DE102004045204A1

DE102004045204A1 - Vorrichtung und Verfahren zum Testen eines elektronischen Bauteils

Info

Publication number: DE102004045204A1
Application number: DE200410045204
Authority: DE
Inventors: Peter Dr.-Ing. Sauer
Original assignee: Hitex Development Tools GmbH
Current assignee: Hitex Development Tools GmbH
Priority date: 2004-09-17
Filing date: 2004-09-17
Publication date: 2006-03-30

Abstract

Vorrichtung (1) zum Testen eines elektronischen Bauteils (2),
mit einem Testmustereingabespeicher (5), einem Testmusterausgabespeicher (6), einem Vergleicher (11), einer Eingabeschnittstelle (14) und einer Ausgabeschnittstelle (10),
wobei der Testmustereingabespeicher (5) mindestens einen Testmustereingabedatensatz, der Testmusterausgabespeicher (6) mindestens einen Testmusterausgabedatensatz enthält und der Testmusterausgabedatensatz das Simulationsergebnis einer Simulation des elektronischen Bauteils (2) bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes als Eingabe für die Simulation des elektronischen Bauteils ist,
wobei der Testmustereingabespeicher (5) mit der Eingabeschnittstelle (14) verbunden ist, welche derart ausgeführt ist, dass sie mit mindestens einem Eingang (15) des elektronischen Bauteils (2) verbunden werden kann,
wobei der Vergleicher (11) mit der Ausgabeschnittstelle (10) verbunden ist, welche derart ausgeführt ist, dass sie mit mindestens einem Ausgang (9) des elektronischen Bauteils (2) verbunden werden kann und
der Vergleicher (11) mit dem Testmusterausgabespeicher (6) verbunden und derart ausgeführt ist, dass er die Übereinstimmung eines mittels der Ausgabeschnittstelle (10) eingelesenen Bauteilausgabedatensatzes des elektronischen...

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Testen eines elektronischen Bauteils.

Die Entwicklung eines elektronischen Bauteils, insbesondere die Entwicklung von integrierten Schaltungen, wie beispielsweise ein Prozessor oder ein elektronisches Bauteil mit einem solchen Prozessor, stellt ein aufwendiges Verfahren dar, das in mehrere Entwicklungsschritte eingeteilt werden kann: Nachdem zunächst die Anforderungen an das elektronische Bauteil spezifiziert wurden, d.h. unter anderem die Anzahl der Ein- und Ausgänge und die Art und Weise der Verarbeitung der an den Eingängen anliegenden Daten und die Art und Weise der Ausgabe der Verarbeitungsergebnisse an den Ausgängen, beginnt die Designphase.

In der Designphase wird das elektronische Bauteil zunächst virtuell in einer Simulationsumgebung auf einem Computer erstellt. Das virtuelle Modell ermöglicht Optimierungen im Aufbau des elektronischen Bauteils, ebenso aber auch das Durchführen von Tests:
Hierzu werden sogenannte Testdatenmuster erstellt, welche Testmustereingabedatensätze und Testmusterausgabedatensätze umfassen. Ein Testmusterausgabedatensatz stellt die gewünschte Ausgabe des elektronischen Bauteils an dessen Ausgängen dar, wenn der korrespondierende Testmustereingabedatensatz von dem elektronischen Bauteil verarbeitet wurde. Das virtuelle Modell kann somit insofern getestet werden, dass die Testmustereingabedatensätze als Eingabe für die Simulation verwendet werden und die Simulationsergebnisse mit den Testmusterausgabedatensätzen verglichen werden.

Ebenso ist es auch möglich, dass die Testmusterausgabendatensätze nicht schon vorab erstellt werden, sondern dass die Testmustereingabendatensätze als Eingabe für die Simulation verwendet werden und dass das Simulationsergebnis auf Korrektheit überprüft wird und dass damit die korrekte Funktion des Simulationsmodells überprüft werden kann.

Durch die virtuellen Tests sollen nach Möglichkeit zum einen alle möglichen Verwendungsfälle des realen elektronischen Bauteils auf korrekte Funktionsweise verifiziert werden, zum anderen ist es hilfreich, wenn die Testdatenmuster derart aufgebaut sind, dass sie eine Beurteilung der Funktionsweise einzelner Komponenten der elektronischen Schaltung ermöglichen. Dadurch kann beim Testen des virtuellen Modells eine Fehlfunktion auf einzelne Komponenten des elektronischen Bauteils zurückgeführt werden, so dass diese gezielt verändert werden können.

Wurde das virtuelle Modell soweit verändert und optimiert, dass die Ergebnisse der Simulationen den vorgegebenen Spezifikationen entsprechen, so wird im Allgemeinen ein Prototyp des elektronischen Bauteils gefertigt.

An dem gefertigten Prototyp werden ebenfalls Tests durchgeführt, um die korrekte Funktionsweise zu verifizieren. Hierfür sind Vorrichtungen bekannt, welche das Anlegen vorgegebener Eingabedaten an die Eingänge des elektronischen Bauteils ermöglichen, sowie Daten, welche an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegen, auslesen können. Typischerweise werden Ein- und Ausgabedaten des elektronischen Bauteils grafisch einander zugeordnet visualisiert, so dass ein Fachmann durch Überprüfen der grafischen Darstellung die korrekte Funktionsweise des elektronischen Bauteils überprüfen kann.

Die oben erläuterte Verifizierung der korrekten Funktionsweise des Prototyps des elektronischen Bauteils wird häufig ebenfalls bei der späteren Fertigung des elektronischen Bauteils an jedem gefertigten Bauteil oder an Stichproben der gefertigten Bauteile durchgeführt, um auch die korrekte Funktionsweise der Endprodukte zu überprüfen.

Die Verifizierung der korrekten Funktionsweise des Prototyps bzw. der zum Verkauf hergestellten elektronischen Bauteile erfordert einen beträchtlichen Zeitaufwand bei der Erstellung der Verifizierung, d.h. bei der Generierung der zur Verifizierung verwendeten Ein- und Ausgabedaten, sowie einen hohen Zeitaufwand beim Durchführen der Verifizierung, d.h. beim Vergleichen der gewünschten mit den tatsächlich erhaltenen Ausgabedaten.

Weiterhin ist, insbesondere bei komplexen elektronischen Bauteilen, häufig nur ein teilweises Überprüfen der gewünschten Funktionsweise möglich, da das Generieren von Ein- und korrespondierenden Ausgabedaten, welche alle Fälle der späteren Verwendung abdecken, bzw. das Durchführen einer entsprechend großen Anzahl von Tests zu zeitaufwendig und damit zu kostenintensiv ist.

Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Testen eines elektronischen Bauteils zu schaffen, welche eine umfassende Verifikation des elektronischen Bauteils ermöglicht, d.h. die Durchführung einer großen Anzahl von Testdurchläufen ermöglicht.

Darüber hinaus soll die erfindungsgemäße Vorrichtung ein zeit- und kostensparendes Durchführen der Verifikation ermöglichen.

Gelöst ist diese Aufgabe durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1, sowie durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Patentanspruchs 16.

Vorteilhafte Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Vorrichtung finden sich in den Ansprüchen 2 bis 15, vorteilhafte Ausgestaltungen des Verfahrens in den Ansprüchen 17 bis 24.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung zum Testen eines elektronischen Bauteils umfasst einen Testmustereingabespeicher, einen Testmusterausgabespeicher, einen Vergleicher, eine Eingabeschnittstelle und eine Ausgabeschnittstelle.

Die Ein- und Ausgabeschnittstellen dienen dazu, die Vorrichtung mit den Ein- bzw. Ausgängen des elektronischen Bauteils zu verbinden. Der Testmustereingabespeicher ist mit der Eingabeschnittstelle verbunden, so dass Daten aus dem Testmustereingabespeicher über die Eingabeschnittstelle an die Eingänge des elektronischen Bauteils geleitet werden können.

Die Ausgabeschnittstelle ist mit dem Vergleicher verbunden, so dass Daten, welche an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegen, von dem Vergleicher ausgewertet werden können.

Der Vergleicher ist ferner mit dem Testmusterausgabespeicher verbunden. Somit können Daten aus dem Testmusterausgabespeicher in den Vergleicher eingelesen werden, und der Vergleicher kann die Übereinstimmung von an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegenden Daten mit einem Testmusterausgabedatensatz des Testmusterausgabespeichers überprüfen.

Wesentlich ist nun, dass der Testmustereingabespeicher mindestens einen Testmustereingabedatensatz und der Testmusterausgabespeicher mindestens einen Testmusterausgabedatensatz enthält, wobei der Testmusterausgabedatensatz das Simulationsergebnis einer Simulation des elektronischen Bauteils bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes als Eingabe für die Simulation des elektronischen Bauteils ist.

Es wird somit zunächst ein Eingabedatensatz gewählt und mit diesem Eingabedatensatz eine Simulation des elektronischen Bauteils durchgeführt. Der Eingabedatensatz wird in dem Testmustereingabespeicher der erfindungsgemäßen Vorrichtung abgespeichert und der aus der Simulation resultierende Ausgabedatensatz wird im Testmusterausgabedatenspeicher abgelegt. Da die Simulation das gewünschte Verhalten des elektronischen Bauteils wiedergibt, entspricht somit der im Testmusterausgabespeicher abgelegte Datensatz dem gewünschten Ergebnis bei Anliegen des im Testmustereingabespeicher abgelegten Testmustereingabedatensatzes an den Eingängen des elektronischen Bauteils.

Ebenso ist es jedoch auch möglich, Datensätze aus der Entwicklungsphase des elektronischen Bauteils zu verwenden, das heißt einen Eingabedatensatz und einen korrespondierenden Ausgabedatensatz, der bereits in der Entwicklungsphase zu Verifikationszwecken benutzt wurde, in dem Testmustereingabespeicher bzw. in dem Testmusterausgabedatenspeicher abzulegen.

Der Test des elektronischen Bauteils mittels der erfindungsgemäßen Vorrichtung erfolgt derart, dass der Testmustereingabedatensatz aus dem Testmustereingabespeicher über die Eingabeschnittstelle an die Eingänge des elektronischen Bauteils angelegt wird und der Vergleicher den zum Testmustereingabedatensatz korrespondierenden Testmusterausgabedatensatz aus dem Testmusterausgabespeicher ausliest und diesen mit dem über die Ausgabeschnittstelle von den Ausgängen des elektronischen Bauteils eingelesenen Datensatz vergleicht.

Fällt der Vergleich positiv aus, d.h. sind beiden Datensätze identisch, so entspricht das Verhalten des elektronischen Bauteils dem der Simulation und damit verhält sich das elektronische Bauteil korrekt gemäß der vorgegebenen Spezifizierung.

Bei negativem Ausgang des Vergleichs, d.h. wenn die beiden verglichenen Datensätze voneinander abweichen, liegt eine Fehlfunktion des elektronischen Bauteils vor und entsprechend können Fehler im Prototyp aufgefunden und beseitigt werden oder ein fehlerhaftes Bauteil kann aus der Produktion ausgesondert werden.

In einer vorteilhaften Ausführungsform werden für die erfindungsgemäße Vorrichtung solche Datensätze verwendet, die – wie eingangs beschrieben – bereits in der Entwicklungsphase des elektronischen Bauteils für die Tests an dem virtuellen Simulationsmodell des elektronischen Bauteils verwendet wurden.

Dadurch lässt sich der Arbeitsaufwand, welcher für das Erstellen von Testdatenmustern benötigt wird, deutlich reduzieren. Denn es müssen lediglich in der Entwicklungsphase beim Testen des virtuellen Simulationsmodells Eingabeda ten erstellt werden, welche eine Überprüfung der gewünschten Funktionen des elektronischen Bauteils, bzw. eine möglichst genaue Eingrenzung fehlerhafter Bestandteile des elektronischen Bauteils ermöglichen. Diese bereits in der Entwicklungsphase erzeugten Testdatenmuster, d.h. die Testmustereingabedatensätze und die korrespondierenden Testmusterausgabedatensätze können nun zum Testen des realen Prototyps bzw. des realen produzierten elektronischen Bauteils wieder verwendet werden, indem die Testmustereingabedatensätze aus der Entwicklungsphase in den Testmustereingabespeicher der erfindungsgemäßen Vorrichtung und die korrespondierenden Testmusterausgabedatensätze in den Testmusterausgabespeicher der erfindungsgemäßen Vorrichtung abgelegt werden.

Dies ermöglicht ein Testen des realen elektronischen Bauteils, ohne dass eigens für den Test des realen elektronischen Bauteils Testdatenmuster erstellt werden müssen.

Zweckmäßigerweise umfasst die erfindungsgemäße Vorrichtung einen Vergleicherausgang, der mit dem Vergleicher verbunden ist und über den der Vergleicher nach Abschluss des Vergleichvorgangs zwischen dem Testmusterausgabedatensatz und den Ausgabedaten des elektronischen Bauteils ein entsprechendes Signal abgibt. Hierbei kann es zweckmäßig sein bei positiver und/oder bei negativer Übereinstimmung ein jeweils festgelegtes Signal an den Vergleicherausgang auszugeben.

Der Vergleicherausgang kann mit einem externen Datenerfassungsgerät, wie beispielsweise einem Computer verbunden sein, welches das vom Vergleicher abgegebene Signal speichert, so dass das Ergebnis des Tests des elektronischen Bauteils auch nach Abschluss des Tests aufgerufen und ausgewertet werden kann. Ebenso ist es auch denkbar, dass der Vergleicherausgang mit dem Testmustereingabe- und/oder mit dem Testmusterausgabespeicher verbunden ist, so dass das Ergebnis des Vergleichs zu dem korrespondierenden Testmustereingabe- und/oder Testmusterausgabedatensatz abgespeichert wird. Somit kann nach Beenden des Testvorgangs durch Auslesen des Testmustereingabe- bzw. des Testmusterausgabespeichers das Testergebnis rekonstruiert werden.

Typischerweise werden an einem realen elektronischen Bauteil mehrere Tests durchgeführt, d.h. es existieren mindestens zwei Testmusterdatensätze.

Zweckmäßigerweise sind daher im Testmustereingabespeicher und im Testmusterausgabespeicher jeweils mindestens zwei Datensätze in einer vorgegebenen Reihenfolge abgelegt, wobei ein Testmusterausgabedatensatz an einer Position des Testmusterausgabespeichers jeweils das Simulationsergebnis einer Simulation des elektronischen Bauteils bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes mit gleicher Position des Testmustereingabespeichers als Eingabe für die Simulation des elektronischen Bauteils ist.

In diesem Fall wird das elektronische Bauteil mittels der erfindungsgemäßen Vorrichtung derart getestet, dass nacheinander die in dem Testmustereingabespeicher abgelegten Testmustereingabedatensätze an die Eingänge des elektronischen Bauteils angelegt werden und jeweils der an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegende Ausgabedatensatz von dem Vergleicher mit dem korrespondierenden Testmusterausgabedatensatz des Testmusterausgabespeichers verglichen wird.

Die Ergebnisse jedes Vergleichsvorgangs werden zweckmäßigerweise entweder über einen wie oben beschriebenen Vergleicherausgang an einen externen Datenspeicher geleitet, oder in einem der Testmusterspeicher der erfindungsgemäßen Vorrichtung an der entsprechenden Position gespeichert.

Nach Abschluss des Testvorgangs mit den mindestens zwei Testmusterdatensätzen kann somit für jeden einzelnen Testmusterdatensatz überprüft werden, ob die Funktionsweise des elektronischen Bauteils für diesen Testmusterdatensatz korrekt ist.

Wenn mehr als ein Testmusterdatensatz in den Testmusterspeichern der erfindungsgemäßen Vorrichtung abgelegt werden ist es zweckmäßig, wenn die Vorrichtung einen Takteingang umfasst, welcher mit dem Testmustereingabespeicher verbunden ist. In diesem Fall ist der Testmustereingabespeicher derart ausgeführt, dass er synchron zu einem am Takteingang anliegenden Taktsignal die Testmustereingabedatensätze in der vorgegebenen Reihenfolge, d.h. in der Reihenfolge, in der die Testmustereingabedatensätze in dem Testmustereingabespeicher abgelegt sind, an die Eingabeschnittstelle weiterleitet.

Der Takteingang ist zweckmäßigerweise ferner mit dem Vergleicher verbunden und der Vergleicher derart ausgeführt, dass der synchron zu einem am Takteingang anliegenden Taktsignal die Übereinstimmung der an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegenden Datensätze mit den Testmusterausgabedatensätzen des Testmusterausgabespeichers überprüft. Somit wird für jeden Takt des am Takteingang anliegenden Taktsignals ein Testmustereingabedatensatz aus dem Testmustereingabespeicher an die Eingänge des elektronischen Bauteils geleitet und das an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegende Ausgangssignal von dem Vergleicher eingelesen und mit dem Testmusterausgabedatensatz, welcher dem in diesen Takt verwendeten Testmustereingabedatensatz zugeordnet ist, verglichen.

Mit jedem neuen Taktsignal wird somit vom Testmustereingabespeicher der jeweils nächste Testmustereingabedatensatz an das elektronische Bauteil ausgegeben und der Vergleicher liest den jeweils nächsten Testmusterausgabedatensatz aus dem Testmusterausgabespeicher aus und vergleicht diesen mit den Ausgabedaten des elektronischen Bauteils.

Der Testmustereingabespeicher und der Vergleicher müssen folglich derart ausgeführt sein, dass sie die Datensätze synchron zu dem Taktsignal in der vorgegebenen Reihenfolge abarbeiten, wobei sie zu Beginn eines mehrere Testdatensätze umfassenden Tests mit dem im Testmustereingabe- bzw. Testmusterausgabespeicher an erster Stelle abgelegten Datensatz beginnen.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung umfasst zweckmäßigerweise einen Taktgeber, welcher mit dem Takteingang verbunden ist und das oben beschriebene Taktsignal erzeugt. Hierbei ist es vorteilhaft, wenn der Taktgeber derart ausgeführt ist, dass er Taktsignale in unterschiedlichen Geschwindigkeiten, d.h. unterschiedlichen Frequenzen abgeben kann, wobei die Geschwindigkeit vom Benutzer vorgegeben wird. Dadurch ist es möglich, das elektronische Bauteil unter realen Bedingungen zu testen, d.h. der Benutzer kann für den Testvorgang dieselben Frequenz wählen, mit der auch beim späteren Einsatz des elektronischen Bauteils Datensätze an den Eingängen des elektronischen Bauteils anliegen werden bzw. Datensätze aus den Ausgängen des elektronischen Bauteils ausgelesen werden.

Um die erfindungsgemäße Vorrichtung mit externen Elementen, wie beispielsweise einem externen Datenspeicher, welcher mit dem Vergleicherausgang verbunden ist, zu synchronisieren ist es zweckmäßig, wenn die Vorrichtung einen Taktausgang umfasst, welcher mit dem Taktgeber verbunden ist. Dadurch kann beispielsweise ein externer Datenspeicher sowohl mit dem Vergleicherausgang als auch mit dem Taktausgang verbunden werden, so dass der externe Datenspeicher synchron zu dem Taktsignal die aus dem Vergleich resultierenden Ergebnisse, welche der Vergleicher an den Vergleicherausgang abgibt, speichert.

Elektronische Bauteile umfassen häufig einen Prozessor, welcher mittels eines Programms gesteuert werden kann. Dieses Programm ist typischerweise in einem Programmspeicher auf dem elektronischen Bauteil hinterlegt, welcher mit dem Prozessor verbunden ist. Der Programmspeicher kann aber auch in den Prozessor integriert sein. In beiden Fällen muss bei der Entwicklung des elektronischen Bauteils ein Programm für den Prozessor erstellt werden, welcher diesen derart steuert, dass der Prozessor die gewünschten Funktionen ausführt, so dass die an dem elektronischen Bauteil anliegenden Eingabedaten in der gewünschten Weise verarbeitet werden.

Ebenso ist es jedoch auch möglich, dass das zu testende elektronische Bauteil keinen eigenen Programmspeicher umfasst, sondern lediglich eine Programmeinleseschnittstelle, welche mit einem externen Programmspeicher verbunden werden kann. In diesem Fall wird das elektronische Bauteil derart getestet, dass es mit einer Testkarte verbunden wird, wobei die Testkarte einen Programmspeicher und gegebenenfalls weitere Peripheriebausteine umfasst. Sämtliche Ein- und Ausgänge des elektronischen Bauteils sind mit der Testkarte verbunden und die Testkarte weist entsprechend Ein- und Ausgänge auf, welche mit der Vorrichtung zum Testen eines elektronischen Bauteils verbunden werden können. Der Begriff „elektronisches Bauteil" umfasst somit sowohl Bauteile, welche direkt mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung verbunden werden können, als auch Bauteile, welche zunächst auf einer Testkarte angeordnet werden und über die Testkarte, auf der gegebenenfalls Peripheriebausteine wie beispielsweise ein Programmspeicher enthalten ist, mit der Testvorrichtung verbunden werden können.

Auch diese elektronischen Bauteile werden in der Entwicklungsphase zunächst als virtuelles Simulationsmodell in einer Simulationsumgebung auf einem Computer erstellt und getestet. In das Simulationsmodell wird – neben den Eingabedaten – auch das Programm für den Prozessor eingegeben, so dass in diesem Fall ein Testdatenmuster nicht nur die Eingabedaten und die entsprechenden Ausgabedaten umfasst, sondern auch das zur Verarbeitung notwendige Programm für den Prozessor.

In einer vorteilhaften Ausführungsform umfasst die Vorrichtung daher eine Prozessorsteuerung, welche mit einer Programmausgabeschnittstelle und mit einer Programmeingabeschnittstelle der erfindungsgemäßen Vorrichtung verbunden ist. Die Prozessorsteuerung umfasst einen Programmspeicher und ist derart ausgeführt, dass mittels der Prozessorsteuerung über die Programmeingabeschnittstelle ein Prozessorprogramm eingelesen und in dem Programmspeicher abgespeichert werden kann und dass ferner mittels der Prozessorsteuerung ein im Programmspeicher abgespeichertes Prozessorprogramm über die Programmausgabeschnittstelle ausgegeben werden kann. Die Programmausgabeschnittstelle ist derart ausgeführt, dass sie mit einer Programmeingabeschnittstelle des elektronischen Bauteils, welche zum Einlesen von Prozessorprogrammen in den Prozessor des elektronischen Bauteils dient, verbunden werden kann.

Bei dieser erfindungsgemäßen Ausführungsform können somit auch für elektronische Bauteile, welche einen programmierbaren Prozessor umfassen, die Testdatenmuster, welche bei der Simulation des virtuellen elektronischen Bauteils, insbesondere bei den Testsimulationen in der Entwicklungsphase des elektronischen Bauteils verwendet wurden, zum Testen des realen Prototyps bzw. des zum Verkauf bestimmten Produkts benutzt werden.

In einer weiteren vorzugsweisen Ausführungsform umfasst die erfindungsgemäße Vorrichtung einen Bauteilausgabespeicher, welcher zwischen Vergleicher und Ausgabeschnittstelle zwischengeschaltet ist. Der Vergleicher ist somit mittelbar über den Bauteilausgabespeicher mit der Ausgabeschnittstelle verbunden. Der Bauteilausgabespeicher speichert die an der Ausgabeschnittstelle des elektronischen Bauteils anliegenden Datensätze. Der Vergleicher liest die in dem Bauteilausgabespeicher abgespeicherten Datensätze aus und vergleicht diese mit den Testmusterausgabedatensätzen aus dem Testmusterausgabespeicher. Dadurch kann der Vergleich zwischen den erwünschten und den tatsächlich an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegenden Daten auch nach dem Testdurchlauf erfolgen:
Zunächst wird von der erfindungsgemäßen Vorrichtung wie oben beschrieben ein Testmustereingabedatensatz aus dem Testmustereingabespeicher an die Eingänge des elektronischen Bauteils geleitet und der Ausgabedatensatz des elektronischen Bauteils in dem Bauteilausgabespeicher abgelegt. Dieser Schritt kann – sofern mehrere Testdatenmuster vorliegen – für alle Datensätze des Testmustereingabespeichers wiederholt werden. In dem Bauteilausgabespeicher sind somit die am Ausgang des elektronischen Bauteils anliegenden Datensätze in der Reihenfolge abgespeichert, in der die korrespondierenden Testmustereingabedatensätze im Testmustereingabespeicher abgelegt sind. Nach Ablauf dieses Testvorgangs kann nun in einem zweiten Schritt, bei dem das elektronische Bauteil nicht mehr benötigt wird, der Vergleicher die in dem Bauteilausgabespeicher abgelegten Datensätze jeweils mit den Datensätzen des Testmusterausgabespeichers vergleichen. In dieser erfindungsgemäßen Ausführungsform ist es somit möglich, den Vergleichvorgang von dem eigentlichen Testvorgang zu trennen.

Hierbei ist es zweckmäßig, wenn der Bauteilausgabespeicher mit dem Takteingang verbunden ist, und derart ausgeführt ist, dass der Bauteilausgabespeicher synchron zu einem am Takteingang anliegenden Taktsignal die an der Ausgabeschnittstelle des elektronischen Bauteils anliegenden Datensätze sequentiell, d.h. in der Reihenfolge ihres Auftretens, abspeichern kann.

In einer weiteren erfindungsgemäßen Ausführungsform verfügt die Vorrichtung über eine Steuerschnittstelle, welche mit einem Steuercomputer verbunden werden kann. Die Steuerschnittstelle ist mit dem Testmustereingabe- und dem Testmusterausgabespeicher verbunden, so dass Datensätze aus dem Steuercomputer in beide Testmusterspeicher übertragen werden können. Zweckmäßigerweise ist die Steuerschnittstelle derart ausgeführt, dass sie Simulationsdatensätze, welche zur Simulation des elektronischen Bauteils verwendet und im Steuercomputer abgelegt wurden, direkt in die Testmusterspeicher der erfindungsgemäßen Vorrichtung übertragen kann, d.h. dass keine Umformatierung der im Steuercomputer abgelegten Testmustereingabe- und Testmusterausgabedatensätze notwendig ist, sondern diese ohne weiteren Zeit- und Arbeitsaufwand in den Testmustereingabespeicher bzw. den Testmusterausgabespeicher übertragen werden können.

Ferner ist es zweckmäßig, wenn die Steuerschnittstelle derart ausgeführt ist, dass die Ergebnisse des Vergleichs zwischen den an dem Ausgang des elektronischen Bauteils anliegenden Daten und den Testmusterausgabedaten des Testmusterausgabespeichers über die Steuerschnittstelle an den Steuercomputer ausgegeben werden können. Hierfür sind mehrere Ausführungsformen denkbar:

– Der Vergleicher kann direkt mit der Steuerschnittstelle verbunden sein, so dass der Steuercomputer jedesmal ein Signal empfängt, wenn der Vergleicher nach Abschluss des Vergleichsvorgangs ein solches abgibt.
– Ist der Vergleicher hingegen mit dem Testmustereingabe- und/oder mit dem Testmusterausgabespeicher derart verbunden, dass das Ergebnis eines Vergleichs jeweils in mindestens einem der beiden Speicher abgespeichert wird, so ist es zweckmäßig, wenn über die Steuerschnittstelle die Daten des Testmustereingabe- und/oder Testmusterausgabespeichers an den Steuercomputer ausgegeben werden können. Hierbei kann somit der Testvorgang, nachdem die notwendigen Testmustereingabe- und Testmusterausgabedaten vom Steuercomputer in die erfindungsgemäße Vorrichtung überspielt wurden, ohne Kommunikation zwischen Vorrichtung und Steuercomputer durchgeführt werden. Nach Abschluss des Testvorgangs werden die im Testmustereingabe- und/oder im Testmusterausgabespeicher abgespeicherten Vergleichsergebnisse über die Steuerschnittstelle an den Steuercomputer ausgegeben.

Wenn das elektronische Bauteil einen Prozessor umfasst, so ist es durchaus möglich, dass Eingabedaten über mehrere Programmschritte hinweg, das heißt mehrere Taktsignale lang bearbeitet werden, bevor die Ausgabedaten zur Verfügung stehen, welche an den Ausgängen des elektronischen Bauteils ausgelesen werden können. Ist das elektronische Bauteil derart ausgeführt, dass während des Bearbeitungsvorgangs, das heißt während der Programmschritte, an denen noch kein Ergebnis an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegt ein definiertes Leersignal, wie beispielsweise der Wert 0 an den Ausgängen ausgegeben wird, so kann dies in den Testmusterdatensätzen berücksichtigt werden:
Hierzu werden die Testmusterdatensätze derart realisiert und in den Testmusterspeichern abgelegt, dass zu Eingabedaten, bei denen in dem Taktsignal, in dem die Eingabedaten an die Eingänge des elektronischen Bauteils angelegt werden noch kein Ergebnis an den Ausgängen des elektronischen Bauteils, sondern lediglich das definierte Signal für diesen Zustand anliegt, entsprechend eben dieses definierte Leersignal, wie beispielsweise der Wert 0, als zu dem Testmustereingabedatensatz korrespondierender Testmusterausgabedatensatz abgespeichert wird. Der Vergleicher liest somit in solch einem Programmschritt, das heißt während solch eines Taktschrittes das an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegende Leersignal aus und vergleicht dieses mit dem im Testmusterausgabespeicher abgelegten Leersignal. Hierdurch kann zusätzlich verifiziert werden, ob auch die in dem elektronischen Bauteil vordefinierten Leersignale an den gewünschten Punkten der Abarbeitung des Prozessorprogramms auftreten.

Ebenso ist es jedoch auch denkbar, dass die Testmusterdatensätze zusätzlich die Information enthalten, ob bei diesem Datensatz ein verwertbarer Ausgabedatensatz an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegt oder nicht. Diese Information kann beispielsweise in Form eines Zusatzbits des Testmusterausgabedatensatz realisiert sein. Besitzt dieses Bit den Wert „1", so soll ein Vergleich der Datensätze aufgeführt werden, bei dem Wert „0" soll kein Vergleich durchgeführt werden, da keine sinnvollen Daten an den Ausgängen des elektronischen Bauteils zu erwarten sind. Der Vergleicher ist in dieser erfindungsgemäßen Ausführungsform somit derart ausgeführt, dass er synchron zu dem Taktsignal nicht nur die Testmusterausgabedatensätze aus dem Testmusterausgabespeicher, sondern zusätzlich das zu einem Testmusterausgabedatensatz gehörige Zusatzbit ausliest und abhängig von dem Wert dieses Zusatzbits – wie oben beschrieben – einen Vergleich durchführt oder nicht.

In einer weiteren erfindungsgemäßen Ausführungsform weist die Vorrichtung eine Vergleichsmodusschnittstelle auf, welche mit dem Vergleicher verbunden ist und der Vergleicher ist derart ausgeführt, dass er die oben beschriebene Zusatzinformation, das heißt ob ein Vergleich durchgeführt werden soll oder nicht, mittels der Vergleichsmodusschnittstelle einließt und nur bei Vorliegen eines definierten Signals – wie beispielsweise der „1" – einen Vergleich durchführt. Die Vergleichsmodusschnittstelle ist derart ausgeführt, dass sie mit einem Vergleichsmodusausgang des elektronischen Bauteils verbunden werden kann, welcher bei Vorliegen von Ausgabedaten an den Ausgängen des elektronischen Bauteils ein vorgegebenes Signal – wie beispielsweise die oben aufgeführte „1" – ausgibt.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung eignet sich insbesondere für digitale elektronische Bauteile, das heißt Bauteile, an deren Eingänge digitale Signale angelegt werden und deren Ausgänge digitale Signale abgeben. Ebenso ist es jedoch auch möglich, mit der Vorrichtung elektronische Bauteile zu testen, welche Signale in analoger Form einlesen und/oder abgeben. In diesem Fall weist die Vorrichtung an sich bekannte Digital-Analog-Wandler auf, welche an den entsprechenden Schnittstellen, das heißt der Eingabeschnittstelle und/oder der Ausgabeschnittstelle vorgeschaltet sind. In dem Testmustereingabespeicher und/oder in dem Testmusterausgabespeicher sind die analogen Signale in digitaler Form, das heißt in einem Zahlenwert, der ein Maß für die Stärke des analogen Signals ist, abgelegt, und werden von dem Digital-Analog-Wandler in ein entsprechend starkes Signal umgewandelt.

Ebenso wird ein an der Ausgabeschnittstelle eingelesenes Signal durch einen entsprechenden Analog-Digital-Wandler in digitale Informationen umgewandelt, welche ein Maß für die Stärke des eingelesenen Signals darstellt.

Selbstverständlich können die Ein- bzw. Ausgabe-Schnittstelle auch derart ausgeführt sein, dass sie mehrere Ein- bzw. Ausgänge umfassen, von denen nur ein Teil mittels der oben beschriebenen Wandler umgewandelt wird.

Besonders zweckmäßig ist es, wenn die Daten in dem Testmuster Eingabespeicher und dem Testmusterausgabespeicher in komprimierter Form gespeichert werden, so dass weniger Speicherkapazität benötigt wird. In dieser Ausführungsform umfasst die Vorrichtung mindestens eine Dekomprimierungseinheit, welche zwischen Testmustereingabespeicher und Eingabeschnittstelle und/oder zwischen Testmusterausgabespeicher und dem Vergleicher angeordnet ist. Die Testmustereingabe- und/oder die Testmusterausgabedaten sind in komprimierter Form in den jeweiligen Datenspeichern abgelegt und werden beim Auslesen aus dem Speicher durch die entsprechende Dekomprimierungseinheit in ihren ursprünglichen Zustand umgewandelt. Hierbei können bekannte Datenkomprimierungsmethoden, wie beispielsweise „run lenghth encoding" zur Komprimierung und Dekomprimierung der Daten verwendet werden.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung kann als eigene Hardware-Komponente realisiert sein, d.h. sie kann die benötigten elektronischen Komponenten, insbesondere Speicherkomponenten für den Testmustereingabe- und Testmusterausgabespeicher, elektronische Komponenten, die zur Ausführung der Funktion des Vergleichers benötigt werden, sowie die Eingabe- und die Ausgabeschnittstelle in Form von Steckern bzw. Buchsen enthalten.

Ebenso ist es jedoch auch denkbar, die Vorrichtung als Softwareimplementierung in einem Computer auszuführen:
Der Testmustereingabe- und Testmusterausgabespeicher sind in diesem Fall als entsprechende Variablen der Softwareimplementierung ausgeführt, wobei die in diesen Variablen abgelegten Daten physikalisch in dem Speicher des Computers abgelegt werden, auf dem die erfindungsgemäße Vorrichtung imp lementiert ist. Die Schnittstellen der Vorrichtung, insbesondere die Eingabe- und Ausgabeschnittstelle sind in diesem Fall als Softwareschnittstellen ausgeführt, welche mittels der Hardware des Computers auf physikalische Schnittstellen des Computers, auf dem die erfindungsgemäße Vorrichtung implementiert ist, zurückgreifen.

Ebenso ist es auch möglich, die erfindungsgemäße Vorrichtung lediglich teilweise als Softwareimplementierung zu gestalten. So kann beispielsweise der Testmustereingabe- und der Testmusterausgabespeicher als eigene Hardware-Komponente der erfindungsgemäßen Vorrichtung realisiert sein, welche mittels einer Schnittstelle mit einem Steuercomputer verbunden sind. Der Vergleicher kann als Softwareimplementierung auf dem Computer realisiert sein und die oben beschriebenen Verbindungen zwischen den Speichern und dem Vergleicher, sowie zwischen den Ein- und Ausgabeschnittstellen der Vorrichtung und dem Vergleicher sind dadurch gewährleistet, dass die entsprechenden Komponenten mit der Steuerschnittstelle und damit mit dem Computer verbunden sind, so dass der als Softwareimplementierung realisierte Vergleicher in analogerweise wie ein als Hardware-Komponente realisierter Vergleicher in den Datenverkehr eingebunden ist.

Sowohl bei der Ausführung der erfindungsgemäßen Vorrichtung als eigene Hardware-Komponente, als auch bei der Ausführung als Softwareimplementierung auf einem Computer umfasst das Testen eines elektronischen Bauteils mittels der erfindungsgemäßen Vorrichtung folgende Schritte:

– Zunächst wird mindestens ein Testmustereingabedatensatz und ein korrespondierender Testmusterausgabedatensatz in den Testmustereingabespeicher bzw. den Testmusterausgabespeicher der erfindungsgemäßen Vorrichtung eingelesen. Sofern mehrere Testdatenmuster vorliegen, wird der Einlesevorgang für jedes Testdatenmuster, d.h. für jeden Testmustereingabedatensatz und den korrespondierenden Testmusterausgabedatensatz durchgeführt und die Datensätze werden im Testmustereingabedatenspeicher und im Testmusterausgabedatenspeicher gemäß der Reihenfolge beim Einlesen abgespeichert.
– Danach wird der Testmustereingabedatensatz bzw. sofern mehrere Testmustereingabendatensätze vorhanden sind der erste Testmustereingabedatensatz an den Eingang des elektronischen Bauteils angelegt.
– Anschließend wird der an den Ausgängen des elektronischen Bauteils anliegende Ausgabedatensatz mittels der Ausgabeschnittstelle der erfindungsgemäßen Vorrichtung ausgelesen und an den Vergleicher weitergeleitet, welcher ein Vergleich dieses Datensatzes mit dem Ausgabedatensatz des Testmusterausgabespeichers durchführt.

Ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Testen eines elektronischen Bauteils wird im folgenden anhand der beigefügten Zeichnung näher beschrieben und erläutert:
In 1 ist eine Vorrichtung 1 zum Testen eines elektronischen Bauteils 2 dargestellt. Die Vorrichtung 1 ist über eine Steuerschnittstelle 3 mit einem Steuercomputer 4 verbunden. Über die Steuerschnittstelle 3 können Testmustereingabedatensätze aus dem Steuercomputer 4 in den Testmustereingabespeicher 5, sowie Testmusterausgabedatensätze aus dem Steuercomputer 4 in den Testmusterausgabespeicher 6 übertragen werden.
Die Vorrichtung umfasst ferner eine Prozessorsteuerung 7 mit einem (nicht dargestellten) Programmspeicher, welcher ebenfalls mit der Steuerschnittstelle 3 verbunden ist, so dass Prozessorprogramme von dem Steuercomputer 4 in den Programmspeicher der Prozessorsteuerung 7 eingelesen werden können.
Die Prozessorsteuerung 7 ist über eine Programmausgabeschnittstelle 8 mit dem elektronischen Bauteil 2 derart verbunden, dass Prozessorprogramme aus dem Programmspeicher der Prozessorsteuerung 7 in einen (nicht dargestellten) Programmspeicher des elektronischen Bauteils 2 eingelesen werden können.
Der Ausgang 9 des elektronischen Bauteils 2 ist über eine Ausgabeschnittstelle 10 mit einem Vergleicher 11 verbunden. Der Vergleicher 11 ist außerdem mit dem Testmusterausgabespeicher 6 verbunden, so dass der Vergleicher 11 Testmusterausgabedatensätze aus diesem auslesen kann.
Das elektronische Bauteil 2 umfasst einen (nicht dargestellten) Taktgeber, welcher den Takt vorgibt, in welchem der Prozessor des elektronischen Bauteils 2 das in dem Programmspeicher des elektronischen Bauteils 2 abgelegte Prozessorprogramm abarbeitet. Der Taktgeber des elektronischen Bauteils 2 ist ferner mit einem Taktausgang 12 des elektronischen Bauteils 2 verbunden, welcher wiederum mit dem Takteingang 13 der Vorrichtung 1 in Verbindung steht. An den Takteingang 13 sind sowohl der Testmustereingabespeicher 5, als auch der Vergleicher 11 angeschlossen.
Der Testmustereingabespeicher 5 schließlich ist über die Eingabeschnittstelle 14 mit dem Eingang 15 des elektronischen Bauteils 2 verbunden, so dass Testmustereingabedatensätze aus dem Testmustereingabespeicher 5 an den Eingang 15 des elektronischen Bauteils 2 angelegt werden können.
Zum Testen des elektronischen Bauteils 2 werden zunächst in dem Steuercomputer 4 abgelegte Testdatenmuster in die Vorrichtung 1 übertragen. Die im Steuercomputer 4 abgelegten Testdatenmuster wurden bereits zur Verifizierung des Simulationsmodells des elektronischen Bauteils 2 erstellt und umfassen ein Prozessorprogramm, sowie Eingabedatensätze und Ausgabedatensätze, wobei die Ausgabedatensätze das Ergebnis der Simulation des elektronischen Bauteils 2 bei Verwendung der Eingabedatensätze und des Prozessorprogramms für die Simulation sind.
Von dem Steuercomputer 4 werden über die Steuerschnittstelle 3 die Testmustereingabedatensätze in den Testmustereingabespeicher 5, die Testmusterausgabedatensätze in den Testmusterausgabespeicher 6 und das Prozessorprogramm in den Programmspeicher der Prozessorsteuerung 7 übertragen. Anschließend wird das elektronische Bauteil 2 über die oben beschriebenen und in 1 dargestellten Verbindungen an die Vorrichtung 1 angeschlossen.
Als nächster Schritt wird das in dem Programmspeicher der Prozessorsteuerung 7 gespeicherte Prozessorprogramm über die Programmausgabeschnitt stelle 8 in den Programmspeicher des elektronischen Bauteils- 2 übertragen. Nun wird das Abarbeiten dieses Prozessorprogramms durch den Prozessor des elektronischen Bauteils gestartet. Dies kann dadurch geschehen, dass das elektronische Bauteil 2 nach abgeschlossener Übertragung des Prozessorprogramms in den Programmspeicher des elektronischen Bauteils 2 automatisch mit der Abarbeitung beginnt, oder die Abarbeitung kann durch ein von außen über eine nicht dargestellte Schnittstelle an das elektronische Bauteil angelegtes Signal gestartet werden.
Die Schrittgeschwindigkeit des Abarbeitens des Prozessorprogramms wird durch den Taktgeber des elektronischen Bauteils 2 vorgegeben. Darüber hinaus sendet der Taktgeber für jeden Bearbeitungsschritt ein entsprechendes Taktsignal an den Taktausgang 12 des elektronischen Bauteils 2, so dass das Taktsignal über den Takteingang 13 der Vorrichtung 1 an den Testmustereingabespeicher 5 und an den Vergleicher 11 weitergeleitet wird. Für jedes Taktsignal gibt der Testmustereingabespeicher 5 einen Testmustereingabedatensatz über die Testmustereingabeschnittstelle 14 an den Eingang 15 des elektronischen Bauteils weiter. Der Testmustereingabespeicher 5 ist derart ausgeführt, dass er nach einem Ladevorgang, d.h. nachdem über die Steuerschnittstelle 3 Testmustereingabedatensätze abgespeichert wurden, beim nächsten Taktsignal den ersten der abgespeicherten Testmustereingabedatensätze weitergibt und bei jedem weiteren Taktsignal jeweils den nächsten Datensatz, in der Reihenfolge, in der die Testmustereingabedatensätze abgespeichert wurden.
Für jedes Taktsignal liest der Vergleicher 11 einen Testmusterausgabedatensatz aus dem Testmusterausgabespeicher 6 aus und vergleicht diesen mit dem an dem Ausgang 9 des elektronischen Bauteils 2 anliegenden Datensatz, der über die Ausgabeschnittstelle 10 an den Vergleicher 11 weitergeleitet wird.
Ebenso kann auch der Vergleicher an den Testmusterausgabespeicher 6 weiterleiten bzw. der Testmusterausgabespeicher 6 direkt mit dem Takteingang 13 verbunden und derart ausgeführt sein, dass der Testmusterausgabespeicher für jedes Taktsignal einen Testmusterausgabedatensatz an den Vergleicher 11 abgibt.
Auch der Vergleicher 11 und der Testmusterausgabespeicher 6 sind derart ausgeführt, dass nach einem Ladevorgang des Testmusterausgabespeichers zunächst der erste abgespeicherte Datensatz ausgelesen wird und bei jedem weiteren Taktsignal jeweils der nächste Datensatz in der Reihenfolge, in der die Datensätze in den Testmusterausgabespeicher 6 abgelegt wurden.
Für jedes Taktsignal überprüft der Vergleicher 11, ob der vom Testmusterausgabespeicher 6 eingelesene Datensatz mit dem an dem Ausgang 9 des elektronischen Bauteils anliegenden übereinstimmt. Je nach Ausgang dieser Überprüfung sendet der Vergleicher 11 ein vorbestimmtes Signal über die Steuerschnittstelle 3 an den Steuercomputer 4. Dieses vorbestimmte Signal kann derart festgelegt sein, dass beispielsweise das Signal „1" für eine korrekte Übereinstimmung und das Signal „0" für einen negativ ausgefallenen Vergleich steht.
Je nach Verarbeitungsgeschwindigkeit des elektronischen Bauteils 2 kann es sinnvoll sein, wenn der Vergleicher 11 nicht unmittelbar nach Eingang des Taktsignals mit der Überprüfung beginnt, sondern zunächst eine kurze Zeitdauer, welche mindestens der benötigten Verarbeitungsdauer der am Eingang 15 anliegenden Daten durch das elektronische Bauteil 2 entspricht, untätig ist, und erst nach Ablauf dieser Zeitdauer mit dem Vergleich der Datensätze beginnt.
In dem Steuercomputer 4 können die vom Vergleicher 11 gesendeten Daten derart abgespeichert werden, dass sie in der gesendeten Reihenfolge den Datensätzen des Testdatenmusters, welches im Steuercomputer 4 abgespeichert ist, zugeordnet werden. Auf diese Weise ist nach Testablauf, d.h. wenn alle im Testmustereingabespeicher 5 abgespeicherten Datensätze abgearbeitet wurden, im Steuercomputer 4 jedem Testdatenmuster ein Ergebnis zugeordnet, welches einen Aufschluss über die korrekte oder nicht korrekte Funktionsweise des elektronischen Bauteils 2 ermöglicht. Ebenso ist es jedoch auch denkbar, dass der Steuercomputer 4 lediglich negativ ausgefallene Vergleiche registriert und das somit nach Ablauf des Tests lediglich eine pauschale Gesamtauswer tung im Steuercomputer 4 abgespeichert wird, ob bei dem gesamten Testdurchlauf mindestens ein Fehler aufgetreten ist oder nicht.
Die in 1 dargestellten Verbindungen zwischen Steuercomputer 4 und Vorrichtung 1, sowie zwischen dem elektronischen Bauteil 2 und der Vorrichtung 1 sind als einfache Linien dargestellt. Diese Verbindungen sind zweckmäßigerweise vieladrig ausgeführt, so dass in an sich bekannter Weise Daten parallel übertragen werden können.
Ebenso ist es zweckmäßig, wenn die Vorrichtung 1 eine (nicht dargestellte) Steuereinheit umfasst, welche mit dem Testmustereingabespeicher 5, dem Testmusterausgabespeicher 6, der Prozessorsteuerung 7 und dem Vergleicher 11 verbunden ist und diese Elemente derart steuert, dass der oben beschriebene Testablauf durchgeführt werden kann.

1: Vorrichtung zum Testen eines elektronischen Bauteils
2: Elektronisches Bauteil
3: Steuerschnittstelle
4: Steuercomputer
5: Testmustereingabespeicher
6: Testmusterausgabespeicher
7: Prozessorsteuerung
8: Programmausgabeschnittstelle
9: Ausgang des elektronischen Bauteils
10: Ausgabeschnittstelle
11: Vergleicher
12: Taktausgang des elektronischen Bauteils
13: Takteingang
14: Eingabeschnittstelle
15: Eingang des elektronischen Bauteils

Claims

Vorrichtung (1) zum Testen eines elektronischen Bauteils (2), mit einem Testmustereingabespeicher (5), einem Testmusterausgabespeicher (6), einem Vergleicher (11), einer Eingabeschnittstelle (14) und einer Ausgabeschnittstelle (10), wobei der Testmustereingabespeicher (5) mindestens einen Testmustereingabedatensatz, der Testmusterausgabespeicher (6) mindestens einen Testmusterausgabedatensatz enthält und der Testmusterausgabedatensatz das Simulationsergebnis einer Simulation des elektronischen Bauteils (2) bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes als Eingabe für die Simulation des elektronischen Bauteils ist, wobei der Testmustereingabespeicher (5) mit der Eingabeschnittstelle (14) verbunden ist, welche derart ausgeführt ist, dass sie mit mindestens einem Eingang (15) des elektronischen Bauteils (2) verbunden werden kann, wobei der Vergleicher (11) mit der Ausgabeschnittstelle (10) verbunden ist, welche derart ausgeführt ist, dass sie mit mindestens einem Ausgang (9) des elektronischen Bauteils (2) verbunden werden kann und der Vergleicher (11) mit dem Testmusterausgabespeicher (6) verbunden und derart ausgeführt ist, dass er die Übereinstimmung eines mittels der Ausgabeschnittstelle (10) eingelesenen Bauteilausgabedatensatzes des elektronischen Bauteils (2) mit mindestens einem Testmusterausgabedatensatz des Testmusterausgabespeichers überprüfen kann.
Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Testmusterausgabedatensatz das Simulationsergebnis einer Testsimulation aus der Entwicklungsphase des elektronischen Bauteils (2) ist, bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes als Eingabedaten für die Simulation.
Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung einen Vergleicherausgang umfasst, welcher mit dem Vergleicher (11) verbunden ist und dass der Vergleicher (11) derart ausgeführt ist, dass er nach Abschluss des Vergleichvorgangs bei positiver und/oder negativer Übereinstimmung des Bauteilausgabedatensatzes mit dem Testmusterausgabedatensatz ein jeweils festgelegtes Signal an den Vergleicherausgang (3) abgibt.
Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Testmustereingabespeicher (5) und der Testmusterausgabespeicher (6) jeweils mindestens zwei Testmusterdatensätze in einer vorgegebenen Reihenfolge enthalten, wobei ein Testmusterausgabedatensatz an einer Position des Testmusterausgabespeichers (6) jeweils das Simulationsergebnis einer Simulation des elektronischen Bauteils (2) bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes mit gleicher Position des Testmustereingabespeichers (5) als Eingabe für die Simulation des elektronischen Bauteils (2) ist.
Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung einen Takteingang (13) umfasst, welcher mit dem Testmustereingabespeicher (5) verbunden ist und dass der Testmustereingabespeicher derart ausgeführt ist, dass er synchron zu einem Taktsignal, welches am Takteingang (13) anliegt, die Testmustereingabedatensätze in der vorgegebenen Reihenfolge an die Eingabeschnittstelle (14) weiterleitet.
Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Takteingang (13) mit dem Vergleicher (11) verbunden ist und dass der Vergleicher (11) derart ausgeführt ist, dass er synchron zu dem Taktsignal die Übereinstimmung eines mittels der Ausgabeschnittstelle (10) eingelesenen Bauteilausgabedatensatzes des elektronischen Bauteils mit jeweils einem Testmusterausgabedatensatz des Testmusterausgabespeichers (6) überprüft, wobei die Testmusterausgabedatensätze synchron zum Taktsignal in der vorgegebenen Reihenfolge für die Überprüfung benutzt werden.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung einen Taktgeber umfasst, welcher mit dem Takteingang (13) verbunden und derart ausgeführt ist, dass er ein Taktsignal an den Takteingang (13) der Vorrichtung abgibt.
Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung einen Taktausgang umfasst, welcher mit dem Taktgeber verbunden und derart ausgeführt ist, dass er mit einem Takteingang des elektronischen Bauteils verbunden werden kann.
Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (1) derart ausgeführt ist, dass ein elektronisches Bauteil (2), welches mindestens einen Prozessor umfasst, getestet werden kann, wobei die Vorrichtung eine Prozessorsteuerung (7) und eine damit verbundene Programmeingabeschnittstelle (3) und eine damit verbundene Programmausgabeschnittstelle (8) umfasst und die Programmausgabeschnittstelle (8) derart ausgeführt ist, dass sie mit einer Programmeingabeschnittstelle des elektronischen Bauteils (2) zum Einlesen von Prozes sorprogrammen in den Prozessor des elektronischen Bauteils (2) verbunden werden kann, wobei die Prozessorsteuerung (7) einen Programmspeicher für mindestens ein Prozessorprogramm umfasst und derart ausgeführt ist, dass sie über die Programmeingabeschnittstelle (3) mindestens ein Prozessorprogramm einlesen und in dem Programmspeicher abspeichern kann und über die Programmausgabeschnittstelle (8) ein Prozessorprogramm des Programmspeichers ausgeben kann.
Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Programmspeicher ein Prozessorprogramm enthält, welches bei einer Simulation des elektronischen Bauteils (2) als Prozessorprogramm des virtuellen Prozessors des simulierten elektronischen Bauteils verwendet wurde und der Testmusterausgabedatensatz das Ergebnis dieser Simulation bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes als Eingabe für die Simulation des elektronischen Bauteils (2) ist.
Vorrichtung nach einem der vorangegangen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (1) einen Bauteilausgabespeicher umfasst, welcher zwischen Ausgabeschnittstelle (10) und Vergleicher (11) zwischengeschaltet und derart ausgeführt ist, dass er mindestens einen an der Ausgabeschnittstelle (10) anliegenden Datensatz abspeichern kann.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 8 und Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass der Bauteilausgabespeicher mit dem Takteingang (13) verbunden und derart ausgeführt ist, dass er synchron zu einem am Takteingang (13) anliegenden Taktsignal an der Ausgabeschnittstelle (10) anliegende Datensätze abspeichern kann.
Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung über eine Steuerschnittstelle (3) verfügt, welche der art ausgeführt ist, dass sie mit einem Steuercomputer (4) verbunden werden kann, wobei die Steuerschnittstelle mit dem Testmustereingabespeicher (5) und dem Testmusterausgabespeicher (6) derart verbunden ist, dass Datensätze zwischen Steuercomputer (4) und beiden Testmusterdatenspeichern (5, 6) ausgetauscht werden können.
Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuerschnittstelle (3) mit dem Vergleicher (11) derart verbunden ist, dass das am Vergleicherausgang anliegende Signal von dem Steuercomputer (4) über die Steuerschnittstelle (3) eingelesen werden kann.
Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zumindest teilweise als Softwareimplementierung auf einem Computer ausgeführt ist.
Verfahren zum Testen eines elektronischen Bauteils mittels einer Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, folgende Schritte umfassend: A Einlesen mindestens eines Testmustereingabedatensatzes in einen Testmustereingabespeicher (5), B Einlesen mindestens eines Testmusterausgabedatensatzes in einen Testmusterausgabespeicher (6), wobei der Testmusterausgabedatensatz das Simulationsergebnis einer Simulation des elektronischen Bauteils (2) bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes als Eingabe für die Simulation des elektronischen Bauteils ist, C Anlegen des Testmustereingabedatensatzes an den Eingang des elektronischen Bauteils (15) D Auslesen des Ausgabedatensatzes des elektronischen Bauteils (2) mittels einer mit dem Ausgang (9) des elektronischen Bauteils (2) verbundenen Ausgabeschnittstelle (10) und E Vergleich des Ausgabedatensatzes mit mindestens einem Testmusterausgabedatensatz des Testmusterausgabespeichers (6).
Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass der Testmusterausgabedatensatz das Simulationsergebnis einer Testsimulation aus der Entwicklungsphase des elektronischen Bauteils (2) ist, bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes als Eingabedaten für die Simulation.
Verfahren nach einem der Ansprüche 16 oder 17, dadurch gekennzeichnet, dass in Schritt E nach dem Abgeschlossenen Vergleich bei positiver und/oder negativer Übereinstimmung des Ausgabedatensatzes mit dem Testmusterausgabedatensatz ein jeweils festgelegtes Signal ausgegeben wird.
Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass in den Testmustereingabespeicher (5) und in den Testmusterausgabespeicher (6) jeweils mindestens zwei Testmusterdatensätze eingelesen werden, derart, dass die Testmusterdatensätze in dem jeweiligen Speicher (5, 6) in einer durch das den Einlesevorgang vorgegebenen Reihenfolge abgelegt sind, wobei ein Testmusterausgabedatensatz an einer Position des Testmusterausgabespeichers (6) jeweils das Simulationsergebnis einer Simulation des elektronischen Bauteils bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes mit gleicher Position des Testmustereingabespeichers (5) als Eingabe für die Simulation des elektronischen Bauteils (2) ist.
Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass die Schritte C, D und E mindestens für jeden in dem Testmustereingabespeicher (5) abgespeicherten Testmustereingabedatensatz ausgeführt werden, wobei in Schritt E der Testmusterausgabedatensatz mit gleicher Position wie die des jeweils verwendeten Testmustereingabedatensatzes für den Vergleich verwendet wird.
Verfahren nach Anspruch 19 oder 20, dadurch gekennzeichnet, dass das Ausführen der Schritte C, D und E für ein Testmustereingabedatensatz und den Testmusterausgabedatensatz mit gleicher Position durch ein Taktsignal ausgelöst wird, wobei mit jedem Taktsignal jeweils der Testmustereingabedatensatz mit der nächsten Position und der dazugehörige Testmusterausgabedatensatz mit dieser Position für die Schritte C, D und E verwendet wird.
Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 21, folgende zusätzliche Schritte umfassend: • Einlesen eines Prozessorporgramms in eine Prozessorsteuerung (7), wobei die Prozessorsteuerung einen Programmspeicher umfasst, in den das Prozessorprogramm gespeichert wird. • Ausgeben des Prozessorprogramms aus dem Programmspeicher der Prozessorsteuerung über eine Programmausgabeschnittstelle (8) in einen Prozessor oder einen Programmspeicher des elektronischen Bauteils (2).
Verfahren nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, dass das Prozessorprogramm, welches in die Prozesssteuerung (7) eingelesen wird, bei einer Simulation des elektronischen Bauteils als Prozessorprogramm des virtuellen Prozessors des simulierten elektronischen Bauteils (2) verwendet wurde und der Testmusterausgabedatensatz das Ergebnis dieser Simulation bei Verwendung des Testmustereingabedatensatzes als Eingabe für die Simulation des elektronischen Bauteils (2) ist.
Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 23, dadurch gekennzeichnet, dass bei Schritt D der ausgelesene Ausgabedatensatz in einem Bauteil ausgabespeicher abgelegt wird und dass bei Schritt E der Ausgabedatensatz aus dem Bauteilausgabespeicher ausgelesen wird und mit mindestens einem Testmusterausgabedatensatz des Testmusterausgabespeichers (6) verglichen wird.