DE1021595B

DE1021595B - Interferometer nach Mach-Zehnder fuer Durchlichtbeobachtung

Info

Publication number: DE1021595B
Application number: DEL22605A
Authority: DE
Inventors: Dr Willi Horn
Original assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Current assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority date: 1955-08-02
Filing date: 1955-08-02
Publication date: 1957-12-27

Description

Interferometer nach Mach-Zehnder für Durchlichtbeobachtung Interferometer nach Michelson sind durch Hinzufügen von Objektiven zur vergrößerten Abbildung eines Objekts geeignet, falls das Objekt spiegelt, die Beobachtung also mit Auflicht erfolgt. Im Falle der Durchlichtbeobachtung sind Interferometer nach Mach-Zehnder vorzuziehen. Sie erfordern jedoch in jedem der kohärenten Strahlenbündel zwei Objektive, deren eines zur Abbildung, deren anderes als Kondensator dient. Diese Forderung nach vier genau gleichen Objektiven ist schwer zu erfüllen. denn es müssen die optischen Wege in allen Objektiven bis auf Bruchteile einer Wellenlänge gleich sein. Verwendet man Kondensatoren großer Apertur, so enthält jedes der Lichtbündel Strahlen, die verschieden große Wege im Objekt zurückgelegt haben, wodurch die Interferenz gestört wird. Es ist daher ein Kompromiß zu schließen zwischen der Größe der Beleuchtungsapertur und damit der nutzbaren Vergrößerung und der Schärfe der Interferenzlinien.
Verwendet man Objektive großer Apertur zur Abbildung des Objekts, so kann man erfindungsgemäß trotzdem die Beleuchtung mit langbrennweitigen Kondensoren geringer Apertur, insbesondere mit einem beiden Strahlenbündeln gemeinsamen Kondensor. machen und diesen vor dem Strahlenteiler anordnen.
Man hat dann zwischen dem Strahlenteiler und -vereiniger nur zwei gleiche Objektive und die zur Erzeugung der Streifenabstände und Streifenneigung dienenden schwenkbaren Planparallelplatten.
Man kann ferner diese Anordnung in der Weise svmmetrisch zu der Lichteinfallrichtung ausbilden, daß das aus dem Strahlenvereiniger austretende Lichtbündel in der Richtung des Lichteinfalls verläuft. Dadurch wird es möglich, das Interferometer als Zusatzgerät zu einem üblichen Mikroskopstativ auszubilden.
Tn der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel des Interferometers nach der Erfindung dargestellt.
Die beiden Strahlenteilerflächen 1 und 2 befinden stich zwischen den Prismen 3, 4 und 5, 6. Hierbei sind die Prismen 3 und 5 gleich, dasselbe gilt für die Prismen 4 und 6. Die Prismen 3 und 5 haben je zwei vc,llständig reflektierende Flächen 7, 8 bzw. 7', 8', während die Prismen 4 und 6 nur je eine solche Fläche 9 bzw. 9' besitzen. Die Teilerflächen 1 und 2 liegen einander parallel. Mit 10 ist ein Okular bezeichnet.
Vor der Teilerfläche 1 ist ein Kondensor 11 angeordnet, In jedem der beiden kohärenten -Teilbündel ist ein Objektiv 12, 13 angeordnet. Mit 14 ist ein Objekttisch bezeichnet, der in jedem Teilbündel eine Objektträgerplatte 15, 16 besitzen kann, wobei diese den Forderungen der Interferenzoptik entsprechend genau gleich sind. Die Objektive sind in der Ouerrichtung einstellbar mit Hilfe des Triebes 17, während eine Justierung der Strahlenbündel in der dazu senkrechten Richtung mit schwenkbaren Planparallelplatten 18, 19 erfolgt. Zur Einstellung der Breite und Neigung der Interferenzstreifen dienen Jaminsche Kompensatorplatten 20, 21 und 22, 23, die schwenkbar angeordnet sind. Die beiden Gehäuseteile 24, 25 sind durch Verbindungsstücke starr miteinander verbunden.
PATEXTANSPRUCHE: 1 Interferometer nach Mach-Zehnder für Durchlichtbeobachtung. dadurch gekennzeichllet. daß zwischen den Strahlenteilern (1 und 2) in jedem der kohärenten Lichtbündel nur ein Objektiv (12, 13j angeordnet ist und daß ein beiden Teilbündeln gemeinsamer Kondensor (11) vor dem ersten Strahlenteiler (1) steht.

Claims

2. Interferometer nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, daß die Verbindungslinie der Mittelpunkte beider gegen das Lichtbündel schräg stehenden Strahlenteilerflächen (1, 2) mit der Richtung des auf die erste Strahlenteilerfläche auftreffenden Lichtbündels zusammenfällt und daß die beiden Strahlenteilerflächen parallel zueinander sind.

3. Interferometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Mikroskopobjektive (12, 13) parallel zueinander dem Objekttisch (149 gegenüber angeordnet sind. daß ferner zwischen dem Objekttisch und einem Kondensor (11) ein Strahlenteiler (1) und spiegelnde Flächen (7, 8, 9) derart angeordnet sind, daß die vom Strahlenteiler erzeugten Teilstrahlen kleiner Apertur parallel zueinander gerichtet werden. und daß zwischen einem Okular (10) und den Okjektiven ein Strahlenverteiler (2) mit spiegelnden Flächen (7', 8', 9') angeordnet ist.

4. Interferometer nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß beide Strahlenteiler in gleicher Weise aus Prismen (3, 4 bzw. 5, 6) aufgebaut sind, von denen je eines zwei vollständig reflektierende Flächen (7, 8 bzw. 7'. 8½, das andere eine solche Fläche (9 bzw. 9') enthält.

In Betracht gezogene Druckschriften: Britische Patentschrift Nr. 727 893; französische Patentschrift Nr. 821 610.