DE1078187B

DE1078187B - Test circuit for telecommunication, especially telephone systems for monitoring potential sources

Info

Publication number: DE1078187B
Application number: DES60309A
Authority: DE
Inventors: Dr-Phys Alan Darre; Dipl-Ing Hans Hoeschler
Original assignee: Siemens Corp
Current assignee: Siemens Corp
Priority date: 1958-10-20
Filing date: 1958-10-20
Publication date: 1960-03-24

Description

DEUTSCHESGERMAN

kl. Zl a° Oö/äUkl. Zl a ° Oö / äU

INTERNAT. KL. H 04IUINTERNAT. KL. H 04IU

PATENTAMTPATENT OFFICE

S60309VIIIa/21a³ S60309VIIIa / 21a ³

ANMELDETAG: 20. OKTOBER 1958REGISTRATION DATE: OCTOBER 20, 1958

B EKANNTMACHÜNG
DER ANMELDUNG
UND AUSGABE DER
AUSLEGESCHRIFT: 24. MÄRZ 1960B EKANNTMACHÜNG
THE REGISTRATION
AND ISSUE OF THE
EDITORIAL: MARCH 24, 1960

Bestimmte Organe in Fernsprechvermittlungssystemen enthalten eine größere Anzahl von Relais oder anderen Schaltungselementen, die sich bei ordnungsgemäßem Arbeiten des Organs jeweils in vorgeschriebener Anzahl in Arbeitslage zu befinden haben. Dabei 5 sind verschiedene Fälle möglich. Es kann sein, daß ein ordnungsgemäßes Arbeiten nur dann vorliegt, wenn sich jeweils nur ein Schaltungselement in Arbeitslage befindet oder beispielsweise gerade zwei oder gerade drei usw. Es kann aber auch sein, daß ein ordnungsgemäßes Arbeiten vorliegt, wenn z. B. ein oder zwei Schaltungselemente oder in einem anderen Fall ein oder zwei oder drei Schaltungselemente oder z. B. zwei oder drei Schaltungselemente usw. sich in Arbeitslage befinden. Ganz allgemein sind bei den vorstehend erwähnten Fällen außer der jeweils kleinsten und größten gleichzeitig vorgeschriebenen Anzahl auch alle dazwischenliegenden Anzahlen vorgeschrieben. Es kann auch die jeweils kleinste und größte gleichzeitig vorgeschriebene Anzahl zu einer Anzahl zusammenfallen.Certain organs in telephone switching systems contain a greater number of relays or other circuit elements that have to be in the working position in the prescribed number when the organ is working properly. Thereby 5 different cases are possible. It may be that proper work is only present if only one circuit element is in the working position or, for example, just two or just now three etc. But it may also be that the job is working properly if z. B. one or two Circuit elements or in another case one or two or three circuit elements or z. B. two or three circuit elements etc. are in the working position. In general, the above cases mentioned except for the smallest and largest number prescribed at the same time all numbers in between are also prescribed. It can also be the smallest and largest number prescribed at the same time coincide with one number.

Der ordnungsgemäße Zustand einer solchen Gruppe von Schaltungselementen kann nun in der Weise überwacht werden, daß man eine Prüfeinrichtung vorsieht, die ein Signal, z. B. in Form eines Signalpotentials, abgibt, wenn sich die Schaltungselemente in vorgeschriebener Anzahl in Arbeitslage befinden.The proper state of such a group of circuit elements can now be in the manner be monitored that one provides a test device which a signal, z. B. in the form of a signal potential, releases when the circuit elements are in the working position in the prescribed number.

Es sind nun bereits Schaltungsanordnungen bekannt, die als Prüfeinrichtungen bei bestimmten Sonderfällen der vorgeschriebenen Anzahlen verwendet werden können.There are now already known circuit arrangements that are used as test equipment in certain Special cases of the prescribed numbers can be used.

Wenn das Signal zu liefern ist, wenn gerade ein einziges Schaltungselement sich in Arbeitslage befindet, kann ein sogenanntes exklusives Mischgatter verwendet werden. Ein exklusives Mischgatter hat mehrere Eingänge und einen Ausgang und gibt an seinem Ausgang ein Signal ab, wenn gerade einem seiner Eingänge ein bestimmtes Potential zugeführt wird. Es sind nun bereits exklusive Mischgatter mit verschiedenem Aufbau bekannt. So sind z. B. exklusive Mischgatter bekannt, die mit Hilfe von Magnetkernen oder Transfluxoren aufgebaut sind. Derartige exklusive Mischgatter werden mit Hilfe von Impulsen gesteuert und geben impulsartige Signale ab. Meistens ist es jedoch erwünscht, daß das betreffende Signal statisch abgegeben wird. Derartige exklusive Mischgatter beanspruchen einen größeren Aufwand und benötigen auch aktive Schaltungselemente, insbesondere wenn sie eine größere Anzahl von Eingängen besitzen.If the signal is to be delivered when a single circuit element is in the working position, a so-called exclusive mixer gate can be used. Has an exclusive mixer gate several inputs and one output and emits a signal at its output, if just one a certain potential is applied to its inputs. There are now exclusive mixers with different structure known. So are z. B. exclusive mixer known that with the help of magnetic cores or transfluxors are built up. Such exclusive mixers are made with the help of Impulse controlled and emit impulse-like signals. Most of the time, however, it is desirable that the Signal is issued statically. Such exclusive mixers require a larger one Effort and also require active circuit elements, especially if they have a large number of Own entrances.

Wenn das Signal stets zu liefern ist, wenn mehr als ein, also mindestens zwei Schaltungselemente sich in Arbeitslage befinden, so kann ein sogenannter Mehrdeutigkeitsprüfer verwendet werden. Ein der-Prüfschaltung für Fernmelde-,If the signal must always be supplied, if more than one, i.e. at least two, circuit elements are in the working position, a so-called ambiguity checker can be used. One of the test circuit for telecommunications,

insbesondere Fernsprechanlagenin particular telephone systems

zur überwachung von Potentialquellenfor monitoring potential sources

Anmelder:
Siemens & Halske Aktiengesellschaft,Applicant:
Siemens & Halske Aktiengesellschaft,

Berlin und München,
München 2, Wittelsbacherplatz 2Berlin and Munich,
Munich 2, Wittelsbacherplatz 2

Dr.-Phys. Alan Darre und Dipl.-Ing. Hans Höschler,Dr.-Phys. Alan Darre and Dipl.-Ing. Hans Höschler,

München,
sind als Erfinder genannt wordenMunich,
have been named as inventors

artiger Mehrdeutigkeitsprüfer gibt dann ein Signal ab, wenn gleichzeitig mehrere Schaltungselemente einer Mehrzahl von funktionell zusammengehörenden Schaltungselementen die Arbeitslage einnehmen. Derartige Mehrdeutigkeitsprüfer sind z. B. im Patent 1 038 613 angegeben worden.like ambiguity checker then emits a signal if several circuit elements at the same time a plurality of functionally related circuit elements assume the working position. Such Ambiguity checkers are e.g. As disclosed in patent 1,038,613.

Die Erfindung zeigt nun einen Weg, wie man Prüfschaltungen, welche das Signal statisch abgeben, für alle beliebigen, erwähnten Überwachungsfälle mit verhältnismäßig geringem Aufwand aufbauen kann. In Ausgestaltung der Erfindung wird ferner gezeigt, wie man in besonders einfacher Weise besondere Spezialfälle dieser Prüfschaltungen aufbauen kann. Schließlich wird gezeigt, wie man die schaltungstechnische Entwicklungsarbeit, die für Mehrdeutigkeitsprüfer gemacht wurde, für die Schaffung exklusiver Mischgatter ausnutzen kann, und umgekehrt.The invention now shows a way of how test circuits, which output the signal statically, for can set up any of the mentioned monitoring cases with relatively little effort. In The embodiment of the invention also shows how special special cases can be created in a particularly simple manner this test circuits can build. Finally it is shown how to do the circuitry Development work done for ambiguity checkers for the creation of exclusive mixing gates can take advantage of, and vice versa.

Im folgenden werden Mischgatter, exklusive Mischgatter, Koinzidenzgatter, Mehrdeutigkeitsprüfer und verwandte Schaltungen als Gatterschaltungen bezeichnet. The following are mixing gates, exclusive mixing gates, coincidence gates, ambiguity checkers and related circuits are referred to as gate circuits.

Die erfindungsgemäßen Prüfschaltungen werdenThe test circuits according to the invention are

909 767/86909 767/86

durch Potentialquellen gesteuert, die an den zu überwachenden Schaltungselementen vorhanden sind. Unter diesen Potentialquellen sind Schaltungspunkte zu verstellen, an denen zeitlich wechselnde Schaltpotentiale auftreten, die man in Ruhe- und Arbeits-Potentiale einteilen kann, wobei die Ruhepotentiale den Ruhezustand und die Arbeitspotentiale den Arbeitszustand der betreffenden Potentialquelle bzw. die betreffende Betriebslage des dazugehörenden Schaltungselementes anzeigen. Die als Potentialquellen wirkenden Schaltungspunkte können z. B. auch durch Anschlüsse von Relaiskontakten dargestellt werden, so daß dann der Schaltungszustand der zugehörigen Relais überwacht wird. Damit die beabsichtigte Überwachung möglich ist, muß vorausgesetzt werden, daß zwischen den Ruhepotentialen einerseits und den Arbeitspotentialen andererseits genügend große Potentialunterschiede bestehen. Es sollen jedoch jeweils die Ruhepotentiale untereinander und die Arbeitspotentiale untereinander hinreichend wenig voneinander abweichen.controlled by potential sources that are present on the circuit elements to be monitored. Switching points at which switching potentials change over time are to be adjusted under these potential sources occur, which can be divided into rest and work potentials, with the rest potentials the idle state and the work potentials the work state of the relevant potential source or show the relevant operating position of the associated circuit element. As sources of potential acting switching points can z. B. also represented by connections of relay contacts so that the circuit status of the associated relay is monitored. So that the intended Monitoring is possible, it must be assumed that between the rest potentials on the one hand and the work potentials, on the other hand, there are sufficiently large potential differences. It should, however the rest potentials with one another and the work potentials with one another sufficiently little from one another differ.

Bei der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung handelt es sich also um eine Prüfschaltung, welche eine Mehrzahl von Potentialquellen, die entweder jeweils ein Ruhepotential oder ein Arbeitspotential aufweisen, dadurch überwacht, daß sie ein Signal abgibt, wenn das Arbeitspotential von Potentialquellen in vorgeschriebener Anzahl geliefert wird, wobei zwischen der jeweils kleinsten und größten gleichzeitig vorgeschriebenen Anzahl keine dazwischenliegende Anzahl als vorgeschriebene Anzahl fehlt. Sie ist dadurch gekennzeichnet, daß an die Potentialquellen jeweils die Eingänge einer ersten Gatterschaltung, welche das Arbeitspotential weiterleitet, wenn die Anzahl der Arbeitspotential liefernden Potentialquellen mindestens gleich der jeweils kleinsten vorgeschriebenen Anzahl von Arbeitspotential liefernden Potentialquellen ist, und die Eingänge einer zweiten Gatterschaltung, welche das Arbeitspotential zu ihrem Ausgang weiterleitet, wenn die Anzahl der Arbeitspotential liefernden Potentialquellen größer als die jeweils größte vorgeschriebene Anzahl von Arbeitspotential liefernden Potentialquellen ist, angeschlossen sind, und daß der Ausgang der ersten Gatterschaltung an den Durchlaßeingang eines Sperrgatters und der Ausgang der zweiten Gatterschaltung an den Sperreingang des Sperrgatters angeschlossen ist, dessen Ausgang das Signal liefert.The circuit arrangement according to the invention is therefore a test circuit which a plurality of potential sources, each of which has either a resting potential or a working potential, monitored by the fact that it emits a signal when the working potential of potential sources in the prescribed Number is supplied, with between the smallest and largest stipulated at the same time Number No intermediate number is missing as the prescribed number. It is characterized by that the inputs of a first gate circuit, which the Work potential forwards if the number of potential sources delivering work potential is at least equal to the smallest prescribed number of potential sources delivering work potential is, and the inputs of a second gate circuit, which the working potential to its output forwards if the number of potential sources supplying work potential is greater than the the largest prescribed number of potential sources delivering work potential is connected are, and that the output of the first gate circuit to the passage input of a blocking gate and the The output of the second gate circuit is connected to the blocking input of the blocking gate whose Output supplies the signal.

Der Aufbau von erfindungsgemäßen Schaltungsanordnungen wird an Hand der Fig. 1 bis 8 erläutert. The structure of circuit arrangements according to the invention is explained with reference to FIGS. 1 to 8.

Fig. 1 zeigt das Schema der erfindungsgemäßen Prüfschaltung zur Überwachung von η Potentialquellen; 1 shows the scheme of the test circuit according to the invention for monitoring η potential sources;

Fig. 2 zeigt das Schema eines exklusiven Mischgatters für zwei Potentialquellen;2 shows the diagram of an exclusive mixing gate for two potential sources;

Fig. 3 und 4 zeigen zwei Realisierungsbeispiele für exklusive Mischgatter für zwei Potentialquellen;3 and 4 show two implementation examples for exclusive mixing gates for two potential sources;

Fig. 5 zeigt das Schema eines exklusiven Mischgatters für drei Potentialquellen;5 shows the diagram of an exclusive mixing gate for three potential sources;

Fig. 6 zeigt einen in einfacher Weise mit Hilfe eines exklusiven Mischgatters aufgebauten Mehrdeutigkeitsprüfer ;6 shows an ambiguity checker constructed in a simple manner with the aid of an exclusive mixing gate ;

Fig. 7 zeigt ein exklusives Mischgatter für drei Potentialquellen bzw. eine Prüfschaltung, welche ein Signal abgibt, wenn eine oder zwei Potentialquellen dieser drei Potentialquellen das Arbeitspotential liefern;Fig. 7 shows an exclusive mixer for three potential sources or a test circuit which a Sends signal when one or two potential sources of these three potential sources reach the working potential deliver;

Fig. 8 zeigt eine Prüfschaltung, die ein Signal abgibt, wenn gerade zwei Potential quellen von η Potentialquellen das Arbeitspotential liefern.Fig. 8 shows a test circuit which emits a signal when two potential sources from η potential sources supply the working potential.

Zunächst wird der Aufbau der erfindungsgeniäßen Schaltungsanordnung, der in der Fig. 1 dargestellt ist, erläutert. Es sind hier die η Potentialquellen Ql... Qn vorhanden. An diese η Potentialquellen sind die beiden Gatterschaltungen GSi und GS2, welche jeweils η Eingänge haben, angeschlossen, und zwar derart, daß an jeder Potentialquelle je ein Eingang der beiden Gatterschaltungen liegt. Die Gatterschaltung GS1 leitet das Arbeitspotential von Potentialquellen zu ihrem Ausgang weiter, wenn die Anzahl der Arbeitspotential liefernden Potentialquellen mindestens gleich der jeweils kleinsten vorgeschriebenen Anzahl von Arbeitspotential liefernden Potentialquellen ist. Die Gatterschaltung GS2 leitet das Arbeitspotential von Potentialquellen zu ihrem Ausgang weiter, wenn die Anzahl der Arbeitspotential liefernden Potentialquellen größer als die jeweils größte gleichzeitig vorgeschriebene Anzahl von Arbeitspotential liefernden Potentialquellen ist. An den Ausgang der Gatterschaltung GSl ist der Durchlaßeingang 1 des Sperrgatters >S und an den Ausgang der Gatterschaltung G S 2 ist der Sperreingang 2 des Sperrgatters S angeschlossen. Wenn das Arbeitspotential nur dem Durchlaßeingang 1 des Sperrgatters zugeführt wird, tritt es auch an seinem Ausgang α auf. Wenn es dagegen gleichzeitig auch dem Sperreingang 2 zugeführt wird, so tritt es nicht mehr am Ausgang α auf.First, the structure of the circuit arrangement according to the invention, which is shown in FIG. 1, is explained. The η potential sources Ql ... Qn are available here. The two gate circuits GSi and GS2, which each have η inputs, are connected to these η potential sources in such a way that one input of the two gate circuits is connected to each potential source. The gate circuit GS 1 forwards the work potential of potential sources to its output when the number of potential sources supplying work potential is at least equal to the smallest prescribed number of potential sources supplying work potential in each case. The gate circuit GS2 forwards the work potential from potential sources to its output when the number of potential sources supplying work potential is greater than the respective largest number of potential sources supplying work potential at the same time. The transmission input 1 of the blocking gate> S is connected to the output of the gate circuit GS1 and the blocking input 2 of the blocking gate S is connected to the output of the gate circuit GS 2. If the working potential is only fed to the passage input 1 of the blocking gate, it also occurs at its output α . If, on the other hand, it is also fed to the blocking input 2 at the same time, it no longer occurs at the output α .

Die kleinste vorgeschriebene Anzahl von Arbeitspotential liefernden Potentialquellen sei mit Xl bezeichnet, und die größte gleichzeitig vorgeschriebene Anzahl sei mit X 2 bezeichnet. Wenn weniger als Xl Potentialquellen das Arbeitspotential liefern, so gelangt zu keinem Eingang des Sperrgatters S das Arbeitspotential. Es tritt daher auch nicht an seinem Ausgang α auf. Wenn mehr als Xl, aber weniger als X 2 Potential quellen das Arbeitspotential liefern, so wird es durch die Gatterschaltung GSl zum Durchlaßeingang 1 des Sperrgatters weitergeleitet, dessen Ausgang α gibt dann, wie verlangt, das Arbeitspotential als Signalpotential ab. Wenn mehr als X 2 Potential quellen das Arbeitspotential liefern, so wird es durch die Gatterschaltung GS 2 auch zum Sperreingang 2 des Sperrgatters 6" weitergeleitet, was zur Folge hat, daß am Ausgang α des Sperrgatters das Arbeitspotential als Signalpotential nicht mehr vorhanden ist. Die Schaltungsanordnung arbeitet also in der verlangten Weise. Es können nun auch die Anzahlen Xl und X 2 untereinander gleich sein. In diesem Fall wird, wenn die Anzahl der Arbeitspotential liefernden Potentialquellen kleiner oder größer als X I = X 2 ist, beim Ausgang α kein Arbeitspotential als Signalpotential vorhanden sein. Es wird aber dort auftreten, wenn diese Anzahl gerade gleich X1=X2 ist.The smallest prescribed number of potential sources supplying work potential is denoted by X1, and the largest simultaneously prescribed number is denoted by X 2. If fewer than Xl potential sources supply the work potential, then the work potential does not reach any input of the blocking gate S. It therefore does not appear at its output α either. If more than Xl, but less than X 2 potential sources provide the working potential, so it is passed through the gate circuit GSI for Durchlaßeingang 1 of the barrier gate, the output of which α is then, as required, the working potential as the signal potential from. If more than X 2 potential sources supply the working potential, it is also forwarded by the gate circuit GS 2 to the blocking input 2 of the blocking gate 6 ", with the result that the working potential is no longer present as a signal potential at the output α of the blocking gate The circuit arrangement works in the required manner. The numbers Xl and X 2 can now also be equal to one another. In this case, if the number of potential sources supplying working potential is less than or greater than XI = X 2, no working potential is used at output α as Signal potential exist, but it will occur there if this number is exactly equal to X1 = X2.

Die Fig. 2 bis 8 zeigen Prüfschaltungen für verschiedene Spezialfälle.FIGS. 2 to 8 show test circuits for various special cases.

Die Fig. 2 bis 4 zeigen Prüfschaltungen zur Überwachung von zwei Potentialquellen, welche ein Signal abzugeben haben, wenn eine beliebige der beiden Potentialquellen das Arbeitspotential liefert. Die vorgeschriebene Anzahl von Arbeitspotential liefernden Potentialquellen ist hier also gleich X=I. Es handelt sich um exklusive Mischgatter.2 to 4 show test circuits for monitoring two potential sources, which have to emit a signal when any of the two potential sources supplies the working potential. The prescribed number of potential sources delivering work potential is therefore equal to X = I here. It is an exclusive mixer.

Die Fig. 2 zeigt das Aufbauschema dieser Prüfschaltungen. Als erste Gatterschaltung kann in diesem Spezialfall das Mischgatter M verwendet werden, da bekanntlich Mischgatter die Eigenschaft haben, ein ihren Eingängen zugeleitetes bestimmtes Potential zu ihrem Ausgang weiterzuleiten. Als zweite Gatter-Fig. 2 shows the structure of these test circuits. In this special case, the mixing gate M can be used as the first gate circuit, since it is known that mixing gates have the property of forwarding a certain potential fed to their inputs to their output. As a second gate

1 U7Ö Ib/1 U7Ö Ib /

5 65 6

schaltung kann das Koinzidenzgatter K mit zwei Ein- geeigneter Bemessung der betreffenden Widerstände gangen verwendet werden. Dieses leitet ein bestimmtes wird das Potential am Abgriff diesmal so negativ, daß zugeführtes Potential zu seinem Ausgang weiter, wenn es negativer als das Emitterpotential ist, so daß dercircuit, the coincidence gate K can be used with two suitable dimensioning of the respective resistances. This conducts a certain, the potential at the tap is so negative this time that the supplied potential to its output, if it is more negative than the emitter potential, so that the

beiden Eingängen, also mehr als X Eingängen, dieses Transistor Ts leitend wird. Dadurch wird der AusPotential zugeführt wird. Das Arbeitspotential stellt 5 gang α der Prüfschaltung niederohmig an die Span-two inputs, i.e. more than X inputs, this transistor Ts becomes conductive. As a result, the off potential is supplied. The working potential provides 5 gear α of the test circuit with low resistance to the voltage

hier jeweils das bestimmte Potential dar. nung Uz gelegt, welche positiver als das Arbeits-here in each case the specific potential shown. Uz voltage, which is more positive than the working

Die Fig. 3 zeigt ein Realisierungsbeispiel für eine potential ist. Das vorher dort als Signalpotential vorderartige Prüfschaltung. Als Mischgatter ist hier eine handene Arbeitspotential wird dadurch unterdrückt, Reihenschaltung aus zwei Widerständen verwendet. und es tritt daher in diesem Betriebsfall dort, wie ver-Es sind dies die Widerstände RmI und Rm2. Die io langt, nicht auf. Es wird also diesmal kein Signal abdem Mittelpunkt der Reihenschaltung abgewandten gegeben.Fig. 3 shows an implementation example for a potential. The previously there as a signal potential front-like test circuit. As a mixing gate a working potential is here suppressed, a series connection of two resistors is used. and it therefore occurs in this operating case how ver-It is the resistors RmI and Rm2. The io reaches, not up. So this time no signal is given from the midpoint facing away from the series circuit.

Anschlüsse der Widerstände Rm ί und Rm2 bilden Die Fig. 4 zeigt eine Variante der Schaltung gemäß die Eingänge, und der Mittelpunkt 1 der Reihen- Fig. 3, bei der ein Widerstand eingespart ist. Das schaltung bildet den Ausgang des Mischgatters. Das Mischgatter ist wieder aus den beiden Widerständen Koinzidenzgatter ist hier ebenfalls aus Widerständen 15 RmI und Rm2 aufgebaut, und das Sperrgatter beaufgebaut. Sie bilden eine Sternschaltung. Es sind steht wieder aus dem Transistor Tj und dem Kollektordies die Widerstände Rk 1 und Rk 2, welche an die widerstand Rt. Die Versorgung der Prüfschaltung mit steuernden Potentialquellen Q1 und Q 2 angeschlossen Potentialen ist genauso wie bei der Prüfschaltung sind, und der Widerstand Rv, der an eine Hilfs- gemäß Fig. 3. Bei der Prüfschaltung gemäß Fig. 4 potentialquelle mit dem Potential Uv angeschlossen 20 werden für das Koinzidenzgatter die an die Potentialist. Als Sperrgatter ist der pnp-Transistor Ts in quellen angeschlossenen Widerstände RmI und Rm2 Emitterschaltung verwendet. Seine Basis ist an den des Mischgatters mitbenutzt. An den Mittelpunkt der Sternpunkt der Sternschaltung aus den Wider- Reihenschaltung der Widerstände Rm 1 und Rm2 ist ständen RkI, Rk2 und Rv angeschlossen, der zugleich der Widerstand Rk angeschlossen, dessen dem Mitteiden Ausgang des Koinzidenzgatters, welches aus 25 punkt abgewandter Anschluß den Ausgang des Kodiesen Widerständen gebildet wird, darstellt. Der inzidenzgatters bildet und an den die Basis des Tran-Kollektor des Transistors Ts ist über den Kollektor- sistors Ts angeschlossen ist. Außerdem wirkt sich widerstand Rt an den Ausgang des Mischgatters an- dort noch über den Widerstand Rv das feste Hilfsgeschlossen. Die Basis stellt den Sperreingang 2 und potential Uv aus. Wenn nur eine der beiden Potentialdas dem Kollektor abgewandte Ende des Kollektor·' 30 quellen, z. B. die Potential quelle Ql, das negative Widerstandes Rt den Durchlaßeingang 1 des durch Arbeitspotential hat, so tritt wie bei der Prüfschaltung den Transistor realisierten Sperrgatters dar. Der gemäß Fig. 3 über die Widerstände RmI und Rt am Kollektor bildet den Ausgang α der Prüfschaltung. Ausgang α das negative Arbeitspotential als Signal-Der Emitter des Transistors Ts ist an eine Potential- potential auf. Außerdem findet über die Widerstände quelle mit dem Potential Uz angeschlossen. Die 35 Rv, Rk und RmI ein Potentialabfall statt, wodurch Potentialdifferenz zwischen den Potentialen Uv und das Basispotential negativer wird. Bei geeigneter Di- Uz wirkt sich im Ruhezustand der Prüfschaltung auf mensionierung der betreffenden Widerstände bleibt die Emitter-Basis-Strecke des Transistors Ts aus. In jedoch in diesem Betriebsfall auch bei dieser Schaltung diesem Fall liegt an dieser Strecke eine Spannung die Basis noch positiver als der Emitter, so daß der derartiger Polarität und Höhe, daß der Transistor Ts 40 Transistor Ts gesperrt bleibt. Wenn dagegen das gesperrt ist, d. h., seine Basis ist positiver als sein negative Arbeitspotential an beiden Potentialquellen Emitter. vorhanden ist, so wird ähnlich wie bei der SchaltungConnections of the resistors Rm ί and Rm2 form the Fig. 4 shows a variant of the circuit according to the inputs, and the center point 1 of the series Fig. 3, in which a resistor is saved. The circuit forms the output of the mixer gate. The mixing gate is again made up of the two resistors, the coincidence gate, is also made up of resistors 15 RmI and Rm2 , and the blocking gate is built up. They form a star connection. There are standing back from the transistor Tj and the collector This resistors Rk 1 and Rk 2, which at the resistor RT. The supply of the test circuit with controlling potential sources Q 1 and Q 2 connected potentials is the same as are in the test circuit, and the resistance Rv, which is connected to an auxiliary according to FIG. 3. In the test circuit according to FIG. 4, a potential source with the potential Uv is connected to the coincidence gate. The pnp transistor Ts in source connected resistors RmI and Rm2 emitter circuit is used as a blocking gate. Its base is shared with that of the mixing gate. At the center of the star point of the star connection from the resistor series connection of the resistors Rm 1 and Rm2 , RkI, Rk2 and Rv are connected, which is also connected to the resistor Rk , whose central output of the coincidence gate, which is the output of the 25 point remote connection Cod that is formed by resistors. The incidence gate forms and to which the base of the Tran collector of the transistor Ts is connected via the collector transistor Ts . In addition, the resistance Rt acts on the output of the mixing gate - there the fixed auxiliary closed via the resistance Rv. The base turns off lock input 2 and potential Uv . If only one of the two potentials swells the end of the collector 30 remote from the collector, e.g. B. the potential source Ql, the negative resistance Rt has the forward input 1 of the working potential, so occurs as in the test circuit, the transistor realized locking gate. The shown in FIG. 3 via the resistors RmI and Rt at the collector forms the output α of the test circuit . Output α the negative working potential as a signal - the emitter of the transistor Ts is at a potential potential. In addition, the source with the potential Uz is connected via the resistors. The 35 Rv, Rk and RmI a potential drop takes place, whereby the potential difference between the potentials Uv and the base potential becomes more negative. With a suitable Di- Uz , the emitter-base path of the transistor Ts remains in effect when the test circuit is in the idle state. In this operating case, however, in this circuit, too, there is a voltage across this path, the base is still more positive than the emitter, so that the polarity and level of the transistor Ts 40 transistor Ts remains blocked. If, on the other hand, this is blocked, that is, its base is more positive than its negative working potential at both potential sources emitter. is present, so will be similar to the circuit

Es wird nun die Arbeitsweise der Prüfschaltung gemäß Fig. 3 das Potential am Abgriff und an der erläutert. Das an den Potentialquellen Ql und Q 2 Basis des Transistors noch negativer, und zwar, wenn gegebenenfalls vorhandene Arbeitspotential ist nega- 45 die Widerstände geeignet dimensioniert sind, so tiver als das am Emitter des Transistors liegende negativ, daß die Basis negativer als der Emitter wird, Potential Uz. Wenn eine der beiden Potentialquellen wodurch der Transistor Ts leitend gemacht wird und dieses negative Arbeitspotential aufweist, z. B. die das vorher am Ausgang α vorhandene negative Ar-Potentialquelle Ql, so wirkt sich dieses über die. beitspotential unterdrückt wird. Es ergibt sich also, Widerstände Rm 1 und Rt auch am Ausgang α der 50 daß die Prüfschaltungen gemäß den Fig. 3 und 4 eben-Prüfschaltung aus, wodurch dort das Signal abge- falls als exklusives Mischgatter arbeiten,
geben wird. Längs der Widerstände Rv und RkI In der Fig. 5 ist das Aufbauschema eines exfindet ein Potentialabfall von dem festen Hilfs- klusiven Mischgatters, an welches drei Potentialpotential Uv zum Arbeitspotential der Potential- quellen angeschlosesn sind, dargestellt. Abgesehen von quelle Ql statt. Am Abgriff zwischen diesen beiden 55 dem Unterschied, daß an Stelle des Koinzidenz-Widerständen greift daher die Basis des Transistors gatters K, das in der Schaltung gemäß Fig. 2 vor- Ts ein Potential ab, das negativer als vorher ist. Die handen ist, in der Schaltung gemäß Fig. 3 der Mehr-Widerstände RkI, Rk2 und Rv sind nun derart deutigkeitsprüferP in die Schaltung eingefügt ist, ist dimensioniert, daß dieses Potential jedoch noch posi- das Aufbauschema hier genauso wie bei dem in Fig. 2 tiver als das Emitterpotential ist. Der Transistor Ts 60 dargestellten exklusiven Mischgatter. Der Mehrbleibt daher gesperrt und beeinträchtigt die Signal- deutigkeitsprüfer hat die Eigenschaft, wie bereits erabgabe am Ausgang α der Prüfschaltung nicht. Nun wähnt wurde, daß er an seinem Ausgang ein Signal mögen beide Potentialquellen das negative Arbeits- abgibt, wenn mehr als eine Potentialquelle der hier potential aufweisen. Dann wirkt sich das negative vorhandenen drei Potentialquellen Ql ... Q3 das Ar-Arbeitspotential auch über den Widerstand Rk2 auf 65 beitspotential liefert. In diesem Fall wird über den die Basis des Transistors Ts aus. Dadurch wird der Sperreingang 2 des Sperrgatters die Weitergabe des Potentialabfall zwischen dem Hilfspotential Uv und Arbeitspotentials durch das Sperrgatter ähnlich wie dem Arbeitspotential an den Potentialquellen derart bei der Schaltung gemäß Fig. 2 unterbunden. Die Arbeeinflußt, daß das am Abgriff und damit an der beitsweise der Schaltung ist also ganz analog zu der Basis liegende Potential negativer als vorher ist. Bei 70 gemäß Fig. 2. Verwendet man jeweils ein MischgatterThe mode of operation of the test circuit according to FIG. 3, the potential at the tap and at the will now be explained. The base of the transistor at the potential sources Q1 and Q 2 is even more negative, namely, if the working potential that may be present is negative, the resistors are suitably dimensioned, more negative than the one at the emitter of the transistor, so that the base becomes more negative than the emitter , Potential Uz. If one of the two potential sources whereby the transistor Ts is made conductive and this has negative working potential, z. B. the previously existing at the output α negative Ar potential source Ql, this affects the. working potential is suppressed. The result is that resistors Rm 1 and Rt also at the output α of 50 that the test circuits according to FIGS.
will give. Along the resistors Rv and RkI FIG. 5 shows the construction diagram of a potential drop from the fixed auxiliary-clusive mixing gate to which three potential potentials Uv for the working potential of the potential sources are connected. Apart from quelle Ql instead. At the tap between these two 55 except that instead of the coincidence resistors, therefore, the base of the transistor gate K which in the circuit of Fig. 2 forth Ts accesses from a potential more negative than before. The hand is, in the circuit according to FIG. 3 the multi-resistors RkI, Rk2 and Rv are now inserted into the circuit in such a way that the clarity checker P is dimensioned so that this potential is still positive 2 is higher than the emitter potential. The transistor Ts 60 illustrated exclusive mixer gate. The excess therefore remains blocked and adversely affects the signal clarity tester has the property, as already provided at the output α of the test circuit. Now it was imagined that at its output it had a signal like both potential sources would emit negative work if more than one potential source had potential here. Then the negative existing three potential sources Ql ... Q3 has an effect, which supplies the Ar working potential to 65 working potential via the resistor Rk2. In this case, the base of the transistor Ts is turned off. As a result, the blocking input 2 of the blocking gate is prevented from passing on the potential drop between the auxiliary potential Uv and the working potential through the blocking gate in a manner similar to the working potential at the potential sources in the circuit according to FIG. The work influences that the potential at the tap and thus at the beitsweise of the circuit is quite analogous to the base and is more negative than before. At 70 according to FIG. 2. One mixer gate is used in each case

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und einen Mehrdeutigkeitsprüfer mit mehr als drei, das negative Arbeitspotential haben, so wird, sofern etwa η Eingängen, so erhält man auf diese Weise ein die Widerstände RpI... Rp3 und Rv in geeigneter exklusives Mischgatter zur Überwachung von η Po- Größe gewählt sind, die Basis negativer als der tentialquellen. Emitter, so daß der Transistor Ts leitend wird undand an ambiguity checker with more than three that have negative working potential, so if for example η inputs, one obtains in this way the resistors RpI ... Rp3 and Rv are selected in a suitable exclusive mixer for monitoring η Po size , the base more negative than the potential sources. Emitter, so that the transistor Ts is conductive and

Es läßt sich nun auch erreichen, daß die Prüfschal- 5 dadurch verhindert, daß das negative Arbeitspotential tung nach Fig. 5 durch Vornahme einer bestimmten am Ausgang α der Schaltung vorhanden ist. Dieser Änderung die Arbeitsweise der vorher verwendeten Vorgang findet wie bei den Schaltungen gemäß den zweiten Gatterschaltung, also eines Mehrdeutigkeits- Fig. 3 und 4 statt. Wenn alle drei Potentialquellen prüfers, annimmt. Zu diesem Zweck ist als zweite das negative Arbeitspotential haben, so wird die Gatterschaltung nunmehr ein exklusives Mischgatter io Basis noch negativer, und der Transistor Ts ist ebenzu verwenden. Eine derartige Schaltung zeigt die falls leitend. Das negative Arbeitspotential ist daher Fig. 6. Die Arbeitsweise dieser Schaltung ist wie auch in diesem Fall am Ausgang α nicht vorhanden,
folgt: Wenn eine der Potentialquellen C 1...Qn Eine Schaltung der Art, wie sie in Fig. 7 darge-It can now also be achieved that the test circuit 5 prevents the negative working potential device from being present according to FIG. 5 by making a certain one at the output α of the circuit. This change in the mode of operation of the previously used process takes place as in the circuits according to the second gate circuit, ie an ambiguity in FIGS. 3 and 4. If all three sources of potential checkers, accept. For this purpose, the second is the negative working potential, so the gate circuit is now an exclusive mixing gate io base even more negative, and the transistor Ts is also to be used. Such a circuit shows the if conductive. The negative working potential is therefore Fig. 6. As in this case, the mode of operation of this circuit is not present at the output α,
follows: If one of the potential sources C 1 ... Qn is a circuit of the type shown in FIG.

Arbeitspotential hat, so gelangt dieses über das Misch- stellt ist, wird auch oft impulsartig betrieben, d. h., die gatter M zum Durchlaßeingang 1 des Sperrgatters 5" 15 Arbeitspotentiale treten impulsartig auf. Es ist dann und über das exklusive Mischgatter E zum Sperr- erwünscht, daß der Transistor Ts möglichst schnell eingang 2 des Sperrgatters 6". Das Sperrgatter 5 leitend gemacht wird, damit nicht vorübergehend ein liefert an seinem Ausgang, wie verlangt, dabei noch falsches Signalpotential am Ausgang α der Schaltung kein Signalpotential. Wenn mindestens zwei auftritt. Zu diesem Zweck ist es vorteilhaft, den beliebige der Potentialquellen Q1... Qη Arbeits- 20 Widerständen RpI, Rp2 und Rp3 Kondensatoren potential liefern, so gelangt dieses über das Misch- parallel zu schalten, über die sich bei geeigneter Digatter M wieder zum Durchlaß eingang 1 des Sperr- mensionierung die Arbeitspotentiale besonders schnell gatters 5". Über das exklusive Mischgatter E dagegen auf der Basis des Transistors Ts auswirken können,
gelangt kein Arbeitspotential zum Sperreingang 2 des Man kann nun die Widerstände RpI... Rp 3 undWorking potential, has thus enters this is is about the mixing, is also often operated in a pulsed manner, ie, the gate M for Durchlaßeingang one of the locking gate 5 "15 potentials occur in pulses. It is desired then and the exclusive mixing gate E for blocking that the transistor Ts as quickly as possible input 2 of the locking gate 6 ". The blocking gate 5 is made conductive, so that a temporary supply at its output, as required, still incorrect signal potential at the output α of the circuit does not have a signal potential. When at least two occurs. For this purpose, it is advantageous to any of the potential sources Q 1 ... Qη working provide 20 resistances Rpi, Rp2 and Rp3 capacitors potential, so passes this to switch over the mixing in parallel, over the given suitable Digatter M back to Passage input 1 of the blocking dimensioning the working potentials particularly fast gate 5 ". Via the exclusive mixer gate E, however, can affect the base of the transistor Ts ,
If no work potential reaches the blocking input 2 of the You can now use the resistors RpI ... Rp 3 and

Sperrgatters 6". Das Sperrgatter 5¹ liefert daher an 25 Rv auch so bemessen, daß die Basis des Transistors Ts seinem Ausgang das Signalpotential. Am Ausgange erst dann negativer als dessen Emitter wird, wenn des Mehrdeutigkeitsprüfers tritt also, wie verlangt, alle drei Potentialquellen das negative Arbeitspotential ein Signalpotential nur dann auf, wenn mehr als haben. In diesem Fall gibt die Prüfschaltung am Auseine Potentialquelle das Arbeitspotential liefert. gang α das Arbeitspotential als Signalpotential ab,Blocking gate 6 ". The blocking gate 5 ¹ therefore supplies 25 Rv in such a way that the base of the transistor Ts has the signal potential at its output. At the output it only becomes more negative than its emitter when the ambiguity checker steps, as required, all three potential sources the negative working potential a signal potential only if more than have. In this case, the test circuit are on Auseine potential source the working potential returns. transition from a signal potential α the working potential,

Die Prüf schaltungen gemäß den beiden Fig. 5 und 30 wenn eine oder zwei Potential quellen das negative 6 haben dasselbe Aufbauschema und unterscheiden Arbeitspotential haben. Es liegt dann eine Prüfsich nur darin, daß an einer bestimmten Stelle einmal schaltung vor, bei der die vorgeschriebene kleinste ein Mehrdeutigkeitsprüfer und einmal ein exklusives Anzahl von Arbeitspotential liefernden Potential-Mischgatter verwendet ist. Die Prüfschaltung selber quellen gleich Zl = I und die gleichzeitig vorgehat jeweils die Funktionsweise der dort nicht ver- 35 schriebene größte Anzahl von Arbeitspotential lief ernwendeten Gatterschaltung. Durch die Fig. 5 und 6 den Potentialquellen gleich Z2=2 ist. Mit einer wird also dargestellt, wie man einen Mehrdeutigkeits- analog aufgebauten Schaltungsanordnung kann man prüfer zu einem exklusiven Mischgatter oder umge- auch beispielsweise vier Potentialquellen usw. in gekehrt ausgestalten kann. Beide Prüf schaltungen können wünschter Weise überwachen.The test circuits according to both FIGS. 5 and 30 when one or two potentials source the negative 6 have the same structure and differentiate between having work potential. There is then a test yourself only in the fact that at a certain point there is a circuit in front of which the prescribed smallest an ambiguity checker and, once, an exclusive number of potential mixers delivering work potential is used. The test circuit itself swells equal to Zl = I and that happened at the same time in each case the functionality of the largest number of work potentials not prescribed there was used Gate circuit. 5 and 6, the potential sources are equal to Z2 = 2. With a it is thus shown how one can create an ambiguity analogue circuit arrangement tester to an exclusive mixer or vice versa, for example four potential sources etc. in reverse can shape. Both test circuits can monitor as desired.

auch zur Überwachung von mehr als drei Potential- 40 Die Fig. 8 zeigt eine Prüfschaltung, die dann ein quellen verwendet werden. Signal abgibt, wenn gerade zwei Potentialquellenalso for monitoring more than three potential 40 FIG. 8 shows a test circuit, which then a sources are used. Sends signal when there are currently two potential sources

Die Fig. 7 zeigt ein Realisierungsbeispiel für das das Arbeitspotential liefern. Als erste Gatterschaltung exklusive Mischgatter gemäß Fig. 5. Als Mischgatter ist hier der Mehrdeutigkeitsprüfer P verwendet, ist hier die Sternschaltung aus den an die Potential- Realisierungsbeispiele für Mehrdeutigkeitsprüfer sind quellen Ql... G 3 angeschlossenen Richtleitern GmI, 45 bereits erwähnt worden. Als zweite Gatterschaltung Gm2 und Gm3 verwendet. Der Sternpunkt 1 bildet ist hier eine Schaltungsanordnung £ verwendet, welche den Ausgang des Mischgatters. Als Mehrdeutigkeits- dann das Arbeitspotential weiterleitet, also an ihrem prüfer ist hier die Sternschaltung aus den Wider- Ausgang ein Signal liefert, wenn mindestens drei ständen RpI, RpI und Rp 3 und Rv verwendet. An beliebige Potential quellen das Arbeitspotential liefern, einem Ende dieser Sternschaltung, hier an dem dem 50 Eine Schaltung, die für diesen Zweck verwendet Sternpunkt abgewendeten Anschluß des Widerstandes werden kann, ist in der Zeitschrift »Bell Laboratories Rv, liegt das feste Hilfspotential Uv, die anderen Record«, Januar 1952, Vol. XXX, Nr. 1, S. 11, be-Enden der Sternschaltung sind an die Potentialquellen schrieben. Die Prüfschaltung gemäß Fig. 8 eignet sich Ql-... Q 3 angeschlossen. Der Sternpunkt bildet den z. B. zur Überwachung einer Codieranlage, die nach Ausgang des Mehrdeutigkeitsprüfers. Das Sperr- 55 dem Code 2 von η arbeitet. Sie gibt jeweils dann ein gatter 6¹ wird durch den Transistor Ts mit dem Signal ab, wenn sich dieser Code eingestellt hat.
Kollektorwiderstand Rt realisiert, und zwar in der Es wird nun die Arbeitsweise dieser SchaltungFig. 7 shows an implementation example for delivering the work potential. As the first gate circuit exclusive mixing gate according to FIG. 5. The ambiguity checker P is used as the mixing gate, here the star connection from the directional guides GmI, 45 connected to the potential implementation examples for ambiguity checkers are sources Ql ... G 3 has already been mentioned. Used as the second gate circuit Gm2 and Gm3 . The star point 1 forms a circuit arrangement £ used here, which the output of the mixer gate. As an ambiguity then the working potential forwards, so on your tester, the star connection from the output delivers a signal if at least three levels RpI, RpI and Rp 3 and Rv are used. Supply the working potential to any potential source, one end of this star connection, here at the terminal of the resistor that is turned away from the star point for this purpose, is in the journal »Bell Laboratories Rv, the fixed auxiliary potential Uv, the Another Record ”, January 1952, Vol. XXX, No. 1, p. 11, ends of the star connection are written on the potential sources. The test circuit according to FIG. 8 is suitable for Q1 -... Q 3 connected. The star point forms the z. B. for monitoring a coding system, which after the exit of the ambiguity checker. The locking 55 code 2 of η works. It then gives a gate 6 ¹ is sent through the transistor Ts with the signal when this code has been set.
Collector resistance Rt realized, namely in the It is now the operation of this circuit

gleichen Weise wie bei den Prüf schaltungen gemäß (Fig. 8) erläutert. Wenn gerade zwei der Potentialden Fig. 3 und 4. Auch hier ist das Arbeitspotential quellen Ql... Qn Arbeitspotential haben, so leitet der Potentialquellen negativ. Wenn es bei einer 60 der Mehrdeutigkeitsprüfer P dieses Arbeitspotential Potentialquelle vorhanden ist, so wirkt es sich über zum Durchlaß eingang 1 des Sperrgatters weiter, an einen der entsprechend gepoltenRichtleiter Gm 1... Gm 3 dessen Ausgang α daher ebenfalls das negative Arund über den Widerstand Rt auf den Ausgang α der beitspotential als Signalpotential auftritt. Wenn nur Prüfschaltung aus. Über einen der Widerstände eine oder keine der Potentialquellen Q1... Qη RpI... Rp 3 wirkt es auch auf die Basis des Tran- 65 das Arbeitspotential hat, so wird vom Mehrdeutigsistors Ts ein. Bei geeigneter Dimensionierung der keitsprüf er P das Arbeitspotential nicht weitergegeben, Widerstände RpI... Rp3 und Rv bleibt bei dem und es tritt daher auch nicht am Ausgang α der Prüf-Tränsistor Ti in diesem Betriebsfall die Basis noch schaltung auf. Wenn mehr als zwei der Potentialpositiver als der Emitter, so daß der Transistor Ts quellen Q1... Q η das Arbeitspotential haben, so tritt gesperrt bleibt. Wenn dagegen zwei Potentialquellen 70 auch am Ausgang der Schaltungsanordnung E dasthe same way as explained in the test circuits according to (Fig. 8). If just two of the potentials of Figs. 3 and 4. Here too, the working potential sources Q1 ... Qn have working potential, then the potential sources are negative. If this working potential source is present at one of the ambiguity checkers P , then it has an effect via the passage input 1 of the blocking gate, to one of the correspondingly polarized directional conductors Gm 1 ... Gm 3 whose output α therefore also the negative Ar and via the resistor Rt at the output α of the working potential occurs as a signal potential. If only test circuit off. Via one of the resistors, one or none of the potential sources Q 1 ... Qη RpI ... Rp 3, it also acts on the base of the tran- 65 has the working potential, so the ambiguous transistor Ts becomes. With suitable dimensioning of the keitprüf er P the working potential is not passed on, resistors RpI ... Rp3 and Rv remain at that and therefore the basic circuit does not occur at the output α of the test transistors Ti in this operating case either. If more than two of the potential positive than the emitter, so that the transistor Ts source Q1 ... Q η have the working potential, then occurs remains blocked. If, on the other hand, two potential sources 70 are also present at the output of the circuit arrangement E.

Arbeitspotential auf und damit auch am Sperreingang 2 des Sperrgatters 5. In diesem Fall ist daher am Ausgang α der Prüfschaltung kein Arbeitspotential vorhanden, es wird also kein Signal dort abgegeben.Working potential at and thus also at the blocking input 2 of the blocking gate 5. In this case, therefore , there is no working potential at the output α of the test circuit, so no signal is emitted there.

In analoger Weise lassen sich Prüfschaltungen aufbauen, die an ihrem Ausgang ein Signal liefern, wenn gerade m von η Potentialquellen das Arbeitspotential haben (m<in). Der Mehrdeutigkeitsprüfer P ist dann durch eine Gatterschaltung zu ersetzen, die das Arbeitspotential zu ihrem Ausgang weiterleitet, wenn mindestens m der η angeschlossenen Potentialquellen das Arbeitspotential haben, und die Schaltungsanordnung E ist durch eine Gatterschaltung zu ersetzen, die das Arbeitspotential weiterleitet, wenn mehr als m der an sie angeschlossenen η Potentialquellen das Arbeitspotential haben. Derartig aufgebaute Prüfschaltungen haben den Vorteil, daß das gewünschte Signal auch dann sicher und eindeutig abgegeben wird, wenn η und m große Zahlen sind. Sie eignen sich z.B. zur Überwachung von Codieranlagen, die nach dem Code m von η arbeiten.In an analogous manner, test circuits can be set up which deliver a signal at their output when m of η potential sources have the working potential (m <in). The ambiguity checker P is then to be replaced by a gate circuit which forwards the working potential to its output if at least m of the η connected potential sources have the working potential, and the circuit arrangement E is to be replaced by a gate circuit which forwards the working potential if more than m the η potential sources connected to them have the work potential. Test circuits constructed in this way have the advantage that the desired signal is output reliably and unambiguously even when η and m are large numbers. They are suitable, for example, for monitoring coding systems that work according to the code m of η .

Claims

Patent claims:

1. Test circuit for telecommunications, in particular telephone systems, which monitor a plurality of potential sources, each having either an idle potential or a work potential, in that it emits a signal when the work potential is supplied by potential sources in a prescribed number, with between each smallest and largest simultaneously prescribed number no intermediate number is missing as a prescribed number, characterized in that the inputs (1 .. .n) of a first gate circuit to the potential sources (Q 1, Q2, Q3 ... Qη in Fig. 1) (GSl) , which forwards the work potential if the number of potential sources (Ql ... Qn) delivering work potential is at least equal to the smallest prescribed number (Zl) of potential sources delivering work potential, and the inputs (1 ... n) are one second gate circuit (GS2), which forwards the work potential to its output, if the number the working potential supplying potential sources (Ql ... Qn) is greater than the respectively largest prescribed number (Z 2) of working potential supplying potential sources, are connected and that the output of the first gate circuit (GSl) is connected to the transmission input (1) of a blocking gate (S ) and the output of the second gate circuit (GS 2) is connected to the blocking input (2) of the blocking gate (S) , whose output (a) supplies the signal.

2. Test circuit according to claim 1, which has to emit a signal when any single potential source supplies the working potential (exclusive mixing gate), characterized in that a mixing gate (M in Fig. 2) is used as the first gate circuit (GSl).

3. Test circuit according to Claim 2, in which two potential sources are to be monitored, characterized in that a coincidence gate (K) is used as the second gate circuit (GS2).

4. Test circuit according to claim 3, characterized in that a series circuit of two resistors (RmI, Rm2 in Fig. 3) is used as the mixing gate, in which the ends of the series circuit form the inputs and the center point (1) form the output of the mixing gate ,

5. Test circuit according to claim 3 or 4, characterized in that a coincidence gate constructed from resistors (Rk 1, Rk 2 in Fig. 3) with a fixed auxiliary potential (Uv) is used.

6. Test circuit according to claim 5, characterized in that the resistors (Rkl, Rk2, Rv) of the coincidence gate are arranged in a star connection and that in the star connection two ends of the resistors (Rk 1, Rk 2), the inputs and the star point (2) form the output of the coincidence gate and the fixed auxiliary potential (Kv) is at the third end.

7. Test circuit according to claim 4 or 5, characterized in that the coincidence gate to the potential sources (Q 1, Q 2 in Fig. 4) connected resistors (Rm 1, Rm2) of the mixing gate are also used and that to the output (1 ) of the mixing gate a resistor (Rk) is connected, the terminal of which facing away from this output (1) forms the output (2) of the coincidence gate, and that the fixed auxiliary potential (Uv) is applied to this output via a further resistor (Rv).

8. Test circuit according to claim 2, in which more than two potential sources are to be monitored, characterized in that an ambiguity checker (P in Fig. 5) is used as the second gate circuit (GS 2).

9. Test circuit according to claim 8, characterized in that a star connection of directional conductors (GwI ... Gm 3 in Fig. 7) connected to the potential sources is used as the mixing gate, the star point (1) of which represents the output of the mixing gate.

10. Test circuit according to claim 8 or 9, characterized in that a star connection of resistors (Rp 1, Rp 2, Rp 3, Rv in Fig. 7) is used as an ambiguity tester and that a fixed auxiliary potential (Uv) is supplied to one end of the star connection and the potential sources (Ql, Q 2, Q 3) are connected to the other ends of the star connection and the star point (2) is the output of the ambiguity checker.

11. Test circuit according to claim 1, characterized in that a mixer gate (M in Fig. 6) is used as the first gate circuit (GS1) and an exclusive mixer gate (E) is used in place of the second gate circuit (GS2).

12. Test circuit according to claim 1, which has to emit a signal when any two potential sources supply the working potential, characterized in that an ambiguity checker (P in Fig. 8) is used as the first gate circuit (GSL) and that a circuit arrangement (E) forwards the work potential if at least three arbitrary potential sources (Q 1 ... Qn) supply the work potential.

13. Test circuit according to claim 1, which has to emit a signal when one or two arbitrary potential sources supply working potential, characterized in that a mixer gate (M) is used as the first gate circuit and that the second gate circuit forwards the working potential if at least three arbitrary ones Potential sources (Q 1 ... Qn) supply the work potential.

14. Test circuit according to claim 12 or 13, characterized in that the second gate

909 76T / 8 &

circuit a star connection of resistors (Rp t, RpI ₁ Rp 3, Rv in Fig. 7) is used and that a fixed auxiliary potential (Uv) is applied to one end of the star connection and the potential sources (Ql, Q 2, QS) are connected and the neutral point is output (2) of the ambiguity checker.

15. Test circuit according to one of the preceding claims, characterized in that as

Blocking gate (S) a transistor (Ts in Fig. 3) in common emitter circuit with a collector resistor (Rt ) connected to the pass input (1) is used, which is made conductive by the working potential when it occurs at its base serving as blocking input (2) and thereby diverts, via its collector-emitter path, the working potential that may arise at its collector, which serves as output (a) of the blocking gate (S).

1 sheet of drawings