DE1041099B

DE1041099B - Circuit arrangement for surge storage in telecommunication systems

Info

Publication number: DE1041099B
Application number: DES54745A
Authority: DE
Inventors: Dipl-Ing Georg Freymadl
Original assignee: Siemens Corp
Current assignee: Siemens Corp
Priority date: 1957-08-14
Filing date: 1957-08-14
Publication date: 1958-10-16

Description

Die Erfindung bezieht sich auf Stromstoßspeicher in Fernmeldeanlagen, welche in der Regel mehreren Verbindungswegen gemeinsam zugeordnet sind. Die in dem Speicher seitens des Verbindungsweges eintreffenden Kennzahlen bzw. deren Wahlserien werden mittels Kennzeichnungsrelais in einem dekadischen Code festgehalten, welcher zur weiteren Auswertung in einen mehreren Speichern gemeinsam zugeordneten Umwerter übertragen werden, der pro Amt nur einmal vorgesehen ist.* Er wird im nachstehenden zentraler Umwerter genannt. Entsprechend einem Netzaufbau, z. B. mit Zentralämtern, Hauptämtern und Knotenämtern, werden dreistellige Kennzahlen verwendet. Der Umwerter wertet diese Kennzahlen aus, indem er nach der ersten oder zweiten oder dritten Ziffer der Kennzahl ein positives Auswerteergebnis zum Speicher zurückiiberträgt. Wird nach Übertragung einer Ziffer zum zentralen Umwerter noch kein positives Auswerteergebnis gebildet, so überträgt der Umwerter ein Kennzeichen für das zunächst negative Ergebnis zum Speicher. Die Ankopplung des Speichers an den zentralen Umwerter erfolgt jeweils kurzzeitig für jede eingespeicherte Ziffer. Da der Umwerter für alle Speicher gemeinsam ist, darf er jeweils nur so kurz als möglich in Anspruch genommen werden und außerdem dürfen auch nicht gleichzeitig mehrere Speicher den zentralen Umwerter belegen. Letzteres wird dadurch verhindert, daß dem zentralen Umwerter in an sich bekannter Weise ein Prüfvielfach zugeordnet ist, auf welches den Speichern individuell zugeordnete Prüfkreise arbeiten. Diese Prüfkreise bestehen in bekannter Art aus zwei parallelen Prüfzweigen, von denen der eine einen Teilwiderstand eines Spannungsteilers enthält, während der zweite Teilwiderstand in dem gemeinsamen Prüfvielfach liegt; der das individuelle Prüfrelais enthaltende Prüfzweig liegt fest an dem Teilspannungspunkt des Spannungsteilers. Diese Prüfschaltung zeichnet sich durch eine sogenannte Selbstsperrung aus, d. h., bei gleichzeitigem Aufprüfen zweier oder mehrerer Prüfrelais auf das gemeinsame Prüfvielfach des Umwerters kann keines der Prüfrelais ansprechen. In diesem Fall wird die Prüfung in den Speichern mit Hilfe von Selbstunterbrecherrelais so lange wiederholt, bis die Prüfungen paralleler Prüfrelais infolge der zeitlichen Streuung der Unterbrecherrelais zeitlich so weit auseinanderfallen, daß eines der Prüfrelais zum Anzug kommt und den Umwerter für die anderen Prüfrelais sperrt.The invention relates to surge storage in telecommunications systems, which usually several Connection paths are assigned jointly. Those arriving in the memory on the part of the connection path Codes or their election series are recorded in a decadic code by means of an identification relay, which for further evaluation in a corrector assigned to several memories which is only provided once per office. * It will be more central in the following Called corrector. According to a network structure, e.g. B. with central offices, main offices and node offices, Three-digit key figures are used. The corrector evaluates these key figures by after the first or second or third digit of the key figure, a positive evaluation result for Memory transferred back. After a digit has been transferred to the central corrector, it is not yet a positive If the evaluation result is formed, the corrector transmits an indicator for the initially negative one Result to memory. The storage tank is connected to the central corrector for a short time for each stored digit. Since the corrector is common to all memories, it is only allowed to do so as briefly as possible and also not several at the same time Allocate memory to the central corrector. The latter is prevented by the central corrector In a manner known per se, a test multiple is assigned to which the memories are individually assigned test circles work. These test circuits consist of two parallel test branches in a known manner, one of which contains a partial resistance of a voltage divider, while the second Partial resistance is in the common test multiple; the one containing the individual test relay The test branch is firmly connected to the partial voltage point of the voltage divider. This test circuit stands out by a so-called self-locking, d. i.e. when two or more test relays are tested at the same time None of the test relays can respond to the common test multiple of the corrector. In this case the test is repeated in the memories with the help of self-interrupting relays until the Tests of parallel test relays are so far apart in time due to the time spread of the interrupter relays, that one of the test relays closes and the corrector for the other test relays locks.

Ist die Anfrage eines Speichers an den Umwerter auf dem Prüfweg, die jeweils nach Aufnahme einer Wahlserie im Speicher eingeleitet wird, sofort erfolgreich, so bleibt genügend Zeit für die Übertragung der eingespeicherten Wahlserie in den Umwerter und für Schaltungsanordnung
für Stromstoßspeicher
in FernmeldeanlagenIf the request from a memory to the corrector on the test path, which is initiated after a series of elections has been recorded in the memory, is immediately successful, there is enough time for the stored series of elections to be transferred to the corrector and for the circuit arrangement
for surge storage
in telecommunications systems

Anmelder:
Siemens & Halske Aktiengesellschaft,Applicant:
Siemens & Halske Aktiengesellschaft,

Berlin und München,
München 2, Witteisbacherplatz 2Berlin and Munich,
Munich 2, Witteisbacherplatz 2

Dipl.-Ing. Georg Freymadl, München,
ist als Erfinder genannt wordenDipl.-Ing. Georg Freymadl, Munich,
has been named as the inventor

die Rückgabe des Auswerteergebnisses vom Umwerter zum Speicher. Dagegen kann im Fall, daß gleichzeitig mehrere Speicher den zentralen Umwerter belegen wollen, dies aber zunächst nicht können, sondern unter wiedei'holtem Versuch des Freiprüfens vor dem Umwerter warten, ein Zeitmangel für die Auswertung von Stromstoßreihen entstehen, der zu einer Fälschung des Auswerteergebnisses führen kann. So kann es vorkommen, daß der Speicher z. B. nach Aufnahme der Zentralamtsziffer den Umwerter nicht frei findet und die der Hauptamtsziffer entsprechende nachfolgende Wahlserie bereits einläuft, wenn der Speicher noch immer auf das Prüfvielfach des Umwerters aufzuprüfen versucht. Koppelt nun zufällig das Prüfrelais eines Speichers diesen mit dem Umwerter am Ende der zweiten Wahlserie, so gelangt zuerst der dekadische Code der Zentralamtsziffer vom Speicher in den Umwerter, außerdem kann aber auch der dekadische Code der zweiten Serie, der inzwischen schon festgehalten ist, noch seine Aufnahme im Umwerter versuchen. Abhängig von dem Auswerteergebnis der ersten Wahlserie hat aber nun schon die Abkopplung des Umwerters von dem Speicher begonnen. Es kann dann vorkommen, daß der Speicher das Auswerteergebnis der zweiten Serie nur noch zum Teil aufnehmen kann — es werden von den Ergebnisrelais der auf dem Dualcode beruhenden Relaisgruppe nur die schnelleren Relais zum Ansprechen kommen, während die langsameren Relais unerregt bleiben —, weil der Speicher in der Zwischenzeit schon wieder von dem Auswerter abgetrennt worden ist. Dieser Fehlerthe return of the evaluation result from the corrector to the memory. On the other hand, in the case that at the same time want to occupy several memories for the central corrector, but initially not able to do so, but instead waiting in front of the corrector after repeated attempts to free-check, a lack of time for the evaluation from series of current impulses, which can lead to a falsification of the evaluation result. So it can happen that the memory z. B. not the corrector after recording the central office number finds free and the subsequent dialing series corresponding to the main office number already starts when the memory still trying to check the corrector's test multiple. Now couples the test relay randomly of a memory with the corrector at the end of the second series of choices, the first comes the Decadic code of the central office digit from the memory into the corrector, but also the decadic Code of the second series, which has already been recorded, still its inclusion in the corrector try. Depending on the evaluation result of the first election series, however, the decoupling has now already taken place of the corrector started from the memory. It can then happen that the memory stores the evaluation result the second series can only partially accommodate - it will be from the result relay of the relay group based on the dual code, only the faster relays respond while the slower relays remain unexcited - because the memory has been back from has been disconnected from the evaluator. This mistake

809 653/74809 653/74

tritt vorzugsweise dann auf, wenn das Auswerteergebnis einer Ziffer im Speicher zunächst negativ ist.preferably occurs when the evaluation result of a digit in the memory is initially negative.

Die Erfindung vermeidet diesen Nachteil dadurch, daß die Einschaltung des den Prüfkreis zwischen Speicher und dem Prüfvielfach des Umwerters beherrschenden Unterbrecherrelais abhängig ist von einem während einer Stromstoßreihe betätigten Steuerrelais einerseits und dem Stromstoßempfangsrelais andererseits.The invention avoids this disadvantage in that the inclusion of the test circuit between Memory and the test multiple of the corrector dominating interrupt relay is dependent on a control relay actuated during a series of impulses on the one hand and the impulse receiving relay on the other hand.

Durch die erfmdungsgemäße Anordnung wird einerseits erreicht, daß die Prüfung eines Speichers auf den zentralen Umwerter zwar, wie bei einer sofortigen erfolgreichen Anfrage des Speichers an den Umwerter erforderlich, zwischen zwei Stromstoßreihen eingeleitet werden kann, nicht aber in einer Wahlimpulspause. Insbesondere kann die Pause nach dem letzten Stromstoß gefährlich werden, weil in diesem Zeitpunkt einerseits die Änderung des dekadischen Code der zweiten Ziffer entsprechend, andererseits die Übertragung der vorhergehenden Ziffer vom Speicher zum Umwerter und die Übertragung der entsprechenden Information vom Umwerter zum Speicher schon erfolgt sein kann, wodurch die Zeit für die vollständige Auswertung der zweiten Ziffer zu kurz wird. Auf der anderen Seite wird durch die Erfindung die Zeit der Anfrage eines Speichers an den Umwerter nicht auf die Pause zwischen zwei Ziffern beschränkt, sondern auf das möglichst große Maß erweitert, nämlich noch auf die Zeit der Impulse. Dadurch kann bereits vor Beendigung der zweiten Ziffer schon eine erfolgreiche Anfrage zum Umwerter gelangen.The inventive arrangement achieves on the one hand that the test of a memory on the central corrector, as with an immediate successful request from the memory to the corrector required, can be initiated between two series of current impulses, but not in a dial pulse pause. In particular, the break after the last power surge can be dangerous because it is at this point in time on the one hand the change of the decadal code according to the second digit, on the other hand the transfer the previous digit from the memory to the corrector and the transfer of the corresponding Information from the corrector to the memory can already have been made, which means the time for the complete Evaluation of the second digit becomes too short. On the other hand, by the invention the time of Request from a memory to the corrector is not limited to the pause between two digits, but rather extended to the greatest possible extent, namely to the time of the impulses. This can be done before After completing the second digit, a successful request to the corrector will be sent.

Die Zeichnung zeigt unter Weglassung aller für das Verständnis der Erfindung nicht erforderlichen Einzelheiten an Hand eines z. B. in einem Hauptamt angeordneten Speichers SP ein Ausführungsbeispiel der Erfindung. Der angedeutete Umwerter W am unteren Ende des Speichers dient dazu, Auswerteergebnisse z. B. für die Richtungskennziffer zweier hintereinanderliegender Richtungswähler zu liefern. Von dem Umwerter ist der Übersichtlichkeit wegen nur das Prüfvielfach PV dargestellt. Der Speicher SP enthält im wesentlichen ein Prüfrelais Pu, welches mit einem parallelen Prüfzweig nb auf das Prüfvielfach arbeitet. Das Prüfrelais Pu arbeitet auf den aus dem individuellen Teihviderstand WiS und dem gemeinsamen Widerstand lVi6 bestehenden Spannungsteiler. Die Anschaltung des Prüfkreises an das Prüfvielfach erfolgt mittels zweier Unterbrecherrelais Xl, X2, welche gegebenenfalls die Anfrage an den Umwerter wiederholen. Relais Xl bestimmt die Prüfzeitdauer. Die Einschaltung der Unterbrecherrelais erfolgt durch ein Anlaßrelais An. Durch die Relais Mh, Ml, M2, MZ wird die stufenweise Einspeicherung der aufgenommenen Ziffern in Dekadencoderelaisgruppen vorbereitet. Die Einspeicherung wird endgültig durch die von dem Stromstoßempfangsrelais A abhängigen, abfall verzögerten Steuerrelais Vl, V2, VZ durchgeführt. Die den einzelnen Ziffern der Kennzahl entsprechenden Xummernstromstoßreihen werden von der Relaisgruppe Sl, S2...S10 aufgenommen, welche nach jeder Stromstoßreihe zur Aufnahme der nächsten wieder freigegeben wird. Die Relaisgruppe Sl... 5*10 speichert die Zentralamtsziffer in die Relaisgruppe Zl ... ZlO, die Hauptanitsziffer in die Relaisgruppe Hl ... HlO und die Knotenamtskennziffer in die Relaisgruppe Kl... K10 ein, in denen die Ziffern jeweils durch Erregung eines dieser Relais festgehalten werden. Diese geben die Zentralamtsziffer in dekadischer Codeform über die Leitungen ItI... It 10., die Hauptamtskennziffer über die Leitungen /ill ... It 20, die Knotenamtsziffer über die Leitungen U21... /ί30 in den Umwerter, der sie mittels elektronischer Schaltmittel auswertet und über entsprechende Verdrahtungen als Dualcode wieder zu den Relaisgruppen LaI, La 2, La 4, La 8 (Richtungsziffer für den ersten Richtungswähler) bzw. zu der Relaisgruppe Lb 1, Lb 2, Lb 4, Lb 8 (Richtungsziffer für den zweiten Richtungswähler) überträgt. Liegt nach Aufnahme einer Ziffer im UmwerterThe drawing shows omitting all details not necessary for understanding the invention on the basis of a z. B. arranged in a main office memory SP an embodiment of the invention. The indicated corrector W at the lower end of the memory is used to evaluate results such. B. for the direction code of two consecutive direction selectors. For the sake of clarity, only the test multiple PV of the corrector is shown. The memory SP essentially contains a test relay Pu, which works with a parallel test branch nb on the test multiple. The test relay Pu works on the voltage divider consisting of the individual partial resistor WiS and the common resistor IVi6. The test circuit is connected to the test multiple by means of two interrupt relays Xl, X2, which, if necessary, repeat the query to the corrector. Relay Xl determines the duration of the test. The interrupter relays are switched on by a starter relay An. The relays Mh, Ml, M2, MZ prepare the step-by-step storage of the recorded digits in decade code relay groups. The storage is finally carried out by the drop-delayed control relays V1, V2, VZ, which are dependent on the surge receiving relay A. The series of current pulses corresponding to the individual digits of the code number are recorded by the relay group S1 , S2 ... S10 , which is released again after each series of current pulses for recording the next one. The relay group Sl ... 5 * 10 stores the central office number in the relay group Zl ... ZlO, the Hauptanitsziffer in the relay group Hl ... HlO and the node office code in the relay group Kl ... K10 , in which the digits through Excitation of one of these relays will be held. These give the central office number in decadic code form over the lines ItI ... It 10., the main office code over the lines / ill ... It 20, the node exchange number over the lines U21 ... / ί30 in the corrector, which they use electronic Evaluates switching means and via appropriate wiring as a dual code back to the relay groups LaI, La 2, La 4, La 8 (direction number for the first direction selector) or to the relay group Lb 1, Lb 2, Lb 4, Lb 8 (direction number for the second Direction selector) transmits. Located in the corrector after a digit has been recorded

ίο noch kein positives Auswerteergebnis fest, so gibt dieser ein sogenanntes negatives Kennzeichen über die Leitung ltZ9 zum Speicher und erregt dadurch ein Relais Ne. Sobald jedoch ein Ergebnis nach der ersten oder zweiten oder dritten Ziffer der Kennzahl im Umwerter feststeht, werden die Ergebnisrelais der Relaisgruppen La bzw. Lb in bestimmter Kombination erregt. Abhängig von deren Erregung wird dann ebenso wie durch das Relais Ne die Abkopplung des Speichers vom Umwerter eingeleitet, d. h., der Prüfweg wird unterbrochen.ίο has not yet determined a positive evaluation result, it sends a so-called negative indicator to the memory via the line ltZ9 and thereby energizes a relay Ne. However, as soon as a result after the first or second or third digit of the code is determined in the corrector, the result relays of relay groups La or Lb are energized in a certain combination. Depending on their excitation, the decoupling of the memory from the corrector is initiated, as is the case with the relay Ne, ie the test path is interrupted.

Nach dieser allgemeinen Beschreibung soll zunächst die Einspeicherung und Auswertung einer dreistelligen Kennzahl beschrieben werden unter der Voraussetzung, daß die Anfrage des Speichers an den Umwerter nach jeder aufgenommenen Ziffer sofort zum Erfolg führt, d. h., daß das Prüfrelais auf das Prüfvielfach sofort aufprüfen kann. Der Speicher wird von dem belegten Verbindungsweg über die Ader IV belegt. Dadurch spricht das Belegungsrelais C an. Die Stromstöße der der Zentralamtsziffer entsprechenden Stromstöße treffen als Erdimpulse über die Ader V ein und erregen impulsmäßig das Stromstoßempfangsrelais A. Es möge beispielsweise die Kennzahl »321« seitens des belegenden Verbindungsweges in den Speicher gegeben werden. Durch die erste Stromstoßserie wird Relais A dreimal erregt. Beim ersten Ansprechen des Relais A spricht Relais Vl an:After this general description, the first step is to describe the storage and evaluation of a three-digit code, provided that the query from the memory to the corrector leads to success immediately after each digit recorded, that is, that the test relay can immediately check the test multiple. The memory is occupied by the occupied connection path via wire IV. The occupancy relay C responds. The current impulses of the current impulses corresponding to the central office number arrive as earth impulses via wire V and impulsively excite the impulse receiving relay A. For example, the code number "321" may be entered into the memory by the occupying connection path. The first series of impulses energizes relay A three times. When relay A responds for the first time , relay Vl responds:

1. +, 7c, 82a, FlI, FlII, -.1. +, 7c, 82a, FlI, FlII, -.

Relais Vl hält sich während einer Stromstoßreihe. In der Stromstoßpause nach dem ersten Impuls wird Relais V2 erregt:Relay Vl holds itself during a series of current impulses. Relay V2 is energized in the impulse pause after the first pulse:

2. +, 7c, 83z>l, 84a, V21, V2U, -.2. +, 7c, 83z> l, 84a, V21, V2U, -.

Abhängig von Relais V2 wird Relais V3 erregt:Relay V 3 is energized depending on relay V2:

3. +, 7c, 85w2, VZl, VZU, -.3. +, 7c, 85w2, VZl, VZU, -.

Auch diese Relais halten sich während einer Stromstoßreihe. Relais Vl schaltet Relais Mh ein:These relays also hold up during a series of impulses. Relay Vl switches on relay Mh :

4. +, 6c, 24m3, 22»2, 57ml, 58z/l, Mh, -.4. +, 6c, 24m3, 22 »2, 57ml, 58z / l, Mh, -.

Ferner wird bei Erregung des Relais A Relais Sl eingeschaltet:Furthermore, when relay A is energized, relay Sl is switched on:

5. +, 4a, Gr2, 5v2, Sl, -. 5. +, 4a, Gr2, 5v2, Sl, -.

Relais Sl hält sich unabhängig von Relais V2 über seinen Kontakt IjI parallel zu Kontakt 5ν2. Nach Abfall des Relais A hält sich Relais 5*1 in folgendem Kreis:
6. +, 6c, %vllVv2, 12s2, 2sl, Sl, —.Relay Sl holds regardless of relays V2 via its contact Iji parallel to contact 5 ν2. After relay A drops out, relay 5 * 1 remains in the following circle:
6. +, 6c, % vllVv2, 12s2, 2sl, Sl, -.

Kontakt 3si bereitet einen Stromstoß für Relais S2 vor. Dieser wird beim nächsten Stromstoß wie folgt geschlossen:Contact 3 si prepares a current surge for relay S2 . This is closed with the next power surge as follows:

7. +, 4a, Gr3, lOz/2, ZsI, S2, -.7. +, 4a, Gr3, 10z / 2, ZsI, S2, -.

Nach Ansprechen des Relais S2 hält sich Relais 5Ί über seinen Kontakt IjI. Relais S 2 bereitet sich über seinen Kontakt 11 j2 einen eigenen Haltekreis vor:After relay S2 has responded, relay 5Ί remains through its contact IjI. Relay S 2 prepares its own hold circuit via its contact 11 j2:

8. +, 4a, Gr3, 11j2, .92, -.8. +, 4a, Gr 3, 11j2, .92, -.

Nach Abfall des Relais A fällt Relais Sl ab, und Relais 5*2 wird gehalten über:After relay A drops out, relay Sl drops out and relay 5 * 2 is held via:

9. +, 6c, SvIIQvZ, STsZ, S6s2, S2, -. 9. +, 6c, SvIIQvZ, STsZ, S6s2, S2, -.

Beim dritten Stromstoß wird, wie sich an Hand des Schaltbildes leicht verfolgen läßt, Relais S3 erregt und gehalten, Relais .92 hält sich während des dritten Stromstoßes (vgl. Stromlauf 8) und fällt dann ab. Nach Beendigung der Stromstoßreihe bleibt Relais A abgefallen. Anschließend fallen die Relais Vl, sodann V2 und endlich Relais V3 ab. Nach Abfall des Relais Vl wird Relais Mh im folgenden Kreis gehalten:At the third current surge, as can be easily followed with the aid of the circuit diagram, relay S 3 is energized and held, relay .92 is held during the third current surge (cf. circuit 8) and then drops out. After the end of the series of impulses, relay A remains de-energized. Then the relays Vl, then V2 and finally relay V3 drop out. After relay Vl drops out , relay Mh is held in the following circle:

10. + , 6c, 59ml, 60mh, Mh, -. 10. +, 6c, 59ml, 60mh, Mh, -.

In der Abfallzeit des Relais V2 wird Relais Z3 erregt:During the release time of relay V2 , relay Z3 is energized:

11. +, 14^2, 15^1, 13mh, Gr4, 28s3, Z3, -.11. +, 14 ^ 2, 15 ^ 1, 13mh, Gr4, 28s3, Z3, -.

Relais Z3 kennzeichnet mittels seines Kontaktes 512 3 die Codeleitung It3. Nach Abfall der Relais Vl und V2 kommt Relais S3 infolge öffnung der Kontakte 8vl und 9ν2 7μϊά Abfall. RelaisZ3 wird weiter gehalten: Relay Z3 identifies the code line It3 by means of its contact 512 3. After relays Vl and V2 drop out, relay S3 comes off as a result of the opening of contacts 8 vl and 9 ν2 7μϊά drop. Relay Z3 is still held:

12. +, 17c, 16^3, 7,3, -. 12. +, 17c, 16 ^ 3, 7.3, -.

Nach Abfall des Relais V 2 kommt in der Abfallzeit des Relais V3 Relais Ml zum Ansprechen: After relay V 2 drops out, relay Ml responds in the drop-out time of relay V3 :

13. +, 18w2, 19z/3, GrIQ, 42m3, 20mh, Ml, -.13. +, 18w2, 19z / 3, GrIQ, 42m3, 20mh, Ml, -.

Relais Ml öffnet am Kontakt 59ml den Haltekreis des Relais Mh, das sich jedoch bis zum Abfall von Relais V3 noch weiter hält:Relay Ml opens the holding circuit of relay Mh at contact 59ml , but this continues until relay V3 drops out:

14. +, 18^2, 19z>3, GrIl, 6Smh, Mh, -.14. +, 18 ^ 2, 19z> 3, GrIl, 6Smh, Mh, -.

Nach Abfall des Relais V3 wird Relais AfI in folgendem Kreis weiter gehalten:After relay V3 has dropped out, relay AfI continues to be held in the following circle:

15. +, 6c, 24m3, 22m2, 21ml, Ml, -. 15. +, 6c, 24m3, 22m2, 21ml, Ml, -.

Relais M1 bereitet am Kontakt 2SmI die Einspeicherung der zweiten Ziffer (Hauptamtsziffer) in die Relaisgruppe H1 ... H10 vor. Relais M1 schaltet in der Abfallzeit des Relais Mh das Anlaß relais An ein: Relay M1 prepares the storage of the second digit (main office digit) on contact 2SmI in relay group H1 ... H 10. Relay M 1 switches on the starter relay An in the release time of relay Mh :

16. +, 29c, 30ne, 31 ga, 33ml, 34mh, An, —.16. +, 29c, 30ne, 31 ga, 33 ml, 34mh, An, -.

Relais An hält sich unabhängig von den Relais Mh und Ml in folgendem Kreis:Relay On remains in the following circuit independently of relays Mh and Ml:

17. +,29c, 30Mc, 31 ga, 32ga, 35an, An, —.17. +, 29c, 30Mc, 31 ga, 32 ga, 35 an, An, -.

Relais An schaltet Relais Xl ein:Relay on switches on relay Xl :

18. +, 3San, 39ga, 4QvI, 41x2, Xl, —.
Relais Zl schaltet Relais X2 ein:18. +, 3San, 39ga, 4QvI, 41x2, Xl, -.
Relay Zl switches on relay X2 :

19. +, 45x1, Z2II, Z2I, -.19. +, 45x1, Z2II, Z2I, -.

Relais X2 unterbricht am Kontakt 41 x2 wieder den Erregungskreis des Relais Xl. Relais Xl fällt ab, falls der Umwerter besetzt ist. Ist der Umwerter jedoch frei, so kann Relais Pu während der Abfallzeit des Relais Xl auf das Prüfvielfach Pv des Umwerters aufprüfen:Relay X2 interrupts the excitation circuit of relay Xl again at contact 41 x2. Relay Xl drops out if the corrector is busy. If the corrector is free, however, relay Pu can check the corrector's test multiple Pv during the release time of relay Xl:

20. -h Wi 6, Wi 7, na, PuI, GrI, 50x2, 49*1, -.20. -h Wi 6, Wi 7, na, PuI, GrI, 50x2, 49 * 1, -.

Relais Pu hält sich nunmehr in Reihe mit Relais Zl in folgendem Kreis:Relay Pu is now in series with relay Zl in the following circle:

21. +, 38cm, 43pu, 4AxI, Pull, Xl, -.21. +, 38cm, 43pu, 4AxI, Pull, Xl, -.

Dadurch wird auch Relais Z 2 erregt gehalten. Relais Pu schaltet die Relais Fl und F3 ein:This also keeps relay Z 2 energized. Relay Pu switches on relays Fl and F3 :

22. +,29c, 30ne, 31 ga, 47pu, Fl, F3, —.22. +, 29c, 30ne, 31 ga, 47 pu, Fl, F3, -.

Nach Ansprechen des Relais Fl wird parallel zu diesem über Kontakt 48/1 Relais F 2 eingeschaltet. Nunmehr liegt an einem sogenannten Kennzahlenpunkt Kp im Umwerter über die Leitung It 3, Kontakte 51 #3, 53/1 Spannung vom Speicher. Diese wird mittels elektronischer Schaltelemente, wie z. B. Transistoren, zunächst in ein negatives Ergebnis ausgewertet, da die eingespeicherte erste Ziffer noch nicht zur Auswertung ausreicht. Dieses negative Ergebnis ίο besteht darin, daß der Umwerter kurz Erde an die Leitung It 39 anlegt und dadurch Relais Ne im Speicher erregt:After relay Fl has responded, relay F 2 is switched on in parallel via contact 48/1. There is now voltage from the memory at a so-called code point Kp in the corrector via the line It 3, contacts 51 # 3, 53/1. This is by means of electronic switching elements, such. B. transistors, initially evaluated in a negative result, since the stored first digit is not yet sufficient for evaluation. This negative result ίο is that the corrector briefly applies earth to the line It 39 and thereby energizes relay Ne in the memory:

23. +, /i39, 89/2, Ne, -.23. +, / i39, 89/2, Ne, -.

Relais Ne unterbricht durch seinen Kontakt 3Om^ (vgl. Stromlauf 16) den Erregungskreis des Relais An. Dieses fällt ab. Durch Öffnen des Kontaktes 38 an kommen die Relais Zl, Pu und X2 zum Abfall. Nach Abfall des Relais Zl ist durch öffnung des KontaktesRelay Ne interrupts the excitation circuit of relay An through its contact 3Om ^ (see circuit 16). This falls off. By opening the contact 38 on the relays Zl, Pu and X2 come to waste. After the relay Zl has dropped, the contact is opened

ao 49x1 der Prüfkreis zum Prüfvielfach Pv unterbrochen worden. Der Umwerter ist wieder für eine neue Belegung freigegeben.ao 49x1 the test circuit to the test multiple Pv has been interrupted. The corrector is released again for a new assignment.

Es trifft nunmehr dienächste Stromstoßreihe aus zwei Stromstößen bestehend ein. Relais A spricht zweimal an. Als Folge davon werden nacheinander die Relais Vl, V2, V3 erregt und während der Stromstoßserie wieder erregt gehalten. Durch diese Stromstoßreihe wird Relais S2 erregt. Nach Beendigung der Stromstoßreihe kommen nach Abfall des Relais A die Relais Vl, V2, V3 wieder zum Abfall. Anschließend kommt Relais S 2 zum Abfall. Während der Abfallzeit des Relais V2 wird das Speicherrelais H2 eingeschaltet:The next series of current impulses consisting of two current impulses now arrives. Relay A responds twice. As a result, the relays V1, V2, V3 are energized one after the other and kept energized again during the series of current surges. This series of impulses energizes relay S2 . After the end of the series of impulses, the relays V1, V2, V3 drop again after relay A has dropped out. Then relay S 2 comes to waste. During the release time of relay V2 , storage relay H2 is switched on:

24. +, 14^2, 15wl, 28ml, Gr6, 61s2, Ή2, -.24. +, 14 ^ 2, 15wl, 28ml, Gr6, 61s2, Ή2, -.

Relais H2 hält sich unabhängig von Relais vS"2:Relay H2 remains independent of relay vS "2:

25. +, 17c, 62h2, H2, -.25. +, 17c, 62h2, H2, -.

Während der Abfallzeit des Relais V3 wird Relais M2 erregt:During the release time of relay V3 , relay M2 is energized:

26. +, 18w2, 19z/3, GrIl, 90mÄ-, 26ml, M2, -.26. +, 18w2, 19z / 3, GrIl, 90mÄ-, 26ml, M2, -.

Relais M 2 unterbricht durch öffnen des Kontaktes 22ra2 den Haltekreis für Relais Ml (vgl. Stromlauf 15), das sich bis zum Abfall des Relais V3 noch hält:Relay M 2 interrupts the holding circuit for relay Ml by opening contact 22ra2 (see circuit 15), which is held until relay V3 drops out:

27. +, 18^2, 19z<3, GrIO, 25wl, Ml, -. 27. +, 18 ^ 2, 19z <3, GrIO, 25wl, Ml, -.

Nach Abfall von Relais V3 hält sich Relais M2 über:After relay V3 has dropped out, relay M2 holds:

28. +, 6c, 24«3, 23w2, A/2, -.28. +, 6c, 24 «3, 23w2, A / 2, -.

Während der Abfallzeit des Relais AfI wird Relais An wieder erregt:During the release time of the relay AfI, relay on is energized again:

29. +, 29c, 30ne, 3IgO, 33ml, 37m2, An, -. 29. +, 29c, 30ne, 3IgO, 33ml, 37m2, An, -.

Relais An schaltet wieder die Unterbrecherrelais Zl und Z 2 ein, welche das Prüf relais Pu an das Prüfvielfach legen. Relais Pu soll gemäß Annahme wiederum sofort den Umwerter frei finden und ansprechen. Daraufhin hält sich Relais Pm und Zl in Reihe (vgl. Stromlauf 21). Desgleichen wird Relais X 2 erregt gehalten. Abhängig von Relais Pu sprechen die Relais Fl, F 3 und anschließend Relais F 2 wieder an. Nach Ansprechen des Relais F 2 wird als dekadischer Code für die Ziffer 2 über die Leitung It 12 und die Kontakte 63h2, 54/2 Spannung in den Umwerter gegeben. Ebenfalls wird, wie bereits beschrieben, über die Leitung It 3 und die Kontakte 53 /1, 51 ζ 3 Spannung an den Umwerter gelegt. Diese beiden Span-Relay An switches on again the interrupt relays Zl and Z 2, which connect the test relay Pu to the test multiple. Relay Pu should again find the corrector immediately and respond according to the assumption. Thereupon relays Pm and Zl stay in series (see circuit 21). Likewise, relay X 2 is kept energized. Depending on relay Pu , relays Fl, F 3 and then relay F 2 respond again. After the relay F 2 has responded, voltage is given to the corrector as a decade code for the number 2 via the line It 12 and the contacts 63 h2, 54/2. As already described, voltage is also applied to the corrector via the line It 3 and the contacts 53/1, 51 ζ 3. These two clamping

nungen werden im Umwerter wiederum in ein negatives Ergebnis umgewertet, wodurch über Leitung It 39 Relais Ne im Speicher wiederum kurz zum Ansprechen kommt. Relais Ne bringt Relais An zum Abfall und dieses die Relais J1,Z2 und Pm. Dadurch wird der Umwerter wieder freigegeben.In the corrector, the results are converted into a negative result, so that relay Ne in the memory is briefly responded via line It 39. Relay Ne brings relay An to waste and this brings relays J1, Z2 and Pm. This enables the corrector again.

Bei der dritten Wahlserie, die gemäß Annahme aus einem einzigen Stromstoß besteht, kommt Relais Sl zum Ansprechen. Nach Beendigung dieser Serie kommt in der Abfallzeit des Relais V2 das Speicherrelais A'l zum Ansprechen:In the third option series, which is in accordance with adoption of a single current surge relay Sl comes to respond. At the end of this series, the storage relay A'l responds in the release time of relay V2:

30. 4-, 14z'2, 15ζΊ, 64to2, GrT, 71.il, Kl, -.
Xach Abfall des Relais Sl hält sich Relais Kl: 30. 4-, 14z'2, 15ζΊ, 64to2, GrT, 71.il, Kl, -.
Xach drop the relay Sl to relay Kl holds:

31. +, 17c. 72*1, A'l, -.31. +, 17c. 72 * 1, A'l, -.

Während der Abfallzeit des Relais V3 wird Relais -1/3 erregt:During the release time of relay V3 , relay -1/3 is energized:

32. +, 18 ν 2, 19 ν Z, GrIQ, 70 ml, 66 m 2, M3, -. 32. +, 18 ν 2, 19 ν Z, GrIQ, 70 ml, 66 m 2, M3, -.

Relais M 3 hält sich über seinen eigenen Kontakt 67 m 3:Relay M 3 maintains 67 m 3 via its own contact:

33. -K 6 c, 67m3, M3, -.33. -K 6 c, 67 m3, M 3, -.

Relais M 3 unterbricht durch Öffnung seines Kontaktes 24m3 den bisherigen Haltekreis des Relais M2 (vgl. Stromlauf 28), das sich jedoch während der Abfallzeit des Relais V3 über seinen Kontakt 27ra2 hält. Ferner schaltet Relais M3 nach Abfall des Relais M2 Relais Mh wieder ein:By opening its contact 24 m3, relay M 3 interrupts the previous hold circuit of relay M2 (cf. current flow 28), which, however, is maintained via its contact 27ra2 during the release time of relay V3. Furthermore, relay M3 switches on again after relay M2 drops out, relay Mh :

34. +.6c, 69Ot3, 56m2, Mh, -. 34. + .6c, 69Ot3, 56m 2, Mh, -.

Während der Abfallzeit des Relais M2 wurde Relais An wieder eingeschaltet:During the release time of relay M2 , relay on was switched on again:

35. 4-, 29c, 30ne, 31ga, 36m3, 37 m 2, An, —.35.4-, 29c, 30ne, 31ga, 36m3, 37 m 2, An, -.

Relais An schaltet die Unterbrecherrelais X1, X2 wieder ein. wodurch der Priifstromkreis für Relais Pu wieder geschlossen wird. Relais Pu spricht wieder an und hält sich in Reihe mit Relais Xl. Ferner wird Relais A'2 gehalten. Die Relais Fl, F3, F2 werden wieder erregt. Nunmehr wird über die Leitung /f21 und die Kontakte 65*1, 55 f2 sowie über die Leitung /fl2 und die Kontakte 63 h2, 54/2 und über die Leitung It 3 und die Kontakte 51s 3, 53 fl Spannung als dekadisches Codezeichen für die Kennzahl »321« zum Umwerter übertragen. Diese Spannung hat nunmehr ein positives Auswerteergebnis zur Folge, das darin besteht, daß an die Leitungen /i31 und /i33 vom Umwerter her Erde angelegt wird, wodurch die Relais LaI und LaA erregt werden:Relay On switches the interrupt relays X1, X2 on again. whereby the test circuit for relay Pu is closed again. Relay Pu responds again and stays in series with relay Xl. Relay A'2 is also held. The relays Fl, F3, F2 are energized again. Now the line / f21 and the contacts 65 * 1, 55 f2 as well as the line / fl2 and the contacts 63 h2, 54/2 and the line It 3 and the contacts 51s 3, 53 fl voltage as a decadic code symbol for transfer the code »321« to the corrector. This voltage now has a positive evaluation result, which consists in the fact that the corrector earth is applied to the lines / i31 and / i33, whereby the relays LaI and LaA are energized:

36. -<-. It31. 73f3, Lall, -; 36. - <-. It31. 73f3, Lall, -;

37. 4-, It33, 78f 3, LaAl. -.37. 4-, It33, 78f 3, LaAl. -.

Die beiden Relais halten sich:The two relays hold:

38. +, 52 c, 74 IaI, La 111. -;38. +, 52 c, 74 IaI, La 111. -;

39. 4-. 52c, 79IaA, LaAIl, -.39. 4-. 52c, 79IaA, LaAIl, -.

Die erregten Ergebnisrelais La schalten das Gruppenrelais Ga ein:The excited result relays La switch on the group relay Ga :

40. -K 52 c, 75 la 1/80 la 4, Ga, -.40. -K 52 c, 75 la 1/80 la 4, Ga, -.

Relais Ga bringt durch öffnen des Kontaktes 31 ga Relais An zum Abfall. Relais An unterbricht durch Öffnung des Kontaktes 38 an den Haltekreis für die Relais Zl und Pu. Dadurch wird der Prüfkreis zum Prüfvielfach unterbrochen und der Umwerter wieder freigegeben. Ferner kommen die Relais Z2, Fl, F3, F 2 zum Abfall.Relay Ga causes relay An to drop by opening contact 31 ga. Relay An interrupts by opening contact 38 on the holding circuit for relays Zl and Pu. This interrupts the test circuit to the test multiple and enables the corrector again. Furthermore, the relays Z2, Fl, F 3, F 2 come to waste.

Abhängig von der Erregung der Ergebnisrelais werden über die Adern I und II codierte Gleichstromzeichen in der Form von verschiedenen Spannungsstufen zum Einstellsatz des Richtungswählers übertragen. In dem vorliegenden Beispiel wird nach Ansprechen des Relais La 1 über Kontakt 76 la 1 Spannung über die Widerstände WiI und WiI an die ίο Ader I angelegt, während über Kontakt 81 IaA an die Ader II Spannung über die Widerstände WiA. und Wi3 angeschaltet wird. An jeder Ader liegt im Einstellsatz des Richtungswählers je ein Relaispaar, welches durch die im Speicher angelegten Spannungen in einer bestimmten Kombination erregt wird. Diese Relaiskombination wird in eine Markierung für den Richtungswähler umgesetzt, durch welche sich der Richtungswähler auf die entsprechende Richtung einstellt.Depending on the excitation of the result relay, coded direct current signals in the form of different voltage levels are transmitted to the setting set of the direction selector via wires I and II. In the present example, after the relay La 1 has responded via contact 76 la 1, voltage is applied to the ίο wire I via the resistors WiI and WiI, while voltage is applied to the wire II via contact 81 IaA to the wire II. and Wi3 is switched on. In the setting set of the direction selector, there is a pair of relays on each wire, which is excited in a specific combination by the voltages applied in the memory. This relay combination is converted into a marking for the direction selector, through which the direction selector adjusts itself to the corresponding direction.

ao Nach Einstellung des Richtungswählers und Teilausspeicherung der Kennzahl wird der Speicher seitens des belegenden Verbindungsweges wieder freigegeben. Dadurch kommt Belegungsrelais C des Speichers zum Abfall. Nach Abfall des Relais C kommen die Relais M3, Mh, die Speicherrelais Z3, H2, Kl sowie die Relais LaI, La4, Ga zum Abfall.ao After setting the direction selector and partial storage of the code, the memory is released again on the part of the occupying connection path. This causes the storage relay C to waste. After the relay C has dropped, the relays M3, Mh, the storage relays Z3, H2, Kl and the relays LaI, La4, Ga drop.

Es sei nun der Fall betrachtet, daß der Speicher nach Aufnahme der ersten Ziffer (Zentralamtsziffer'} bei seiner Anfrage an den Umwerter über das Prüfvielfach diesen zunächst nicht frei findet, sondern die Unterbrecherrelais X1, X 2 die Prüfeinleitung so lange wiederholen müssen, bis der Umwerter frei wird. Gleichzeitig möge dann bereits die zweite Wahlserie (Hauptamtsziffer) im Speicher eintreffen und erst gegen Ende dieser Wahlserie, z. B. beim letzten Impuls derselben, möge der Speicher den Umwerter frei finden. In diesem Fall spielen sich folgende Schaltvorgänge ab: Am Ende der ersten Wahlserie fallen nach endgültigem Abfall des Empfangsrelais A 4Q nacheinander die Relais Vl, V2, V3 ab. Während der Abfallzeit des Relais V2 wird das Speicherrelais Z3 eingeschaltet. Während der Abfallzeit des Relais V3 wird Relais Ml eingeschaltet. Nach Ansprechen des Relais M1 wird Relais An eingeschaltet, welches sich unabhängig von Relais M1 über eigenen Kontakt hält (vgl. Stromlauf 17). Relais An schaltet nach Abfall des Relais Vl über Kontakt 40vl Relais Xl ein (vgl. Stromlauf 18). Relais Xl schaltet Relais X2 ein; Relais Z 2 schaltet Relais Zl wieder aus. Dieses Spiel wiederholt sich so lange, bis das Prüfrelais Pu auf das Prüfvielfach aufprüfen kann. Die Anfrage des Prüfrelais an das Prüfvielfach erfolgt jeweils über die geschlossenen Kontakte 49.r 1, 5O.ar2, wobei die Prüfzeitdauer durch den Abfall des Relais Z1 bestimmt ist. Die Anfrage an den Umwerter wiederholt sich zunächst, da voraussetzungsgemäß das Prüfvielfach gesperrt ist und infolgedessen Relais Pu nicht ansprechen kann. Inzwischen läuft die nächste Wahlserie ein, welche wiederum die Relais A, Vl, V2, V3 erregt. Durch Öffnung des Kontaktes 40^1 wird der ursprüngliche Anreizkreis des Relais Zl unterbrochen. Der gewöhnliche Anfragerhythmus wird dadurch gestört; das zeitliche Auseinanderlaufen der Prüfvorgänge wird damit besonders begünstigt. Der Anreizkreis für Relais Zl wird nunmehr von dem Empfangsrelais A übernommen, welches bei jedem Ansprechen über den parallel zu dem Ruhekontakt 40wl liegenden Arbeitskontakt46α den Anreizkreis für Relais Zl herstellt:
41. 4-, 38an, 39ga, 46α, 41λ2, Zl, —.Let us now consider the case that after the first digit (Zentralamtsziffer '} has been recorded, the memory does not initially find it free when it queries the corrector via the test multiple, but rather the interrupter relays X 1, X 2 have to repeat the test initiation until At the same time, the second series of dialing (main office number) may arrive in the memory and the memory may only find the corrector free towards the end of this dialing series, e.g. with the last pulse of the same. In this case, the following switching processes take place : At the end of the first series of choices, after the receiving relay A 4Q has finally dropped out, the relays Vl, V2, V3 drop one after the other. During the drop-out time of the relay V2 , the storage relay Z3 is switched on. During the drop-out time of the relay V 3, relay Ml is switched on of relay M1 , relay on is switched on, which remains independent of relay M1 via its own contact (see circuit 17) On switches on after relay Vl has dropped out via contact 40 vl relay Xl (cf. Circuit 18). Relay Xl switches on relay X2 ; Relay Z 2 switches relay Zl off again. This game is repeated until the test relay Pu can check the test multiple. The request from the test relay to the test multiple takes place via the closed contacts 49. r 1, 50.ar2, the test duration being determined by the dropout of the relay Z1. The query to the corrector is initially repeated, since the test multiple is blocked according to the prerequisite and as a result relay Pu cannot respond. In the meantime, the next election series is running, which in turn energizes the relays A, Vl, V2, V3 . By opening the contact 40 ^ 1 , the original stimulus circuit of the relay Zl is interrupted. The usual rhythm of inquiries is thereby disturbed; the divergence in time of the test processes is thus particularly favored. The incentive circuit for relay Zl is now taken over by the receiving relay A , which creates the incentive circuit for relay Zl with each response via the normally open contact 46α lying parallel to the normally closed contact 40wl:
41. 4-, 38an, 39ga, 46α, 41λ2, Zl, -.

Diese Anordnung hat den Vorteil, daß die Anfrage an den Umwerter nicht bis zum Ende der gerade einlaufenden Wahlserie warten muß, sondern bereits während dieser Serie beginnen kann. Es sei jedoch angenommen, daß der Umwerter erst beim letzten Impuls der zweiten Wahlserie frei gefunden wird. Dann spricht Prüfrelais Pu an, und anschließend, wie schon wiederholt beschrieben, sprechen die Relais Fl, FZ, F 2 an. Relais Pw und Xl halten sich in Reihe (vgl. Stromlauf 21). Ebenso wird Relais X2 erregt ge- ίο halten. Die bereits in codierter Form über die Leitung ItZ und Kontakt 51 £ 3 festliegende ZentralamtszifFer geht nach Ansprechen des Relais Fl infolge Schließen des Kontaktes 53/1 sofort in den Umwerter. Da das Ergebnis zunächst negativ ist, wird im Speicher Relais Ne erregt (vgl. Stromlauf 23). Relais Ne unterbricht am Kontakt 30 wc den Haltekreis des Relais An. Relais An unterbricht den Haltekreis der Relais .Pm, Xl, wodurch der Prüfstromkreis unterbrochen und der Umwerter vom Speicher abgekoppelt wird. Nach Abfall des Relais Xl kommt auch Relais X 2 zum Abfall. Nach Abfall des Relais Pm kommen auch die Relais Fl, F3, F2 zum Abfall.This arrangement has the advantage that the query to the corrector does not have to wait until the end of the election series that is just coming in, but can begin during this series. It is assumed, however, that the corrector is only found freely with the last pulse of the second series of choices. Then test relay Pu responds, and then, as already described repeatedly, the relays Fl, FZ, F 2 respond. Relays Pw and Xl are in series (see circuit 21). Relay X2 is also kept energized. The ZentralamtszifFer already in coded form via the line ItZ and contact 51 £ 3 goes into the corrector immediately after the relay Fl has responded as a result of contact 53/1 being closed. Since the result is initially negative, relay Ne is energized in the memory (see circuit 23). Relay Ne interrupts the hold circuit of relay An at contact 30 wc. Relay An interrupts the holding circuit of relays .Pm, Xl, whereby the test circuit is interrupted and the corrector is decoupled from the memory. After relay Xl drops out , relay X 2 also drops out. After the relay Pm has dropped, the relays Fl, F3, F2 also drop.

Nach beendigter Aufnahme der zweiten Wahlserie wird nach Abfall des Relais Vl und während der Abfallzeit des Relais V2 das Speicherrelais H2 erregt (vgl. Stromlauf 24). Nach Abfall des Relais V2 und in der Abfallzeit des Relais VZ wird Relais M2 erregt (vgl. Stromlauf 26). Relais M2 schaltet Relais Ml aus. Während der Abfallzeit des Relais Ml wird Relais An wieder erregt (vgl. Stromlauf 29). Nunmehr kann über den geschlossenen Kontakt 40 vl Relais Xl wieder ansprechen, welches Relais X2 wieder erregt. Beide Relais erregt, stellen den Prüfkreis zum Prüfvielfach des Umwerters wieder her. Wird der Umwerter sofort frei gefunden, so spricht Relais Pu an. Anschließend werden die Relais Xl₁ X 2 dauernd erregt gehalten. Abhängig von Relais Pu sprechen die Relais Fl, F2, FZ wieder an. Dies hat zur Folge, daß jetzt erst die bereits festliegende Hauptamtsziffer über die Leitung It 12 und Kontakt 6Zh2 in den Umwerter gegeben werden kann. Die weiteren Schaltvorgänge sind bereits beschrieben worden.After the second series of selections has been completed, the storage relay H2 is energized after the relay Vl has dropped and during the drop-out time of the relay V2 (see circuit 24). After relay V2 has dropped out and during the drop-out time of relay VZ , relay M2 is energized (see circuit 26). Relay M2 switches off relay Ml . During the release time of the relay Ml, relay on is energized again (see circuit 29). Now, via the closed contact 40 vl, relay Xl can respond again, which relay X2 is energized again. Both relays energized, reestablish the test circuit to the test multiple of the corrector. If the corrector is found free immediately, relay Pu responds. The relays Xl ₁ X 2 are then kept continuously energized. Relays Fl, F2, FZ respond again depending on relay Pu. As a result, the main office number that has already been set can only now be entered into the corrector via line It 12 and contact 6Zh2. The other switching operations have already been described.

Ist aber auch nach Einspeicherung der Hauptamtsziffer im Relais H 2 der Umwerter wiederum zunächst nicht frei und trifft inzwischen die dritte Stromstoßreihe (Knotenamtsziffer) ein, so beginnt inzwischen Relais Λί wiederum das Unterbrecherrelais Z1 einzuschalten. Wird der Umwerter am Ende dieser Wahlserie frei gefunden, so spricht Relais Pu an, was zur Folge hat, daß zunächst sofort die bereits festliegende Hauptamtsziffer über die Leitung It 12 in den Umwerter gegeben wird. Da auch nach dieser Ziffer noch das Ergebnis negativ ist, wird im Speicher wieder Relais Ne erregt. Die Relais^«, Pu, Xl, X2, Fl, FZ, F 2 fallen wieder ab. Am Ende der dritten Wahlserie wird sodann nach Abfall des Relais Vl während der Abfallzeit des Relais V2 wieder das Speicherrelais Kl erregt. Nach Abfall des Relais V2 und während der Abfallzeit des Relais VZ wird Relais MZ erregt, welches Relais M 2 ausschaltet. In der Abfallzeit des Relais M2 spricht sodann Relais An wieder an, und da Relais Vl bereits abgefallen ist, spielen nunmehr wieder die Relais Xl, X2 so lange durch, bis das Prüfrelais Pu das Prüfvielfach des Umwerters frei findet. Anschließend wird dann durch die Relais ZZ, H2 und Kl über die Leitungen ItZ, It 12 und /i21 der dekadische Code für die Kennzahl »321« in den Umwerter gegeben. Dieser gibt sodann ein positives Ergebnis zum Speicher, das, wie schon beschrieben, die Relais LaI und La4 erregt. Die weiteren Schaltvorgänge spielen sich, wie schon beschrieben, ab.However, if the corrector is still not free after the main exchange number has been stored in relay H 2 and the third series of current impulses (node exchange number) arrives, relay Λί begins to switch on the interrupter relay Z1. If the corrector is found free at the end of this series of elections, relay Pu responds, with the result that the main office number that has already been set is immediately given to the corrector via line It 12. Since the result is still negative after this number, relay Ne is energized again in the memory. The relays ^ «, Pu, Xl, X2, Fl, FZ, F 2 drop out again. At the end of the third selection series, the latching relay Kl is energized then to drop the relay Vl during the fall time of the relay V2 again. After the relay V2 drops out and during the drop-out time of the relay VZ , relay MZ is energized, which relay M 2 switches off. In the fall time of relay M2 , relay An responds again, and since relay Vl has already dropped out, relays Xl, X2 now play through until the test relay Pu finds the corrector's test multiple free. The relays ZZ, H2 and Kl then send the decadic code for the code »321« to the corrector via the lines ItZ, It 12 and / i21. This then gives a positive result to the memory, which, as already described, energizes the relays LaI and La4. The other switching processes take place as already described.

Claims

Patent claims:

1. Circuit arrangement for current surge memory, which convert the recorded current surge rows into a decadic code and transfer this to a number of memories common corrector, which influences the evaluation of this code, preferably in a different code form, result relay in the memory, the coupling of the memory to the common Corrector takes place by means of a test manifold assigned to the corrector and parallel test branches assigned to the memories, which, working according to the voltage divider principle, prevent a free test of several memories checking the corrector at the same time, in which case, however, interrupt relays individually in the memories continuously repeat the request to the corrector, until this is free, in telecommunication systems, in particular telephone systems, characterized in that the switching on of the interrupter relays (Xl) controlling the test circuit between the memory (SP) and the test multiple (PV) of the corrector (W) depends It is nigig of a control relay (Vl) activated during a series of rushes and the rush receiving relay (A) of the memory.

2. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that in the stimulus circuit of the breaker relay (Xl), which determines the test duration by its fall time, on the one hand a normally closed contact (4OwI) of a control relay (Vl) excited during reception of a rush current series and parallel to this a normally open contact (42 a ) of the surge receiving relay (A) .

1 sheet of drawings