DE10050540A1 - Verfahren zur flächigen Anregung von Strahlungsemission in einer Ebene - Google Patents
Verfahren zur flächigen Anregung von Strahlungsemission in einer EbeneInfo
- Publication number
- DE10050540A1 DE10050540A1 DE2000150540 DE10050540A DE10050540A1 DE 10050540 A1 DE10050540 A1 DE 10050540A1 DE 2000150540 DE2000150540 DE 2000150540 DE 10050540 A DE10050540 A DE 10050540A DE 10050540 A1 DE10050540 A1 DE 10050540A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- laser beams
- plane
- radiation
- beams
- laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 21
- 230000009022 nonlinear effect Effects 0.000 title claims abstract description 4
- 238000011835 investigation Methods 0.000 title abstract description 5
- 230000000638 stimulation Effects 0.000 title abstract 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 20
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 claims description 3
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 claims 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 3
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000001218 confocal laser scanning microscopy Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000000799 fluorescence microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000002866 fluorescence resonance energy transfer Methods 0.000 description 1
- 102000037865 fusion proteins Human genes 0.000 description 1
- 108020001507 fusion proteins Proteins 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000004621 scanning probe microscopy Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000012306 spectroscopic technique Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/106—Beam splitting or combining systems for splitting or combining a plurality of identical beams or images, e.g. image replication
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
- G02B27/144—Beam splitting or combining systems operating by reflection only using partially transparent surfaces without spectral selectivity
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
- G02B27/145—Beam splitting or combining systems operating by reflection only having sequential partially reflecting surfaces
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur flächigen Anregung von Strahlungsemission, bei der mehrere gepulste Laserstrahlen mit einer Fokussierungseinrichtung in ein Objekt fokussiert werden und in ihren Fokalvolumina durch nichtlineare Effekte Strahlungsemission anregen. Dabei sind die Fokalvolumina so eng benachbart angeordnet, dass jeder Punkt der zu untersuchenden Fläche im Anregungsvolumen mindestens einer der Strahlen liegt. Zur Vermeidung von Interferenzen zwischen den einzelnen Strahlen, durchlaufen die Strahlen das Objekt mit einer geringen Zeitverzögerung.
Description
Verfahren zur flächigen Anregung von Strahlungsemission in einer Ebene
eines dreidimensionalen Objekts, umfassend eine Quelle für mehrere
gepulste Laserstrahlen und einer Fokussicherungseinrichtung.
Lichtmikroskopie ist auch heute noch, obwohl es mit der
Elektronenmikroskopie oder Nahfeldtechniken Verfahren mit besserer
Ortsauflösung gibt, eine wichtige Untersuchungsmethode in Biologie und
Medizin. Dies liegt an einigen wesentlichen Vorteilen, die diese Technik
gegenüber anderen hat:
- - man kann lebende Objekte untersuchen,
- - es können Untersuchungen im Volumen und nicht nur an der Oberfläche dreidimensionaler Objekte durchgeführt werden,
- - durch den gezielten Einsatz von Farbstoffmarkierungen (z. B. Fusionsproteine [1]) und spektroskopischer Techniken bei der Detektion (z. B. FRET Nachweis [2], Lebensdauermessung [3]) wird eine hohe Selektivität erreicht,
- - die Sensitivität ist durch hoch empfindliche Detektoren sehr groß (bis hin zum Nachweis einzelner Moleküle)
Insbesondere die Techniken, bei denen das Objekt zur Emission von
Strahlung angeregt wird, haben die beiden zuletzt genannten
Eigenschaften. Die emittierte Strahlung kann u. a. Fluoreszenz, Raman- oder
Rayleigh-Streuung, CARS oder frequenzvervielfachtes Beleuchtungslicht
sein.
Die verschiedenen bekannten Lichtmikroskopietechniken bei denen das
Objekt zur Emission von Strahung angeregt wird, werden im folgenden kurz
beschrieben, um das der Erfindung zugrunde liegende Problem zu schildern.
Hier wird das Objekt in seinem ganzen Volumen von Licht, das Substanzen,
die natürlicherweise im Objekt vorkommen oder mit denen das Objekt
angefärbt wurde, zur Fluoreszenz anregt, durchstrahlt. Die emittierte
Fluoreszenz wird von einem Objektiv aufgenommen und abgebildet. Das
Problem bei dieser Art der Mikroskopie ist, dass im ganzen Volumen des
Objekts Fluoreszenzlicht angeregt und emittiert wird, dass aber nur eine
dünne Ebene des Objekts scharf abgebildet wird. Die Fluoreszenz, die aus
den anderen Teilen des Objekts emittiert wird, verteilt sich diffus über das
Bild. Dies hat zur Folge, dass die Bilder nur geringen Kontrast haben bzw.
feine Strukturen durch die diffuse Überstrahlung nicht zu erkennen sind.
Nur sehr dünne Objekte (in der Regel in Scheiben geschnitten) können hoch
auflösend untersucht werden. Ein weiterer Nachteil ist, dass das gesamte
Objekt mit Licht bestrahlt und auch durch das Licht geschädigt bzw.
ausgebleicht wird. (siehe auch [])
Hier wird die Fluoreszenz von einem Laserstrahl, der in das Objekt
fokussiert wird, angeregt. Die Fluoreszenz wird von einem Objektiv
aufgenommen und auf eine Lochblende abgebildet, hinter der sich der
Lichtdetektor befindet. Die Lochblende ist dabei so angeordnet, dass nur
der Teil des Fluoreszenzlichtes, der im Fokus des Lasertrahls erzeugt wird,
die Lochblende passieren kann. Die übrige Fluoreszenz wird von der
Lochblende aufgefangen. Durch diese Anordnung wird erreicht, dass nur
Fluoreszenz aus einem dreidimensional eng begrenzten Volumen (nämlich
dem Fokus) aufgenommen wird. Wird der Fokus in einer Ebene rasterartig
durch das Objekt bewegt und dabei das jeweilige Signal gemessen, kann
die abgerasterte Ebene mit hoher Auflösung untersucht werden.
Neben dem Nachteil, dass auch hier ein großer Teil des Objekts zur
Fluoreszenz angeregt und ausgebleicht wird, bzw. durch das Laserlicht
geschädigt wird, liegt ein weiterer Nachteil dieser Technik darin, dass zur
Aufnahme eines Bildes der Laserstrahl nacheinander auf alle Punkte der
abzubildenen Ebene gelenkt werden muß. Dies führt dazu, dass zur
Aufnahme eines Bildes eine erhebliche Zeit benötigt wird, die die
Geschwindigkeit der Prozesse, die mit einem solchen Mikroskop noch
untersucht werden können, limitiert.
Hier wird, ähnlich wie bei einem konfokalen Laser-Scanning-Mikroskop, ein
Laserstrahl in das Objekt fokussiert. Die Anregung der Emission erfolgt hier
allerdings durch einen nichtlinearen optischen Prozess. Durch die
Nichtlinearität der Anregung wird die Strahlungsemission auf das
Fokalvolumen des Laserstrahles begrenzt. Eine weitere Einschränkung der
Emission durch eine Lochblende o. ä. ist nicht nötig. Auch dieser
Mikroskoptyp muß allerdings zur Erzeugung eines Bildes alle Punkte
nacheinander aufnehmen, was mit den oben genannten Nachteilen
verbunden ist.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, hochaufgelöste flächige
Bilder aus dem Volumen dreidimensionaler Objekte mit hoher
Bildaufnahmegeschwindigkeit zu erzeugen.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass mehrere, gepulste
Laserstrahlen mittels der Fokussierungseinrichtung in das zu untersuchende
Objekt fokussiert werden, und dass die Foki der Laserstrahlen
nebeneinander in einer Ebene angeordnet sind, und dass die Laserstrahlen
in den Volumina der Foki das Objekt durch nichtlineare Effekte zur Emission
von Strahlung anregen, und dass jeder Punkt der zu untersuchenden Fläche
im Anregungsvolumen mindestens einer der Laserstrahlen liegt, und dass
die Laserstrahlen das Objekt mit einer Zeitverzögerung, die verhindert, dass
die Strahlen im Objekt interferieren, durchlaufen.
Gegenstand der Erfindung ist ebenfalls eine Anordnung zur insbesondere
flächigen Anregung von Strahlungsemission in der Ebene eines
dreidimensionalen Objekts mit Mitteln zur Erzeugung anderer gepulster
Laserstrahlen und einer Fokussiereinrichtung, wobei vor der
Fokussiereinrichtung eine Strahlteilereinrichtung zur Vervielfachung des
Laserstrahls vorgesehen ist.
Weitere vorteilhafte Merkmale sind den Unteransprüchen zu entnehmen.
Hieraus wird deutlich, dass viele Laserstrahlen in das Objekt fokussiert
werden, wobei jeweils jeder der Strahlen in seinem Fokusvolumen das
Objekt durch einen nichtlinearen optischen Prozess zur Emission von
Strahlung anregen kann und die Abstände der Foki so klein sind, dass sich
die Anregungsvolumina überlappen. Damit es nicht zur Vergrößerung der
Anregungsvolumina der einzelnen Strahlen gegenüber dem Anregungs
volumen nur eines Strahles kommt, durchlaufen die Strahlen das Objekt mit
einer Zeitverzögerung, die verhindert, dass die einzelnen Strahlen im Objekt
miteinander interferieren.
Die Zeitverzögerung zwischen den Strahlen bewirkt also, dass jeder Strahl
das Objekt unabhängig von allen anderen Strahlen durchläuft und auch
unabhängig von allen anderen Strahlen in seinem Fokusvolumen die
Strahlungsemission anregt. Sind die Zeitverzögerungen sehr klein (z. B. 1 ps)
können alle Strahlen das Objekt innerhalb der Zeit, die für die Emission
der angeregten Strahlung charakteristisch ist (z. B. 1 ns für Fluoreszenz)
durchlaufen. Man erhält also eine quasisimultane Anregung der Emission.
Jeder der Strahlen regt die Emission in einem dreidimensional begrenzten
Volumen an. Durch die eng benachbarte, überlappende Anordnung der
Anregungsvolumina in einer Ebene, kann die Emission in der kompletten
Ebene angeregt werden.
Durch diese Art der Beleuchtung werden zweidimensionale Schnittbilder
dreidimensional ausgedehnter Objekte gewonnen, ohne dass dazu die
Laserstrahlen gerastert werden müssen. Durch schrittweises Verfahren der
Ebene in Richtung ihrer Normalen, kann die dreidimensionale Struktur eines
Objekts aufgenommen werden.
Es wird die gleiche Ortsauflösung erreicht wie bei gerasterter Beleuchtung
mit einem Strahl.
Die Bildrate, die erreicht werden kann, ist durch die Wiederholrate der
Laserpulse gegeben und kann bedeutend höher sein als bei Rastersystemen
(MHz gegenüber einigen Hz). Dies stellt einen wesentlichen technischen
Fortschritt dar, weil die Bildrate die maximale Geschwindigkeit der
Prozesse, die noch beobachtet werden können, angibt.
Anhand der Zeichnungen wird die Erfindung beispielhaft näher erläutert.
Fig. 1 zeigt mehrere fokussierte Laserstrahlen und deren
Anregungsvolumina;
Fig. 2 zeigt die Fokussierung mehrerer Laserstrahlen in das Objekt;
Fig. 3 zeigt schematisch das zeitliche Aufeinanderfolgen der
Laserstrahlen;
Fig. 4 zeigt eine erste Variante zur Teilung des Laserstrahls;
Fig. 5 zeigt eine weitere Variante Izsur Teilung des Laserstrahls.
Fig. 1 zeigt mehrere fokussierte Laserstrahlen (1) und deren
Anregungsvolumina (2). Die Anregung ist durch nichtlineare Prozesse auf
die Fokalregion der Laserstrahlen begrenzt. Die Foki der Laserstrahlen liegen
so nah aneinander, dass sich die Anregungsvolumina überlappen. Dadurch
wird erreicht, dass ein zusammenhängender Teil der Fokalebene, in der sich
die Anregungsvolumina befinden angeregt wird.
Fig. 2 zeigt die Fokussierung mehrerer Laserstrahlen (1) in das Objekt (4),
wobei die Fokuspunkte und somit die Anregungsvolumina (2) eng
benachbart sind. Dies wird erreicht indem die Winkel der Laserstrahlen vor
der Fokussierungseinrichtung (3) klein gewählt werden.
Fig. 3 zeigt schematisch das zeitliche Aufeinanderfolgen der Laserstrahlen,
die das Objekt alte zu unterschiedlichen Zeiten durchlaufen. Der zeitliche
Verlauf der Laserpulse (6) ist an die Strahlachsen (5) der Laser gezeichnet,
um zu verdeutlichen, dass sich die Laserpulse zu einem festen Zeitpunkt an
verschiedenen Positionen auf den Strahlachsen befinden und somit auch in
der Probe zeitlich nicht überlappen können.
Fig. 4 zeigt als Beispiel eine Möglichkeit für eine Realisierung des
Verfahrens durch Teilung eines intensiven Laserstrahls. Der Laserstrahl (1)
wird durch eine Serie teilreflektierender Strahlteilerspiegel (7a-7d) gelenkt.
Die Reflexionsgrade der Strahlteiler sind so eingestellt, dass die reflektierten
Teilstrahlen (8a-8d) identische Intensität besitzen. Dies erfordert
unterschiedliche Reflexionsgrade der Strahlteiler, wobei der letzte der
Strahlteiler (7d) ein hochreflektierender Spiegel ist. Die Teilstrahlen (8a-8d)
werden auf eine Serie weiterer teilreflektierender Strahlteilerspiegel (9a-9d)
gelenkt, die ihrerseits die Teilstrahlen in die endgültigen Teilstrahlen (10)
zerlegen. Die Strahlteiler (7a-7d, 9a-9d) sind so angeordnet, dass die Winkel
zwischen den Teilstrahlen so klein sind, dass sich die Foki der Teilstrahlen
im Objekt (4) hinter der Fokussierungseinrichtung (3) überlappen und eine
rechteckige Fläche in der Fokalebene vollständig ausgeleuchtet wird. Durch
die Anordnung, bei der jeder der Teilstrahlen einen unterschiedlichen
geometrischen Weg zurücklegt kann gewährleistet werden, dass gemäß
dem erfindungsgemäßen Verfahren alle Teilstrahlen die Fokalebene zu
unterschiedlichen Zeitpunkten durchtreten. Die Anzahl der Strahlteiler
bestimmt die Größe der Fläche im Objekt, die quasi simultan angeregt wird.
Fig. 5 zeigt als Beispiel eine weitere Möglichkeit für eine Realisierung des
Verfahrens durch Teilung eines intensiven Laserstrahls. Die Teilung des
Laserstrahl erfolgt in der Strahlteileranordnung gemäß Patent 199 04 592.5-42.
Aus dieser Literaturstelle ist bekannt, den Strahl zunächst an
einer Strahlteilerplatte (10) in zwei Teilstrahlen gleicher Intensität zu
zerlegen, die dann wiederum mittels der Spiegel (11, 12) auf die gleiche
Strahlteilerplatte gelenkt werden, wobei jeder der Strahlen wiederum zerlegt
wird, so dass vier Strahlen gleicher Intensität entstehen. Dieser Prozess
wird wiederholt, bis genügend Teilstrahlen erzeugt sind. Die Einstellung der
Spiegel ist so gewählt, dass sich die Strahlen in der Eintrittsebene des
Objektives (17) überlappen. Die Foki der Teilstrahlen in der Probe liegen
dann in einer Reihe. Eine weitere, um 90° gedrehte identische Anordnung
von Strahlteilerplatte und Spiegeln erlaubt die weitere Teilung der
Teilstrahlen, so dass eine flächige, insbesondere quadratische Anordnung
von Foki in der Probe ensteht. Das heißt, dass durch eine vielfache Teilung
des Laserstrahles eine entsprechend der Anzahl des geteilten Laserstrahles
vergrößerte Fläche in der Probe ausgeleuchtet wird. Durch die Drehung der
zweiten Strahlteilereinrichtung relativ zur ersten Strahlteilereinrichtung wird
die zweite Dimension der Anregung, und damit eine flächige Anordnung
von Foki ermöglicht. Die Strahlen müssen im Strahlteiler nebeneinander
verlaufen, um eine Trennung zu ermöglichen. Die Anforderung des
Überlappens benachbarter Foki erfordert bei einer Fokusgröße im Bereich
von 0,5 µm und einem Objektiv mit einer Vergrößerung von 63 einen Winkel
der Strahlen von etwa 0.01°. Bei einem typischen Strahldurchmesser von
3 mm muß dann der Strahl etwa 20 Meter von dem Strahlteiler zum
Objektiv zurücklegen. Dies macht die Anordnung anfällig für Störungen,
insbesondere in Form von Erschütterungen. Reduziert man allerdings den
Strahldurchmesser vor dem Strahlteiler mittels eines telezentrischen
Teleskopes 15 und weitet ihn vor dem Objektiv durch das Teleskop 16
wieder auf und verkleinert hierbei den Winkel zwischen den Strahlen, so
kann der Strahlweg zum Objektiv 17 so stark reduziert werden, dass der
Aufbau kompakt und robust wird. Die Reduzierung und Aufweitung des
Strahldurchmessers um einen Faktor N vermindert den nötigen Strahlweg
vom Mikroskop zum Objektiv um den Faktor 1/N2. Dieser Faktor kommt wie
folgt zustande: Die Reduzierung des Strahldurchmessers ermöglicht die
Reduzierung des Abstandes der Strahlen im Strahlteiler, also einen kleineren
Strahlteiler. Dieser kann dann näher an das Objekt gebracht werden.
Die Winkel der Strahlen zueinander sind von dem zweiten Teleskop um den
Faktor N größer als der Sollwinkel im Objektiv. Dadurch kann der
Strahlteiler zusätzlich an einem weiteren Faktor 1/N näher an das Objektiv
angebracht werden. Am oben angeführten Beispiel bewirkt eine
Reduzierung des Strahldurchmessers um den Faktor 4, also eine
Reduzierung des Abstandes zum Objektiv von 20 Meter auf 1,25 Meter. Da
die Apertur des Objektives für einen idealen Fokus voll ausgeleuchtet
werden muß ist eine stärkere Aufweitung der Strahlen vor dem Objektiv in
der Regel nötig, die zu einer weiteren Reduzierung des Strahlweges führt.
1
Laserstrahl
2
Anregungsvolumen
3
Fokussierungseinrichtung
4
Objekt
5
Mittenlinie eines Laserstrahls
6
Zeitlicher Verlauf der Pulsintensität eines Laserstrahls
Claims (17)
1. Verfahren zur flächigen Anregung von Strahlungsemission in
einer Ebene eines dreidimensionalen Objekts bestehend aus
einer Quelle für mehrere, gepulste Laserstrahlen, einer
Fokussierungseinrichtung
dadurch gekennzeichnet, dass
mehrere, gepulste Laserstrahlen mittels der Fokussierungseinrichtung in das zu untersuchende Objekt fokussiert werden, und dass die Foki der Laserstrahlen nebeneinander in einer Ebene angeordnet sind, und dass die Laserstrahlen in den Volumina der Foki das Objekt durch nichtlineare Effekte zur Emission von Strahlung anregen, und
dass jeder Punkt der zu untersuchenden Fläche im Anregungsvolumen mindestens einer der Laserstrahlen liegt,
und dass die Laserstrahlen das Objekt mit einer Zeitverzögerung, die verhindert, dass die Strahlen im Objekt interferieren, durchlaufen.
mehrere, gepulste Laserstrahlen mittels der Fokussierungseinrichtung in das zu untersuchende Objekt fokussiert werden, und dass die Foki der Laserstrahlen nebeneinander in einer Ebene angeordnet sind, und dass die Laserstrahlen in den Volumina der Foki das Objekt durch nichtlineare Effekte zur Emission von Strahlung anregen, und
dass jeder Punkt der zu untersuchenden Fläche im Anregungsvolumen mindestens einer der Laserstrahlen liegt,
und dass die Laserstrahlen das Objekt mit einer Zeitverzögerung, die verhindert, dass die Strahlen im Objekt interferieren, durchlaufen.
2. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
die emittierte Strahlung bildgebend, z. B. durch eine Kamera,
registriert wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
der zeitliche Verlauf der emittierten Strahlung registriert wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
die Laserstrahlen durch mehrere Laser erzeugt werden.
5. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
die Laserstrahlen durch Aufteilung eines Laserstrahles erzeugt
werden.
6. Verfahren nach Anspruch 1 oder 5
dadurch gekennzeichnet,
dass der oder die Laserstrahlen vor dem Strahlteiler durch ein
Teleskop im Durchmesser verkleinerbar sind.
7. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
die Winkel zwischen den Laserstrahlen vor der
Fokussierungseinrichtung durch ein Teleskop verkleinert werden.
8. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
die emittierte Strahlung Fluoreszenzlicht ist.
9. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
die emittierte Strahlung durch Frequenzvervielfachung oder
-mischung aus den Laserstrahlen im Objekt erzeugt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
die emittierte Strahlung durch CARS (Coherent Anti-Stokes Raman
Scattering) im Objekt erzeugt wird.
11. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
die emittierte Strahlung durch stimulierte Raman-Streuung im Objekt
erzeugt wird.
12. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
die Fläche, die durch die Laserstrahlen beleuchtet wird, auf
verschiedene Bereiche des Objekts gelenkt wird.
13. Verfahren nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet, dass
die Fläche, die durch die Laserstrahlen beleuchtet wird, senkrecht zur
Ebene durch das Objekt bewegt wird, um das Objekt dreidimensional
zu untersuchen.
14. Anordnung zur insbesondere flächigen Anregung von
Strahlungsemission in der Ebene eines dreidimensionalen Objekts mit
Mitteln zur Erzeugung mehrerer gepulster Laserstrahlen und einer
Fokussiereinrichtung
gekennzeichnet, durch
eine vor der Fokussiereinrichtung angeordnete Strahlteilereinrichtung
zur Vervielfachung des Laserstrahles.
15. Anordnung nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet, dass
vor der Strahlteilervorrichtung Mittel zur Reduzierung des
Durchmessers des Laserstrahls vorgesehen sind.
16. Anordnung nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet, dass
vor der Fokussiereinrichtung Mittel zur Vergrößerung des
Durchmessers des Laserstrahls vorgesehen sind.
17. Anordnung nach Anspruch 15 oder 16,
dadurch gekennzeichnet, dass
das Mittel zur Reduzierung und Vergrößerung des Durchmessers des
Laserstrahles ein Teleskop ist.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2000150540 DE10050540A1 (de) | 2000-10-11 | 2000-10-11 | Verfahren zur flächigen Anregung von Strahlungsemission in einer Ebene |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2000150540 DE10050540A1 (de) | 2000-10-11 | 2000-10-11 | Verfahren zur flächigen Anregung von Strahlungsemission in einer Ebene |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10050540A1 true DE10050540A1 (de) | 2002-05-02 |
Family
ID=7659530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2000150540 Ceased DE10050540A1 (de) | 2000-10-11 | 2000-10-11 | Verfahren zur flächigen Anregung von Strahlungsemission in einer Ebene |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE10050540A1 (de) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102005000840A1 (de) * | 2005-01-05 | 2006-07-20 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Elementanalyse mittels Laser-Emissionsspektrometrie |
| WO2011036608A3 (en) * | 2009-09-24 | 2011-05-26 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | A pulse splitter with dispersion compensation |
| WO2013020713A1 (de) | 2011-08-11 | 2013-02-14 | Lavision Biotec Gmbh | Laseranordnung |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3311335C2 (de) * | 1982-03-31 | 1987-01-29 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho, Tokio/Tokyo | Meßmethode und Vorrichtung zur quantitativen Analyse eines Probenmaterials nach dem Prinzip der kohärenten Anti-Stokes-Raman-Spektroskopie |
| DE3820862A1 (de) * | 1988-06-21 | 1989-12-28 | Soelter Hans Joachim Dipl Phys | Verfahren und vorrichtung zur kontaktlosen untersuchung von oberflaechen und inneren strukturen eines festen pruefkoerpers |
| US5304810A (en) * | 1990-07-18 | 1994-04-19 | Medical Research Council | Confocal scanning optical microscope |
| DE19653413A1 (de) * | 1996-12-22 | 1998-06-25 | Hell Stefan | Rastermikroskop, bei dem eine Probe in mehreren Probenpunkten gleichzeitig optisch angeregt wird |
| DE19801139A1 (de) * | 1998-01-14 | 1999-07-15 | Rainer Dr Uhl | Punktabtastendes Luminiszenz-Mikroskop |
| DE19804279A1 (de) * | 1998-02-04 | 1999-08-19 | Univ Ruhr Bochum | Verfahren zur zeitaufgelösten Messung von Energiespektren molekularer Zustände und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| US6020591A (en) * | 1997-07-11 | 2000-02-01 | Imra America, Inc. | Two-photon microscopy with plane wave illumination |
| DE19904592A1 (de) * | 1999-02-05 | 2000-09-28 | Lavision Gmbh | Optische Vorrichtung |
-
2000
- 2000-10-11 DE DE2000150540 patent/DE10050540A1/de not_active Ceased
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3311335C2 (de) * | 1982-03-31 | 1987-01-29 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho, Tokio/Tokyo | Meßmethode und Vorrichtung zur quantitativen Analyse eines Probenmaterials nach dem Prinzip der kohärenten Anti-Stokes-Raman-Spektroskopie |
| DE3820862A1 (de) * | 1988-06-21 | 1989-12-28 | Soelter Hans Joachim Dipl Phys | Verfahren und vorrichtung zur kontaktlosen untersuchung von oberflaechen und inneren strukturen eines festen pruefkoerpers |
| US5304810A (en) * | 1990-07-18 | 1994-04-19 | Medical Research Council | Confocal scanning optical microscope |
| DE19653413A1 (de) * | 1996-12-22 | 1998-06-25 | Hell Stefan | Rastermikroskop, bei dem eine Probe in mehreren Probenpunkten gleichzeitig optisch angeregt wird |
| US6020591A (en) * | 1997-07-11 | 2000-02-01 | Imra America, Inc. | Two-photon microscopy with plane wave illumination |
| DE19801139A1 (de) * | 1998-01-14 | 1999-07-15 | Rainer Dr Uhl | Punktabtastendes Luminiszenz-Mikroskop |
| DE19804279A1 (de) * | 1998-02-04 | 1999-08-19 | Univ Ruhr Bochum | Verfahren zur zeitaufgelösten Messung von Energiespektren molekularer Zustände und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| DE19904592A1 (de) * | 1999-02-05 | 2000-09-28 | Lavision Gmbh | Optische Vorrichtung |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Optik, 100, 1995, S. 167-170, Bioimaging, 3, 1995, S. 49-63 * |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102005000840A1 (de) * | 2005-01-05 | 2006-07-20 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Elementanalyse mittels Laser-Emissionsspektrometrie |
| DE102005000840B4 (de) * | 2005-01-05 | 2007-12-27 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Elementanalyse mittels Laser-Emissionsspektrometrie |
| WO2011036608A3 (en) * | 2009-09-24 | 2011-05-26 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | A pulse splitter with dispersion compensation |
| US8941048B2 (en) | 2009-09-24 | 2015-01-27 | Koninklijke Philips N.V. | Pulse splitter with dispersion compensation |
| WO2013020713A1 (de) | 2011-08-11 | 2013-02-14 | Lavision Biotec Gmbh | Laseranordnung |
| DE102011109999A1 (de) | 2011-08-11 | 2013-02-14 | Lavision Biotec Gmbh | Laseranordnung |
| US9705275B2 (en) | 2011-08-11 | 2017-07-11 | Lavision Biotec Gmbh | Laser assembly |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP3864454B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur hochaufgeloesten fluoreszenzmikroskopie | |
| EP2350726B1 (de) | Kombinationsmikroskopie | |
| EP2917776B1 (de) | Lichtmikroskop und mikroskopieverfahren | |
| EP3899629B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum punktförmigen beleuchten einer probe in einem mikroskop | |
| EP1248132B1 (de) | Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe | |
| EP1576404B1 (de) | Mikroskop mit beobachtungsrichtung senkrecht zur beleuchtungsrichtung | |
| DE19801139B4 (de) | Punktabtastendes Luminiszenz-Mikroskop | |
| DE10105391B4 (de) | Scanmikroskop und Modul für ein Scanmikroskop | |
| EP2195697B1 (de) | Verfahren zur untersuchung einer probe | |
| DE4416558C2 (de) | Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
| EP2718762B1 (de) | Hochauflösende lumineszenzmikroskopie | |
| DE10056382B4 (de) | Scanmikroskop | |
| DE10043992B4 (de) | Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop | |
| DE3037983A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur lichtinduzierten rastermikroskopischen darstellung von probenparametern in ihrer raeumlichen verteilung | |
| EP1420281A2 (de) | Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe | |
| WO1998028775A2 (de) | Rastermikroskop, bei dem eine probe in mehreren probenpunkten gleichzeitig optisch angeregt wird | |
| EP1606665A1 (de) | Rastermikroskop mit konfokalem spaltscanner zum abbilden eines objektes | |
| WO2020088997A2 (de) | Mikroskop und verfahren zur mikroskopie | |
| DE102021123130A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur lichtfeldmikroskopie | |
| DE102004017956A1 (de) | Mikroskop zur Untersuchung der Lebensdauer angeregter Zustände in einer Probe | |
| DE10155002A1 (de) | Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe | |
| DE10118463A1 (de) | Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe | |
| DE10056384C2 (de) | Vorrichtung zur Messung der Lebensdauer eines angeregten Zustandes in einer Probe und Verwendung der Vorrichtung | |
| DE102022119327B4 (de) | Verfahren, vorrichtung und computerprogramm zur lokalisierung vereinzelter emitter in einer probe | |
| DE102015116598B4 (de) | Verfahren und Mikroskop zur hochauflösenden Abbildung mittels SIM |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| 8131 | Rejection |