DE10047500A1 - Mikromechanische Membran - Google Patents
Mikromechanische MembranInfo
- Publication number
- DE10047500A1 DE10047500A1 DE10047500A DE10047500A DE10047500A1 DE 10047500 A1 DE10047500 A1 DE 10047500A1 DE 10047500 A DE10047500 A DE 10047500A DE 10047500 A DE10047500 A DE 10047500A DE 10047500 A1 DE10047500 A1 DE 10047500A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- doped
- membrane
- substrate
- layer
- locally
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000012528 membrane Substances 0.000 title claims abstract description 93
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 41
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 101100346656 Drosophila melanogaster strat gene Proteins 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 239000003351 stiffener Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0042—Constructional details associated with semiconductive diaphragm sensors, e.g. etching, or constructional details of non-semiconductive diaphragms
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B3/00—Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
- B81B3/0064—Constitution or structural means for improving or controlling the physical properties of a device
- B81B3/0067—Mechanical properties
- B81B3/007—For controlling stiffness, e.g. ribs
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D48/00—Individual devices not covered by groups H10D1/00 - H10D44/00
- H10D48/50—Devices controlled by mechanical forces, e.g. pressure
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B2201/00—Specific applications of microelectromechanical systems
- B81B2201/02—Sensors
- B81B2201/0264—Pressure sensors
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B2203/00—Basic microelectromechanical structures
- B81B2203/01—Suspended structures, i.e. structures allowing a movement
- B81B2203/0127—Diaphragms, i.e. structures separating two media that can control the passage from one medium to another; Membranes, i.e. diaphragms with filtering function
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf eine mikromechanische Membran 9 mit einem auf seiner Oberfläche 5 teilweise N-dotierten P-Substrat 3 und einer oberen N-Epitaxieschicht 1, wobei auf dem P-Substrat 3 eine oder mehrere N-Epitaxieschichten 7, 7' angeordnet sind, die im Membranbereich 1' P-dotiert sind.
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine mikromechanische Mem
bran mit einem auf seiner Oberfläche teilweise N-dotierten
P-Substrat, wobei eine oberste Schicht eine N-
Epitaxieschicht ist.
Bei mikromechanischen Drucksensoren wird eine Membran durch
anisotropes Ätzen mit einem PN-Ätzstopp definiert. Die Ätz
front stoppt an der Grenzfläche zwischen dem P-dotierten
Substrat und einer N-dotierten Schicht. Die Einspannung der
Membran wird dabei durch den Rand der geätzten Kaverne de
finiert. Die druckabhängige Durchbiegung der Membran wird
über die Widerstandsänderung piezoresistiver Widerstände
auf der Oberfläche der Membran gemessen. Entscheidend für
die Empfindlichkeit der Widerstände ist die Lage der Wider
stände relativ zur Einspannung der Membran.
Es ist bereits eine mikromechanische Membran aus der
DE 43 09 207 A1 bekannt. Hierbei handelt es sich um eine
Halbleitervorrichtung mit einem piezoresistiven Drucksen
sor, der eine Membran aufweist, die durch eine leitende
Epitaxialschicht (Epitaxieschicht) gebildet und auf einem
Halbleitersubstrat entgegengesetzter Leitfähigkeit aufge
bracht ist. An der vom Halbleiter abgewandten Membranaußen
fläche ist wenigstens ein Piezowiderstand eingebracht, und
die Membraninnenfläche ist durch eine das Halbleitersub
strat durchdringende Öffnung freigeätzt. Zwischen dem Halb
leitersubstrat und der Epitaxialschicht ist eine ringförmig
strukturierte, leitende Zwischenschicht eingebracht, die
den an die Membraninnenfläche angrenzenden Bereich der Öff
nung festlegt. Die Zwischenschicht besitzt hierbei eine
Leitfähigkeit, die der des Halbleitersubstrats entgegenge
setzt ist. Diese Membran mit unterschiedlichen Dotierungen
gewährleistet nur begrenzte Dickenunterschiede in der Mem
bran, die durch die Eindringtiefe der Dotierung bestimmt
sind. Zudem weist die hier aufgezeigte Membran nur eine
Epitaxieschicht auf.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine mikromecha
nische Membran derart auszubilden und anzuordnen, daß prä
zise geformte Einspannungen bzw. Membranbereiche mit stark
unterschiedlicher Steifigkeit gewährleistet sind.
Gelöst wird die Aufgabe erfindungsgemäß dadurch, daß auf
dem P-Substrat eine oder mehrere N-Epitaxieschichten ange
ordnet sind, die im Membranbereich P-dotiert sind. Hier
durch wird erreicht, daß während der abschließenden Ätzung
der Membran bzw. des P-dotierten Bereiches die Einspann-
bzw. Aufliegestellen der Membran definiert sind und nicht
durch die Unterätzung an den Seitenflächen. Der Randbereich
der Ätzung innerhalb des P-dotierten Substrats liegt unter
halb der zusätzlich angeordneten N-Epitaxieschichten und
beeinflußt das Verhalten bzw. die Einspannung der Membran
nicht. Eine genaue Definition der Einspannung der Membran
ist beispielsweise sehr wichtig für Drucksensoren, da durch
die Lage der piezoresistiven Widerstände relativ zur Ein
spannung (Membrankante), die Empfindlichkeit bezüglich
Druck beeinflußt wird.
Vorteilhaft ist es hierzu, daß das Substrat vor dem Ab
scheiden der N-Epitaxieschicht lokal N-dotiert wird und daß
die N-Epitaxieschicht während des Abscheidens N-dotiert und
anschließend lokal p-dotiert oder während des Abscheidens
P-dotiert und anschließend im Randbereich lokal N-dotiert
wird oder die Epitaxieschicht undotiert abgeschieden und
anschließend der Randbereich lokal mit einer N-Dotierung
und der mittlere Bereich der Epitaxieschicht mit einer P-
Dotierung versehen wird. Durch diese Art der Dotierung ist
eine durchgehende Dotierung möglich, so daß die einzelnen
N-Epitaxischichten dicker ausgeführt werden. Die hier vor
gestellte variable Anzahl von N-Epitaxieschichten erlaubt
aber deutlich größere Dicken der Einspannung der Membran.
Eine zusätzliche Möglichkeit ist gemäß einer Weiterbildung,
daß an der lokal P-dotierten N-Epitaxieschicht oder dem lo
kal N-dotierten P-Substrat eine N-dotierte Membranschicht
oder die Membran anliegt. Die so gebildete Membran bzw.
Versteifung der Membran ist im Einspannbereich wesentlich
dicker und damit deutlich stabiler.
Ferner ist es vorteilhaft, daß der P-dotierte Bereich der
verschiedenen N-Epitaxieschichten oder des lokal N-
dotierten P-Substrats in den einzelnen N-Epitaxieschichten
bzw. in der Dotierungsschicht unterschiedlich groß ausge
bildet ist oder ausgehend von der Membranschicht oder einer
Membran schichtweise groß- oder kleinflächiger ausgebildet
ist als in der vorhergehenden Schicht. Somit kann eine be
liebige Versteifungsform unterhalb der Membran gestaltet
werden und die Membran entsprechend ihrem Einsatzgebiet an
gepaßt werden.
Vorteilhaft ist es hierzu auch, daß der P-dotierte Bereich
der verschiedenen N-Epitaxieschichten oder des lokal N-
dotierten P-Substrats in verschiedenen Teilbereichen der
jeweiligen Schicht, wie die Mitte der mikromechanischen
Membran oder unterhalb der Membran, angeordnet ist und die
N-dotierten Bereiche sowie die P-dotierten Bereiche jeweils
einer N-Epitaxieschicht abwechselnd, nebeneinander und/oder
symmetrisch zur Mitte der mikromechanischen Membran ange
ordnet sind.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemä
ßen Lösung ist es auch vorgesehen, daß die verschiedenen N-
Epitaxieschichten unterschiedlich dick ausgebildet sind.
Von besonderer Bedeutung ist für die vorliegende Erfindung,
daß die bisher als N-dotiert bezeichneten Bereiche auch P-
dotiert ausgebildet und die bisher als P-dotiert bezeichne
ten Bereiche N-dotiert ausgebildet werden können. Somit
kann die Grunddotierung der verschiedenen Schichten frei
gewählt werden und die entsprechende lokal vorgesehene Do
tierung angepaßt werden.
Schließlich ist es von Vorteil, daß die Membranschicht als
N-Epitaxieschicht ausgebildet ist und das P-Substrat an
seiner nach außen gerichteten Seite eine Ätzmaske aufweist,
die den unterhalb der Membran freizulegenden Bereich dem
Ätzmittel freigibt.
Letztlich ist es von Vorteil, daß ein P-Substrat einseitig
lokal im Randbereich N-dotiert wird, auf diese Schicht eine
N-Epitaxieschicht abgeschieden bzw. aufgetragen wird, die
entsprechend der vorhergehenden Substratschicht mittig P-
dotiert ist, und eine zweite N-Epitaxieschicht entsprechend
der ersten N-Epitaxieschicht aufgetragen wird, wobei die
zweite N-Epitaxieschicht im Membranbereich oder in zusätz
lichen Bereichen P-dotiert wird. Danach wird eine rein N-
dotierte Membranschicht auf die N-Epitaxieschicht abge
schieden bzw. aufgetragen, wobei auf die freie Oberfläche
des Substrats eine Ätzmaske aufgetragen wird.
Weitere Vorteile und Einzelheiten der Erfindung sind in den
Patentansprüchen und in der Beschreibung erläutert und in
den Figuren dargestellt. Es zeigt:
Fig. 1-5 Verfahrensschritte zur Herstellung einer
mikromechanischen Membran mit einem P-
Substrat und im Randbereich lokal P-
dotierten N-Epitaxieschichten,
Fig. 6 ein zweites Ausführungsbeispiel gemäß
Fig. 5 mit unterschiedlich versteifter
Membran,
Fig. 7 ein drittes Ausführungsbeispiel gemäß
Fig. 5 mit einer weiteren Versteifungsva
riante.
Eine mikromechanische Membran 9 wird durch Aufbringen ver
schiedener unterschiedlich dotierter Epitaxieschich
ten 1, 7, 7' auf ein Substrat 3 hergestellt.
In Fig. 1 ist mit 3 das P-dotierte Substrat bezeichnet,
das die Grundlage für die Herstellung der mikromechanischen
Membran bildet. Das Substrat 3 ist auf seiner Oberfläche 5
lokal N-dotiert, d. h. es weist neben seiner generellen P-
Dotierung auf seiner Oberfläche 5 einen N-dotierten Be
reich 6 auf. Der N-dotierte Bereich 6 erstreckt sich auf
den Randbereich der Oberfläche 5 eines Chips, so daß auf
der Oberfläche 5 ein mittlerer P-dotierter Bereich 8 beste
hen bleibt. Die dotierte Schicht 6 erreicht hierbei eine
Dicke bzw. Höhe von 3-10 µm.
In Fig. 2 ist gemäß einem weiteren Verfahrensschritt auf
das Substrat 3 bzw. auf seine lokal N-dotierte Oberfläche 5
(vgl. Fig. 1) eine lokal P-dotierte N-Epitaxieschicht 7
aufgebracht. Die N-Epitaxieschicht bleibt hierbei entspre
chend dem N-dotierten Bereich 6 des Substrats 3 ebenfalls
an ihrem Randbereich 6' N-dotiert. Die N-Epitaxieschicht 7
wird entweder während des Abscheidens N-dotiert und an
schließend lokal P-dotiert oder während des Abscheidens P-
dotiert und anschließend im Randbereich 6' lokal N-dotiert.
Möglich ist auch die Epitaxischicht undotiert abzuscheiden
und anschließend den Randbereich 6' lokal mit einer N-
Dotierung und dem Bereich 8' mit einer P-Dotierung zu ver
sehen. Letztlich entsteht ein N-dotierter Randbereich 6'
sowie ein P-dotierter Bereich 8' in der Mitte der N-
Epitaxieschicht 7.
In Fig. 3 ist nach einem weiteren Verfahrensschritt auf
eine Oberfläche 5' (vgl. Fig. 2) eine zweite N-
Epitaxieschicht 7' abgeschieden bzw. aufgelegt, die ent
sprechend der ersten N-Epitaxieschicht 7 ebenfalls im mitt
leren Bereich lokal P-dotiert ist bzw. einen äußeren N-
dotierten Bereich 6" und einen inneren P-dotierten Bereich
8" aufweist. Diese unterschiedlich dotierten Berei
che sind entsprechend der später vorgesehenen Membranform
ausgebildet.
Gemäß Fig. 4 ist durch den nächsten Verfahrensschritt auf
eine Oberfläche 5" (vgl. Fig. 3) der zweiten N-
Epitaxieschicht 7' eine N-dotierte Membranschicht 1 aufge
bracht bzw. aufgelegt.
Die so gebildete mikromechanische Membran (Fig. 4) weist
also das im Wesentlichen rein P-dotierte Substrat 3 und die
rein N-dotierte Membranschicht 1 auf, die zwei N-
Epitaxieschichten 7, 7' zwischen sich aufnehmen. Die N-
Epitaxieschichten 7, 7' sowie die Oberfläche 5 des Sub
strats 3 sind hierbei lokal unterschiedlich dotiert, d. h.
es wechseln sich in der jeweiligen Schicht 7, 7' N- und P-
dotierte Bereiche ab, wobei die P-dotierten Bereiche mittig
vorgesehen sind. Es ist je nach Ausführungsform auch mög
lich, die P-dotierten Bereiche außermittig vorzusehen.
Auf einer verbleibenden Außenfläche 10 des Substrats 3 ist
gemäß Fig. 5 eine Ätzmaske 4 vorgesehen. Die Ätzmaske 4
deckt das Substrat 3 in den Randbereichen ab, so daß ein
mittlerer Bereich frei bleibt. Die Ätzung bzw. die Ätzfront
startet an dieser freien Oberfläche und wird über einen PN-
Ätzstopp gestoppt, d. h. die Grenze der Ätzung wird über
die N-dotierten Bereiche definiert. Bei der Ätzung wird al
so nur der mittlere P-dotierte Bereich angegriffen bzw.
freigeätzt, und der N-dotierte Randbereich 6, 6', 6"
bleibt bestehen. Damit ist der zuvor P-dotierte Bereich
bzw. das Substrat 3 dort, wo die Ätzmaske dem Ätzmittel ei
nen Zugang gibt, entfernt. Ein noch bestehender P-dotierter
Teilbereich 12 wird nur auf seiner Flanke 13 im entstandenen
trapezförmigen Freiraum 11 durch das Ätzmittel ange
griffen, so daß sich diese entsprechend der Ätzzeit zum
Randbereich hin fortpflanzt. Der Bereich, der die Ätzgrenze
innerhalb des P-dotierten Bereichs bildet, ist gestrichelt
angedeutet, da diese Grenze auf Grund der Unterätzung nicht
genau definiert werden kann.
Durch den nun im mittleren Bereich entstandenen Freiraum 11
bildet die Membranschicht 1 in diesem Bereich eine freie
Membran 1'. Die Membran 1' weist im wesentlichen die Größe
der zuvor vorhandenen P-dotierten Bereiche 8, 8', 8" der
N-Epitaxieschichten 7, 7' auf, da diese bei der Ätzung ent
fernt wurden und somit die Entstehung der Membran 1' mög
lich wurde.
In Fig. 6 und 7 sind zwei Varianten im Hinblick auf die
Gestaltung der P-dotierten Bereiche 8, 8', 8" bzw. der
daraus entstehenden Membran 1' gezeigt.
Die Ausdehnung des Freiraums 11 zum Randbereich hin ist
hierbei wesentlich größer ausgebildet als in Fig. 5, d. h.
der frei schwingende Bereich der Membranschicht 1, also die
Membran 1', ist gemäß Fig. 6 und 7 wesentlich breiter aus
gebildet. Im mittleren Bereich der Membran 1', anschließend
an die Membranschicht 1, sind N-dotierte Berei
che 6, 6', 6" vorgesehen, die als Versteifung 14 der Mem
bran 1' dienen. Diese Bereiche waren bei der Herstellung
als N-dotierte Bereiche 6, 6', 6" in der jeweiligen N-
Epitaxieschicht ausgebildet.
Entsprechend Fig. 7 ist die Versteifung 14 beliebig form
bar, so daß innerhalb der Versteifung 14 beliebige Freiräu
me 11 entsprechend den zuvor P-dotierten Bereichen gebildet
sind.
Der hier dargestellte Freiraum 11 bzw. seine Teilgebie
te 11' sind im Querschnitt idealisiert rechteckförmig aus
gebildet, wobei der Freiraum 11 bzw. seine Projektionsflä
che senkrecht zur Oberfläche 5 von der Ätzmaske 4 ausgehend
zur Membran 1' hin kleiner wird bzw. stufenförmig auf die
Größe der Membran 1' abnimmt.
Claims (12)
1. Mikromechanische Membran (9) mit einem auf seiner
Oberfläche (5) teilweise N-dotierten P-
Substrat (3), wobei die oberste Schicht eine N-
Epitaxieschicht (1) ist, dadurch gekennzeichnet,
daß auf dem P-Substrat (3) eine oder mehrere N-
Epitaxieschichten (7, 7') angeordnet sind, die im
Membranbereich (1') P-dotiert sind.
2. Membran nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die N-Epitaxieschicht (7) während des Abschei
dens N-dotiert und anschließend lokal P-dotiert
oder während des Abscheidens P-dotiert und an
schließend im Randbereich (6') lokal N-dotiert
wird oder undotiert abgeschieden wird und im Rand
bereich (6') lokal N-dotiert und im Membranbereich
(8') lokal P-dotiert wird.
3. Membran nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß an der lokal P-
dotierten N-Epitaxieschicht (7) die N-dotierte
Membranschicht (1) oder die Membran (1') anliegt.
4. Membran nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß der P-dotierte Be
reich (8, 8', 8") der verschiedenen N-
Epitaxieschichten (7, 7') oder des lokal N-
dotierten P-Substrats (3) in den einzelnen N-
Epitaxieschichten (7, 7') unterschiedlich groß
ausgebildet ist.
5. Membran nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß der P-dotierte Be
reich (8, 8', 8") der verschiedenen N-
Epitaxieschichten (7, 7') oder des lokal N-
dotierten P-Substrats (3) ausgehend von der Mem
branschicht (1) oder einer Membran (1') schicht
weise großflächiger ausgebildet ist als in der
vorhergehenden Schicht.
6. Membran nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß der P-dotierte Be
reich (8, 8', 8") der verschiedenen N-
Epitaxieschichten (7, 7') oder des lokal N-
dotierten P-Substrats (3) ausgehend von der Mem
bran (1) oder der Membran (1') schichtweise klein
flächiger ausgebildet ist, als in der vorhergehen
den Schicht.
7. Membran nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß der P-dotierte Be
reich (8, 8', 8") der verschiedenen N-
Epitaxieschichten (7, 7') oder des lokal N-
dotierten P-Substrats (3) in verschiedenen Teilbe
reichen der jeweiligen Schicht, wie die Mitte der
mikromechanischen Membran (9) oder unterhalb der
Membran (1) angeordnet ist.
8. Membran nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die N-dotierten Berei
che (6, 6', 6") und die P-dotierten Bereiche (8,
8', 8") jeweils einer N-Epitaxieschicht (7, 7')
abwechselnd, nebeneinander und/oder symmetrisch
zur Mitte der mikromechanischen Membran (9) ange
ordnet sind.
9. Membran nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die verschiedenen N-
Epitaxieschichten (7, 7') und die Membranschicht 1
unterschiedlich dick ausgebildet sind.
10. Membran nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß das P-Substrat (3) an
seiner nach außen gerichteten Seite eine Ätzmas
ke (4) aufweist.
11. Membran nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die bisher mit "N-
dotiert" bezeichneten Bereiche (6, 6', 6") P-
dotiert ausgebildet und die bisher mit "P-dotiert"
bezeichneten Bereiche (8, 8', 8") N-dotiert aus
gebildet sind.
12. Verfahren zur Herstellung einer Membran nach An
spruch 1, gekennzeichnet durch folgende Verfah
rensschritte:
- a) ein P-Substrat (3) wird einseitig lokal außer halb des Membranbereichs N-dotiert,
- b) auf diese Schicht wird eine N- Epitaxieschicht (7) aufgetragen, die entspre chend der vorhergehenden Substratschicht mittig im Membranbereich P-dotiert ist,
- c) eine zweite N-Epitaxieschicht (7') wird ent sprechend der ersten N-Epitaxieschicht (7) auf getragen,
- d) die zweite N-Epitaxieschicht (7) wird im Mem branbereich oder in zusätzlichen Bereichen P- dotiert,
- e) eine rein N-dotierte Membranschicht (1) wird auf die N-Epitaxieschicht (7') aufgetragen,
- f) auf die freie Oberfläche des Substrats (3) wird die Ätzmaske (4) aufgetragen.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10047500A DE10047500B4 (de) | 2000-09-26 | 2000-09-26 | Mikromechanische Membran und Verfahren zu ihrer Herstellung |
| JP2001290972A JP5264032B2 (ja) | 2000-09-26 | 2001-09-25 | マイクロメカニカルな膜およびその製造方法 |
| US09/970,608 US6649989B2 (en) | 2000-09-26 | 2001-10-03 | Micromechanical diaphragm |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10047500A DE10047500B4 (de) | 2000-09-26 | 2000-09-26 | Mikromechanische Membran und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10047500A1 true DE10047500A1 (de) | 2002-04-11 |
| DE10047500B4 DE10047500B4 (de) | 2009-11-26 |
Family
ID=7657572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE10047500A Expired - Fee Related DE10047500B4 (de) | 2000-09-26 | 2000-09-26 | Mikromechanische Membran und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6649989B2 (de) |
| JP (1) | JP5264032B2 (de) |
| DE (1) | DE10047500B4 (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2855510A1 (fr) * | 2003-05-26 | 2004-12-03 | Bosch Gmbh Robert | Dispositif micromecanique notamment capteur de pression et procede de fabrication |
| FR2882996A1 (fr) * | 2005-02-03 | 2006-09-15 | Bosch Gmbh Robert | Composant micromecanique et son procede de fabrication |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7055392B2 (en) * | 2003-07-04 | 2006-06-06 | Robert Bosch Gmbh | Micromechanical pressure sensor |
| US7531002B2 (en) * | 2004-04-16 | 2009-05-12 | Depuy Spine, Inc. | Intervertebral disc with monitoring and adjusting capabilities |
| US7037746B1 (en) * | 2004-12-27 | 2006-05-02 | General Electric Company | Capacitive micromachined ultrasound transducer fabricated with epitaxial silicon membrane |
| TWI286383B (en) * | 2005-12-23 | 2007-09-01 | Delta Electronics Inc | Semiconductor piezoresistive sensor and operation method thereof |
| US7691130B2 (en) * | 2006-01-27 | 2010-04-06 | Warsaw Orthopedic, Inc. | Spinal implants including a sensor and methods of use |
| US9624091B2 (en) * | 2013-05-31 | 2017-04-18 | Robert Bosch Gmbh | Trapped membrane |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3994009A (en) * | 1973-02-12 | 1976-11-23 | Honeywell Inc. | Stress sensor diaphragms over recessed substrates |
| US4332000A (en) * | 1980-10-03 | 1982-05-25 | International Business Machines Corporation | Capacitive pressure transducer |
| JPS59136977A (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-06 | Hitachi Ltd | 圧力感知半導体装置とその製造法 |
| JPS6191967A (ja) * | 1984-10-12 | 1986-05-10 | Hitachi Ltd | 圧力感知素子を有する半導体装置とその製造法 |
| JPH05190872A (ja) * | 1992-01-16 | 1993-07-30 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体圧力センサおよびその製造方法 |
| JP2940293B2 (ja) * | 1992-03-31 | 1999-08-25 | 日産自動車株式会社 | 半導体加速度センサの製造方法 |
| DE4309207C2 (de) * | 1993-03-22 | 1996-07-11 | Texas Instruments Deutschland | Halbleitervorrichtung mit einem piezoresistiven Drucksensor |
| US5949118A (en) * | 1994-03-14 | 1999-09-07 | Nippondenso Co., Ltd. | Etching method for silicon substrates and semiconductor sensor |
| JP3261904B2 (ja) * | 1994-12-22 | 2002-03-04 | 日産自動車株式会社 | 半導体装置 |
| JPH11307441A (ja) * | 1998-04-24 | 1999-11-05 | Nikon Corp | シリコンメンブレン構造体及びその製造方法 |
| FR2786565B1 (fr) * | 1998-11-27 | 2000-12-22 | Commissariat Energie Atomique | Structure micro-usinee a membrane deformable et son procede de realisation |
-
2000
- 2000-09-26 DE DE10047500A patent/DE10047500B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-09-25 JP JP2001290972A patent/JP5264032B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2001-10-03 US US09/970,608 patent/US6649989B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2855510A1 (fr) * | 2003-05-26 | 2004-12-03 | Bosch Gmbh Robert | Dispositif micromecanique notamment capteur de pression et procede de fabrication |
| FR2882996A1 (fr) * | 2005-02-03 | 2006-09-15 | Bosch Gmbh Robert | Composant micromecanique et son procede de fabrication |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6649989B2 (en) | 2003-11-18 |
| DE10047500B4 (de) | 2009-11-26 |
| JP5264032B2 (ja) | 2013-08-14 |
| US20030062579A1 (en) | 2003-04-03 |
| JP2002176183A (ja) | 2002-06-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE4223455C2 (de) | Halbleiterdrucksensor und Herstellungsverfahren | |
| DE2934970C2 (de) | Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
| DE69306687T2 (de) | Seitwärts empfindlicher Beschleunigungsmesser sowie Verfahren zu seiner Herstellung | |
| DE19719601A1 (de) | Beschleunigungssensor | |
| DE60110928T2 (de) | Bilden einer zusammengesetzten druckmembran mit implantationen, epitaxie und einer siliziumnitrid schicht | |
| DE10024266B4 (de) | Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements | |
| DE102013213065A1 (de) | Mikromechanisches Bauteil und Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil | |
| DE19859627A1 (de) | Halbleitervorrichtung und Herstellungsverfahren | |
| DE102011080978A1 (de) | Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Struktur und mikromechanische Struktur | |
| DE4132105A1 (de) | Struktur und verfahren zu ihrer herstellung | |
| DE102012217133A1 (de) | Mikroelektronisches Bauelement und entsprechendes Herstellungsverfahren | |
| DE2734176A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer halbleiteranordnung | |
| DE10047500A1 (de) | Mikromechanische Membran | |
| DE102009041865A1 (de) | Halbleiterdrucksensor und Herstellungsverfahren dafür | |
| WO2007068590A1 (de) | Mikromechanisches bauelement und herstellungsverfahren | |
| DE102019210285B4 (de) | Erzeugen eines vergrabenen Hohlraums in einem Halbleitersubstrat | |
| DE10161921A1 (de) | Halbleitersensor zum Erfassen einer dynamischen Grösse und Verfahren zum Herstellen desselben | |
| DE10392426B4 (de) | Halbleitervorrichtungs-Herstellungsverfahren | |
| DE19608211A1 (de) | Verfahren zur Ausbildung von Metallkontakten in Halbleitereinrichtungen | |
| DE102016116748B4 (de) | Diffraktives optisches element und verfahren zu seiner herstellung | |
| EP1101389B1 (de) | Verfahren zur herstellung einer integrierten schaltungsanordnung umfassend einen hohlraum in einer materialschicht, sowie eine durch das verfahren erzeugte integrierte schaltungsanordnung | |
| DE102014112672A1 (de) | Abdeckung für ein Bauelement und Verfahren zur Herstellung einer Abdeckung für ein Bauelement | |
| EP2714582B1 (de) | Verfahren zur herstellung eines mos-transistors | |
| DE2425756C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung | |
| WO2007000363A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines mikromechanischen bauelements sowie mikromechanisches bauelement |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |