CN201041577Y - 一种pcb板测试仪器的控制电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种测量仪器，更具体地说，为一种PCB板测试仪器的控制电路。其控制电路包括主解码卡MD和负解码卡DC，主解码卡MD与负解码DC卡串联，并分别由扫描SC卡上译码ICT18译码，送出扫描SC卡控制信号控制PNP三极管SOURCE，送出控制源SK控制信号控制NPN三极管；主解码卡MD将PCI卡输出总线上的信号进行锁存和地址译码，送到负解码卡DC卡和扫描SC卡上的译码IC，主解码卡MD同时控制高压与低压信号的隔离；负解码卡DC产生扫描SC卡和控制源SK的TRIG信号。采用这个主解码卡MD和负解码卡DC，其运行速度高、稳定性高。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测量仪器，更具体的说，为一种PCB板测试仪器的控制电路。
背景技术
随着国外PCB企业的大举迁入，我国的PCB产业取得了蓬勃发展。先进技术的引进，高端产品的出现，使我国的PCB无论是量和质，均有空前发展。产量已踞世界第二位，类型从刚性、挠性到刚挠结合，层数由单层到数十层，材质由纸基、布基到高频、金属基、陶瓷基，经营由单点到集团化等。PCB产品的发展，给PCB的检测工作带来更高层次的要求。这些要求，既概括产品本身，也涉及原材料，还涉及组装件，应该说是全方位多层次的。
目前，我国的PCB检测主要集中在安全认证检测和产品质量鉴定两方面。安全认证带有强制性，是市场准入必要条件；质量鉴定则是客户在性能方面的认可。就IEC标准(国标)而言，质量鉴定的项目一般为：目检、尺寸检验、电气试验、机械试验、镀层检验、可焊性、耐溶剂及焊剂性、导线耐电流和电压、频率漂移等。IPC(美国连接电子业协会)标准规定的质量鉴定的项目为：目检、尺寸检验、导线精度、结构完整性、物理要求、金属芯和模拟返工及非支撑元件孔连接盘的粘合强度、电气试验、阻焊层、清洁度、环境试验、特殊要求等。
在这些要求里面，PCB生产商和其客户特别关心的是目检、结构完整性、清洁度、环境试验、特殊要求等，其中结构完整性、清洁度、电气试验是双层、多层、高密度互连PCB生产商和其客户关注的焦点。因为结构完整性是在热引力试验后，检查PCB的镀层完整性、镀层空洞、层压板完整性、层压板裂缝、凹蚀、去钻污、负凹蚀、内层孔环、连接盘起翘、镀层/涂层厚度、最小内层铜箔厚度、最小表层导线厚度、金属芯、介质厚度、盲孔或埋孔的树脂塞孔、钉头等项目，使PCB的内部情况一目了然，也成为质量控制的重点。如果PCB企业没有金相分析系统和运行软件，是无法进行检查的。
清洁度是检验PCB表面残留卤族元素离子的程度，防止腐蚀和电离。电气性能要求是考核PCB的耐电压、电路连通性与绝缘、电路/镀覆孔对金属基板的短路、湿热及绝缘电阻(MIR)，是PCB保证其有良好的绝缘和导通的关键。
基材方面，厂商关心的要求集中在表面/次表面、尺寸稳定性、燃烧性、耐化学性、玻璃化温度(Tg)、热膨胀系数、耐电弧、卤素含量、离子迁移(CAF)、热阻、导热系数、元素分析等等。
厂商和产品的这些要求，国内的检测手段，大多数小企业仍然是放大镜加电检模，有的连电检模都没有，只有极少数大企业相对来说多一些，仪器设备的精度也高一些。国外的检测检测用仪器设备费用昂贵。
目前市场上的小型PCB测试仪，虽然价格便宜，但其测量速度较慢，稳定性差，抗干扰能力弱，测试范围小、可用测试点少。
发明内容
本实用新型的针对现有技术不足，提供一种测量速度快，测量的点数多，并能够耐高压的PCB板测试仪器的控制电路。
本实用新型采用的一种PCB板测试仪器的控制电路，控制电路包括主解码卡MD和负解码卡DC，主解码卡MD与负解码DC卡串联，并分别由扫描SC卡上译码IC T18译码，送出扫描SC卡控制信号控制PNP三极管信号源，送出SK控制信号控制NPN三极管；
主解码卡MD将PCI卡输出总线上的信号进行锁存和地址译码，送到负解码卡DC卡和扫描SC卡上的译码IC，主解码卡MD同时控制高压与低压信号的隔离；
负解码卡DC产生扫描SC卡和信号源SK的TRIG信号。
所述的主解码卡MD由IC74AC273、ICPCD10和IC74HC245串联构成，并与负解码DC连接，其中IC74AC273进行信号的锁存；ICPCD10控制信号的隔离；IC74HC245功能为实现信号的回读。
所述的负解码卡DC，设有32箱卡卡片可选，每箱32张卡片独立触发信号，每张扫描SC卡可连接256个电路触点测试信号。
所述的负解码卡DC由手动拔码开关和控制译码IC(74HC138)构成，控制IC(74HC138)控制地址译码和扩展IO。
本实用新型有益效果在于：采用这个主解码卡MD和负解码卡DC，其运行速度高、稳定性高，负解码卡DC设有32箱卡可选，每箱32张卡片独立触发信号，每张扫描SC卡可连接256个电路触点测试信号。负解码卡DC的手动拔码开关和控制译码IC(74HC138)控制地址译码和扩展IOⅨ增加扫描SC卡，实现多点测试。
附图说明：
图1为本实用新型的电路原理图
具体实施方式：
以下仅为本实用新型较佳实施例，并不以此来限定本实用新型的保护范围。
本实用新型以下所述的主要元件专业的英文简称代表含义如下：
MD 代表主解码卡；DC 代表负解码卡；SC 卡代表扫描卡；SK代表控制源；SOURCE 代表信号源；TRIG 信号代表触发信号；BUS 代表总线；CLK 代表时钟信号；DATA 代表数据信号；ADDR 代表地址信号；PCB 代表印刷电路板；IC 代表集成电路，IC的型号为市场上通用的IC型号，这些为行业专业名称简称，其他常见的简称不再一一列举。
见图1所示，本实用新型提供的一种PCB板测试仪器的控制电路，其包括主解码卡MD1和负解码卡DC2，主解码卡MD1与负解码DC2卡串联，并分别由扫描SC卡3上译码IC T18译码，送出扫描SC卡3控制信号控制PNP三极管信号源(SOURCE)，送出控制源SK控制信号控制NPN三极管；主解码卡MD1将PCI卡输出总线上的信号进行锁存和地址译码，送到负解码卡DC2卡和扫描SC卡3上的译码IC，主解码卡MD1同时控制高压与低压信号的隔离；负解码卡DC2产生扫描SC卡3和控制源SK的TRIG信号。
所述的主解码卡MD1由IC74AC273、ICPCD10和IC74HC245串联构成，并与负解码DC2连接，其中IC74AC273进行信号的锁存；ICPCD10控制信号的隔离；IC74HC245功能为实现信号的回读。IC74AC273、ICPCD10和IC74HC245为市场通用的IC，其运行速度是普通的PCB测试电路的2倍，其运行稳定很高。
所述的负解码卡DC2，设有32箱卡卡片可选，每箱32张卡片独立触发信号，每张扫描SC卡3可连接256个电路触点测试信号。这种结构的负解码卡DC2能够实现多测试选择，使测试仪器能够多种测试任务。
所述的负解码卡DC2由手动拔码开关21和控制译码IC22(74HC138)构成，控制译码IC22(74HC138)控制地址译码和扩展IO。所述的手动拔码开关21，其功能为：当PCB测试机所接的测试冶具总点数超过8000点时，就必需扩展IO，这样就得多加一箱扫描SC卡3，只要修改负解码卡DC2上的手动拔码开关21地址系统就能识别两箱不同的卡片并分配每一张卡一个唯一的物理地址。
本实用新型的工作原理如下：
本控制电路实现功能主要包括PCI卡输出总线；信号源SC与控制源SK控制信号分离；高压与低压隔离；SC箱控制信号选择；扫描SC卡TRIG触发信号产生部分。
1)、PCI卡输出总路线：本实用新型的测试机所使用的PCI扩展卡为PCI9052卡，具有32位IO、8位地址线、4位使能信号、读写信号。数据传输速率可达到200K，可同时最大32位数据进行读写。
2)、SC与SK控制信号分离：PCI卡总线的BUS信号进入MD卡1进行地址译码，产生74HC273的CLK信号将BUS总路线上的32位数据分别锁存生成SC和SK所需要的独立TRIG、DATA、ADDR等信号。
3)、高压与低压隔离：本测试机因使用到250V高压，所以控制开关的信号应与测试信号源分开。本测试机所使用的光耦合器为PC9D10，其主要的特点是转换速度可达到10M。
4)、SC箱控制信号选择：DC卡上提供SC箱扩展功能，DC卡上的拔码开关从1排到32，每一张DC卡的拔码开关只能选择1到32中的其中一个地址。
5)、扫描卡(SC卡)TRIG信号：DC卡另一功能就是产生SC卡上的SC和SK的IC T18的32位TRIG信号。
Claims (4)
1.一种PCB板测试仪器的控制电路，控制电路包括主解码卡MD和负解码卡DC，其特征在于：主解码卡MD与负解码DC卡串联，并分别由扫描SC卡上译码IC T18译码，送出扫描SC卡控制信号控制PNP三极管信号源，送出控制源SK控制信号控制NPN三极管；
主解码卡MD将PCI卡输出总线上的信号进行锁存和地址译码，送到负解码卡DC卡和扫描SC卡上的译码IC，主解码卡MD同时控制高压与低压信号的隔离；
负解码卡DC产生扫描SC卡和控制源SK的TRIG信号。
2.根据权利要求1所述的PCB板测试仪器的控制电路，其特征在于：所述的主解码卡MD由IC74AC273、ICPCD10和IC74HC245串联构成，并与负解码DC连接，其中IC74AC273进行信号的锁存；ICPCD10控制信号的隔离；IC74HC245功能为实现信号的回读。
3.根据权利要求1所述的PCB板测试仪器的控制电路，其特征在于：所述的负解码卡DC，设有32箱卡卡片可选，每箱32张卡片独立触发信号，每张扫描SC卡可连接256个电路触点测试信号。
4.根据权利要求1所述的PCB板测试仪器的控制电路，其特征在于：所述的负解码卡DC由手动拔码开关和控制译码IC74HC138构成，控制IC74HC138控制地址译码和扩展IO。
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| CN112748323A (zh) * | 2019-10-31 | 2021-05-04 | 南亚科技股份有限公司 | 测试治具及测试组件 |
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