DE10231954B4 - Schaltungsbaustein mit Zeitsteuerung - Google Patents
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Abstract
Schaltungsbaustein
(10) mit folgenden Merkmalen:
einem Eingang zum Empfangen eines externen Takts (12) mit einer Taktperiodendauer;
einer Einrichtung (22), um dem Schaltungsbaustein (10) Informationen, die die Taktperiodendauer des externen Takts darstellen, bereitzustellen und
einer Einrichtung (26) zum zeitlichen Steuern zumindest eines Signals in dem Schaltungsbaustein (10) basierend auf den die Taktperiodendauer darstellenden Informationen,
wobei die Einrichtung (26) zum zeitlichen Steuern des zumindest einen Signals aus den die Taktperiodendauer darstellenden Informationen und Sollzeitinformationen eine Anzahl von Taktzyklen oder Bruchteilen von Taktzyklen des externen Takts (12) ermittelt, um die ein Eingangssignal verzögert werden soll, um das zumindest eine Signal zeitlich zu steuern.
einem Eingang zum Empfangen eines externen Takts (12) mit einer Taktperiodendauer;
einer Einrichtung (22), um dem Schaltungsbaustein (10) Informationen, die die Taktperiodendauer des externen Takts darstellen, bereitzustellen und
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Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Schaltungsbaustein mit Zeitsteuerung, und insbesondere einen solchen Schaltungsbaustein, der einen externen Takt mit einer Taktfrequenz und einer zugeordneten Taktperiodendauer empfängt. Insbesondere ist die vorliegende Erfindung vorteilhaft auf dem Gebiet von Speicherbausteinen, beispielsweise DRAM-Bausteinen (DRAM = Dynamic Random Access Memory), verwendbar.
- Heutige DRAM-Speicherbausteine enthalten mehrere Chip-interne Zeitgeber (Timer), d.h. On-Chip-Zeitgeber, die unterschiedliche auf dem DRAM-Baustein ablaufende Prozesse steuern. Jeder dieser Zeitgeber ist mit Ungenauigkeiten, Chipflächenverbrauch und einer Standby-Leistung behaftet. Da heutige DRAM-Speicherbausteine spezifiziert sind, um in einem großen Frequenzbereich zu arbeiten, beispielsweise von 83 MHz bis 167 MHz, kann der dem Speicherbaustein von außen zugeführte Takt nicht als eine Zeitbasis für die Steuerung interner Abläufe verwendet werden. Insbesondere kann dabei der externe Takt nicht zur Ermittlung bestimmter Zeitperioden verwendet werden, die auf dem DRAM-Baustein selbst gesteuert werden müssen, beispielsweise der Zeit tRAS, die die Zeit darstellt, die zwischen dem Zeitpunkt einer Aktivierung einer Zeile (Wortleitung) und dem Zeitpunkt, zu dem diese Zeile vorgeladen (Precharged) (geschlossen) werden darf, darstellt. Ein anderes Beispiel ist die Zeit zwischen dem Zeitpunkt, zu dem Daten geschrieben werden, auf eine offene Zeile, und dem Zeitpunkt, zu dem diese Zeile geschlossen werden soll, wobei diese Zeit als tWR bezeichnet wird.
- Herkömmliche DRAM-Bausteine enthalten in der Regel Chipinterne analoge Zeitgeberschaltungen, um die notwendigen Verzögerungen, beispielsweise tRAS oder tWR, zu erzeugen. Wie oben ausgeführt wurde, dürfen diese Zeitgeber den von extern bereitgestellten Takt nicht als Zeitbasis verwenden, da die DRAM-Bausteine bei unterschiedlichen Taktfrequenzen verwendbar sein sollen.
- Alternative Lösungsansätze haben sich als unzweckmäßig erwiesen. Solche umfassen beispielsweise die Hinzufügung einer Bitleitungs-Überwachungseinrichtung, um die Zurücksetzspannungen zu überwachen und benötigen zu viel Chipfläche. Das Hinzufügen einer Dummy-Bitleitung als Referenz wiederum liefert einen hohen Leistungsverbrauch. Ferner ist die Erzeugung einer Verzögerung, die exakt eine notwendige Spezifikation erfüllt, zu schwierig zu implementieren.
- Vorgeschlagen sind auch Register, die es der Speichersteuerung erlauben, exakt die Anzahl von Taktzyklen anzugeben, die bei der momentanen Betriebsfrequenz beispielsweise tRAS oder tWR genügen. Dieser Ansatz benötigt pro Timer ein Register und ist damit unbrauchbar, um alle Timer zu steuern. Auch müssen bei diesem Ansatz alle Timer extern spezifiziert werden, was nicht möglich ist, da nicht alle Speicherbausteine, die z.B. einem Standard genügen, notwendigerweise die gleiche Timerstruktur verwenden.
- Daher verwenden heutige DRAM-Speicherbausteine bzw. Speicherchips unabhängige analoge Verzögerungsglieder, um die obigen Verzögerungszeiten, beispielsweise tRAS und tWR, zu realisieren.
- Aus der
US 5,751,655 A ist ein Speicher bekannt, der einen Zähler aufweist, der ein Taktsignal zählt, sowie eine Schaltung zum Erzeugen eines internen Betriebszeitgebungs-Steuersignals gemäß dem Zählwert des Zählers. Eine Aktivierung/Inaktivierung des internen Betriebs-Steuersignals geschieht in Synchronisation mit dem Taktsignal. - Aus der
DE 43 07 564 A1 ist eine Speichersteuerung zum Steuern des Zugriffs auf einen Speicher bekannt, der eine Schal tung zum Erzeugen von Speichersignalen mit Adress- und Steuersignalen für den Zugriff auf den Speicher in Reaktion auf eine physikalische Adresse und eine Schaltung zum Programmieren des Zeitverhaltens der Speichersignale in Reaktion auf vorbestimmte Zeitgabesteuerinformationen, welche zeitliche Anforderungen des Speichers festlegen. Die Schaltung zum Programmieren des Zeitverhaltens des Speichers umfasst vorzugsweise ein Register zum Speichern von Zeitgabesteuerbits sowie Auswahlschaltungen, die auf die Zeitgabesteuerbits ansprechen, um Zeitgabesteuerparameter von einer Gruppe von vorbestimmten Zeitgabesteuerparametern auszuwählen. - Die
US 6,154,821 A befasst sich mit einem dynamischen Direktzugriffsspeicher, bei dem die Ansprechzeit jedes einer Mehrzahl von DRAM-Elementen, die mit einem Bus gekoppelt sind, bestimmt wird, wobei unter Verwendung der längsten Ansprechzeit eine Verzögerung für jedes der DRAM-Elemente, die mit dem Bus gekoppelt sind, berechnet wird, so dass die Ansprechzeit, in Taktzyklen, von jedem der DRAM-Elemente der längsten Ansprechzeit gleicht. - Aus der
DE 37 22 169 A1 ist ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Anpassung eines Mehrbetriebsarten-Monitors an einen Personal-Computer bekannt. Dabei werden zur Erleichterung der Anpassung Betriebswerte für die Horizontal- und Vertikalfrequenz sowie für die Horizontal- und Vertikalamplitude Horizontal- und Vertikallage mehrerer häufig wiederkehrender Betriebsarten gespeichert. Aus den Signalen des Personal-Computers werden mittels einer Auswerteschaltung die Horizontal- und Vertikalsynchronsignale ausgewertet, daraus die Betriebsart ermittelt und die entsprechenden Speicherplätze adressiert. Die den Betriebswerten entsprechenden gespeicherten Werte werden dann an Horizontal- und Vertikalablenkstufen des Monitors übermittelt. - Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, einen Schaltungsbaustei mit einer Vorrichtung zur zeitlichen Steuerung zumindest eines Signals zu schaffen, die einen Kompromiß zwischen Leistungsverbrauch und Genauigkeit ermöglicht.
- Diese Aufgabe wird durch einen Schaltungsbaustein nach Anspruch 1 gelöst.
- Die vorliegende Erfindung nutzt die Kenntnis der Taktperiode bzw. der Frequenz eines an einen Schaltungsbaustein von extern angelegten Taktsignals, um zumindest ein Signal in dem Schaltungsbaustein basierend darauf exakt zu steuern. Zu diesem Zweck werden die Taktperiodendauer eines externen Taktsignals anzeigende Daten vorzugsweise in einem Speicher auf dem Schaltungsbaustein, vorzugsweise einem Register, abgelegt. Ferner sind auf dem Schaltungsbaustein vorzugsweise Sollzeitinformationen gespeichert bzw. fest programmiert, die beispielsweise die Spezifikation einer vorbestimmten Verzögerung darstellen. Ein Zeitglied verwendet nun die gespeicherten Taktfrequenzinformationen und die Sollzeitinformationen, um zu ermitteln, um wie viele Taktzyklen bzw. Bruchteile von Taktzyklen des externen Taktsignals das zu steuernde Signal zu verzögern ist, um eine durch die Sollzeitinformationen vorgegebene Spezifikation einzuhalten, und um die Verzögerung eines Verzögerungsglieds entsprechend der ermittelten Taktzyklen bzw. Bruchteile von Taktzyklen einzustellen.
- Basierend auf den erfindungsgemäß dem Schaltungsbaustein zur Verfügung stehenden Taktfrequenzinformationen, dem extern zugeführten Taktsignal und optional auf dem Schaltungsbaustein zur Verfügung stehenden Sollzeitinformationen können in vorteilhafter Weise sämtliche auf dem Schaltungsbaustein verwendeten Signale zeitlich gesteuert werden. Diese Steuerung kann neben der oben genannten Spezifizierung von Verzögerungszeiten das Steuern jeweiliger Auftrittszeitpunkte von Steuersignalen allgemein, die Dauer derselben und dergleichen umfassen.
- Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen stellt der erfindungsgemäße Schaltungsbaustein einen Speicherbaustein, beispielsweise einen DRAM-Baustein, dar. Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen enthält der DRAM-Baustein ein Register, in das ein Wert geschrieben wird, der die Taktfrequenz und somit die Taktperiode eines externen Taktsignals, das dem Speicherbaustein zugeführt wird, darstellt. Dieser Wert kann unter Verwendung einer Chip-externen oder einer Chip-internen Steuerung in das Register geschrieben werden. Nach dem Ablegen des Werts kann der Speicherbaustein die jeweils notwendige Anzahl von Taktzyklen, um Zeitpunkte, Zeitdauern oder Verzögerungszeiten, die für interne Operationen erforderlich sind und Spezifikationen erfüllen, zu erhalten, berechnen. Ferner kann die Kenntnis der Taktfrequenz und somit der Taktperiode verwendet werden, um eine Verzögerungskomponente des Speicherbausteins, beispielsweise des DRAM-Bausteins zu kalibrieren. Um durch ein Runden bedingte Ungenauigkeiten zu verringern, kann der Speicherbaustein eine Verzögerungsregelschleife oder eine Phasenregelschleife verwenden, um die Taktperiode in kleinere Zeitabschnitte zu unterteilen.
- Weiterbildungen der vorliegenden Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen dargelegt.
- Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindungen werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
-
1 eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispieles eines erfindungsgemäßen Schaltungsbausteins; -
2 eine Tabelle zur Veranschaulichung der vorliegenden Erfindung; -
3 eine schematische Darstellung einer erfindungsgemäß verwendbaren Phasenregelschleife; und -
4 eine schematische Darstellung einer erfindungsgemäß verwendbaren Verzögerungsregelschleife. - In
1 ist ein Speicherbaustein10 , beispielsweise ein DRAM-Baustein, gezeigt. Noch spezieller kann es sich bei dem Speicherbaustein10 um einen DDR-SDRAM-Baustein (DDR SDRAM = Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory) handeln. - Der Speicherbaustein
10 empfängt ein Taktsignal12 von einem Taktgenerator14 . Das Taktsignal stellt ein externes Taktsignal dar und besitzt eine bestimmte Taktfrequenz. Typische Taktfrequenzen liegen in einem Bereich zwischen 83 MHz und 167 MHz. Der Taktgenerator14 liefert das Taktsignal12 ferner zu einer externen Steuerung16 . Die Steuerung16 ist über einen Signalbus18 , der üblicherweise als CMD-Bus bezeichnet wird, mit dem Speicherbaustein10 verbunden. Der Speicherbaustein10 kann ein Speichermodul mit einer Mehrzahl von Speicherchips auf demselben oder ein einzelner Speicherchip sein. - Die Steuerung
16 kommuniziert über den Signalbus18 mit dem Speicherbaustein10 , um Steuersignale und Datensignale zu dem Speicherbaustein10 zu übermitteln und von demselben zu empfangen. - Der bisher oben beschriebene Aufbau von Speicherbaustein
10 , Taktgenerator14 und Steuerung16 entspricht insofern einem herkömmlichen Aufbau. - Der erfindungsgemäße Speicherbaustein unterscheidet sich jedoch von herkömmlichen Speicherbausteinen hinsichtlich einer Zeitsteuerung
20 zum zeitlichen Steuern von in dem Speicherbaustein auftretenden Signalen, bei. dem gezeigten Beispiel zum Verzögern eines Aktivierungssignals ACT, um daraus das interne Vorladungssignal PRE zu erzeugen. Das Aktivierungssignal ACT wird dem Speicherbaustein10 von extern, in der Regel von der Speichersteuerung16 über den CMD-Bus18 zugeführt. - Die Zeitsteuerung
20 umfasst einen Speicherbereich bzw. ein Register22 , in dem die Periodendauer tCK des externen Takts12 abgelegt ist. Ferner ist ein Speicherbereich24 vorgesehen, in dem eine Sollverzögerungszeit tRAS abgelegt ist, um die das Aktivierungssignal ACT verzögert werden muß, bevor dasselbe als Vorladungssignal PRE ausgegeben bzw. durchgelassen werden darf, um der Spezifikation des Speicherbausteins10 zu genügen. - Die Zeitsteuerung
20 umfasst ferner ein Zeitglied26 , das die abgelegte Periodendauer tCK und die Sollverzögerungszeit kombiniert, um zu ermitteln, um wie viele Taktzyklen bzw. Bruchteile von Taktzyklen des externen Taktsignals12 das Aktivierungssignal ACT zu verzögern ist, um eine Verzögerungszeit zu erhalten, die zumindest tRAS entspricht. Zu diesem Zweck enthält das Zeitglied im einfachsten Fall eine entsprechende Kominationsschaltung, die die Periodendauer tCK und die Sollverzögerungszeit tRAS kombiniert, um zu ermitteln, wie viele Taktzyklen des externen Taktsignals erforderlich sind, um die Sollverzögerungszeit zu realisieren, und ein Verzögerungsglied bzw. einen digitalen Timer, der von der Kombinationsschaltung gesteuert wird, um das Aktivierungssignal um die entsprechende Anzahl von Taktzyklen des externen Taktsignals, das dem Verzögerungsglied zugeführt wird, zu verzögern und nach dieser Verzögerung als Vorladungssignal PRE auszugeben bzw. durchzulassen. - Daten, die die Periodendauer des externen Taktsignals
12 darstellen, werden vor dem Durchführen eigentlicher Speicheroperationen dem Speicherbaustein10 durch die Speichersteuerung mitgeteilt und in dem Taktperiodendauerregister22 abgelegt. Ein Beispiel, wie diese Daten aufgebaut sein können, wird nachfolgend bezugnehmend auf2 näher erläutert. - Im Betrieb kennt somit der Speicherbaustein
10 die Taktperiode des extern angelegten Taktsignals12 aus den im Register22 gespeicherten Daten, so dass das Zeitglied26 mit einfacher kombinatorischer Logik realisiert werden kann. Aus den im Periodendauerregister22 abgelegten Daten und den Zeitinformationen aus der Speichereinrichtung26 für tRAS bekannten Zeitinformationen wird die Anzahl von für tRAS notwendigen Taktperioden ermittelt, um ein Verzögerungsglied zu steuern, und um diese ermittelte Anzahl von Taktperioden zu warten, bevor das Aktivierungssignal ACT als das Vorladungssignal PRE durchgelassen wird. Somit steuert das Zeitglied26 die Ausgabe des Signals PRE basierend auf den die Taktperiode darstellenden, im Periodendauerregister22 gespeicherten Informationen. - Hinsichtlich der Ermittlung der Ableitung der Anzahl von Taktperioden für tRAS sei auf die in
2 gezeigte Tabelle verwiesen. Die erste Spalte der Tabelle stellt die Taktfrequenz fCK des Taktsignals12 dar, wobei fCK = 1/tCK, während die zweite Spalte der Tabelle einen Multiplikationsfaktor, durch den sich die in der jeweiligen Zeile angegebene Taktfrequenz fCK aus der Taktfrequenz von 118,00 MHz ergibt, darstellt. - In der dritten Spalte der Tabelle sind die in dem Taktperiodendauerregister
22 abgelegten Daten MRS aufgeführt, wobei im vorliegenden Falle ein Fünf-Bit-Register verwendet ist, so daß MRS zweiunddreißig unterschiedliche Werte anzeigen kann. Ein Wert von 0 (in der Tabelle nicht gezeigt) steht beispielsweise dafür, daß keine gültige Taktfrequenzangabe bzw. Taktperiodendauerangabe von der Steuerung erhalten wurde. Ein Wert von 1 steht für eine externe Taktfrequenz fCK zwischen 118 MHz und 123,90 MHz, während ein Wert von 20 für eine externe Taktfrequenz fCK zwischen 298,18 MHz und 313,09 MHz steht. Somit ist der Frequenzbereich von 118 MHz bis 509,99 MHz in einunddreißig Bereiche quantisiert, wobei die Größe der Bereiche mit zunehmender Frequenz zunimmt. - In der vierten Spalte der in
2 gezeigten Tabelle ist jeweils die zugeordnete Periodendauer tCK in ns dargestellt. In der darauffolgenden fünften Spalte ist aufgeführt, wie viele Taktperioden notwendig sind, um eine Verzögerungsdauer tRAS von 34 ns zu realisieren. Die darauffolgenden beiden Spalten geben in dem betrachteten Bereich die minimale bzw. maximale tatsächliche Zeit für tRAS aufgrund der verwendeten Anzahl von Periodendauern an. Beispielsweise ergibt sich in dem Bereich von 118,00 MHz bis 123,90 MHz eine minimale tatsächliche Zeit für tRAS von 40,4 ns und eine maximale tatsächliche Zeit von 42,4 ns. In der darauffolgenden achten Spalte ist jeweils der maximale Fehler in ns angegeben, der sich aus der Differenz von tatsächlicher maximaler Zeit tRAS zum minimalen idealen Wert, im vorliegenden Fall 34 ns, ergibt. - In der Spalte FBsp sind Beispiele von bei tatsächlichen Speicherimplementierungen verwendeten Frequenzen aufgeführt, wobei die nachfolgende Spalte mit der Überschrift Bezeichn. die hierfür verwendeten geläufigen Bezeichnungen angibt. Ferner sind in den letzten beiden Spalten der Tabelle zum einen die Periodendauern TBsp und die erfindungsgemäß erhaltene nominelle Zeit tRAS für die sechs Beispiele angegeben.
- Die Genauigkeit des erfindungsgemäß abgeleiteten tatsächlichen Werts von tRAS hängt zum einen von der Anzahl von Bits des Taktperiodendauerregisters und zum anderen von der Größe der Taktperiode selbst ab. Je größer die Anzahl von Bits des Taktperiodendauerregisters ist, desto kleiner können die jeweiligen Frequenzbereiche sein, denen jeweils ein Eintrag in dem Register zugeordnet ist, so daß entsprechend der Fehler des tatsächlichen Werts von tRAS gegenüber dem minimalen optimalen Wert desselben abnimmt. Mit zunehmender Größe der Taktperiode steigt die Genauigkeit des erfindungsgemäß verwendeten Verfahrens, da dadurch der Rundungsfehler abnimmt, wie deutlich den in der achten Spalte der Tabelle in
2 aufgeführten Fehlerwerten zu entnehmen ist. - Der jeweilige tatsächliche Wert von tRAS hängt von der Charakteristik des Speicherbausteins ab. Die in
2 dargestellten tatsächlich realisierten Werte von tRAS werden für den Fall erhalten, daß nur ganze Taktperioden verwendet sind. - Die Genauigkeit kann erhöht werden, indem dem Taktperiodendauerregister
22 zusätzliche Bits hinzugefügt werden. - Alternativ kann die Genauigkeit erhöht werden, indem das Zeitglied
26 , das erfindungsgemäß vorzugsweise digital implementiert ist, mit einer Zeitunterteilungseinrichtung ausgestattet wird. - Beispielsweise kann eine Zeitunterteilung durch eine Phasenregelschleife (PLL) erreicht werden, durch die der externe Takt
12 vervielfacht wird, um so eine feinere Zeitbasis zu generieren. Beispielsweise kann eine PLL30 aus dem externen Takt12 einen schnelleren Takt32 erzeugen, wie in3 gezeigt ist, um einen Takt mit einer geteilten Taktperiode zu erzeugen. Das Zeitglied26 verzögert dann nicht um ganze Vielfache der externen Taktperiode, sondern um ganze Vielfache der geteilten externen Taktperiode. Die Taktfrequenz des schnellen Takts32 kann beispielsweise der achtfachen Taktfrequenz des externen Taktsignals12 entsprechen, so dass durch diese interne Erzeugung eines mehrfachen der externen Taktfrequenz die Genauigkeit der Zeitsteuerung20 deutlich erhöht werden kann, so daß der auftretende Fehler entsprechend verringert wird. - Ähnliches kann erreicht werden, wenn eine Verzögerungsregelschleife (DLL) bestehend aus vielen Einheitsverzögerungselementen bzw. Referenzverzögerungselementen vorgesehen wird. Mit Hilfe der DLL kann die Produktions- und Betriebsparameter-bedingt streuende Verzögerung eines Einheitsverzögerungselements
40 (4 ) mit der Taktperiode des externen Taktsignals verglichen werden. Wird nun das Verzögerungsglied des Zeitglieds26 aus Kopien dieser Einheitsverzögerungselemente aufgebaut, kann das Zeitglied die Anzahl der Einheitselemente40 ermitteln, die aktiviert werden muß, um die gewünschte Verzögerung einzustellen, um den Sollzeitspezifikationen zu genügen. - Der bei einer solchen PLL durchgeführte Vergleich einer Reihe von Referenzverzögerungen mit der Taktperiode hat unter Kenntnis der Taktperiode eine sehr genaue Schrittgröße für die Zeitsteuerung
20 zur Folge. Wenn die tatsächliche Zeitsteuerung die gleichen Verzögerungselemente aufweist, kann die Anzahl von erforderlichen Elementen für eine gegebene Operation, d.h. beispielsweise eine gegebene Verzögerungszeit tRAS, einfach berechnet werden. Somit können die Rundungsfehler auf einen Bruchteil von ns reduziert werden. - Im Rahmen der obigen Beschreibung wurde die Anwendung der vorliegenden Erfindung zur Ermittlung der Zeit tRAS beschrieben, wobei tRAS die Zeit vom Zeitpunkt der Aktivierung einer Zeile zu dem Zeitpunkt, zu dem diese Zeile vorgeladen werden kann, ist. Wenn ein schnelles Autovorladungs-Merkmal („Fast Autoprecharge" oder „RAS lockout feature") aktiviert ist, kann ein Read_AP-Befehl an den Speicherbaustein erteilt werden, bevor die Zeit tRAS abgelaufen ist. In diesem Fall ist es Aufgabe des Speicherbausteins, die richtige Zeit zu finden, um die Zeile automatisch vorzuladen, wobei diese Zeit innerhalb der Spezifikation sein muß und ferner ermöglichen muß, daß die Zelleninformationen vollständig wiederhergestellt werden. Diese richtige Zeit kann erfindungsgemäß durch das Zeitglied
26 entsprechend der Spezifikation des Speicher bausteins (gespeichert in dem Sollwertspeicher24 ) und dem Wissen der externen Taktfrequenz (abgelegt im Taktperiodendauerregister 20) ermittelt werden. - Zusammenfassend bestimmt bei der oben beschriebenen Implementierung die Steuerung
16 die Zahl (1 bis 31 bei der Tabelle von2 ), die die Taktperiode (und damit auch Taktfrequenz) des verwendeten Taktsignals12 , mit dem der Speicherbaustein tatsächlich getrieben wird, darstellt. Diese Zahl wird über den Befehls-Bus zu dem DRAM-Speicherbaustein10 übermittelt, wo sie, wie oben ausgeführt, in dem Periodendauerregister, das ein Feld eines Modus-Registers sein kann, gespeichert wird. Nachfolgend ermittelt der Speicherbaustein aus der in dem Modus-Register abgelegten Zahl und jeweiligen internen Zeiten, beispielsweise tRAS, eine Anzahl von Taktperioden bzw. aus den Taktperioden ermittelten Teiltaktperioden bei Verwendung einer DLL oder PLL, um basierend darauf ein vorzugsweise digitales Verzögerungsglied zu steuern. - Das oben bezüglich der Zeit tRAS beschriebene Prinzip kann für die Steuerung beliebiger Signale in dem Schaltungsbaustein bzw. Speicherbaustein verwendet werden.
- Beispielsweise kann das Prinzip verwendet werden, um tWR, d.h. die Zeit, die verstreichen muß, bevor nach einem Schreiben eine Zeile geschlossen werden darf, zu ermitteln. Üblicherweise wird ein Lese- oder Schreib-Befehl mit „Autovorladen" von einem DRAM-Baustein empfangen, wobei der Baustein ein internes Vorladen um die Zeit tWR nach dem Lese/Schreib-Befehl ausführt. Diese Zeit tWR kann wiederum entsprechend den obigen Ausführungen durch die Ermittlung einer zugeordneten Anzahl von Taktperioden unter Kenntnis der im Taktfrequenzregister 20 abgelegten Periodendauer ermittelt werden.
- Weiterhin kann die vorliegende Erfindung vorteilhaft beim Selbstauffrischen („selfrefresh") verwendet werden. Beispielsweise muß ein DRAM jeweils innerhalb vorbestimmter In tervalle einen Autorefresh-Befehl ausführen, um eine Auffrischung durchzuführen. Im normalen Betrieb muss die Speichersteuerung bzw. der Speichercontroller diesen Autorefresh-Befehl extern dem Speicher bereitstellen. Ein typisches Intervall zum Durchführen eines solchen Auffrischens ist 7,8 μs. Im Selbstauffrischungsmodus muß der DRAM-Speicher intern alle 7,8 μs einen internen Autorefresh-Befehl erzeugen. Der Selbstauffrischungsmodus wird nach dem Empfang eines SRF-Befehls von der Steuerung aktiviert, wobei anschließend der externe Takt abgeschaltet werden kann. Bisher wurde ein entsprechender Autorefresh-Befehl unter Verwendung eines analogen Zeitgebers alle 7,8 μs erzeugt. Erfindungsgemäß kalibriert der Speicherbaustein einen analogen Zeitgeber mit dem Wissen der Taktperiode, die in dem Taktperiodendauerregister abgelegt ist. Somit kann die jeweilige Zeit für den Autorefresh-Befehl, d.h. tREFRESH genauer ermittelt werden. Die Erfindung kann ferner verwendet werden, um die Zeitpunkte für ein gestaffeltes Auffrischen mehrerer unabhängiger Speicherbänke mit einem Autorefresh-Kommando zu steuern. So können Auffrisch-Stromspitzen reduziert werden und das interne Spannungsgeneratorsystem kann kleiner dimensioniert werden, was Ruhestrom und Chipfläche einspart.
- Neben den oben beschriebenen Beispielen tRAS, tWR, tREFRESH und tRFC kann die vorliegende Erfindung verwendet werden, um beliebige interne Signale in einem Schaltungsbaustein und insbesondere in einem Speicherbaustein, zu steuern.
- Neben dem oben beschriebenen Register zum Ablegen der Taktfrequenzinformationen bzw. Taktperiodeninformationen können die entsprechenden Informationen auch auf andere Weise auf dem Schaltungsbaustein zur Verfügung gestellt werden. Beispielsweise ist es möglich, die gewünschte Zeit (z.B. tRAS) im Herstellungsprozess mit Laserfuses oder eine andere nichtflüchtige Speichermethode zu programmieren. Dabei können bei der Herstellung in einem letzten Prozeßschritt bis dahin i dentisch hergestellte Speicherbausteine für verschiedene Geschwindigkeitsklassen eingestellt werden.
- Weiterhin ist es möglich, ein weiteres Register bereitzustellen, in welches die Speichersteuerung die Geschwindigkeitsklasseninformationen schreibt. So können mit wenigen Registern mehrere bzw. alle Timer, d.h. Zeitglieder, eines Speicherbausteins verlangsamt oder beschleunigt werden, indem Verzögerungsglieder derselben basierend auf der gewählten Geschwindigkeitsklasseninformationen und dem tatsächlich verwendeten externen Takt gesteuert werden.
- Auf bereits existierenden Speichermodulen (DIMMs) befindet sich ein EEPROM, in welchen verschiedene Zeitkonstanten, die für ein DRAM charakteristisch sind und die vom Hersteller garantiert werden, abgelegt sind. Dieser EEPROM wird vom Hersteller nach dem Endtest beschrieben. In heutigen Systemen hat jedoch der Speicherchip bzw. Speicherbaustein keine Kenntnis vom Inhalt dieses EEPROMs. Das oben genannte Register würde der Speichersteuerung die Möglichkeit bieten, die aus dem EEPROM gelesenen Werte, beispielsweise die Geschwindigkeitsklasse, dem Speicherchip mitzuteilen, indem sie in dieses Register geschrieben werden. Der Speicherchip kann dann mit diesen Informationen die internen Zeitglieder bzw. Timer adäquat einstellen.
-
- 10
- Speicherbaustein
- 12
- Taktsignal
- 14
- Taktgenerator
- 16
- Speichersteuerung
- 18
- Signalbus
- 20
- Zeitsteuerung
- 22
- Taktperiodendauerspeicher
- 24
- Sollverzögerungszeitspeicher
- 26
- Zeitglied
- 30
- PLL
- 32
- schnelleres Taktsignal
- 40
- Referenzverzögerungselemente
Claims (7)
- Schaltungsbaustein (
10 ) mit folgenden Merkmalen: einem Eingang zum Empfangen eines externen Takts (12 ) mit einer Taktperiodendauer; einer Einrichtung (22 ), um dem Schaltungsbaustein (10 ) Informationen, die die Taktperiodendauer des externen Takts darstellen, bereitzustellen und einer Einrichtung (26 ) zum zeitlichen Steuern zumindest eines Signals in dem Schaltungsbaustein (10 ) basierend auf den die Taktperiodendauer darstellenden Informationen, wobei die Einrichtung (26 ) zum zeitlichen Steuern des zumindest einen Signals aus den die Taktperiodendauer darstellenden Informationen und Sollzeitinformationen eine Anzahl von Taktzyklen oder Bruchteilen von Taktzyklen des externen Takts (12 ) ermittelt, um die ein Eingangssignal verzögert werden soll, um das zumindest eine Signal zeitlich zu steuern. - Schaltungsbaustein nach Anspruch 1, bei dem die Einrichtung (
22 ) zum Bereitstellen der die Taktperiodendauer des externen Takts (12 ) darstellenden Informationen einen Speicher zum Speichern von Daten umfaßt, die eine einer Taktfrequenz zugeordnete Taktperiode darstellen. - Schaltungsbaustein nach Anspruch 2, bei dem der Speicher ein Register mit einer gegebenen Anzahl von Datenbits umfaßt.
- Schaltungsbaustein nach einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem die Einrichtung (
26 ) zum zeitlichen Steuern des zumindest einen Signals eine Phasenregelschleife (30 ) aufweist, zum Erzeugen eines mehrfachen der externen Taktfrequenz in dem Schaltungsbaustein (10 ). - Schaltungsbaustein nach einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem die Einrichtung (
26 ) zum zeitlichen Steuern des zumindest einen Signals eine Verzögerungsregelschleife (DLL) aufweist, zum Einstellen einer Verzögerung basierend auf den bereitgestellten Taktfrequenzinformationen. - Schaltungsbaustein nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei der Schaltungsbaustein (
10 ) ein Speicherbaustein ist. - Schaltungsbaustein nach Anspruch 6, bei dem das Signal (
32 ) ein Vorladungssignal und/oder ein Auffrischungssignal ist.
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