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DE102006024810A1 - Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie adaptiver Spiegel hierfür - Google Patents

Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie adaptiver Spiegel hierfür Download PDF

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DE102006024810A1
DE102006024810A1 DE200610024810 DE102006024810A DE102006024810A1 DE 102006024810 A1 DE102006024810 A1 DE 102006024810A1 DE 200610024810 DE200610024810 DE 200610024810 DE 102006024810 A DE102006024810 A DE 102006024810A DE 102006024810 A1 DE102006024810 A1 DE 102006024810A1
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DE
Germany
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mirror
projection
projection objective
bending axis
plane
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Ceased
Application number
DE200610024810
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English (en)
Inventor
Dirk Dipl.-Ing.(BA) Rexhäuser
Hubert Dipl.-Ing. Holderer
Ulrich Dipl.-Ing. Weber
Norbert Dipl.-Phys. Wabra
Alexander Dr. Dipl.-Phys. Kohl
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
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Publication date
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Abstract

Bei einem Projektionsobjektiv einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage überstreicht ein schlitzförmiges Lichtfeld scannerartig eine lichtempfindliche Schicht. Das Projektionsobjektiv hat eine optische Achse (OA) und einen planen Umlenkspiegel (30; 130; 230; 330; 430; 530), der die optische Achse (OA) umlenkt. Erfindungsgemäß ist eine Betätigungseinrichtung (40; 140; 240; 340; 440; 540) vorgesehen, mit welcher der Umlenkspiegel (30; 130; 230; 330; 430; 530) zur Korrektur von nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsfehlern um genau eine Biegeachse (42) verbiegbar ist.

Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • 1. Gebiet der Erfindung
  • Die Erfindung betrifft mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlagen, und zwar insbesondere solche Projektionsbelichtungsanlagen, bei deren Betrieb ein schlitzförmiges Lichtfeld eine lichtempfindliche Schicht scannerartig überstreicht. Die Erfindung betrifft ferner ein Projektionsobjektiv einer solchen Projektionsbelichtungsanlage, einen adaptiven Spiegel für ein solches Projektionsobjektiv sowie ein Verfahren zum Entwerfen eines solchen adaptiven Spiegels.
  • 2. Beschreibung des Standes der Technik
  • Integrierte elektrische Schaltkreise und andere mikrostrukturierte Bauelemente werden üblicherweise hergestellt, indem auf ein geeignetes Substrat, bei dem es sich beispielsweise um einen Silizium-Wafer handeln kann, mehrere strukturierte Schichten aufgebracht werden. Zur Strukturierung der Schichten werden diese zunächst mit einem Photolack bedeckt, der für Licht eines bestimmten Wellenlängenbereiches, z.B. Licht im tiefen ultravioletten Spektralbereich (DUV, deep ultraviolet), empfindlich ist. Anschließend wird der so beschichtete Wafer in einer Projektionsbelichtungsanlage belichtet. Dabei wird ein Muster aus Strukturen, das sich auf einer Maske befindet, auf den Photolack mit Hilfe eines Projektionsobjektivs abgebildet. Da der Abbildungsmaßstab dabei im allgemeinen kleiner als 1 ist, werden derartige Projektionsobjektive häufig auch als Reduktionsobjektive bezeichnet.
  • Nach dem Entwickeln des Photolacks wird der Wafer einem Ätzprozeß unterzogen, wodurch die Schicht entsprechend dem Muster auf der Maske strukturiert wird. Der noch verbliebene Photolack wird dann von den verbleibenden Teilen der Schicht entfernt. Dieser Prozeß wird so oft wiederholt, bis alle Schichten auf dem Wafer aufgebracht sind.
  • Projektionsbelichtungsanlagen weisen neben dem Projektionsobjektiv noch andere wichtige Komponenten auf. Eine davon ist das Beleuchtungssystem, mit dem die Maske mit den zu projizierenden Strukturen beleuchtet wird. Ferner müssen sehr präzis arbeitende Verfahrtische vorhanden sein, mit denen sich die Maske und der Wafer mit dem Photolack verfahren und exakt positionieren lassen.
  • Eines der wesentlichen Ziele bei der Entwicklung von Projektionsbelichtungsanlagen besteht darin, Strukturen mit zunehmend kleineren Abmessungen auf dem Wafer lithographisch erzeugen zu können. Kleine Strukturen führen zu hohen Integrationsdichten, was sich im allgemeinen günstig auf die Leistungsfähigkeit der mit Hilfe derartiger Anlagen hergestellten mikrostrukturierten Bauelemente auswirkt.
  • Die Größe der erzeugbaren Strukturen hängt vor allem von der Auflösung des verwendeten Projektionsobjektivs ab. Da die Auflösung der Projektionsobjektive proportional zu der Wellenlänge des Projektionslichts ist, besteht ein Ansatz zur Erhöhung der Auflösung darin, Projektionslicht mit immer kürzeren Wellenlängen einzusetzen. Die kürzesten zur Zeit verwendeten Wellenlängen liegen im ultravioletten Spektralbereich und betragen 248 nm, 193 nm oder 157 nm.
  • Bei besonders hochauflösenden Projektionsobjektiven gewinnt die Korrektur von Abbildungsfehlern eine immer größere Bedeutung. Im Stand der Technik sind eine Vielzahl von Ansätzen bekannt, mit denen sich Abbildungsfehler in Projektionsobjektiven korrigieren lassen.
  • Abbildungsfehler können danach unterteilt werden, ob sie sich (überwiegend) auf die Pupille oder auf das Feld beziehen. Im erstgenannten Fall betrachtet man die Austrittspupille für einen einzelnen Feldpunkt. Bei einem Pupillenabbildungsfehler weicht die Wellenfront in der Austrittspupille von der idealen Form einer aberrationsfreien Welle ab. Die Welle konvergiert deswegen nicht vollständig in dem Feldpunkt, was zu einem Kontrastverlust führt. Ist die Abweichung von der idealen Wellen front rotationssymmetrisch, so spricht man von einem rotationssymmetrischen Pupillenabbildungsfehler.
  • Bei einem reinen Feldabbildungsfehler gibt es zwar keine Wellenfrontfehler, jedoch konvergieren die Wellen nicht dort, wo sie es eigentlich sollten. Ein typischer Abbildungsfehler dieser Art ist die Verzeichnung. Auch hier kann man z.B. zwischen rotationssymmetrischer und nichtrotationssymmetrischer Verzeichnung unterscheiden.
  • Vergleichsweise einfach ist die Korrektur rotationssymmetrischer Abbildungsfehler. Sie lassen sich häufig durch Verschiebung einzelner optischer Elemente entlang der optischen Achse zumindest teilweise korrigieren.
  • Schwieriger ist die Korrektur solcher Abbildungsfehler, die nicht rotationssymmetrisch sind. Derartige Abbildungsfehler entstehen beispielsweise dadurch, daß sich Linsen und andere optische Elemente nicht rotationssymmetrisch erwärmen. Ein besonderer Pupillen-Abbildungsfehler dieser Art ist der Astigmatismus, welcher sich auch für den auf der optischen Achse liegenden Feldpunkt einstellen kann, wenn sich z.B. eine pupillennahe Linse sattelförmig verbiegt. Der Astigmatismus ist ein Abbildungsfehler mit einer zweizähligen Symmetrie, dessen Ursache in nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsverhältnissen liegt.
  • Bei Projektionsbelichtungsanlagen werden nicht-rotationssymmetrische Abbildungsfehler häufig durch eine schlitzförmige Beleuchtung der Maske verursacht, wie dies bei scannenden Projektionsbelichtungsanlagen der Fall ist. Bei solchen Projektionsbelichtungsanlagen wird die Maske scannerartig durch das schlitzförmige Beleuchtungsfeld geführt, so daß der zu projizierende Bereich auf der Maske nicht durch die genutzte Feldgröße des Projektionsobjektivs begrenzt ist. Der Wafer bewegt sich während des Scanvorgangs synchron mit einer Geschwindigkeit, die um den Abbildungsmaßstab des Projektionsobjektivs gegenüber der Geschwindigkeit der Maske herabgesetzt ist. Die schlitzförmige Beleuchtung führt dazu, daß vor allem feldnahe optische Elemente nicht rotationssymmetrisch durch das Projektionslicht erwärmt werden. Dadurch verändern sich auch die optischen Eigenschaften der optischen Elemente in nicht rotationssymmetrischer Weise. Dadurch entstehen nicht-rotationssymmetrische Feld-Abbildungsfehler.
  • Zur Korrektur nicht-rotationssymmetrischer Abbildungsfehler wird in der US 6 338 823 B1 vorgeschlagen, eine Linse mit Hilfe mehrerer entlang des Umfangs der Linse verteilten Aktuatoren gezielt, und zwar vorzugsweise sattelförmig, zu deformieren, ohne dabei deren Dicke nennenswert zu verändern. Da die beiden optischen Flächen der deformierbaren Linse stets gleichzeitig deformiert werden, ergibt sich die gesamte Korrekturwirkung als Überlagerung der Einzelwirkungen, die von den beiden deformierten optischen Flächen ausgeht.
  • Die Deformation von Linsen ist insofern nicht unproblematisch, weil es schwierig ist, genau diejenige Deformation zu erzielen, die zur Korrektur eines im allgemeinen meßtechnisch erfaßten oder durch Simulation vorausberechneten nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsfehlers erforderlich ist. Außerdem kompensieren sich die auf die Deformation zurückgehenden Wirkungen der beiden Flächen teilweise. Deswegen muß die Linse relativ stark deformiert werden, um eine ausreichende Korrekturwirkung zu erhalten.
  • In der vorstehend diskutierten US 6 338 823 B1 wird nebenbei auch auf die Möglichkeit hingewiesen, einen Spiegel zur Astigmatismuskorrektur zu deformieren; dies wird jedoch nicht näher erläutert.
  • Die Verwendung adaptiver Spiegel zur Korrektur von Abbildungsfehlern ist allerdings, zumindest für bestimmte Anwendungsgebiete, Stand der Technik, wie etwa die US 4 226 507 A zeigt. Insbesondere für astronomische Anwendungen sind adaptive Spiegel häufig vorgeschlagen worden.
  • Bekannt ist der Einsatz adaptiver Spiegel auch im Zusammenhang mit EUV-Projektionsobjektiven mikrolithographischer Projektionsbelichtungsanlagen. Diese Projektionsbelichtungsanlagen sind für sehr kurze Wellenlängen von we niger als 15 nm vorgesehen und enthalten deswegen als optische Elemente ausschließlich Spiegel, da keine ausreichend transparenten refraktiv wirkende Materialien zur Verfügung stehen. In diesem Zusammenhang wird beispielhaft auf die EP 1 376 192 A2 verwiesen, in der adaptive Abbildungsspiegel für EUV-Projektionsobjektiv beschrieben sind.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Aufgabe der Erfindung ist es, ein Projektionsobjektiv einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage anzugeben, mit dem sich nicht-rotationssymmetrische Abbildungsfehler, wie sie insbesondere bei der Verwendung schlitzförmiger Lichtfelder auftreten, auf einfache Weise und dennoch wirkungsvoll verringern lassen.
  • Gelöst wird diese Aufgabe durch ein Projektionsobjektiv mit einer optischen Achse und einem planen Umlenkspiegel, der die optische Achse umlenkt. Erfindungsgemäß ist eine Betätigungseinrichtung vorgesehen, mit welcher der Umlenkspiegel zur Korrektur von nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsfehlern um genau eine Biegeachse verbiegbar ist.
  • Die Erfinder haben erkannt, daß sich ein planer Umlenkspiegel in katadioptrischen Projektionsobjektiven hervorragend zur Korrektur von nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsfehlern einsetzen läßt, wie sie bei der Verwen dung schlitzförmiger Lichtfelder entstehen. Die Deformation eines an sich planen Umlenkspiegels ist aus mehreren Gründen vorteilhaft:
    So haben Spiegel zum einen gegenüber deformierbaren Linsen den Vorteil, daß bei einer Deformation nicht zwei optisch wirksame Flächen beteiligt sind, deren auf die Deformation zurückgehenden optischen Wirkungen sich teilweise gegenseitig aufheben. Deswegen muß die einzige optisch wirksame Fläche eines Spiegels erheblich weniger deformiert werden, um eine vergleichbar starke Veränderung der optischen Wirkung zu erzielen, wie sie bei der Deformation einer Linse auftritt. Geringe Deformationen erfordern geringere mechanische Kräfte. Dadurch wiederum wird es einfacher, die Kräfteverteilung in dem Spiegel zu erzeugen, welche für die gewünschte Deformation erforderlich ist.
  • Ein weiterer bedeutender Vorteil bei Spiegeln besteht darin, daß die gesamte Rückseite des Spiegelträgers zur Verfügung steht, um dort Kräfte angreifen zu lassen, welche die gewünschte Deformation erzeugen. Bei Linsen und anderen optischen Elementen, die von Licht durchtreten werden, können derartige Kräfte hingegen stets nur am Umfang angreifen. Daher ist es bei Linsen viel schwieriger, eine gewünschte Deformation zu erzeugen. Bei einem Spiegel hingegen können im Prinzip auf der Rückseite der gesamten Spiegelfläche Aktuatoren in großer Zahl verteilt werden, so daß sich auch sehr komplizierte Deformationen erzeugen lassen.
  • Die Erfinder haben jedoch vor allem erkannt, daß es zur Korrektur nicht-rotationssymmetrischer Abbildungsfehler, wie sie typischerweise bei der Verwendung schlitzförmiger Lichtfelder auftreten, am günstigsten ist, einen Spiegel so zu deformieren, daß sich seine optischen Eigenschaften durch die Deformation nur in einer Richtung verändern, während sie senkrecht dazu unverändert bleiben. Um einen Spiegel in dieser Weise zu deformieren, ist es wiederum am günstigsten, wenn ein planer Umlenkspiegel anstelle eines gekrümmten Abbildungsspiegels um genau eine Biegeachse deformiert wird.
  • Möchte man nämlich einen sphärisch oder asphärisch gekrümmten Abbildungsspiegel um genau eine Biegeachse verbiegen, so ist dies außerordentlich schwierig. Dies hängt damit zusammen, daß aufgrund der gekrümmten Spiegeloberfläche im Spiegelträger komplizierte Spannungsverteilungen entstehen, wenn Kräfte mit Hilfe von Aktuatoren auf den Spiegelträger ausgeübt werden. Infolge dieser komplizierten Spannungsverteilungen wird sich deswegen ein solcher nicht-planer Spiegel im allgemeinen nicht in der erwünschten Weise um lediglich eine Biegeachse verbiegen. Möglich ist dies allenfalls, wenn eine sehr große Zahl von Aktuatoren eingesetzt wird, was aber die Komplexität, die Steuerung und die Kosten eines solchen adaptiven Spiegels erheblich erhöht.
  • Wird jedoch erfindungsgemäß ein planer Umlenkspiegel verbogen, so sind die mechanischen Verhältnisse sehr viel einfacher, und es bereitet keine großen Schwierigkeiten, Kräfte so an dem Spiegelträger angreifen zu lassen, daß sich die gewünschte Verbiegung um genau eine Biegeachse ergibt.
  • Als Biegeachse wird hier im übrigen eine Achse bezeichnet, entlang der eine Symmetrieebene des deformierten Spiegels die reflektierende Spiegeloberfläche schneidet. Diese Symmetrieebene findet ihre Entsprechung in der zweizähligen Symmetrie der zu korrigierenden nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsfehler. Eine Verbiegung eines planen Spiegels um genau eine Biegeachse bedeutet somit, daß die Krümmung des Spiegels parallel zu Biegeachse unendlich bleibt, während sie senkrecht dazu endliche Werte annimmt.
  • Deformierbare optische Elemente, die zur Korrektur von nicht-rotationssymmetrischen Feld-Abbildungsfehlern eingesetzt werden, sollten möglichst in der Nähe einer Feldebene angeordnet sein, um eine optimale Korrekturwirkung entfalten zu können. Bei einigen Typen von Projektionsobjektiven, und zwar insbesondere solchen mit polarisationsselektiven Strahlteilerwürfeln, gibt es allerdings keine Linsen, die feldnah angeordnet sind und deswegen zur Korrektur nicht-rotationssymmetrischer Feld-Abbildungsfehler eingesetzt werden könnten. Die Erfindung schafft auch hier Abhilfe, da derartige Projektionsobjek tive häufig einen Umlenkspiegel enthalten, der in oder in der Nähe einer Zwischenbildebene des Projektionsobjektivs angeordnet ist und deswegen gut zur Korrektur nichtrotationssymmetrischer Feld-Abbildungsfehler eingesetzt werden kann.
  • Zur Korrektur von nicht-rotationssymmetrischen Pupillenabbildungsfehlern sollte der deformierbare Umlenkspiegel möglichst in oder in der Nähe einer Pupillenebene des Projektionsobjektivs angeordnet sein. Ursache für solche nicht-rotationssymmetrischen Pupillenabbildungsfehler kann ebenfalls die Verwendung eines schlitzförmigen Lichtfeldes sein. Da auf halbem Wege zwischen einer Feldebene und einer Pupillenebene angeordnete optische Elemente sich bei der Verwendung eines schlitzförmigen Lichtfeldes ebenfalls – wenn auch mit zunehmender Nähe zur Pupillenebene immer weniger ausgeprägt – in nichtrotationssymmetrischer Weise erwärmen, erzeugen solche optischen Elemente neben nicht-rotationssymmetrischen Feld-Abbildungsfehler auch Pupillen-Abbildungsfehler.
  • Bei einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung weist die Betätigungseinrichtung mindestens einen Aktuator auf, mit dem eine Biegekraft oder ein Biegemoment auf den Umlenkspiegel ausübbar ist. Vorzugsweise weist die Betätigungseinrichtung mindestens zwei Aktuatoren auf, die symmetrisch zur Biegeachse angeordnet sind. Es kann aber auch genügen, nur einen Aktuator in der Spiegelmitte im Bereich der Biegeachse angreifen zu lassen, wenn gegen überliegende Seiten des Umlenkspiegels entsprechend fixiert oder gelagert sind.
  • Als Aktuatoren kommen alle im Stand der Technik bekannten Bauteile in Betracht, mit denen sich kontrolliert Kräfte auf den Spiegelträger ausüben lassen. Beispiele hierfür sind Mikrometerschrauben, Magnete, Federn, Spindeln, hydraulische, pneumatische oder piezoelektrisch arbeitende Elemente.
  • Um mit möglichst wenigen und einfach aufgebauten Aktuatoren den Umlenkspiegel noch präziser deformieren zu können, kann der Umlenkspiegel einen Spiegelträger aufweisen, dessen Dicke zur Erzeugung eines gewünschten Biegeverhaltens lokal variiert. Durch das lokal variierende Dickenprofil des Spiegelträgers kann die Kräfteverteilung beeinflußt werden, die mit Hilfe der Betätigungseinrichtung im Spiegelträger erzeugt wird und zur Deformation des Spiegels führt. Der Spiegelträger kann zu diesem Zweck beispielsweise eine zylindrisch gekrümmte Rückseite haben, oder auf einer an sich planen Rückseite können Rippen oder Stege mit gleichen oder unterschiedlichen Querschnitten geformt sein. Alternativ hierzu ist es natürlich auch möglich, auf die Rückseite des Spiegelträgers ein oder mehrere Elemente wie etwa Rippen oder Platten zu befestigen, welche die Kräfteverteilung im Spiegelträger ebenfalls gezielt verändern.
  • Ein lokal variierendes Dickenprofil auf der Spiegelrückseite kann vorteilhaft auch bei solchen adaptiven Spiegeln eingesetzt werden, deren reflektierende Oberseite nicht plan, sondern sphärisch oder asphärisch gekrümmt ist. Der Spiegelträger hat dann eine Rückseite mit einer nicht rotationssymmetrischen Form, die zur Erzeugung einer Deformation um genau eine Biegeachse eine Symmetrieebene aufweist, welche die Biegeachse enthält.
  • Ein solcher adaptiver Spiegel kann beispielsweise auch für Beleuchtungssysteme von EUV-Projektionsbelichtungsanlagen eingesetzt werden, wie sie in der US 2003/0096523 A1 beschrieben sind.
  • Der vorstehend beschriebene Ansatz, die Rückseite des Spiegelträgers gezielt zu formen, um die Kräfteverteilung im Spiegelträger besser kontrollieren zu können, läßt sich auch ganz allgemein beim Entwerfen von adaptiven Spiegeln für mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlagen anwenden, d.h. selbst bei solchen Spiegeln, die nicht um genau eine Biegeachse deformiert werden sollen. Ein erfindungsgemäßes Verfahren weist folgende Schritte auf
    • a) Bestimmung einer ersten Form des Spiegels, welche eine reflektierende Oberseite des Spiegel in einem undeformierten Zustand haben sollt
    • b) Bestimmen einer zweiten Form des Spiegels, welche die reflektierende Oberseite des Spiegels in einem deformierten Zustand haben soll;
    • c) Bestimmen der Anordnung und Art von Aktuatoren, welche an einer Rückseite des Spiegels angreifen, um diesen zu deformieren;
    • d) Bestimmen einer dreidimensionalen Form der Rückseite derart, daß bei einer Betätigung der in Schritt c) bestimmten Aktuatoren die reflektierende Oberseite des Spiegels der in Schritt b) bestimmten Form möglichst nahekommt.
  • Die Schritte c) und d) können dabei auch in einem gemeinsamen Optimierungsprozeß durchgeführt werden.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHUNGEN
  • Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der Zeichnungen. Darin zeigen:
  • 1 einen vereinfachten meridionalen Schnitt durch ein erfindungsgemäßes Projektionsobjektiv mit einem planen Unlenkspiegel;
  • 2 den Umlenkspiegel aus der 1 in einer perspektivischen Darstellung;
  • 3 einen Schnitt durch den in der 2 gezeigten Umlenkspiegel entlang der Linie III-III;
  • 4 einen Umlenkspiegel gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel in einer der 3 entsprechenden Schnittdarstellung;
  • 5 bis 9 verschiede Umlenkspiegel gemäß weiteren Ausführungsbeispielen in an die 3 angelehnten Schnittdarstellungen, bei denen der Spiegelträger eine Rückseite mit nicht rotationssymmetrischer Form hat.
  • BESCHREIBUNG BEVORZUGTER AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
  • In der 1 ist ein Projektionsobjektiv einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage in einem Meridionalschnitt vereinfacht dargestellt und insgesamt mit 10 bezeichnet. Das Projektionsobjektiv, das in ähnlicher Weise auch in der WO 2004/92842 der Anmelderin beschrieben ist, dient dazu, in einer Maske 12 enthaltene Strukturen verkleinert auf eine lichtempfindliche Schicht 14 abzubilden, die aus einem Photolack besteht und auf einem Substrat 15 aufgebracht ist. Die Maske 12 ist dabei in einer Objektebene OP und die lichtempfindliche Schicht 14 in einer Bildebene IP des Projektionsobjektivs 10 angeordnet. Während des Belichtungsvorgangs werden dabei die Maske 12 und die lichtempfindliche Schicht 14 parallel zueinander verfahren.
  • Ein in der 1 nicht dargestelltes Beleuchtungssystem erzeugt gestrichelt angedeutetes Projektionslicht 16, das bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel eine Wellenlänge von 157 nm hat. Die Maske 12 wird dabei mit einem schlitzförmigen Lichtfeld beleuchtet; dementsprechend ist auch das auf die lichtempfindliche Schicht 14 projizierte Abbild der innerhalb des Lichtfeldes liegenden Strukturen schlitzförmig.
  • Das Projektionslicht 16 gelangt nach Beugung an der Maske 12 über eine plan-parallele Platte 18 und eine Linse L1 in einen Strahlteilerwürfel 20. Dort wird das Projektionslicht 16 an einer darin enthaltenen polarisationsselektiven Strahlteilerschicht 22 reflektiert und über eine Linse L2, ein Viertelwellenlängenplättchen 24 und zwei weitere Linsen L3 und L4 auf einen konkaven Spiegel 28 gerichtet.
  • Nach Reflexion an dem Spiegel 28 durchsetzt das Projektionslicht 16 erneut die Linsen L4 und L3, das Viertelwellenlängenplättchen 24 sowie die Linse L2 und fällt auf die polarisationsselektive Strahlteilerschicht 22. Dort wird das Projektionslicht 16 allerdings nicht reflektiert, sondern transmittiert, da die Polarisation des Projektionslichts 16 durch den zweimaligen Durchtritt durch das Viertelwellenlängenplättchen 24 um 90° gedreht wurde. Von dem Strahlteilerwürfel 20 gelangt das Projektionslicht 16 über einen planen Umlenkspiegel 30 in einen rein dioptrischen Teil 31 des Projektionsobjektivs 10, in dem nicht näher bezeichnete Linsen entlang einer mit OA angedeuteten optischen Achse angeordnet sind.
  • Die 2 und 3 zeigen den Umlenkspiegel 30 in einer perspektivischen Darstellung von der Rückseite her gesehen bzw. in einem horizontalen Schnitt entlang der Linie III-III.
  • Der Umlenkspiegel 30 weist einen planen Spiegelträger 32 sowie eine auf dessen Oberseite aufgebrachte reflektierende Schicht 34 auf. Bei der reflektierenden Schicht 34 kann es sich auch um ein Schichtsystem mit mehreren Einzelschichten handeln, wie dies an sich im Stand der Technik bekannt ist.
  • Der Spiegelträger 32 ist auf seiner Rückseite 36 mit einem Steg 38 versehen, der sich zentriert und parallel zu den kürzeren Querseiten des Umlenkspiegels 30 erstreckt. Der Steg 38 ist in nicht näher dargestellter Weise starr mit einem Gehäuse des Projektionsobjektivs 10 verbunden.
  • Mit Pfeilen 40 sind Aktuatoren angedeutet, die zu beiden Seiten des Stegs 38 an der Rückseite 36 des Spiegelträgers 32 angreifen. Bei den Aktuatoren 40 kann es sich beispielsweise um piezoelektrische Elemente handeln, mit denen sich sehr genau Zug- oder Druckkräfte erzeugen lassen. Durch Betätigung der Aktuatoren 40 können in den durch die Pfeile angedeuteten Richtungen Druckkräfte auf den Spiegelträger 32 ausgeübt werden, die zu einer konka ven Deformation des Umlenkspiegels 30 um eine Biegeachse 42 führen. In den 2 und 3 deuten gestrichelte Linien 30' die Form des deformierten Umlenkspiegels 30 an.
  • Infolge des Stegs 38 und der symmetrisch hierzu angeordneten Aktuatoren 40 wird der Umlenkspiegel 30 nur um eine einzige Biegelinie 42 deformiert. In der Richtung parallel zur Biegelinie 42 bleibt die Krümmung der Oberfläche des Umlenkspiegels 30 somit weiterhin unendlich groß.
  • Durch diese Deformation erhält der Umlenkspiegel 30 eine Wirkung, die bezüglich der Rotation um die optische Achse eine zweizählige Symmetrie hat. Diese Wirkung entsteht nicht durch eine Überlagerung unterschiedlicher Deformationen in zwei orthogonalen Richtungen, sondern ausschließlich durch die Deformation um die Biegelinie 42. Bei dem in den 2 und 3 gezeigten Ausführungsbeispiel sind dabei die von den Aktuatoren 40 zu beiden Seiten des Stegs 38 erzeugten Kräfte gleich, so daß der deformierte Umlenkspiegel symmetrisch bezüglich einer Symmetrieebene ist, welche die Biegelinie 42 enthält.
  • Die Form des deformierten Umlenkspiegels 30 ist so bestimmt, daß die Wirkung des deformierten Umlenkspiegels 30 Abbildungsfehler mit zweizähliger Umlaufsymmetrie, die durch andere optische Elemente des Projektionsobjektivs 10 verursacht werden, ganz oder zumindest weitgehend kompensiert. Da häufig nicht-rotationssymmetrische Abbildungsfehler auch einen größeren zweizähligen Anteil haben, lassen sich durch die Deformation des Umlenkspiegels 30 auch solche nicht-rotationssymmetrische Abbildungsfehler erheblich verringern.
  • Ursache der nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsfehler kann beispielsweise eine nicht-rotationssymmetrische Erwärmung von optischen Elementen des Projektionsobjektivs 10 sein. Durch die Erwärmung deformieren sich die optischen Elemente in nicht-rotationssymmetrischer Weise; bei refraktiven optischen Elementen kommt außerdem eine nicht-rotationssymmetrische Veränderung der Brechzahl hinzu.
  • Verursacht werden nicht-rotationssymmetrische Erwärmungen vor allem durch das schlitzförmige Lichtfeld, mit dem die Maske 12 beleuchtet wird. Die optischen Elemente im Projektionsobjektiv 10 absorbieren einen Teil des Projektionslichts 16 und haben deswegen dort ihre höchste Temperatur, wo sie dem Projektionslicht 16 ausgesetzt sind. Je näher sich ein optisches Element dem Bereich der Objektebene OP, der Bildebene IP oder einer ggf. vorhandenen Zwischenbildebene befindet, desto weniger rotationssymmetrisch ist der dem Projektionslicht ausgesetzte Bereich. Deswegen tragen vor allem die relativ feldnah angeordneten Linse L1 und der Strahlteilerwürfel 20 zu nicht-rotationssymmetrischen Feld-Abbildungsfehlern bei.
  • Die in den 2 und 3 gezeigte Deformation des Umlenkspiegels 30 ist allerdings stark übertrieben; tatsächlich genügen zur Korrektur nicht-rotationssymmetri scher Abbildungsfehler lokale Krümmungsradien der Spiegeloberfläche senkrecht zur Biegeachse 42 in der Größenordnung von mehreren Metern.
  • Damit der Umlenkspiegel 30 genau so deformiert wird, daß die im Einzelfall auftretenden nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsfehler möglichst vollständig korrigiert werden, müssen die an dem Umlenkspiegel 30 angreifenden Kräfte sorgfältig bestimmt werden. Dabei sind u.a. die Größe und Form des Spiegelträgers 32 sowie dessen Materialeigenschaften zu berücksichtigen. Die Kräfteverteilung kann u.a. durch die Festlegung der Anzahl und der Angriffspunkte der Aktuatoren 40 beeinflußt werden.
  • Die Erwärmung der optischen Elemente und damit auch das Ausmaß der nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsfehler hängen von einer Vielzahl variabler Faktoren, darunter auch der Dichte und der Anordnung der Strukturen auf der Maske 12, ab. Daher wird es im allgemeinen erforderlich sein, die Deformation des Umlenkspiegels 30 im Verlauf des Betriebs der Projektionsbelichtungsanlage an die sich verändernden Verhältnisse anzupassen. Hierzu sind die Aktuatoren 40 mit einer geeigneten Steuerung zu verbinden. Die jeweils erforderliche Deformation kann auf der Grundlage von Meßergebnissen oder Simulationsrechnungen gewonnen werden.
  • Die 4 zeigt in einer an die 3 angelehnten Darstellung einen Umlenkspiegel 130, der entlang seiner kurzen Querseiten mit abgewinkelten Kanten oder Hebeln 50 versehen ist. Durch Aktuatoren 140 können diese Hebel 50 ausgelenkt werden, wodurch Biegemomente in dem Spiegelträger 132 erzeugt werden. Durch Abstützen des Spiegelträgers 132 an festen Lagerpunkten 138a, 138b bewirken diese Biegemomente eine konkave Deformation des Umlenkspiegels 130, wie sie in der 4 durch gestrichelte Linien übertrieben angedeutet ist.
  • Es versteht sich, daß die beiden vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiele in vieler Hinsicht abwandelbar sind. So wurde stets unterstellt, daß die Aktuatoren 40, 140 zur Verformung des Umlenkspiegels 30, 130 Druckkräfte erzeugen. Selbstverständlich ist es ebenso möglich, mit Hilfe entgegengesetzt wirkender Zugkräfte eine Deformation des Umlenkspiegels herbeizuführen. Bei dem in der 2 gezeigten Ausführungsbeispiel würde dies beispielsweise bedeuten, daß die Aktuatoren 40 von der Oberseite des Spiegelträgers 32 her angreifen, und zwar in einem Bereich, der keinem Projektionslicht 16 ausgesetzt ist. Ferner kann eine Wirkung mit zweizähliger Symmetrie natürlich auch dadurch erzeugt werden, daß der plane Umlenkspiegel 30, 130 nicht konkav, sondern konvex gekrümmt wird. In diesem Falle müssen die Aktuatoren 40, 140 lediglich Kräfte in die entgegengesetzte Richtung auf den Spiegelträger 32, 132 ausüben.
  • Ferner kann der Umlenkspiegel 30, 130 natürlich auch in anderen Projektionsobjektiven vorteilhaft eingesetzt wer den. Besonders geeignet sind Projektionsobjektive, bei denen zwei plane Umlenkspiegel einen sogenannten geometrischen Strahlteiler bilden, wie dies etwa in der WO 2004/019128 A gezeigt ist. Bei solchen Projektionsobjektiven richtet ein erster planer Umlenkspiegel darauf auftreffendes Licht in Richtung auf einen konkav gekrümmten Spiegel. Ein weiterer planer Umlenkspiegel lenkt das von dem konkav gekrümmten Spiegel reflektierte Licht wieder um. Einer oder auch beide Umlenkspiegel eines solchen geometrischen Strahlteilers können dabei in der vorstehend beschriebenen Weise zur Korrektur nicht-rotationssymmetrischer Abbildungsfehler deformiert werden.
  • Bei dem in den 2 und 3 beschriebenen Ausführungsbeispielen ist der Spiegelträger 32 als plan-parallele Platte ausgebildet. Die Rückseite des undeformierten Spiegelträgers 32 ist somit plan. Damit sich durch eine Betätigung der Aktuatoren 40 tatsächlich die gewünschte Deformation mit möglichst wenigen Aktuatoren 40 einstellt, kann die Rückseite 36 des Spiegelträgers 32 so dreidimensional geformt werden, daß der Spiegelträger 32 ein nicht-rotationssymmetrisches lokal variierendes Dickenprofil erhält. Durch diese Gestaltung der Rückseite 36 des Spiegelträgers 32 läßt sich die Kräfteverteilung in dem Spiegelträger 32 und somit dessen Deformation mit Hilfe weniger Aktuatoren 40 oder sogar nur eines einzigen Aktuators noch gezielter beeinflussen. Entsprechendes gilt selbstverständlich auch für den Umlenkspiegel 130 gemäß dem in der 4 gezeigten Ausführungsbeispiel.
  • Die 5 bis 9 zeigen in an die 3 und 4 angelehnten Darstellungen unterschiedliche Varianten für Spiegelträger, deren Rückseite nicht plan ist, sondern ein nicht-rotationssymmetrisches Dickenprofil mit lokal variierender Dicke aufweist.
  • Bei dem in der 5 gezeigten Ausführungsbeispiel eines Umlenkspiegels 230 hat der Spiegelträger 232 einen in Längsrichtung konstanten und insgesamt trapezförmigen Querschnitt. Der Spiegelträger 232 hat somit die Form eines Prismas, dessen Dicke entlang der Biegelinie 42 am größten ist. Bezüglich einer mit 252 angedeuteten Symmetrieebene, welche die Biegelinie 42 enthält, ist das Prisma spiegelsymmetrisch. Ein derart geformter Spiegelträger 232 verformt sich an den dünneren äußeren Enden stärker als in der Mitte, wenn in der Nähe dieser Enden Aktuatoren 240 Druck- oder Zugkräfte ausüben und der Spiegelträger 232 in der Nähe der Biegelinie fixiert ist.
  • Bei dem in der 6 gezeigten Umlenkspiegel 330 ist der Spiegelträger 332 ebenfalls entlang der Biegelinie fixiert. Zwischen der Biegelinie und den Angriffspunkten für Aktuatoren 340 an den einander gegenüberliegenden Enden ist die Dicke des Spiegelträgers 332 am geringsten. Den Aufbau des Spiegelträgers 332 kann man auch so beschreiben, daß eine plane Rückseite drei parallele Stege trägt, von denen der mittlere Steg einen trapezförmigen Querschnitt und die beiden seitlichen Stege jeweils einen dreieckigen Querschnitt haben. Die Form des Spiegelträ gers 332 ist auch hier spiegelsymmetrisch bezüglich einer Symmetrieebene 352, welche die Biegelinie enthält.
  • Bei dem in der 7 gezeigten Umlenkspiegel 430 ist die Rückseite konvex gewölbt, wodurch eine ähnliche Wirkung wie bei dem in der 5 gezeigten Umlenkspiegel 230 erzielt wird.
  • Die 8 zeigt eine mit 530 bezeichnete Variante des in der 7 gezeigten Umlenkspiegels 430. Diese Variante stellt gewissermaßen eine Kombination der in den 4 und 7 gezeigten Ausführungsbeispiele dar.
  • Bei den vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispielen wurde stets angenommen, daß die Deformation des Umlenkspiegels symmetrisch bezüglich einer Symmetrieebene 252, 352, 452 bzw. 552 ist, welche auch die Biegelinie enthält. Der in der 1 gezeigte polarisationsselektive Strahlteilerwürfel 20 hat allerdings die Eigenschaft, daß er sich durch Absorption von Projektionslicht 16 in einer Weise erwärmen kann, die nicht spiegelsymmetrisch ist. Dies hängt letztlich mit den unterschiedlich langen Lichtwegen der einzelnen Lichtstrahlen im Strahlteilerwürfel 20 zusammen.
  • Um auch solche nicht spiegelsymmetrische Abbildungsfehler möglichst gut korrigieren zu können, kann der in den 2 und 3 dargestellte Umlenkspiegel 30 auch so deformiert werden, daß die beiden Hälften zu beiden Seiten der Biegelinie 42 in unterschiedlicher Weise deformiert werden. Bei dem Umlenkspiegel 30 kann dies z.B. dadurch bewirkt werden, daß die Aktuatoren 40 zu beiden Seiten der Biegelinie 42 unterschiedliche Kräfte auf den Spiegelträger 32 ausüben.
  • Unter Anwendung des in den 5 bis 8 gezeigten Ansatzes, durch ein lokal variierendes Dickenprofil des Spiegelträgers die Deformation des Spiegels zusätzlich beeinflussen zu können, zeigt die 9 ein Ausführungsbeispiel für einen planen Umlenkspiegel 630, dessen Dickenprofil zu beiden Seiten des Stegs 638 unterschiedlich ist. Auf diese Weise wird selbst bei Ausübung gleicher Druckkräfte durch Aktuatoren 640 eine asymmetrische Deformation des Umlenkspiegels 630 erzielt.

Claims (14)

  1. Projektionsobjektiv einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, bei deren Betrieb ein schlitzförmiges Lichtfeld eine lichtempfindliche Schicht (14) scannerartig überstreicht, mit einer optischen Achse (OA) und einem planen Umlenkspiegel (30; 130; 230; 330; 430; 530), der die optischen Achse (OA) umlenkt, gekennzeichnet durch eine Betätigungseinrichtung (40; 140; 240; 340; 440; 540), mit welcher der Umlenkspiegel (30; 130; 230; 330; 430; 530) zur Korrektur von nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsfehlern um genau eine Biegeachse (42) verbiegbar ist.
  2. Projektionsobjektiv nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Umlenkspiegel (30; 130; 230; 330; 430; 530) in oder in der Nähe einer Zwischenbildebene des Projektionsobjektivs (10) angeordnet ist.
  3. Projektionsobjektiv nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Umlenkspiegel (30; 130; 230; 330; 430; 530) in oder in der Nähe einer Pupillenebene des Projektionsobjektivs (10) angeordnet ist.
  4. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Umlenkspiegel darauf auftreffendes Licht in Richtung auf einen konkav gekrümmten Spiegel richtet.
  5. Projektionsobjektiv nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch einen weiteren planen Umlenkspiegel, der das von dem konkav gekrümmten Spiegel reflektierte Licht umlenkt.
  6. Projektionsobjektiv nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der weitere plane Umlenkspiegel ebenfalls zur Korrektur von nicht-rotationssymmetrischen Abbildungsfehlern um genau eine Biegeachse verbiegbar ist.
  7. Projektionsobjektiv nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Projektionsobjektiv (10) einen polarisationsselektiven Strahlteilerwürfel (20) aufweist, und daß der Umlenkspiegel (30; 130; 230; 330; 430; 530) im Strahlengang hinter dem Strahlteilerwürfel (20) angeordnet ist.
  8. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Betätigungseinrichtung mindestens einen Aktuator (40; 140; 240; 340; 440; 540) aufweist, mit dem eine Biegekraft oder ein Biegemoment auf den Umlenkspiegel (30; 130; 230; 330; 430; 530) ausübbar ist.
  9. Projektionsobjektiv nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Betätigungseinrichtung mindestens zwei Aktuatoren (40; 140; 240; 340; 440; 540) aufweist, die symmetrisch zu der Biegeachse (42) angeordnet sind.
  10. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Umlenkspiegel (230; 330; 430; 530) einen Spiegelträger (232; 332; 432; 532) aufweist, dessen Dicke zur Erzeugung eines gewünschten Biegeverhaltens lokal variiert.
  11. Projektionsobjektiv nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Spiegelträger (232; 332; 432; 532) ein Dickenprofil hat, das zu der Biegeachse (42) symmetrisch ist.
  12. Adaptiver Spiegel für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage, mit einem Spiegelträger (32; 132; 232; 332; 432; 532), der auf seiner Oberseite eine reflektierende Schicht (34) trägt, dadurch gekennzeichnet, daß der Spiegelträger (32; 132; 232; 332; 432; 532) eine Rückseite mit einer nicht-rotationssymmetrischen Form hat, die zur Erzeugung einer Deformation um genau eine Biegeachse (42) eine Symmetrieebene aufweist, welche die Biegeachse (42) enthält.
  13. Verfahren zum Entwerfen eines adaptiven Spiegels für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage, mit folgenden Schritten: a) Bestimmung einer ersten Form des Spiegels (230; 330; 430; 530; 630), welche eine reflektierende Oberseite des Spiegel in einem undeformierten Zustand haben soll; b) Bestimmen einer zweiten Form des Spiegels (230; 330; 430; 530; 630), welche die reflektierende Oberseite des Spiegels in einem deformierten Zustand haben soll; c) Bestimmen der Anordnung und Art von Aktuatoren ((240; 340; 440; 540; 640), welche an einer Rückseite des Spiegels (230; 330; 430; 530; 630) angreifen, um diesen zu deformieren; gekennzeichnet durch folgenden weiteren Schritt: d) Bestimmen einer dreidimensionalen Form der Rückseite derart, daß bei einer Betätigung der in Schritt c) bestimmten Aktuatoren (240; 340; 440; 540; 640) die reflektierende Ober seite des Spiegels (230; 330; 430; 530; 630) der in Schritt b) bestimmten Form möglichst nahekommt.
  14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Schritte c) und d) in einem gemeinsamen Optimierungsprozeß durchgeführt werden.
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