CN201173902Y - 一种双视角扫描装置的臂架结构 - Google Patents
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Abstract
一种双视角扫描装置臂架结构，包括准直器立柱、主梁、横探测臂、竖探测臂、竖探测臂立柱、加速器、加速器舱和准直器。准直器立柱和竖探测臂立柱通过螺栓与主梁连接形成一个整体的龙门结构，作为扫描装置臂架结构的框架，为准直器、探测臂提供支撑及调整机构。准直器通过下支座及调整支座与准直器立柱连接，横探测臂通过安装支座与主梁连接，竖探测臂通过下支座及调整支座与竖探测臂立柱连接。加速器发射端同时发射出两束对称X射线，接收端也是两套成相同对称角度的水平和竖直方向组成的探测器阵列来接收两路信号。
Description
技术领域
本实用新型涉及大型物体辐射检查系统的扫描辐射成像装置，尤其涉及一种用于大型物体辐射检查系统的扫描辐射成像装置的臂架结构。
背景技术
辐射成像技术借助于高能X射线的穿透能力，可以在非接触情况下对物体的内部进行透视，从而得到物体的透视图像。对于大型物体的检查，现有技术中，扫描辐射成像的工作原理均采用由辐射源发射X射线，X射线穿过被检测物体由探测器接收后转换成电信号输入图像获取模块，由图像获取模块将图像信号输入计算机显示器显示所检测图像。一般情况下，辐射成像所形成的透视图像是X射线束流所穿透的全部物体的投影，不包含深度方向的信息，如果多个物体正好沿着射线入射的方向放置，则在所形成的扫描图像是沿扫描束流方向全部物体叠加形成的图像，这样不利于对隐藏于其它物体背后的物品进行检查。为了解决这一问题，在辐射成像领域中，计算机断层扫描技术是一种比较成熟的主体重建技术，这种技术的缺点是：不仅设备复杂、成本高，而且无法对大型物体进行快速检查、通过率低。最新发明的双视角扫描辐射成像装置结构简单，成本低，检查速度快。可以弥补原有技术的不足。双视角扫描辐射成像装置臂架采用了独特的结构，解决了技术实现上的难题，使双视角扫描辐射成像方法得以实现。
实用新型内容
针对上述现有技术中存在的不足，本实用新型提供一种结构简单、成本低、检查速度快的用于大型物体辐射检查系统的扫描辐射成像装置的臂架结构。
为实现上述目的，本实用新型还提供一种双视角扫描辐射成像系统，包括准直器立柱、主梁、横探测臂、竖探测臂、竖探测臂立柱、加速器、加速器舱和准直器，准直器立柱和竖探测臂立柱与主梁连接形成一个整体的龙门结构，作为扫描装置臂架结构的框架，为准直器、探测臂提供支撑及调整机构。
准直器通过下支座及调整支座与准直器立柱连接，调整调整螺栓可以使准直器进行平移和旋转。
横探测臂通过安装支座与主梁连接，调整横向调整螺栓，可以使横探测臂进行平移和摆动。
竖探测臂通过下支座及调整支座与竖探测臂立柱连接，调整调整螺栓(单探测臂)可以使竖探测臂进行平移和旋转。
由于采用了上述的形式，同现有技术相比，本实用新型的装置结构简单、成本低，可以在现有的固定式集装箱检查系统中直接改装，也可以在新建的固定式和移动式大型集装箱检测系统中应用。
本装置采用了从加速器发射源同时发射出两束对称X射线，接收端也是两套成相同对称角度的水平和竖直方向组成的探测器阵列来接收两路信号的结构，实现对检测物的空间3维深度扫描，得到与被检测物的三维空间信息一致的准确，全面的检测。
附图说明
图1为根据本实用新型的双视角扫描装置臂架结构的正视图；
图2为根据本实用新型的双视角扫描装置臂架结构的俯视图；
图3a为根据本实用新型的准直器及其调整装置的正视图；
图3b为图3a所示的根据本实用新型的准直器及其调整装置A-A剖面图；
图4a为根据本实用新型的横探测臂及其调整装置的正视图；
图4b为根据本实用新型的横探测臂及其调整装置的A-A剖面图；
图5a为根据本实用新型的竖探测臂及其调整装置的正视图；
图5b为根据本实用新型的竖探测臂及其调整装置的A-A剖面图。
具体实施方式
下面结合说明书附图来说明本实用新型的具体实施方式。
图1和图2分别为根据本实用新型的双视角扫描装置臂架结构的正视图和俯视图。如图1和2所示，本实用新型的双视角扫描装置臂架结构包括以下装置：准直器立柱101、主梁102、横探测臂103、竖探测臂104、竖探测臂立柱105、加速器106、加速器舱107和准直器108。
准直器立柱101和竖探测臂立柱105通过螺栓与主梁102连接，形成一个整体的龙门结构，“门”形区域内，为检测区域。作为扫描装置臂架结构的框架，为准直器108、横探测臂103、竖探测臂104提供支撑及调整机构。
准直器立柱101上方安装有主梁102及横探测臂103，主梁102作为主支撑结构，悬挂安装有横探测臂103，在横探测臂103上，X射线射到的两个成一定角度射线面区域内，均匀安装有射线探测器，射线探测器的安装支架可以调整以保证探测器探测面正对射线使探测到的射线信号最强。主梁102上还有安装探测器冷却系统的支架，对所有探测器进行冷却。整个主梁系统设有顶棚，保护机内设施。
加速器106、加速器舱107、准直器108、横探测臂103及竖探测臂104构成双视角扫描辐射成像装置，本装置的发射端是从加速器106同时发射出两束对称X射线，接收端也是两套成相同对称角度的水平和竖直方向组成的探测器阵列来接收两路信号。
竖探测臂立柱105上装有竖探测臂104，X射线射到的两个成一定角度射线面区域内，均匀安装有射线探测器，竖探测臂104上装有与准直器上类似的调整装置，可以对竖探测臂104进行调整以保证探测器探测面正对射线，使探测到的射线信号最强。为了保证射线信号全部能探测到，竖探测器阵列高出横梁探测器，使得在测量面对角线上的射线也可以探测到。
所有的准直器，横向探测器和纵向探测器都是成对按双视角角度对称排列成两组，而且都设计有调整装置，以保证发射出的射线和得到的信号与视角夹角一致，保证得到的信号最强最真实，两路信号经过数学处理，得到有深度的被检测物的准确三维信号，使单一视角观察所造成的物体图像重叠而无法分辨物体真实形状及本质的问题得到解决。最终保证了检测系统的准确高效。
图3为根据本实用新型的准直器及其调整装置。如图3所示，准直器及其调整装置包括左准直器301、调整支座302、右准直器303、调整螺栓304、下支座305和准直器立柱101。
左准直器301和右准直器303通过下支座305及调整支座302与准直器立柱101连接，通过调整4个调整螺栓304可以使左准直器301和右准直器303进行平移和旋转调整，使加速器106发出的射线束流扇面同时通过左、右准直器缝，保证了成像质量。
图4为根据本实用新型的横探测臂及其调整装置。如图4所示，横探测臂及其调整装置包括安装支座401、纵向调整螺栓402、及横向调整螺栓404。
左、右横探测臂通过安装支座401与主梁102连接，通过调整横向调整螺栓404，可以使横探测臂103进行平移和摆动，使加速器106发出的射线束流扇面同时被横探测臂内的探测器接收，通过调整纵向调整螺栓402，可以调整横探测臂103与竖探测臂104的相对位置，保证探测器阵列无重叠也无间隙，保证了成像质量。
图5为根据本实用新型的竖探测臂及其调整装置。如图5所示，竖探测臂及其调整装置包括左竖探测臂501、右竖探测臂502、调整螺栓503、竖探测臂立柱105调整支座505和下支座506。
左竖探测臂501和右竖探测臂502通过下支座506及调整支座505与竖探测臂立柱105连接，通过调整4个调整螺栓503可以使左竖探测臂501和右竖探测臂502进行平移和旋转调整，使加速器106发出的射线束流扇面同时被左竖探测臂501和右竖探测臂502内的探测器接收，保证了成像质量。
以上结合附图对本实用新型的描述仅为本实用新型的优选实施例，并不用于限制本实用新型。本领域的技术人员在不脱离本实用新型宗旨的情况下，所进行的各种更改和变化均应包含在本实用新型的权利要求范围之内。
Claims (10)
1.一种双视角扫描装置臂架结构，包括以下部件：准直器立柱(101)、主梁(102)、横探测臂(103)、竖探测臂(104)、竖探测臂立柱(105)、和准直器(108)，其特征在于，所述准直器立柱和所述竖探测臂立柱与所述主梁连接，作为所述扫描装置臂架结构的框架，为所述准直器、所述探测臂提供支撑及调整机构。
2.根据权利要求1所述的扫描装置臂架结构，其特征在于：所述扫描装置臂架结构的框架是一个整体的龙门结构。
3.根据权利要求1所述的扫描装置臂架结构，其特征在于：在所述横探测臂(103)上，X射线射到的两个成一定角度射线面区域内，均匀安装有射线探测器，所述射线探测器的安装支架可以调整，以保证探测器探测面正对射线使探测到的射线信号最强。
4.根据权利要求3所述的扫描装置臂架结构，其特征在于：在所述主梁(102)上还有安装支架，用于安装对所有探测器进行冷却的探测器冷却系统。
5.根据权利要求3所述的扫描装置臂架结构，其特征在于：在所述竖探测臂(104)上，X射线射到的两个成一定角度射线面区域内，均匀安装有射线探测器；
所述竖探测臂(104)上还装有调整装置，对所述竖探测臂(104)进行调整以保证所述射线探测器探测面正对射线，使探测到的射线信号最强。
6.根据权利要求5所述的扫描装置臂架结构，其特征在于：
所述竖探测臂(104)上射线探测器阵列的安装高出所述横探测臂(103)上安装的所述射线探测器，使得在测量面对角线上的射线也可以探测到。
7.根据权利要求1所述的臂架结构，其中，所述准直器是通过下支座及调整支座与准直器立柱连接，调整调整螺栓可以使准直器进行平移和旋转。
8.根据权利要求1所述的臂架结构，其中，所述横探测臂是通过安装支座与主梁连接。
9.根据权利要求8所述的臂架结构，其特征在于，还包括：
横探测臂调整装置，具有横向调整螺栓(404)和纵向调整螺栓(402)；
调整所述横向调整螺栓(404)，可以使横探测臂进行平移和摆动；
调整所述纵向调整螺栓(402)，可以调整横探测臂(103)与竖探测臂(104)的相对位置。
10.根据权利要求1所述的臂架结构，其特征在于，
所述竖探测臂包括左竖探测臂(501)和右竖探测臂(502)，通过下支座(506)及调整支座(505)与竖探测臂立柱(105)连接，通过调整调整螺栓(503)使左竖探测臂(501)和右竖探测臂(502)进行平移和旋转。
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ID=40201030
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2007
- 2007-12-28 CN CNU2007201910387U patent/CN201173902Y/zh not_active Expired - Lifetime
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|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
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Granted publication date: 20081231 Effective date of abandoning: 20071228 |