CN201122173Y - 往复式ic批次检测机台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种往复式IC批次检测机台，包含供置放一供容纳多个待测IC元件的入料承载盘的入料区；设置有多个分别供电性连接该待测IC元件的连接器、供给讯号至所述连接器及自所述连接器取得资讯的处理器、供测试该待测IC元件的测试区；供置放一供容纳该已测IC元件的出料承载盘的出料区；一组具有多个盛放座、承载移动装置；具有多对入料搬移器、入料装置；具有对应该入料搬移器数目的多对出料搬移器、出料装置；及一组具有对应该入料搬移器数目、供自该承载移动装置取出该待测IC元件至对应的各该连接器、及多对机械臂的运载装置。直接节省检测过程中搬移受测IC元件所耗费的时间，提升检测效率。

Description

往复式IC批次检测机台

技术领域

本实用新型关于一种检测机台，尤其是一种往复式IC批次检测机台。

背景技术

积体电路元件已经成为电子设备中不可或缺的核心，元件的可靠度，无疑成为决定电子设备整体效能的极重要环节。因此，在积体电路元件出厂前均会进行最终检测，以确保品质良好无虞。

现有的测试机台虽然趋近全面自动化，但如图1所示，一般单一机台1所设置的进出料搬移器12均仅配置一对吸嘴11，因此，即使增加该进出料搬移器12的运作速度，其检验效率仍相当有限，一旦无法因应预定时间内所需检验的制品量，相对就会产生检测延迟、效率低落状况，不符市场对检测机台性能的需求。

另一方面，若为了增加效率而提升该进出料搬移器12的运作速度，易提高吸取待测元件时的不稳定性，无意间影响测试流程整体的顺畅运作，从而造成待测元件不必要的损坏，测试成本可能因此而提高。

有鉴于此，亟待一种使用相同时间却能稳定配合携带更多待测元件进行测试的检测机台，且在搬移元件过程中，不会有损伤待测物的顾虑；亦即增加每批次检测待测元件的数量，减少整体检测时间而直接降低检测成本，使得检测待测元件的过程更为效率化，以提升检测厂的检测能量及市场竞争力。

发明内容

本实用新型的目的，在于提供一种批次检测待测元件的往复式IC批次检测机台，单次移动即可搬移多颗待测元件，直接提升检测效率。

本实用新型的另一目的，在于提供一种大幅减少检测过程中构件移动次数，可使机台故障率降低、减少维修待机时间的往复式IC批次检测机台。

本实用新型的再一目的，在于提供一种效率加倍的往复式IC批次检测机台，可减少同一厂区中对于机台数量的需求，有效节省厂区空间。

本实用新型的又一目的，在于提供一种高效率的往复式IC批次检测机台，以降低检测成本，并提升机台转用效率。

一种往复式IC批次检测机台，系供批次检测多个待测IC元件，该机台包含：一供置放一供容纳多个待测IC元件的入料承载盘的入料区；一设置有多个分别供电性连接该待测IC元件的连接器、供给讯号至该连接器及自该连接器取得资讯的处理器、供测试该待测IC元件的测试区；一供置放一供容纳该已测IC元件的出料承载盘的出料区；一组具有多个盛放座、用以自该入料区搬移该待测IC元件至该测试区、并自该测试区搬移该已测IC元件至该出料区的承载移动装置；一具有多对入料搬移器、供自该入料承载盘取出对应的多个待测IC元件至该承载移动装置的入料装置；一具有对应该入料搬移器数目的多对出料搬移器、供自该承载移动装置取出对应的多个已测IC元件至该出料承载盘的出料装置；及一组具有对应该入料搬移器数目、供自该承载移动装置取出该待测IC元件至对应的各该连接器、及自该等连接器取出该已测IC元件至该承载移动装置的多对机械臂的运载装置。

本实用新型的往复式IC批次检测机台与现有技术相比，具有以下的优点：这种往复式IC批次检测机台相对于现有的IC检测机台，明显可见本实用新型处理待测IC检测量有几近加倍的优势，在进行批次检测时，可缩减检测单批元件的时间，且能减少机械构件无谓移动，直接提升检测的效率，相对降低检测的成本，提高检测机台的市场竞争力；更因单一机台已具有处理双倍检测容量的效能，IC检测业者立即节省机台购置费用与设置检测机台所需空间，而更有效利用厂房有限资源。

附图说明

图1为现有检测待测IC元件机台的立体示意图；

图2为本实用新型实施例复式IC批次检测机台俯视图之一示意图；

图3为本实用新型入料搬移装置的立体放大示意图；

图4为本实用新型实施例复式IC批次检测机台俯视图之二示意图

图5为本实用新型实施例复式IC批次检测机台俯视图之三示意图

图6为本实用新型实施例复式IC批次检测机台俯视图之四示意图；

附图标记说明：1、机台，11、吸嘴，12、进出料搬移器，2、往复式IC批次检测机台，202、入料区，204、测试区，206、出料区，207、机械臂，208、入料搬移装置，209、运载装置，210、出料搬移装置，211、入料搬移器，213、出料搬移器，214、搬运装置，216，217、承载移动装置，216a、入料装置，216b、出料装置，218，220、盛放座，222、连接器，224、处理器，302、入料承载盘，304、良品出料承载盘，306、不良品出料承载盘，402、待测IC元件，404、已测IC元件，

具体实施方式

实施例

敬请参考图2，为本实用新型往复式IC批次检测机台2实施例俯视图之一，入料搬移装置208配置多个相对应的入料搬移器211，入料搬移器211的一侧具有一组吸嘴211a，该入料搬移器211的另一侧则设置另一组对应于该组吸嘴211a的吸嘴211b。

相对应该入料搬移装置208，于往复式IC批次检测机台2的出料区206更配置出料搬移装置210，出料搬移装置210配置多个相对应的出料搬移器213，出料搬移器213的一侧具有一组吸嘴213a，相对应于该组吸嘴213a的另一侧设置另一组吸嘴213b。

另外，于入料搬移装置208与出料搬移装置210之间装设有一组运载装置209，该运载装置209的一侧设置一组吸嘴209a，对应于该吸嘴209a的另一侧设有另一组吸嘴209b，上述的搬运装置相互运作，以达成彼此搭配运作的功能。

为能更清楚理解该入料搬移装置208的构造，进一步以图3说明，图3为入料搬移装置208的立体放大示意图，该入料搬移装置208配置有多对相对应的入料搬移器211，该入料搬移器211装设有多个对应的吸嘴211a、211b。

往复式IC批次检测机台2的运作过程如图2所示，承载待测IC元件402的入料承载盘302透过搬运装置214送至入料区202等候检测，此时透过入料搬移器211的移动将入料承载盘302内所承载的待测IC元件402通过吸嘴211a、211b吸起并移动至承载移动装置216的入料装置216a端的盛放座218。

检测的下一步动作如图4所示，为本实用新型往复式IC批次检测机台2实施例俯视图之二，当已装载待测IC元件402的承载移动装置216移动至测试区204，测试区204具有一供给讯号至连接器222及自连接器222取得资讯的处理器224，此时测试区204所设置的连接器222藉电连接对该承载移动装置216上的入料装置216a内的待测IC元件402进行相关检测。

当待测IC元件402完成检测后，如图5所示，为本实用新型往复式IC批次检测机台2实施例俯视图之三，承载移动装置216则移动至入料区202当到达定位时将利用设置在运载装置209的机械臂207透过吸嘴212b将已测IC元件404由入料装置216a的盛放座218搬移至承载移动装置216的出料装置216b。

同一时间，承载移动装置217已完成待测IC元件402的装载并至测试区204进行测试。

如图6所示，为本实用新型往复式IC批次检测机台2实施例俯视图之四，延续图5所述，该承载移动装置216完成待测IC元件402及已测IC元件404的搬移后随即往出料区206移动，此时出料搬移装置210透过出料搬移器213的移动利用出料搬移器213上所设置的吸嘴213a及213b将设置于承载移动装置216上的出料装置216b的盛放座220中检测完毕的已测IC元件404取出，并依检测结果判定，搬移已测IC元件404分别归类至出料区206容纳的良品出料承载盘304或不良品出料承载盘306。

上列详细说明是针对本实用新型可行实施例的具体说明，该实施例并非用以限制本实用新型的专利范围，凡未脱离本实用新型所为的等效实施或变更，均应包含于本案的专利范围中。

Claims (3)

1. 一种往复式IC批次检测机台，其特征在于：所述往复式IC批次检测机台可批次检测多个待测IC元件，所述往复式IC批次检测机台包括：

供置放可容纳多个待测IC元件的入料承载盘的入料区；

设置有多个分别电性连接所述待测IC元件的连接器，供给讯号至所述连接器及自所述连接器取得资讯的处理器，供测试所述待测IC元件的测试区；

供置放可容纳所述已测IC元件的出料承载盘的出料区；

一组具有多个盛放座，用以自所述入料区搬移所述待测IC元件至所述测试区、并自所述测试区搬移所述已测IC元件至所述出料区的承载移动装置；

具有多对入料搬移器，供自所述入料承载盘取出对应的待测IC元件至所述承载移动装置的入料装置；

具有对应所述入料搬移器数目的多对出料搬移器、供自所述承载移动装置取出对应的多个已测IC元件至所述出料承载盘的出料装置；及

一组具有对应所述入料搬移器数目、供自所述承载移动装置取出所述待测IC元件至对应的各所述连接器、及自所述连接器取出所述已测IC元件至所述承载移动装置的多对机械臂的运载装置。

2. 根据权利要求1所述的往复式IC批次检测机台，其特征在于：所述出料区容纳有用以置放良品已测IC元件的良品出料承载盘；

用以置放不良品已测IC元件的不良品出料承载盘。

3. 根据权利要求1所述的往复式IC批次检测机台，其特征在于：所述运载装置包括有多个待测元件自所述入料承载盘搬移至所述承载移动装置的所述盛放座中及由所述承载移动装置的所述盛放座中搬移至所述出料承载盘的多个相对应吸嘴。

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