DE102006004075A1 - Device for reducing intensity hissing of pulsating laser light has input and output each with beam splitter and deflectors forming different optical stretches measured so that laser pulses coincide at output of device - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 86
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 10
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 7
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 241000253999 Phasmatodea Species 0.000 claims 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 claims 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
- G02B21/0048—Scanning details, e.g. scanning stages scanning mirrors, e.g. rotating or galvanomirrors, MEMS mirrors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/005—Optical devices external to the laser cavity, specially adapted for lasers, e.g. for homogenisation of the beam or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- Optics & Photonics (AREA)
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Abstract
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Verringerung des Intensitätsrauschens von gepulstem Laserlicht, das aus einer Abfolge von Laserpulsen besteht.The The invention relates to a device for reducing the intensity noise of pulsed laser light, which consists of a sequence of laser pulses consists.
Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Verringerung des Intensitätsrauschens von Laserpulsen.Further The invention relates to a method for reducing the intensity noise of laser pulses.
Des weiteren betrifft die Erfindung ein Mikroskop mit einer Vorrichtung zur Verringerung des Intensitätsrauschens. Dabei umfasst das Mikroskop einen Laser, der eine Abfolge an Laserpulsen erzeugt. Ebenso umfasst das Mikroskop mindestens ein Objektiv, welches das vom Laser erzeugte Licht auf eine zu untersuchende Probe abbildet. Dem Laser ist ein optisches Bauelement nachgeschaltet, das das vom Laser erzeugte Licht bei einmaligem Durchlauf spektral verbreitert.Of Furthermore, the invention relates to a microscope with a device to reduce the intensity noise. In this case, the microscope comprises a laser, which is a sequence of laser pulses generated. Likewise, the microscope comprises at least one lens, which images the light generated by the laser on a sample to be examined. The laser is followed by an optical component, that of the laser generated light spectrally broadened on a single pass.
Die
deutsche Patentanmeldung
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine einfache Vorrichtung zu schaffen, mit der die starken Intensitätsschwankungen der einzelnen Laserimpulse der einzelnen Wellenlängen weggemittelt werden können.Of the Invention is based on the object, a simple device to create, with which the strong intensity fluctuations of the individual Laser pulses of each wavelength can be weggemittelt.
Die Aufgabe wird durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst.The The object is achieved by a device having the features of the claim 1 solved.
Des weiteren liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu schaffen, mit dem starke Schwankungen der einzelnen Laserpulse bei den einzelnen Wellenlängen weggemittelt werden können.Of Another object of the invention is a method to create, with the strong fluctuations of the individual laser pulses at the individual wavelengths can be averaged out.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gelöst, das die Merkmale des Anspruchs 11 umfasst.These Task is solved by a method which has the features of the claim 11 includes.
Ferner liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Mikroskop zu schaffen, das eine spektral verbreiterte Laserbeleuchtung für eine Probe zur Verfügung stellt, und dabei sicherstellt, dass die einzelnen Laserimpulse bei den einzelnen Wellenlängen im Wesentlichen zeitlich konstante Intensitäten aufweisen. Diese Aufgabe wir durch ein Mikroskop gelöst, das die Merkmale des Anspruchs 17 umfasst.Further the object of the invention is to provide a microscope, this is a spectrally broadened laser illumination for a sample to disposal provides, while ensuring that the individual laser pulses at the individual wavelengths have substantially constant time intensities. This task we solved that through a microscope comprises the features of claim 17.
Die Vorrichtung zur Verringerung des Intensitätsrauschens von gepulstem Laserlicht, das aus einer Abfolge von Laserpulsen besteht, besitzt einen Ein gang und einen Ausgang. Am Eingang der Vorrichtung ist ein erster Strahlteiler, und am Ausgang der Vorrichtung ist ein zweiter Strahlteiler vorgesehen. In optischer Wirkstellung zum ersten und zweiten Strahlteiler sind mehrere Umlenkmittel derart angeordnet, dass mindestens eine erste optische Laufstrecke, mindestens eine zweite optische Laufstrecke und mindestens eine dritte optische Laufstrecke ausgebildet ist. Die mindestens drei Laufstrecken sind derart bemessen, dass am Ausgang der Vorrichtung die Laserpulse in den verschiedenen optischen Laufstrecken zeitlich und räumlich zusammenfallen.The Device for reducing the intensity noise of pulsed laser light, which consists of a sequence of laser pulses, has a transition A and an exit. At the entrance of the device is a first beam splitter, and at the output of the device a second beam splitter is provided. In optical operative position to the first and second beam splitter are a plurality of deflection means arranged such that at least a first optical path, at least a second optical path and at least a third optical path is formed. The at least three running distances are dimensioned such that at the exit the device, the laser pulses in the various optical paths temporally and spatially coincide.
Die Laufstrecken entsprechen einem ganzzahligen Vielfachen der räumlichen Abstände der Pulse. Es ist besonders vorteilhaft, wenn die Vorrichtung drei optische Laufstrecken umfasst, die die oben erwähnten Bedingungen erfüllen, weil dann mit besonders geringen Verlusten gearbeitet werden kann.The Running distances correspond to an integer multiple of the spatial distances the pulse. It is particularly advantageous if the device is three includes optical tracks that meet the above conditions, because then you can work with very low losses.
Die erste optische Laufstrecke ist durch den ersten Strahlteiler und den zweiten Strahlteiler festgelegt. Die zweite optische Laufstrecke ist durch den ersten Strahlteiler, einem ersten Umlenkmittel, einem zweiten Umlenkmittel und dem zweiten Strahlteiler festgelegt. Die dritte optische Laufstrecke verläuft durch den ersten und zweiten Strahlteiler, ein drittes Umlenkmittel, ein viertes Umlenkmittel, und wieder den ersten und zweiten Strahlteiler.The first optical path is through the first beam splitter and set the second beam splitter. The second optical course is through the first beam splitter, a first deflection, a second Deflection means and the second beam splitter set. The third optical route runs through the first and second beam splitters, a third deflection means fourth deflection means, and again the first and second beam splitters.
Ebenso ist es denkbar, dass mehrere Vorrichtungen zur Verringerung des Intensitätsrauschens von Laserpulsen hintereinander geschaltet oder kaskadiert sind.As well It is conceivable that several devices for reducing the intensity noise of laser pulses are connected in series or cascaded.
Ferner ist das Verfahren zur Verringerung des Intensitätsrauschens von Laserpulsen vorteilhaft, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst:
- • dass gepulstes Laserlicht, das aus einer Abfolge von Laserpulsen besteht, in eine erste optische Laufstrecke, eine zweite optische Laufstrecke und eine dritte optische Laufstrecke aufgeteilt wird, und
- • dass das Laserlicht nach Durchlaufen der ersten optischen Laufstrecke, der zweiten optischen Laufstrecke und der dritten optischen Laufstrecke überlagert wird, wobei die Laserpulse aus den verschie denen optischen Laufstrecken zeitlich und räumlich zusammenfallen.
- • that pulsed laser light, which consists of a sequence of laser pulses, is divided into a first optical path, a second optical path and a third optical path, and
- • that the laser light after passing through the first optical path, the second optical Running path and the third optical path is superimposed, wherein the laser pulses from the various optical paths run coincide in time and space.
Weiter ist ein Mikroskop von Vorteil, das eine Vorrichtung zur Verringerung des Intensitätsrauschens einer Abfolge von Laserimpulsen umfasst, die von einem Laser erzeugt worden sind. Das Mikroskop umfasst mindestens ein Objektiv, das das von dem Laser erzeugte Licht auf eine zu untersuchende Probe abbildet. Dem Laser ist ein optisches Bauelement nachgeschaltet, das das vom Laser erzeugte Licht bei spektral verbreitert. Dem optischen Bauelement ist eine Vorrichtung nachgeschaltet, wobei die Vorrichtung einen Eingang und einen Ausgang aufweist. Am Eingang ist ein erster Strahlteiler und am Ausgang ist ein zweiter Strahlteiler vorgesehen. In optischer Wirkstellung zum ersten und zweiten Strahlteiler sind mehrere Umlenkmittel derart angeordnet, dass mindestens eine erste optische Laufstrecke, eine zweite optisch Laufstrecke und mindestens eine dritte optische Laufstrecke ausgebildet ist, die derart bemessen sind, dass am Ausgang der Vorrichtung die Laserpulse in den verschiedenen optischen Laufstrecken zeitlich und räumlich zusammenfallen.Further is a microscope of advantage, which is a device for reducing the intensity noise a sequence of laser pulses generated by a laser have been. The microscope comprises at least one objective, the the light generated by the laser on a sample to be examined maps. The laser is followed by an optical component, which widens the light generated by the laser spectrally. The optical Component is connected downstream of a device, wherein the device has an input and an output. At the entrance is a first Beam splitter and at the output a second beam splitter is provided. In optical operative position to the first and second beam splitter are a plurality of deflection means arranged such that at least a first optical running track, a second optically running track and at least a third optical path is formed, which is sized are that at the output of the device, the laser pulses in the various optical running distances coincide temporally and spatially.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung können den Unteransprüchen entnommen werden.Further advantageous embodiments of the invention can be taken from the subclaims.
In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand schematisch dargestellt und wird anhand der Figuren nachfolgend beschrieben. Dabei zeigen:In the drawing of the subject invention is shown schematically and will be described below with reference to the figures. Showing:
Der
erste Stahlteiler
Claims (26)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE200610004075 DE102006004075B4 (en) | 2006-01-28 | 2006-01-28 | An apparatus and method for reducing intensity noise and a microscope having an intensity noise reduction device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE200610004075 DE102006004075B4 (en) | 2006-01-28 | 2006-01-28 | An apparatus and method for reducing intensity noise and a microscope having an intensity noise reduction device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE102006004075A1 true DE102006004075A1 (en) | 2007-08-09 |
| DE102006004075B4 DE102006004075B4 (en) | 2008-01-03 |
Family
ID=38281975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE200610004075 Expired - Fee Related DE102006004075B4 (en) | 2006-01-28 | 2006-01-28 | An apparatus and method for reducing intensity noise and a microscope having an intensity noise reduction device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE102006004075B4 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013090154A1 (en) * | 2011-12-12 | 2013-06-20 | Corning Incorporated | Variable pulse stretching length by variable beamsplitter reflectivity |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102014008355B4 (en) * | 2014-06-04 | 2018-05-03 | Innovavent Gmbh | Optical system for homogenizing the intensity of laser radiation |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4341553C1 (en) * | 1993-12-07 | 1995-04-27 | Fraunhofer Ges Forschung | Device for homogenising the light distribution of a laser beam |
| DE19931751A1 (en) * | 1999-07-08 | 2001-01-11 | Zeiss Carl Fa | Device for reducing the peak power of a pulse laser light source |
| DE10115509A1 (en) * | 2000-06-17 | 2001-12-20 | Leica Microsystems | Arrangement for examining microscopic specimens with a scanning microscope and illumination device for a scanning microscope |
-
2006
- 2006-01-28 DE DE200610004075 patent/DE102006004075B4/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4341553C1 (en) * | 1993-12-07 | 1995-04-27 | Fraunhofer Ges Forschung | Device for homogenising the light distribution of a laser beam |
| DE19931751A1 (en) * | 1999-07-08 | 2001-01-11 | Zeiss Carl Fa | Device for reducing the peak power of a pulse laser light source |
| DE10115509A1 (en) * | 2000-06-17 | 2001-12-20 | Leica Microsystems | Arrangement for examining microscopic specimens with a scanning microscope and illumination device for a scanning microscope |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013090154A1 (en) * | 2011-12-12 | 2013-06-20 | Corning Incorporated | Variable pulse stretching length by variable beamsplitter reflectivity |
| US8724203B2 (en) | 2011-12-12 | 2014-05-13 | Corning Incorporated | Variable pulse stretching length by variable beamsplitter reflectivity |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE102006004075B4 (en) | 2008-01-03 |
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Legal Events
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| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
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