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Die
Erfindung betrifft eine abbildende Optik mit einer Mehrzahl von
Spiegeln, die ein Objektfeld in einer Objektebene in ein Bildfeld
in einer Bildebene abbilden.
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Abbildende
Optiken, insbesondere als Projektionsoptiken als Bestandteil von
Projektionsbelichtungsanlagen für die Mikrolithographie,
sind bekannt aus der
US
6,577,443 B2 .
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Es
ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die Abbildungsqualität
einer derartigen abbildenden Optik zu verbessern.
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Diese
Aufgabe ist nach einem ersten Aspekt erfindungsgemäß gelöst
durch eine abbildende Optik mit den im Anspruch 1 angegebenen Merkmalen.
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Die
sich kreuzenden beiden Abbildungs-Teilstrahlengänge führen
zur Möglichkeit, das optische Design der abbildenden Optik
so auszulegen, dass nahe dem Objektfeld Bauraum beispielsweise für
einen Spiegel einer Beleuchtungsoptik zur Führung von Beleuchtungslicht
hin zum Objektfeld bereitgestellt werden kann. In diesem Bauraum
kann beispielsweise ein Spiegel für streifenden Einfall
(grazing-incidence Spiegel) zur Führung des Beleuchtungslichts
hin zum Objektfeld angeordnet werden.
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Eine
weitere Aufgabe der Erfindung ist es, eine abbildende Optik der
eingangs genannten Art derart weiterzubilden, dass sie kompakt gestaltet
werden kann.
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Diese
Aufgabe ist gemäß einem weiteren Aspekt erfindungsgemäß gelöst
durch eine abbildende Optik mit den im Anspruch 2 angegebenen Merkmalen.
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Erfindungsgemäß wurde
erkannt, dass der Faltspiegel, der zur Bauraumreduzierung der abbildenden Optik
eingesetzt werden kann, zusammen mit dem Blendenkörper
eine Blende für die abbildende Optik bilden kann. Der Faltspiegel
schafft dann die Möglichkeit einer einen gegebenen Bauraum
gut ausnutzenden Gestaltung der abbildenden Optik. Zusätzlich
kann der Faltspiegel im Bereich einer Pupillenebene der abbildenden Optik
angeordnet sein. Der Faltspiegel kann dann zusammen mit dem Blendenkörper
eine Aperturblende für die abbildende Optik bilden. Ein
solcher Pupillen-Faltspiegel hat dann also zusätzlich die
Funktion einer Aperturblende.
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Unter
einer Pupille einer abbildenden Optik versteht man im Allgemeinen
alle Bilder der Aperturblende, die den Abbildungsstrahlengang begrenzt.
Die Ebenen, in denen diese Bilder zu liegen kommen, bezeichnet man
als Pupillenebenen. Da jedoch die Bilder der Aperturblende nicht
zwangsläufig exakt plan sind, werden verallgemeinert auch
die Ebenen, die näherungsweise diesen Bildern entsprechen,
als Pupillenebenen bezeichnet. Die Ebene der Aperturblende selbst
wird ebenfalls als Pupillenebene bezeichnet. Ist die Aperturblende
nicht plan, so wird, wie bei den Bildern der Aperturblende, die
Ebene, die der Aperturblende am ehesten entspricht, als Pupillenebene
bezeichnet.
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Unter
der Eintrittspupille der abbildenden Optik versteht man das Bild
der Aperturblende, das entsteht, wenn man die Aperturblende durch
den Teil der abbildenden Optik, der zwischen Objektebene und Aperturblende
liegt, abbildet. Entsprechend ist die Austrittspupille das Bild
der Aperturblende, das sich ergibt, wenn man die Aperturblende durch
den Teil der abbildenden Optik, der zwischen Bildebene und Aperturblende
liegt, abbildet.
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Handelt
es sich bei der Eintrittspupille um ein virtuelles Bild der Aperturblende,
das heißt, dass die Eintrittspupillenebene vor dem Objektfeld
liegt, so spricht man von einer negativen Schnittweite der Eintrittspupille.
In diesem Fall verlaufen die Hauptstrahlen zu allen Objektfeldpunkten
so, als ob sie von einem Punkt vor dem abbildenden Strahlengang
kommen würden. Der Hauptstrahl zu jedem Objektpunkt ist
definiert als der Verbindungsstrahl zwi schen dem Objektpunkt und
dem Mittelpunkt der Eintrittspupille. Bei einer negativen Schnittweite
der Eintrittspupille haben die Hauptstrahlen zu allen Objektpunkte
somit einen divergenten Strahlverlauf am Objektfeld.
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Eine
abgeschattete oder obskurierte Austrittspupille an einem Bildpunkt
liegt vor, wenn dieser Bildpunkt nicht von allen Strahlen erreicht
werden kann, die vom zugehörigen Objektpunkt innerhalb
der Apertur ausgehen. Es gibt also ein Gebiet innerhalb der Austrittspupille,
das keine Strahlen von diesem Bildpunkt erreichen können.
Dieses Gebiet bezeichnet man als Pupillenobskuration.
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Eine
alternative Definition einer Pupille ist derjenige Bereich im Abbildungsstrahlengang
der abbildenden Optik, in dem sich von den Objektfeldpunkten ausgehende
Einzelstrahlen schneiden, die, relativ zu den von diesen Objektfeldpunkten
ausgehenden Hauptstrahlen, jeweils dem gleichen Beleuchtungswinkel
zugeordnet sind. Als Pupillenebene kann diejenige Ebene bezeichnet
werden, in der die Schnittpunkte der Einzelstrahlen gemäß der
alternativen Pupillendefinition liegen oder die der räumlichen
Verteilung dieser Schnittpunkte, die nicht zwingend exakt in einer
Ebene liegen muss, am nächsten kommt.
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Die
zuletzt genannte Aufgabe ist gemäß einem weiteren
Aspekt erfindungsgemäß gelöst durch eine abbildende
Optik mit den im Anspruch 3 angegebenen Merkmalen.
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Zwei
Faltspiegel ermöglichen Gestaltungen, bei denen ein vorhandener
Bauraum für die abbildende Optik besonders gut genutzt
werden kann. Die Obstruktion eines das Objektfeld beleuchtenden
Strahlengangs einer der abbildenden Optik vorgelagerten Beleuchtungsoptik
durch Komponenten der abbildenden Optik kann auf diese Weise vermieden
werden.
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Im
Unterschied zu einem bündelformenden Spiegel der abbildenden
Optik, der bei der Abbildung des Objektfeldes in das Bildfeld eine
dieser Abbildung unterstützende Wirkung hat, hat ein Faltspiegel
eine derartige die Abbildung unterstützende Wirkung in
der Regel nicht, sondern hat in der Regel lediglich die Funktion, den
Abbildungsstrahlengang umzulenken.
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Eine
Ausgestaltung nach Anspruch 4 vereint die Vorteile, die vorstehend
unter Bezugnahme auf die abbildenden Optiken nach den Ansprüchen
2 und 3 erläutert wurden.
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Bei
einer Ausführung nach Anspruch 5 stellen der Blendenkörper
und der Faltspiegel eine bauliche Einheit dar. Alternativ kann der
Blendenkörper als vom Faltspiegel unabhängige
Komponente ausgeführt sein.
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Anordnungen
nach den Ansprüchen 6 und 7 haben sich zur Gewährleistung
der Funktion ”Aperturblende” des Faltspiegels
als besonders vorteilhaft herausgestellt. Der Blendenkörper
kann teilkreisförmig und insbesondere halbkreisförmig
ausgebildet sein, sodass die Durchgangsöffnung zwischen
dem Faltspiegel und dem Blendenkörper dann eine entsprechende
teilkreisförmige und insbesondere halbkreisförmige
Gestalt hat.
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Eine
einander benachbarte Anordnung der Faltspiegel nach Anspruch 8 oder
9 ermöglicht eine kompakte abbildende Optik.
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Eine
Anordnung zweier Faltspiegel nach Anspruch 10 unterteilt die abbildende
Optik in eine Mehrzahl von Spiegelgruppen mit mindestens einem abbildenden
Spiegel, zwischen denen die mindestens zwei Faltspiegel angeordnet
sind. Es resultiert eine entsprechend hohe Anzahl von Freiheitsgraden,
um die abbildende Optik an entsprechende bauliche Randbedingungen
anzupassen.
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Eine
Anordnung des weiteren Faltspiegels nach Anspruch 11 ermöglicht
es, diesen weiteren Faltspiegel mit einer vergleichsweise kleine
Reflexionsfläche zu realisieren.
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Eine
Anordnung zweier Faltspiegel nach Anspruch 12 hat sich zur Realisierung
einer kompakten abbildenden Optik als besonders geeignet herausgestellt.
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Eine
abbildende Optik mit einem Dimensionsverhältnis nach Anspruch
13 benötigt einen vorteilhaft kleinen Bauraum. Das Verhältnis
Tmax/L kann höchstens 0,43, höchstens
0,34 oder sogar höchstens 0,32 betragen.
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Ein
Planspiegel nach Anspruch 14 ist eine besonders unaufwändig
anwendbare Variante eines Faltspiegels. Insbesondere können,
falls mehrere Faltspiegel in der abbildenden Optik zum Einsatz kommen,
alle Faltspiegel als Planspiegel aufgeführt sein.
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Faltspiegel
mit parallel ausgerichteten Reflexionsflächen nach Anspruch
15 vermeiden die Einführung von unerwünscht schiefwinkligen
Komponentenanordnungen. Je nach den baulichen Anforderungen können die
Reflexionsflächen der mindestens zwei Faltspiegel auch
so zueinander ausgerichtet sein, dass die Reflexionsflächen
nicht parallel zueinander ausgerichtet sind, sondern einen Winkel
zueinander aufweisen.
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Die
Vorteile einer Anordnung nach Anspruch 16 entsprechen denen, die
vorstehend in Zusammenhang mit dem Anspruch 15 bereits ausgeführt
wurden. Bevorzugt verläuft die Objektebene parallel zur
Bildebene.
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Eine
Ausgestaltung des Faltspiegels als Spiegels für streifenden
Einfall nach Anspruch 17 ermöglicht es, den Faltspiegel
mit besonders hoher Reflexionseffizienz auszugestalten. Ein entsprechend
hoher Durchsatz der Abbildungsoptik ist die Folge.
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Eine
Korrektur-Reflexionsfläche nach Anspruch 18 ermöglicht
es, über den mindestens einen Faltspiegel, der eine derartige
Korrektur-Reflexions-fläche aufweist, eine Abbildungsfehlerkorrektur
in der abbildenden Optik vorzunehmen. Insbesondere können,
soweit mehr als ein Faltspiegel in der abbildenden Optik vorliegt,
alle Faltspiegel mit entsprechenden Korrektur-Reflexionsflächen
ausgebildet sein. Derartige mit einer Korrektur-Reflexionsfläche
ausgerüstete Faltspiegel können austauschbar,
beispielsweise in Wechselhalterungen, gelagert sein, sodass sie
nach Bedarf gegen Faltspiegel mit anders gestalteten Korrektur-Reflexionsflächen
ausgetauscht werden können.
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Eine
formveränderliche Korrektur-Reflexionsfläche nach
Anspruch 19 ermöglicht eine gesteuerte oder, beispielsweise
abhängig von einem gemessenen Abbildungsfehler, auch geregelte
Korrektur von Abbildungsfehlern der abbildenden Optik.
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Eine
Ausgestaltung nach Anspruch 20 hat sich zur Gewährleistung
anspruchsvoller Abbildungsanforderungen als besonders geeignet herausgestellt.
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Dies
gilt entsprechend für eine Anordnung nach Anspruch 21.
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Eine
Anordnung nach Anspruch 22 vermeidet insbesondere eine Pupillen-obskuration.
Beleuchtungswinkel nahe eines senkrechten Einfalls können
dann gewährleistet werden.
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Ein
dritter Spiegel nach Anspruch 23 kann wesentlich zur Korrektur einer
Bildfeldwölbung der abbildenden Optik beitragen.
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Die
Vorteile der abbildenden Optik nach Anspruch 24 wurden bereits im
Zusammenhang mit der abbildenden Optik nach Anspruch 2 erläutert.
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Die
Merkmale der abbildenden Optiken gemäß den vorstehend
erläuterten Aspekten können auch miteinander kombiniert
werden. So ist es beispielsweise möglich, dass die abbildende
Optik nach dem ersten Aspekt mit den gekreuzten Abbildungs-Teilstrahlengängen
einen oder mehrere Faltspiegel im Sinne der abbildenden Optiken
der weiteren Aspekte aufweist. Bei der abbildenden Optik kann es
sich um eine kartoptrische Optik handeln.
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Die
Vorteile eines optischen Systems nach Anspruch 25, einer Projektionsbelichtungsanlage
nach Anspruch 26, eines Herstellungsverfahrens nach Anspruch 27
und eines mikro- bzw. nano-strukturierten Bauelements nach Anspruch
28 entsprechen denjenigen, die vorstehend unter Bezugnahme auf die
erfindungsgemäße abbildende Optik bereits erläutert
wurden.
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Ausführungsbeispiele
der Erfindung werden nachfolgend anhand der Zeichnung näher
erläutert. In dieser zeigen:
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1 schematisch
eine Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Mikrolithografie;
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2 und 3 verschiedene
Ausführungen von abbildenden Optiken für die Projektionsbelichtungsanlage
nach 1;
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4 schematisch
einen Pupillen-Faltspiegel zusammen mit einem Pupillen-Blendenkörper
zum Einsatz bei der abbildenden Optik nach 3; und
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5 und 6 verschiedene
weitere Ausführungen von abbildenden Optiken für
die Projektionsbelichtungsanlage nach 1.
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Eine
Projektionsbelichtungsanlage 1 für die Mikrolithografie
hat eine Lichtquelle 2 für Beleuchtungslicht bzw.
Abbildungslicht 3. Bei der Lichtquelle 2 handelt
es sich um eine EUV-Lichtquelle, die Licht in einem Wellenlängenbereich
zwischen 5 nm und 30 nm erzeugt. Auch andere EUV-Wellenlängen
sind möglich. Generell sind sogar beliebige Wellenlängen,
z. B. sichtbare Wellenlängen, für das in der Projektionsbelichtungsanlage 1 geführte
Beleuchtungslicht möglich. Ein Strahlengang des Beleuchtungslichts 3 ist
in der 1 äußerst schematisch dargestellt.
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Zur
Führung des Beleuchtungslichts 3 hin zu einem
Objektfeld 4 in einer Objektebene 5 dient eine
Beleuchtungsoptik 6. Mit einer Projektionsoptik 7 wird
das Objektfeld 4 in ein Bildfeld 8 in einer Bildebene 9 mit einem
vorgegebenen Verkleinerungsmaßstab abgebildet. Die Projektionsoptik 7 verkleinert
um einen Faktor 4.
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Die
Bildebene 9 ist bei der Projektionsoptik 7 parallel
zur Objektebene 5 angeordnet. Abgebildet wird hierbei ein
mit dem Objektfeld 4 zusammenfallender Ausschnitt einer
reflektierenden Maske 10, die auch als Retikel bezeichnet
wird. Die Abbildung erfolgt auf die Oberfläche eines Substrats 11 in
Form eines Wafers, der von einem Substrathalter 12 getragen
wird. In der 1 ist schematisch zwischen dem
Retikel 10 und der Projektionsoptik 7 ein in diese
einlaufendes Strahlenbündel 13 des Beleuchtungslichts 3 und
zwischen der Projektionsoptik 7 und dem Substrat 11 ein
aus der Projektionsoptik 7 auslaufendes Strahlungsbündel 14 des
Beleuchtungslichts 3 dargestellt. Die bildfeldseitige numerische
Apertur NA der Projektionsoptik 7 nach 2 beträgt
0,316, was in der 1 nicht maßstäblich
wiedergegeben ist.
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Zur
Erleichterung der Beschreibung der Projektionsbelichtungsanlage 1 ist
in der Zeichnung ein kartesisches xyz-Koordinatensystem angegeben,
aus dem sich die jeweilige Lagebeziehung der in den Figuren dargestellten
Komponenten ergibt. In der 1 verläuft
die x-Richtung senkrecht zur Zeichenebene in diese hinein, die y-Richtung
nach rechts und die z-Richtung nach unten.
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Die
Projektionsbelichtungsanlage 1 ist vom Scannertyp. Sowohl
das Retikel 10 als auch das Substrat 11 werden
beim Betrieb der Projektionsbelichtungsanlage 1 in der
y-Richtung gescannt.
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2 zeigt
das optische Design einer ersten Ausführung der Projektionsoptik 7.
Dargestellt ist der Strahlengang jeweils dreier Einzelstrahlen 15,
die von zwei in der 2 übereinanderliegenden
und zueinander in der y-Richtung beabstandeten Objektfeldpunkten
ausgehen, wobei die drei Einzelstrahlen 15, die zu einem
dieser zwei Objektfeldpunkte gehören, jeweils drei unterschiedlichen
Beleuchtungsrichtungen für die zwei Objektfeldpunkte zuge ordnet
sind. Dieser Strahlengang ist für die Komponenten der Projektionsoptik 7 sowie für
eine letzte Komponente im Strahlengang des Beleuchtungslichts 3 vor
dem Objektfeld 4, nämlich einen letzten Beleuchtungsspiegel 16 für
streifenden Einfall (grazing-incidence-Spiegel), eingezeichnet.
Der Strahlengang der Einzelstrahlen 15 zwischen dem Objektfeld 4 und
dem Bildfeld 8 wird auch als Abbildungsstrahlengang bezeichnet.
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Ausgehend
von der Objektebene 5 werden die Einzelstrahlen 15 zunächst
von einem ersten Spiegel M1 und anschließend von weiteren
Spiegeln reflektiert, die nachfolgend in der Reihenfolge des Abbildungsstrahlengangs
als Spiegel M2, M3, M4, M5 und M6 bezeichnet werden. Die Projektionsoptik 7 nach 2 hat also
sechs reflektierende Spiegel. Bei diesen Spiegeln M1 bis M6 handelt
es sich jeweils um bündelformende Spiegel, also um Spiegel,
die einen Beitrag zur abbildungsoptimierten Formung des Abbildungslichts 3 zwischen
dem Objektfeld 4 und dem Bildfeld 8 liefern.
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Die
Spiegel M1 bis M6 tragen eine für die Wellenlänge
des Beleuchtungslichts 3 hoch reflektierende Beschichtung,
falls dies aufgrund der Wellenlänge, zum Beispiel im EUV,
erforderlich ist.
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Bei
der Projektionsoptik 7 handelt es sich um ein katoptrisches
System, also um eine ausschließlich aus Spiegeln aufgebaute
abbildende Optik.
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Keiner
der Spiegel M1 bis M6 hat eine Durchgangsöffnung zum Durchlass
des Abbildungslichts 3.
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Die
Spiegel M1, M2, M4 und M6 haben eine konkave Grundform, können
also durch eine konkave bestangepasste Fläche beschrieben
werden. Die Spiegel M3 und M5 haben eine konvexe Grundform, können also
durch eine konvexe bestangepasste Fläche beschrieben werden.
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Zwischen
dem Objektfeld 4 und dem Spiegel M1, also dem ersten Spiegel
im Abbildungsstrahlengang direkt nach dem Objektfeld 4,
verläuft ein erster Abbildungs-Teilstrahlengang 17.
Zwischen dem Spiegel M2, also dem zweiten Spiegel im Abbildungsstrahlengang
direkt nach dem ersten Spiegel M1, und dem Spiegel M3, also direkt
nach dem zweiten Spiegel M2, verläuft ein zweiter Abbildungs-Teilstrahlengang 18.
Die beiden Abbildungs-Teilstrahlengänge 17, 18 kreuzen
sich.
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Zwischen
den Spiegeln M2 und M3 ist eine Pupillenebene 19 angeordnet.
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Die
Projektionsoptik 7 hat eine negative Eingangs-Schnittweite.
Eine Eintrittspupille der Projektionsoptik 7 liegt also
im Strahlengang des Beleuchtungslichts 3 vor dem Objektfeld 4.
In einem ungefalteten Strahlengang liegt die Eintrittspupille etwa
1450 mm vor dem Objektfeld 4.
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Zwischen
dem Spiegel M4 und dem Spiegel M5 liegt eine Zwischenbildebene 20 der
Projektionsoptik 7. Das zugehörige Zwischenbild
ist dem letzten Spiegel M6 der Projektionsoptik 7 benachbart.
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Die
Spiegel M3 und M6 sind Rücken an Rücken liegend
zueinander angeordnet.
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Zwischen
einer Normalen 21 auf einem zentralen Objektfeldpunkt und
einer Normalen 22 auf einem zentralen Bildpunkt liegt ein
Objekt-Bild-Versatz OIS vor. Dieser Objekt-Bild-Versatz beträgt
etwa 110 mm.
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In
der y-Richtung hat das Projektionsobjektiv 7 nach 2 zwischen
den Spiegeln M2 und M4 eine maximale Breite Tmax von
841,5 mm.
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Die
optischen Daten der Projektionsoptik
7 ergeben sich aus
den nachfolgenden Tabellen. Die Tabelle 1 gibt dabei die Scheitelpunkt-Krümmungs-radien
(Radius) der einzelnen Komponenten im Strahlengang des Beleuchtungs-
bzw. Abbildungslichts
3 ab dem Spiegel
16 sowie
die relativen Abstände (Dicke) der Komponenten zueinander
in z-Richtung an. In der dritten Spalte der ersten Tabelle befindet
sich für asphärische Flächen der Hinweis ”AS”.
Die Flächen 2, 3, 5, 6, 7 und 8 in der ersten nachfolgenden
Tabelle repräsentieren dabei die Reflexionsflächen
der Spiegel M1 bis M6. Die Fläche 4 repräsentiert
die Pupillenebene
19.
| FLAECHE | RADIUS | | DICKE | BETRIEBSART |
| 0 | 0.000000 | | 10.000000 | |
| 1 | 0.000000 | | 692.000000 | |
| 2 | –5963.898799 | AS | –602.708266 | REFL |
| 3 | 1648.874614 | AS | 1046.524613 | REFL |
| 4 | 0.000000 | | 134.946097 | |
| 5 | 381.916684 | AS | –503.750602 | REFL |
| 6 | 707.638535 | AS | 841.415674 | REFL |
| 7 | 343.409930 | AS | –224.234959 | REFL |
| 8 | 301.435951 | AS | 288.760879 | REFL |
| 9 | 0.000000 | | 0.000000 | |
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Die
Pfeilhöhen der asphärischen Fläche ergeben
sich dabei am Ort mit dem Abstand h zur mit der Rotations-Symmetrieachse
der jeweiligen Oberfläche zusammenfallenden z-Achse (h
2 = x
2 + y
2) gemäß folgender Formel:
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Hierbei
ist c die Scheitelpunktkrümmung, also der Kehrwert des
Radius K ist der konische Koeffizient (K) gemäß Code
V®.
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Die
zweite nachfolgende Tabelle ”Asphärische Konstanten” gibt
die Werte des konischen Koeffizienten K sowie der der asphärischen
Konstanten C1 bis C9 für die Flächen 2, 3 sowie
5 bis 8, also für die Spiegel M1 bis M6 wieder.
| Fläche | 2 | 3 | 5 | 6 | 7 |
| K | –323.446 | 7.1702 | 9.33388 | –0.878053 | 27.2379 |
| C1 | –4.488173e–10 | –2.643438e–10 | –3.102583e–08 | 3.097114e–10 | –7.161540e–08 |
| C2 | 2.904611e–15 | –2.911552e–16 | –8.262057e–13 | 3.359954e–16 | –9.793799e–12 |
| C3 | –2.784134e–20 | –1.166789e–21 | –3.084248e–17 | 5.774286e–22 | –1.279658e–15 |
| C4 | 1.865420e–25 | –9.534003e–28 | –3.864485e–21 | –5.469954e–28 | –5.250815e–19 |
| C5 | –7.212265e–31 | 6.467016e–33 | 2.393854e–25 | 5.679525e–33 | 9.791931e–23 |
| C6 | 1.198588e–36 | –4.701933e–38 | –3.008854e–29 | –8.090132e–39 | –4.620633e–26 |
| C7 | –3.195605e–83 | 9.075402e–87 | –8.842351e–63 | –2.338864e–84 | –3.174497e–57 |
| C8 | 0.000000e+00 | 0.000000e+00 | 0.000000e+00 | 0.000000e+00 | 0.000000e+00 |
| C9 | 0.000000e+00 | 0.000000e+00 | 0.000000e+00 | 0.000000e+00 | 0.000000e+00 |
| | | | | | |
| Fläche | 8 | | | | |
| K | –3.45348 | | | | |
| C1 | 1.589968e–08 | | | | |
| C2 | –1.229131e–13 | | | | |
| C3 | 2.730619e–18 | | | | |
| C4 | –4.248830e–23 | | | | |
| C5 | 6.791427e–28 | | | | |
| C6 | –5.458911e–33 | | | | |
| C7 | 8.208034e–71 | | | | |
| C8 | 0.000000e+00 | | | | |
| C9 | 0.000000e+00 | | | | |
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3 zeigt
eine weitere Ausführung der Projektionsoptik 7.
Komponenten, die denjenigen entsprechen, die vorstehend unter Bezugnahme
auf die 1 und 2 bereits
erläutert wurden, tragen die gleichen Bezugsziffern und
werden nicht nochmals im einzelnen diskutiert.
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Zwischen
den Spiegeln M2 und M3 weist die Projektionsoptik 7 nach 3 einen
Faltspiegel FM1 auf. Der Faltspiegel FM1 hat eine mit Hilfe einer
Mehrzahl von Aktuatoren 23 formveränderliche Korrektur-Reflexionsfläche 24.
Die Aktuatoren 23 sind auf der der Korrektur-Reflexionsfläche 24 abgewandten
Seite eines Spiegelkörpers des Faltspiegels FM1 angeordnet
und werden von einem Aktuatorrahmen 25 getragen. In Ruhestellung
aller Aktuatoren 23 ist die Reflexionsfläche 24 plan
und senkrecht sowohl zur Objektebene 5 als auch zur Bildebene 9 angeordnet.
Der Faltspiegel FM1 ist als Spiegel für streifenden Einfall
ausgebildet, wobei ein Einfallswinkel der Einzelstrahlen 15 des
Abbildungslichts 3 auf dem Faltspiegel FM1 größer
ist als 70°.
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Die
Aktuatoren 23 können unabhängig voneinander
angesteuert werden. Durch Betätigung der Aktuatoren 23 lässt
sich über eine von der Planität abweichenden Formgestaltung
der Korrektur-Reflexionsfläche 24 eine Korrektur
von Abbildungsfehlern der Projektionsoptik 7 gewährleisten.
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Der
Faltspiegel FM1 ist als Pupillen-Faltspiegel im Bereich der Pupillenebene 19 der
Projektionsoptik 7 angeordnet. Hauptstrahlen des Abbildungsstrahlengangs
treffen auf einem gemeinsamen Auftreffpunkt AP zentral auf die Reflexionsfläche 24 auf.
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Benachbart
zum Pupillen-Faltspiegel FM1 ist ein Pupillen-Blendenkörper 26 angeordnet
(vgl. auch 4). Dieser bildet zusammen mit
dem Pupillen-Faltspiegel FM1 eine Durchgangsöffnung 27 für
das Abbildungslicht 3. Die Durchgangsöffnung 27 ist
bei der Ausführung des Pupillen-Blendenkörpers 26 halbkreisförmig.
Zusammen mit dem Pupillen-Faltspiegel M1 stellt der Pupillen-Blendenkörper 26 eine
Aperturblende der Projektionsoptik 7 dar. Der Pupillen-Blendenkörper 26 ist
auf Höhe des Auftreffpunktes AP der Hauptstrahlen angeordnet,
sodass eine Blendenebene 28 den Pupillen-Faltspiegel FM1
im Bereich des Auftreffpunktes AP schneidet. Diese Blendenebene 28 fällt
mit der Pupillenebene 19 zusammen.
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Der
Auftreffpunkt AP stellt zudem den Mittelpunkt des Kreises dar, von
dem die Durchgangsöffnung 27 einen Halbkreis darstellt.
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Aufgrund
des Pupillen-Faltspiegels FM1 ist die Projektionsoptik 7 nach 3,
was den Beleuchtungsoptik-Spiegel 16 sowie die Spiegel
M1 und M2 und das Objektfeld 4 angeht, zu einer xz-Ebene
spiegelverkehrt im Vergleich zur Ausführung der Projektionsoptik 7 nach 2 angeordnet.
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Ein
Verhältnis zwischen einer Breite Tmax der
Projektionsoptik 7 in der in der 3 dargestellten
Meridionalebene, in der ein Zentrum des Objektfeldes 4 und
ein Zentrum des Spiegelfeldes 8 liegen, und einer Länge
L der Projektionsoptik 7 zwischen der Objektebene 5 und
der Bildebene 9 beträgt bei der Ausführung
nach 3 etwa 0,34.
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Die
Projektionsoptik 7 nach 3 hat einen
Objekt-Bild-Versatz von etwa 100 mm.
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5 zeigt
eine weitere Ausführung der Projektionsoptik 7.
Komponenten, die denjenigen entsprechen, die vorstehend unter Bezugnahme
auf die 1 bis 4 bereits
erläutert wurden, tragen die gleichen Bezugsziffern und
werden nicht nochmals im einzelnen diskutiert.
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Die
Projektionsoptik 7 nach 5 hat zwischen
den Spiegeln M2 und M3 zwei Faltspiegel, nämlich den Pupillen-Faltspiegel
FM1 und diesem im Abbildungsstrahlengang direkt vorgeordnet einen
weiteren Faltspiegel FM2. Beide Faltspiegel FM1 und FM2 sind zwischen
den Spiegeln M2 und M3 angeordnet.
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Aufgrund
der Verwendung der beiden Faltspiegel FM1, FM2 entspricht die Anordnung
der Spiegel M1 bis M6 wieder derjenigen der Anordnung bei der Projektionsoptik 7 nach
der 2. Im Vergleich zwischen den Projektionsoptiken 7 nach
den 2 und 5 liegen also keine spiegelverkehrt
angeordneten Spiegel-Baugruppen vor.
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Das
Verhältnis Tmax/L beträgt
bei der Projektionsoptik 7 nach 5 etwa 0,34.
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Der
Faltspiegel FM2 ist als Planspiegel ausgeführt. Eine Reflexionsfläche 29 des
Faltspiegels FM2 steht senkrecht einerseits auf der Objektebene 5 und
andererseits auf der Bildebene 9. Der Faltspiegel FM2 ist
ein Spiegel für streifenden Einfall mit einem Einfallswinkel
für das Abbildungslicht 3, der größer
ist als 70°.
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Der
Objekt-Bild-Versatz beträgt bei der Projektionsoptik 7 nach 5 Null.
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6 zeigt
eine weitere Ausführung der Projektionsoptik 7.
Komponenten, die denjenigen entsprechen, die vorstehend unter Bezugnahme
auf die 1 bis 5 bereits
erläutert wurden, tragen die gleichen Bezugsziffern und
werden nicht nochmals im einzelnen diskutiert.
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Bei
der Projektionsoptik 7 nach 6 ist ein
erster Faltspiegel FM3 zwischen den Spiegeln M2 und M3 genauer zwischen
den Spiegeln M2 und der Pupillenebene 19, angeordnet. Der
Faltspiegel FM3 ist entsprechend dem Pupillen-Faltspiegel FM1 bei
der Ausführung nach 3 aktuierbar
ausgeführt. Der Faltspiegel FM3 ist nicht im Bereich einer
Pupillenebene der Projektionsoptik 7 angeordnet.
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Ein
weiterer Faltspiegel FM4 ist bei der Projektionsoptik 7 nach 6 im
Strahlengang zwischen den Spiegeln M4 und M5 räumlich benachbart
zum Spiegel M6 und zum Spiegel M3 angeordnet.
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Die
Reflexionsfläche des nicht aktuierten Faltspiegels FM3
sowie des Faltspiegels FM4 stehen senkrecht einerseits auf der Objektebene 5 und
anderseits auf der Bildebene 9. Die Faltspiegel FM3, FM4
sind Spiegel für streifenden Einfall mit Einfallswinkeln
für das Abbildungslicht 3, die größer
sind als 70°.
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Zwischen
den beiden Faltspiegeln FM3 und FM4 sind die beiden bündelförmigen
Spiegel M3 und M4 angeordnet.
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Der
Faltspiegel FM4 ist benachbart zur Zwischenbildebene 20 angeordnet.
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Aufgrund
dieser Anordnung der beiden Faltspiegel FM3, FM4 ist der Abbildungsstrahlengang
im Bereich der Spiegel M3 und M4 bezüglich einer xz-Ebene
im Vergleich zum Strahlengang der Projektionsoptik 7 nach 2 spiegelverkehrt.
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Das
Verhältnis Tmax/L beträgt
bei der Projektionsoptik 7 nach 6 etwa 0,32.
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Was
die Abstände sowie die asphärischen Formen der
bündelförmigen Spiegel M1 bis M6 im Abbildungsstrahlengang
zwischen dem Objektfeld 4 und dem Bildfeld 8 angeht,
so unterscheidet sich das optische Design der Ausführungen
der 3 sowie 5 und 6 nicht
vom optischen Design der Ausführung der Projektionsoptik 7 nach 2.
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Zur
Herstellung eines mikro- oder nanostrukturierten Bauteils, insbesondere
eines Halbleiter-Bauelements für die Mikroelektronik, also
beispielsweise eines Mikrochips, wird folgendermaßen vorgegangen:
Zunächst werden das Retikel 10 und der Wafer 11 bereitgestellt.
Dann wird eine auf dem Retikel 10 vorliegende Struktur
auf eine lichtempfindliche Schicht des Wafers 11 mit Hilfe
der Projektionsbelichtungsanlage 1 projiziert. Durch Entwicklung
der lichtempfindlichen Schicht wird dann eine Mikro- bzw. Nanostruktur
auf dem Wafer 11 erzeugt.
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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