[go: up one dir, main page]

DE10216909C1 - Transistor voltage level converter circuit for memory decoding circuits has input and output lines and outputs voltage level lower than low state and voltage level higher than high state - Google Patents

Transistor voltage level converter circuit for memory decoding circuits has input and output lines and outputs voltage level lower than low state and voltage level higher than high state

Info

Publication number
DE10216909C1
DE10216909C1 DE2002116909 DE10216909A DE10216909C1 DE 10216909 C1 DE10216909 C1 DE 10216909C1 DE 2002116909 DE2002116909 DE 2002116909 DE 10216909 A DE10216909 A DE 10216909A DE 10216909 C1 DE10216909 C1 DE 10216909C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
transistor
voltage level
supply voltage
level converter
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE2002116909
Other languages
German (de)
Inventor
Manfred Menke
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Infineon Technologies AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Infineon Technologies AG filed Critical Infineon Technologies AG
Priority to DE2002116909 priority Critical patent/DE10216909C1/en
Application granted granted Critical
Publication of DE10216909C1 publication Critical patent/DE10216909C1/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356104Bistable circuits using complementary field-effect transistors
    • H03K3/356113Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/08Word line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, for word lines
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/10Modifications for increasing the maximum permissible switched voltage
    • H03K17/102Modifications for increasing the maximum permissible switched voltage in field-effect transistor switches

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

The circuit outputs voltage levels lower than the low state and higher than the high state. Two transistors of a first conductivity type have first connections connected to a supply voltage higher than a positive supply voltage. A negative supply voltage is connected to a third transistor of a second type. Fourth and fifth transistors of the second type have first connections connected to a voltage lower than the negative supply voltage. The circuit has input and output lines and outputs a voltage level lower than the low state and a voltage level higher than the high state. First and second transistors (P1,P2) of a first conductivity type have first connections connected to a supply voltage (VPP) higher than a positive supply voltage (VDD). A negative supply voltage (VSS) is connected to a third transistor (N3) of a second conductivity type and fourth and fifth transistors (N1,N2) of the second type have first connections connected to a low voltage lower (VWL) than the negative supply voltage.

Description

Die Erfindung betrifft eine Spannungspegel-Wandlerschaltung für ein Eingangssignal zur Ansteuerung einer Wortleitung ei­ nes integrierten Speichers.The invention relates to a voltage level converter circuit for an input signal for driving a word line ei integrated memory.

Integrierte Speicher weisen Speicherzellen auf, die matrix­ förmig angeordnet sind und über Wortleitungen und Bitleitun­ gen beschrieben oder ausgelesen werden können. Bei der Adres­ sierung einer Speicherzelle wird eine Wortleitungsadresse ü­ ber eine Adressdecodierschaltung decodiert, so dass je nach Anliegen der Adresse eine Wortleitung aus allen Wortleitungen selektiert wird.Integrated memories have memory cells, the matrix are arranged in a shape and over word lines and bit lines conditions can be described or read out. At the address sation of a memory cell becomes a word line address ü Decoded via an address decoding circuit, so that depending on One word line from all word lines apply to the address is selected.

Die Adressdecodierschaltungen sind vorzugsweise am Rand der durch die Speicherzellen gebildeten Zellenfelder angeordnet. Dazu ist es erstens erforderlich, dass die Adressdecodier­ schaltung sich an das Raster des Zellenfeldes in zwei- oder vierfacher Stapelung anpassen muss. Zweitens ist es notwen­ dig, dass Spannungspegel auf den Wortleitungen zur Verfügung gestellt werden können, deren Low-Pegel negativer als ein niedriges Versorgungsspannungspotential der Logikschaltungen und desssen High-Pegel positiver als ein hohes Versorgungs­ spannungspotential VDD ist.The address decoding circuits are preferably on the edge of the arranged cell arrays formed by the memory cells. First of all, it is necessary for the address decoding circuit to the grid of the cell array in two or quadruple stacking needs to adjust. Second, it is necessary dig that voltage level available on the word lines can be set, their low level more negative than a low supply voltage potential of the logic circuits and its high level is more positive than a high supply voltage potential is VDD.

Die Notwendigkeit, ein gegenüber dem niedrigen Versorgungs­ spannungspotential einen erniedrigten Spannungspegel für den Low-Zustand der Wortleitungen zur Verfügung zu stellen, er­ gibt sich daraus, dass der Auswahltransistor der DRAM- Speicherzelle eindeutig sperren muss. Dies ist insbesondere bei sich verringernden Ansteuerspannungsdifferenzen für Spei­ chertransistoren notwendig geworden. Durch den erniedrigten Spannungspegel auf den Wortleitungen muss eine negative Gate- Source-Spannung an dem Auswahltransistor der Speicherzelle anliegen, so dass diese auch bei geringen Versorgungs- Spannungen sperrt.The need for one versus the low supply voltage potential a reduced voltage level for the To provide low state of the word lines, he results from the fact that the selection transistor of the DRAM Must uniquely lock the memory cell. This is particularly so with decreasing control voltage differences for Spei transistor become necessary. By the degraded Voltage level on the word lines must have a negative gate Source voltage at the selection transistor of the memory cell  so that even with low supply Tensions locks.

Die Notwendigkeit, eine gegenüber dem hohen Versorgungsspan­ nungspotential erhöhte Spannung auf der Wortleitung zur Ver­ fügung zu stellen, ergibt sich daraus, dass die vollen Zell­ informationen wieder in die Speicherzellen geschrieben werden müssen. Dies ist insbesondere dann möglich, wenn der Spei­ chertransistor zwischen einer Speicherkapazität und den Bit­ leitungen vollständig durchschaltet. Das Durchschalten wird üblicherweise mit Hilfe einer erhöhten Ansteuerspannung am Speichertransistor erreicht.The need for one versus the high supply span voltage potential increased voltage on the word line for ver to provide, it follows that the full cell information is written back into the memory cells have to. This is particularly possible if the Spei chertransistor between a storage capacity and the bit lines switched through completely. The switching through will usually with the help of an increased control voltage on Memory transistor reached.

Es besteht zudem die Notwendigkeit, den Anteil der Periphe­ rieschaltungen, d. h. Schaltungen zur Ansteuerung des Zellen­ feldes, möglichst gering zu halten, um eine hohe Speicheref­ fizienz zu erreichen. Adressdecodierschaltungen gehören zu solchen Peripherieschaltungen und können ca. 10% der Gesamt­ chipfläche einnehmen. Da die Adressdecodierschaltungen für jede Wortleitung eine einzelne Auswahlschaltung vorsehen, wirkt sich insbesondere dort die Verringerung der Anzahl der Bauelemente positiv auf den Flächenbedarf der Peripherie­ schaltungen aus. Weiterhin kann die Fläche der Auswahlschal­ tungen auch dadurch verringert werden, dass nur wenige Quer­ verdrahtungen innerhalb einer solchen Schaltung vorzunehmen sind. Dies entscheidet über die Notwendigkeit einer einfa­ chen, doppelten oder vierfachen Staffelung im Layout.There is also a need to increase the percentage of the periphery circuits, d. H. Circuits for controlling the cells field, to keep it as low as possible in order to efficiency. Address decoding circuits belong to such peripheral circuits and can make up about 10% of the total take up chip area. Since the address decoding circuits for each word line has an individual selection circuit, affects there in particular the reduction in the number of Components positive for the space requirements of the periphery circuits off. Furthermore, the area of the selection scarf can also be reduced by the fact that only a few crosses make wiring within such a circuit are. This determines the need for a simple ting, double or quadruple staggering in the layout.

Üblicherweise werden Adressdecodierschaltungen zur Ansteue­ rung von Wortleitungen einer Speicherschaltung mit zwei von­ einander getrennten Spannungspegel-Wandlern aufgebaut, die jeweils eine Ausgangsleitung aufweisen. Die erste Ausgangs­ leitung stellt für den High-Zustand ein gegenüber dem hohen Versorgungsspannungspotential (VDD) erhöhtes Spannungspoten­ tial zur Verfügung, wobei beim Low-Zustand der niedrige Span­ nungspegel etwa dem niedrigen Versorgungsspannungspotential, z. B. dem Massepotential entspricht. Die zweite Ausgangslei­ tung stellt ein gegenüber dem niedrigen Versorgungsspannungs­ potential erniedrigtes Spannungspotential zur Verfügung, wo­ bei der hohe Spannungspegel etwa dem hohen Versorgungsspan­ nungspotential entspricht. Bei der Ansteuerung der beiden Ausgangsleitungen ist insbesondere das interne Timing zwi­ schen den Signalen auf den Ausgangsleitungen zu beachten, d. h. die Signale auf den Ausgangsleitungen dürfen sich nicht überlappen, so dass eine Zeitreserve eingeplant werden muss, wodurch die Schnelligkeit des wahlfreien Zugriffs auf die Speicherschaltung reduziert wird. Darüber hinaus erfordert ein Aufbau einer solchen Adressdecodierschaltung mit zwei Spannungspegel-Wandlerschaltungen eine hohe Anzahl von Tran­ sistoren, die im Layout eine große Fläche beanspruchen. Wei­ terhin muss ein Schalter vorgesehen sein, der je nach Be­ triebszustand entweder die erste oder die zweite Ausgangslei­ tung an die Wortleitung anlegt.Address decoding circuits are usually used for control purposes Word lines of a memory circuit with two of mutually separate voltage level converters that built each have an output line. The first exit Line sets for the high state versus the high Supply voltage potential (VDD) increased voltage potential tial available, with the low span the low span voltage level about the low supply voltage potential, z. B. corresponds to the ground potential. The second exit line  device adjusts to the low supply voltage low voltage potential available where at the high voltage level about the high supply voltage potential corresponds. When controlling the two Output lines are especially the internal timing between the signals on the output lines, d. H. the signals on the output lines must not differ overlap so that a time reserve must be planned whereby the speed of random access to the Memory circuit is reduced. It also requires a structure of such an address decoding circuit with two Voltage level converter circuits a large number of tran sistors that take up a large area in the layout. Wei a switch must also be provided, which depending on the Be either the first or the second output line to the word line.

Aus der Druckschrift US 5,617,369 ist eine Spannungspegel­ wandlerschaltung zur Ansteuerung eines Wortleitungstreibers zur Ansteuerung einer Wortleitung einer Speicherschaltung be­ kannt. Die Spannungspegelwandlerschaltung umfasst eine Ein­ gangsleitung und eine Ausgangsleitung, wobei auf der Aus­ gangsleitung ein gegenüber dem Low-Zustand erniedrigter Span­ nungspegel und ein gegenüber dem High-Zustand erhöhter Span­ nungspegel ausgebbar ist.A voltage level is known from the publication US Pat. No. 5,617,369 converter circuit for driving a word line driver for driving a word line of a memory circuit known. The voltage level converter circuit includes an on gangsleitung and an output line, being on the off a lower span compared to the low state voltage level and a higher voltage than the high state voltage level can be output.

Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Spannungspe­ gel-Wandlerschaltung für die Ansteuerung einer Wortleitung zur Verfügung zu stellen, die wenig Platz benötigt und das Ansteuersignal auf nur einer Ausgangsleitung zur Verfügung stellt, wobei ein Ansteuersignal mit einem erhöhten Span­ nungspegel und einem erniedrigten Spannungspegel bereitge­ stellt wird.It is an object of the present invention to provide a voltage pe gel converter circuit for driving a word line to provide that takes up little space and that Control signal available on only one output line provides a drive signal with an increased span voltage level and a reduced voltage level is posed.

Diese Aufgabe wird durch die Spannungspegel-Wandlerschaltung nach Anspruch 1 gelöst. This task is accomplished by the voltage level converter circuit solved according to claim 1.  

Die erfindungsgemäße Spannungspegel-Wandlerschaltung dient der Ansteuerung einer Wortleitung des integrierten Speichers und stellt ein Ausgangssignal zur Verfügung, das aus einem Eingangssignal generiert wird, und das in einem High-Zustand einen gegenüber dem hohen Versorgungsspannungspotential oder dem High-Zustand des Eingangssignals erhöhten Spannungspegel und im Low-Zustand einen gegenüber dem niedrigen Versorgungs­ spannungspotential oder dem Low-Zustand erniedrigten Span­ nungspegel zur Verfügung stellt. The voltage level converter circuit according to the invention serves the control of a word line of the integrated memory and provides an output signal that consists of a Input signal is generated, and in a high state one compared to the high supply voltage potential or the high state of the input signal increased voltage level and in the low state one compared to the low supply voltage potential or the low state reduced span level.  

Es sind ein erster und ein zweiter Transistor mit einem ers­ ten Leitfähigkeitstyp vorgesehen, deren erste Anschlüsse mit dem gegenüber dem hohen Versorgungsspannungspotential erhöh­ ten Spannungspegel verbunden sind. Die Ausgangsleitung der Spannungspegel-Wandlerschaltung ist mit einem zweiten An­ schluss des ersten Transistors und einem Steuereingang des zweiten Transistors verbunden. Ein zweiter Anschluss des zweiten Transistors ist mit einem Steueranschluss des ersten Transistors und mit einem ersten Anschluss eines dritten Transistors mit einem zweiten Leitfähigkeitstyp verbunden. An einem zweiten Anschluss des dritten Transistors ist das nied­ rige Versorgungsspannungspotential und an einem Steuereingang des dritten Transistors das Eingangssignal angelegt. Es ist weiterhin ein vierter und ein fünfter Transistor des zweiten Leitfähigkeitstyps vorgesehen, deren erste Anschlüsse mit dem gegenüber der niedrigen Versorgungsspannung erniedrigten Spannungspegel verbunden sind. Die Ausgangsleitung ist mit einem zweiten Anschluss des vierten Transistors und mit einem Steuereingang des fünften Transistors verbunden. Ein zweiter Anschluss des fünften Transistors ist mit einem Steueran­ schluss des vierten Transistors und mit einem ersten An­ schluss eines sechsten Transistors mit dem ersten Leitfähig­ keitstyp verbunden. An einem zweiten Anschluss des sechsten Transistors ist die hohe Versorgungsspannung und an einem Steuereingang des sechsten Transistors das Eingangssignal an­ gelegt.There are a first and a second transistor with a first th conductivity type provided, the first connections with increase compared to the high supply voltage potential ten voltage levels are connected. The output line of the Voltage level converter circuit is with a second on circuit of the first transistor and a control input of the second transistor connected. A second connection of the second transistor is connected to a control terminal of the first Transistor and with a first terminal of a third Transistor connected to a second conductivity type. On a second connection of the third transistor is low supply voltage potential and at a control input the input of the third transistor. It is a fourth and a fifth transistor of the second Conductivity type provided, the first connections with the compared to the low supply voltage Voltage levels are connected. The output line is with a second connection of the fourth transistor and with a Control input of the fifth transistor connected. A second Connection of the fifth transistor is with a control circuit of the fourth transistor and with a first on circuit of a sixth transistor with the first conductive connected type. On a second connector of the sixth Transistor is the high supply voltage and on one Control input of the sixth transistor on the input signal placed.

Die erfindungsgemäße Schaltung enthält nur eine Spannungspe­ gel-Wandlerschaltung, die im Gegensatz zu den bisherigen Spannungspegel-Wandlerschaltungen, die zur Ansteuerung von Wortleitungen verwendet werden, weniger Transistoren auf­ weist. Dies hat zur Folge, dass die Spannungspegel- Wandlerschaltung gemäß der Erfindung weniger Platz auf der integrierten Schaltung benötigt und somit dazu beträgt, den Flächenanteil von Peripherieschaltungen in integrierten Spei­ cherschaltungen zu verringern. Darüber hinaus weist die er­ findungsgemäße Spannungspegel-Wandlerschaltung nur noch eine Ausgangsleitung auf, wodurch die Schaltgeschwindigkeit erhöht werden kann, da ein internes Timing zwischen zwei Signalen auf zwei verschiedenen Ausgangsleitungen, die nicht überlap­ pend erfolgen dürfen, nicht länger notwendig ist.The circuit according to the invention contains only one voltage pe gel converter circuit, which in contrast to the previous Voltage level converter circuits used to drive Word lines are used with fewer transistors has. As a result, the voltage level Converter circuit according to the invention less space on the Integrated circuit required and is therefore the Percentage of area of peripheral circuits in integrated memory to reduce circuits. In addition, he points out  inventive voltage level converter circuit only one Output line on, which increases the switching speed can be because of an internal timing between two signals on two different output lines that do not overlap pending may no longer be necessary.

Durch den Einsatz der erfindungsgemäßen Schaltung ergab sich ein geringerer Platzbedarf um ca. 6% bezogen auf den gesamten Chip, da eine geringere Anzahl von Transistoren verwendet wird.The use of the circuit according to the invention resulted in a smaller space requirement of approx. 6% based on the total Chip because a smaller number of transistors are used becomes.

Die Leitungsführung von der Wortleitungsdecodierschaltung zur Wortleitungstreiber besteht nur noch in einer Ausgangsleitung statt bisher zwei. Somit kann der Querverdrahtungsaufwand re­ duziert werden und dadurch die kapazitive Belastung verrin­ gert werden. Dies ist besonders interessant für eine Shared- Row-Decodervariante, d. h. zur Ansteuerung von je einem Zel­ lenfeld mit jeweils nur einer Adressdecodierschaltung und ein Spannungspegel-Wandler für zwei Wortleitungstreiber, die sich gegenüber liegen, verwendet.The line routing from the word line decoding circuit to Word line driver only exists in one output line instead of two. Thus, the cross wiring effort can be re be reduced and thereby reduce the capacitive load be tied. This is particularly interesting for a shared Row decoder variant, i. H. to control one cell each lenfeld with only one address decoding circuit and one Voltage level converter for two word line drivers that are lying opposite.

Die Spannungsdifferenz zwischen dem High-Pegel und dem Low- Pegel des Ausgangssignals ist größer als jeder der separaten Pegel der zwei Ausgangsleitungen der bisherigen Spannungspe­ gel-Wandlerschaltungen. Damit werden die Wortleitungstreiber­ transistoren besser angesteuert, so dass entweder die Weite der Wortleitungstreibertransistoren bei gleich bleibender Zugriffszeit verringert werden kann oder bei gleich bleiben­ der Weite der Transistoren die Zugriffszeit verringert werden kann, in dem die Flankensteilheit des Ausgangssignals auf der Ausgangsleitung verbessert wird. Darüber hinaus kann der er­ findungsgemäße Spannungspegel-Wandler kompatibel zu den bis­ herigen eingesetzt werden, so dass in bestehende Designs die verbesserte Lösung eingebaut werden kann, ohne dass sich An­ steuersignale in ihrer logischen wie zeitlichen Funktion än­ dern. The voltage difference between the high level and the low Output signal level is greater than each of the separate ones Level of the two output lines of the previous voltage pe gel conversion circuits. This will become the word line drivers transistors better controlled, so either the width the word line driver transistors with the same Access time can be reduced or stay the same the width of the transistors the access time can be reduced can, in which the edge steepness of the output signal on the Output line is improved. In addition, he can voltage level converters according to the invention are compatible with the up to be used, so that in existing designs the improved solution can be installed without An control signals in their logical and temporal function countries.  

Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den abhän­ gigen Ansprüchen angegeben.Advantageous embodiments of the invention are in the depend given claims.

Gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist ein siebter Transistor mit dem ersten Leitfähigkeitstyp vorgese­ hen, der zwischen der Ausgangsleitung und dem zweiten An­ schluss des ersten Transistors angeordnet ist. An seinem Steueranschluss ist ein invertiertes Eingangssignal angelegt. Die Spannungspegel-Wandlerschaltung weist weiterhin einen achten Transistor mit dem zweiten Leitfähigkeitstyp auf, der zwischen der Ausgangsleitung und dem zweiten Anschluss des vierten Transistors angeordnet ist, wobei an seinen Steueran­ schluss das invertierte Eingangssignal angelegt ist.According to a further embodiment of the invention, a seventh transistor with the first conductivity type hen between the output line and the second line circuit of the first transistor is arranged. On his An inverted input signal is applied to the control connection. The voltage level converter circuit also has one eighth transistor with the second conductivity type on between the output line and the second connection of the fourth transistor is arranged, being at its Steueran finally the inverted input signal is applied.

Das Vorsehen des siebten und des achten Transistors hat den Vorteil, dass das Schaltverhalten, insbesondere die Flanken­ steilheit der Spannungspegel-Wandlerschaltung und die Span­ nungsdifferenz VPP-VDD bzw. VWL-VSS verbessert wird. So kann die Treiberstärke des dritten bzw. sechsten Transistors beim Vorsehen des siebten und achten Transistors geringer vorgese­ hen werden, als bei Weglassen des siebten und achten Transis­ tors, da der dritte bzw. sechste Transistor nicht so stark gegen den zweiten bzw. vierten Transistor treiben muss, um ein Umschalten der Spannungspegel-Wandlerschaltung zu errei­ chen. Vorzugsweise ist dabei vorgesehen, dass eine Eingangs­ treiberschaltung zum Treiben des Eingangssignals mit zwei ge­ geneinander geschalteten Inverterschaltungen vorgesehen ist. An einem Eingang der Eingangstreiberschaltung liegt dabei das invertierte Eingangssignal an und am Ausgang der Eingangs­ treiberschaltung das Ausgangssignal. Vorzugsweise wird das invertierte Eingangssignal, das von einer Wortleitungsdeco­ dierschaltung zur Verfügung gestellt wird, dazu benutzt, den siebten bzw. achten Transistor anzusteuern. Dadurch entfällt die Notwendigkeit, einen weiteren Inverter innerhalb der Spannungspegel-Wandlerschaltung vorzusehen, wodurch weitere Chipfläche eingespart werden kann. The provision of the seventh and eighth transistor has the Advantage that the switching behavior, especially the edges steepness of the voltage level converter circuit and the span difference VPP-VDD or VWL-VSS is improved. So can the driver strength of the third or sixth transistor at Provision of the seventh and eighth transistor less planned than when the seventh and eighth transis are omitted tors because the third or sixth transistor is not as strong must drive against the second or fourth transistor in order to switch the voltage level converter circuit chen. It is preferably provided that an input driver circuit for driving the input signal with two ge mutually connected inverter circuits is provided. This is due to an input of the input driver circuit inverted input signal at and at the output of the input driver circuit the output signal. Preferably that is inverted input signal from a word line deco The circuit is provided, used to the to drive the seventh or eighth transistor. This eliminates the need to add another inverter within the To provide voltage level converter circuit, thereby further Chip area can be saved.  

Vorzugsweise kann auch vorgesehen sein, dass aufgrund ihrer jeweils gleichen Größe der erste und der siebte Transistor bzw. der vierte und der achte Transistor in einem Dual-Gate- Transistor zusammengefasst sind. Dadurch kann der Verdrah­ tungsaufwand weiter reduziert werden, wodurch Chipfläche ein­ gespart werden kann.It can preferably also be provided that, on the basis of its the same size of the first and the seventh transistor or the fourth and the eighth transistor in a dual-gate Transistor are summarized. This allows the wiring processing costs can be further reduced, thereby reducing chip area can be saved.

Die bevorzugte Ausführungsform der Erfindung wird im folgen­ den anhand der beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:The preferred embodiment of the invention will follow the explained in more detail with reference to the accompanying drawings. It demonstrate:

Fig. 1 eine erfindungsgemäße Spannungspegel-Wandlerschaltung gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung; FIG. 1 shows an inventive voltage level conversion circuit according to a first embodiment of the invention;

Fig. 2 ein Schaltbild einer Spannungspegel-Wandlerschaltung gemäß einer zweiten Ausführungsform der Erfindung; und Fig. 2 is a circuit diagram of voltage level converting circuit according to a second embodiment of the invention; and

Fig. 3 ein Schaltbild einer Spannungspegel-Wandlerschaltung gemäß einer dritten Ausführungsform der Erfindung. Fig. 3 is a circuit diagram of a voltage level converter circuit according to a third embodiment of the invention.

In Fig. 1 ist eine Spannungspegel-Wandlerschaltung zur An­ steuerung einer Wortleitung WL für einen integrierten Spei­ cher, insbesondere für einen DRAM-Speicher, gezeigt. Die Spannungspegel-Wandlerschaltung befindet sich zwischen einer Adressdecodierschaltung 1 und einem Wortleitungstreiber 2, mit dem das Ausgangssignal aus der Spannungspegel- Wandlerschaltung auf die entsprechende Wortleitung WL getrie­ ben wird.In Fig. 1, a voltage level converter circuit is to control to a word line WL for an integrated SpeI cher, shown in particular for a DRAM memory. The voltage level converter circuit is located between an address decoding circuit 1 and a word line driver 2 , with which the output signal from the voltage level converter circuit is driven to the corresponding word line WL.

Die Spannungspegel-Wandlerschaltung ist im Wesentlichen aus einem ersten, zweiten und dritten Transistor P1, P2, P3 von einem ersten Leitfähigkeitstyp und einem vierten, fünften und sechsten Transistor N1, N2, N3 eines zweiten Leitfähigkeits­ typs aufgebaut. Der p-leitende erste Transistor P1 ist mit seinem ersten Anschluss an einer gegenüber dem in der integ­ rierten Speicherschaltung üblichen hohen Versorgungsspannung VDD erhöhten Versorgungsspannung VPP verbunden. Ein zweiter Anschluss des ersten Transistors P1 ist mit der Ausgangslei­ tung A verbunden, die an einem Eingang des Wortleitungstrei­ bers 2 angeschlossen ist. Der Wortleitungstreiber verstärkt das auf der Ausgangsleitung A anliegende Signal zur Ansteue­ rung der Wortleitung WL und führt zusätzlich eine Teildeko­ dierung aus, d. h. der Wortleitungstreiber dient nicht nur der Verstärkung des Signals, sondern auch zur Dekodierung bezüg­ lich der Auswahl der Wortleitungen.The voltage level converter circuit is essentially composed of a first, second and third transistor P1, P2, P3 of a first conductivity type and a fourth, fifth and sixth transistor N1, N2, N3 of a second conductivity type. The p-type first transistor P1 is connected with its first connection to a supply voltage VPP which is higher than the supply voltage VDD which is customary in the integrated memory circuit. A second connection of the first transistor P1 is connected to the output line A, which is connected to an input of the word line driver 2 . The word line driver amplifies the signal present on the output line A for driving the word line WL and additionally performs a partial decoding, ie the word line driver not only serves to amplify the signal but also for decoding the selection of the word lines.

Ein erster Anschluss des zweiten p-leitenden Transistors P2 ist ebenfalls mit der erhöhten Versorgungsspannung VPP ver­ bunden. Ein zweiter Anschluss des zweiten Transistors P2 ist zugleich mit einem Steuereingang des ersten Transistors P1 und einem ersten Anschluss des sechsten n-leitenden Transis­ tors N3 verbunden. Ein zweiter Anschluss des n-leitenden sechsten Transistors N3 ist mit dem niedrigen Versorgungs­ spannungspotential VSS verbunden, das üblicherweise in der Speicherschaltung verwendet wird und üblicherweise auf Masse­ potential GND liegt. Ein Steuereingang des zweiten p- leitenden Transistors P2 ist mit der Ausgangsleitung A ver­ bunden.A first connection of the second p-type transistor P2 is also ver with the increased supply voltage VPP prevented. A second connection of the second transistor P2 is at the same time with a control input of the first transistor P1 and a first connection of the sixth n-type transistor tors N3 connected. A second connection of the n-type sixth transistor N3 is with the low supply voltage potential connected VSS, which is usually in the Memory circuitry is used and is usually grounded potential GND is. A control input of the second p- conductive transistor P2 is connected to the output line A prevented.

Ein erster Anschluss des n-leitenden vierten Transistors N1 ist mit einer gegenüber der niedrigen Versorgungsspannung VSS erniedrigten Versorgungsspannung VWL verbunden. Ein zweiter Anschluss des vierten Transistors N1 ist an der Ausgangslei­ tung A angeschlossen. Ein erster Anschluss des n-leitenden fünften Transistors N2 ist ebenfalls mit dem erniedrigten Versorgungsspannungspotential VWL verbunden. Ein zweiter An­ schluss des fünften Transistors N2 ist sowohl mit einem Steu­ ereingang des n-leitenden vierten Transistors N1 und mit ei­ nem ersten Anschluss des p-leitenden dritten Transistors P3 verbunden. Ein zweiter Anschluss des p-leitenden dritten Transistors P3 ist an das hohe Versorgungsspannungspotential VDD angeschlossen, das den Logikschaltkreisen der integrier­ ten Speicherschaltung üblicherweise zur Verfügung gestellt ist.A first connection of the n-type fourth transistor N1 is with a compared to the low supply voltage VSS reduced supply voltage VWL connected. A second Connection of the fourth transistor N1 is at the output line device A connected. A first connection of the n-type fifth transistor N2 is also with the lowered Supply voltage potential VWL connected. A second type circuit of the fifth transistor N2 is both with a control er input of the n-type fourth transistor N1 and with egg nem first connection of the p-type third transistor P3 connected. A second port of the p-type third Transistor P3 is at the high supply voltage potential VDD connected to the logic circuits of the integrier th memory circuit usually provided is.

Steuereingänge des dritten p-leitenden Transistors P3 und des sechsten n-leitenden Transistors N3 sind über eine Inverter­ schaltung 3 mit der Wortleitungsdecodierschaltung 1 verbun­ den. Die Inverterschaltung 3 weist zwei gegeneinander ge­ schaltete Inverter 4 und 5 auf. Die gegeneinander geschalte­ ten Inverter 4, 5 bewirken erstens, dass die Flankensteilheit des invertierten Signals EI gegenüber dem von der Wortlei­ tungdecodierschaltung 1 kommenden Eingangssignal E verbessert wird, und zweitens, dass die Zeilenadresse gespeichert werden kann, da die Spannungspegel-Wandlerschaltung auch eine Spei­ cherfunktion besitzt. Die Inverterschaltung 3 ist notwendig, da die Wortleitungstreiberschaltung das an dem Eingang anlie­ genden Ausgangssignal auf der Ausgangsleitung A invertiert. Auf diese Weise kann auf der Ausgangsleitung A der Spannungs­ pegel-Wandlerschaltung ein gegenüber dem von der Wortlei­ tungsdecodierschaltung 1 generierten Eingangssignal E ein nicht invertiertes Signal an den Wortleitungstreiber 2 abge­ geben werden.Control inputs of the third p-type transistor P3 and the sixth n-type transistor N3 are connected via an inverter circuit 3 to the word line decoding circuit 1 . The inverter circuit 3 has two mutually connected inverters 4 and 5 . The mutually connected inverters 4 , 5 firstly have the effect that the edge steepness of the inverted signal EI is improved compared to the input signal E coming from the word line decoding circuit 1 , and secondly that the row address can be stored, since the voltage level converter circuit also has a memory function has. The inverter circuit 3 is necessary because the word line driver circuit inverts the output signal present at the input on the output line A. In this way, a non-inverted signal can be given to the word line driver 2 on the output line A of the voltage level converter circuit compared to the input signal E generated by the word line decoding circuit 1 .

Die Spannungspegel-Wandlerschaltung schaltet entweder das er­ höhte Versorgungsspannungspotential VPP über den ersten Tran­ sistor P1 oder das erniedrigte Versorgungsspannungspotential VWL über den vierten Transistor N1 auf die Ausgangsleitung durch. Es wird also ein Ausgangssignal zur Verfügung ge­ stellt, das im High-Zustand den erhöhten Spannungspegel VPP und im Low-Zustand den erniedrigten Spannungspegel VWL auf­ weist.The voltage level converter circuit either switches it increased supply voltage potential VPP over the first train sistor P1 or the reduced supply voltage potential VWL via the fourth transistor N1 to the output line by. An output signal is therefore available that the high voltage level VPP and the low voltage level VWL in the low state has.

Dies hat den Vorteil, dass der Hub des Ausgangssignals auf der Ausgangsleitung A größer ist als der Hub von üblichen Spannungspegel-Wandlerschaltungen, die zwei getrennte Aus­ gangsleitungen aufweisen. Dort wird jeweils auf einer Leitung entweder nur ein erhöhter High-Zustand oder ein erniedrigter Low-Zustand zur Verfügung gestellt. Durch den vergrößerten Hub des Ausgangssignals werden die Wortleitungstreibertran­ sistoren besser angesteuert, so dass dort entweder die Weite der Transistoren bei gleichbleibender Zugriffszeit auf den integrierten Speicher verringert werden kann oder die Zugriffszeit verringert werden kann, wenn man die Weite der Transistoren beibehält.This has the advantage that the stroke of the output signal increases the output line A is larger than the stroke of usual Voltage level converter circuits that have two separate off have passage lines. There is one line each either just an elevated high or a lowered Low state provided. By the enlarged The output of the output signal becomes the word line driver sistors controlled better, so that there either the width of the transistors with the same access time to the built-in memory can be reduced or the  Access time can be reduced if you look at the breadth of the Maintains transistors.

Das Schalten des ersten Transistors P1 wird über das an sei­ nem Steuereingang anliegenden Signal bewirkt. Die Ansteuerung des Steuereingangs des ersten Transistors P1 wird über den sechsten Transistor N3 durchgeführt. Je nach anliegenden in­ vertierten Eingangssignal EI an dem Steuereingang des sechs­ ten Transistors N3 wird das niedrige Versorgungsspannungspo­ tential an dem Steuereingang des ersten Transistors P1 ange­ legt oder nicht. Ist der sechste Transistor N3 gesperrt, d. h. bei Anliegen eines invertierten Eingangssignals EI im Low- Zustand, so wird das erhöhte Versorgungsspannungspotential über den zweiten Transistor P2, der aufgrund des Low-Zustands des Ausgangssignals durchgeschaltet ist. So liegt über dem zweiten Transistor P2 das erhöhte Versorgungsspannungspoten­ tial an dem Steuereingang des ersten Transistors P1 an, so dass dieser aufgrund seiner p-Leitfähigkeit gesperrt ist.The switching of the first transistor P1 is on signal applied to the control input. The control of the control input of the first transistor P1 is via the sixth transistor N3 performed. Depending on the in vertical input signal EI at the control input of the sixth transistor N3 becomes the low supply voltage po tential at the control input of the first transistor P1 puts or not. If the sixth transistor N3 is blocked, i. H. when an inverted input signal EI is present in the low Condition, so is the increased supply voltage potential via the second transistor P2, which is due to the low state of the output signal is switched through. So lies above that second transistor P2 the increased supply voltage potential tial at the control input of the first transistor P1, so that it is blocked due to its p-conductivity.

Der Low-Zustand des invertierten Eingangssignals EI bewirkt, dass das hohe Versorgungsspannungspotential VDD über den dritten Transistor P3 an dem Steuereingang des vierten Tran­ sistors N1 angelegt ist, so dass dieser durchgeschaltet wird. Dadurch ist das erniedrigte Versorgungsspannungspotential VWL über den vierten Transistor N1 an der Ausgangsleitung ange­ legt. Damit der dritte Transistor P3 nicht gegen den fünften Transistor N2 treiben muss, ist der fünfte Transistor N2 mit seinem Steuereingang mit der Ausgangsleitung, d. h. mit dem Low-Zustand des Ausgangssignals verbunden, so dass dieser ge­ sperrt ist.The low state of the inverted input signal EI causes that the high supply voltage potential VDD over the third transistor P3 at the control input of the fourth Tran Sistor N1 is applied so that it is switched through. As a result, the reduced supply voltage potential is VWL via the fourth transistor N1 on the output line sets. So that the third transistor P3 not against the fifth Must drive transistor N2, is the fifth transistor N2 its control input with the output line, d. H. with the Low state of the output signal connected, so that this ge is locked.

Entsprechend liegen umgekehrte Schaltzustände vor, wenn das invertierte Eingangssignal sich im High-Zustand befindet, so dass der dritte Transistor N3 durchgeschaltet ist und das niedrige Versorgungsspannungspotential VSS an den Steuerein­ gang des ersten Transistors P1 anliegt und diesen dadurch durchschaltet. Dann liegt das erhöhte Versorgungsspannungspo­ tential VPP an der Ausgangsleitung A an; der vierte Transis­ tor N1 ist aufgrund des gesperrten Transistors P3 und des durchgeschalteten Transistors N2 abgeschaltet.Accordingly, there are reversed switching states if that inverted input signal is in the high state, see above that the third transistor N3 is turned on and that low supply voltage potential VSS at the control units Gear of the first transistor P1 is present and thereby turns on. Then there is the increased supply voltage po  potential VPP on the output line A; the fourth transis gate N1 is due to the blocked transistor P3 and turned on transistor N2 turned off.

Die erfindungsgemäße Spannungspegel-Wandlerschaltung weist gegenüber Spannungspegel-Wandlerschaltungen für Wortleitungen gemäß dem Stand der Technik eine erheblich geringere Anzahl von Transistoren auf, so dass deren Fläche reduziert werden kann. Dies ist insbesondere deshalb von Vorteil, da solche Spannungspegel-Wandlerschaltungen in großer Anzahl, nämlich für jede Wortleitung, der integrierten Speicherschaltung zur Verfügung gestellt werden müssen.The voltage level converter circuit according to the invention has versus voltage level converter circuits for word lines according to the prior art, a significantly smaller number of transistors so that their area is reduced can. This is particularly advantageous because such Voltage level converter circuits in large numbers, namely for each word line, the integrated memory circuit for Must be made available.

Eine solche Spannungspegel-Wandlerschaltung ist gegenüber dem Spannungspegel-Wandlerschaltung nach dem Stand der Technik mit zwei Ausgangsleitungen schneller, da nicht darauf geach­ tet werden muss, dass sich die Ausgangssignale nicht überlap­ pen. Darüber hinaus ist eine solche Spannungspegel- Wandlerschaltung kompatibel zu den bestehenden Spannungspe­ gel-Wandlerschaltungen, da sich die Ansteuersignale in ihrer logischen wie zeitlichen Funktion nicht ändern. Somit kann die erfindungsgemäße Spannungspegel-Wandlerschaltung in be­ stehende Designs ohne Probleme eingearbeitet werden.Such a voltage level converter circuit is compared to that State-of-the-art voltage level converter circuit with two output lines faster, since not pay attention to it It must be ensured that the output signals do not overlap pen. In addition, such a voltage level Converter circuit compatible with the existing voltage pe gel converter circuits, since the control signals are in their logical and temporal function do not change. So can the voltage level converter circuit according to the invention in be standing designs can be incorporated without problems.

In Fig. 2 ist eine weitere Ausführungsform einer erfindungs­ gemäßen Spannungspegel-Wandlerschaltung gezeigt. Die in Fig. 2 gezeigte Ausführungsform unterscheidet sich gegenüber der ersten Ausführungsform nach Fig. 1 dadurch, dass der zweite Anschluss des ersten Transistors P1 nicht direkt mit der Aus­ gangsleitung A, sondern über einen siebten p-leitenden Tran­ sistor P4 mit der Ausgangsleitung A verbunden ist. Dazu ist ein erster Anschluss des siebten Transistors P4 mit dem zwei­ ten Anschluss des ersten Transistors P1 verbunden. Der zweite Anschluss des siebten Transistors P4 ist mit der Ausgangslei­ tung verbunden. Auf gleiche Weise ist auch der zweite An­ schluss des vierten Transistors N1 nicht direkt mit der Aus­ gangsleitung, sondern über einen achten n-leitenden Transis­ tor N4 mit der Ausgangsleitung verbunden. Die Steuereingänge des siebten Transistors P4 und des achten Transistors N4 sind über einen Inverter 6 mit dem invertierten Eingangssignal verbunden, so dass an den Steuereingängen im Wesentlichen das nicht-invertierte Eingangssignal anliegt.In FIG. 2, a further embodiment of a fiction, modern voltage level converter circuit is shown. The embodiment shown in FIG. 2 differs from the first embodiment according to FIG. 1 in that the second connection of the first transistor P1 is not connected directly to the output line A, but via a seventh p-type transistor P4 to the output line A. is. For this purpose, a first terminal of the seventh transistor P4 is connected to the second terminal of the first transistor P1. The second terminal of the seventh transistor P4 is connected to the output line. In the same way, the second connection of the fourth transistor N1 is not connected directly to the output line, but via an eighth n-type transistor N4 to the output line. The control inputs of the seventh transistor P4 and the eighth transistor N4 are connected to the inverted input signal via an inverter 6 , so that the non-inverted input signal is essentially present at the control inputs.

Bei der ersten Ausführungsform muss bei der Dimensionierung des sechsten Transistors bezüglich des zweiten Transistors P2 darauf geachtet werden, dass die Treiberstärke des sechsten Transistors N3 gegenüber der Treiberstärke des zweiten Tran­ sistors P2 deutlich höher ist. Das gleiche gilt für den drit­ ten Transistor P3 gegenüber dem fünften Transistor N2. Der sechste Transistor N3 muss beispielsweise bei durchgeschalte­ tem zweiten Transistor P2 den Pegel des Steuereingangs des ersten Transistors P1 auf VSS ziehen. Damit dies schnell ge­ nug durchgeführt werden kann, muss die Treiberstärke des sechsten Transistors gegenüber der Treiberstärke des zweiten Transistors P2 deutlich erhöht sein. Eine höhere Treiberstär­ ke wird durch größere Transistoren erreicht.In the first embodiment, the dimensioning of the sixth transistor with respect to the second transistor P2 be careful that the driver strength of the sixth Transistor N3 compared to the driver strength of the second Tran transistor P2 is significantly higher. The same applies to the third th transistor P3 compared to the fifth transistor N2. The sixth transistor N3 must be switched on, for example tem second transistor P2 the level of the control input of pull first transistor P1 to VSS. So that this quickly The driver strength of the sixth transistor versus the driver strength of the second Transistor P2 can be significantly increased. A higher driver strength ke is achieved by larger transistors.

Durch das Vorsehen des siebten Transistors P4 und des achten Transistors N4 wird das Schaltverhalten des Spannungspegel- Wandlers dahingehend unterstützt, dass bereits vor dem Schal­ ten des ersten Transistors P1 bzw. des vierten Transistors N1 diese von der Ausgangsleitung getrennt werden und dadurch helfen, dass der sechste Transistor N3 bzw. der dritte Tran­ sistor P3 nicht gegen den zweiten Transistor P2 bzw. den fünften Transistor N2 arbeiten müssen. Die Transistoren P2 und N3 sowie P3 und N2 können somit in gleicher Treiberstärke dimensioniert werden, wodurch sich zusätzlich Fläche einspa­ ren lässt.By providing the seventh transistor P4 and the eighth Transistor N4 is the switching behavior of the voltage level Supported converter that already before the scarf th of the first transistor P1 and the fourth transistor N1 these are separated from the output line and thereby help that the sixth transistor N3 and the third Tran sistor P3 not against the second transistor P2 or the fifth transistor N2 must work. The transistors P2 and N3 as well as P3 and N2 can therefore have the same driver strength be dimensioned, which saves additional space leaves.

Zudem unterstützen der siebte Transistor und der achte Tran­ sistor ein schnelleres Schalten des Signals auf der Ausgangs­ leitung, weil die Strompfade über den ersten Transistor P1 und den vierten Transistor N1 schneller getrennt werden, so dass eine deutlich schnellere Anstiegszeit auf der Ausgangs­ leitung zur Verfügung gestellt werden kann.In addition, the seventh transistor and the eighth tran support sistor a faster switching of the signal on the output line because the current paths through the first transistor P1 and the fourth transistor N1 are disconnected faster, so  that a significantly faster rise time on the output line can be provided.

In einer dritten Ausführungsform, die in Fig. 3 dargestellt ist, wird auf den Inverter 6 verzichtet, indem das Eingangs­ signal von der Adressdecodierschaltung 1 direkt mit den Steu­ ereingängen des siebten Transistors und des achten Transis­ tors verbunden wird. Durch das Ersetzen des Inverters 6 mit einer Querverbindung zwischen dem Eingangssignal E und den Steuereingängen des siebten und des achten Transistors P4, N4 kann weitere Fläche eingespart werden, wodurch der gesamte Platzbedarf des Spannungspegel-Wandlers weiter reduziert wer­ den kann.In a third embodiment, which is shown in Fig. 3, the inverter 6 is dispensed with by the input signal from the address decoding circuit 1 being connected directly to the control inputs of the seventh transistor and the eighth transistor. By replacing the inverter 6 with a cross connection between the input signal E and the control inputs of the seventh and eighth transistors P4, N4, further area can be saved, which further reduces the overall space requirement of the voltage level converter.

Um weitere Fläche einzusparen, können der erste Transistor und der siebte Transistor P1, P4 als auch der vierte Transis­ tor und der achte Transistor N1, N4 als Dual-Gate- Transistoren ausgeführt werden, so dass weitere Fläche, die ansonsten für die Verdrahtung notwendig wäre, eingespart wer­ den kann.The first transistor can be used to save further area and the seventh transistor P1, P4 as well as the fourth transistor gate and the eighth transistor N1, N4 as a dual gate Transistors are running so that more area that would otherwise be necessary for the wiring, who saved that can.

Dadurch dass der Inverter 6 nicht verwendet wird, schalten der siebte Transistor und der achte Transistor bevor das Ein­ gangssignal als invertiertes Eingangssignal an den Steuerein­ gängen des dritten Transistors bzw. des sechten Transistors anliegt. Dies hat eine weitere Verringerung der Schaltzeit der Spannungspegel-Wandlerschaltung zur Folge.Because the inverter 6 is not used, the seventh transistor and the eighth transistor switch before the input signal is present as an inverted input signal at the control inputs of the third transistor and the real transistor. This results in a further reduction in the switching time of the voltage level converter circuit.

Claims (8)

1. Spannungspegel-Wandlerschaltung zur Ansteuerung einer Wortleitung einer Speicherschaltung über einen Wortlei­ tungstreiber, wobei die Spannungspegel-Wandlerschaltung eine Eingangsleitung und eine Ausgangsleitung umfasst, wobei auf der Ausgangsleitung ein gegenüber dem Low- Zustand erniedrigter Spannungspegel und ein gegenüber dem High-Zustand erhöhter Spannungspegel ausgebbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass ein erster (P1) und ein zweiter Transistor (P2) eines ersten Leitfähigkeitstyps vorgegeben sind, deren erste Anschlüsse mit einen gegen­ über einer hohen Versorgungsspannung (VDD) erhöhten Ver­ sorgungsspannung (VPP) verbunden sind, wobei eine Aus­ gangsleitung (A) mit einem zweiten Anschluß des ersten Transistors (P1) und einem Steuereingang des zweiten Transistors (P2) verbunden ist, und wobei ein zweiter Anschluß des zweiten Transistors (P2) mit einem Steue­ ranschluß des ersten Transistors (P1) und mit einem ers­ ten Anschluß eines dritten Transistors (N3) eines zwei­ ten Leitfähigkeitstyps verbunden ist, wobei an einem zweiten Anschluß des dritten Transistors (N3) eine nied­ rige Versorgungsspannung (VSS) und an einem Steuerein­ gang des dritten Transistors (N3) das Eingangssignal (Ei) angelegt ist, und mit einem vierten (N1) und einem fünften Transistor (N2) eines zweiten Leitfähigkeits­ typs, deren erste Anschlüsse mit einer gegenüber der niedrigen Versorgungsspannung (VSS) erniedrigten Versor­ gungsspannung (VWL) verbunden sind, wobei die Ausgangs­ leitung (A) mit einem zweiten Anschluß des vierten Tran­ sistors (N1) und mit einem Steuereingang des fünften Transistors (N2) verbunden ist, und wobei ein zweiter Anschluß des fünften Transistors (N2) mit einem Steue­ ranschluß des vierten Transistors (N1) und mit einem ersten Anschluß eines sechsten Transistors (P3) des ers­ ten Leitfähigkeitstyps verbunden ist, wobei an einem zweiten Anschluß des sechsten Transistors (P3) die hohe Versorgungsspannung (VDD) und an einem Steuereingang des sechsten Transistors (P3) das Eingangssignal (Ei) ange­ legt ist.1. Voltage level converter circuit for driving a word line of a memory circuit via a word line device driver, the voltage level converter circuit comprising an input line and an output line, a voltage level which is lower than the low state and a voltage level which is higher than the high state can be output on the output line is characterized in that a first (P1) and a second transistor (P2) of a first conductivity type are specified, the first connections of which are connected to a supply voltage (VPP) which is higher than a high supply voltage (VDD), with an output line (A) is connected to a second terminal of the first transistor (P1) and a control input of the second transistor (P2), and wherein a second terminal of the second transistor (P2) is connected to a control terminal of the first transistor (P1) and to a first th connection of a third transistor (N3) of a two th conductivity type is connected, a low supply voltage (VSS) being applied to a second connection of the third transistor (N3) and the input signal (Ei) being applied to a control input of the third transistor (N3), and a fourth (N1) and a fifth transistor (N2) of a second conductivity type, the first connections of which are connected to a supply voltage (VWL) which is lower than the low supply voltage (VSS), the output line (A) having a second connection of the fourth transistor (N1) and is connected to a control input of the fifth transistor (N2), and wherein a second terminal of the fifth transistor (N2) is connected to a control terminal of the fourth transistor (N1) and to a first terminal of a sixth transistor (P3) of the first conductivity type is, at a second connection of the sixth transistor (P3) the high supply voltage (VDD) and at a control input of the sixth Most transistor (P3) the input signal (Ei) is applied. 2. Spannungspegel-Wandlerschaltung nach Anspruch 1, die ei­ nen siebten Transistor (P4) des ersten Leitfähigkeits­ typs aufweist, der zwischen der Ausgangsleitung (A) und dem zweiten Anschluß des ersten Transistors (P1) ange­ ordnet ist, wobei an einen Steueranschluß des siebten Transistors (P4) ein invertiertes Eingangssignal ange­ legt ist, und die einen achten Transistor (N4) des zweiten Leitfähig­ keitstyps aufweist, der zwischen der Ausgangsleitung (A) und dem zweiten Anschluß des vierten Transistors (N1) angeordnet ist, wobei an einen Steueranschluß des achten Transistors (N4) das invertierte Eingangssignal angelegt ist.2. Voltage level converter circuit according to claim 1, the egg a seventh transistor (P4) of the first conductivity typs that between the output line (A) and the second connection of the first transistor (P1) is arranged, with a control connection of the seventh Transistor (P4) an inverted input signal sets is, and the one eighth transistor (N4) of the second conductive type of connection between the output line (A) and the second connection of the fourth transistor (N1) is arranged, with a control connection of the eighth Transistor (N4) applied the inverted input signal is. 3. Spannungspegel-Wandlerschaltung nach Anspruch 2, die ei­ ne Eingangstreiberschaltung (3) zum Treiben des Ein­ gangssignals (E) mit zwei gegeneinander geschalteten In­ verterschaltungen (4, 5) umfaßt, wobei an einem Eingang der Eingangstreiberschaltung (3) das Eingangssignal (E) anliegt und an dem Ausgang der Eingangstreiberschaltung das invertierte Eingangssignal (Ei).3. voltage level converter circuit according to claim 2, the egg ne input driver circuit ( 3 ) for driving the one input signal (E) with two mutually connected in verterschaltungen ( 4 , 5 ), wherein at an input of the input driver circuit ( 3 ), the input signal (E ) is present and at the output of the input driver circuit the inverted input signal (Ei). 4. Spannungspegel-Wandlerschaltung nach Anspruch 3, wobei das Eingangssignal (E) von einer Wortleitungsdecodier­ schaltung (1) zur Verfügung gestellt wird.4. voltage level converter circuit according to claim 3, wherein the input signal (E) from a word line decoding circuit ( 1 ) is provided. 5. Spannungspegel-Wandlerschaltung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, wobei der erste (P1) und der siebte Transistor (P4) und/oder der vierte Transistor (N1) und der achte Transistor (N4) in einem Dual Gate-Transistor zusammen­ gefaßt sind. 5. Voltage level converter circuit according to one of the claims 2 to 4, the first (P1) and the seventh transistor (P4) and / or the fourth transistor (N1) and the eighth Transistor (N4) combined in a dual gate transistor are composed.   6. Spannungspegel-Wandlerschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei das Potential der erhöhten Versorgungs­ spannung (VPP) mindestens so groß gewählt ist, um die an die Wortleitungen (WL) angeschlossenen Auswahltransisto­ ren vollständig durchzuschalten.6. Voltage level converter circuit according to one of the claims 1 to 5, the potential of increased supply voltage (VPP) is chosen to be at least as large as the voltage the word lines (WL) connected selection transistor switch through completely. 7. Spannungspegel-Wandlerschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei das Potential der erniedrigten Versorgungsspannung (VWL) mindestens so klein gewählt ist, um die an die Wortleitungen angeschlossenen Auswahltransistoren vollständig zu sperren.7. Voltage level converter circuit according to one of the claims 1 to 6, the potential of the lowered Supply voltage (VWL) chosen at least as small is to the connected to the word lines To completely block the selection transistors. 8. Verwendung eines Spannungspegel-Wandlerschaltens nach ei­ nem der vorhergehenden Ansprüche zur Ansteuerung einer Wortleitung in einer Speicherschaltung.8. Use of a voltage level converter switching according to ei nem of the preceding claims for controlling a Word line in a memory circuit.
DE2002116909 2002-04-17 2002-04-17 Transistor voltage level converter circuit for memory decoding circuits has input and output lines and outputs voltage level lower than low state and voltage level higher than high state Expired - Fee Related DE10216909C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2002116909 DE10216909C1 (en) 2002-04-17 2002-04-17 Transistor voltage level converter circuit for memory decoding circuits has input and output lines and outputs voltage level lower than low state and voltage level higher than high state

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2002116909 DE10216909C1 (en) 2002-04-17 2002-04-17 Transistor voltage level converter circuit for memory decoding circuits has input and output lines and outputs voltage level lower than low state and voltage level higher than high state

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10216909C1 true DE10216909C1 (en) 2003-10-09

Family

ID=27816192

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2002116909 Expired - Fee Related DE10216909C1 (en) 2002-04-17 2002-04-17 Transistor voltage level converter circuit for memory decoding circuits has input and output lines and outputs voltage level lower than low state and voltage level higher than high state

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10216909C1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004005667A1 (en) * 2004-02-05 2005-09-15 Infineon Technologies Ag Integrated semiconductor memory with temperature-dependent voltage generation

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5617369A (en) * 1994-05-11 1997-04-01 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Dynamic semiconductor memory device having excellent charge retention characteristics

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5617369A (en) * 1994-05-11 1997-04-01 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Dynamic semiconductor memory device having excellent charge retention characteristics

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004005667A1 (en) * 2004-02-05 2005-09-15 Infineon Technologies Ag Integrated semiconductor memory with temperature-dependent voltage generation
DE102004005667B4 (en) * 2004-02-05 2006-02-09 Infineon Technologies Ag Integrated semiconductor memory with temperature-dependent voltage generation and method of operation

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3941926C2 (en) Semiconductor memory device
DE69032799T2 (en) Programmable logic device and associated memory circuit
DE3144001A1 (en) INTEGRATED SEMICONDUCTOR CIRCUIT
DE3311923A1 (en) THIN FILM TRANSISTOR ARRANGEMENT
DE2232189A1 (en) MONOLITHIC MEMORY ARRANGEMENT WITH LATENT BIT PATTERN
DE10228544A1 (en) DRAM has bonding pads arranged on east/west band on peripheral region along two opposing sides of DRAM and outermost power supply pads arranged near center of north/south band
DE3939337C2 (en)
DE3432973C2 (en)
DE4330778A1 (en) Memory cell circuit for multiport memory device - has MOS transistors in series between bit line and ground with gates connected to output or input of NAND=gate
DE69920121T2 (en) Word line driver circuit with ring-shaped device
DE3623516C2 (en) Output buffer circuit
DE2734361A1 (en) ADDRESS SELECTION CIRCUIT FOR SEMI-CONDUCTOR STORAGE DEVICES
DE3787625T2 (en) High-density read-only memory in a CMOS gate array.
DE19501535C2 (en) Internal power supply circuit
DE2242332C3 (en) Cell for an integrated memory circuit with random access
DE4406459A1 (en) Integrated semiconductor circuit device with memory cell arrangement
DE19603084A1 (en) Semiconductor device
DE3328042C2 (en)
DE69417860T2 (en) Row decoder for a memory with a low supply voltage
DE10216909C1 (en) Transistor voltage level converter circuit for memory decoding circuits has input and output lines and outputs voltage level lower than low state and voltage level higher than high state
DE69722132T2 (en) Static semiconductor memory device with precharge circuit with a configuration similar to that of a memory cell
DE4237001C2 (en) Semiconductor integrated circuit device
DE3705146A1 (en) SOLID IMAGE SENSOR
DE10254155B4 (en) Mask-programmable ROM device
DE19918932A1 (en) Dynamic RAM (DRAM) type semiconductor memory with numerous memory cells

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of the examined application without publication of unexamined application
8304 Grant after examination procedure
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee