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DE102009012200A1 - Verfahren und Vorrichtung zur thermischen Umsetzung metallischer Precursorschichten in halbleitende Schichten mit Chalkogenquelle - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur thermischen Umsetzung metallischer Precursorschichten in halbleitende Schichten mit Chalkogenquelle Download PDF

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DE102009012200A1
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Germany
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substrates
carrier gas
gas mixture
chalcogen
chalcogen vapor
Prior art date
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Withdrawn
Application number
DE102009012200A
Other languages
English (en)
Inventor
Immo KÖTSCHAU
Reinhard Lenz
Dieter Dr. Schmid
Robert Michael Hartung
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Centrotherm Photovoltaics AG
Original Assignee
Centrotherm Photovoltaics AG
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Publication date
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Priority to TW099106408A priority patent/TWI509107B/zh
Priority to PCT/IB2010/000472 priority patent/WO2010100561A1/en
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Abstract

Bei der vorliegenden Erfindung handelt es sich um ein Verfahren zur thermischen Umsetzung metallischer Precursorschichten auf flachen Substraten in halbleitende Schichten mit einer Chalkogenrückgewinnung sowie um eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein schnelles und einfach zu realisierendes Verfahren zur thermischen Umsetzung metallischer Precursorschichten sowie eine zur Durchführung des Verfahrens geeignete Vorrichtung mit möglichst geringem primären Einsatz an Chalkogenen zu schaffen. Erreicht wird das durch Ausbilden einer eingangs- und ausgangsseitigen Gasschleuse (4.1, 4.2, 4.3, 4.4) zum sauerstoffdichten Verschluss einer Ofenkammer (1), Einbringen eines oder auch mehrerer mit mindestens einer metallischen Precursorschicht präparierten Substrate (6) in die Ofenkammer (1), Einleiten eines über die Breite der Substrate (6) möglichst gleichmäßig verteilten Chalkogendampf-/Trägergasgemisches oberhalb der Substrate (6) bei einem Druck nahe Atmosphärendruck, Erwärmen der Substrate (6) in der Chalkogendampf-/Trägergasatmosphäre (10) auf eine Endtemperatur mit Umwandlung der metallischen Precursorschichten in halbleitende Schichten, Entfernen des nicht in der Reaktion verbrauchten Chalkogendampfes, Abkühlen der Substrate (6) sowie deren Entnahme aus der Ofenkammer (1). Es ist zweckmäßig, die Substrate (6) in einer Schutzgasatmosphäre auf eine Temperatur zu erwärmen, bei der möglichst keine Kondensation von ...

Description

  • Bei der vorliegenden Erfindung handelt es sich um ein Verfahren und eine Vorrichtung zur thermischen Umsetzung metallischer Precursorschichten auf flachen Substraten in halbleitende Schichten.
  • Für eine preiswerte und möglichst umweltfreundliche Energieerzeugung durch Umwandlung von Sonnenlicht in elektrische Energie wird eine Herstellung von hocheffizienten Solarzellen bei möglichst geringem Material- und Energieeinsatz benötigt. Viel versprechend sind hier Dünnschichtsolarzellen, insbesondere Solarzellen auf der Basis von Verbindungshalbleitern wie zum Beispiel Kupfer-Indium-Gallium-Selenid (CIGS).
  • Die Herstellung von halbleitenden Schichten erfolgt in einen mehrstufigen Prozess. Die metallischen Precursorschichten können Kupfer (Cu), Gallium (Ga) und Indium (In) enthalten, die mit bekannten Technologien, wie zum Beispiel Sputtern, auf das Substrat, welches ein Glassubstrat mit einer Molybdänschicht (Mo) sein kann, aufgebracht werden können. In einem zweiten Schritt werden in einem Temperprozess die metallischen Precursorschichten in einer chalkogenhaltigen Atmosphäre, vorzugsweise bestehend aus Selen und/oder Schwefel, in halbleitende Schichten, vorzugsweise in eine CuInGaSe(CIGS)-Schicht, umgewandelt. Die Chalkogene nehmen bei Raumtemperatur, also um ca. 20°C, einen festen Aggregatzustand ein.
  • Derartige mit einer halbleitenden Schicht präparierten Substrate können dann zu Solarmodulen weiter verarbeitet werden. Wesentlich für einen guten Wirkungsgrad ist die möglichst vollständige Umsetzung der metallischen Precursorschichten in eine halbleitende Schicht mit gleicher Schichtdicke über die Fläche des Substrats hinweg.
  • Nach dem Stand der Technik sind Verfahren zur thermischen Umsetzung dieser präparierten Precursorschichten in halbleitende Schichten bekannt geworden, die im Vakuum ablaufen. Das Problem bei den Vakuumprozessen ist die lange Umsetzungszeit, auch Prozesszeit genannt. Dies führt bei der industriellen Umsetzung zu Problemen, weil lange Prozesszeiten stets mit niedriger Produktivität einhergehen. Eine Lösung wäre einerseits der Einsatz vieler Maschinen gleichzeitig, was jedoch hohe Investitionskosten bedeuten würde, oder andererseits aber die Beschleunigung der Prozesse. Hierfür bietet der Stand der Technik jedoch keine Hinweise.
  • Weiterhin sind nach dem Stand der Technik Verfahren zur thermischen Umsetzung dieser präparierten Precursorschichten in halbleitende Schichten bekannt geworden, die unter atmosphärischen Bedingungen und unter Zufuhr von Wasserstoff enthaltenden Gasen, zum Beispiel Selenwasserstoff, ablaufen ( EP 0 318 315 A2 ). Die Verwendung von toxischen Gasen wie zum Beispiel Selenwasserstoff ist allerdings problematisch.
  • Aus EP 0 662 247 B1 ist ein Verfahren zur Herstellung eines Chalkopyrit-Halbleiters auf einem Substrat bekannt geworden, bei dem das mit Metallen, wie Kupfer, Indium oder Gallium, präparierte Substrat in einem inerten Prozessgas auf eine Endtemperatur von mindestens 350°C mit einer Aufheizrate von zumindest 10°C/Sekunde aufgeheizt wird. Die Endtemperatur wird für eine Zeitspanne von 10 Sekunden bis 1 Stunde aufrechterhalten, in der das Substrat Schwefel oder Selen als Komponente im Überschuss gegenüber den Komponenten Kupfer, Indium oder Gallium ausgesetzt wird. Dazu befindet sich über dem Schichtaufbau auf dem Substrat eine Abdeckung im Abstand von weniger als 5 mm im Sinne einer Verkapselung. Wie in der Patentschrift beschrieben wird, liegt der Partialdruck von Schwefel oder Selen dabei über dem Partialdruck, der sich über einer stöchiometrisch exakten Zusammensetzung der Ausgangskomponenten Kupfer, Indium oder Gallium und Selen oder Schwefel im Verhältnis 1:1:2 ausbilden würde. Es wird allerdings kein in verschiedene Temperaturbereiche segmentierter Ofen, der für ein Durchlaufverfahren geeignet ist, beschrieben.
  • In der nachveröffentlichten internationalen Patentanmeldung PCT/EP 2008/007466 ist ein einfach zu realisierendes, schnelles Durchlaufverfahren zur thermischen Umsetzung metallischer Schichten auf beliebigen Substraten in halbleitende Schichten, sowie eine zur Durchführung des Verfahrens geeignete Vorrichtung angegeben.
  • Erreicht wird das mit einem Verfahren, bei dem die mindestens mit einer metallischen Precursorschicht präparierten Substrate in einem in unterschiedliche Temperaturbereiche segmentierten Ofen bei ca. atmosphärischen Umgebungsdruck in mehreren Schritten jeweils auf eine vorgegebene Temperatur bis zur Endtemperatur zwischen 400°C und 600°C erwärmt und unter Beibehaltung der Endtemperatur in einer Atmosphäre aus einer Mischung aus einem Trägergas und Chalkogendampf in halbleitende Schichten umgewandelt werden.
  • Auf die Weise können gute halbleitende Schichten bei Aufheizraten deutlich unterhalb von 10°C/Sekunde erhalten werden.
  • Nach dem Stand der Technik muss dabei gewährleistet sein, dass beim Erreichen der Endtemperatur genügend Chalkogene vorhanden sind, damit eine möglichst vollständige Umwandlung der metallischen Precursorschichten in halbleitende Schichten erfolgen kann.
  • Dies wird durch ein Überschussangebot an Chalkogenen gewährleistet. Nicht in der Reaktion verbrauchtes, überschüssiges Chalkogen wird mit dem Trägergas zusammen über einen Abgaskanal des Ofens abtransportiert. Nach dem Stand der Technik können und müssen die Chalkogene aus dem abgeführten Chalkogendampf-/Trägergasgemisch, auch Abgas genannt, herausgefiltert und als Abfall entsorgt werden.
  • Weiterhin werden nach dem Stand der Technik die Chalkogene für die thermische Umwandlung der metallischen Precursorschichten bevorzugt über mindestens eine Schicht aus Chalkogenen auf den metallischen Precursorschichten bereitgestellt, die dann im Ofen verdampfen und dem Prozess zur Verfügung stehen. Ein schnelles und kostengünstiges Beschichtungsverfahren für Chalkogene sowie eine zur Durchführung des Verfahrens geeignete Vorrichtung wurde in der nachveröffentlichten Patentanmeldung PCT/EP 2008/062061 geschaffen.
  • Bei diesem Beschichtungsverfahren kondensiert nur ein Teil der Chalkogene auf den Substraten. Die Chalkogene die nicht kondensieren werden kontrolliert abgeführt und als Abfall entsorgt.
  • Eine Wiederaufbereitung zur erneuten Verwendung ist kaum möglich. Daher sollte das Chalkogendampf-/Trägergasgemisch möglichst bedarfsgerecht dem Prozess zugeführt und Verluste während des Prozesses möglichst vermieden werden.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung für die thermische Umsetzung von metallischen Precursorschichten in halbleitende Schichten mit best möglicher Qualität und optimaler Nutzung der Prozessgase anzugeben, wobei der Abfall an Chalkogenen des gesamten Prozesses deutlich reduziert werden soll.
  • Die der Erfindung zugrunde liegenden Aufgabe wird durch ein Verfahren gelöst durch Ausbilden einer eingangs- und ausgangsseitigen Gasschleuse zum sauerstoffdichten Verschluss einer Ofenkammer, Einbringen eines oder mehrerer mit mindestens einer metallischen Precursorschicht präparierten Substrate in die Ofenkammer, Einleiten eines über die Breite der Substrate hinweg möglichst gleichmäßig verteilten Chalkogendampf-/Trägergasgemisches oberhalb der Substrate bei einem Druck nahe Atmosphärendruck, Erwärmen der Substrate in der Chalkogendampf-/Trägergasatmosphäre auf eine Endtemperatur mit Umwandlung der metallischen Precursorschichten in halbleitende Schichten, Abführen des nicht in der Reaktion verbrauchten Chalkogendampf-/Trägergasgemisches, Abkühlen der Substrate und Ausführen der Substrate aus der Ofenkammer.
  • Durch die Erfindung werden die Abfallmengen verringert, da die Prozessgase optimal ausgenuzt werden und da Verluste an Prozessgasen nahezu vermieden werden. Das führt zu einem vereinfachten Produktionsverfahren und zur Redaktion der Kosten, da auch primär weniger Chalkogene eingesetzt werden.
  • Eine weitere Verbesserung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird erreicht, wenn die Substrate in einer Schutzgasatmosphäre bis auf eine Temperatur erwärmt werden, bei der möglichst keine Verdampfung von Chalkogenen stattfindet.
  • Weiterhin kann über der Oberfläche der Substrate zwischen den Gasschleusen eine Strömung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches erzeugt werden, wodurch einerseits die Qualität der herzustellenden halbleitenden Schichten verbessert wird. Andererseits kann dadurch die Menge an zuzuführendem Chalkogendampf-/Trägergasgemisch im Vergleich zu einer unbewegten Atmosphäre verringert werden.
  • Das Chalkogendampf-/Trägergasgemisch wird bevorzugt durch Trägergas, welches an geschmolzenen Chalkogenen vorbeiströmt und dabei Chalkogendampf aufnimmt, erzeugt.
  • Vorzugsweise wird das Chalkogen Selen und als Schutz-/Trägergas ein inertes Gas, wie zum Beispiel Stickstoff, verwendet.
  • Nach der Umwandlung der metallischen Precursorschichten in halbleitende Schichten und vor dem Entfernen des nicht in der Reaktion verbrauchten Chalkogendampfes kann das Substrat in der Chalkogendampf-/Trägergasatmosphäre bei einer vorgegebenen Temperatur gehalten und anschließend abgekühlt werden.
  • In einer Weiterentwicklung der Erfindung werden die Substrate in einem in mehrere Temperaturbereiche segmentierten Ofen in mehreren Schritten auf eine jeweils vorgegebene Temperatur erwärmt.
  • Dabei werden die in dem Ofen befindlichen Substrate gleichzeitig und schrittweise von Segment zu Segment transportiert, wobei die vorgegebene Verweildauer in den einzelnen Segmenten identisch ist.
  • Die Verweildauer kann zum Beispiel 60 Sekunden betragen.
  • Die Aufheizung der Substrate kann in Stufen von Raumtemperatur auf zum Beispiel ca. 150°C, 450°C und 550°C vorgenommen werden, wobei als Endtemperatur die 550°C-Marke nicht überschritten werden muss.
  • Die Substrate können anschließend in mindestens einem Schritt auf Raumtemperatur abgekühlt werden.
  • Für die Bereitstellung des notwendigen Chalkogendampfes zur Umwandlung der metallischen Precursorschichten in halbleitende Schichten können die Substrate vor dem Einbringen in den Ofen bereits mit mindestens einer Chalkogenschicht versehen werden. Die Chalkogene auf dem Substrat verdampfen dann im Ofen bei dünnen Schichten vollständig und stehen im Ofen zusätzlich zur direkten Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches für den Umwandlungsprozess zur Verfügung.
  • Bei dicken Chalkogenschichten kann auch nur ein Teil der Chalkogene verdampfen und die metallischen Precursorschichten können zum Teil auch direkt mit geschmolzenen Chalkogenen in halbleitende Schichten umgewandelt werden.
  • Die Chalkogenschichten werden bevorzugt durch Aufdampfen von Chalkogenen auf die metallischen Precursorschichten aufgebracht. Dies kann unter atmosphärischen Bedingungen in einem Durchlaufprozess erfolgen.
  • Die Erfindung kann weiterhin dadurch gekennzeichnet sein, dass die metallischen Precursorschichten durch aufeinander folgendes Sputtern von Kupfer/Gallium und Indium hergestellt werden.
  • Zu diesem Zweck werden zum Beispiel aus Glas bestehende Substrate zunächst durch Sputtern mit einer Molybdänschicht versehen, auf der dann eine zweite Schicht aus Kupfer/Gallium von einem zusammengesetzten Kupfer/Gallium-Target und schließlich eine dritte Schicht aus Indium von einem Indium-Target unter Hochvakuum gesputtert werden. Typischerweise erfolgt die Beschichtung mit Molybdän in einer ersten Sputteranlage, die Beschichtung mit Kupfer/Gallium und Indium in einer zweiten Sputteranlage.
  • Die Aufgabe wird weiterhin durch eine Vorrichtung gelöst, die aus einem Ofen mit einer in mehrere Temperaturbereiche segmentierten Ofenkammer, die eine Öffnung zum Einbringen der Substrate und eine Öffnung zum Ausbringen der Substrate mit kleinst möglichen Abmessungen aufweist, mit einer Gasschleuse an der Öffnung zum Einbringen der Substrate, mit einer Gasschleuse an der Öffnung zum Ausbringen der Substrate, mit einem Transportmittel für flache Substrate zum schrittweisen und gleichzeitigen Transport sämtlicher in der Ofenkammer befindlicher Substrate zum jeweils nächsten Segment und mit einem Abgaskanal zum Entfernen eines Chalkogendampf-/Trägergasgemisches besteht, dadurch gekennzeichnet, dass in einer Wand der Ofenkammer zwischen den Gasschleusen Mittel zur Erzeugung einer Strömung eines Chalkogendampf-/Trägergasgemisches längs der Substrate angeordnet sind.
  • Die Mittel zur Erzeugung der Strömung bestehen aus mindestens einer Öffnung in einer Wand der Ofenkammer zur Zuführung eines Chalkogendampf-/Trägergasgemisches und mindestens einer Öffnung in der Wand der Ofenkammer zur Absaugung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches.
  • Die Abmessungen der Öffnungen sollten nahezu denn der durch diese zu schleusenden Substrate entsprechen, zumindest dass die Höhe der Öffnungen nur unerheblich größer als die Dicke der Substrate ist, Dadurch können Verluste an Prozessgasen in Verbindung mit den Gasschleusen erheblich verringert werden.
  • Bei einer solchen erfindungsgemäßen Vorrichtung stellt sich in der Ofenkammer ein Innendruck nahe Atmosphärendruck ein, und zwar bedingt durch die Abmessungen der Öffnungen zum Hindurchschleusen der Substrate, sowie die zugehörigen Gasvorhänge, die Menge an zugeführten Gasen, die Absaugung der Gase bzw. des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches und der Temperatur. Der genaue Druck lässt sich über da Verhältnis der zugeführten und der abgesaugten Gase einstellen.
  • In einer Ausführung der Erfindung befindet sich die Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches in der Wand der Ofenkammer, die der beschichteten Fläche eines in der Ofenkammer befindlichen Substrates gegenüber liegt.
  • Vorzugsweise wird das Chalkogen Selen verwendet.
  • Die Temperaturen in den verschieden Segmenten können zum Beispiel mit Hilfe von Heiz- und Kühlsystemen unabhängig voneinander eingestellt werden.
  • In einer Weiterentwicklung der Erfindung ist jedes Segment von den anderen Segmenten thermisch isoliert. Dies ermöglicht, dass benachbarte Segmente auf deutlich unterschiedliche Temperaturen gebracht werden können.
  • Weiterhin kann jedes Segment für sich thermisch gedämmt werden, um den Energieeinsatz für die Beheizung des Segments zu reduzieren.
  • In einer Ausführung der Erfindung bestehen die Wände der Ofenkammer aus Graphit.
  • Aufgrund des schrittweisen und gleichzeitigen Transports der Substrate von Segment zu Segment, ist die Verweildauer der Substrate in den einzelnen Segmenten identisch und kann zum Beispiel ca. 60 Sekunden betragen.
  • Mehrere Segmente am Anfang der Ofenkammer bilden eine Aufwärmzone und mehrere Segmente am Ende der Ofenkammer bilden eine Abkühlzone. Die Segmente zwischen Aufwärmzone und Abkühlzone ist die Zone in der die thermische Umwandlung stattfindet, die Reaktionszone.
  • Die Aufwärmzone ist mit der eingangsseitigen Gasschleuse am Eingang der Aufwärmzone versehen. Am Ausgang der Aufwärmzone kann eine zusätzliche Gasschleuse vorhanden sein.
  • Die Gasschleusen am Anfang und am Ende der Aufwärmzone trennen die Atmosphäre der Aufwärmzone von der Atmosphäre außerhalb der Ofenkammer und von der Atmosphäre der Reaktionszone. Damit kann in einer Schutzgasatmosphäre, insbesondere unter Ausschluss von Sauerstoff aber auch in Abwesenheit von Chalkogendampf, eine Aufwärmung der Substrate auf eine vorgegebene Temperatur stattfinden.
  • In einer Ausführung der Erfindung ist die Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches direkt nach der Gasschleuse am Ausgang der Aufwärmzone angebracht.
  • Dies hat den Vorteil, dass die Substrate in der Aufwärmzone in Abwesenheit von Sauerstoff aber auch von Chalkogendampf auf eine Temperatur, bei der möglichst keine Kondensation von Chalkogendampf stattfinden kann, erwärmt werden. Werden die Substrate dann durch die Gasschleuse am Ausgang der Aufwärmzone durchgeschleust wird durch die Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches Chalkogendampf für die gesamte Fläche der Substrate angeboten.
  • Die Abkühlzone ist mit der ausgangsseitigen Gasschleuse am Ende der Abkühlzone versehen. Am Eingang der Abkühlzone kann eine zusätzliche Gasschleuse vorhanden sein.
  • Die Gasschleusen am Anfang und am Ende der Abkühlzone trennen die Atmosphäre der Abkühlzone von der Atmosphäre außerhalb der Ofenkammer und von der Atmosphäre der Reaktionszone. Damit kann in einer Schutzgasatmosphäre, insbesondere unter Ausschluss von Sauerstoff, eine Abkühlung der Substrate stattfinden.
  • Weiterhin verhindern die zusätzlichen Gasschleusen am Ende der Aufwärmzone und am Anfang der Abkühlzone sowohl den Austritt von Chalkogen aus der Reaktionszone in die Umgebung als auch das Eindringen von zum Beispiel Sauerstoff und Wasserstoff in die Reaktionszone.
  • Zum besseren Ausschluss von zum Beispiel Sauerstoff oder Wasserstoff aus der Ofenkammer, kann die Ofenkammer von einem Gehäuse mit einer Öffnung zum Einbringen der Substrate und einer Öffnung zum Ausbringen der Substrate umgeben sein.
  • Das Gehäuse kann zum Beispiel eine Edelstahlumhüllung sein.
  • Weiterhin kann das Gehäuse eine separate Gehäuseabsaugung besitzen und es kann eine Spülung mit einem Schutzgas vorgesehen sein.
  • In einer Ausführung der Erfindung hat das Gehäuse ein separates Kühlsystem. Dies erlaubt die abgestrahlte Wärme der Ofenkammer abzuführen.
  • Schließlich kann im Gehäuse ein Sauerstoff-Sensor und/oder ein H2Se-Sensor angebracht sein.
  • Der Sauerstoffsensor ermöglicht ein eindringen von Sauerstoff in den Raum zwischen Gehäuse und Ofenkammer festzustellen.
  • Der H2Se-Sensor dient zur Sicherheit, um ein eventuelles Entstehen von Selenwasserstoff rechtzeitig festzustellen und den Betreiber entsprechend zu warnen.
  • In einer Fortentwicklung der Vorrichtung können die Gasflüsse zu beiden Seiten der Gasschleusen unabhängig voneinander eingestellt werden.
  • Die Gasschleusen der Ofenkammer können dazu aus jeweils mindestens zwei Gasvorhängen bestehen. Es können auch zusätzliche Absaugungen zwischen den Gasvorhängen vorhanden sein. Dadurch wird sicher verhindert, das Prozessgase die Ofenkammer unkontrolliert verlassen können.
  • Bevorzugt wird als Schutz-/Trägergas ein inertes Gas, wie zum Beispiel Stickstoff, verwendet.
  • Die Öffnung zum Einbringen der Substrate, die Öffnung zum Ausbringen der Substrate und die Gasschleusen ermöglichen es die Vorrichtung im Durchlaufverfahren, bei einem Druck in der Nähe des Atmosphärendrucks und unter definierten Restgasbedingungen, insbesondere unter Ausschluss von Sauerstoff und Wasserstoff, zu betreiben. Auch hierdurch kann dem unkontrollierten Verlust von Prozessgasen vorgebeugt werden.
  • Das Transportmittel, die Öffnung zum Einbringen der Substrate und die Öffnung zum Ausbringen der Substrate erlauben ein Einbringen der Substrate in die Ofenkammer hinein, ein Transportieren der Substrate durch die Ofenkammer hindurch und ein Ausbringen der Substrate nach der Umsetzung der metallischen Precursorschichten in halbleitende Schichten aus der Ofenkammer hinaus.
  • Die Vorrichtung ist so angeordnet, dass das Chalkogendampf-/Trägergasgemisch hauptsächlich über eine Fläche der in der Ofenkammer befindlichen Substrate strömt.
  • Zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches über die Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches ist diese Öffnung über eine oder auch mehrere Leitungen mit einer Verdampfungskammer verbunden.
  • In einer Fortführung der Erfindung ist die Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches eine schlitzförmige Öffnung, die senkrecht zur Transportrichtung ausgerichtet ist und die sich über das ganze in der Ofenkammer befindliche Substrat erstreckt. Dies hat den Vorteil einer gleichmäßigeren Verteilung des Chalkogendampfes in der Ofenkammer.
  • Die Leitungen von der Verdampfungskammer zu der schlitzförmigen Öffnung können entlang der schlitzförmigen Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches verteilt enden um eine gleichmäßige Verteilung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches über die gesamte Öffnung hinweg zu erhalten.
  • In einer Weiterentwicklung der Erfindung können die Leitungen die zu einer schlitzförmigen Öffnung führen im unteren Teil der Leitungen die Form der schlitzförmigen Öffnung annehmen. Die ermöglicht eine nahezu gleichmäßige Verteilung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches über die gesamte schlitzförmige Öffnung hinweg.
  • Weiterhin können die Leitungen im untern Teil mit Verengungen gefolgt von Entspannungszonen versehen sein.
  • Dies bewirkt, dass das Chalkogendampf-/Trägergasgemisch welches durch diese Verengungen strömt aufgestaut und damit komprimiert und dann wieder ausgedehnt wird. Dieser Vorgang wird wiederholt. Dadurch verteilt sich das Chalkogendampf-/Trägergasgemisch auf die gewünschte Länge hinweg und ermöglicht eine homogene Verteilung des Chakogendampfes.
  • Die Verdampfungskammer ist eine Kammer mit mindestens einem Ausgang zur Abführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches an die sich die Leitungen anschließen. Die Verdampfungskammer kann mindestens einen zusätzlichen Eingang zur Versorgung mit festem Chalkogen und einen Zugang für die Zuführung eines Trägergases haben.
  • Das feste Chalkogen schmilzt in der beheizbaren Verdampfungskammer und bildet einen Chalkogensee. Zur Dossierung der Chalkogene kann die Verdampfungskammer mit einem Füllstandssensor ausgestattet sein.
  • Das Trägergas, welches in die Verdampfungskammer eintritt und vorzugsweise vorher erwärmt wurde, nimmt in der Verdampfungskammer Chalkogendampf auf und das Chalkogendampf-/Trägergasgemisch wird über eine oder mehrere Leitungen der Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches zugeführt.
  • Um die Strömungsgeschwindigkeit mit der das Trägergas in die Verdampfungskammer strömt zu steuern, kann es durch einen Durchflussmesser überwacht und über ein Feinregulierventil eingestellt werden. Es versteht sich, dass die Steuerung automatisiert ablaufen kann.
  • Um einen Rückfluss von der Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches zu der Verdampfungskammer zu verhindern, kann eine zusätzliche Trägergaseinspeisung in jeder Leitung zwischen Verdampfungskammer und Öffnung zur Zuführung vorgesehen sein. Das so genannte Prozesszusatzgas, welches durch diese zusätzlichen Einspeisungen eingebracht wird, erzeugt dabei einen Sog, der das Chalkogendampf-/Trägergasgemisch aus der Verdampfungskammer heraussaugt.
  • Um die Strömungsgeschwindigkeit, mit der das Prozesszusatzgas in eine Leitung zwischen Verdampfungskammer und Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches fließt, zu steuern, kann jede Leitung mit einem Durchflussmesser überwacht und über ein Feinregulierventil eingestellt werden.
  • Eine erhöhte Strömungsgeschwindigkeit des Prozesszusatzgases führt zu einem größeren Chalkogendampf-/Trägergasfluss in der zugehörigen Leitung zwischen Verdampfungskammer und schlitzförmigen Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches.
  • Mit der unabhängigen Regelung der Prozesszusatzgasflüsse kann die Homogenität des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches senkrecht zur Transportrichtung weiter verbessert werden.
  • Da, wie bereits beschrieben, nicht der gesamte Chalkogendampf in der Reaktion aufgebraucht wird, muss dieses Chalkogendampf-/Trägergasgemisch als Abgas über den Abgaskanal abgeführt werden. Um den Verlust an Chalkogen zu begrenzen kann dieses Abgas über einen Durchflussmengenteiler aufgeteilt werden. Ein Teil wird dann weiterhin als Abgas, genannt Restabgas, abgeführt, der andere Teil kann, zum Beispiel über die zusätzliche Trägergaseinspeisungen oder über die Trägergaseinspeisung der Verdampfungskammer, dem Prozess wieder zur Verfügung gestellt werden. Dabei sollte die Temperatur des zurückgeführten Chalkogendampf-/Trägergasgemisches nie die Kondensationstemperatur des Chalkogens unterschreiten, um eine Kondensation des Chalkogens in der Rückführung zu vermeiden.
  • Das Restabgas kann gefiltert und dann abgeführt werden. Der Abfall an Chalkogenen muss entsorgt oder einer Wiederaufbereitung zugeführt werden.
  • In einer Fortführung dieser Abgasrückführung wird dem Restabgas Chalkogen entzogen und das wieder der Beschichtung zurückgeführte Gas mit Chalkogen angereichert.
  • Zur Zuführung des festen Chalkogens in die Verdampfungskammer kann mindestens eine Zuführungseinrichtung in die Vorrichtung eingebaut werden. Eine Zuführungseinrichtung kann aus einem Behälter, der trichterförmig sein kann und der für einen Vorrat an Chalkogen sorgt, einer Dosiereinrichtung, die es erlaubt eine vorgegebene Menge über mindestens eine Rohrleitung in eine Verdampfungskammer einzubringen, und einem Ventil für jede Rohrleitung bestehen. Die Ventile sind während der Zuführung des Chalkogens geöffnet und bleiben sonst verschlossen, so dass weitestgehend ein Austreten von Chalkogendampf aus der Verdampfungskammer in die Zuführungseinrichtung hinein verhindert wird.
  • Bei großen Anlagen kann über mehrere Eingänge zur Versorgung mit festem Chalkogen eine gleichmäßige Verteilung in einer Verdampfungskammer gewährleistet werden. Dabei kann eine Zuführungseinrichtung festes Chalkogen gleichmäßig auf die verschiedenen Eingänge der Verdampfungskammer verteilen, oder es kann auch für jeden Eingang eine separate Zuführungseinrichtung vorgesehen sein.
  • Ein weiteres Verhindern von einem Austreten von Chalkogendampf aus der Verdampfungskammer in eine Zuführungseinrichtung kann durch eine Trägergaseinspeisung in die Rohrleitung zwischen Ventil und Verdampfungskammer realisiert werden. Die Strömungsgeschwindigkeit dieser Trägergaseinspeisung kann zum Beispiel über einen Flussmesser erfasst und über ein Feinregulierventil eingestellt werden.
  • In einer Ausführung der Erfindung sind Bauteile die mit dem Chalkogendampf oder dem Chalkogendampf-/Trägergasgemisch kontaktierbar sind vorzugsweise aus einem gegenüber diesem Gemisch resistenten Material, wie zum Beispiel Graphit.
  • Weiterhin sollten Bauteile die mit Chalkogendampf in Verbindung kommen erwärmt werden, so dass eine Kondensation des Chalkogens auf diesen Bauteilen verhindert wird. Dies verhindert eine aufwändige Reinigung und Wartung.
  • Eine Möglichkeit dies zu verwirklichen ist, Teile der Vorrichtung in einem Block, zum Beispiel aus Graphit, unterzubringen und diesen mit einer integrierten Heizung auf die gewünschte Temperatur zu erwärmen.
  • In einer Weiterentwicklung der Erfindung ist die Öffnungen zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches in einem Aufdampfkopf, der in eine Aussparung in der dem Transportmittel gegenüberliegenden Wand eingesetzt ist, untergebracht.
  • Der Aufdampfkopf besteht vorzugsweise aus einem Material welches resistent gegenüber dem Chalkogendampfes ist, insbesondere zum Beispiel aus Graphit.
  • Der Aufdampfkopf kann, zum Beispiel über eine integrierte Heizung, auf eine gewünschte Temperatur gebracht werden.
  • Weiterhin kann eine thermische Entkopplung des Aufdampfkopfes von der Ofenkammer vorgesehen sein. Dies ermöglicht den Aufdampfkopf bei einer anderen Temperatur als der Temperatur des entsprechenden Segments der Ofenkammer zu halten.
  • In einer Weiterentwicklung der Erfindung kann der Aufdampfkopf unter eine dichte Haube mit integriertem Kühlsystem gestellt werden. Der Innenraum der Haube kann in einer speziellen Ausführung mit einem Schutzgas geflutet und abgesaugt werden.
  • In einer Fortführung der Erfindung sind weiter Bauteile die mit Chalkogendampf in Kontakt kommen, zum Beispiel die Verdampfungskammern und die Leitungen zwischen Verdampfungskammer und der Öffnung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches, sowie Stickstoffgaseinspeisungen in dem Aufdampfkopf untergebracht. Das Unterbringen der Stickstoffgaseinspeisungen im Aufdampfkopf hat den Vorteil, dass sich dass Stickstoffgas im Aufdampfkopf bereits erwärmt.
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird anhand der beigefügten Zeichnungen erläutert. Es zeigt:
  • 1 eine schematische Zeichnung einer Ofenkammer zur thermischen Umsetzung von metallischen Precursorschichten in halbleitende Schichten,
  • 2 einen Aufdampfkopf und
  • 3 eine schematische Zeichnung einer Zuführungseinrichtung für Selen.
  • 1 zeigt eine Ofenkammer 1 mit Wänden aus Graphit, welche von einer nicht dargestellten, kühlbaren Edelstahlumhüllung umgeben ist. Der Raum zwischen Ofenkammer und Edelstahlumhüllung kann durch eine Absaugung abgesaugt und mit Stickstoff gespült werden. Die Ofenkammer ist in Segmente S1 ... S7 unterteilt.
  • In jedem Segment S1 ... S7 kann eine gewählte Temperatur durch ein Heiz- 2 bzw. Kühlsystem 3 vorgegeben werden. Dabei sind die Segmente S1 ... S5 mit jeweils einem Heizsystem 2 und die Segmente S6, S7 mit jeweils einem Kühlsystem 3 ausgestattet.
  • Die Aufwärmzone S1 und die Abkühlzone S7 sind mit eingangs- und ausgangsseitigen Gasschleusen 4.1, 4.2; 4.3, 4.4 ausgestattet. Als Schutz- bzw. Trägergas wird Stickstoff verwendet. Die Gasschleusen 4.1, 4.2; 4.3, 4.4 sind von der Gestalt, dass die Gasflüsse auf beiden Seiten der Gasschleusen 4.1, 4.2; 4.3, 4.4 unabhängig von einander einstellbar sind.
  • Die Gasschleusen 4.1, 4.2; 4.3, 4.4 bestehen jeweils aus zwei Gasvorhängen. Weiterhin haben die Gasschleusen 4.1, 4.2; 4.3, 4.4 jeweils eine Absaugung zwischen den beiden Gasvorhängen.
  • Durch die Gasschleusen 4.1, 4.2; 4.3, 4.4 wird ermöglicht, Substrate 6 mittels eines Transportmittels 5 durch die einzelnen Segmente S1 ... S7 der Ofenkammer 1 im Durchlaufverfahren, bei Atmosphärendruck und unter definierten Restgasbedingungen, insbesondere unter Ausschluss von Sauerstoff und Wasserstoff, zu transportieren.
  • Das Transportmittel 5, welches in der Zeichnung nicht näher spezifiziert ist, besteht aus drehbar gelagerten Graphitrollen, auf denen die Substrate 6 schrittweise von Segment zu Segment längs durch die Ofenkammer 1 geschoben werden. Dazu sind verschieb- und drehbare und mit Transportnasen versehene Schubstangen vorgesehen.
  • Um den Transport aller Substrate 6 gleichzeitig durchzuführen, werden die Transportnasen vor jedem Transporthub mit den Substraten 6 durch Verdrehen der Schubstange nach oben in Eingriff gebracht und sämtliche Substrate 6 gleichzeitig beschleunigt. Zum Ende jedes Transporthubes erfolgt das Abbremsen der Substrate 6, wobei deren Vorderkante mit der Transportnase des jeweils vorhergehenden Substrates 6 in Eingriff kommt. Nach erfolgtem Transporthub werden die Transportnasen wieder weggeschwenkt, woraufhin die Transportstange wieder in die Ausgangsposition zurückbewegt wird.
  • Die Verweildauer der Substrate 6 in den einzelnen Segmenten S1 ... S7 ist jeweils identisch und beträgt 60 Sekunden, wobei auch andere Zeiten eingestellt werden können.
  • Bei dem Verfahren wird ein Schichtstapel aus Molybdän auf einem Glassubstrat 6, einer Kupfer/Gallium und Indium Schicht 7 sowie einer dünnen Selenschicht 8 in das Segment S1 eingebracht. Die Molybdän, Kupfer/Gallium- und indium-Schichten werden durch Sputtern in einer Vakuumkammer aufgebracht, wohingegen die Selen-Schicht bei Atmosphärendruck aufgedampft wird.
  • Die Gasschleusen 4.1, 4.2; 4.3, 4.4 und die Heizung 2 gewährleisten in S1 eine erste Aufwärmung des Substrats 6 auf ca. 150°C in Abwesenheit von zum Beispiel Sauerstoff und Wasserstoff.
  • Nach 60 Sekunden wird das Substrat 6 durch die zweite Gasschleuse 4.2 hindurch in das zweite Segment S2 transportiert, in dem das Substrat 6 auf ca. 450°C aufgewärmt wird.
  • Erfindungsgemäß wird Selendampf in S2 über eine Selenquelle unmittelbar nach der Gasschleuse 4.1, 4.2 dem Prozess zugeführt. Dazu ist in S2 eine Aussparung in der dem Transportmittel gegenüberliegenden Wand der Ofenkammer vorgesehen. In diese Aussparung ist ein Aufdampfkopf 9, der in 2 detailliert dargestellt ist, eingesetzt. Über den Aufdampfkopf und die darin befindliche Öffnung 10.1 wird ein Selendampf-/Stickstoffgasgemisch 10 in die Ofenkammer 1 eingebracht.
  • Weiterhin beginnt das Selen auf den Substraten 6 in S2 zu schmelzen und verdampft dann vollständig. Das nun dampfförmige Selen mischt sich mit dem Selendampf-/Stickstoffgasgemisch 10 der Quelle und dem Stickstoffgas der Gasschleusen 4.1, 4.2; 4.3, 4.4 in der Offenkammer 1 zu einem Selendampf-/Stickstoffgasgemisch 10. Dieses Gasgemisch wird mittels Steuerung der Gasflüsse durch die Ofenkammer 1 hindurch über die darin befindlichen Substrate hinweg zu einem Abgaskanal 11 in der dem Transportmittel 5 gegenüberliegenden Wand 1.1 der Ofenkammer 1 transportiert.
  • Der Gasfluss wird so gesteuert, dass beim Erreichen der Endtemperatur im dritten Segment S3 bei der die Reaktion stattfindet, beim Halten der Temperatur in S4 und bei einer Abkühlung in S5 genügend Selendampf vorhanden ist und zumindest in den Sektionen S3. und S4 über die gesamte Oberfläche der Substrate 6 strömt. Nicht in der Reaktion verbrauchtes Selen wird über den Abgaskanal 11 der Ofenkammer 1 zwischen S5 und S6 abtransportiert.
  • In den darauf folgenden Segmenten S6 und S7 wird das Substrat 6 auf ca. 250°C bzw. 50°C abgekühlt und dann aus der Ofenkammer 1 wieder ausgeschleust.
  • Die Steuerung des Gasflusses wird dadurch ermöglicht, dass die Gasflüsse auf beiden Seiten der Gasschleuse 4.1, 4.2; 4.3, 4.4 und im Abgaskanal 11 unabhängig voneinander einstellbar sind. Die Geschwindigkeit des Gasflusses in der Ofenkammer 1 von Segment S2 bis zum Abgaskanal 11 muss dabei auf die Transportgeschwindigkeit der Substrate 6 abgestimmt sein.
  • Die Umwandlung der Precursorschichten in halbleitende CIGS-Schichten (12), findet bereits in S3 bei einer Temperatur von ca. 550°C statt. Danach wird die Temperatur des Substrats 6 in S4 bei ca. 500°C gehalten und im S5 auf ca. 350°C abgekühlt. Da der Abgaskanal 11 sich zwischen den Segmenten S5 und S6 befindet, findet diese Abkühlung in einer Atmosphäre, die Selen enthält, statt. Durch den Dampfdruck des Selens im Selendampf-/Trägergasgemisch 10 wird ein Wiederverdampfen von Selen bei dieser Abkühlung verhindert. Dies ermöglicht eine Herstellung von halbleitenden Schichten mit guter Qualität. Insbesondere können daraus Solarmodule mit guten Wirkungsgraden hergestellt werden.
  • Zum weiteren Schutz, damit kein Selen in die Umgebung entweichen kann, ist der Aufdampfkopf 9 unter eine dichte Haube 13 mit einem integriertem Kühlsystem gestellt. Der Raum zwischen Haube 13 und dem Aufdampfkopf 9 kann mit Stickstoff geflutet, bzw. gespült und abgesaugt werden.
  • In 2 ist der Aufdampfkopf 9 detailliert dargestellt. Das Selendampf-/Stickstoffgasgemisch 10 wird über eine schlitzförmige Öffnung 14 im Aufdampfkopf 9, die senkrecht zur Transportrichtung der Substrate 6 ausgerichtet ist, in die Ofenkammer 1 hinein gebracht.
  • Um eine gleichmäßige Versorgung an Selen senkrecht zur Transportrichtung zu erhalten, muss der Selendampf über die gesamte Breite der Substrate 6 hinweg gleichmäßig in die Ofenkammer 1 eingebracht werden.
  • Dazu hat eine Leitung 15 über die das Selendampf-/Trägergasgemisch 10 im unteren Teil die Form einer schlitzförmigen Öffnung 14. Dies wird über den Schlitz 15 zur Zuführung des Selendampf-/Trägergasgemisches 110 mit mehreren Verengungen in dem Aufdampfkopf 9 verwirklicht. Der Schlitz 15 zur Zuführung verläuft parallel zur schlitzförmigen Öffnung 14 und endet an dieser Öffnung. Dabei staut sich das Gemisch auf und kann anschließend in einer Entspannungszone wieder ausdehnen. Dieser Vorgang wird mehrmals wiederholt. Dadurch verteilt sich das Selendampf-/Trägergasgemisch 10 auf die gesamte schlitzförmige Öffnung hinweg.
  • 3 zeigt eine schematische Zeichnung einer Zuführungseinrichtung für Selen.
  • Selen ist in festem Aggregatszustand kugelförmig kommerziell erhältlich. Die Kugeln weisen einen typischen Durchmesser von 3–5 mm auf. Die Selenkugeln werden in einen trichterförmigen Behälter 16 geschüttet. Der Trichter weist an seinem unteren Ende eine Öffnung auf, durch welche die Selenkugeln senkrecht nach unten fallen können. Außerdem ist der Trichter mit einem Füllstandsmesser ausgestattet.
  • Die Kugeln fallen in eine Dosiervorrichtung 17. Die Dosiervorrichtung 17 besteht aus einem zylinderförmigen Gehäuse und einem mittig drehbar gelagerten, ebenfalls zylinderförmigen Drehteil, nachfolgend Trommel genannt. Das Gehäuse weist zwei Bohrungen auf, eine an der Ober- und eine auf der Unterseite auf dem gleichen Teilkreisdurchmesser und in Ihrer Lage um 180° versetzt. Das innere Drehteil weist vier Bohrungen auf, welche auf dem gleichen Teilkreisdurchmesser liegen. In Ihrer Länge sind die beiden Teile so gestaltet, dass zwischen ihnen keine Selenkugel passt.
  • Liegen die Bohrungen der Teile fluchtend übereinander, können die Selenkugeln in die Trommel fallen. Wird die Trommel um 90° verdreht können die Selenkugeln die Trommel und das Gehäuse, senkrecht nach unten fallend, verlassen.
  • Über die Zeitspanne, die zwischen den 90° Drehungen vergeht und die Anzahl der Selenkugeln, welche in die Bohrung der Trommel passen lässt sich die Anzahl der Selenkugeln und damit die Menge an Selen, welche bereitgestellt wird, dosieren.
  • Anschließend fallen die Selenkugeln durch eine senkrechte Rohrleitung 18 in eine beheizte Kammer 19, auch Verdampfungskammer genannt. In der senkrechten Rohrleitung 18 ist ein, als Kugelhahn mit vollständiger Öffnung ausgeführtes, Ventil 20 eingebaut, welches nur im Zeitraum der Dosierung geöffnet wird. Dadurch kann aus der beheizten Kammer, in der Selendampf vorhanden ist, so gut wie kein Dampf in die Zuführungseinrichtung entweichen.
  • Ein weiteres Verhindern von einem Austreten von Selendampf aus der Verdampfungskammer 19 in die Zuführungseinrichtung ist durch eine Stickstoffgaseinspeisung in die Rohrleitung 21 zwischen Ventil 20 und Verdampfungskammer 19 realisiert. Dieser Stickstofffluss erzeugt einen Fluss in die Verdampfungskammer 19 hinein und verhindert eine Strömung in die entgegengesetzte Richtung.
  • Wie beschrieben fallen die Selenkugeln von oben in eine Kammer 19. Die Kammer 19 ist eine einfache horizontale Bohrung in einem Block aus Graphit, dem Aufdampfkopf 9 in 2, und ist an beiden Stirnseiten verschlossen. In dieser Kammer 19, die zusätzlich zur Selenzuführung einen Eingang 22 und einen Ausgang 23 besitzt, sammelt sich das Selen. Die erwähnten Zugänge befinden sich auf der oberen Seite der Bohrung.
  • Der Block wird samt dem Selen über eine Heizung erhitzt. Durch Erhitzen wird das Selen nun zunächst geschmolzen und verdampft dann bei einem weiteren Temperaturanstieg. In der unteren Hälfte der Kammer befindet sich dann ein flüssiger Selensee 24, in der oberen Hälfte Selendampf 25.
  • Um den Füllstand in der Kammer 19 zu regeln, ist ein nicht dargestellter Füllstandssensor vorgesehen. Der Füllstandssensor gibt an die beschriebene Dosiervorrichtung ein Signal, wenn zu wenig Selen in der Kammer 19 ist. Daraufhin beginnt der beschriebene Vorgang, damit Selen in die Kammer 19 fällt. Ist ein ausreichender Füllstand erreicht, stoppt der Füllstandssensor über ein Signal den Dosiervorgang.
  • Der Selendampf, der sich in der Kammer 19 gebildet hat, muss nun an die Substrate 6 weiter geführt werden. Dabei muss gewährleistet sein, dass der Selendampf nicht abkühlen und kondensieren kann. Der Transport des Dampfes erfolgt über ein Trägergas. Als Trägergas wird Stickstoff verwendet. Dieses muss zuvor auf dieselbe Temperatur, wie in der Kammer 19 vorherrscht, erhitzt werden. Der Stickstoff gelangt durch den Eingang 22 in die Kammer 19, in der sich der Selendampf befindet. Dort nimmt es das Selen auf und befördert es durch den Ausgang 23 der Kammer in Richtung Substrat 6. Die Leitung 23 zwischen der Kammer 19 und schlitzförmiger Öffnung 14/15 zur Zuführung muss auch erhitzt werden um eine Kondensation von Selen zu verhindern, was eine aufwändige Wartung nach sich ziehen würde.
  • Um dieses Vorheizen des Stickstoffgases, das Erhitzen der Verdampfungskammer 19 und der Transportwege leichter zu verwirklichen, ist alles im Aufdampfkopf 9 aus Graphit untergebracht. Der ganze Aufdampfkopf 9 wird beheizt. Das Stickstoffgas wird durch einen nicht dargestellten Mäander im Aufdampfkopf 9 durchgeführt. Dabei erhitzt sich das Gas auf die Temperatur des Aufdampfkopfes 9.
  • Zusätzlich wird die Strömung des mit Selendampf vermischten Stickstoffgases über eine weitere, sich in der Leitung zwischen Verdampfungskammer 19 und schlitzartiger Öffnung zur Zuführung 21 befindende Stickstoffgaseinspeisung 26 gesteuert. Durch das Einströmen dieses Gases, genannt Prozesszusatzgas, wird ein leichter Sog entwickelt, der das Gasgemisch aus der Kammer zieht. Der Fluss über die Stickstoffgaseinspeisung für das Prozesszusatzgas kann über einen Durchflussmesser gemessen und über ein Feinregulierventil eingestellt werden.
  • Um die Strömungsgeschwindigkeit der Stickstoffeinspeisung für das Prozesszusatzgas 26, der Stickstoffeinspeisung in die Rohrleitung 21 und der Stickstoffeinspeisung in die Verdampfungskammer 22 zu steuern, sind diese jeweils mit einem Durchflussmesser und einem Feinregulierventil ausgestattet. Dies erlaubt die entsprechenden Flüsse zu messen und dann einzustellen.
  • 1
    Ofenkammer
    1.1
    Wand
    1.2
    Wand
    1.3
    Öffnung/Eingang
    1.4
    Öffnung/Ausgang
    2
    Heizsystem
    3
    Kühlsystem
    4.1
    Gasschleuse
    4.2
    Gasschleuse
    4.3
    Gasschleuse
    4.4
    Gasschleuse
    5
    Transportmittel
    6
    Molybdän auf Glassubstrat
    7
    Metallische Precursorschichten
    8
    Se-Schicht
    9
    Aufdampfkopf
    10
    Selendampf-/Stickstoffgasgemisch
    10.1
    Öffnung
    11
    Abgaskanal
    12
    CIGS-Schicht
    13
    Haube
    14
    Schlitzförmige Öffnung zur Zuführung
    15
    Schlitz zur Zuführung
    16
    Behälter
    17
    Dosiervorrichtung
    18
    Rohrleitung
    19
    Kammer
    20
    Ventil
    21
    Stickstoffgaseinspeisung in die Rohrleitung
    22
    Eingang
    23
    Ausgang
    24
    Selensee
    25
    Selendampf
    26
    Stickstoffgaseinspeisung für das Prozesszusatzgas
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - EP 0318315 A2 [0006]
    • - EP 0662247 B1 [0007]
    • - EP 2008/007466 [0008]
    • - EP 2008/062061 [0013]

Claims (20)

  1. Verfahren zur thermischen Umsetzung metallischer Precursorschichten auf flachen Substraten in halbleitende Schichten in einer Ofenkammer, gekennzeichnet durch – Ausbilden einer eingangs- und ausgangsseitigen Gasschleuse (4.1, 4.2, 4.3, 4.4) zum sauerstoffdichten Verschluss der Ofenkammer (1), – Einbringen eines oder mehrerer mit mindestens einer metallischen Precursorschicht präparierter Substrate (6) in die Ofenkammer (1), – Einleiten eines über die Breite der Substrate (6) möglichst gleichmäßig verteilten Chalkogendampf-/Trägergasgemisches (10) oberhalb der Substrate, – Erwärmen der Substrate (6) in der Chalkogendampf-/Trägergasatmosphäre (10) auf eine Endtemperatur und Umwandlung der metallischen Precursorschichten in halbleitende Schichten, – Entfernen des nicht in der Reaktion verbrauchten Chalkogendampf-/Trägergasgemisches (10), – Abkühlen der Substrate (6), und – Entnahme der Substrate (6) aus der Ofenkammer (10).
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Substrate (6) in einer Schutzgasatmosphäre bis auf eine Temperatur erwärmt werden, bei der möglichst keine Verdampfung von Chalkogenen stattfindet.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass über der Oberfläche der Substrate (6) zwischen den Gasschleusen (4.1, 4.2, 4.3, 4.4) eine Strömung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches (10) erzeugt wird.
  4. Verfahren nach Anspruch 1 und 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Chalkogendampf-/Trägergasgemisch (10) durch Überströmen von geschmolzenen Chalkogenen mit Trägergas erzeugt wird.
  5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Substrate (6), nach der Umwandlung der metallischen Precursorschichten in halbleitende Schichten und vor dem Entfernen des nicht in der Reaktion verbrauchten Chalkogendampfes, in der Chalkogendampf-/Trägergasatmosphäre (10) bei einer vorgegebenen Temperatur gehalten und anschließend abgekühlt werden.
  6. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Substrate (6) in einem in mehrere Temperaturbereiche segmentierten Ofenkammer (1) in mehreren Schritten auf eine jeweils vorgegebene Temperatur erwärmt werden.
  7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die in der Ofenkammer (1) befindlichen Substrate (6) gleichzeitig und schrittweise von Segment zu Segment transportiert werden.
  8. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Substrate (6) in der Schutzgasatmosphäre auf eine Temperatur von ca. 150°C und anschließend in der Chalkogendampf-/Trägergasatmosphäre auf zunächst ca. 450°C und dann auf die Endtemperatur von ca. 550°C erwärmt werden.
  9. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Substrate (6) vor dem Einbringen in die Ofenkammer (1) mit mindestens einer Chalkogenschicht versehen werden.
  10. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die metallischen Precursorschichten auf dem Substrat (6) durch aufeinander folgendes Sputtern von Kupfer/Gallium und Indium auf einem mit Molybdän beschichteten flachen Glassubstrat hergestellt werden.
  11. Vorrichtung, bestehend aus einem Ofen mit einer in mehrere Temperaturbereiche segmentierten Ofenkammer, die Öffnungen zum Ein- und Ausbringen der Substrate aufweist, mit Gasschleusen an den Öffnungen zum Ein- und Ausbringen der Substrate, mit einem Transportmittel für flache Substrate zum schrittweisen und gleichzeitigen Transport sämtlicher in der Ofenkammer befindlicher Substrate zum jeweils nächsten Segment und mit einem Abgaskanal zum Entfernen eines Chalkogendampf-/Trägergasgemisches besteht, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (1.3, 1.4) zum Ein- und Ausbringen der Substrate (6) kleinst mögliche Abmessungen aufweisen, dass in einer Wand (1.1) der Ofenkammer (1) zwischen den Gasschleusen (4) Mittel zur Erzeugung einer Strömung eines Chalkogendampf-/Trägergasgemisches (10) längs über den Substraten (6) angeordnet sind.
  12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zur Erzeugung einer Strömung längs über den Substraten (6) in oder entgegen deren Transportrichtung aus Öffnungen (10.1) in einer Wand der Ofenkammer (1.1) zur Zu- bzw. Abführung eines Chalkogendampf-/Trägergasgemisches (10) oder eines Trägergases bestehen.
  13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnung (10.1) zur Zuführung eines Chalkogendampf-/Trägergasgemisches (10) Bestandteil eines Aufdampfkopfes (9) ist.
  14. Vorrichtung nach Anspruch 11 und 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (10.1, 11) zur Zu- bzw. Aführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches, oder des Trägergases, sich in der Wand (1.1) der Ofenkammer (1) befindet, die der beschichteten Fläche eines in der Ofenkammer (1) befindlichen Substrates (6) gegenüber liegt.
  15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass eine Aufwärmzone an deren Ausgang mit einer Gasschleuse (4.2) versehen ist.
  16. Vorrichtung nach den Ansprüchen 11 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Öffnung (10.1) zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches (10) direkt nach der Gasschleuse (4.2) angebracht ist.
  17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Öffnung (10.1) zum Zuführen des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches (10) eine schlitzförmige Öffnung ist, die senkrecht zur Transportrichtung ausgerichtet ist und sich über die gesamte Breite der in der Ofenkammer (1) befindlichen Substrate (6) erstreckt.
  18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Öffnung (10.1) zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches (10) über mindestens eine Leitung mit einer Verdampfungskammer (19) verbunden ist.
  19. Vorrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass die Leitungen die zu der schlitzförmigen Öffnung führen, im unteren Teil die Form der schlitzförmigen Öffnung annimmt und mit Verengungen gefolgt von Entspannungszonen versehen ist.
  20. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 18 und 19, dadurch gekennzeichnet, dass die Verdampfungskammer (19) mit mindestens einer Zuführungseinrichtung zur Zuführung des Chalkogendampf-/Trägergasgemisches, bestehend aus einem Behälter und einer Dosiereinrichtung, über Rohrleitungen mit Ventilen verbunden ist.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2975107A1 (fr) * 2011-05-10 2012-11-16 Electricite De France Traitement d'un precurseur par injection d'un element reactif en phase vapeur.

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0318315A2 (de) 1987-11-27 1989-05-31 Siemens Solar Industries L.P. Herstellungsverfahren einer Dünnschichtsonnenzelle
EP0662247B1 (de) 1992-09-22 1999-03-10 Siemens Aktiengesellschaft Schnelles verfahren zur erzeugung eines chalkopyrit-halbleiters auf einem substrat
WO2007047888A2 (en) * 2005-10-19 2007-04-26 Solopower, Inc. Method and apparatus for converting precursor layers into photovoltaic absorbers
DE102007024266A1 (de) * 2007-05-23 2008-11-27 Centrotherm Thermal Solutions Gmbh + Co.Kg Verfahren zur Steuerung der Prozessgaskonzentration
WO2009034131A2 (en) 2007-09-11 2009-03-19 Centrotherm Photovoltaics Ag Method and arrangement for providing chalcogens

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0318315A2 (de) 1987-11-27 1989-05-31 Siemens Solar Industries L.P. Herstellungsverfahren einer Dünnschichtsonnenzelle
EP0662247B1 (de) 1992-09-22 1999-03-10 Siemens Aktiengesellschaft Schnelles verfahren zur erzeugung eines chalkopyrit-halbleiters auf einem substrat
WO2007047888A2 (en) * 2005-10-19 2007-04-26 Solopower, Inc. Method and apparatus for converting precursor layers into photovoltaic absorbers
DE102007024266A1 (de) * 2007-05-23 2008-11-27 Centrotherm Thermal Solutions Gmbh + Co.Kg Verfahren zur Steuerung der Prozessgaskonzentration
WO2009034131A2 (en) 2007-09-11 2009-03-19 Centrotherm Photovoltaics Ag Method and arrangement for providing chalcogens
WO2009033674A2 (en) 2007-09-11 2009-03-19 Centrotherm Photovoltaics Ag Method and apparatus for thermally converting metallic precursor layers into semiconducting layers, and also solar module

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2975107A1 (fr) * 2011-05-10 2012-11-16 Electricite De France Traitement d'un precurseur par injection d'un element reactif en phase vapeur.

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