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Die
Erfindung betrifft ein vor Überspannungen
geschütztes
Chipkartenmodul und ein Verfahren zum Schützen eines Chipkartenmoduls
vor Überspannungen.
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Elektrostatische
Spannungen entstehen immer dann, wenn in einem Körper die Anzahl der positiven
Ladungsträger
nicht mit der Anzahl der negativen Ladungsträger übereinstimmt. Ist die Spannungsdifferenz
groß genug,
so kann auch über
ein normalerweise elektrisch isolierendes Material ein elektrischer
Stromimpuls zwischen zwei Körpern
fließen.
Man spricht dann von einer elektrostatischen Entladung, die auf
englisch „electrostatic
discharge (ESD)" genannt
wird. Elektrostatische Spannungen und elektrostatische Entladungen
können
durch die damit verbundenen hohen elektrischen Feldstärken und
Stromimpulse zur Zerstörung
von elektrischen Bauelementen führen.
Insbesondere bei integrierten Schaltungen stellt die elektrostatische
Entladung eine der häufigsten
Ausfallursachen dar, da die darin verwendeten Isolatoren, wie zum
Beispiel Siliziumdioxid aufgrund ihrer geringen Abmessungen leicht
beschädigt
werden können.
In Chipkartenmodulen müssen
nach ISO-Normen
Security Controller gegen elektrostatische Entladung geschützt werden.
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Zum
Schutz vor elektrostatischen Überspannungen
und Entladungen können
elektrische Bauelemente in den Chipkartenmodulen überdimensioniert werden,
so dass sie eine erhöhte
Spannungs- und Durchschlagsfestigkeit
aufweisen. Allerdings führt diese
Vorgehensweise zu größeren und
teueren Bauelementen. Alterna tiv dazu können Schutzbauelemente wie
Transildioden, welche im Wesentlichen Zenerdioden mit sehr kurzen
Ansprechzeiten sind oder TRISIL-Elemente, welche vom Prinzip her
spannungsgesteuerte Triacs ohne Gate-Anschluss sind, eingesetzt
werden, um die Überspannung
und den Stromimpuls ableiten. Nachteilig bei dem Einsatz von derartigen
Bauelementen ist, dass diese beim Überschreiten eines maximal
tolerierbaren Wertes funktionsunfähig werden. Tritt eine erneute
elektrostatische Entladung auf, so ist die Schaltung nicht mehr geschützt und
es kann zu einer Zerstörung
des Chipkartenmoduls kommen.
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Aufgabe
der Erfindung ist es daher, ein Chipkartenmodul anzugeben, welches
vor Überspannung geschützt ist.
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Die
der Erfindung stellt daher ein Chipkartenmodul bereit, welches einen
Halbleiterchip, einen Träger
und Kontakte umfasst, wobei der Halbleiterchip auf dem Träger befestigt
ist und die Kontakte zum Betreiben des Halbleiterchips dienen, und
wobei zwischen den Kontakten des Chipkartenmoduls mindestens eine
Funkenstreckenanordnung vorgesehen ist, die den Halbleiterchip vor Überspannungen schützt.
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Die
Funkenstreckenanordnung ist mit den Kontakten zwischen denen eine Überspannung
vermieden werden soll, verbunden und ermöglicht eine kontrollierte elektrostatische
Entladung. Die Funkenstreckenanordnung ist dabei so gestaltet, dass
die Funkenentladung in der Funkenstreckenanordnung leichter, das
heißt
bei geringeren Spannungen stattfindet als an anderen Stellen des
Chipkartenmoduls. Bei der Entladung fließt der Stromimpuls daher durch die
Funkenstreckenanordnung und nicht durch empfindliche elektrische
Bauelemente. Vorteilhaft beim Einsatz einer Funkenstreckenanordnung
für Chipkartenmodule ist,
dass die Funkenstreckenanordnung wenn keine Entladung stattfindet
quasi rückwirkungsfrei
ist. Weiter ist eine Funkenstreckenanordnung einfach im Aufbau und
mehrfach verwendbar. Insbesondere für batteriebetriebene Anwendungen
ist von Vorteil, dass eine Funkenstreckenanordnung keinen zusätzlichen
Stromverbrauch verursacht und dass keine Überdimensionierung von Bauelementen
notwendig ist.
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In
einer Weiterbildung sind die Kontakte zum Betreiben des Halbleiterchips
Chipanschlussflächen des
Halbleiterchips, wobei die Chipanschlussflächen so ausgebildet sind, dass
sie untereinander mindestens eine Funkenstreckenanordnung bilden.
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Jeder
Halbleiterchip weist zum Anschluss mittels Bonddrähte oder
Löthügel (englisch „solder bumps") Chipanschlussflächen auf.
Die Chipanschlussflächen
sind dabei auf der so genannten aktiven Seite des Chipsubstrats
ausgebildet. Erfindungsgemäß werden
die Chipanschlussflächen
so geformt, dass zwischen den vor Überspannung und elektrostatischer
Entladung zu schützenden
einzelnen Chipanschlussflächen
mindestens eine Funkenstreckenanordnung gebildet wird. Eine Überspannung wird
durch diese Funkenstreckenanordnungen entladen, so dass der Halbleiterchip
vor Überspannungen geschützt ist.
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In
einer Weiterbildung weisen die Chipanschlussflächen im Bereich der Funkenstreckenanordnungen
eine Funkenstreckenabdeckung auf.
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Die
Funkenstreckenabdeckung sorgen dafür, dass die Funkenstreckenanordnung
bei drahtgebondeten Chipkartenmodulen nicht mit Vergussmasse und
bei Flipchip-Chipkartenmodulen nicht mit Chipkleber aufgefüllt werden.
In beiden Fällen
wäre eine
Funkenentladung nicht mehr möglich.
Durch die Funkenstreckenab deckung wird sichergestellt, dass ein
geeignetes Entlademedium in der Funkenstreckenanordnung vorhanden
ist. Die Funkenstreckenabdeckung kann auch als eine Kapselung der Funkenstreckenanordnung
ausgeführt
werden.
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In
einer Weiterbildung sind die Kontakte zum Betreiben des Halbleiterchips
Kontaktflächen,
die zum Verbinden des Chipkartenmoduls mit einem Lese/Schreibegerät dienen,
wobei zwischen den Kontaktflächen
mindestens eine Funkenstreckenanordnung ausgebildet ist.
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Bei
kontaktbehafteten Chipkarten dienen die Kontaktflächen des
Chipkartenmoduls dazu, einen Kontakt mit einem Terminal oder Chipkartenlese-
beziehungsweise Schreibegerät
herzustellen. Die Kontaktflächen
bilden dabei die Schnittstelle des Chipkartenmoduls zur Außenwelt.
Erfindungsgemäß sind zwischen
den Kontaktflächen
Funkenstreckenanordnungen realisiert, so dass eine Überspannung,
die durch das Terminal oder einen Menschen auf einen der Kontakte übertragen
wird, sich an der entsprechenden Funkenstreckenanordnung entlädt, so dass das
Chipkartenmodul vor Überspannung
geschützt ist.
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In
einer Weiterbildung sind die Funkenstreckenanordnungen als Teile
der Kontaktflächen
ausgebildet.
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Die
Funkenstreckenanordnungen können somit
aus dem gleichen Material wie die Kontaktflächen hergestellt werden. Sie
können
dann auch im gleichen Herstellungsschritt realisiert werden.
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In
einer Weiterbildung weist die Funkenstreckenanordnung Funkenstreckenelemente
auf, die zwischen den Kontaktflächen
an geordnet sind und elektrisch mit den Kontaktflächen verbunden sind.
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Die
Funkenentladung erfolgt über
separate Funkenstreckenelemente. Die Funkenstreckenelemente können dadurch
aus einem für
Funkenentladungen besonders geeigneten, zum Beispiel durch geringen
Abbrand gekennzeichnetes Material gefertigt werden. Die Funkenstreckenelemente
sind dann von den Kontaktflächen
getrennt ausgeführt,
aber mit diesen elektrisch verbunden.
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In
einer Weiterbildung sind die Funkenstreckenelemente dünner als
die Kontaktflächen
und die Funkenstreckenanordnungen sind im Bereich der Funkenstreckenelemente
abgedeckt.
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Da
die Funkenstreckenelemente dünner
als die Kontaktflächen
sind, kann die Funkenstreckenanordnung durch eine Abdeckung, die
auf den Funkenstreckenelementen aufgebracht ist vor Verschmutzung
und Abnutzung bzw. Abrieb geschützt
werden. Die Dicke der Abdeckung ist so gewählt, dass diese ebenbündig mit
der Kontaktflächenoberfläche ist.
Die Funkenstreckenelemente können
zum Beispiel aufgedampft werden.
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In
einer Weiterbildung weist der Träger
eine erste Seite und eine gegenüberliegende
zweite Seite auf, wobei die Kontaktflächen auf der ersten Seite des
Trägers
aufgebracht sind und der Halbleiterchip auf der zweiten Seite des
Trägers
angeordnet ist.
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Der
Träger
des Chipkartenmoduls dient dabei zur Befestigung der Kontaktflächen und
des Chips.
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In
einer Weiterbildung sind auf der zweiten Seite des Trägers Leiterstrukturen
aufgebracht. Die Leiterstrukturen sind über Durchkontaktierung mit den
Kontaktflächen
elektrisch verbunden. Weiter sind die Leiterstrukturen mit den Chipanschlussflächen des
Chips verbunden.
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Die
Chipanschlussflächen
des Chips werden über
die Leiterstrukturen angeschlossen und über die Durchkontaktierungen,
welche im Träger
angeordnet sind und von der ersten Trägerseite zur zweiten Trägerseite
reichen, mit den Kontaktflächen
elektrisch verbunden. Der Halbleiterchip liegt dabei so, dass seine
Chipanschlussflächen
der zweiten Seite des Trägers
gegenüberliegen.
Die elektrische Verbindung zwischen den Chipanschlussflächen und
den Leiterstrukturen wird durch Löthügel hergestellt. Diese Flipchiptechnologie
ermöglicht
höhere
Packungsdichten, da keine Kapselung des Chips und der Bonddrähte durch
eine Vergussmasse notwendig ist.
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In
einer Weiterbildung sind die Kontakte zum Betreiben des Halbleiterchips
die Leiterstrukturen, wobei die Leiterstrukturen derart ausgebildet
sind, dass sie untereinander mindestens eine Funkenstreckenanordnung
bilden.
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Außer zwischen
den Kontaktflächen
und den Chipanschlussflächen
können
die Funkenstreckenanordnungen auch in den Leiterstrukturen realisiert werden,
um das Chipmodul vor Überspannungen schützen. Die
Leiterstrukturen sind dabei flächig
auf dem Träger
aufgebracht und können
entsprechend gestaltet werden, so dass eine Funkenentladung bevorzugt
zwischen den Leiterstrukturen erfolgt.
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In
einer Weiterbildung ist die Funkenstreckenanordnung in einer Funkenstreckenkavität ausgeführt.
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Ist
die Funkenstreckenanordnung zwischen Leiterstrukturen realisiert,
so muss dafür
gesorgt werden, dass sie frei von Materialen, wie zum Beispiel Chipkleber
ist, die eine Funkenentladung verhindern würden. Dies wird durch eine
mit einem geeigneten Entlademedium gefüllte Funkenstreckenkavität sichergestellt,
die durch eine Abdeckung oder Kapselung der Leiterstrukturen im
Bereich der Funkenstreckenanordnungen realisiert werden kann.
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In
einer Weiterbildung ist der Halbleiterchip mit einem Chipkleber
auf der zweiten Trägerseite
befestigt ist und die Funkenstreckenanordnung in einem von Chipkleber
freien Bereich ausgeführt.
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Alternativ
zu einer Funkenstreckenkavität kann
der Chipkleber so verteilt werden, dass im Leiterstrukturenbereich
der Funkenstreckenanordnung kein Chipkleber ist, der die Entladung
beeinflussen würde.
Die Funkenstreckenanordnung und der von Chipkleber freie Bereich
können
dabei zwischen dem Halbleiterchip und der zweiten Trägerseite
liegen oder auch außerhalb
des Halbleitersubstrats und des Klebebereichs.
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In
einer Weiterbildung sind die Kontakte zum Betreiben des Halbleiterchips
die Durchkontaktierungen, wobei die Durchkontaktierungen so ausgebildet sind,
dass sie untereinander mindestens eine Funkenstreckenanordnung bilden.
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Auch
die Durchkontaktierungen, welche die Kontaktflächen mit den Leiterstrukturen
verbinden, können
benutzt werden um Funkenstreckenanordnungen zu realisieren.
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In
einer Weiterbildung sind im Träger
Funkenstreckenelemente vorhanden, die jeweils mit einer Kontaktfläche oder
einer Leiterstruktur elektrisch verbunden sind und zwischen einer
jeweiligen Kontaktfläche
und einer jeweiligen Leiterstruktur eine Funkenstreckenanordnung
bilden.
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Die
Funkenstreckenelemente stellen einen Parallelpfad für elektrostatische
Entladungen zwischen einer Kontaktfläche und einer Leiterstrukturen dar,
wobei die jeweilige Kontaktfläche
und Leiterstruktur nicht über
eine Durchkontaktierung elektrisch miteinander verbunden sind.
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In
einer Weiterbildung ist die Funkenstreckenanordnung in einer Funkenstreckenkavität in dem
Träger
ausgebildet.
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In
einer Weiterbildung ist die Funkenstreckenkavität mit einem ionisierbaren Entlademedium gefüllt.
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In
einer Weiterbildung sind die Kontakte zum Betreiben des Halbleiterchips
Koppelelementanschlüsse,
die so ausgebildet sind, dass sie untereinander mindestens eine
Funkenstreckenanordnung bilden.
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Bei
kontaktlosen Chipkarten sind die Chipkartenmodule mit Koppelelementen
verbunden, über die
das Chipkartenmodul mit Energie versorgt wird und die zum Datenaustausch
mit einem Lese/Schreibegerät
eingesetzt werden. Als Beispiel seien Antennen und Kapazitive Koppelelemente
genannt.
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In
einer Weiterbildung sind die Koppelelementanschlüsse Antennenanschlüssen.
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Die
Funkenstreckenanordnung wird zwischen den Antennenanschlüssen ausgebildet.
Anstelle zwischen den Antennenanschlüssen können die Funkenstreckenanordnungen
auch zwischen Antennenteilen ausgebildet sein.
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Weiter
sieht die Erfindung die Verwendung eines durch Funkenstreckenanordnungen
vor Überspannungen
geschütztes
Chipkartenmoduls in Chipkarten vor.
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Noch
weiter ist ein Verfahren zum Schützen eines
Chipkartenmoduls vor Überspannungen
angegeben, wobei das Chipkartenmodul einen Halbleiterchip, einen
Träger
und Kontakte umfasst, der Halbleiterchip auf dem Träger befestigt
ist und die Kontakte zum Betreiben des Halbleiterchips dienen, wobei zwischen
den Kontakten des Chipkartenmoduls mindestens eine Funkenstreckenanordnung
vorgesehen ist, die den Halbleiterchip vor Überspannungen schützt.
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Die
Erfindung wird nachfolgend an Ausführungsbeispielen anhand der
Zeichnungen näher
erläutert.
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In
den Figuren zeigen:
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1 einen
Querschnittsausschnitt durch ein Ausführungsbeispiel eines drahtgebondeten,
erfindungsgemäßen Chipkartenmoduls,
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2 ein
Ausführungsbeispiel
der erfindungsgemäßen Kontaktflächen,
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3 ein
weiteres Ausführungsbeispiel
der erfindungsgemäßen Kontaktflächen,
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4 ein
Ausführungsbeispiel
der erfindungsgemäßen Chipanschlussflächen,
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5 einen
Querschnittsausschnitt durch ein Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Flipchip-Chipkartenmoduls,
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6 ein
Ausführungsbeispiel
der erfindungsgemäßen Durchkontaktierungen,
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7 ein
weiteres Ausführungsbeispiel
der erfindungsgemäßen Durchkontaktierungen,
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8 ein
Ausführungsbeispiel
der erfindungsgemäßen Funkenstreckenelementen,
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9 ein
weiteres Ausführungsbeispiel
der erfindungsgemäßen Funkenstreckenelementen,
und
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10 ein
Ausführungsbeispiel
der erfindungsgemäßen Leiterstrukturen.
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1 zeigt
einen Querschnittsausschnitt durch ein Ausführungsbeispiel einer kontaktbehafteten
Chipkarte mit einem drahtgebondeten Chipkartenmodul 4.
In einem Chipkartenkörper 1 ist
eine Kavität 2 eingebracht,
in welcher ein Chipkartenmodul 4 mit einem Kleber 3 befestigt
ist. Das Chipkartenmodul 4 umfasst einen Träger 10 mit
einer ersten Trägerseite 11 und
einer gegenüberliegenden
zweiten Trägerseite 12.
Auf der ersten Trägerseite 11 sind Kontaktflächen 13 aufgebracht.
Auf der zweiten Trägerseite 12 ist
ein Halbleiterchip 14 mittels Chipkleber 15 befestigt.
Die Chipanschlussflächen 16 des Chips 14 werden über Bonddrähte 20 mit
den Kontaktflächen 13 verbunden.
Zum Schutz vor Beschädigung
sind die Bonddrähte 20 und
der Halbleiterchip 14 mit einer Vergussmasse 21 umgossen.
Erfindungsgemäß weist
das Chipkartenmodul 4 Kontakte auf, die als Kontaktflächen 13 und/oder
als Chipanschlussflächen 16 ausgebildet
und zwischen denen Funkenstreckenanordnungen 40 ausgebildet
sind.
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2 zeigt
ein Ausführungsbeispiel
der erfindungsgemäßen Kontaktflächen 13,
wie sie in einer Draufsicht auf 1 erscheinen.
Gezeigt ist eine Ausführung
mit sechs Kontakten, die gemäß des Standards
ISO-7816 dimensioniert sind. Die Kontakte C1 bis C3 führen die
Signale VCC, RST und CLK und die Kontakte C5 bis C7 die Signale
GND, VPP und I/O. Erfindungsgemäß sind zum
Schutz vor Überspannungen
zwischen den Kontaktflächen 13 Funkenstreckenanordnungen 40 vorgesehen.
Der Massekontakt C5 ist dabei großflächig ausgeführt und alle anderen Kontakte
weisen eine Funkenstreckenanordnung 40 zu diesem Kontakt
auf. Funkenstreckenanordnungen können
jedoch auch zwischen zwei benachbarten Kontaktflächen, so wie zum Beispiel zwischen
den Kontakten C6 und C7, ausgebildet sein und müssen nicht unbedingt zwischen
allen Kontakten vorhanden sein.
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Die
Funkenstreckenanordnungen 40 bestehen aus zwei einander
gegenüberliegend
angeordneten Funkenstreckenelementen 41, welche spitz ausgeführt sind.
An den Spitzen findet eine Konzentration der elektrischen Feldenergie
statt, so dass eine elektrische Entladung bevorzugt zwischen der
Spitze eines Funkenstreckenelements 41 und der gegenüberliegenden
Spitze eines anderen Funkenstreckenelements 41 erfolgt.
Die Spannung, bei der ein Funke zwischen den Spitzen überspringt
und eine elektrostatische Entladung über die Funkenstreckenanordnung 40 stattfindet
kann über
den Abstand der Funkenstrecken elemente 41 zueinander und
die Form der Funkenstreckenelemente 41, sowie das Entlademedium
eingestellt werden. Die Entladespannungen zwischen unterschiedlichen
Kontakten kann unterschiedlich gewählt werden, je nach Empfindlichkeit der
daran angeschlossenen Bauelemente. Die Abstände zwischen den Funkenstreckenelementen 41 lassen
sich mit hoher Präzision
auch bei sehr kleinen Abständen
mit einem Laser erzeugen. Der vorgegebene Abstand und die Form der
Funkenstreckenelemente 41 wird so gewählt, dass ein galvanischer Kontakt
zuverlässig
ausgeschlossen wird und bei Überschreiten
eines vorgegebenen Spannungswerts eine Funkenentladung erfolgt.
Auf diese Weise kann eine Spannung zwischen zwei Kontaktflächen 13, zwischen
denen eine Funkenstreckenanordnung 40 existiert, einen
vorgegebenen Spannungswert nicht überschreiten und das Chipkartenmodul 4 ist
vor Überspannung
geschützt.
Die Funkenstreckenelemente 41 können dabei dreieckförmig, fingerförmig, kreisförmig oder
kammartig ausgebildet sein. Besonders geeignet für die Funkenstreckenelemente 41 sind
Metalle, die einen niedrigen elektrischen Widerstand und eine hohe
Wärmeleitfähigkeit
aufweisen, wie zum Beispiel Kupfer und Silber. Das Material aus dem
die Kontaktflächen 13 bestehen,
ist bei Chipkarten bereits so gewählt, dass es gute Korrosionsfähigkeit
und Abnutzungsfestigkeit aufweist, so dass es auch für die Funkenstreckenelemente 41 geeignet
ist und diese zusammen mit den Kontaktflächen 13 gefertigt
werden können.
Alternativ dazu können
die Funkenstreckenelemente 41 aufgedampft, aufgedruckt
oder mit Fotolithografie hergestellt werden und elektrisch mit den
Kontaktflächen 13 verbunden
werden.
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3 zeigt
ein weiteres Ausführungsbeispiel der
erfindungsgemäßen Kontaktflächen 13,
diesmal in einer Ausführung
gemäß ISO 7816
mit acht Kontakten C1 bis C8. Es ist wieder zumindest eine Funkenstreckenanordnung 40 zwischen
dem Masse kontakt C5 und den weiteren Kontakten C1 bis C4 und C6
bis C8 vorgesehen. Selbstverständlich
kann die Anzahl der Funkenstreckenanordnungen 40 variiert werden,
so dass zum Beispiel nicht alle Kontaktflächen 13 eine Funkenstreckenanordnung 40 zum Massekontakt
C5 aufweisen oder die Kontaktflächen 13 untereinander
weitere Funkenstreckenanordnungen 40 aufweisen. Für die Funkenstreckenelemente 41 und
die Funkenstreckenanordnung 40 gilt wieder das zu 2 ausgeführte.
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Um
zu vermeiden, dass sich die Funkenstreckenanordnungen 40 durch
Verschmutzung oder durch Ablagerung von leitenden Teilchen der Kontaktstifte
von Lesegeräten
zusetzen und es durch die Funkenstreckenanordnungen 40 zu
Kurzschlüssen zwischen
den Kontaktflächen 13 kommt
oder die Funkenentladung bei einer vorgegebenen Spannung kann nicht
mehr garantiert werden kann, können
die Funkenstreckenanordnungen 40 abgedeckt werden. Insbesondere
Funkenstreckenelemente 41, die dünner als die Kontaktflächen 13 sind,
können
durch eine nicht leitende Abdeckung oder Kapselung 43 zwischen
den Kontaktflächen 13 geschützt werden.
Die Abdeckung 43 ist so ausgeführt, dass sie ebenbündig mit
den Kontaktflächen 13 abschließt, sie
kann auch so ausgeführt
sein, dass die Funkenstreckenanordnung 40 hermetisch dicht
gekapselt ist.
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4 zeigt
ein Ausführungsbeispiel
der erfindungsgemäßen Chipanschlussflächen 16 mit
Funkenstreckenanordnungen 40. Die Chipanschlussflächen 16 befinden
sich auf der aktiven Seite des Halbleiterchips 14 und dienen
zum Anschluss der elektrischen Kontakte des Halbleiterchips 14.
In 1 werden die Bonddrähte 20 auf die Chipanschlussflächen 16 gebondet
und in 5 werden Löthügel auf
den Chipanschlussflächen 16 platziert.
Die Chipanschlussflächen 16 sind
wieder für
eine Chipmodulvariante mit sechs Kontakten gezeigt, wie in 2, wobei
auch Varianten mit einer anderen Anzahl von Kontakten möglich sind.
Zwischen den einzelnen Chipanschlussflächen 16 sind Funkenstreckenanordnungen 40 angeordnet.
Es gelten wieder die Ausführungen,
die zu den Funkenstreckenanordnungen 40 in 2 und 3 gemacht
wurden, mit dem Unterschied dass es sich nicht um die Kontaktflächen 13 sondern
um die Chipanschlussflächen 16 handelt.
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Von
Vorteil bei der Anordnung von Funkenstreckenanordnungen 40 zwischen
den Chipanschlussflächen 16 ist,
dass die Chipanschlussflächen 16 im
Inneren des Chipkartenmoduls 4 liegen und somit vor Verschmutzungen
und Ablagerung geschützt sind.
Um eine Funkenentladung zu ermöglichen
ist es jedoch notwendig, dass die Funkenstreckenanordnungen 40 nicht
mit der Vergussmasse 21 aufgefüllt werden, sondern dass ein
geeignetes Entlademedium, wie zum Beispiel Luft oder ein anderes
ionisierbares Gas zwischen den Funkenstreckenanordnungen 40 vorhanden
ist. Dies könnte
zum Beispiel durch eine Abdeckung oder Kapselung 43 der
Chipanschlussflächen 16 in
dem Bereich der Funkenstreckenanordnungen 40 vor dem Vergießen mit
der Vergussmasse 21 erreicht werden, so dass eine Funkenstreckenkavität 42 entsteht,
wie in 1 gezeigt ist. Ist die Funkenstreckenkavität 42 hermetisch
abgeschlossen, so ist das von Vorteil, da die Feuchtigkeit und somit
die Entladespannung konstant bleiben. Die zwischen den Chipanschlussflächen 16 angeordneten
Funkenstreckenanordnungen 40 lassen sich besonders vorteilhaft
in kontaktlosen Chipkarten einsetzen, da bei diesen keine Funkenstreckenanordnungen 40 zwischen
Kontaktflächen 13 realisierbar
sind. Alternativ können
bei kontaktlosen Chipkarten die zum Betreiben des Halbleiterchips
erforderlichen Koppelelementanschlüsse so ausgebildet werden,
dass sie untereinander mindestens eine Funkenstreckenanordnung 40 bilden.
Das Koppelelement kann zum Beispiel eine in einem Chipkartenkörper ausgebildete
Antenne sein. Weiter ist es möglich, die
Funkenstreckenanordnungen zwischen einzelnen Leiterbahnen der Antenne
im Chipkartenkörper auszubilden.
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5 zeigt
einen Querschnittsauschnitt durch ein Ausführungsbeispiel einer Chipkarte
mit einem Flipchip-Chipkartenmodul.
Dieses Chipkartenmodul 4 unterscheidet sich von dem in 1 gezeigten
Chipkartenmodul 4 dadurch, dass auf der zweiten Trägerseite 12 Leiterstrukturen 30 aufgebracht
sind, die über
im Träger 10 angeordneten
Durchkontaktierungen 31 mit den Kontaktflächen 13 verbunden
sind. Auf der zweiten Trägerseite 12 ist
weiter ein Halbleiterchip 14 mit Chipanschussflächen 16 in
Flipchiptechnik montiert. Der Halbleiterchip 14 ist derart
positioniert, dass die Chipanschlussflächen 16 der zweiten
Trägerseite 12 zugewandt
sind. Die Verbindung der Chipanschlussflächen 16 mit gegenüberliegenden
Leiterstrukturen 30 erfolgt mittels Löthügel 32. Der Halbleiterchip 14 ist
durch einen zwischen dem Halbleiterchip 14 und der zweiten
Trägerseite 12 aufgebrachten
Kleber 15 fixiert. Das Chipkartenmodul 4 ist wieder
in eine Kavität 2 eines
Kartenkörpers 1 eingebracht
und mit einem Kleber 3 fixiert. Im Unterschied zu dem in 1 gezeigten
Ausführungsbeispiel
sind keine Bonddrähte 20 und
Vergussmasse 21 notwendig, so dass diese Anordnung kompakter ist.
Bei dem in 5 gezeigten Ausführungsbeispiel is
es möglich,
Funkenstreckenanordnungen 40 zwischen den Kontakten des
Chipkartenmoduls, die als Kontaktflächen 13, Durchkontaktierungen 31,
Leiterstrukturen 30, und Chipanschlussflächen 16 ausgebildet
sind, anzuordnen.
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6 zeigt
einen Querschnittsausschnitt durch zwei Kontaktflächen 13,
dem Träger 10 und zwei
Leiterstrukturen 30, wobei jede Kontaktfläche 13 über eine
jeweilige Durchkontak tierung 31 mit einer Leiterstruktur 30 elektrisch
verbunden ist. Durch die Funkenstreckenanordnung 40, welche
zwischen den Durchkontaktierungen 31 angeordnet ist, werden Überspannungen
zwischen den beiden Kontaktflächen 13,
beziehungsweise den beiden Leiterstrukturen 30, entladen.
Die Durchkontaktierungen 31 sind dabei einander so zugeneigt,
dass Bereiche mit hohen elektrischen Feldstärken sich unmittelbar gegenüberliegen.
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7 zeigt
ein weiteres Ausführungsbeispiel der
Durchkontaktierungen 31 mit denen eine Funkenstreckenanordnung 40 realisiert
wird. Die Durchkontaktierungen 31 weisen dabei Funkenestreckenelemente 41 auf,
die als Vorsprünge
ausgebildet und elektrisch leitend mit den Durchkontaktierungen 31 verbunden
sind.
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8 zeigt
ein weiteres Ausführungsbeispiel,
bei dem die Funkenstreckenanordnung 40 wieder im Träger 10 angeordnet
ist. Im Unterschied zu den 6 und 7 sind
die Funkenstreckenelemente 41 nicht mehr mit zwei Durchkontaktierungen 31,
sondern mit jeweils einer Kontaktfläche 13 und einer Leiterstruktur 30 elektrisch
verbunden.
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9 zeigt
ein weiteres Ausführungsbeispiel,
das dem in 8 gezeigten ähnlich ist und bei dem die
Funkenstreckenanordnung 40 wieder in dem Träger 10 angeordnet
ist. Im Unterschied zu 8 findet die Funkenentladung
in der vertikalen Richtung statt.
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Die
Funkenstreckenanordnung 40 ist in 6 bis 9 im
Träger 10 angeordnet.
Um eine Funkenentladung entlang der Funkenstreckenanordnung 40 zu
ermöglichen
muss ein Entlademedium, zum Beispiel ein ionisierbares Gas wie Luft
vorhanden sein. Dazu sind in den 6 bis 9 Funkenstreckekavitäten 42 im
Träger 10 vorgesehen,
welche mit dem Entlademedium gefüllt
sind. Vorteilhaft bei der Platzierung von Funkenstreckenanordnungen 40 im
Träger 10 ist,
dass diese vor Umwelteinflüssen und
Verschmutzungen geschützt
sind.
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10 zeigt
ein Ausführungsbeispiel
bei dem die Funkenstreckenanordnung 40 zwischen den Leiterstrukturen 30 ausgebildet
ist. Die Leiterstrukturen 30 dienen dabei zum Verbinden
der Durchkontaktierungen 31 mit den Chipanschlussflächen 16 über die
Löthügel 32 und
sind so ausgeführt,
dass sie die Anordnung der Durchkontaktierungen 31 und
der Chipanschlussflächen 16 berücksichtigen.
Die Funkenstreckenanordnungen 40 sind wieder zwischen der
großflächig ausgeführten Massefläche und
den anderen Leiterstrukturen 30 ausgebildet. Funkenstreckenanordnungen 40 können auch
zwischen einzelnen Leiterstrukturen 30 angeordnet werden.
Um eine Funkenentladung zu ermöglichen,
ist es notwendig, dass die Leiterstrukturen 30 zumindest
in dem Bereich der Funkenstreckenanordnung 40 nicht mit
Chipkleber 15 zugedeckt sind. In 5 könnte dies
zum Beispiel in dem Bereich 44 zwischen dem Kleber 3 und
dem Chipkleber 15 sein, in welchem die Leiterstrukturen 30 frei
von Chipkleber 15 und Kleber 3 sind. Alternativ
könnte
der Chipkleber 15 ringförmig aufgebracht
werden, so dass unter dem Halbleiterchip 14 ein Bereich
entsteht, der frei von Chipkleber 15 ist und in welchem
die Funkenstreckenanordnungen 40 liegen. Auch möglich ist
es, die Funkenstreckenanordnungen 40 durch eine Abdeckung
oder Kapselung 43 vor dem Chipkleber 15 zu schützen.
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Die
Funkenstreckenanordnungen 40 zwischen den Kontaktflächen 13,
zwischen den Durchkontaktierungen 31, zwischen den Kontaktflächen 13 und
den Durchkontaktierungen 31, zwischen den Leiterstrukturen 30 und
zwischen den Chipanschlussflächen 16 können miteinander
kombiniert werden. Ein derartiges Chipkartenmodul 4 kann
dann in einen Kartenkörper 1 eingeklebt
werden und als Chipkarte benutzt werden. Die Erfindung ist nicht
nur für
kontaktbehaftete Chipkarten, sondern auch für kontaktlose Chipkarten geeignet,
wobei dann die Funkenstreckenanordnungen 40 bevorzugt zwischen
den Leiterstrukturen 30 oder den Chipanschlussflächen 16 ausgebildet
sind. Die kontaktlose Chipkarte ist dann vor Überspannungen geschützt, die
zum Beispiel durch eine zu große
elektromagnetische Feldstärke in
den entsprechenden Koppelelementen induziert wird.
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- 1
- Chipkartenkörper
- 2
- Kavität
- 3
- Kleber
- 4
- Chipkartenmodul
- 10
- Träger
- 11
- erste
Trägerseite
- 12
- zweite
Trägerseite
- 13
- Kontaktflächen
- 14
- Halbleiterchip
- 15
- Chipkleber
- 16
- Chipanschlussflächen
- 20
- Bonddrähte
- 21
- Vergussmasse
- 30
- Leiterstrukturen
- 31
- Durchkontaktierungen
- 32
- Löthügel
- 40
- Funkenstreckenanordnung
- 41
- Funkenstreckenelement
- 42
- Funkenstreckenkavität
- 43
- Abdeckung,
Kapselung
- 44
- Chipkleberfreier
Bereich