulste Antwort sein könnte.
• Es sollte darauf hingewiesen werden, daß das Verfahren von Fig. 14 als Teil eines auf Extest-basierten Testens gemäß der IEEE-Norm 1149.1 und somit unter Verwendung standardisierter Testmethoden durchgeführt werden kann.

Claims (25)

1. System, das folgende Merkmale aufweist:

a) einen optoelektronischen Sender (302), der einen elektrischen Eingang und einen optischen Ausgang aufweist; und

b) eine Grenzscanzelle (300), die einen Signalerzeuger (502) aufweist; wobei der Signalerzeuger (502) folgende Merkmale aufweist:

a) einen Eingang, der gekoppelt ist, um Testdaten zu empfangen, die in die Grenzscanzelle (300) geschoben werden;

b) einen Ausgang, der gekoppelt ist, um konditionierte Testdaten an den elektrischen Eingang des optoelektronischen Senders (302) zu liefern; und

c) eine Logik, die zwischen den Signalerzeugereingang und den Signalerzeugerausgang gekoppelt ist, zum Erzeugen der konditionierten Testdaten gemäß den geschobenen Testdaten, und mindestens einer Beschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders (302).

2. System gemäß Anspruch 1, bei dem die Grenzscanzelle (300) Grenzscansignale gemäß IEEE-Norm 11.49.1 empfängt und durch dieselben gesteuert wird.

3. System gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem:

a) die Logik einen Signalverlaufserzeuger zum Erzeugen rechteckiger Signalverläufe aufweist; und

b) mindestens einige der konditionierten Testdaten die rechteckigen Signalverläufe aufweisen.

4. System gemäß Anspruch 3, bei dem:

a) die rechteckigen Signalverläufe einen ersten Satz von Charakteristika aufweisen, wenn die geschobenen Testdaten ein logisches Hoch sind; und

b) die rechteckigen Signalverläufe einen zweiten Satz von Charakteristika aufweisen, wenn die Testdaten ein logisches Niedrig sind.

5. System gemäß Anspruch 3 oder 4, bei dem:

a) die rechteckigen Signalverläufe erzeugt werden, wenn die geschobenen Testdaten einen ersten logischen Pegel annehmen; und

b) der Signalverlauferzeuger deaktiviert wird, wenn die geschobenen Testdaten einen zweiten logischen Pegel annehmen.

6. System gemäß einem der Ansprüche 3 bis 5, bei dem:

a) die Beschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders (302) eine Stationärleistungsbeschränkung ist; und

b) der Signalverlauferzeuger (700) konfiguriert ist, um rechteckige Signalverläufe zu erzeugen, die verursachen, daß der optoelektronische Sender (302) der Stationärleistungsbeschränkung entspricht.

7. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6, bei dem die Beschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders (302) eine Augensicherheitsbeschränkung ist.

8. System, das folgende Merkmale aufweist:

a) einen optoelektronischen Empfänger (402), der einen optischen Eingang und einen elektrischen Ausgang aufweist; und

b) eine Grenzscanzelle (300, 500), die einen Signaldetektor (1002) und ein Schieberegisterelement (404) aufweist, wobei der Signaldetektor (1002) folgende Merkmale aufweist:

a) einen Eingang, der gekoppelt ist, um eine Antwort von dem elektrischen Ausgang des optoelektronischen Empfängers (402) zu empfangen;

b) einen Ausgang, der gekoppelt ist, um eine bewertete Antwort an das Schieberegisterelement (404) zu liefern; und

c) eine Logik, die zwischen den Signaldetektoreingang und den Signaldetektorausgang gekoppelt ist, zum Erzeugen der bewerteten Antwort nach dem Überwachen des Signaldetektoreingangs über einen Zeitraum hinweg.

9. System gemäß Anspruch 8, bei dem die Grenzscanzelle (300, 500) Grenzscansignale gemäß IEEE-Norm 1149.1 empfängt und von denselben gesteuert wird.

10. System gemäß Anspruch 8 oder 9, bei dem die Logik ein Setz-Rücksetz-Flip-Flop aufweist, wobei das Setz- Rücksetz-Flip-Flop folgende Merkmale aufweist:

a) einen Setz-Eingang, der mit dem Signaldetektoreingang gekoppelt ist; und

b) einen Rücksetz-Eingang, der gekoppelt ist, um mindestens ein Teststeuerungssignal zu empfangen.

11. System gemäß einem der Ansprüche 8 bis 10, bei dem der Signaldetektor ferner einen Löscheingang aufweist, der gekoppelt ist, um mindestens ein Teststeuerungssignal zu empfangen.

12. System gemäß einem der Ansprüche 8 bis 11, bei dem die Logik einen Integrierer (1200) zum Integrieren der Antwort über die Zeitspanne hinweg aufweist.

13. System gemäß Anspruch 12, bei dem:

a) der Integrierer (1200) konfiguriert ist, um ein logisches Niedrig auszugeben, wenn die Antwort eine erste Reihe von Pulsen aufweist; und

b) der Integrierer konfiguriert ist, um ein logisches Hoch auszugeben, wenn die Antwort eine zweite Reihe von Pulsen aufweist.

14. Verfahren (1400) zum Testen optoelektronischer Vorrichtungen, das folgende Schritte aufweist:

a) Schieben (1402) von Testdaten in eine erste Grenzscanzelle (300, 500);

b) Starten (1404) eines Tests von der ersten Grenzscanzelle (300, 500) durch Ausgeben der Testdaten an einen Signalerzeuger (502); wobei der Signalerzeuger (502) konditionierte Testdaten an einen optoelektronischen Sender (302) liefert, ansprechend auf:

a) die Testdaten; und

b) mindestens eine Beschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders (302); und

c) Erfassen (1408) einer Antwort auf den Test.

15. Verfahren gemäß Anspruch 14, bei dem mindestens eine Beschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders (302) eine Augensicherheitsbeschränkung des optoelektronischen Senders (302) aufweist.

16. Verfahren gemäß Anspruch 14 oder 15, bei dem die mindestens eine Beschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders (302) eine Beschränkung zum Steuern des Stationärleistungsausgangs des optoelektronischen Senders aufweist.

17. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 14 bis 16, bei dem die mindestens eine Beschränkung zum Betreiben des optoelektronischen Senders (302) in mindestens einem Algorithmus verkörpert ist, der in einer Hardware implementiert ist.

18. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 14 bis 17, bei dem der Signalerzeuger (502) mindestens einige der konditionierten Testdaten an den optoelektronischen Sender (302) als eine Reihe von Pulsen liefert.

19. Verfahren gemäß Anspruch 18, bei dem der Signalerzeuger (502):

a) die konditionierten Testdaten an den optoelektronischen Sender (302) als eine Reihe von Pulsen sendet, die einen ersten Satz von Charakteristika aufweisen, wenn die Testdaten ein logisches Hoch sind; und

b) die konditionierten Testdaten an den optoelektronischen Sender (302) als eine Reihe von Pulsen sendet, die einen zweiten Satz von Charakteristika aufweist, wenn die Testdaten ein logisches Niedrig sind.

20. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 14 bis 19, bei dem der Signalerzeuger (502):

a) die konditionierten Testdaten an den optoelektronischen Sender (302) als eine Reihe von Pulsen sendet, wenn die Testdaten ein logisches Hoch sind; und

b) ein logisches Niedrig an den optoelektronischen Sender (302) liefert, wenn die Testdaten ein logisches Niedrig sind.

21. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 14 bis 20, bei dem das Erfassen der Antwort das Erfassen der Antwort an einer zweiten Grenzscanzelle aufweist.

22. Verfahren gemäß Anspruch 21, bei dem das Erfassen der Antwort an einer zweiten Grenzscanzelle das Integrieren einer Antwort über eine Zeitspanne hinweg aufweist, die von einem elektrischen Ausgang eines optoelektronischen Empfängers (402) empfangen wurde.

23. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 14 bis 22, bei dem:

a) das Erfassen (1408) der Antwort das Empfangen der Antwort in einem Signaldetektor (1002) aufweist; und

b) das Verfahren ferner das Löschen des Signaldetektors (1002) aufweist, wenn der Test gestartet wird.

24. Verfahren gemäß Anspruch 23, bei dem das Starten des Tests und das Löschen des Signaldetektors (1002) zumindest teilweise durch Liefern eines gewöhnlichen Teststeuerungssignals an die erste Grenzscanzelle und den Signaldetektor (502) durchgeführt werden.

25. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 14 bis 24, bei dem das Verfahren als Teil des auf EXTEST-basierten Testens gemäß IEEE-Norm 1149.1 durchgeführt wird.