DE1086745B - Impulsverstaerker mit Halbleiterdiode - Google Patents
Impulsverstaerker mit HalbleiterdiodeInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 10
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 6
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 5
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 3
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 3
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003446 memory effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000013641 positive control Substances 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/33—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of semiconductor devices exhibiting hole storage or enhancement effect
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Description
Schickt man durch eine Halbleiterflächendiode einen elektrischen Strom, so wird das Fließen des Stromes
in der Grenzschicht zwischen η-Halbleiter und p-Halbleiter
durch Bewegung von Elektronen und Defektelektronen (Löcher) bewirkt. Wenn dieser Strom in
Durchlaßrichtung fließt, so gelangen mehr Defektelektronen in den der Grenzschicht benachbarten
Bereich des η-Halbleiters, als dem spannungslosen Gleichgewichtszustand oder dem statischen Zustand
unter Sperrspannung entspricht. Es findet eine sogenannte Träger injektion in diesen Bereich statt.
Insbesondere bei Germanium- und Siliziumdioden bleiben diese zusätzlichen Defektelektronen nach dem
Abschalten des Durchlaßstromes für kurze Zeit, die durch die mittlere Lebensdauer derselben charakterisiert
werden kann, gespeichert. Infolge der Diffusion und Rekombination nimmt ihre Dichte mit der Zeit
nach einem Exponentialgesetz ab. Legt man während dieser Speicherzeit eine Sperrspannung an die Diode,
so fließt zunächst ein größerer Strom, als dem statischen Sperrstrom entspricht. Der Strom nimmt danach
in dem Maße ab, wie die Defektelektronen in der n-Halbleiterschicht verschwinden. Dadurch steigt der
Sperrwiderstand wieder an. Mit dem Sperrstrom selber ist darüber hinaus eine zusätzliche Rekombination
der Defektelektronen verbunden. Er bewirkt daher eine zusätzliche Verminderung der Dichte der
Defektelektronen. Die Zeit, während der gegenüber dem statischen Sperrstrom eine merkliche Stromerhöhung
vorhanden ist, nennt man auch Relaxationszeit. Besonders ausgeprägt ist dieser Effekt bei
Flächendioden.
Verwendet man diese Dioden als Gleichrichter oder Schaltdioden bei hohen Frequenzen, so wirkt die
Träger injektion und Speicherung störend, da dadurch
die Dioden gleichsam mit einer gewissen Trägheit arbeiten.
Man hat nun andererseits versucht, diesen Effekt besonders auszunutzen. In der amerikanischen Veröffentlichung
»National Bureau of Standards, Technical News Bulletin«, Vol. 38, Nr. 10, Okt. 1954, S. 145
bis 148, ist eine Methode angegeben, wie sich mit Hilfe einer Diode mit Speichereffekt in einfacher
Weise ein Impulsverstärker aufbauen läßt. Ein solcher Diodenverstärker ist in Fig. 1 dargestellt. Er besteht
aus der Diode D1 mit Speichereffekt, aus der Diode
D 2 ohne Speichereffekt, welche auch als Längsdiode bezeichnet wird, dem Arbeitswiderstand R2, der groß
gegenüber dem Durchlaßwiderstand und klein gegenüber dem Sperrwiderstand der Diode D1 ist, und dem
Widerstand R1, der relativ klein gegenüber R2 ist. Der Steuerelektrode £ des Diodenverstärkers wird
ein Steuerimpuls zugeführt, von dem ein Impuls in Fig. 2 dargestellt ist. Der Speiseelektrode 5" des Di-Impulsverstärker
mit Halbleiterdiode
Anmelder:
Siemens & Halske Aktiengesellschaft,
Berlin und München,
München 2, Witteisbacherplatz 2
München 2, Witteisbacherplatz 2
Dipl.-Phys. Hans Joachim Harloff, München,
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
odenverstärkers wird ein zeitlich zum Steuerimpuls
ao versetzter, unmodulierter Speiseimpuls zugeführt, dessen Amplitude fast so groß wie die Sperrdurchschlagsspannung
der DiodeDl sein kann. Der zum in Fig. 2 b gezeichneten Steuerimpuls gehörende Speiseimpuls
ist mit seiner zeitlichen Versetzung in Fig. 2 a dargestellt. Die beiden Dioden Dl und D 2 sind so gepolt,
daß sie von den Steuerimpulsen in Durchlaßrichtung beansprucht werden. Infolge eines solchen Impulses
fließt daher ein Strom über D2-D1-R1, so daß in der
η-leitenden Schicht der Diode Dl eine Trägerinjektion stattfinden kann, welche deren Sperrwiderstand
während der Relaxationszeit herabsetzt. Durch den folgenden Speiseimpuls wird diese Diode in Sperrrichtung
beansprucht. Der in diesem Moment wirksame Sperrwiderstand ist abhängig von der Stärke
der vorhergehenden Träger injektion, also von der Amplitude des Steuerimpulses und von der inzwischen
verstrichenen Zeit. Zwischen Steuerimpuls und Speiseimpuls besteht eine konstante zeitliche Versetzung,
so daß der Sperrwiderstand hier allein von der Amplitude des Steuerimpulses abhängig ist. Die vom jeweiligen
Speiseimpuls gelieferte Spannung teilt sich an der Reihenschaltung von Diode D1 und Arbeitswiderstand
R 2 auf. Die Diode D 2 wird hierbei in Sperrichtung beansprucht, so daß ihr Widerstand
groß gegen den Widerstand R 2 ist und daher die Spannungsteilung nicht beeinflußt. Je größer die Amplitude
des vorhergehenden Steuerimpulses war, desto· größer war die Trägerin] ektion, und desto kleiner ist
der wirksame Sperrwiderstand von Diode D2, und desto größer ist der zwischen der Ausgangselektrode A
und Masse liegende Teil der Speiseimpulsspannung. Steuerimpulsamplitude und Ausgangsimpulsamplitude
verändern sich also im gleichen Sinn. In Fig. 2c ist die im Ausgang^ abgegebene. Spannung Ua darge-
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stellt. Wenn die Amplituden der Steuerimpulse um den Betragt {Je schwanken, so verändert sich die
Amplitude der Ausgangsimpulse in diesem Beispiel um A Ua. Als Höhe der Impulse ist der sich jeweils
ergebende Mittelwert der Höhe zwischen Impulsanfang und Impulsende eingezeichnet worden. Über
die Impulsdauer nimmt nämlich auch die Trägerdichte in der Sperrschicht und damit auch die Ausgangsamplitude
ab. Während des Steuerimpulses tritt am Ausgang auch ein Impuls mit kleiner Amplitude auf,
der als Störimpuls wirken kann, da der Steuerimpuls einen Strom über die Durchlaßwiderstände der Dioden
D 2 und Di sowie den Widerstand R1 treibt
und an den letzten beiden Widerständen einen entsprechenden Spannungsabfall hervorruft. Während
des Speiseimpulses tritt ein wesentlich größerer Ausgangsimpuls auf, welcher der verstärkte Impuls ist
und dessen Amplitude fast so groß wie die Speiseimpulsamplitude werden kann. Der Diodenverstärker
liefert also eine Verstärkung und zeitliche Verschiebung der Steuerimpulse. Die Verstärkungsenergie
wird von den Speiseimpulsen geliefert.
Nach dem Ende des Speiseimpulses und damit auch nach dem Ende des Ausgangsimpulses ist in der Speicherdiode
noch eine gewisse Anzahl von Defektelektronen gespeichert, die nach einem Exponentialgesetz
mit einer bestimmten Zeitkonstanten abnimmt. Um eine eindeutige Auswertung des folgenden Steuerimpulses
zu gewährleisten, darf dieser erst zugeführt werden, wenn die Defektelektronen praktisch verschwunden
sind. Dies ist besonders wichtig, wenn mehrere Steuerimpulse aufeinanderfolgen. Entsprechend
darf, wenn kein weiterer Steuerimpuls zugeführt wird, der nächste Speiseimpuls ebenfalls erst nach dieser
Zeit einsetzen, da sonst fälschlicherweise ein Ausgangsimpuls
ohne vorherigen Steuerimpuls abgegeben werden würde. Durch die Größe der Zeitkonstanten
wird also eine obere Grenze der Pulsfolgefrequenz festgelegt. Während der Dauer eines Speiseimpulses
und des gleichzeitigen Ausgangsimpulses ist wegen der zusätzlichen Rekombination von Ladungsträgern
die Zeitkonstante wesentlich kleiner. Für eine gegebene Dauer dieser Impulse darf aber die währenddessen
wirksame Zeitkonstante nicht zu klein sein, damit nicht eine zu starke Abnahme der Impulsamplitude
über ihre Dauer oder gar eine Verkürzung des Impulses eintritt. Der Herabsetzung der Zeitkonstanten
zwecks Erhöhung der Pulsfolgefrequenz ist damit eine Grenze gesetzt. Es besteht also bei sonst festliegenden
Betriebsverhältnissen eine höchstzulässige Pulsfolgefrequenz, was den Anwendungsbereich derartiger
Diodenverstärker entsprechend einschränkt.
Es ist nun auch bekannt, siehe »Proceedings of the I.R.E.«, 1954, S. 1761/1762 und S. 1773ff., daß bei
pnp-Transistoren ebenfalls eine Ladungsträgerspeicherung auftritt. Derartige Transistoren enthalten nämlich
ebenfalls Halbleiterdiodenstrecken. Die Ladungsträgerspeicherung wirkt sich in störender Weise bei
Schaltvorgängen mit Hilfe von Transistoren aus. Es sind auch Maßnahmen getroffen worden, um diesen
Störeffekt zu vermeiden.
Mit Hilfe der nachfolgend beschriebenen Erfindung wird die Anwendungsfähigkeit von Diodenverstärkern
dadurch erheblich verbessert, daß die höchstzulässige Impulsfolgefrequenz wesentlich erhöht wird. Dabei
wird der sonst bei pnp-Transistoren auftretende und sich nachteilig auswirkende Effekt der Ladungsträgerspeicherung
als Nutzeffekt verwendet.
Bei dem erfindungsgemäßen Impulsverstärker handelt es sich also um einen mit einer Halbleiterdiode,
die eine Ladungsträgerspeicherung aufweist, ausgerüsteten Verstärker, dem Steuerimpulse über eine als
Entkopplung wirkende Längsdiode und zeitlich dazu versetzte Speiseimpulse mit gleicher Impulsfolgefrequenz
zugeführt werden. Dieser Impulsverstärker ist dadurch gekennzeichnet, daß als Speicherdiode die
Kollektor-Basis-Strecke eines pnp-Transistors verwendet wird, daß dessen Emitter nach dem Ende eines
jeden Speiseimpulses ein negativer Impuls zur Beseitigung der in der Basis gespeicherten Ladungsträger
zugeführt wird, der einen Sperrstrom über die Emitter-Basis-Strecke hervorruft, welcher über einen
parallel zur Basis-Kollektor-Strecke und dem Abschlußwiderstand liegenden und dagegen relativ niederohmigen
Widerstand abfließt, und daß jeweils nach dem Ablauf des negativen Impulses der nächste
Steuerimpuls einsetzt.
In der Fig. 3 ist ein Beispiel für einen derartigen Impulsverstärker dargestellt. Hierbei ist D die Längsdiode
des Verstärkers, R2 der erwähnte relativ hochohmige Abschlußwiderstand, T der Transistor und R1
der parallel zur Basis-Kollektor-Strecke und dem Abschlußwiderstand
R2 liegende, dagegen relativ niederohmige Widerstand. Über den Eingang £ wird der
positive Steuerimpuls Ue, über die Speiseelektrode 6" 1 der positive Speiseimpuls UsI und über die Speiseelektrode
vS"2 ein negativer Speiseimpuls Us2 zugeführt,
der sich zweckmäßigerweise unmittelbar an den positiven Speiseimpuls anschließt. In den Fig. 4 a, 4b,
4 c und 4d ist der Verlauf der obigen Impulsspannungen und der Spannungsverlauf Ua am Ausgang A des
Verstärkers dargestellt.
Infolge des Steuerimpulses Ue fließt ein Strom über die Diode D, über p- und η-Schicht der Kollektor-Basis-Strecke
des Transistors T und den Widerstand Rl, welcher in die η-Schicht Defektelektronen injiziert.
Der mit dem Speiseimpuls UsI verbundene Strom, der über die η-Schicht und die Kollektor-p-Schicht
des Transistors T und den Arbeitswiderstand R2 fließt, ruft am Ausgang A in bereits beschriebener
Weise den gleichzeitig auftretenden Ausgangsimpuls Ua hervor, denn wegen der vorhergehenden Defektelektronen-Injektion
ist die Basis-Kollektor-Strecke niederohmig gegen den Arbeitswiderstand R2. Der
dem Emitter zugeführte Speiseimpuls Us2, welcher das Emitterpotential absenkt, da er negativer Polarität
ist, ist verbunden mit einem Strom, der von Masse über den Widerstand R1 und über die η-Schicht und
die Emitter-p-Schicht des Transistors fließt. Die Strecke n-Schicht—Emitter-p-Schicht wirkt hier wie
eine in Sperrichtung beanspruchte Diodenstrecke und ist daher hochohmig gegen den Widerstand R1. Mit
dem Sperrstrom ist nun ein Abtransport der Defektelektronen aus der η-Schicht verbunden, wodurch
praktisch ihre Beseitigung bei geeigneter Dimensionierung des Speiseimpuls Us 2 erreicht wird. Da
der Widerstand R1 niederohmig gegen die hier in der
Reihe liegende Transistorstrecke ist, liegt an der η-Schicht, welche zugleich die Basis des Transistors
ist, nahezu Massepotential. Am Kollektor des Transistors kann daher ebenfalls keine merkliche Spannung
auftreten, so daß der Speiseimpuls Us2 sich nicht in störender Weise am Ausgang des Verstärkers bemerkbar
machen kann. Der Speiseimpuls Us2 bewirkt also lediglich die gewünschte Beseitigung der gespeicherten
Defektelektronen.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH:Mit einer Halbleiterdiode, die eine Ladungsträgerspeicherung aufweist, ausgerüsteter Impuls-verstärker, dem Steuerimpulse über eine als Entkopplung wirkende Längsdiode und zeitlich dazu versetzte Speiseimpulse mit gleicher Impulsfolgefrequenz zugeführt werden und bei dem die sich ergebenden Ausgangsimpulse über einenAbschlußwiderstand entnommen werden, dadurch gekennzeichnet, daß als Speicherdiode die Kollektor-Basis-Strecke eines pnp-Transistors (Γ) verwendet wird, daß dessen Emitter nach dem Ende eines jeden Speiseimpulses (UsI) ein negativer Impuls (Us2) zur Beseitigung der in der Basis gespeichertenLadungsträger zugeführt wird, der einen Sperrstrom über die Emitter-Basis-Strecke hervorruft, welcher über einen parallel zur Basis-Kollektor-Strecke und dem Abschluß widerstand (R2) liegenden und dagegen relativ niederohmigen Widerstand (Rl) abfließt, und daß jeweils nach dem Ablauf des negativen Impulses (Us2) der nächste Steuerimpuls (Ue) einsetzt.In Betracht gezogene Druckschriften:
Proceedings of the I.R.E., 1954, S. 1761, 1778.Hierzu 1 Blatt Zeichnungen©,009 570/277 8.60
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DES50656A DE1086745B (de) | 1956-09-28 | 1956-09-28 | Impulsverstaerker mit Halbleiterdiode |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DES50656A DE1086745B (de) | 1956-09-28 | 1956-09-28 | Impulsverstaerker mit Halbleiterdiode |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1086745B true DE1086745B (de) | 1960-08-11 |
Family
ID=7487884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DES50656A Pending DE1086745B (de) | 1956-09-28 | 1956-09-28 | Impulsverstaerker mit Halbleiterdiode |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE1086745B (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1299317B (de) * | 1964-05-25 | 1969-07-17 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zur Impulsformung mittels Speicherschaltdioden |
-
1956
- 1956-09-28 DE DES50656A patent/DE1086745B/de active Pending
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| None * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1299317B (de) * | 1964-05-25 | 1969-07-17 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zur Impulsformung mittels Speicherschaltdioden |
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