CN1657965A - 电路板测试器具 - Google Patents
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Abstract
本发明是一种电路板测试器具,用以测试一电路板,包含一第一测试单元、一第二测试单元以及一载板。其中,第一测试单元具有至少一第一定位孔;第二测试单元具有至少一第一定位柱;载板位于第一测试单元与第二测试单元之间,且具有一第一表面、一第二表面及至少一载板定位孔,第一表面面对第一测试单元,第二表面承载电路板且面对第二测试单元,载板定位孔贯穿第一表面及第二表面,且于第二表面的边缘具有一导角,其中当测试电路板时,第一定位柱穿过载板定位孔,且插入第一定位孔。本发明具有快速且便于自动引导电路板测试器具的组设,以达成节省组装电路板测试器具的时间,达到不易损坏的功效。
Description
技术领域
本发明是关于一种测试器具,尤指一种易于组设定位的电路板测试器具。
背景技术
一般为维持电路板的制作品质,大多会于电路板制作完成后进行电路板或电路板元件电性测试。
现有技术用以测试电路板的设备如图1所示,主要包含一电路板测试机台1及利用于该电路板测试机台1中的一电路板测试器具2。
如图1所示,电路板测试器具2主要包含一第一测试单元21、一第二测试单元22及一载板23,其中第一测试单元21亦称的为下针盘,而第二测试单元22亦称的为上天板。
第二测试单元22连结于电路板测试机台1的压床11,当电路板测试机台1的压床11向下施压时,第二测试单元22朝施压方向移动,以使第二测试单元22、载板23及第一测试单元21互相抵接,以量测载板23所承载的一电路板3。
如图2所示,第一测试单元21上设有复数个探针211以及连接端口212,探针211凸设于第一测试单元21且与电路板3的电子元件31的接脚相对应。此外,第一测试单元21上更设有至少一第一定位孔213、复数个弹性元件214以及至少一第二定位孔215。
第二测试单元22设在第一测试单元21上方,其主要由复数个支柱221平行隔开的一定位板222及一探测板223所构成。定位板222与压床11连结,探测板223设有至少一第一定位柱224、及相对应于电路板3的电子元件31接脚的复数个探针225、以及连接端口226。
载板23设置于第一测试单元21与第二测试单元22之间,载板23的一面承载电路板3。载板23上设有相对应于第一测试单元21的第一定位孔213的至少一载板定位孔231以及相对应于电路板3的电子元件31接脚的孔洞233。另外,载板23的另一面设有至少一第二定位柱232。
请参考图1、图2及图3所示,当测试电路板3时,第二测试单元22先固定于电路板测试机台1的压床11,而第一测试单元21固定于电路板测试机台1的下天台12上面,之后将电路板3置于载板23上;接着,将已承载电路板3的载板23的第二定位柱232置入于第一测试单元21的第二定位孔215,此时载板定位孔231及第一测试单元21的第一定位孔213是相对应而设;之后,利用控制单元控制压床11的作动,使得第二测试单元22的第一定位柱224穿射过载板定位孔231并插入第一测试单元21的第一定位孔213中,并使第二测试单元22的探针225以及第一测试单元21的探针211碰触到电路板3的电子元件31接脚的接点,之后将电路板测试器具2的各连接端口与电路板测试机台1作电气连接,即可通过电路板测试机台1量测电路板3的电气特性。
承上所述,请参阅图4所示,由于载板定位孔231的孔径均大于第一测试单元21的第一定位孔213的孔径,因此当第二测试单元22的第一定位柱224穿射过载板定位孔231后,不容易直接定位以插入第一测试单元21的第一定位孔213,亦即,操作者需要很小心且花更多时间把穿射过载板23的各第一定位柱224瞄准并插入第一测试单元21的各第一定位孔213。换言之,已知电路板测试器具存在有下述缺点:
1.不易对位:不易将第二测试单元22的各第一定位柱224直接定位插入第一测试单元21的各第一定位孔213,故使操作者需花更多的时间。
2.器具易坏:如图4及图5所示,因电路板测试机台1的压床11是施压于电路板测试器具2上,若因第二测试单元22的各第一定位柱224未插入第一测试单元21的各第一定位孔213,而只是顶抵于第一测试单元21时,会导致压床11在作下压时,因未让第二测试单元22的各第一定位柱224有空间收纳,而使第二测试单元22的各第一定位柱224顶抵第一测试单元21及承受压床11的施压,会使压克力或玻璃制作的第二测试单元22承受不了压床11下压的压力而造成第二测试单元22破裂损坏,导致电路板测试器具2损毁。
由此,如何提供一种可解决上述各项缺点的新式电路板电路板测试器具,以供电路板测试的利用,显为业者所殷切期盼。
发明内容
有鉴于上述课题,本发明的目的为提供一种易于定位的电路板电路板测试器具。
为达上述目的,依本发明的电路板测试器具,用以测试一电路板,包含一第一测试单元、一第二测试单元以及一载板,其中,第一测试单元具有至少一第一定位孔;第二测试单元具有至少一第一定位柱;载板位于第一测试单元与第二测试单元之间,且具有一第一表面、一第二表面、及至少一载板定位孔,第一表面面对第一测试单元,第二表面承载电路板且面对第二测试单元,载板定位孔贯穿第一表面及第二表面,且于第二表面的边缘具有一导角,其中当测试电路板时,第一定位柱穿过载板定位孔,且插入第一定位孔。
承上所述,因依本发明的电路板测试器具,其载板定位孔于载板第二表面的边缘有一导角,具有快速且便于自动引导电路板测试器具组设,以达成节省组装电路板测试器具的时间,达到不易损坏的功效。
附图说明
图1为已知电路板测试机台及电路板测试器具示意图。
图2为已知电路板测试器具分解图。
图3为已知电路板测试器具组合图。
图4为已知电路板测试器具部分放大图。
图5为已知电路板测试器具受力时的损坏图。
图6为本发明较佳实施例的电路板测试器具分解图。
图7为本发明较佳实施例的电路板测试器具部分放大图。
图中符号说明:
1 电路板测试机台
11 压床
12 下天台
2 电路板测试器具
21 第一测试单元
211 探针
212 连接端口
213 第一定位孔
214 弹性元件
215 第二定位孔
22 第二测试单元
221 支柱
222 定位板
223 探测板
224 第一定位柱
225 探针
226 连接端口
23、23’载板
231、231’载板定位孔
2311’ 导角
232 第二定位柱
233 孔洞
235 第一表面
236 第二表面
3 电路板
31 电子元件
具体实施方式
为使本发明的内容更容易理解,以下将参照相关附图,说明本发明较佳实施例。
请参阅图6所示,本发明的电路板测试器具2包含一第一测试单元21、一第二测试单元22及一载板23,其中第一测试单元21与第二测试单元22的构成与前述的第一测试单元及第二测试单元大致相同,为避免赘述其详细说明予以省略,且为便于说明部分图号则予以沿用。
请参阅图6所示,本发明的载板23’具有一第一表面235及一第二表面236。载板23’中设有相对应于第一测试单元21的第一定位孔213的至少一载板定位孔231’。载板定位孔231’分别自载板23’的第一表面235贯穿到载板23’的第二表面236。载板定位孔231’于载板23’的第二表面236的孔径大于载板23’的第一表面235的孔径,且载板定位孔231’的孔径从载板23’的第二表面236朝载板23’的第一表面235逐渐限缩,俾使载板定位孔231’于第二表面236的边缘具有一导角2311’(如图7所示),进而于载板定位孔231’的内壁呈一平滑面。
此外,请参阅图7所示,由于载板23’的第二表面236中的载板定位孔231’的孔径大于第一表面235的孔径,且第二表面236的载板定位孔231’具有导角2311’,同时第一表面235的载板定位孔231’的孔径约略等于第二测试单元22的第一定位柱224外径,故可使第二测试单元22的第一定位柱224受导正以穿过载板23’,进而快速地插入于第一测试单元21的第一定位孔213中。于本实施例中,载板定位孔231’的剖面形状可呈圆弧状、喇叭状、或漏斗状。
由上述可知,由于载板23’的载板定位孔231’具有一导角2311’,且其第二表面236中的孔径大于第一表面235的孔径,因此可以便于组装,达到省时以及避免组装时的损害。
以上所述仅为举例性,而非为限制性者。任何未脱离本发明的精神与范畴,而对其进行的等效修改或变更,均应包含于所述的权利要求范围中。
Claims (10)
1、一种电路板测试器具,用以测试一电路板,包含:
一第一测试单元,具有至少一第一定位孔;
一第二测试单元,具有至少一第一定位柱;以及
一载板,位于该第一测试单元与该第二测试单元之间,且具有一第一表面、一第二表面、及至少一载板定位孔,该第一表面面对该第一测试单元,该第二表面承载该电路板且面对该第二测试单元,该载板定位孔贯穿该第一表面及该第二表面,且于该第二表面的边缘具有一导角,其中当测试该电路板时,该第一定位柱穿过该载板定位孔,且插入该第一定位孔。
2、如权利要求1所述的电路板测试器具,其中,该第一测试单元更包含至少一第二定位孔,该载板更包含至少一第二定位柱,该第二定位柱置入该第二定位孔,施加一压力于该载板时,该载板接近该第一测试单元。
3、如权利要求1所述的电路板测试器具,其中,该载板定位孔的孔径从该第二表面朝该第一表面逐渐限缩。
4、如权利要求1所述的电路板测试器具,其中,该载板定位孔的剖面形状呈喇叭状。
5、如权利要求1所述的电路板测试器具,其中,该载板定位孔的剖面形状呈漏斗状。
6、如权利要求1所述的电路板测试器具,其中,该载板定位孔的剖面形状呈圆弧状。
7、如权利要求1所述的电路板测试器具,其中,该载板定位孔于第一表面的孔径约等于该第一定位柱的外径。
8、如权利要求1所述的电路板测试器具,其中,该第二测试单元更包含一定位板与一探测板,该定位板与该探测板平行设置。
9、如权利要求1所述的电路板测试器具,其中,该第一测试单元具有复数个探针。
10、如权利要求1所述的电路板测试器具,其中,该第二测试单元具有复数个探针。
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| CN107316827B (zh) * | 2017-06-16 | 2018-06-12 | 英特尔产品(成都)有限公司 | 用于接收物品的物品接收装置和芯片测试分选机 |
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