DE102005050127B3 - Verfahren zum Aufbringen einer Struktur aus Fügematerial auf die Rückseiten von Halbleiterchips - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Aufbringen einer Struktur (1) aus Fügematerial (2) auf die Rückseiten (3) von Halbleiterchips (4) in der Halbleiterbauteilfertigung. Dazu wird das Fügematerial (2) mit einem Fügematerialstrahlgerät (10) strukturiert und fein dosiert auf die Rückseiten (3) der Halbleiterchips (4) eines in Halbleiterchips (4) getrennten Halbleiterwafers (15) aufgebracht. Schließlich wird eine Struktur aus einem zweiten Fügematerial (12) auf das erste Fügematerial (2) unter Freilassen von Bereichen, die Kontaktflächen (11) auf der Oberseite (9) der Halbleiterchips (4) gegenüberliegen, aufgebracht, wobei das zweite Fügematerial (12) zu Abstandshaltern (13) und/oder als Ausgleichsschicht zum Ausgleich von Verwölbungen eines Halbleiterchips strukturiert wird.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102005050127A DE102005050127B3 (de) | 2005-10-18 | 2005-10-18 | Verfahren zum Aufbringen einer Struktur aus Fügematerial auf die Rückseiten von Halbleiterchips |
| US11/582,551 US7592236B2 (en) | 2005-10-18 | 2006-10-18 | Method for applying a structure of joining material to the back surfaces of semiconductor chips |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102005050127A DE102005050127B3 (de) | 2005-10-18 | 2005-10-18 | Verfahren zum Aufbringen einer Struktur aus Fügematerial auf die Rückseiten von Halbleiterchips |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE102005050127B3 true DE102005050127B3 (de) | 2007-05-16 |
Family
ID=37948656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE102005050127A Expired - Fee Related DE102005050127B3 (de) | 2005-10-18 | 2005-10-18 | Verfahren zum Aufbringen einer Struktur aus Fügematerial auf die Rückseiten von Halbleiterchips |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7592236B2 (de) |
| DE (1) | DE102005050127B3 (de) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5993845B2 (ja) | 2010-06-08 | 2016-09-14 | ヘンケル アイピー アンド ホールディング ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 先ダイシング法を行う微細加工されたウェーハへの接着剤の被覆 |
| KR101997293B1 (ko) | 2011-02-01 | 2019-07-05 | 헨켈 아이피 앤드 홀딩 게엠베하 | 다이싱 테이프 상에 사전 절단 웨이퍼가 도포된 언더필 필름 |
| CN103415917A (zh) | 2011-02-01 | 2013-11-27 | 汉高公司 | 施加有底部填料膜的预切割的晶片 |
| US9070741B2 (en) * | 2012-12-17 | 2015-06-30 | Infineon Technologies Austria Ag | Method of manufacturing a semiconductor device and a semiconductor workpiece |
| DE102016109165B4 (de) * | 2016-05-18 | 2023-10-12 | Infineon Technologies Ag | Ein halbleiterbauelement und verfahren zum bilden einer mehrzahl von halbleiterbauelementen |
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Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US6579748B1 (en) * | 1999-05-18 | 2003-06-17 | Sanyu Rec Co., Ltd. | Fabrication method of an electronic component |
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-
2005
- 2005-10-18 DE DE102005050127A patent/DE102005050127B3/de not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-10-18 US US11/582,551 patent/US7592236B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US7592236B2 (en) | 2009-09-22 |
| US20070087532A1 (en) | 2007-04-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| 8100 | Publication of patent without earlier publication of application | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
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