DE10132478C1 - Verfahren zum Abscheiden einer Metallschicht sowie Verfahren zum Regenerieren einer Metallionen in einer hohen Oxidationsstufe enthaltenden Lösung - Google Patents
Verfahren zum Abscheiden einer Metallschicht sowie Verfahren zum Regenerieren einer Metallionen in einer hohen Oxidationsstufe enthaltenden LösungInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Abscheiden einer Metallschicht sowie ein Verfahren zum Regenerieren einer Metallionen in einer hohen Oxidationsstufe enthaltenden Lösung. Zur Regenerierung von durch Metallabscheidung verbrauchten Zinnionen aus einer Zinnabscheidelösung ist es bekannt, die Abscheidelösung über metallisches Zinn zu leiten, so daß sich Zinn(II)-Ionen bilden. Allerdings steigt der Zinngehalt in derart regenerierten Bädern langsam und kontinuierlich an. Zur Lösung dieses Problems wird eine elektrolytische Regenerierzelle verwendet, die mindestens eine Hilfkathode und mindestens eine Hilfsanode aufweist. Zur Regenerierung dienendes Zinn wird in der elektrolytischen Regenerierzelle aus der Lösung auf der mindestens einen Hilfskathode elektrolytisch abgeschieden. Die Lösungt wird über das zur Regenerierung dienende Zinn geleitet, um gebildete Zinn(IV)-Ionen zu Zinn(II)-Ionen zu reduzieren.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Abscheiden einer Metallschicht, ins
besondere einer Zinn enthaltenden Schicht, vor allem zur Herstellung von Lei
terplatten und anderen elektrischen Schaltungsträgern, sowie ein Verfahren
zum Regenerieren einer Metallionen in einer hohen Oxidationsstufe, insbeson
dere Sn(IV)-Ionen, enthaltenden Lösung. Das Abscheideverfahren ist vor allem
zur Erzeugung von lötbaren Schichten und von Ätzresistschichten anwendbar
sowie zur zementativen Abscheidung von Zinnschichten insbesondere auf aus
Kupfer bestehenden Leitermustern auf Innenlagen von Leiterplatten, um die
Innenlagen haftfest miteinander zu verbinden.
Bei der Herstellung von Leiterplatten werden Zinn- und Zinnlegierungsschich
ten, insbesondere Zinn/Blei-Schichten, für unterschiedliche Zwecke auf den
Kupferoberflächen abgeschieden.
Zum einen dienen Zinn/Blei-Legierungsschichten als Lotdepot auf der Leiter
plattenoberfläche an Stellen, an denen elektronische Bauteile verlötet werden
sollen. In diesem Falle werden derartige Schichten lokal in den Bereichen auf
gebracht, in denen Anschlußdrähte oder andere Verbindungselemente der
Bauteile mit der Kupferoberfläche elektrisch verbunden werden sollen. Nach
dem die Lotbereiche auf den Kupferoberflächen gebildet worden sind, werden
die Komponenten auf die Lotdepots aufgesetzt und dort fixiert. Anschließend
wird das Lot in einem Ofen umgeschmolzen, so daß sich die elektrischen Ver
bindungen bilden.
Zinnschichten können auch als Ätzschutzschichten eingesetzt werden, bei
spielsweise um Metallmuster auf den Oberflächen der Leiterplatten zu bilden.
Hierzu wird zunächst ein Negativbild des Leiterzugmusters mit einem photo
strukturierbaren Resist auf den Kupferoberflächen gebildet. Anschließend wer
den die Zinn- oder Zinn/Blei-Legierungsschichten in den Kanälen der Resist
schicht abgeschieden. Nach dem Entfernen des Resists kann freigelegtes Kup
fer durch Ätzen entfernt werden, so daß allein die Leiterzüge und alle übrigen
Metallmuster auf den Leiterplattenoberflächen unter der Zinn- bzw. Zinn/Blei-
Schicht zurückbleiben.
Weiterhin werden Zinnschichten auch als Zwischenschichten zwischen den
Kupferoberflächen der Innenlagen von Mehrlagenschaltungen und den Dielek
trikumsflächen (meist glasfaserverstärkte Harzlagen) eingesetzt. Zur haftfesten
Verbindung der Kupferflächen mit dem Dielektrikum ist es nämlich notwendig,
die Kupferoberflächen vor dem Verpressen aufzurauhen, um eine ausreichen
de Haftfestigkeit zwischen Kupfer und Harz zu erreichen. Hierzu sind die Ober
flächen bisher mit einem sogenannten Schwarzoxidverfahren oberflächlich
oxidiert worden. Die dabei gebildete Oxidschicht ist gegen Säuren jedoch nicht
ausreichend beständig, so daß sich die beim Bohren des Leiterplattenmaterials
angeschnittenen Innenlagen unter Bildung von Delaminationen vom Harz des
Leiterplattenmaterials ablösen. Dieses Problem wird bei Verwendung von Zinn
schichten anstelle der Schwarzoxidschichten vermieden. Zur Herstellung wer
den die Zinnschichten direkt auf die Kupferoberflächen der Leiterzüge zemen
tativ abgeschieden. Bei einer Nachbehandlung werden gegebenenfalls weitere
haftvermittelnde Verbindungen auf die Zinnschichten aufgebracht (beispiels
weise eine Mischung eines Ureidosilans mit einem Disilan-Vernetzungsmittel
(EP 0 545 216 A2)), bevor die Innenlagen unter Wärmeeinwirkung und Druck
miteinander verpreßt werden.
Während die Zinn- bzw. Zinn/Blei-Legierungsschichten für die zweitgenannte
Anwendung elektrolytisch abgeschieden werden können, da keine elektrisch
isolierten Metallbereiche zu verzinnen sind, kann Zinn im erstgenannten und im
letzteren Fall nicht mit einem elektrolytischen Verfahren abgeschieden werden,
da die zu metallisierenden Kupferflächen im allgemeinen elektrisch gegenein
ander isoliert sind und eine elektrische Kontaktierung daher kaum möglich ist.
Zur Zinnabscheidung stehen aus diesem Grunde sogenannte Zementations
bäder zur Verfügung.
Aus US-A-4,715,894 ist ein derartiges Abscheidebad bekannt. Dieses Bad ent
hält zusätzlich zu einer Sn(II)-Verbindung auch eine Thioharnstoffverbindung
und eine Harnstoffverbindung. Nach EP 0 545 216 A2 können Thioharnstoff,
Harnstoff und deren Derivate auch alternativ zueinander eingesetzt werden.
Weiterhin kann die Lösung gemäß US-A-4,715,894 auch einen Komplexbild
ner, ein Reduktionsmittel sowie eine Säure enthalten. Als Sn(II)-Verbindung
wird danach beispielsweise SnSO4 eingesetzt. Nach EP 0 545 216 A2 enthält
das Bad Sn(II)-Verbindungen anorganischer (Mineral)säuren, beispielsweise
Verbindungen von Schwefel, Phosphor und Halogen enthaltenden Säuren,
oder von organischen Säuren, beispielsweise Sn(II)-Formiat und Sn(II)-Acetat.
Nach den Angaben in EP 0 545 216 A2 sind die Sn(II)-Salze der Schwefel
enthaltenden Säuren bevorzugt, also die Salze der Schwefelsäure und der
Amidoschwefelsäure. Außerdem könnten auch Alkalimetallstannate, wie
Natrium- oder Kaliumstannat, enthalten sein. Weiterhin handelt es sich bei der
Thioharnstoff- und der Harnstoffverbindung im einfachsten Falle um die unsub
stituierten Derivate Thioharnstoff bzw. Harnstoff. Bei der Abscheidung von Zinn
auf den Kupferoberflächen sollen sich nach Angaben in EP 0 545 216 A2
Cu(I)-Ionen bilden, die von Thioharnstoff komplexiert werden. Gleichzeitig wird
metallisches Zinn durch Reduktion von Sn(II)-Ionen abgeschieden. Bei dieser
Reaktion wird Kupfer aufgelöst und gleichzeitig ein Zinnüberzug auf den Kup
feroberflächen gebildet.
In EP 0 545 216 A2 wird berichtet, daß sich der Cu(I)-Thioharnstoff-Komplex in
der Lösung anreichert. Außerdem reichern sich in der Lösung Sn(IV)-Ionen
durch Oxidation von Sn(II)-Ionen an, da aus der Luft stammender Sauerstoff in
die Lösung eingetragen wird. Allerdings steigen die Konzentrationen des Cu(I)-
Thioharnstoff-Komplexes und der Sn(IV)-Ionen dann nicht über stationäre Kon
zentrationswerte hinaus an, wenn Leiterplatten zur Behandlung lediglich in die
Lösung eingetaucht werden, da Badlösung durch die Platten ständig ausgetra
gen und das Bad durch eingeschlepptes Wasser verdünnt wird. Wird die Bad
flüssigkeit allerdings über Sprühdüsen an die Kupferoberflächen gesprüht, so
wird ein wesentlich größerer Stoffumsatz, bezogen auf das Badvolumen, er
reicht. Unter diesen Bedingungen steigt die Konzentration des Cu(I)-Thio
harnstoff-Komplexes derart an, daß dessen Löslichkeitsgrenze erreicht wird
und der Komplex als Niederschlag ausfällt. Der Niederschlag verstopft die Dü
sen und bereitet in beweglichen mechanischen Teilen der Anlage Probleme.
Auch die Bildung von Sn(IV)-Verbindungen in dem Abscheidebad durch Oxida
tion der Sn(II)-Ionen mit Sauerstoff aus der Luft wird stark erhöht, da durch das
Ansprühen der Leiterplatten in verstärktem Maße Luft in die Badlösung einge
tragen wird.
In der genannten Druckschrift werden zur Abhilfe dieser Probleme Maßnahmen
vorgeschlagen: Zur Verringerung der Konzentration des Cu(I)-Thioharnstoff-
Komplexes wird ein Teil der Lösung des Abscheidebades aus dem Behand
lungsbehälter in einen weiteren Behälter überführt und dort abgekühlt, so daß
ein großer Teil des Komplexes ausfällt und somit abgetrennt werden kann. Die
vom Komplex weitgehend befreite Lösung kann dann zum Behandlungsbehäl
ter zurückgeleitet werden. Um ferner die Konzentration der Sn(IV)-Ionen in der
Abscheidelösung abzusenken, ist ein Reservoir für die Abscheidelösung vor
gesehen, in dem sich metallisches Zinn befindet. Die in diesem Reservoir ent
haltene Lösung wird an die Kupferoberflächen gesprüht, wobei die Sn(II)-Ionen
gemäß der weiter unten angegebenen Reaktionsgleichung (1) zu metallischem
Zinn reduziert werden und gleichzeitig metallisches Kupfer nach der weiter un
ten angegebenen Reaktionsgleichung (2) zu Cu(I)-Ionen oxidiert wird. Dabei
bildet sich mit Thioharnstoff bzw. dessen Derivat ein Komplex. Gleichzeitig wird
ein Teil der Sn(II)-Ionen durch den in die Lösung eingetragenen Sauerstoff
gemäß der weiter unten angegebenen Reaktionsgleichung (3) zu Sn(IV)-Ionen
oxidiert. Die gesprühte Lösung wird dann in das Reservoir wieder zurückgelei
tet. Dort reagieren die Sn(IV)-Ionen mit dem metallischen Zinn unter Bildung
der zweifachen Menge an Sn(II)-Ionen gemäß der weiter unten angegebenen
Reaktionsgleichung (4).
Allerdings hat sich herausgestellt, daß das in EP 0 545 216 A2 beschriebene
Verfahren zur Regenerierung von zementativen Zinnabscheidebädern zu einem
kontinuierlichen Anstieg des Zinngehaltes in der Lösung führt. Daher muß die
Konzentration der Sn(II)-Ionen in der Lösung ständig analytisch kontrolliert
werden. Dies ist unter Produktionsverhältnissen häufig nicht ohne weiteres
möglich und führt leicht dazu, daß die Konzentration stark schwankt. Daher
kann die Zinnabscheidung unkontrollierbar werden. Dies ist nicht akzeptabel.
Eine Abhilfe dieses Problems könnte darin bestehen, die Konzentration der
Sn(II)-Ionen automatisiert zu überwachen und bei Über- oder Unterschreitung
eines vorgegebenen Sollwertbereiches den Kontakt zwischen der Abscheide
lösung und metallischem Zinn in dem Reservoir zuzulassen bzw. zu unterbin
den. Dies ist jedoch äußerst aufwendig und erfordert einen erheblichen appara
tiven Aufwand.
Eine andere Regenerationsmethode für Zinnabscheidebäder ist in
JP 06256999 A angegeben. Zur Regeneration wird eine Regenerierzelle vor
gesehen, die eine Hilfskathode und eine Hilfsanode umfaßt, wobei Zinn auf der
Hilfskathode abgeschieden wird. Eisenverunreinigungen werden mittels eines
Ionenaustauschers und weitere Badbestandteile mittels Aktivkohle aus dem
Bad entfernt. Zur Wiederaufbereitung des Bades wird das abgeschiedene Zinn
mit der gereinigten Säure in Kontakt gebracht und durch anodische Reaktion in
dieser aufgelöst.
Der vorliegenden Erfindung liegt von daher die Aufgabe zugrunde, die genann
ten Probleme zu beheben und Mittel zu finden, mit denen eine zementative
Abscheidung von Zinn auf Kupferoberflächen möglich ist, ohne daß sich
Schwankungen des Sn(II)-Ionen-Gehaltes auf die Zinnabscheidung auswirken.
Insbesondere soll dies auch ohne erhebliche apparative Aufwendungen mög
lich sein.
Die Aufgabe wird gelöst durch das Abscheideverfahren nach Anspruch 1 sowie
das Regenerierverfahren nach Anspruch 14. Bevorzugte Ausführungsformen
der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Das erfindungsgemäße Abscheideverfahren dient zur Herstellung von Metall
schichten, insbesondere Zinn enthaltenden Schichten und bevorzugt von reinen
Zinnschichten. Das Verfahren kann auch zum Abscheiden von Schichten ein
gesetzt werden, die aus einer Zinnlegierung bestehen. Es umfaßt folgende
Verfahrensschritte:
- a) Bereitstellen eines Metallabscheidebades, insbesondere eines Zinn abscheidebades, enthaltend Metallionen in einer niedrigen Oxidations stufe, insbesondere Sn(II)-Ionen,
- b) Abscheiden der Metallschicht aus dem Metallabscheidebad auf einem Werkstück,
- c) Bereitstellen einer elektrolytischen Regenerierzelle, umfassend minde stens eine Hilfskathode und mindestens eine Hilfsanode,
- d) Elektrolytisches Abscheiden von zur Regenerierung dienendem Me tall, insbesondere metallischem Zinn, in der elektrolytischen Regenerier zelle aus dem Metallabscheidebad auf der mindestens einen Hilfskatho de,
- e) Leiten des Metallabscheidebades über das zur Regenerierung dienen de Metall, um im Metallabscheidebad enthaltene Metallionen in einer hohen Oxidationsstufe, insbesondere Sn(IV)-Ionen, zu Metallionen in der niedrigen Oxidationsstufe, insbesondere Sn(II)-Ionen, zu reduzieren.
Das erfindungsgemäße Regenerierverfahren dient zur Aufarbeitung von Lösun
gen, die Metallionen in einer hohen Oxidationsstufe, insbesondere Sn(IV)-Io
nen, enthalten, um die Metallionen in der hohen Oxidationsstufe zu Metallionen
in einer niedrigen Oxidationsstufe, insbesondere zu Sn(II)-Ionen, zu reduzie
ren. Es umfaßt folgende Verfahrensschritte:
- a) Bereitstellen einer elektrolytischen Regenerierzelle, umfassend min destens eine Hilfskathode und mindestens eine Hilfsanode,
- b) Elektrolytisches Abscheiden von zur Regenerierung dienendem Me tall, insbesondere von metallischem Zinn, in der elektrolytischen Rege nerierzelle aus der Lösung auf der mindestens einen Hilfskathode,
- c) Leiten der Lösung über das zur Regenerierung dienende Metall, um die Metallionen in der hohen Oxidationsstufe, insbesondere Sn(IV)-Io nen, zu Metallionen in der niedrigen Oxidationsstufe, insbesondere Sn(II)-Ionen, zu reduzieren.
Soweit im folgenden auf Zinn enthaltende Schichten, ein Zinnabscheidebad
bzw. eine Zinnabscheidelösung, metallisches Zinn, Sn(II)-Ionen, Sn(IV)-Ionen
und eine Zinnelektrode bzw. Zinn enthaltende Elektrode Bezug genommen
wird, so soll dies auch allgemein stellvertretend für Metallschichten, ein Metall
abscheidebad, Metall, Metallionen in einer niedrigen Oxidationsstufe, Metallio
nen in einer hohen Oxidationsstufe, eine Metallelektrode bzw. Metall enthalten
de Elektrode gelten.
Die erfindungsgemäßen Verfahren können insbesondere zur stromlosen Ab
scheidung von Zinn oder Zinnlegierungen unter Verwendung eines Reduktions
mittels, zur elektrolytischen Abscheidung von Zinn und Zinnlegierungen sowie
zur zementativen Abscheidung von Zinn oder Zinnlegierungen eingesetzt wer
den.
Unter einem zementativen Abscheideverfahren wird ein Verfahren verstanden,
bei dem das abzuscheidende Metall die zur Reduktion zur Oxidationsstufe Null
benötigten Elektronen von dem Substratmetall erhält, das gleichzeitig oxidiert
und dabei vorzugsweise aufgelöst wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren dient insbesondere zum Beschichten von
Kupferoberflächen auf Leiterplatten oder anderen Schaltungsträgern mit Zinn
enthaltenden Schichten.
Bei dem in EP 0 545 216 A2 beschriebenen Verfahren wird metallisches Zinn
zum Reservoir für die Abscheidelösung zugegeben, um Sn(IV)-Ionen zu Sn(II)-
Ionen umzuwandeln. Im Gegensatz hierzu wird das zur Regenerierung einge
setzte metallische Zinn bei Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens
mittels elektrolytischer Abscheidung aus dem Zinnabscheidebad selbst her
gestellt. Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren werden daher Schwankungen
des Gehaltes der Sn(II)-Ionen im Abscheidebad vermieden. Dies läßt sich fol
gendermaßen erklären:
Bei der Abscheidung von Zinn aus einem stromlosen, zementativen oder elek
trolytischen Zinnbad läuft die nachfolgend angegebene Reaktion ab:
Sn2+ + 2e- → 2Sn (1)
Bei einem elektrolytischen Abscheideverfahren stammen die Elektronen von
einer äußeren Stromquelle und werden über die Kathode an die Sn(II)-Ionen
geliefert. Im Falle einer stromlosen Zinnabscheidung werden die zur Metall
abscheidung benötigten Elektronen von einem Reduktionsmittel zur Verfügung
gestellt. Bei einem zementativen Abscheideverfahren stammen die Elektronen
von dem sich auflösenden Grundmetall, im vorliegenden Fall Kupfer, auf dem
Zinn abgeschieden wird:
2Cu → 2Cu+ + 2e- (2)
In einer störenden Nebenreaktion werden in diesen Bädern Sn(II)-Ionen durch
den aus der Luft stammenden Sauerstoff zu Sn(IV)-Ionen oxidiert:
Sn2+ + ½O2 + H2O → Sn4+ + 2OH- (3)
Die gebildeten Sn(IV)-Ionen neigen zur Ausfällung von Zinnstein (SnO2). Die
hiermit verbundenen Probleme bestehen unter anderem darin, daß Sprühdü
sen zur Förderung der Abscheidelösung an die Kupferoberflächen verstopfen
können und daß die Funktion beweglicher Teile in der Behandlungsanlage
durch den ausfallenden Feststoff beeinträchtigt oder die Teile sogar beschädigt
werden können. Ferner haben die Sn(IV)-Ionen auch die nachteilige Eigen
schaft, daß die nach Reaktionsgleichung (1) frisch abgeschiedene Zinnschicht
gemäß weiter unten angegebener Reaktionsgleichung (4) von den Sn(IV)-Ionen
angegriffen wird und daher zumindest teilweise wieder aufgelöst werden kann.
Durch das In-Kontakt-Bringen der Abscheidelösung mit metallischem Zinn wer
den in der Lösung enthaltene Sn(IV)-Ionen nach folgender Reaktionsgleichung
zu Sn(II)-Ionen reduziert, wobei metallisches Zinn aufgelöst wird (Synproportio
nierung):
Sn4+ + Sn → 2Sn2+ (4)
Das bedeutet, daß für jedes gebildete Sn(IV)-Ion zwei Sn(II)-Ionen gebildet
werden. Daher steigt der Zinngehalt in der Abscheidelösung allmählich an,
wenn das Regenerierverfahren gemäß EP 0 545 216 A2 angewendet wird.
Dagegen stammt das zur Reduktion der Sn(IV)-Ionen verwendete metallische
Zinn bei Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens durch die elektroly
tische Abscheidung aus der Zinnabscheidelösung selbst. Daher wird die Zinn-
Bilanz des Bades durch die Regenerierung gemäß Gleichung (4) nicht gestört.
Da auch das zur Regenerierung verwendete metallische Zinn gemäß Gleichung
(1) aus Sn(II)-Ionen gebildet wird und somit die Konzentration der Sn(II)-Ionen
durch elektrolytische Abscheidung zunächst abgesenkt wird, werden die sowohl
durch diese Reaktion (1) als auch durch die Nebenreaktion (3) verbrauchten
Sn(II)-Ionen durch die Regenerierungsreaktion (4) wieder erzeugt. Daher bleibt
der Gehalt an Sn(II)-Ionen konstant.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren ist es daher möglich, die nachteiligen
Folgen der Bildung von Sn(IV)-Ionen zu vermeiden und gleichzeitig die Sn(II)-
Ionen aus den Sn(IV)-Ionen ohne erheblichen apparativen und analytischen
Aufwand zu regenerieren.
Die Abscheidelösung enthält im wesentlichen mindestens eine Sn(II)-Verbin
dung, mindestens eine Verbindung aus der Gruppe, umfassend Thioharnstoff,
Harnstoff und dessen Derivate, sowie mindestens eine Säure. Falls eine Zinn
legierung abgeschieden wird, enthält die Lösung zusätzlich mindestens ein Salz
des zusätzlich abzuscheidenden Metalls, beispielsweise ein Nickel-, Blei-,
Quecksilber- oder Goldsalz. Außerdem können in der Zinnabscheidelösung
auch Komplexbildner, Reduktionsmittel sowie weitere Bestandteile, wie Stabili
satoren zur Steuerung der Abscheidung und zur Stabilisierung der Abscheide
lösung gegen Zersetzung sowie Netzmittel, enthalten sein. Im allgemeinen ist
die Lösung wäßrig, d. h. das in der Lösung enthaltene Lösungsmittel besteht zu
mindestens 50 Vol.-% aus Wasser. Im übrigen können auch organische Lö
sungsmittel, beispielsweise Alkohole und Etherester, enthalten sein.
Die Sn(II)-Verbindung ist vorzugsweise ein Sn(II)-Salz einer anorganischen
(Mineral)säure, beispielsweise einer Schwefel, Phosphor und Halogen enthal
tenden Säure, wobei allerdings Halogenwasserstoffsäuren wegen deren korro
siver Wirkung und der Neigung zum Einbau von Zinnhalogeniden in das abge
schiedene Zinn möglichst vermieden werden. Ferner kann die Sn(II)-Verbin
dung auch das Sn(II)-Salz einer organischen Säure sein, beispielsweise Sn(II)-
Formiat, Sn(II)-Acetat und deren Homologe, sowie das Salz einer aromati
schen Säure, insbesondere Sn(II)-Benzoat. Bevorzugt sind die Sn(II)-Salze der
Schwefel enthaltenden Säuren, also die Salze der Schwefelsäure und der Ami
doschwefelsäure (SnSO4 und Sn(OSO2NH2)2). Außerdem können auch Alkali
metallstannate, wie Natrium- oder Kaliumstannat, enthalten sein.
Sofern eine Zinnlegierung abgeschieden wird, enthält die Zinnabscheidelösung
zusätzlich mindestens eine Verbindung des weiteren Legierungsmetalls, bei
spielsweise ein Nickel-, Blei-, Quecksilber- oder Goldsalz, wobei für diese Salze
dieselben Anionen wie für die Zinnsalze eingesetzt werden können.
Bezüglich der Sn(II)-Verbindungen sowie der Verbindungen weiterer Legie
rungsmetalle wird auf US-A-4,715,894 verwiesen. Die dort angegebenen Ver
bindungen werden als Offenbarung in die vorliegende Anmeldung mit aufge
nommen.
Die in der Zinnabscheidelösung enthaltene Säure ist vorzugsweise eine Mi
neralsäure, kann allerdings auch eine organische Säure sein, wobei das Säu
reanion im allgemeinen identisch ist mit dem des Zinnsalzes und gegebenen
falls mit dem der Salze der weiteren Legierungsmetalle.
Als Thioharnstoff- und Harnstoffverbindungen werden insbesondere die unsub
stituierten Derivate (Thioharnstoff, Harnstoff) eingesetzt, wobei meist lediglich
Thioharnstoff und/oder dessen Derivate in der Lösung enthalten sind. Geeigne
te Derivate von Thioharnstoff und von Harnstoff sind in US-A-4,715,894 ange
geben. Die dort angegebenen Derivate werden als Offenbarung in die vorlie
gende Anmeldung mit aufgenommen.
Weiterhin können Komplexbildner in der Zinnabscheidelösung enthalten sein,
wobei insbesondere die in Kirk-Othmer, Encyclopedia of Chemical Technology,
3rd Edition Volume 5, Seiten 339-368 angegebenen geeignet sind. Die dort
genannten Komplexbildner werden als Offenbarung in die vorliegende Anmel
dung mit aufgenommen. Insbesondere können Aminocarbonsäuren und Hy
droxycarbonsäuren verwendet werden. Bestimmte Beispiele geeigneter Verbin
dungen sind in US-A-4,715,894 genannt. Die dort angegebenen Komplexbild
ner werden als Offenbarung in die vorliegende Anmeldung mit aufgenommen.
Weiterhin können Reduktionsmittel enthalten sein, wobei insbesondere Aldehy
de, beispielsweise Formaldehyd und Acetaldehyd, eingesetzt werden können.
Weitere Reduktionsmittel sind in US-A-4,715,894 angegeben. Die dort angege
benen Reduktionsmittel werden als Offenbarung in die vorliegende Anmeldung
mit aufgenommen.
Als Netzmittel können sowohl anionische, kationische als auch amphotere
Netzmittel verwendet werden. Wesentlich ist lediglich, daß die Netzmittel ge
eignet sind, die Oberflächenspannung der Abscheidelösung in ausreichendem
Maße abzusenken.
Das zur Regenerierung verwendete metallische Zinn kann auf einer inerten
Hilfskathode abgeschieden werden. Hierunter ist eine separate Elektrode zu
verstehen, die aus einem bei anodischer Polarisierung der Elektrode in der
Zinnabscheidelösung gegen Auflösung beständigen Material besteht. Insbeson
dere kann die Hilfskathode aus platiniertem Titan bestehen.
Die Hilfskathode kann als Platte, Rohr, Streckmetall oder als geformter Körper,
beispielsweise als mit Rippen versehene Platte ausgebildet sein. Die Hilfska
thode kann auch in Form kleinerer Stücke vorliegen, beispielsweise in Form
von Kugeln, etwa mit einem Durchmesser von wenigen Millimetern bis wenigen
Zentimetern. Im letzteren Falle können diese Stücke beispielsweise in einem
separaten Behälter untergebracht sein, der von der Abscheidelösung durch
strömt wird. Beispielsweise können die Stücke hierzu auf einer perforierten
Bodenplatte in einem Turm untergebracht sein, der von unten durch die Boden
platte hindurch von der Abscheidelösung durchströmt wird. Durch die Ausbil
dung der Hilfskathode in Form kleinerer Stücke wird die Umsetzungsgeschwin
digkeit der Sn(IV)-Ionen zu Sn(II)-Ionen erheblich erhöht.
Wird eine inerte Hilfskathode verwendet, kann bei der Regenerierungsreaktion
gemäß Reaktionsgleichung (4) maximal die aus dem Bad zuvor abgeschiedene
Zinnmenge wieder aufgelöst werden. Daher kann das Bad auch ohne aufwen
dige analytische Badüberwachung kontinuierlich regeneriert werden, wobei es
entgegen dem Verfahren gemäß EP 0 545 216 A2 zu keiner Anreicherung von
Zinn im Bad kommt.
Wird zur Abscheidung von Zinn beispielsweise auf platiniertem Titan als Hilfs
kathode eine ausreichend hohe kathodische Stromdichte (beispielsweise
8 A/dm2) eingestellt, so entsteht ein Zinnüberzug in Form von flachen, schup
penartigen Kristallen. Diese Kristallform weist eine sehr große Oberfläche auf,
die für die Regenerierungsreaktion gemäß Gleichung (4) hervorragend geeignet
ist, da mit ihr eine sehr große Oberfläche, bezogen auf das Gewicht von Zinn,
zur Verfügung steht. In einem vorgegebenen Volumen der Abscheidelösung
kann somit eine große Oberfläche von abgeschiedenem Zinn bereitgestellt
werden. Ein ähnliches schuppenartiges Abscheideverhalten wird beim Einstel
len einer hohen Stromdichte an der Hilfskathode auch bei Verwendung einer
Hilfskathode beobachtet, die aus Kupfer oder einer Kupferlegierung, beispiels
weise mit Silber, hergestellt ist. Gegenüber inerten Materialien, beispielsweise
platiniertem Titan, hat Kupfer den Vorteil, daß es billiger ist. Allerdings ist die
ses Material in einer chemischen Zinnabscheidelösung nur begrenzt haltbar.
Die Hilfskathode steht mit der Abscheidelösung in elektrischem Kontakt. Wei
terhin ist auch eine Hilfsanode vorgesehen, die mit der Abscheidelösung direkt
oder über eine weitere Lösung in elektrischem Kontakt steht. Durch Anlegen
einer Spannung zwischen der Hilfskathode und der Hilfsanode kann ein Strom
fluß zwischen diesen beiden Elektroden erzeugt werden, wobei die Hilfskatho
de kathodisch und die Hilfsanode anodisch polarisiert werden, wenn Zinn auf
der Hilfskathode abgeschieden werden soll. Wird auf der Hilfskathode abge
schiedenes Zinn direkt zur Regenerierung der Zinnabscheidelösung eingesetzt,
so ist die Hilfskathode während des eigentlichen Regenerierungsvorganges
kathodisch nicht zu polarisieren, um die Zinnauflösung von der Hilfskathode zu
ermöglichen. Daher wird die Hilfskathode bei dieser Verfahrensweise nur inter
mittierend kathodisch geschaltet, und zwar immer dann, wenn Zinn auf der
Hilfskathode abgeschieden werden soll. Sobald Zinn in ausreichender Menge
auf der Hilfskathode abgeschieden ist, wird die elektrische Verbindung zwi
schen der Hilfskathode und der Hilfsanode unterbrochen, um den Abscheide
vorgang anzuhalten. Unter diesen Bedingungen findet dann die Auflösungs
reaktion gemäß Reaktionsgleichung (4) statt, wobei die Abscheidelösung mit
der Hilfskathode in Kontakt zu bringen ist. Sobald nur noch wenig oder über
haupt kein Zinn an der Hilfskathode mehr vorhanden ist, kann auf dieser Elek
trode wieder Zinn abgeschieden werden.
Das auf der Hilfskathode gebildete metallische Zinn kann für die Regenerie
rungsreaktion entweder direkt verwendet werden, indem die Abscheidelösung
mit der mit metallischem Zinn überzogenen Hilfskathode in Kontakt gebracht
wird, oder das auf der Hilfskathode abgeschiedene Zinn kann von dieser Elek
trode mechanisch entfernt und nach der Entfernung mit dem Zinnabscheidebad
in Kontakt gebracht werden.
Zum mechanischen Entfernen von auf der Hilfskathode abgeschiedenem Zinn
wird die Hilfskathode vorzugsweise aus der Anlage entfernt und das dort
schuppenartig aufgewachsene Metall abgestreift. Das abgetrennte Zinn kann
dann in den Behandlungsbehälter für die Leiterplatten oder ein Reservoir gege
ben werden, das die Zinnabscheidelösung enthält. Im Behandlungsbehälter
oder Reservoir löst sich das Zinn unter Bildung von Sn(II)-Ionen auf, wobei
Sn(IV)-Ionen verbraucht werden. Sobald die gesamte Menge oder zumindest
fast die gesamte Menge von in den Behälter oder das Reservoir gegebenem
Zinn aufgelöst ist, kann weiteres Zinn, das auf der Hilfskathode elektrolytisch
abgeschieden worden ist, nachgegeben werden.
Die Geschwindigkeit der Auflösung von Zinn von der Hilfskathode selbst oder
von von der Hilfskathode entferntem und in den Behandlungsbehälter oder ein
Reservoir gegebenem metallischem Zinn in der Abscheidelösung hängt von
einer Vielzahl von Parametern ab: Die Auflösungsgeschwindigkeit von Zinn wird
u. a. von der Zusammensetzung des Abscheidebades sowie von dessen Tem
peratur, von der Morphologie von elektrolytisch abgeschiedenem Zinn, der geo
metrischen Oberfläche der Hilfskathode und von den Strömungsverhältnissen
in unmittelbarer Nähe von sich auflösendem Zinn beeinflußt. Damit kann die
Geschwindigkeit optimiert werden. Es wird angestrebt, daß ständig eine maxi
male Auflösungsgeschwindigkeit erreicht wird, da unter diesen Bedingungen
Sn(IV)-Ionen praktisch quantitativ zu Sn(II)-Ionen reduziert werden. Dadurch ist
es möglich, den Gehalt an Sn(IV)-Ionen in der Abscheidelösung zu minimieren.
Die Auflösungsgeschwindigkeit ist umso größer je größer die Säurekonzen
tration im Zinnabscheidebad, je höher die Temperatur des Bades, je größer die
Oberfläche von auf der Hilfskathode abgeschiedenem Zinn, bezogen auf des
sen Gewicht, je größer die geometrische Oberfläche der Hilfskathode und je
stärker die Konvektion der Abscheidelösung in unmittelbarer Nähe von sich
auflösendem Zinn ist.
Zur Optimierung des erfindungsgemäßen Verfahrens kann der die Hilfsanode
umgebende Raum (Anodenraum) in der elektrolytischen Regenerierzelle von
dem die Hilfskathode umgebenden Raum (Kathodenraum) durch eine Mem
bran abgetrennt sein. Die Membran ist vorzugsweise derart beschaffen, daß
Kationen (Sn(II)-Ionen und Sn(IV)-Ionen) nicht hindurchtreten können. Daher
kann für die Membran insbesondere eine Anionenaustauschermembran oder
eine monoselektive Ionenaustauschermembran ausgewählt werden. Im Ano
denraum befindet sich in einer besonders bevorzugten Ausführungsform des
erfindungsgemäßen Verfahrens eine Säure, wobei die Säure in der Abscheide
lösung im Kathodenraum identisch sein kann mit der Säure, die im Anoden
raum enthalten ist. Allerdings wird auch ein sehr gutes Regenerierungsergeb
nis erhalten, wenn unterschiedliche Säuren in der Zinnabscheidelösung und in
der im Anodenraum enthaltenden Lösung verwendet werden. Gute Ergebnisse
werden beispielsweise mit einer Methansulfonsäure enthaltenden Zinnabschei
delösung und mit einer Schwefelsäurelösung im Kathodenraum erhalten. Zwi
schen dem Kathodenraum und dem Bereich, in dem Zinn enthaltende Schich
ten auf den Leiterplatten abgeschieden werden, besteht Flüssigkeitsaustausch.
Durch diese weiteren Verbesserungen des erfindungsgemäßen Verfahrens
wird vermieden, daß das Zinnabscheidebad mit der Hilfsanode in direkten Kon
takt tritt. Daher wird verhindert, daß sich an der Hilfsanode Sn(IV)-Ionen bilden
und der Wirkungsgrad der Regenerierung daraufhin abgesenkt wird. Beispiels
weise kann die Hilfsanode in einen Anodenraum eintauchen, der durch eine
Anionenaustauschermembran von dem die Hilfskathode umgebenden Katho
denraum getrennt ist. Die Abscheidelösung im Kathodenraum, die beispiels
weise insbesondere SnSO4 und H2SO4 enthält, kann nicht in die Nähe der Hilfs
anode gelangen, da die Membran einen Durchtritt von Sn(II)-Ionen verhindert.
In den Anodenraum wird vorzugsweise eine Lösung der Säure gegeben, die
auch im Kathodenraum enthalten ist. Im vorliegenden Beispiel würde es sich
bei der Säure um H2SO4 handeln. Elektroneutralität bei Stromfluß zwischen
beiden Räumen wird durch Überführung von Sulfatanionen sowie durch die
entsprechenden Elektrodenreaktionen gewährleistet, also durch die Zinnab
scheidereaktion an der Hilfskathode gemäß Reaktionsgleichung (1) und eine
Oxidationsreaktion an der Hilfsanode, bei der Sauerstoff gemäß Reaktions
gleichung (5) aus Wasser gebildet wird:
2H2O → 2H+ + 2e- + O2 (5)
Da ein Kontakt der Sn(II)-Ionen mit der Hilfsanode verhindert wird, kann eine
Oxidation von Sn(II)-Ionen gemäß folgender Reaktionsgleichung:
Sn2+ → Sn4+ + 2e- (6)
nicht stattfinden.
Alternativ kann die Hilfsanode mit der Zinnabscheidelösung auch direkt in Kon
takt treten. Um auch in diesem Falle eine Oxidation der Sn(II)-Ionen gemäß
Reaktionsgleichung (6) zu vermeiden, muß eine ausreichend hohe Konzen
trationsüberspannung für diese Reaktion geschaffen werden. Dies kann bei
spielsweise durch eine geeignete geometrische Anordnung der Hilfsanode rela
tiv zur Hilfskathode realisiert werden: Eine Verarmung der Lösung an Sn(II)-
Ionen in unmittelbarer Umgebung der Hilfskathode, die zu der Konzentrations
überspannung führen kann, wird beispielsweise auch dadurch erreicht, daß der
Anodenraum in einem vom Kathodenraum getrennten Behälter untergebracht
ist, wobei beide Räume durch ein Rohr mit relativ geringem Durchmesser mit
einander verbunden sind.
Weiterhin kann eine Konzentrationsüberspannung im oben genannten Sinne
auch dadurch erreicht werden, daß die Stromdichte an der Hilfsanode erheblich
erhöht wird, so daß Sn(II)-Ionen in unmittelbarer Umgebung der Hilfsanode
praktisch nicht mehr zur Verfügung stehen. Statt der Oxidation der Sn(II)-Ionen
zu Sn(IV)-Ionen wird unter diesen Bedingungen Wasser zu Sauerstoff oxidiert.
Eine Erhöhung der Stromdichte an der Hilfsanode kann beispielsweise durch
Verringerung der Oberfläche der Hilfsanode relativ zu Oberfläche der Hilfska
thode erreicht werden.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung kann mindestens eine das
abzuscheidende Zinn enthaltende Elektrode, also beispielsweise eine Elektrode
aus metallischem Zinn, mit dem Zinnabscheidebad in Kontakt gebracht werden.
Diese Zinnelektrode wird gegenüber einer weiteren Elektrode anodisch polari
siert, so daß sich die Zinnelektrode zumindest teilweise auflöst. Beispielsweise
kann eine derartige lösliche Zinnelektrode aus geschütteten Kugeln bestehen,
die sich in einem geeigneten Behälter, beispielsweise einem Titankorb, befin
den.
In diesem Falle wird die Zinnelektrode gegenüber der weiteren Elektrode zu
mindest intermittierend anodisch geschaltet, so daß metallisches Zinn unter
Bildung von Sn(II)-Ionen aufgelöst wird.
Bei Verwendung der löslichen Zinnelektrode besteht die Möglichkeit, durch die
elektrolytische Abscheidungsreaktion verbrauchte Sn(II)-Ionen nachzulösen,
um den Gesamt-Zinngehalt in der Abscheidelösung konstant zu halten. Sobald
beim anodischen Nachlösevorgang der gewünschte Gehalt der Sn(II)-Ionen
erreicht ist, kann die anodische Auflösungsreaktion an der Zinnelektrode an
gehalten werden, indem der Stromfluß unterbrochen wird. Nach dem Unter
brechen der Stromzufuhr zur löslichen Zinnelektrode können Sn(IV)-Ionen auch
an dieser Elektrode reduziert werden, indem sie mit dem metallischem Zinn der
Elektrode zu Sn(II)-Ionen reagieren.
Allerdings muß der Zinngehalt in der Abscheidelösung, namentlich die Konzen
tration der Sn(II)-Ionen, bei Anwendung von Zinnelektroden analytisch genau
überwacht werden, da es sonst durch Auflösung der Zinnelektroden zu einer
Anhebung des Zinngehaltes in der Abscheidelösung über den Sollwert hinaus
kommen kann. Eine automatische Begrenzung der Auflösung von metallischem
Zinn von der Zinnelektrode wie bei ausschließlicher Anwendung einer inerten
Hilfskathode ist hier nicht gegeben.
Die Zinnabscheidelösung kann auf unterschiedliche Weise mit dem Behand
lungsgut in Kontakt gebracht werden: Bei konventioneller Verfahrensweise wird
das Behandlungsgut in ein Bad der Abscheidelösung eingetaucht, das in einem
Behälter enthalten ist. In diesem Falle befindet sich die Anordnung mit Hilfs
kathode und Hilfsanode entweder ebenfalls in dem Behälter in einem freien
Raum, oder diese Anordnung wird in einem separaten Behälter untergebracht,
der von der Abscheidelösung durchflossen wird. Hierzu sind Flüssigkeitsleitun
gen zwischen dem Behandlungsbehälter und diesem weiteren Regenerierbe
hälter vorgesehen, in denen die Abscheidelösung zwischen dem Behandlungs
behälter und dem Regenerierbehälter im Kreislauf geführt werden kann.
Weiterhin kann das Behandlungsgut in einer sogenannten Horizontalanlage mit
einer Beschichtungskammer behandelt werden. Das Behandlungsgut wird in
der Horizontalanlage in horizontaler Transportrichtung durch die Kammer be
fördert. Die Abscheidelösung wird in diesem Falle über Düsen, beispielsweise
Sprühdüsen, Schwalldüsen, Spritzdüsen o. dgl., an die Kupferoberflächen des
Behandlungsgutes gefördert, während das Gut durch die Kammer befördert
wird. Hierzu wird die Lösung in einem Reservoir aufbewahrt und von dort mit
tels Pumpen zu den Düsen geleitet. Nach dem Kontakt der Abscheidelösung
mit den Kupferoberflächen fließt diese in Auffangbehälter ab und gelangt über
Flüssigkeitsleitungen zum Reservoir wieder zurück. Die Anordnung mit Hilfs
kathode und Hilfsanode ist in diesem Falle entweder in dem Reservoir oder in
einem separaten Regenerierbehälter untergebracht.
Claims (15)
1. Verfahren zum Abscheiden einer Metallschicht, umfassend folgende Verfah
rensschritte:
- a) Bereitstellen eines Metallabscheidebades, enthaltend Metallionen in einer niedrigen Oxidationsstufe,
- b) Abscheiden der Metallschicht aus dem Metallabscheidebad auf einem Werkstück,
- c) Leiten des Metallabscheidebades über zur Regenerierung dienendes Metall, um im Metallabscheidebad enthaltene Metallionen in einer hohen Oxidationsstufe zu Metallionen in einer niedrigen Oxidationsstufe zu re duzieren,
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren
zum Abscheiden von Zinn enthaltenden Schichten dient, daß die Metallionen in
der niedrigen Oxidationsstufe Sn(II)-Ionen und die Metallionen in der hohen
Oxidationsstufe Sn(IV)-Ionen sind und daß das Metall metallisches Zinn ist.
3. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich
net, daß die mindestens eine Hilfskathode aus Kupfer oder einer Kupferlegie
rung hergestellt ist.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die mindestens eine Hilfskathode aus einem inerten Material besteht.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die mindestens
eine Hilfskathode aus platiniertem Titan besteht.
6. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich
net, daß das Metall durch Einstellung der kathodischen Stromdichte auf der
mindestens einen Hilfskathode schuppenartig abgeschieden wird.
7. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich
net, daß auf der mindestens einen Hilfskathode abgeschiedenes Metall mecha
nisch entfernt und das Metall nach dessen Entfernung mit dem Metallabschei
debad in Kontakt gebracht wird, um im Metallabscheidebad enthaltene Metallio
nen in einer hohen Oxidationsstufe zu Metallionen in einer niedrigen Oxida
tionsstufe zu reduzieren.
8. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich
net, daß die mindestens eine Hilfsanode durch eine Membran gegenüber dem
die mindestens eine Hilfskathode umgebenden Raum abgetrennt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Membran
so beschaffen ist, daß Metallionen nicht hindurchtreten können.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 und 9, dadurch gekennzeichnet,
daß als Membran eine Anionenaustauschermembran oder eine monoselektive
Ionenaustauschermembran ausgewählt wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 10, dadurch gekennzeichnet,
daß in den die mindestens eine Hilfsanode umgebenden Raum eine Säure
gegeben wird.
12. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß mindestens eine das abzuscheidende Metall enthaltende Elek
trode mit dem Metallabscheidebad in Kontakt gebracht wird und daß die minde
stens eine Elektrode gegenüber mindestens einer weiteren Elektrode anodisch
polarisiert wird, so daß sich die mindestens eine das abzuscheidende Metall
enthaltende Elektrode zumindest teilweise auflöst.
13. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Werkstück zum Abscheiden der Metallschicht in horizontaler
Richtung durch eine Beschichtungskammer geführt wird.
14. Verfahren zum Regenerieren einer Metallionen in einer hohen Oxidations
stufe enthaltenden Lösung, bei dem die Lösung über zur Regenerierung die
nendes Metall geleitet wird, um die Metallionen in der hohen Oxidationsstufe zu
Metallionen in einer niedrigen Oxidationsstufe zu reduzieren, mit der Maßgabe
daß eine elektrolytische Regenerierzelle, umfas
send mindestens eine Hilfskathode und mindestens eine Hilfsanode, vorgese
hen wird und daß das zur Regenerierung dienende Metall aus der Lösung auf
der mindestens einen Hilfskathode elektrolytisch abgeschieden wird.
15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfah
ren zum Regenerieren von Zinn enthaltenden Schichten dient, daß die Metallio
nen in der niedrigen Oxidationsstufe Sn(II)-Ionen und die Metallionen mit der
hohen Oxidationsstufe Sn(IV)-Ionen sind und daß das Metall metallisches Zinn
ist.
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102009060676A1 (de) | 2009-12-28 | 2011-06-30 | Atotech Deutschland GmbH, 10553 | Verfahren und Vorrichtung zum nasschemischen Behandeln von Behandlungsgut |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005011312A2 (en) | 2003-07-16 | 2005-02-03 | Interdigital Technology Corporation | Method and system for transferring information between network management entities of a wireless communication system |
| EP1630252A1 (de) * | 2004-08-27 | 2006-03-01 | ATOTECH Deutschland GmbH | Verfahren zur beschichtung von Substraten enthaltend Antimonverbindungen mit Zinn und Zinnlegierungen |
| JP4998704B2 (ja) | 2007-01-22 | 2012-08-15 | 上村工業株式会社 | 置換錫合金めっき皮膜の形成方法、置換錫合金めっき浴及びめっき性能の維持方法 |
| EP2298960A1 (de) | 2009-08-24 | 2011-03-23 | ATOTECH Deutschland GmbH | Verfahren zum stromlosen Abscheiden von Zinn und Zinnlegierungen |
| CN102586851B (zh) * | 2011-01-06 | 2015-03-04 | 宝山钢铁股份有限公司 | 一种缓解并减少镀锡溶液产生锡泥的电解方法 |
| EP2671968B1 (de) * | 2012-06-05 | 2014-11-26 | ATOTECH Deutschland GmbH | Verfahren und Regenerierungsvorrichtung zur Regenerierung einer Plattierungszusammensetzung |
| CN106868577B (zh) * | 2015-05-12 | 2018-06-08 | 江苏理工学院 | 减少污染的超临界复合电铸体系回收利用装置 |
| CN106011810B (zh) * | 2016-06-02 | 2019-01-11 | 东莞市智源电子科技有限公司 | 铜基材的化学锡镀液中四价锡的去除工艺 |
| KR102404045B1 (ko) * | 2016-10-24 | 2022-05-30 | 아토테크 도이칠란트 게엠베하 운트 콤파니 카게 | 금속 기판 상에 주석 층을 성막하는 방법 및 상기 방법에 의한 상기 주석 층 및 니켈/인 합금 하부층을 포함하는 구조체의 용도 |
| CN110387540A (zh) * | 2019-08-30 | 2019-10-29 | 江苏上达电子有限公司 | 一种化锡槽内二价锡的补充系统及方法 |
| CN111676470A (zh) * | 2020-05-29 | 2020-09-18 | 广东天承科技有限公司 | 一种简易可溶性的高价锡的还原方法 |
| CN114232030B (zh) * | 2021-12-23 | 2023-04-18 | 广东鑫菱环境科技有限公司 | 一种pcb甲基磺酸退锡废液循环再生方法 |
| CN119384526A (zh) * | 2022-11-28 | 2025-01-28 | 株式会社村田制作所 | 镀覆组合物的再生方法和再生装置 |
| CN116288292A (zh) * | 2023-03-20 | 2023-06-23 | 聂柱根 | 一种化学锡药水锡还原再生除铜装置 |
| WO2025164402A1 (ja) * | 2024-01-30 | 2025-08-07 | 株式会社村田製作所 | めっき組成物およびその製造方法 |
| WO2025169771A1 (ja) * | 2024-02-06 | 2025-08-14 | 株式会社村田製作所 | めっき組成物の製造方法および製造装置 |
| WO2025249197A1 (ja) * | 2024-05-30 | 2025-12-04 | 株式会社村田製作所 | めっき組成物の製造方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4715894A (en) * | 1985-08-29 | 1987-12-29 | Techno Instruments Investments 1983 Ltd. | Use of immersion tin and tin alloys as a bonding medium for multilayer circuits |
| EP0545216A2 (de) * | 1991-11-27 | 1993-06-09 | Mcgean-Rohco, Inc. | Verfahren zur Verlängerung der Benutzbarkeit eines Metallisierungsbades nach der Antauschmethode |
| JPH06256999A (ja) * | 1993-03-05 | 1994-09-13 | Kawasaki Steel Corp | 錫めっき液を回収再生する方法 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1527576A (en) * | 1923-02-19 | 1925-02-24 | Wheeling Steel & Iron Company | Process of coating conducting materials with tin |
| US3784455A (en) * | 1971-12-28 | 1974-01-08 | Western Electric Co | Methods of electrolytic regenerative etching and metal recovery |
| DE2401719B2 (de) * | 1974-01-15 | 1978-01-19 | Vereinigte Aluminium Werke Ag, 5300 Bonn | Verfahren zur regenerierung und standzeiterhoehung von zinnhaltigen metallsalzloesungen, die zur elektrolytischen faerbung von anodisiertem aluminium unter einwirkung von wechselstrom eingesetzt werden |
| JPS5226315A (en) * | 1975-08-25 | 1977-02-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | Process for the recovery of silver from fixer |
| DE2742718C2 (de) * | 1977-09-22 | 1984-04-19 | ESTEL HOOGOVENS B.V., 1970 Ijmuiden | Verfahren und Vorrichtung zur Regenerierung eines Verzinnungselektrolyten |
| US4432844A (en) * | 1982-01-28 | 1984-02-21 | Fujisash Company | Process for regeneration of electrolyte containing tin salts by reducing the same |
| DE3634710A1 (de) * | 1986-10-11 | 1988-04-21 | Ver Glaswerke Gmbh | Vorrichtung zum vakuumbeschichten einer glasscheibe durch reaktive kathodenzerstaeubung |
| US6280596B1 (en) * | 1995-05-23 | 2001-08-28 | Weirton Steel Corporation | Electrolytic tinplating of steel substrate and apparatus |
| US5705048A (en) * | 1996-03-27 | 1998-01-06 | Oxley Research, Inc. | Apparatus and a process for regenerating a CUCl2 etchant |
| DE19719020A1 (de) * | 1997-05-07 | 1998-11-12 | Km Europa Metal Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Regenerieren von Verzinnungslösungen |
| US6251255B1 (en) * | 1998-12-22 | 2001-06-26 | Precision Process Equipment, Inc. | Apparatus and method for electroplating tin with insoluble anodes |
| JP3455709B2 (ja) * | 1999-04-06 | 2003-10-14 | 株式会社大和化成研究所 | めっき方法とそれに用いるめっき液前駆体 |
-
2001
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- 2002-06-26 MY MYPI20022395A patent/MY130423A/en unknown
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4715894A (en) * | 1985-08-29 | 1987-12-29 | Techno Instruments Investments 1983 Ltd. | Use of immersion tin and tin alloys as a bonding medium for multilayer circuits |
| EP0545216A2 (de) * | 1991-11-27 | 1993-06-09 | Mcgean-Rohco, Inc. | Verfahren zur Verlängerung der Benutzbarkeit eines Metallisierungsbades nach der Antauschmethode |
| JPH06256999A (ja) * | 1993-03-05 | 1994-09-13 | Kawasaki Steel Corp | 錫めっき液を回収再生する方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102009060676A1 (de) | 2009-12-28 | 2011-06-30 | Atotech Deutschland GmbH, 10553 | Verfahren und Vorrichtung zum nasschemischen Behandeln von Behandlungsgut |
| WO2011079950A1 (de) | 2009-12-28 | 2011-07-07 | Atotech Deutschland Gmbh | Verfahren und vorrichtung zum nasschemischen behandeln von behandlungsgut |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| ATE289633T1 (de) | 2005-03-15 |
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