DE19719601A1 - Beschleunigungssensor - Google Patents
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Description
Die Erfindung geht aus von einem Beschleunigungssensor nach
der Gattung des Anspruchs 1. Aus der WO 96/00735 oder auch
der US 5,083,466 ist schon ein Beschleunigungssensor
bekannt. Ein wesentliches Bestandteil dieses
Beschleunigungssensor ist eine seismische Masse, welche in
Form eines massiven Würfels ausgebildet ist, und mit einem
Ende einer Biegefeder verbunden ist. Das andere Ende der
Biegefeder ist mit einem Substrat verbunden, welches als
stationärer Bezugspunkt dient. Die geometrischen Abmessungen
der Biegefeder sind so gewählt, daß die seismische Masse
unter Einfluß einer Beschleunigung sich nur parallel zum
Substrat bewegen kann. Die dem Substrat zugewandte Fläche
der seismischen Masse sowie ein Teil der Substratoberfläche
sind mit Elektroden versehen, und sind so angeordnet, daß
sie sich bei einer Auslenkung der seismischen Masse entweder
stärker oder weniger stark überschneiden. Somit ändert sich
bei einer Beschleunigung die Kapazität zwischen den beiden
Elektroden, welche dann als Maß für die gebrachte
Beschleunigung gemessen werden kann.
Es ist wünschenswert, einen solchen Beschleunigungssensor
monolithisch, das heißt aus einem einzigen Ausgangssubstrat
herzustellen, wobei zur Herstellung bekannte Methoden der
Mikrostrukturtechnik, beispielsweise Lithographie und Ätzen,
oder auch eine Aufbautechnik verwendet werden. Zur
Herstellung einer beweglichen Struktur, wie es
beispielsweise eine seismische Masse darstellt, wird zuerst
die laterale Struktur der beweglichen Masse ausstrukturiert,
anschließend wird eine unter der beweglichen Struktur
befindliche Opferschicht entfernt. Dieser notwendige Schritt
des Entfernens der Opferschicht begrenzt die wirkliche Größe
der beweglichen Struktur, so daß die seismische Masse nicht
beliebig groß und schwer gemacht werden kann, wenn sie wie
beim zitierten Stand der Technik aus einem massiven Würfel
besteht.
Die erfindungsgemäße Anordnung mit den kennzeichnenden
Merkmalen des Anspruchs 1 hat demgegenüber den Vorteil, daß
es möglich ist, den Sensor als monolithisches Bauteil
herzustellen, und gleichzeitig einen sehr sensitiven Sensor
zu erhalten.
Als weiterer Vorteil ist zu sehen, daß die Ausbildung der
seismischen Masse als durchbrochene Struktur die Kohäsion
(und das Zusammenkleben) der beiden Elektroden verringert
und somit weniger Ausschuß bei der Produktion entsteht.
Dieser Vorteil bleibt auch dann bestehen, wenn eine
Aufbautechnik zur Herstellung des Sensors anstelle der
monolithischen Siliziumtechnologie gewahrt wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren mit den kennzeichnenden
Merkmalen des nebengeordneten Anspruchs hat den Vorteil, daß
aufwendige Justierungsschritte beim Zusammenfügen der beiden
strukturierten Platten nicht notwendig sind. Trotzdem kann
mit dem angegebenen Verfahren ein sehr sensitiver Sensor
hergestellt werden.
Durch die in den abhängigen Ansprüchen aufgeführten
Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und
Verbesserungen des im Anspruch 1 angegebenen
Beschleunigungssensors sowie der in den nebengeordneten
Ansprüchen angegebenen Verfahren möglich.
So ist es besonders vorteilhaft, die Biegefeder an beiden
Enden sowie in der Mitte mit einem Krafteinlenkungspunkt zu
versehen, wobei das Widerlager entweder in der Mitte oder an
beiden Enden mit der Biegefeder verbunden werden kann.
Hierdurch wird eine geradlinige Auslenkung der seismischen
Masse durch eine einwirkende Beschleunigung erreicht. Diese
geradlinige Auslenkung resultiert in einer höheren
Linearität des Beschleunigungssensors.
Weiterhin ist es besonders vorteilhaft, als erste Schicht
Silizium heranzuziehen, da dieses Material besonders
geeignet ist zur Herstellung von mikroelektronischen
Bauteilen. Somit ist es möglich, in einem Bauteil Sensor und
Auswerteelektronik zu kombinieren.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung
dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher
erläutert. Es zeigen Fig. 1 eine perspektivische
Darstellung eines erfindungsgemäßen Beschleunigungssensors,
Fig. 2a eine Aufsicht auf einen erfindungsgemäßen
Beschleunigungssensor, Fig. 2b einen Querschnitt durch
einen erfindungsgemäßen Beschleunigungssensor, Fig. 3a
bis 3c ein erstes Verfahren zur Herstellung eines
erfindungsgemäßen Beschleunigungssensors, Fig. 4a bis 4g
ein zweites Verfahren zur Herstellung eines
erfindungsgemäßen Beschleunigungssensors, Fig. 5a einen
weiteren Beschleunigungssensor, Fig. 5b einen weiteren
Beschleunigungssensor.
Fig. 1 zeigt einen erfindungsgemäßen Beschleunigungssensor
in perspektivischer Darstellung, wobei zur besseren
Darstellung eine Ecke weggebrochen wurde.
Im hier gezeigten Ausführungsbeispiel wird die äußere Form
des Beschleunigungssensors im wesentlichen durch den Träger
10 bestimmt, welcher aus einkristallinem Silizium besteht.
Der Träger 10 besitzt eine in etwa quaderförmige Grundform,
zwei Deckflächen und vier Seitenflächen, wobei in einer
Deckfläche eine Vertiefung 14 mit in etwa rechteckigem
Grundriß vorgesehen ist. Die lateralen Abmessungen der
Vertiefung 14 bilden das Fenster 15, die Tiefe der
Vertiefung beträgt im vorliegenden Ausführungsbeispiel in
etwa 1/50 der Dichte des Trägers 10. Der Boden der
Vertiefung 15 wird teilweise von einer Grundelektrode 22
bedeckt. In der Vertiefung, am Rande des Fensters 15, sind
auf zwei gegenüberliegenden Seiten zwei Widerlager 16
angeordnet. Die Widerlager haben beispielsweise in etwa
Würfelform, und sind mit dem Träger 10 fest verbunden. An
jedem Widerlager 16 ist je eine Biegefeder 17 angeordnet.
Die Biegefeder besitzt in etwa Balkenform, wobei die Form
eines Balkens mit stark rechteckigem Querschnitt besonders
vorteilhaft ist, wie untenstehend erläutert werden soll. Die
Biegefeder 17 ist in ihrer Mitte mit dem Widerlager 16
verbunden und ist beweglich gegenüber dem Boden der
Vertiefung 14. Die beiden einander gegenüberliegenden Enden
der beiden Biegefedern sind miteinander durch Längsträger 18
verbunden, dergestalt, daß die beiden Biegefedern 17 und die
beiden Längsträger 18 einen rechteckigen Rahmen bilden. Die
Längsträger 18 sind ebenfalls relativ zum Träger 10 und der
Vertiefung 14 beweglich. In dem von den beiden Biegefedern
17 und den beiden Längsträgern 18 gebildeten Rahmen befindet
sich ein Querbalken 19, welcher parallel zu den beiden
Biegefedern verläuft. Der Querbalken 19 ist auf beiden
Seiten mit einer durchbrochenen Struktur 20 versehen, welche
im hier gewählten Ausführungsbeispiel als Kammstruktur
ausgebildet ist. Die Unterseite der durchbrochenen Struktur
20 ist mit einer elektrisch leitfähigen Beschichtung
versehen, welche in der in Fig. 1 gewählten Darstellung
nicht sichtbar ist. Die elektrisch leitende Beschichtung ist
so dimensioniert und angeordnet, daß sie einen Teil der
Grundelektrode 22 überdeckt, und daß diese Überdeckung
verringert oder vergrößert wird, wenn die Biegefeder 17
gebogen wird.
In Fig. 1 ist weiterhin eine Beschleunigung 100 gezeigt,
welche in etwa entlang der Verbindungslinie zwischen den
beiden Widerlagern 16 wirkt. Durch die Wirkung der
Beschleunigung 100 werden die beiden Biegefedern gebogen,
die beiden Längsträger 18 verschieben sich in ihrer
Längsrichtung. Die seismische Masse 21, bestehend aus dem
Längsträger 18, dem Querbalken 19 und der durchbrochenen
Struktur 20, wird ebenfalls entlang der Wirkungslinie der
Beschleunigung 100 verschoben. Hierdurch ergibt sich ein
anderer Überdeckungsgrad zwischen der Grundelektrode 22 und
der leitfähigen Beschichtung auf der Unterseite der
seismischen Masse, insbesondere der durchbrochenen Struktur
20. Dieser Überdeckungsgrad kann dadurch gemessen werden,
daß die Kapazität zwischen der Grundelektrode 22 und der
leitfähigen Beschichtung gemessen wird. Diese Kapazität ist
somit ein Maß für die Höhe der Beschleunigung 100.
Durch den rechteckigen Querschnitt der Biegefeder 17
verbiegt sie sich nur bei Einwirkung von Beschleunigungen,
welche in etwa parallel zur Beschleunigung 100 wirken.
Beschleunigungskomponenten, welche senkrecht auf der
Richtung der Beschleunigung 100 stehen, werden somit nicht
detektiert.
Fig. 2a zeigt einen Beschleunigungssensor, wie er in Fig.
1 perspektivisch dargestellt ist, in Aufsicht. Der
Beschleunigungssensor weist eine seismische Masse 21 auf,
welche als Querbalken 19 mit daran angebrachten
durchbrochenen Strukturen 20 und Längsträgern 19 ausgebildet
ist. Die beiden Enden des Querbalkens 19 sind jeweils mit
der Mitte eines Längsträgers 18 verbunden. Die Enden der
beiden Längsträger 18 sind jeweils mit einer Biegefeder 17
verbunden, so daß Längsträger 18 und Biegefeder 17 eine
rahmenähnliche Struktur bilden. Die Biegefedern 17 sind etwa
in ihrer Mitte mit einem Widerlager 16 verbunden, welche
wiederum starr mit einem Träger 10 verbunden sind. Unterhalb
der durchbrochenen Struktur ist eine Grundelektrode 22
sichtbar. Die Grundelektrode 22 ist im vorliegenden
Ausführungsbeispiel als leitfähige Beschichtung mit in etwa
rechteckigem Grundriß ausgebildet, wobei die von Teilen der
durchbrochenen Struktur 20 teilweise bedeckt wird. Wie in
Fig. 1 ist eine Beschleunigung 100 eingezeichnet, welche in
etwa in Richtung der Verbindungslinien zwischen den beiden
Widerlagern wirkt.
In Fig. 2b ist ein Querschnitt durch den in Fig. 1 und 2
dargestellten Beschleunigungssensor entlang der Schnittlinie
A-A' dargestellt, wobei gleiche Bestandteile mit den
gleichen Bezugszeichen versehen wurden. Der Träger 10 weist
eine Vertiefung 14 auf, in welcher der Längsträger 18
verläuft. Es ist deutlich sichtbar, daß der Längsträger 18
nicht mit dem Träger 10 verbunden daher beweglich ist. Auf
dem Träger 10 ist ein Bereich innerhalb der Vertiefung 14
mit der Grundelektrode 22 versehen. Über der Grundelektrode
22, jedoch nicht mit dieser verbunden, befindet sich ein
Teil der durchbrochenen Struktur 20.
Zur besseren Verdeutlichung der Funktionsweise und des
Aufbaus kann man sich den Sensor auch als ein aus drei
Schichten aufgebautes Bauteil vorstellen: Die erste Schicht
11 wird von dem Träger 10 gebildet, welcher fest ist. Die
dritte Schicht 13 umfaßt die beweglichen Strukturen, wie die
seismische Masse, die Biegefeder, und das Widerlager 16. Die
zweite Schicht 12 trennt die beweglichen Strukturen von der
ersten Schicht und verbindet das Widerlager mit derselben.
Durch die Ausbildung der seismischen Masse als Querbalken 19
und durchbrochene Struktur 20 wird ein besonders sensitiver
Sensor erreicht. Für einen besonders sensitiven Sensor ist
es wünschenswert, eine relativ große seismische Masse zu
erzeugen, wobei die relative Größe durch die Steifigkeit der
Biegefeder bestimmt wird. Weiterhin sollte der Abstand
zwischen seismischer Masse und Grundelektrode möglichst
gering sein. Eine solche große seismische Masse mit geringem
Abstand von der Grundelektrode ist einfacher zu produzieren,
wenn wenigstens Teile der seismischen Masse als
durchbrochene Struktur 20 ausgeführt werden.
Ein Herstellungsverfahren für einen Beschleunigungssensor
wie er in den Fig. 1 bis 2b dargestellt ist, wird anhand
der Fig. 3a bis 3c beschrieben.
Zur Herstellung des Beschleunigungssensors wird ein
Siliziumsubstrat 30, welches vorzugsweise ein
einkristallines Silizium ist, mit thermischem Siliziumoxid
31 überwachsen. Nach Aufwachsen des thermischen
Siliziumoxids 31 auf dem Silizium 30 wird auf dem
thermischen Siliziumoxid dünnes polykristallines Silizium
(Poly-Si) abgeschieden, dotiert, beispielsweise mittels
Ionenimplantation, und strukturiert. Die Strukturierung des
Polysiliziums 32 folgt dergestalt, daß das Polysilizium 32
beispielsweise eine Grundelektrode 22 oder eine Leitung zur
Grundelektrode 22 darstellt. Anschließend wird eine nächste
Siliziumoxidschicht aufgebracht, das sogenannte Opferoxid
33. Die Dicke des Opferoxids 33 bemißt sich nach dem später
gewünschten Abstand zwischen seismischer Masse
Grundelektrode. Auf das Opferoxid wird eine weitere dünne
Schicht aus polykristallinem Silizium aufgebracht, das
sogenannte Start-Polysilizium 34. Auch das Start-Poly
silizium wird strukturiert, indem es an den Stellen
entfernt wird, an welchen später eine fest darunterliegenden
Schichten verbundene Struktur gewünscht wird.
Das Zwischenprodukt nach diesen Prozeßschritten ist in Fig.
3a gezeigt.
Auf das in Fig. 3a dargestellte Zwischenprodukt wird eine
Schicht aus epitaktischem polykristallinem Silizium
aufgebracht, das sogenannte Epi-Polysilzium 35. Aus dem Epi-Poly
silizium werden in einem nächsten Prozeßschritt die
beweglichen Strukturen, wie beispielsweise die seismische
Masse, die Querbalken, die Biegefedern, und die Widerlager
herausstrukturiert. Dies geschieht durch einen sogenannten
tiefen Trench, bei welchem schmale tiefe Gräben in der
Polysiliziumschicht hergestellt werden. Das Opferoxid 33
dient bei der Herstellung der schmalen Tiefengräben 36 als
sogenannte Ätzstopschicht. Das Zwischenprodukt nach diesem
Verfahrensschritt ist in Fig. 3b dargestellt.
Um zu dem in Fig. 3c dargestellten letzten Zwischenprodukt
zu gelangen, wird das Opferoxid 33 entfernt. Die Entfernung
des Opferoxids geschieht durch selektives Unterätzen, indem
ein flußsäurehaltiges Ätzmedium durch die schmalen
Tiefengräben 36 eingeführt wird. Das Ätzmedium entfernt
Siliziumoxid, greift jedoch Polysilizium nicht an. Somit
bleiben die Strukturen im Epi-Polysilizium 35 klar mit dem
Substrat 30 verbunden, welche aus Bereichen
herausstrukturiert werden, in welchen ein Loch in das
Opferoxid strukturiert wurde.
Ein weiteres Verfahren zur Herstellung eines
Beschleunigungssensors ist in den Fig. 4a bis 4g
dargestellt.
Ausgangspunkt des in den Fig. 4a bis 4g beschriebenen
Verfahrens bildet die Grundplatte 50. Die Grundplatte 50
kann beispielsweise ein integrierter Schaltkreis sein,
welcher die Auswerteelektronik für den Beschleunigungssensor
enthält. Sie kann jedoch ebenso beispielsweise ein
einkristallines Substrat sein oder eine Metallplatte. Die
Grundplatte 50 wird mit einer Passivierung 51 versehen,
welche in Form einer dünnen Schicht auf die Grundplatte 50
aufgebracht wird. An vorgegebenen Stellen wird die
Passivierung 51 entfernt und durch eine untere Elektrode 52
sowie ein Anschlußpad 53 ersetzt. Es ist darauf zu achten,
daß die untere Elektrode 52 und das Anschlußpad 53 nicht
elektrisch verbunden sind. Wird also Grundplatte 50 eine
Metallplatte verwendet, so sind zusätzlich Mittel
vorzusehen, entweder die untere Elektrode 52 oder das
Anschlußpad 53 oder beide gegenüber der Grundplatte 50 zu
isolieren. Auf der mit der Passivierung 51 versehene
Grundplatte 50 wird eine Beschichtung aus Photolack 54
aufgetragen. Die Schichtdicke des Photolacks 54 entspricht
dem späteren Abstand zwischen seismischer Masse und
Elektrode. Anschließend wird der Photolack im Bereich des
Anschlußpads 53 entfernt, so daß eine erste Öffnung 56 im
Bereich des Anschlußpads 53 entsteht. Das hieraus folgende
Zwischenprodukt ist in Fig. 4a dargestellt.
Fig. 4b zeigt das Zwischenprodukt, nachdem auf die
Passivierung 51 und Photolack 54 beschichtete Grundplatte 50
eine weitere leitfähige Hilfsbeschichtung 55 aufgebracht
wurde.
Auf die Grundplatte 50, die mit einer Passivierung 51, dem
Photolack 54, der leitfähigen Hilfsbeschichtung 55 versehen
ist, wird ein dicker Photolack 57 aufgebracht. Die
Schichtdicke des dicken Photolacks 57 bemißt sich nach der
gewünschten Höhe des Widerlagers und der seismischen Masse.
Es ist hierbei zu berücksichtigen, daß die Dicke des dicken
Photolacks 57 wenigstens gleich groß ist wie die Höhe der
später zu erzeugenden seismischen Masse. Auf den dicken
Photolack 57 wird eine Oxidschicht 58 aufgebracht, auf
welche wiederum ein dünner Photolack 59 aufgebracht wird.
Das Zwischenprodukt nach diesen Verfahrensschritten ist in
Fig. 4c dargestellt.
Mit Hilfe einer Maske, welche nicht in Fig. 4b dargestellt
ist, wird der dünne Photolack 59 in vorgegebenen Bereichen
belichtet. Anschließend werden die belichteten Bereiche des
dünnen Photolacks 59 entfernt, so daß eine erste
Vorläuferstruktur 60 entsteht. Es ist jedoch ebenso
vorstellbar, einen Photolack für die Beschichtung aus dünnem
Photolack 59 heranzuziehen, welcher erlaubt, die
unbelichteten Bereiche zu entfernen. Nach dem Entfernen des
dünnen Photolacks 59 in den vorgegebenen Bereichen wird die
darunterliegende Oxidschicht 58 entfernt, und zwar in
denjenigen Bereichen, in denen sie nicht mehr durch den
dünnen Photolack 59 geschützt ist. Somit ergibt sich als
nächstes Zwischenprodukt die schon aus Fig. 4b bekannte
Vielschichtstruktur mit einer Grundplatte 50, einer
Passivierung 51, dem Photolack 54 und der leitfähigen
Hilfsbeschichtung 55, welche mit dem dicken Photolack 57 und
einer doppelten Maske aus Oxid 58 und dünnem Photolack 59
bedeckt ist.
Im nächsten Verfahrensschritt wird eine anisotrope
Entfernung des Photolacks durchgeführt. Hierbei wird sowohl
der noch vorhandene dünne Photolack 59 als auch Teile des
dicken Photolacks 57 entfernt. Der dicke Photolack 57 wird
hierbei nur in jenen Bereichen entfernt, in welchen er nicht
durch das Oxid 58 geschützt ist. Somit entstehen in den
ungeschützten Bereichen erste Öffnungen 56, welche bis hinab
zur ersten leitfähigen Hilfsbeschichtung 55 reichen und die
lateralen Abmessungen des strukturierten Oxids 58 besitzen.
Das Zwischenprodukt nach diesem Schritt ist in Fig. 4e
dargestellt.
Das in Fig. 4e gezeigte Zwischenprodukt wird nunmehr einem
Galvanikschritt unterzogen, wobei die leitfähige
Hilfsbeschichtung 55 eine der beiden Elektroden erstellt. Es
ergibt sich somit das in Fig. 4f dargestellte
Zwischenprodukt, welches aus einer Grundplatte 50 mit darauf
aufgebrachter Passivierung 51, darauf aufgebrachtem
Photolack 54 mit einer sich darauf befindlichen leitfähigen
Hilfsbeschichtung 55 besteht. Auf diesem Vielschichtsystem
befindet sich der mit dem strukturierten Oxid 58 bedeckte
dicke Photolack 57, welcher nunmehr mit einer Befüllung 62
befüllte zweite Vorläuferstrukturen aufweist. In einem
letzten Schritt wird der gesamte Photolack der Schichten 57
und 54 mit samt den darauf befindlichen leitfähigen
Hilfsbeschichtungen 55 und dem Oxid 58 entfernt. Somit
verbleibt eine Struktur, welche aus der Grundplatte 50 mit
der darauf befindlichen Passivierung 51 besteht, wobei in
der Passivierung eine untere Elektrode 52 und ein
Anschlußpad 53 vorhanden sind. Auf dem Anschlußpad 53
befindet sich eine Metallstruktur, welche aus der Befüllung
62 und einem Teil der leitfähigen Hilfsbeschichtung 55
entstand, und welche fest mit der Grundplatte 50 verbunden
ist. Diese Struktur kann in dem Drucksensor als Widerlager
16 benutzt werden. Weiterhin weist das Verfahrensprodukt in
Fig. 4g weitere Metallstrukturen aufs welche nicht
unmittelbar mit der Grundplatte 50 verbunden sind, jedoch
mit dem Widerlager 16 verbunden sind, in einer nicht in der
Zeichnung dargestellten Schnittebene. Diese Metallstrukturen
bestanden aus der Befüllung von zweiten Vorläuferstrukturen
61, welche in Bereichen angeordnet waren, in welchen der
Photolack 54 nicht strukturiert wurde. Diese
Metallstrukturen bilden sowohl die Längsträger 18 als auch
die durchbrochene Struktur 20. Weiterhin sind Mittel
vorgesehen, die Kapazität zwischen der durchbrochenen
Struktur 20 und der unteren Elektrode 52 zu messen,
beispielsweise elektrische Leitungen 70.
Es ist jedoch ebenso denkbar, die Datenauswertung direkt in
der als elektrischem Chip ausgebildeten Grundplatte 50
vorzunehmen, wobei die beiden Meßsignale an der unteren
Elektrode 52 und dem Anschlußpad 53 anliegen.
Auch das in den Fig. 4a bis 4g dargestellte Verfahren
basiert auf dem Ablösen des Photolacks 54, nachdem die
seismische Masse hergestellt wurde. Der Photolack 54 kann
nur dann unter der seismischen Masse herausstrukturiert
werden, wenn diese zumindest teilweise als durchbrochene
Struktur 20 ausgebildet ist. Andernfalls müßte die
seismische Masse klein gehalten werden.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist auch zur Herstellung
anderer Sensoren als den in den Fig. 1 bis 2b
dargestellten Sensor verwendbar. Fig. 5a und 5b zeigen
zwei weitere Ausführungsbeispiele für einen
erfindungsgemäßen Beschleunigungssensor.
In Fig. 5a weist die bewegliche Struktur 2 Querbalken 19
auf, so daß die Querbalken 19 und Längsträger 18 ein
Rechteck bilden. Die durchbrochene Struktur 20 ist hierbei
als Siebstruktur und nicht als Kammstruktur wie in Fig. 1
ausgeführt. Diese Änderung sorgt für eine weiter verbesserte
Herstellbarkeit durch bessere Abtragung der Opferschicht.
Ebenso ist eine andere Formgebung für die Biegefeder 17
denkbar, wie es in Fig. 5b dargestellt ist, wobei die
restliche bewegliche Struktur gegenüber Fig. 5a unverändert
blieb.
Claims (18)
1. Beschleunigungssensor mit einer ersten (11), einer
zweiten (12) und einer dritten Schicht (13), wobei die
Schichten aufeinander angeordnet sind, wobei weiterhin in
der zweiten Schicht ein Fenster vorgesehen ist, wobei
weiterhin die dritte Schicht ein Widerlager (16) aufweist,
das mittelbar oder unmittelbar mit der zweiten Schicht
verbunden ist, wobei die dritte Schicht im Bereich des
Fensters eine Biegefeder (17), deren bevorzugte
Biegerichtung in etwa parallel zu der ersten Ebene verläuft,
und eine seismische Masse aufweist, wobei die Biegefeder
(17) an einem Ende mit dem Widerlager (16) und an dem
anderen Ende mit der seismischen Masse verbunden ist, wobei
weiterhin die erste Schicht im Bereich des Fensters eine
leitfähige Fläche (22) aufweist, die so angeordnet ist, daß
sie von der seismischen Masse teilweise überdeckt wird, und
daß die Überdeckung durch Verbiegung der Biegefeder
veränderlich ist, und mit Mitteln, die Kapazität zwischen
der seismischen Masse und der leitfähigen Fläche zu messen,
dadurch gekennzeichnet, daß
die seismische Masse wenigstens teilweise als durchbrochene
Struktur (20), insbesondere als Kammstruktur oder
Siebstruktur ausgebildet ist.
2. Beschleunigungssensor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, die Biegefeder an beiden Enden mit dem
Widerlager und in der Mitte mit der seismischen Masse
verbunden ist.
3. Beschleunigungssensor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, die Biegefeder an beiden Enden mit der
seismischen Masse und in der Mitte mit dem Widerlager
verbunden ist.
4. Beschleunigungssensor nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Schicht aus
Silizium besteht.
5. Beschleunigungssensor nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Schicht
aus Siliziumoxid besteht.
6. Beschleunigungssensor nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die dritte Schicht
aus Silizium besteht.
7. Beschleunigungssensor nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die leitfähige Fläche
durch Diffusion oder Ionenimplantation in der ersten Schicht
erzeugt wurden.
8. Beschleunigungssensor nach einem der Ansprüche 4 bis 7,
dadurch gekennzeichnet, daß die leitfähige Fläche durch
Aufbringen einer Polysiliziumschicht auf das Silizium und
anschließende Strukturierung des Polysiliziums erzeugt
wurde.
9. Beschleunigungssensor nach Al, dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Schicht aus einem mittels einer Schutzschicht
geschützten integrierten Schaltkreis besteht.
10. Beschleunigungssensor nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
7, 8, dadurch gekennzeichnet, daß die dritte Schicht aus
Metall besteht.
11. Verfahren zur Herstellung eines Beschleunigungssensors
gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte:
- a. Aufbringen einer Oxidschicht (31) auf ein Siliziumsubstrat (30),
- b. Erzeugen einer leitenden Schicht (32) in oder auf einem Bereich der Oxidschicht (30),
- c. Abscheiden einer Opfer-Oxidschicht (33),
- d. Aufbringen einer Polysiliziumschicht (34) auf der Opfer-Oxid schicht (33),
- e. Strukturierung der Polysiliziumschicht, indem diese teilweise entfernt wird,
- f. Entfernen des Opferoxids in den Bereichen, in denen die Polysiliziumschicht entfernt wurde,
- g. Aufbringen einer epitaktischen Polysiliziumschicht (35),
- h. Herausstrukturieren des Widerlagers, der Biegefeder und der seismischen Masse aus der epitaktischen Polysiliziumschicht, indem das Polysilizium bis zur Opfer-Oxidschicht entfernt wird,
- i. Entfernen der Opfer-Oxidschicht unter des seismischen Masse und der Biegefeder.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
die Oxidschicht durch thermische Oxidierung erzeugt wird.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 oder 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die leitende Schicht (32) durch
Aufbringen von Polysilizium und anschließendes Strukturieren
erzeugt wird.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch
gekennzeichnet, daß die leitende Schicht (32) durch
Ionenimplantation oder Eindiffusion in die Oxidschicht
erzeugt wird.
15. Verfahren zur Herstellung eines Beschleunigungssensors
gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte:
- a. Aufbringen eines ersten Photolacks (34) auf eine Grundplatte (50),
- b. Strukturieren des ersten Photolacks, so daß der strukturierte erste Photolack eine Negativform des Fensters darstellt.
- c. Beschichten des ersten Photolacks mit einer leitfähigen Hilfsschicht (55)
- d. Aufbringen einer dicken Photolackschicht (57).
- e. Aufbringen einer Oxidschicht (58).
- f. Aufbringen einer dünnen Photolackschicht (59).
- g. Strukturierung der dünnen Photolackschicht, indem die Bereiche, in denen die Biegefeder, das Widerlager und die seismische Masse entstehen sollen, entfernt werden.
- h. Entfernen der Oxidschicht in den vom Photolack befreiten Bereichen,
- i. Entfernen der dicken Photolackschicht in den von der Oxidschicht befreiten Bereichen,
- j. galvanische Abscheidung eines leitfähigen Materials in den in Schritt h. erzeugten Aussparungen in der dicken Photolackschicht.
- k. Entfernung der dicken Photolackschicht,
- l. Entfernung des leitfähigen Materials,
- m. Entfernung der ersten Photolackschicht.
16. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß
vor Beschichtung der Grundplatte mit einem leitfähigen
Material die erste Schicht mit einer Schutzschicht (51)
beschichtet wird.
17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
die Grundplatte als elektronischer integrierter Schaltkreis
ausgebildet ist.
18. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß
die Grundplatte als polymeres Substrat ausgebildet ist.
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|---|---|
| DE (1) | DE19719601A1 (de) |
Cited By (37)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001027026A1 (de) * | 1999-10-08 | 2001-04-19 | Hahn-Schickard Gesellschaft Für Angewandte Forschung E.V. | Elektromechanisches bauelement und verfahren zur herstellung desselben |
| WO2001044823A1 (de) * | 1999-12-16 | 2001-06-21 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanische federstruktur, insbesondere für einen drehratensensor |
| WO2001050137A3 (de) * | 2000-01-07 | 2001-12-27 | Bosch Gmbh Robert | Mikromechanische struktur, insbesondere für einen beschleunigungssensor oder drehratensensor, und entsprechendes herstellungsverfahren |
| DE10019408C2 (de) * | 2000-04-19 | 2003-11-13 | Bosch Gmbh Robert | Feldeffekttransistor, insbesondere zur Verwendung als Sensorelement oder Beschleunigungssensor, und Verfahren zu dessen Herstellung |
| WO2005029000A3 (en) * | 2003-02-20 | 2005-05-12 | Boeing Co | Isolated resonator gyroscope with compact flexures |
| US7040163B2 (en) | 2002-08-12 | 2006-05-09 | The Boeing Company | Isolated planar gyroscope with internal radial sensing and actuation |
| US7168318B2 (en) | 2002-08-12 | 2007-01-30 | California Institute Of Technology | Isolated planar mesogyroscope |
| US7285844B2 (en) | 2003-06-10 | 2007-10-23 | California Institute Of Technology | Multiple internal seal right micro-electro-mechanical system vacuum package |
| US7347095B2 (en) | 2002-08-12 | 2008-03-25 | The Boeing Company | Integral resonator gyroscope |
| US7437253B2 (en) | 2004-07-29 | 2008-10-14 | The Boeing Company | Parametrically disciplined operation of a vibratory gyroscope |
| DE102007057044A1 (de) * | 2007-09-10 | 2009-03-12 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Mikromechanische Feder |
| US7581443B2 (en) | 2005-07-20 | 2009-09-01 | The Boeing Company | Disc resonator gyroscopes |
| US7836765B2 (en) | 2007-07-31 | 2010-11-23 | The Boeing Company | Disc resonator integral inertial measurement unit |
| DE19847305B4 (de) * | 1998-10-14 | 2011-02-03 | Robert Bosch Gmbh | Herstellungsverfahren für eine mikromechanische Vorrichtung |
| US8138016B2 (en) | 2006-08-09 | 2012-03-20 | Hrl Laboratories, Llc | Large area integration of quartz resonators with electronics |
| DE102010047831A1 (de) * | 2010-10-05 | 2012-04-05 | Alfred Johannes Bergmann | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung einer Absenkung eines Fundaments eines Bauwerks |
| US8151640B1 (en) | 2008-02-05 | 2012-04-10 | Hrl Laboratories, Llc | MEMS on-chip inertial navigation system with error correction |
| US8176607B1 (en) | 2009-10-08 | 2012-05-15 | Hrl Laboratories, Llc | Method of fabricating quartz resonators |
| US8322028B2 (en) | 2009-04-01 | 2012-12-04 | The Boeing Company | Method of producing an isolator for a microelectromechanical system (MEMS) die |
| US8327526B2 (en) | 2009-05-27 | 2012-12-11 | The Boeing Company | Isolated active temperature regulator for vacuum packaging of a disc resonator gyroscope |
| US8393212B2 (en) | 2009-04-01 | 2013-03-12 | The Boeing Company | Environmentally robust disc resonator gyroscope |
| US8766745B1 (en) | 2007-07-25 | 2014-07-01 | Hrl Laboratories, Llc | Quartz-based disk resonator gyro with ultra-thin conductive outer electrodes and method of making same |
| US8769802B1 (en) | 2008-02-21 | 2014-07-08 | Hrl Laboratories, Llc | Method of fabrication an ultra-thin quartz resonator |
| US8782876B1 (en) | 2008-11-10 | 2014-07-22 | Hrl Laboratories, Llc | Method of manufacturing MEMS based quartz hybrid filters |
| US8912711B1 (en) | 2010-06-22 | 2014-12-16 | Hrl Laboratories, Llc | Thermal stress resistant resonator, and a method for fabricating same |
| US9250074B1 (en) | 2013-04-12 | 2016-02-02 | Hrl Laboratories, Llc | Resonator assembly comprising a silicon resonator and a quartz resonator |
| US9599470B1 (en) | 2013-09-11 | 2017-03-21 | Hrl Laboratories, Llc | Dielectric high Q MEMS shell gyroscope structure |
| US9977097B1 (en) | 2014-02-21 | 2018-05-22 | Hrl Laboratories, Llc | Micro-scale piezoelectric resonating magnetometer |
| US9991863B1 (en) | 2014-04-08 | 2018-06-05 | Hrl Laboratories, Llc | Rounded and curved integrated tethers for quartz resonators |
| US10031191B1 (en) | 2015-01-16 | 2018-07-24 | Hrl Laboratories, Llc | Piezoelectric magnetometer capable of sensing a magnetic field in multiple vectors |
| DE102017000827A1 (de) | 2017-01-27 | 2018-08-02 | Blickfeld GmbH | Lichtscanner mit Beschleunigungssensor |
| US10110198B1 (en) | 2015-12-17 | 2018-10-23 | Hrl Laboratories, Llc | Integrated quartz MEMS tuning fork resonator/oscillator |
| US10175307B1 (en) | 2016-01-15 | 2019-01-08 | Hrl Laboratories, Llc | FM demodulation system for quartz MEMS magnetometer |
| US10266398B1 (en) | 2007-07-25 | 2019-04-23 | Hrl Laboratories, Llc | ALD metal coatings for high Q MEMS structures |
| US10308505B1 (en) | 2014-08-11 | 2019-06-04 | Hrl Laboratories, Llc | Method and apparatus for the monolithic encapsulation of a micro-scale inertial navigation sensor suite |
| CN110308308A (zh) * | 2019-06-27 | 2019-10-08 | 深迪半导体(上海)有限公司 | 一种带补偿电极的面内平动式加速度计 |
| US11237000B1 (en) | 2018-05-09 | 2022-02-01 | Hrl Laboratories, Llc | Disk resonator gyroscope with out-of-plane electrodes |
-
1997
- 1997-05-09 DE DE1997119601 patent/DE19719601A1/de not_active Ceased
Cited By (50)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19847305B4 (de) * | 1998-10-14 | 2011-02-03 | Robert Bosch Gmbh | Herstellungsverfahren für eine mikromechanische Vorrichtung |
| WO2001027025A1 (de) * | 1999-10-08 | 2001-04-19 | Hahn-Schickard Gesellschaft Für Angewandte Forschung E.V. | Elektromechanisches bauelement und verfahren zur herstellung desselben |
| US6644117B1 (en) | 1999-10-08 | 2003-11-11 | Hahn-Schickard-Gesellschaft Fuer Angewandte Forschung E.V. | Electro-mechanical component and method for producing the same |
| WO2001027026A1 (de) * | 1999-10-08 | 2001-04-19 | Hahn-Schickard Gesellschaft Für Angewandte Forschung E.V. | Elektromechanisches bauelement und verfahren zur herstellung desselben |
| WO2001044823A1 (de) * | 1999-12-16 | 2001-06-21 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanische federstruktur, insbesondere für einen drehratensensor |
| WO2001050137A3 (de) * | 2000-01-07 | 2001-12-27 | Bosch Gmbh Robert | Mikromechanische struktur, insbesondere für einen beschleunigungssensor oder drehratensensor, und entsprechendes herstellungsverfahren |
| US6739193B2 (en) | 2000-01-07 | 2004-05-25 | Robert Bosch Gmbh | Micromechanical structure, in particular for an acceleration sensor or yaw rate sensor and a corresponding method for producing the same |
| DE10019408C2 (de) * | 2000-04-19 | 2003-11-13 | Bosch Gmbh Robert | Feldeffekttransistor, insbesondere zur Verwendung als Sensorelement oder Beschleunigungssensor, und Verfahren zu dessen Herstellung |
| US6724023B2 (en) | 2000-04-19 | 2004-04-20 | Robert Bosch Gmbh | Field effect transistor, especially for use as a sensor element or acceleration sensor |
| US7168318B2 (en) | 2002-08-12 | 2007-01-30 | California Institute Of Technology | Isolated planar mesogyroscope |
| US7347095B2 (en) | 2002-08-12 | 2008-03-25 | The Boeing Company | Integral resonator gyroscope |
| US7624494B2 (en) | 2002-08-12 | 2009-12-01 | California Institute Of Technology | Method of fabricating a mesoscaled resonator |
| US7040163B2 (en) | 2002-08-12 | 2006-05-09 | The Boeing Company | Isolated planar gyroscope with internal radial sensing and actuation |
| WO2005029000A3 (en) * | 2003-02-20 | 2005-05-12 | Boeing Co | Isolated resonator gyroscope with compact flexures |
| US9046541B1 (en) | 2003-04-30 | 2015-06-02 | Hrl Laboratories, Llc | Method for producing a disk resonator gyroscope |
| US7285844B2 (en) | 2003-06-10 | 2007-10-23 | California Institute Of Technology | Multiple internal seal right micro-electro-mechanical system vacuum package |
| US7437253B2 (en) | 2004-07-29 | 2008-10-14 | The Boeing Company | Parametrically disciplined operation of a vibratory gyroscope |
| US7581443B2 (en) | 2005-07-20 | 2009-09-01 | The Boeing Company | Disc resonator gyroscopes |
| US8138016B2 (en) | 2006-08-09 | 2012-03-20 | Hrl Laboratories, Llc | Large area integration of quartz resonators with electronics |
| US10266398B1 (en) | 2007-07-25 | 2019-04-23 | Hrl Laboratories, Llc | ALD metal coatings for high Q MEMS structures |
| US8766745B1 (en) | 2007-07-25 | 2014-07-01 | Hrl Laboratories, Llc | Quartz-based disk resonator gyro with ultra-thin conductive outer electrodes and method of making same |
| US7836765B2 (en) | 2007-07-31 | 2010-11-23 | The Boeing Company | Disc resonator integral inertial measurement unit |
| DE102007057044A1 (de) * | 2007-09-10 | 2009-03-12 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Mikromechanische Feder |
| US9920808B2 (en) | 2007-09-10 | 2018-03-20 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Micromechanical spring |
| DE102007057044B4 (de) | 2007-09-10 | 2021-08-05 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Mikromechanische Feder |
| US8151640B1 (en) | 2008-02-05 | 2012-04-10 | Hrl Laboratories, Llc | MEMS on-chip inertial navigation system with error correction |
| US8522612B1 (en) | 2008-02-05 | 2013-09-03 | Hrl Laboratories, Llc | MEMS on-chip inertial navigation system with error correction |
| US8769802B1 (en) | 2008-02-21 | 2014-07-08 | Hrl Laboratories, Llc | Method of fabrication an ultra-thin quartz resonator |
| US8782876B1 (en) | 2008-11-10 | 2014-07-22 | Hrl Laboratories, Llc | Method of manufacturing MEMS based quartz hybrid filters |
| US8393212B2 (en) | 2009-04-01 | 2013-03-12 | The Boeing Company | Environmentally robust disc resonator gyroscope |
| US8322028B2 (en) | 2009-04-01 | 2012-12-04 | The Boeing Company | Method of producing an isolator for a microelectromechanical system (MEMS) die |
| US8327526B2 (en) | 2009-05-27 | 2012-12-11 | The Boeing Company | Isolated active temperature regulator for vacuum packaging of a disc resonator gyroscope |
| US8593037B1 (en) | 2009-10-08 | 2013-11-26 | Hrl Laboratories, Llc | Resonator with a fluid cavity therein |
| US8176607B1 (en) | 2009-10-08 | 2012-05-15 | Hrl Laboratories, Llc | Method of fabricating quartz resonators |
| US8912711B1 (en) | 2010-06-22 | 2014-12-16 | Hrl Laboratories, Llc | Thermal stress resistant resonator, and a method for fabricating same |
| DE102010047831A1 (de) * | 2010-10-05 | 2012-04-05 | Alfred Johannes Bergmann | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung einer Absenkung eines Fundaments eines Bauwerks |
| US9250074B1 (en) | 2013-04-12 | 2016-02-02 | Hrl Laboratories, Llc | Resonator assembly comprising a silicon resonator and a quartz resonator |
| US9599470B1 (en) | 2013-09-11 | 2017-03-21 | Hrl Laboratories, Llc | Dielectric high Q MEMS shell gyroscope structure |
| US9977097B1 (en) | 2014-02-21 | 2018-05-22 | Hrl Laboratories, Llc | Micro-scale piezoelectric resonating magnetometer |
| US9991863B1 (en) | 2014-04-08 | 2018-06-05 | Hrl Laboratories, Llc | Rounded and curved integrated tethers for quartz resonators |
| US11117800B2 (en) | 2014-08-11 | 2021-09-14 | Hrl Laboratories, Llc | Method and apparatus for the monolithic encapsulation of a micro-scale inertial navigation sensor suite |
| US10308505B1 (en) | 2014-08-11 | 2019-06-04 | Hrl Laboratories, Llc | Method and apparatus for the monolithic encapsulation of a micro-scale inertial navigation sensor suite |
| US10031191B1 (en) | 2015-01-16 | 2018-07-24 | Hrl Laboratories, Llc | Piezoelectric magnetometer capable of sensing a magnetic field in multiple vectors |
| US10110198B1 (en) | 2015-12-17 | 2018-10-23 | Hrl Laboratories, Llc | Integrated quartz MEMS tuning fork resonator/oscillator |
| US10581402B1 (en) | 2015-12-17 | 2020-03-03 | Hrl Laboratories, Llc | Integrated quartz MEMS tuning fork resonator/oscillator |
| US10175307B1 (en) | 2016-01-15 | 2019-01-08 | Hrl Laboratories, Llc | FM demodulation system for quartz MEMS magnetometer |
| DE102017000827A1 (de) | 2017-01-27 | 2018-08-02 | Blickfeld GmbH | Lichtscanner mit Beschleunigungssensor |
| US11237000B1 (en) | 2018-05-09 | 2022-02-01 | Hrl Laboratories, Llc | Disk resonator gyroscope with out-of-plane electrodes |
| CN110308308A (zh) * | 2019-06-27 | 2019-10-08 | 深迪半导体(上海)有限公司 | 一种带补偿电极的面内平动式加速度计 |
| CN110308308B (zh) * | 2019-06-27 | 2021-07-13 | 深迪半导体(绍兴)有限公司 | 一种带补偿电极的面内平动式加速度计 |
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