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DE1085264B - Verfahren zur Herstellung einer in einem Glasgehaeuse untergebrachten Halbleiteranordnung - Google Patents

Verfahren zur Herstellung einer in einem Glasgehaeuse untergebrachten Halbleiteranordnung

Info

Publication number
DE1085264B
DE1085264B DET15433A DET0015433A DE1085264B DE 1085264 B DE1085264 B DE 1085264B DE T15433 A DET15433 A DE T15433A DE T0015433 A DET0015433 A DE T0015433A DE 1085264 B DE1085264 B DE 1085264B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
glass
glass tube
base
connection
tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DET15433A
Other languages
English (en)
Inventor
Walter Klossika
Alfred Bauer
Gottlieb Mueller
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Telefunken AG
Original Assignee
Telefunken AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Telefunken AG filed Critical Telefunken AG
Priority to DET15433A priority Critical patent/DE1085264B/de
Publication of DE1085264B publication Critical patent/DE1085264B/de
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H10W95/00

Landscapes

  • Joining Of Glass To Other Materials (AREA)

Description

  • Verfahren zur Herstellung einer in einem Glasgehäuse untergebrachten Halbleiteranordnung Der Wunsch, Glasgehätise in der Röhren- und seit einiger Zeit auch in der Halbleiterfertigung zu verwenden, entspricht der Wirtschaftlichkeit des Glases und der Möglichkeit, durch Glaseinschmelzungen das Halbleitersystem vakuumdicht abzuschließen. Die schon seit vielen Jahren in der Röhrentechnik zur Anwendung kommende und daher ausgereifte Glastechnologie kann aber nicht ohne weiteres auf die Halbleiterfertigung übertragen, werden.
  • Bei den üblichen Glaseinschmelzungen entsteht nämlich eine erhebliche Wärme, die keinesfalls auf die im Gehäuse eingebaute Halbleiteranordnung einwirken darf. Dies gilt im besonderen Maße für Legierungstransistoren, deren Legierungspillen schon bei relativ tiefen Temperaturen - z. B. bei Verwendung von Indium als Legierungsmaterial bei 154' C - schmelzen.. Der Schmelzpunkt des Glases und damit die Arbeitstemperatur bei Röhreneinschmelzungen liegt dagegen bei 800' C, einer Temperatur, bei der das Halbleiterelement mit Sicherheit zerstört werden würde.
  • Es sind also besondere Vorkehrungen zu treffen, um die hühen. Temperaturen von den Halbleiteranordnungen fernzuhalten und damit auch Glaseinkapselunge-n bei Transistoren zu ermöglichen. Ein bereits bekannter Vorschlag besteht darin, an die aus dem Glasgehäuse herausführenden'Zuleitungen im Innern des Glasgehäuses Drähte besonders hohen Wärmewiderstandes anzulöten und diese mit den Halbleiterelektroden zu verbinden. Auf diese Weise wird die durch die Elektrodenanschlüsse zwischen Glas und Halbleiterelektroden bestehende Wärmeleitung reduziert. Zur Erhöhung des thermischen übergangswiderstandes ist aber bei diesem Verfahren noch, eine zusätzliche Einbettung des Halbleiterkörpers in Silikonfett erforderlich. Die Unterteilung der Elektrodenanschlüsse in stabile Drähte für die äußere Zuleitung und dünne Drähte für die Zuleitung zu den Halbleiterelektroden kann jedoch nicht als befriedigende Lösung angesehen werden. Die Einbettung des Halbleiterkörpers in Silikonfett ist dagegen sogar zu vermeiden, weil die Halbleiteroberfläche durch das Silikonfett unter Umständen nachteilig beeinflußt wird.
  • Es wurde daher ein Verfahren entwickelt, welches nicht die hohen, hisher üblichen Temperaturen erfordert und trotzdem den Glasfuß mit dem Glasgehäuse vakuumdicht und dauerhaft verbindet.
  • Zur Herstellung einer in einem Glasgehäuse untergebrachten Halbleiteranordnung wird nach der Erfindung vorgeschlagen, daß als Glasgehäuse ein Glasrohr solcher Länge verwendet wird, daß beim Ab-schmelzen ein Glasrohrstück zum Abziehen verbleibt und die Abschmelzstelle weiter, als durch die geometrischen Abmessungen des Halbleitersystems erforderlich ' vom Halbleitersystern entfernt ist, und zwar so weit, daß keine schädlichen thermischen Einwirkungen beim Abschmelzen auf das Halbleitersystem eintreten, daß die Verbindung zwischen Glasfuß und Glasrohr durch Erwärmung der Verbindungsstelle auf eine unterhalb des Glaschmelzpunktes liegende Temperatur und durch gleichzeitige Anwendung von mechanischem Druck hergestellt wird und daß bei der Verbindung von Glasrohr und Glasfuß durch die noch verbleibende Glasrohröffnung Kühlgas in das Glasrohr eingeführt wird.
  • Die Herstellung der Verbindung zwischen Glasfuß und Glasrohr durch Erwärmung der Verbindungsstelle auf eine unterhalb des Glasschmelzpunktes liegende Temperatur und durch gleichzeitige Anwendung von mechanischem Druck ist bereits bekannt. Soll bei diesem Verfahren das thermisch so empfindliche Halbleitersystem keinen Schaden erleiden, so. ist die Zuführung von Kühlluft bei der Verschmelzung von Glassockel und Glasrohr jedoch unerläßlich. Die Kühlluft dient außer der Kühlung noch dein Zweck, den beim Einschmelzen mittels Gasflammen entstehenden Wasserdampf und damit die Feuchtigkeit aus dem Glasrohr zu entfernen. Die vorliegende Bemessung der Gasrohrlänge berücksichtigt nicht nur die Tatsache, daß die Abschmelzstelle genügenden Abstand vom Halbleitersystem haben muß, sondern führt darüber hinaus noch zu einer Art Schornsteineffekt, der dadurch zustande kommt, daß durch das oberhalb der Abschmelzstelle anfänglich verbleibende Glasrohrstück die beim Abschmelzen erwärmte Luft nach oben steigt und dadurch verhindert, daß dann., wenn keine Kühlluft mehr zugeführt werden kann, Feuchtigkeit im Glasgehäuse entsteht. Es ist zweckmäßig, den Glasfuß so zu dimensionieren, daß der Glasfuß infolge -der Isolationseigenschaften seiner Glasmasse eine wesentliche Wärmeübertragung auf die Halbleiteranordnung verhindert.
  • Beim Zuschmelzen von Glasgehäusen sind zwei Vorgänge zu unterscheiden, einmal die bereits erwähnte Verbindung zwischen Glasfuß und Glasgehäuse und dann das Zuschmelzen der zur Einführung von Kühlluft bzw. einer Kühldüse noch verbliebenen Öffnung des Glasgehäuses.
  • Der abschließende Vorgang des Zuschmelzens des Glasgehäuses, im allgemeinen als eines Glasröhrchens, ist weniger kritisch, da zwischen der Einschmelzzone und der Halbleiteranordnung keine wärmeleitende Verbindung durch Elektrodenzuleitungen oder auch durch den Glasfuß besteht. Es kann dabei also mit der üblichen Einschmelztechnik gearbeitet werden, wenn man ein genügend langes Glasröhrchen nimmt und somit die Möglichkeit hat, beim Abschmelzen den erforderlichen Abstand von der Halbleiteranordnung einzuhalten. Es ist aber auch dabei vorteilhaft, durch vorsichtiges Abziehen des noch verbleibenden Glasrohrreststückes den Vorgang..zu beschleunigen.
  • Demgegenüber ist die Herstellung einer Verhindung von Glasfuß und Glasrohr weitaus 'kritischer, da dabei die Gefahr einer,schädlichen Wärmeeinwirkung auf das Halbleiterelement besteht. Der Glasfuß ist ein Glaskörper, der auch oft als Preßteller bezeichnet wird, in, den die KlAtrodenzuleitungen eingeschmolzen sind. Die Elekirodenzuleitungen. werden noch vor dem hier behandelten Verbindungsvorgang mit den Halbleiterelektroden, verbunden, so daß mit dem Einbringen des Glasfuß - es in das Glasrohr und der Verbindung der beiden gleichzeitig die Halbleiteranordnung im Glasrohrgehäuse untergebracht und befestigt wird. Erst danach wird, wie bereits erwähnt, das Glasrohr auf der noch offenen. Seite vakuumdicht abgeschlossen.
  • Bei der Verbindung zwischen Glasfuß und Glasrohr handelt es sich nicht um eine Glasverschmelzung im üblichen Sinne, sondern um eine Art Glaspreßverbindung. Die Arbeitstemperatur liegt dabei erheblich unter dem Schmelzpunkt des Glases, und eine Verbindung kommt nur unter gleichzeitiger Einwirkung von Druck auf die zu verhindenden Flächen zustande. Der Glasfuß wird vorzugsweise so ausgebildet, daß er aus einer relativ großen Glasmasse besteht und so die beim Verbindungsprozeß auf die Verbindungsfläche einwirkende Wärme weitgehend vom Halbleiterkörper fernhält. Zur Herstellung der V ' erbindung allein, ohne Rücksicht auf die dabei auftretenden Wärmeprobleine, würde ein flacher Glasfuß genügen. Zum Schutz der Halbleiteranordnungen vor der bei der Glaspreßverbindung auftretenden Wärme trägt noch eine Kühlgaszone bei, die durch Einführung einer Düse in die noch zugängliche Glasrohröffnung erzeugt wird. Es hat sich auch als vortei Ihaft erwiesen, den Glasfuß konisch auszubilden; das ist aber nur dann sinnvoll, wenn gleichzeitig das Glasrohr am entsprechenden Rand aufgebördelt ist und somit auch kanisch verläuft.
  • Das Verfahren nach der Erfindung soll an. einem Beispiel näher erläutert werden.
  • Fig. 1 zeigt, wie der Glasfuß 2 in das Glasrohr 6 eingebracht wird. Mit dem Glasfuß 2 sind schon vorher die Zuleitungen 1 verschmolzen und danach mit den Halbleiterelektroden verbunden worden. Die Einhaltung der Reihenfolgen dieser Verfahrensschritte ist wichtig, da so beim Einschmelzen der Zuleitungen 1 in den Glasfuß 2 auf die noch nicht an die Zuleitungen 1 angeschlossene Halbleiteranordnung 4 keine Rücksicht genommen werden muß. Das Glasrohr 6 ist nach Fig. 1 an seinem oberen Rand 3 aufgebördelt und dadurch konisch erweitert. Der Glasfuß 2 ist diesem Verlauf angepaßt und ebenfalls konisch geformt. In Fig. 2 ist das System Glasfuß -Halbleiteranordnung bereits in das Glasrohr 6 eingebracht, und aus dieser Figur ist ersichtlich, daß die Verbindungsfläche zwischen Glasfuß 2 und Glasrohr 6 relativ klein ist, gemessen an den Abmessungen des Glasfußes 2. Die Größe des Glasfußes 2 richtet sich aber nicht nur nach den Erfordernissen der Verbindung mit dem Glasrohr 6, sondern der Glaskörper des Glasfußes 2 wird bewußt so groß ausgelegt, daß bei der Glaspreßverbindung die Glasmasse des Glasfußes 2 möglichst wenig Wärmeübertragung auf die Halbleiteranordnung 4 zuläßt.
  • Wenn nun der Glasfuß 2 in das Glasrohr 6 eingeführt und von oben an den aufgebördelten Glasrohrabschnitt angedrückt ist, wird zweckmäßig das zu verschmelzende System in Rotation versetzt und eine oder mehrere Flammen 9 an die Verhindungsflächen herangeführt. Die Heizkraft der herangeführten Flammen 9 soll so eingestellt sein, daß die zu verbindenden Glasflächen nur etwa 10OP,0 über 4300%C,t, den Transformationspunkt des Glases, erwärmt werden. Gleichzeitig wird ein seitlicher Druck auf die Verbindungsflächen durch eine oder mehrere an den konisch verlaufenden Rohrabschnitt herangeführte Rolle(n) 7 ausgeübt. Die Halbleiteranordnung wird vor Wärme nicht nur durch die Glasmasse des Glasfußes 2 geschützt, sondern gleichzeitig durch die Kühlgaszone einer in die noch zugängliche GlasrohrÖffnung eingeführten Düse 8. Der Eintritt des Kühlgases soll mÖglichst vor Einwirkung der Flammen erfolgen, und die Kühlgaszone soll auch noch nach beendigter Glaspreßverbindung zur Verhinderung nachträglicher Wärmezuleitung bestehenbleiben.
  • Nach Herstellung der Glaspreßverbindung muß das Glasrohr 6 auf der noch offenen Seite verschmolzen werden. Die Schmelzzone muß dabei so weit von der Halbleiteranordnung entfernt sein, daß eine Wärmeeinwirkung auf das Halbleiter- und Legierungsmaterial in zulässigen Grenzen bleibt. Das Glasrohr 6 soll in seiner Längenausdehnung so bemessen werden, daß die Glasrohrlänge die erforderliche Gehäuselänge übersteigt. Unter diesen Umständen ist es nämlich nach Fig. 3 möglich, mittels eines Greifers 12 den oberhalb der Schmelzzone liegenden und nicht zur Glaseinkapselung erforderlichen Teil 14 des Glasrohres 6 vom eigentlichen Gehäuse bei entsprechender Temperatur abzuziehen. Das Abziehen des Glasrohrstückes 14 erfolgt langsam, und dabei ergibt sich als Abschlußfläche die Kuppe 13. Die Erwärmung der Schmelzzone wird wieder durch eine Flamme 9 vorgenommen, die aber nur in einer schmalen Zone auf das Glasrohr einwirken soll.
  • Erst durch die Einführung des erheblich unter der Schmelztemperatur des Glases und mit Kühlluft und Druck arbeitenden Glaspreßverfahrens zur Herstellung einer vakuumdichten Verbindung zwischen dein zur Verhinderung von Wärmeleitung überdiinensionierten Gla-sfuß und dem Glasgehäuse konnte das Problem der Einkapselung von nicht in irgendwelche Schutzfette eingebetteten Halbleiteranordnungen in Glasgehäuse befriedigend gelöst werden. Die Zuschmelzung der dem Glasfuß gegenüberliegenden Glasrohröffnung ist weniger kritisch, da hierbei keine Zuleitungen in direktem Kontakt mit der Halbleiteranordnung stehen und eine von der Schmelzzone ausgehende Wärmeleitung nur über die die Halbleiteranordnung umgebende Atmosphäre möglich ist. Das vorliegende Verfahren läßt sich weitgehend automatisch durchführen mit Anordnungen, die selbsttätig das Einführen des Glasfußes in das Glasgehäuse, das Einschwenken der Flammen und der zur Ausübung von seitlichem Druck erforderlichen Rollen und die noch weiterhin erforderlichen Maßnahmen ausführen.

Claims (2)

  1. PATENTANSPR(ICHE: 1. Verfahren zur Herstellung einer in einem Glasgebäuse untergebrachten Halbleiteranordnung, dadurch gekennzeichnet, daß als Glasgehäuse ein Glasrohr solcher Länge verwendet wird, daß beim Abschmelzen ein Glasrohrstück zum Abziehen verbleibt und die Abschmelzstelle weiter, als durch die geometrischen Abmessungen des Halbleitersystems erforderlich, vom Halbleitersystem entfernt ist, und zwar so weit, daß keine schädlichen thermischen Einwirkungen beim Ab-schmelzen auf das Halbleitersystem eintreten, daß die Verbindung zwischen Glasfuß und Glasrohr durch Erwärmung der Verhindungsstelle auf eine unterhalb des Glasschmelzpunktes liegende Temperatur und durch gleichzeitige Anwendung von mechanischem Druck hergestellt wird und daß bei der Verbindung von Glasrohr und Glasfuß durch die noch verbleibende Glasrohröffnung Kühlgas in das Glasrohr eingeführt wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Glasfuß verwendet wird, der so viel Glasmasse aufweist, daß eine wesentliche Wärmeübertragung der bei dem Verbindungsprozeß auftretenden Wärme auf die Halbleiteranordnung vermieden wird. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Verbindung von Glasfuß und Glasrohr bei etwa 500' C hergestellt wird. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Glasfuß zumindest an der Verbindungsstelle mit dem Glasrohr konisch geformt und die dazu erforderliche trichterförmige Erweiterung des Glasrohres auf den konusförmigen Verlauf das Glasfußes abgestimmt wird. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß nur ein Teil der Mantelfläche des Glasfußes mit dem Glasgehäuse verbunden wird. 6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß eine Kühldüse in die noch verbleibende Öffnung des Glasgehäuses eingeführt wird und daß durch diese das Kühlgas in das Innere des Glasgehäuses eingeleitet wird. 7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Kühlgas vor Einführung in das Innere des Glasgehäuses getrocknet und unterkühlt wird. 8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß als Kühlgas Luft, Stickstoff oder Sauerstoff verwendet wird. 9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Verbindung von Glasrohr und Glasfuß bei etwa 530' C hergestellt wird. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsches Gebrauchsmuster Nr. 1764 699; deutsche Patentanmeldung N 1484 VIII c/21 g (bekanntgenia,cht am 26. 4. 195 1) ; USA.-Patentschrift Nr. 2 790 941.
DET15433A 1958-07-26 1958-07-26 Verfahren zur Herstellung einer in einem Glasgehaeuse untergebrachten Halbleiteranordnung Pending DE1085264B (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1247491B (de) * 1964-09-29 1967-08-17 Telefunken Patent Verfahren zum Verschliessen eines Gehaeuses fuer Bauelemente

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2790941A (en) * 1952-03-27 1957-04-30 Sylvania Electric Prod Terminal lead construction and method, and semiconductor unit
DE1764699U (de) * 1955-02-04 1958-04-10 Siemens Ag Richtleiter- oder transistoranordnung.

Patent Citations (2)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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