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Die
Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bestimmung
und/oder Überwachung der elektromagnetische Strahlung absorbierenden
Eigenschaften eines optischen Elements.
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Aus
dem betriebsinternen Stand der Technik ist es bekannt, die Absorption
eines optischen Elements, wie z. B. einer optischen Linse, eines
optischen Prismas, eines Spiegels oder dergleichen, rechnerisch
aus der Differenz der Intensität eines auf das optische
Element auftreffenden Lichtstrahls und der Summe der Intensitätsanteile
des reflektierten Lichtstrahls und des transmittierten Lichtstrahls
zu bestimmen. Die Ermittlung der hierfür erforderlichen Messdaten
und die Kontrolle der experimentellen Bedingungen erfordern einen
hohen Aufwand. Weiterhin ist es mit diesem Verfahren im Allgemeinen
nicht möglich, ein optisches Element hinsichtlich seiner Absorptionseigenschaften
und insbesondere hinsichtlich der Langzeitkonstanz seines Absorptionsverhaltens
innerhalb eines komplexen optischen Systems zu überwachen,
ohne dass die Messdatenerfassung die Funktionalität des
optischen Systems stört. Dies gilt umso mehr, wenn sich
das optische System in einem Regelbetrieb befindet.
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Die
Aufgabe der Erfindung besteht daher darin, eine konstruktiv einfache
und vergleichsweise leicht justierbare Vorrichtung und ein experimentell wenig
aufwendiges Verfahren zur Bestimmung und/oder Überwachung
der Strahlungsabsorptionseigenschaften eines optischen Elements
bereitzustellen. Die Vorrichtung und das Verfahren sollen sich auch
zur Bestimmung und/oder Überwachung der Strahlungsabsorptionseigenschaften
eines optischen Elements eignen, wenn das optische Element Bestandteil
eines vergleichsweise komplexen optischen mit einer gepulsten Strahlungsquelle
betriebenen Gesamtsystems ist.
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Diese
Aufgabe wird durch eine Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung
der Absorption elektromagnetischer Strahlung eines optischen Elements,
insbesondere eines optischen Substrats und/oder einer optischen
Beschichtung, mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 sowie ein
Verfahren zur Bestimmung und/oder Überwachung der Strahlungsabsorptionseigenschaften
eines optischen Elements, insbesondere eines optischen Substrats
und/oder einer optischen Beschichtung, mit den Merkmalen des Patentanspruchs
11 gelöst.
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Vorteilhafte
Ausführungen und Weiterbildungen der Erfindung sind in
den Unteransprüchen angegeben.
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Mit
einem optischen Element ist im Zusammenhang mit der vorliegenden
Erfindung ein aufgrund seiner Strahlung reflektierenden, durchlässigen,
brechenden, beugenden und/oder absorbierenden Eigenschaften in einem
optischen System verwendeter Gegenstand (Festkörper) oder
ein oder mehrere Bestandteile davon gemeint. Zu diesen Gegenständen
zählen z. B. optische Linsen, Spiegel, Prismen, optische
Filter, Lichtleiter oder dergleichen. Bestandteile dieser Gegenstände
sind ein oder mehrere optische Substrate und eine oder mehrere auf das
Substrat bzw. auf diese Substrate aufgebrachte optische Beschichtungen.
Substrate umfassen z. B. unbeschichtete Linsen aus Glas, transparenten
kristallinen Materialien oder Kunststoff, Glas-, Keramik- oder Kunststoffplatten
für Spiegel. Optische Beschichtungen sind dünne
Schichten oder Schichtsysteme, die der gezielten Beeinflussung der
optischen Eigenschaften von Grenzflächen dienen. Zu den
optischen Beschichtungen zählen u. a. Antireflexionsbeschichtungen,
Spiegelschichten, Filter, Polarisationsschichten oder dielektrische
Schichten.
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Die
erfindungsgemäße Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung
der Strahlungsabsorptionseigenschaften eines derartigen optischen Elements
umfasst eine optische Strahlungsquelle, welche eine in ihrer Intensität
modulierte optische Strahlung emittiert um damit direkt oder indirekt
das optische Element zu bestrahlen. Wenn die intensitätsmodulierte
optische Strahlung auf das optische Element trifft, wird ein Bruchteil
der Strahlungsenergie von dem optischen Element, z. B. von dem Substrat
oder von der auf dieses Substrat aufgebrachten Beschichtung absorbiert.
Dies führt zur Erwärmung des optischen Elements.
Die Erwärmung der an das optische Bauteil angrenzenden
Gasschicht führt zur lokalen Druckerhöhung des
Gases. Da die Bestrahlung des optischen Elements intensitätsmoduliert, also
gepulst erfolgt, kommt es zu einer Druckschwankung im Gas, d. h.
einem akustischen Signal. Dieses akustische Signal ist ein Maß für
die Strahlungsabsorption im optischen Element. Zum Empfang dieses in
Folge der Bestrahlung des optischen Elements erzeugten akustischen
Signals ist zum Beispiel eine akustische Empfangseinrichtung vorgesehen.
Alternativ kann durch Anbringen eines mechanischen Aufnehmers, wie
zum Beispiel eines piezoelektrischen Sensors, an das optische Bauteil
selbst direkt die durch thermische Expansion im Material ausgelöste
elastische Welle detektiert werden.
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Es
ist ferner eine Ermittlungseinrichtung vorhanden, welche gerade
den Signalanteil des von der akustischen Empfangseinrichtung empfangenen akustischen
Signals ermitteln kann, welcher in Folge der Bestrahlung des optischen
Elements mit der intensitätsmodulierten optischen Strahlung
erzeugt wurde. Anders ausgedrückt soll die Ermittlungseinrichtung
verhindern, dass das Messergebnis durch akustische Fremdsignale
verfälscht wird.
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Schließlich
ist eine Ausgabeeinrichtung vorgesehen. Diese gibt ein Ausgabesignal
aus, welches ein Maß für den von der Ermittlungseinrichtung
ermittelten Signalanteil ist.
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Das
erfindungsgemäße Verfahren umfasst in entsprechender
Weise die folgenden Verfahrensschritte:
- a)
Bestrahlen des optischen Elements mit einer intensitätsmodulierten
optischen Strahlung,
- b) Empfangen eines in Folge der Bestrahlung des optischen Elements
erzeugten akustischen oder mechanischen Signals,
- c) Ermitteln des Signalanteils des empfangenen akustischen oder
mechanischen Signals, welcher in Folge der Bestrahlung des optischen
Elements mit der intensitätsmodulierten optischen Strahlung
erzeugt wurde,
- d) Ausgeben eines ein Maß für den ermittelten
Signalanteil darstellenden Ausgabesignals.
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Als
relativ arbeitende Methode ist die Vorrichtung und das angegebne
Verfahren ohne zusätzliche Kalibrierung sofort einsetzbar,
sofern ausschließlich Unterschiede oder Änderungen
der Strahlungsabsapter gemessen werden sollen. Der Vorteil dieser
einfachen und flexiblen Methode zur Charakterisierung von Optiken
bezüglich ihrer Absorptionseigenschaften besteht darin,
dass z. B. im Rahmen der Entwicklung neuer Beschichtungen oder Beschichtungsverfahren
Fortschritte sehr schnell aufgezeigt werden können.
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Im
Rahmen der Serienproduktion kann dieses Verfahren zur Überwachung
der Prozessstabilität eingesetzt werden.
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Die
Wartungsintervalle komplexer optischer Systeme, insbesondere wenn
diese mit hochenergetischer Strahlung betrieben werden, hängen
von der Ausfallwahrscheinlichkeit einzelner optischer Elemente ab.
Die tatsächlichen Betriebsbedingungen und die Güte
der einzelnen optischen Elemente haben jedoch einen entscheidenden
Einfluss darauf, ob und wann das betreffende Element tatsächlich
nicht mehr den gestellten Anforderungen genügt. Experimentelle
Untersuchungen zeigen, dass einem Ausfall im Allgemeinen ein starker
Anstieg der Absorption des optischen Elements vorangeht. Die erfindungsgemäße
einfache Methode erlaubt es, einzelne oder mehrere optische Elemente
innerhalb eines vergleichsweise komplexen optischen Systems auch während
des Betriebs zu überwachen um so vorzeitig entsprechende
Gegenmaßnahmen einleiten zu können. Die Wartungsintervalle
können auf diese Weise signifikant erhöht und
damit Kosten gesenkt werden.
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Wird
das optische System mit dem zu untersuchenden optischen Element
ohnehin im Regelbetrieb mit einer Strahlungsquelle betrieben, welche
in ihrer Intensität moduliert ist, so entsteht an dem optischen
Element auch im Regelbetrieb ein detektierbares akustisches Signal,
welches unmittelbar für das erfindungsgemäße
Verfahren verwendet werden kann. Eine separate weitere Strahlungsquelle
ist dann nicht erforderlich.
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Da
die Nachweisgrenze mit zunehmender Pulsenergie der Strahlungsquelle
abnimmt, ist es günstig eine leistungsfähige Strahlungsquelle
zu nutzen.
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Excimerlaser
stellen leistungsfähige Laser dar, die als gepulste Lichtquelle
generell eine zeitlich modulierte Intensität abstrahlen.
Ein Excimerlaser ist ein Ultraviolettstrahlung emittierender Gaslaser,
der als Laserskalpell in der Ophthalmologie, in der Fotolithografie
(Mikrolithographie) und zur Herstellung hochintegrierter Halbleiter-Bauelemente
benutzt wird. Die Wellenlänge eines Excimer-Lasers ist
durch das bei der Anregung entstehende Molekül festgelegt.
Es gibt Excimer-Laser basierend auf F2 (157 nm),
Xe (172 nm), ArF2 (193 nm), KrF2 (248
nm), XeBr2 (282 nm), XeCl2 (308
nm) und XeF2 (351 nm).
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Bevorzugt
ist, wenn die Intensitätsmodulation in zeitlichen Abständen
wiederholt und insbesondere periodisch erfolgt. Dabei spielt es
keine oder nur eine untergeordnete Rolle, ob die Modulation einer (z.
B. konstanten) Grundintensität überlagert ist
oder nicht. Aus messtechnischen Gründen hat es sich als vorteilhaft
herausgestellt, wenn die Strahlung mit einer Intensitätsmodulationsfrequenz
zwischen 10 Hz und einigen kHz intensitätsmoduliert wird.
Durch Variation der Frequenz kann Information über die
Anteile von Oberflächen und Substratabsorption gewonnen
werden. An die Pulsdauer der intensitätsmodulierten Strahlung
werden in der Regel keine speziellen Anforderungen gestellt.
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Um
eine hinreichende Empfindlichkeit zu gewährleisten, liegt
die Pulsenergie der intensitätsmodulierten Strahlung vorzugsweise
im Bereich von mJ oder mehr. Die geeignete Wahl der Pulsenergie hängt
von der Absorption ab.
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Als
akustische Empfangseinrichtung kann ein Mikrophon und/oder eine
photoakustische Zelle, wie sie z. B. in Lexikon der Optik:
in zwei Banden, Hrsg.: Harry Paul, Spektrum Akademischer Verlag GmbH
Heidelberg, Berlin (1999), Seite 139 beschrieben ist oder
ein piezoelektrischer Aufnehmer verwendet werden.
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Um
zum einen eine hohe Messempfindlichkeit und zum anderen eine geringe
Störempfindlichkeit zu erreichen, ist die akustische Empfangseinrichtung
bevorzugt auf das optische Element ausgerichtet und/oder steht in
mittelbarem oder unmittelbarem Kontakt mit dem optischen Element.
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Insbesondere
im Falle der Verwendung eines piezoelektrischen Aufnehmers oder
einer photoakustischen Zelle ist vorgesehen, dass diese(r) in unmittelbarem
Kontakt mit dem zu überwachenden optischen Element steht.
Letztere weist vorzugsweise einen auf das optische Element aufgesetzten
Hohlkörper auf. Innerhalb des Hohlkörpers befindet
sich ein Gas. Wenn auf das optische Element eine elektromagnetische,
insbesondere optische Strahlung trifft, wird ein Teil der Strahlungsenergie
von dem optischen Element absorbiert. Dessen Erwärmung
wird auf das innerhalb des Hohlkörpers befindliche Gas übertragen und
führt nach den Gasgesetzen zu einer Druckerhöhung.
Wird die Strahlungsleistung zeitlich moduliert, ergibt sich eine
Druckmodulation, die sehr empfindlich z. B. mit einem Mikrophon
nachgewiesen werden kann. Das erhaltene Mikrophonsignal ist der absorbierten
Strahlungsleistung proportional.
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Die
Ermittlungseinrichtung umfasst vorzugsweise einen Lock-in-Verstärker
mit einem Synchronisationssignaleingang und einem Messsignaleingang. Dem
Synchronisationssignaleingang wird ein Triggersignal des Lasers
oder – falls nicht vorhanden – ein mit der Intensität
der von der optischen Strahlungsquelle emittierten Strahlung moduliertes
Synchronisationssignal zugeführt. Dem Messsignaleingang
wird ein Messsignal zugeführt, welches ein Maß für
das von der akustischen Empfangseinrichtung empfangene akustische
Signal ist. Als Ausgangssignal stellt der Lock-in-Verstärker
im Idealfall ein Gleich(spannungs)signal zur Verfügung.
Dieses ist proportional zum Messsignal und zum Kosinus der Phasenverschiebung
zwischen dem Messsignal und dem Synchronisationssignal.
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In
einer besonders vorteilhaften Ausführungsvariante der Erfindung
ist eine Vergleichseinrichtung zum Vergleichen des Ausgabesignals
mit einem vorgegebenen Referenzsignal vorgesehen. Je nachdem, ob
das Referenzsignal eine Normgröße oder lediglich
eine nicht kalibrierte Bezugsgröße darstellt,
ist das Ergebnis des Vergleichs eine absolute Größe
oder lediglich eine relative Größe für
die gerade vorherrschenden Absorptionseigenschaften des optischen
Elements. Zur Sicherstellung der Prozessstabilität bei
der Beschichtung von Substraten oder zur Darlegung von Entwicklungsfortschritten
ist es im Allgemeinen ausreichend relative Aussagen zur Absorption
zu treffen. Diese beziehen sich entweder auf eine Referenzprobe
oder zielen auf den Vergleich von Proben. Die Absolutmessung von
Absorption erzwingt hingegen hohen Aufwand zur Ermittlung der Messdaten
und zur Kontrolle der experimentellen Bedingungen.
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Bei
einer Ausführungsform umfasst das Referenzsignal ein erstes
Schwellwertsignal. Weiter ist eine Hinweiseinrichtung zum Ausgeben
eines Hinweissignals vorgesehen, wenn das Ausgabesignal das erste
Schwellwertsignal überschreitet. Alternativ oder zusätzlich
kann die Hinweiseinrichtung auch derart ausgebildet sein, dass dann
ein Hinweissignal ausgegeben wird, wenn das Ausgabesignal das erste
Schwellwertsignal unterschreitet.
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Verwendet
man z. B. als Schwellwertsignal den Ist-Zustand eines anderen aber
gleichartigen optischen Elements einer Serie, so liefert das Hinweissignal
einen Hinweis, ob das neuerlich untersuchte optische Element eine
höhere oder eine geringere Absorption als das andere optische
Element aufweist. Verwendet man dagegen z. B. als Schwellwert einen
zulässigen Soll-Zustand eines optischen Elements, so liefert
das Hinweissignal einen Hinweis, ob das neuerlich untersuchte optische
Element innerhalb einer Toleranzgrenze liegt oder nicht.
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Bei
einer anderen Ausführungsform umfasst das Referenzsignal
ein von einem Strahlungsabsorptionsnormal abgeleitetes Normsignal.
Erfindungsgemäß ist weiter eine Anzeigeeinrichtung
zum Ausgeben eines ein absolutes Maß für die Strahlungsabsorption
darstellenden Anzeigesignals vorgesehen.
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In
einer besonders bevorzugten Ausführungsvariante der Erfindung
umfasst das Referenzsignal ein zweites Schwellwertsignal. Dieses
Schwellwertsignal dient nicht lediglich dazu, einer Person einen
Hinweis auf einen momentanen Absorptionszustand des überwachten
optischen Elements zu geben, sondern es dient dazu aktiv in den
Betriebszustand des optischen Elements oder des optischen Systems
mit dem optischen Element einzugreifen. Erfindungsgemäß ist
daher eine Abschalteinrichtung zum Abschalten der Strahlungsquelle
und/oder anderer aktiver Komponenten, wie z. B. Abschwächer oder
Shutter vorgesehen. Diese Abschalteinrichtung kann dazu ausgebildet
sein, die Strahlungsquelle oder andere aktive Komponenten in dem
optischen System auszuschalten, wenn das Ausgabesignalsignal das
zweite Schwellwertsignal überschreitet und/oder wenn das
Ausgabesignal das zweite Schwellwertsignal unterschreitet.
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In
einer weiteren Ausführungsvariante der Erfindung umfasst
das Referenzsignal alternativ oder zusätzlich zu dem ersten
und/oder dem zweiten Schwellwertsignal ein drittes Schwellwertsignal.
Dieses dient ebenfalls dazu aktiv in den Betriebszustand des optischen
Elements oder des optischen Systems mit dem optischen Element einzugreifen
und zwar dadurch dass das optische Element durch ein anderes optisches
Element ersetzt wird, wenn das Ausgangssignal das dritte Schwellwertsignal überschreitet
und/oder wenn das Ausgangssignal das dritte Schwellwertsignal unterschreitet.
Der Austausch kann manuell erfolgen, oder es kann eine mechanische
Austauscheinrichtung vorgesehen sein, welche das „defekte"
optische Element durch ein „intaktes" optisches Element
ersetzt.
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Die
Erfindung wird nunmehr anhand der Zeichnungen näher beschrieben.
Es zeigen:
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1:
ein erstes Ausführungsbeispiel für eine erfindungsgemäße
Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung der Strahlungsabsorptionseigenschaften
eines Planspiegels,
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2:
ein zweites Ausführungsbeispiel für eine erfindungsgemäße
Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung der Strahlungsabsorptionseigenschaften
eines optischen Gitters.
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Die
nachfolgend skizzierten Vorrichtungen bedienen sich eines rein relativen – nicht
absoluten – Messverfahrens. Das vorgestellte relative Messverfahren
wird als extrem einfach und flexibel angesehen und macht keinerlei
Probenjustage erforderlich.
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Die 1 zeigt
ein erstes Ausführungsbeispiel für eine erfindungsgemäße
Vorrichtung 10 zur Bestimmung und/oder Überwachung
der Strahlungsabsorptionseigenschaften eines optischen Elements. Die
erfindungsgemäße Vorrichtung 10 wird
hier zur Untersuchung eines Planspiegels 11 eingesetzt.
Der Planspiegel 11 besteht aus einer auf ein Plan-Substrat 11.2 aufgebrachten
hochreflektierenden Beschichtung.
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Die
erfindungsgemäße Vorrichtung 10 umfasst
einen KrF2 Excimer-Laser 12 als
Strahlungsquelle. Dieser KrF2 Excimer-Laser 12 wird
gepulst mit einer Impulsdauer von 25 ns und einer Wiederholfrequenz
von 1 kHz betrieben und emittiert elektromagnetische Strahlung 13 mit
einer Wellenlänge von 248 nm bei einer Pulsenergie von
10 mJ. Der Laserstrahl ist auf das Zentrum 17 des Planspiegels 11 gerichtet. Der
Excimer-Laser 12 weist einen Lasersignalausgang L auf,
an dem ein zur emittierten Strahlung 13 synchrones elektrisches
Spannungssignal ausgegeben wird.
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Als
akustische Empfangseinrichtung ist ein Mikrophon 14 mit
einem elektrischen Spannungssignalausgang E vorgesehen. Dieses Mikrophon 14 befindet
sich innerhalb eines einseitig geschlossenen Zylinders 15,
dessen Öffnung 16 auf das Zentrum 17 des
planparallelen Spiegels 17 ausgerichtet ist.
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Als
Ermittlungseinrichtung ist ein Lock-in-Verstärker 18 vorgesehen.
Dieser Lock-in-Verstärker 18 weist zwei Signaleingänge, nämlich
einen Synchronisationssignaleingang S, und einen Messsignaleingang
M, und einen Signalausgang A auf.
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Schließlich
ist als Ausgabeeinrichtung ein (nicht dargestellter Rechner) mit
einem Bildschirm 19 vorhanden.
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Der
Lasersignalausgang L des Excimer-Lasers 12 ist mit dem
Synchronisationseingang S des Lock-in-Verstärkers 18 verbunden.
Der Ausgang E des Mikrophons 14 ist über eine
elektrische Leitung mit dem Messeingang M des Lock-in-Verstärkers 18 verbunden.
Der Ausgang A des Lock-in-Verstärkers 18 ist über
den Rechner mit dem Bildschirm 19 verbunden.
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Bei
der vorgeschlagenen Realisierung wird das seit über 100
Jahren bekannte photoakustische Prinzip genutzt.
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Der
gepulste Laserstrahl 13 trifft auf das Zentrum 17 der
zu untersuchenden Optik, hier den planparallelen Spiegel 11.
Ein Bruchteil der Energie wird in der Beschichtung 11.2 oder
im Substrat 11.1 absorbiert. Dies führt zur Erwärmung
der Optik 11. Die Wärmewelle wandert an die Optikoberfläche 11.3 und
wird an die umgebende Gasschicht 11.4 abgegeben. Die Erwärmung
dieser Gasschicht 11.4 führt zur lokalen Druckerhöhung
des Gases 11.5. Da die Laserbestrahlung der Optik 11 gepulst
erfolgt, kommt es zu einer Druckschwankung im Gas 11.5,
also einem akustischen Signal, das mit Hilfe des auf den Ort 17 der
Bestrahlung ausgerichteten Mikrofons 14 erfasst werden
kann. Das gepulste akustische Signal wird von dem Mikrophon 14 in
ein elektrisches Signal umgewandelt und dem Messsignaleingang M
des Lock-in-Verstärkers 18 zugeführt.
Dieser ist mit Hilfe des am Laserausgang L anliegenden und dem Synchronisationssignaleingang
S des Lock-in-Verstärkers 18 zugeführten
Synchronisationssignal mit der Repetitionsrate des Lasers 12 synchronisiert.
Am Ausgang A des Lock-in-Verstärkers 18 liegt
ein kontinuierliches Ausgabesignal. Dieses Signal ist proportional
zur Höhe der Absorption im Coating 11.1 bzw. im
optischen Substrat 11.2. Durch die Lock-in-Technik werden
außerdem Störungen durch andere akustische Signale
minimiert.
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Dieses
Ausgabesignal kann an dem Bildschirm 19 kontinuierlich
graphisch oder numerisch angezeigt werden. Der angeschlossene Rechner
ermöglicht es, beim Überschreiten eines Schwellwerts einen
akustischen, mechanischen oder optischen Warnhinweis auszugeben,
welcher von einer Person auditiv, visuell oder haptisch wahrgenommen
werden kann, oder dazu dienen kann den Laser 13 abzuschalten.
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Diese
Variante zeichnet sich durch ihre einfache Justage des Mikrofons
aus. Eine Messung ist auch an komplexeren Optiken während
des Betriebes möglich.
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Die 2 zeigt
ein zweites Ausführungsbeispiel für eine erfindungsgemäße
Vorrichtung 20. Bei dieser Vorrichtung 20 wird
ein Strahl 23 eines Excimer-Lasers 22 auf das
Zentrum 27 eines Reflexionsgitters 21 gerichtet.
Die Vorrichtung 20 zeichnet sich potentiell durch größere
Empfindlichkeit aus und damit durch die Möglichkeit auch
geringere Absorptionen im Coating 21.1 oder im Substrat 21.2 dieses
Gitters 21 nachzuweisen.
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Die
Erregung akustischer Signale erfolgt wie oben in der Beschreibung
zum Ausführungsbeispiel nach der 1 bereits
ausgeführt wurde.
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Als
akustische Empfangseinrichtung ist bei diesem zweiten Ausführungsbeispiel
eine photoakustische Zelle 24 vorgesehen. Diese photoakustische
Zelle 24 besteht aus einem Hohlkörper in Form eines
einseitig geschlossenen Zylinders 25. Das offene Ende dieses
Zylinders 25 ist auf die Rückseite 21.3 des
Reflexionsgitters 21 aufgesetzt, wobei der Rand 25.1 des
Zylinders 25 mittels eines Dichtrings 26 gegenüber
der Rückseite 21.3 des Reflexionsgitters 21 abgedichtet
ist. Innerhalb des Zylinders 25 befindet sich ein Gas,
hier Luft. Bei dieser zweiten Variante befindet sich das Mikrofon 30 seitlich
an dem in unmittelbarem Kontakt zum zu analysierenden optischen
Element 21 stehenden Messzylinder 25 und nicht
wie bei der ersten Variante innerhalb eines öffnungsseitig
auf das zu untersuchende optische Element 11 ausgerichteten
Zylinders 15. Das Mikrophon 30 befindet sich in
Kontakt mit dem Gas.
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Wie
im vorigen Ausführungsbeispiel ist ein Lock-in-Verstärker 28 sowie
ein Rechner 29 mit Bildschirm 29.1 und Tastatur 29.2 vorhanden.
Der Lasersignalausgang L des Excimer-Lasers 22 ist mit
dem Synchronisationseingang S des Lock-in-Verstärkers 28 verbunden.
Der Ausgang E des Mikrophons 30 ist auf den Messeingang
M des Lock-in-Verstärkers 28 geführt.
Der Ausgang A des Lock-in-Verstärkers 28 ist über
den Rechner 29 an den Bildschirm 29.1 angeschlossen.
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Ähnlich
wie bei der oben skizzierten Variante trifft der gepulste Laserstrahl 23 auf
das Zentrum 27 der zu untersuchenden Optik 21.
Ein Bruchteil der Energie wird in der Beschichtung 21.2 oder
im Substrat 21.1 absorbiert. Dadurch erwärmt sich
das Reflexionsgitter 21. Die Wärmewelle wandert
an die Optikoberfläche und insbesondere auch zur Rückfläche 21.3.
Die Wärme wird an das sich innerhalb des Messzylinders 25 befindende
Gas 24.1 abgegeben. Da die Laserbestrahlung der Optik 21 gepulst
erfolgt, kommt es zu einer Druckschwankung im Gas 24.1, also
einem akustischen Signal, das mit Hilfe des Mikrofons 30 erfasst
werden kann. Die entstehende Schallwelle wird also in dem Messzylinder 25 (Photoakustische
Zelle 24) gemessen. Die Abmessung der Zelle 25 kann
so gewählt werden, dass zur Signalverstärkung
akustische Resonanz in der Zelle 24 angeregt werden kann.
Alternativ kann an Stelle der photoakustischen Zelle 24 ein
piezoelektrischer Aufnehmer („Transducer") eingesetzt werden.
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Das
gepulste akustische Signal wird von dem Mikrophon 30 in
ein elektrisches Signal umgewandelt und dem Messsignaleingang M
des Lock-in-Verstärkers 28 zugeführt.
Dieser ist mit Hilfe des am Laserausgang L anliegenden und dem Synchronisationssignaleingang
S des Lock-in-Verstärkers 28 zugeführten
Synchronisationssignal mit der Repetitionsrate des Lasers 22 synchronisiert.
Am Ausgang A des Lock-in-Verstärkers 28 liegt
ein kontinuierliches zur Absorption proportionales Ausgabesignal.
Dieses Ausgabesignal wird wie beim Ausführungsbeispiel
oben am Bildschirm 29.1 zur Anzeige gebracht.
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Zur
Erprobung der Erfindung können die Resultate mit solchen
verglichen werden, die an einem alternativen Messaufbau gemessen
werden. Die Nutzung der Erfindung kann im Rahmen der Sicherstellung
der Prozessstabilität bei der Herstellung niedrig absorbierender
Laseroptiken erfolgen.
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- 10
- Vorrichtung
- 11
- Planplatte
- 11.1
- Beschichtung
- 11.2
- Substrat
- 11.3
- Oberfläche
- 11.4
- Gasschicht
- 11.5
- Gas/Luft
- 12
- Laser
- 13
- Laserstrahl
- 14
- Mikrophon
- 15
- Zylinder
- 16
- Öffnung
- 17
- Zentrum
- 18
- Lock-in-Verstärker
- 19
- Bildschirm
- 20
- Vorrichtung
- 21
- Reflexionsgitter
- 21.1
- Beschichtung
- 21.2
- Substrat
- 21.3
- Rückseite
- 22
- Laser
- 23
- Laserstrahl
- 24
- photoakustische
Zelle
- 24.1
- Gas
- 25
- Messzylinder
- 25.1
- Rand
- 26
- Dichtring
- 27
- Zentrum
- 28
- Lock-in-Verstärker
- 29
- Rechner
- 29.1
- Bildschirm
- 29.2
- Tastatur
- 30
- Mikrophon
- A
- Signalausgang
- E
- Mikrophonausgang
- S
- Synchronisationssignaleingang
- M
- Messsignaleingang
- L
- Lasersignalausgang
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
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Zitierte Nicht-Patentliteratur
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- - Lexikon der
Optik: in zwei Banden, Hrsg.: Harry Paul, Spektrum Akademischer
Verlag GmbH Heidelberg, Berlin (1999), Seite 139 [0019]