[go: up one dir, main page]

CN111009201A - 裂纹检测器和具有其的显示装置 - Google Patents

裂纹检测器和具有其的显示装置 Download PDF

Info

Publication number
CN111009201A
CN111009201A CN201910925871.7A CN201910925871A CN111009201A CN 111009201 A CN111009201 A CN 111009201A CN 201910925871 A CN201910925871 A CN 201910925871A CN 111009201 A CN111009201 A CN 111009201A
Authority
CN
China
Prior art keywords
crack
data lines
crack detection
data
data line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201910925871.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111009201B (zh
Inventor
姜多恩
柳在雨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Display Co Ltd
Original Assignee
Samsung Display Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Display Co Ltd filed Critical Samsung Display Co Ltd
Publication of CN111009201A publication Critical patent/CN111009201A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111009201B publication Critical patent/CN111009201B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3275—Details of drivers for data electrodes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421—Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426—Layout of electrodes and connections
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/029—Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel
    • G09G2320/0295—Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel by monitoring each display pixel
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/10—Dealing with defective pixels
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)

Abstract

提供了一种裂纹检测器和具有其的显示装置。所述裂纹检测器可以包括用于使显示面板的数据线彼此连接或断开的多个裂纹检测开关。信号供应部可以供应用于控制裂纹检测开关的打开/闭合的检测控制信号，并且将裂纹检测信号供应到第一数据线。裂纹确定部可以被构造为通过对输出信号与预设的参考值进行比较来确定显示面板的裂纹，所述输出信号是从通过裂纹检测开关中的一个连接到第一数据线的第二数据线供应的。

Description

裂纹检测器和具有其的显示装置
本申请要求于2018年10月5日在韩国知识产权局提交的第10-2018-0119235号韩国专利申请的优先权，所述韩国专利申请的全部公开内容通过引用被包含于此。
技术领域
本公开总体涉及显示装置，更具体地讲，涉及一种显示面板裂纹检测器、一种包括该显示面板裂纹检测器的显示装置和一种用于驱动该显示装置的方法。
背景技术
基于由数据驱动器供应的数据电压的大小，包括在显示装置中的像素发射具有预定亮度的光。数据电压通过多条数据线被供应到像素。
同时，随着近来显示装置的分辨率增大，显示装置的显示面板内的像素的集成度增大。因此，在狭窄的空间中聚集了各种导线和图案，因此显示面板中的任何裂纹会对性能产生不利的影响并造成缺陷。因此，期望检测是否存在任何裂纹。
发明内容
实施例提供了一种用于利用供应到数据线的电流或电压来检测显示面板的裂纹的裂纹检测器。
实施例还提供了一种包括该裂纹检测器的显示装置以及一种用于驱动该显示装置的方法。
根据本公开的一方面，一种裂纹检测器可以包括用于使显示面板的数据线彼此连接和断开的多个裂纹检测开关。信号供应部可以被构造为供应用于控制裂纹检测开关的打开/闭合的检测控制信号，并且被构造为将裂纹检测信号供应到数据线中的第一数据线。裂纹确定部可以被构造为通过对输出信号与预设的参考值进行比较来检测显示面板的裂纹，所述输出信号是从数据线中的通过裂纹检测开关之一连接到第一数据线的第二数据线供应的。
每个裂纹检测开关可以电连接两条不同的数据线。
每个裂纹检测开关可以连接到彼此相邻的两条数据线的远端。
裂纹检测开关可以基本同时接通。
裂纹检测信号可以对应于预设的测试电压。参考值可以对应于通过将预设的电压降偏移量应用于测试电压而获得的范围。
当输出信号超出与参考值对应的阈值时，裂纹确定部可以输出裂纹数据。
裂纹检测信号可以对应于预设的测试电流。参考值可以对应于预设的线电阻范围。
当从输出信号计算的电阻值在线电阻范围之外时，裂纹确定部可以输出裂纹数据。
根据本公开的另一方面，提供了一种显示装置，所述显示装置包括：显示面板，包括连接到多条扫描线和多条数据线的多个像素；扫描驱动器，被构造为将扫描信号供应到每条扫描线；数据驱动器，被构造为将数据信号供应到每条数据线；以及裂纹检测器，被构造为基于供应到数据线的裂纹检测信号来检测显示面板的裂纹。裂纹检测器可以包括：多个裂纹检测开关，用于使数据线彼此连接/断开；信号供应部，被构造为供应用于控制裂纹检测开关的闭合/打开的检测控制信号；以及裂纹确定部，被构造为通过对从数据线供应的输出信号与预设的参考值进行比较来确定显示面板的裂纹。
每个裂纹检测开关可以在显示面板的一侧处连接到彼此相邻的两条数据线的远端。
裂纹检测开关的数目可以是数据线的数目的二分之一。
裂纹检测开关可以在垂直消隐时段中包括的裂纹检测时段中接通。
在1H至2H时段的范围内的间隔期间，裂纹检测开关可以基本同时接通。
数据线可以包括：输入数据线，连接到信号供应部以接收用于裂纹检测的裂纹检测信号；以及输出数据线，连接到裂纹确定部以将输出信号提供到裂纹确定部。
裂纹检测开关可以分别将输入数据线连接到输出数据线。
输入数据线和输出数据线可以在显示时段中连接到数据驱动器，并且可以在垂直消隐时段中连接到裂纹检测器。
数据驱动器可以在垂直消隐时段的部分时段内输出用于裂纹检测的裂纹检测信号。
数据线可以包括：输入数据线，连接到数据驱动器，输入数据线在显示时段中接收数据电压，输入数据线在垂直消隐时段中接收裂纹检测信号；以及输出数据线，在显示时段中连接到数据驱动器以接收数据电压，并且在垂直消隐时段中连接到裂纹确定部以将输出信号提供到裂纹确定部。
根据本公开的又一方面，提供了一种用于驱动显示装置的方法，所述方法包括：在包括在垂直消隐时段中的裂纹检测时段期间，闭合裂纹检测开关，从而使输入数据线和输出数据线电连接；当输入数据线和输出数据线被电连接时，将裂纹检测信号供应到输入数据线并且接收从输出数据线供应的输出信号；如果输出信号的水平在预设的范围内，则显示下一帧的图像；如果输出信号的水平在预设的范围之外，则输出指示存在影响输入数据线和输出数据线的裂纹的裂纹数据。
可以响应于裂纹数据输出裂纹感测图像。
附图说明
现在将参照附图在下文中更充分地描述示例实施例；然而，示例实施例可以以不同的形式来实施，并且不应该解释为局限于在这里所阐述的实施例。相反，这些实施例被提供为使得本公开将是彻底的和完全的，并且将把示例实施例的范围充分地传达给本领域技术人员。
图1是示出了根据本公开的实施例的显示装置的图。
图2是示出了根据本公开的实施例的裂纹检测器的图。
图3是示出了图2的裂纹检测器的示例的框图。
图4是示出了包括在图1的显示装置中的像素和数据线的示例的图。
图5是示出了包括在图1的显示装置中的数据线的连接关系的示例的图。
图6是示出了图1的显示装置的操作的示例的图。
图7是示出了根据本公开的实施例的用于驱动显示装置的方法的流程图。
图8是示出了用于驱动显示装置的方法的流程图，在该方法中使用测试电流来测试裂纹。
具体实施方式
在下文中，将参照附图来更详细地描述本公开的示例性实施例。在附图中，为了图示的清楚，可以夸大尺寸。将理解的是，当元件被称为“在”两个元件“之间”时，该元件可以是这两个元件之间的唯一元件，或者也可以存在一个或更多个中间元件。同样的参考标号始终表示同样的元件。
图1是示出了根据本公开的实施例的显示装置1000的图。显示装置1000可以包括显示面板100、扫描驱动器200、数据驱动器300、时序控制器400和裂纹检测器605。裂纹检测器605可以包括裂纹检测电路600、开关组610和输出信号开关410。
显示装置1000可以使用有机发光显示装置、液晶显示装置等来实现。显示装置1000可以是平板显示装置、柔性显示装置、曲面显示装置、可折叠显示装置或可弯曲显示装置。另外，显示装置1000可以应用于透明显示装置、头戴式显示装置、可穿戴显示装置等。
显示面板100可以包括多条扫描线SL1至SLn、多条数据线DL1至DLm以及连接到扫描线SL1至SLn和数据线DL1至DLm在其处彼此相交的部分的多个像素P(n和m是大于1的整数)。开关组610可以如所示地与显示面板100集成，或者可以位于显示装置1000中的其它位置。
扫描驱动器200、数据驱动器300和时序控制器400虽然示出为与显示面板100分开，但是可以设置在显示面板100的外围处的外围区域中。
扫描驱动器200可以基于由时序控制器400提供的扫描控制信号SCS将扫描信号施加到扫描线SL1至SLn。在实施例中，扫描驱动器200可以集成在显示面板100的外围区域中，或者可以以驱动芯片的形式安装在显示面板100的外围区域中。
数据驱动器300可以基于由时序控制器400提供的数据控制信号DCS和图像数据RGB将各个数据电压施加到数据线DL1至DLm。数据驱动器300可以集成在附着(安装)在显示面板100的外围区域中的驱动芯片中，或者可以直接设置在显示面板100的外围区域中。
在实施例中，数据驱动器300可以在显示时段中将对应于图像数据RGB的数据电压供应到各条数据线DL1至DLm，并且在垂直消隐时段中将对应于裂纹检测信号的预定测试电压供应到数据线DL1至DLm中的一些(但不是全部)。在下文中，接收测试电压的任何数据线DLi可以被称为输入数据线DILi，并且输出从该测试电压得到的输出信号的任何数据线可以被称为输出数据线DOLi(这里“i”是1至m之间的任何整数)。
裂纹检测器605可以基于供应到数据线DL1至DLm中的一些的裂纹检测信号来检测显示面板100是否已经出现裂纹。裂纹检测器605可以检测是否已经出现裂纹以及在其处已经出现裂纹的位置。在实施例中，如稍后所讨论的，可以通过输出信号开关410的控制来确定在其处已经出现裂纹的位置，输出信号开关410可以连接到相应的输出数据线DOL。
裂纹检测器605可以基于由时序控制器400提供的检测器控制信号CCS来执行裂纹检测操作。在实施例中，裂纹检测器605可以在显示时段之间的垂直消隐时段期间的短时间间隔来执行裂纹检测操作。例如，可以在垂直消隐时段中的一个间隔期间执行裂纹检测操作，所述一个间隔可以在大约1H至大约2H的范围内，其中，H是当前由显示装置1000使用的用来显示一帧的一行的水平时段。
开关组610可以包括用来分别连接在数据线DL1至DLm之间的多个裂纹检测开关CSW。例如，第一裂纹检测开关CSW1在被控制为闭合/打开时可以使相邻的数据线DL1(输入数据线DIL1)和DL2(输出数据线DOL1)彼此电连接/断开。(在下文中，标记“CSW”或“CSWi”中的任何一个可以表示开关组610内的任一裂纹检测开关，其中，“i”为任一整数。)
裂纹检测电路600可以包括：信号供应部(例如，图3中的620)，供应用来控制裂纹检测开关CSW的接通/断开(on/off)的检测控制信号CS；以及裂纹确定部(例如，图3中的640)，通过对从数据线DL1至DLm供应的输出信号与预设的参考值进行比较来检测和/或确定显示面板100的裂纹。(这里，开关的“接通”状态是闭合状态，并且“断开”状态是打开状态。)
要注意的是，尽管图1示出了以与数据驱动器300和时序控制器400的构造按交替的布置分开的构造的裂纹检测器605，但是裂纹检测器605的元件的至少一部分可以被包括在数据驱动器300和/或时序控制器400中。
数据线DL1至DLm中的每条可以具有在显示面板100的第一侧上的近端以及在显示面板100的相对的第二侧上的远端。在实施例中，裂纹检测开关CSW中的每个可以在显示面板100的第二侧处连接到彼此相邻的两条数据线的远端。例如，裂纹检测开关CSW可以相对于显示面板100设置在数据驱动器300的相对侧处。
在实施例中，裂纹检测开关CSW的数量可以是数据线的数量的一半。在这种情况下，可以有“j”个裂纹检测开关CSW1至CSWj，其中，j＝m/2。因此，可以通过所有的数据线DL1至DLm来检测显示面板100的裂纹，并且还可以检测出裂纹的位置。
连接到裂纹检测开关CSW的数据线(例如，DL1和DL2)可以分类为输入数据线DIL1和输出数据线DOL1。输入数据线DIL1可以接收用于裂纹检测的裂纹检测信号，输出数据线DOL1可以将输出信号提供到裂纹检测电路600。
裂纹检测电路600可以通过分析输出信号来确定在对应的数据线DIL1和DOL1中是否已经出现裂纹。例如，可以基于输出信号的水平来确定裂纹的存在。可以通过知道哪条输出数据线DOLi在任何给定的时间正在输出输出信号来确定裂纹的位置。在示例中，可以选择性地闭合输出信号开关410中的单个输出信号开关以使输出信号按路线从对应的输出数据线输出。
在传统的显示装置中，通过感测来自连接到显示面板的电源线的电源电压ELVDD或ELVSS或者电流来执行裂纹检测。区分出发光时段和非发光时段，并且通过改变电源电压ELVDD和/或电源电压ELVSS在非发光时段期间执行裂纹检测驱动。然而，虽然这种驱动方法可应用于需要发射控制信号的像素结构，但是它无法适合应用于外部感测像素结构。此外，在这种显示装置中，会难以通过感测来自电源线的电源电压或电流来检查裂纹的位置。此外，基于整个显示面板的负载值来执行裂纹检测，这会导致低的检测精度。
然而，在根据本公开的实施例的显示装置1000中，使用数据线对来产生导电回路，并且执行每个导电回路中的裂纹检测，从而可以检查出精确的裂纹位置。此外，可以在外部感测像素结构中在垂直消隐时段内的非常短的时间间隔来执行裂纹检测操作。
图2是示出了根据本公开的实施例的裂纹检测器605的元件的图。图3是示出了图2的裂纹检测器的示例的框图。
参照图1至图3，裂纹检测器605可以包括开关组610、信号供应部620和裂纹确定部640。(裂纹检测器605还可以包括稍后结合图4和图5来讨论的开关(也被称为输出信号开关)410。)
开关组610可以包括用来连接在数据线DL1至DLm之间的多个裂纹检测开关CSW1至CSWj(j和m为2或更大的自然数)。
可以控制裂纹检测开关CSW1至CSWj中的每个电连接和断开两条不同的数据线。例如，裂纹检测开关CSW1至CSWj中的每个可以连接到数据线DL1至DLm之中的相邻数据线的远端，并且裂纹检测开关CSW1至CSWj的数量可以是数据线DL1至DLm的数量的一半。
在实施例中，裂纹检测开关CSW1至CSWj中的每个可以利用金属氧化物半导体(MOS)晶体管构造而成。如图2中所示，裂纹检测开关CSW1至CSWj可以利用N型MOS(NMOS)晶体管来实现。然而，这仅仅是说明性的，裂纹检测开关CSW1至CSWj不局限于此。例如，可以用P型MOS(PMOS)晶体管代替。
可以通过检测控制信号CS来控制裂纹检测开关CSW1至CSWj。例如，裂纹检测开关CSW1至CSWj的栅电极可以连接到单条检测控制线CSL以同时接通或断开。在可选择的开关方案中，可以顺序地接通裂纹检测开关CSW1至CSWj，或者可以仅在特定的时间接通裂纹检测开关CSW1至CSWj中的一些。
输入数据线DIL1至DILj和输出数据线DOL1至DOLj可以分别连接到裂纹检测开关CSW1至CSWj的相对端。(这里要注意的是，MOS晶体管的一“端”可以是源电极，而晶体管的另一端可以是漏电极。)
当裂纹检测开关CSW1至CSWj接通时，可以形成m/2个检测回路路径。因此，可以执行对所有数据线DL1至DLm的裂纹检测。例如，预定的测试电压或测试电流可以通过输入数据线DIL1至DILj输入，以通过输出数据线DOL1至DOLj输出到裂纹确定部640。(注意，当测试电压在要被施加该测试电压的数据线上产生电流并且通过电压产生测试电流时，测量来自输出数据线DOLi的输出信号的方法可以根据测试电压或测试电流是否被施加到输入数据线DILi而不同。)
信号供应部620可以将用来控制裂纹检测开关CSW1至CSWj的接通/断开的检测控制信号CS供应到开关组610。信号供应部620可以将裂纹检测信号CDS供应到数据线DL1至DLm，具体地，供应到输入数据线DIL。图3示出了裂纹检测信号CDS可以施加到任一输入数据线DILi并且可以通过开关CSWi按路线输出到输出数据线DOLi。这里，输出数据线DOLi可以将源自于裂纹检测信号CDS的输出信号OSi输出到裂纹确定部640。
在实施例中，检测控制信号CS在垂直消隐时段中可以具有栅极导通电压。例如，检测控制信号CS可以在垂直消隐时段中在1H至2H时段的范围内的时间间隔组期间具有栅极导通电压。
裂纹检测信号CDS可以对应于预设的测试电压或预设的测试电流。当裂纹检测开关CSW1至CSWj接通时，裂纹检测信号CDS可以被供应到输入数据线DIL。
裂纹确定部640可以接收从数据线DL1至DLm(具体地，输出数据线DOL)供应的输出信号OS。裂纹确定部640可以通过对输出信号OS与预设的参考值RV进行比较来检测显示面板100的裂纹。例如，裂纹确定部640可以接收在检测控制信号CS被供应之后经过大约2H时段时接收的输出信号OS的电压或波形。裂纹确定部640可以包括诸如比较器电路的硬件组件。
在实施例中，裂纹确定部640可以包括对应于输出数据线DOL的多个比较器。每个比较器对在相应输出数据线DOL上的输出信号OS与参考值RV进行比较。
在实施例中，裂纹确定部640可以包括单个比较器(或者具有比输出数据线DOL的数量少的数量的比较器)，以对输出信号OS与参考值RV进行比较。比较器可以以不同的时序从输出数据线中的每条接收输出信号。在这种情况下，裂纹确定部640还可以包括时序缓冲器或开关(输出信号开关)，时序缓冲器或开关连接到输出数据线DOL中的每条以控制供应到比较器的输出信号的输入时序。或者，裂纹确定部640还可以包括用于存储输出信号的数据并将输出信号顺序地输出到比较器的存储器。可以通过数据线的线电阻和裂纹检测开关以及其它电路因素来改变裂纹检测信号CDS。因此，可能由于除了裂纹的存在之外的因素而出现电压降和电流泄露。因此，即使当没有裂纹时，在裂纹检测信号CDS与输出信号OS之间也可能出现基于预期变化的预定范围内的信号水平上的差异。因此，参考值RV可以设定为刚好超出通过反映这些因素而获得的偏移范围的值。
图3示出了输出数据线DOL1至DOLj中的每条直接连接到裂纹确定部640的示例。在一个实施例中，裂纹确定部640包括并联布置的j个分开的比较器电路，其中，每个比较器电路对相应输出数据线DOL上的输出信号OS与参考值RV进行比较。以这种方式，可以识别任何被检测到的裂纹的位置。例如，如果输出数据线DOL1上的输出信号OS1具有指示裂纹的信号水平，信号电平是通过连接到输出数据线DOL1的裂纹确定部640内的各个比较器电路所测量的，则可以假设已经在沿着输出数据线DOL1或输入数据线DIL1的位置处出现裂纹。
在可选择的构造中，裂纹确定部640仅具有其对每次的一个输出信号OS与参考值RV进行比较的单个比较器电路。在这种情况下，可以在每条输出数据线DOL与该比较器电路之间包括一个开关410(见图4和图5中)。即，可以有j个开关410连接在j条相应的输出数据线DOL1至DOLj与该比较器电路之间，并且在任何给定的时间只有j个开关410中的一个闭合以将来自对应的输出数据线DOL的输出信号OS提供到该比较器电路。
在实施例中，当裂纹检测信号CDS对应于测试电压时，参考值RV可以对应于通过将预设的电压降偏移量应用于测试电压而获得的范围。换句话说，参考值RV可以被设定为刚好超出在对应的数据线对中不存在裂纹时预期的输出信号的范围的水平。(这里，对应的数据线对是输出数据线DOL和通过裂纹检测开关CSW连接到那条输出数据线的输入数据线DIL。)当输出信号OS具有不在参考值RV的范围内(例如，在参考值RV以下)的电压电平时，裂纹确定部640可以确定在对应的数据线DIL和DOL中已经出现裂纹。当输出信号OS具有在参考值RV以下(或者，不在参考值RV的范围内)的电平时，裂纹确定部640可以输出指示裂纹的存在的裂纹数据CRD。裂纹数据CRD可以包括裂纹出现信息和裂纹位置信息。
在实施例中，可以响应于裂纹数据CRD而从显示装置1000输出警告信号或警告图像。可选择地，可以响应于裂纹数据CRD而自动地切断显示装置1000的电力。
在实施例中，可以在预定的存储器中存储裂纹数据CRD。例如，当裂纹数据CRD积累到超过预设的阈值时，可以输出故障出现图像，或者可以切断显示装置1000的电力。
当输出信号OS在不存在裂纹的条件的预期范围内时，例如，输出信号OS具有在参考值RV的范围内的电压，裂纹确定部640可以确定显示面板100的状态是正常的。因此，可以正常地显示下一帧的图像。
在实施例中，当裂纹检测信号CDS对应于测试电流时，参考值RV可以对应于在预设的线电阻范围的边界处或刚好超出预设的线电阻范围的电流水平。这里，参考值RV可以被称作阈值电流水平。线电阻范围可以是通过考虑诸如电流泄露的一个或更多个因素而获得的正常电阻范围。如果裂纹存在于从其提供输出信号的对应的数据线对中，则开路电路会存在于输入数据线或输出数据线中，并且所得的电流会低于或接近于零。因此，所得的电流会因在参考值RV以下而超出阈值电流水平，并且会对应于在正常电阻范围外的电阻。
当输出信号OS超出阈值电流水平时，裂纹确定部640可以输出裂纹数据CRD。裂纹数据CRD可以包括裂纹出现信息和裂纹位置信息。
如上所述，在根据本公开的实施例的显示装置1000和包括在其中的裂纹检测器605中，显示面板100是否已经出现裂纹，并且可以利用所有的数据线DL1至DLm用相对简单的构造相对精确地检测出裂纹位置。此外，可以在垂直消隐时段内的短时间间隔对显示面板100的整个区域执行裂纹检测。因此，可以提高裂纹检测精度，并且可以相当大地改善产品可靠性。
图4是示出了可以包括在图1的显示装置中的像素和数据线的示例的图。
图4的像素P是连接到第j扫描线SLj和第k数据线DLk的像素(j和k为自然数)。
参照图1和图4，像素P可以包括有机发光二极管OLED、第一晶体管(驱动晶体管)T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3和存储电容器Cst。
有机发光二极管OLED的阳极电极可以连接到第一晶体管T1的第二电极，并且有机发光二极管OLED的阴极电极可以连接到提供电源电压ELVSS的第二驱动电源。有机发光二极管OLED产生具有与从第一晶体管T1供应的电流的量对应的预定亮度的光。
第一晶体管T1的第一电极可以连接到提供电源电压ELVDD的第一驱动电源，并且第一晶体管T1的第二电极可以连接到有机发光二极管OLED的阳极电极。第一晶体管T1的栅电极可以连接到第十节点N10。第一晶体管T1对应于第十节点N10的电压控制流过有机发光二极管OLED的电流的量。
第二晶体管T2的第一电极可以连接到数据线DLk，并且第二晶体管T2的第二电极可以连接到第十节点N10。第二晶体管T2的栅电极可以连接到扫描线SLj。当扫描信号Sj供应到扫描线SLj时，第二晶体管T2可以导通，以将数据电压从数据线DLk传输到第十节点N10。
第三晶体管T3可以连接在读出线RLk和第一晶体管T1的第二电极(即，第十一节点N11)之间。第三晶体管T3可以响应于通过感测控制线SSLj传输的感测控制信号SEj将感测电流传输到读出线RLk。感测电流可以用于计算第一晶体管T1的迁移率和第一晶体管T1的阈值电压的变化。可以根据感测电流与用于感测的电压之间的关系来计算迁移率和阈值电压信息。在实施例中，感测电流可以转换为电压的形式以用在数据电压的补偿操作中。
存储电容器Cst可以连接在第十节点N10与有机发光二极管OLED的阳极电极之间。
数据线DLk可以是输入数据线或输出数据线。在实施例中，数据线DLk可以在显示时段中连接到数据驱动器300。因此，可以将对应于灰阶的数据电压供应到数据线DLk。另外，数据线DLk可以在除了显示时段之外的感测时段(例如，阈值电压感测时段、迁移率感测时段或有机发光二极管感测时段)中连接到数据驱动器300。
在实施例中，开关可以分别连接到至少一条数据线DLk的两端。例如，一个开关CSW可以是用于连接在相邻的数据线之间的开关，另一开关410可以是用于将数据线DLk连接到数据驱动器300和/或裂纹检测电路600的开关。
在实施例中，数据线DLk可以在消隐时段的部分时段期间连接到裂纹检测电路600。例如，数据线DLk和裂纹检测电路600可以在包括在消隐时段中的裂纹检测时段期间彼此电连接。在此时间期间，可以切断数据线DLk与数据驱动器300之间的连接。
当数据线DLk是输入数据线时，裂纹检测信号CDS可以供应到数据线DLk。例如，数据线DLk可以连接到裂纹检测器605的信号供应部620。
当数据线DLk是输出数据线时，数据线DLk可以将输出信号传输到裂纹检测电路600。例如，数据线DLk可以连接到裂纹检测电路600的裂纹确定部640。
如上所述，所有数据线可以在显示时段和感测时段中连接到数据驱动器300，并且在裂纹检测时段中连接到裂纹检测电路600。
如前所述，在实施例中，裂纹确定部640可以仅具有对每次的一个输出信号OS与参考值RV进行比较的单个比较器电路。在这种情况下，可以在每条输出数据线DOL与裂纹确定部640之间包括一个开关410(见图4和图5中)。即，可以有j个开关410连接在j条相应的输出数据线DOL1至DOLj与裂纹确定部640之间，并且在任一给定时间只有j个开关410中的一个闭合，以将来自对应的输出数据线DOL的输出信号OS提供到裂纹确定部640。在一个实施例中，来自不同的相应的输出数据线DOL的输出信号在单个帧期间被裂纹确定部640接收。在另一实施例中，输出信号OS在不同的帧期间被提供到裂纹确定部640。在这种情况下，例如，通过开关410的选择性接通/断开切换，由于连接到输出数据线DOLi的第一开关410处于接通状态，使得来自输出数据线DOLi的一个输出信号OSi在第一帧的测试时段期间被裂纹确定部640接收。在第一帧期间的同时，由于连接到另一输出数据线DOLk的第二开关410处于断开状态，使得从该输出数据线DOLk不接收任何输出信号。在另一帧中，可以出现相反的切换条件，以测量来自输出数据线DOLk而不是来自输出数据线DOLi的输出信号。
在实施例中，裂纹确定部640可以具有多个比较器电路，每个比较器电路对每次的一个输出信号OS与参考值RV进行比较。在这种情况下，j个开关410在任一给定的时间闭合以将来自对应的输出数据线的输出信号提供到比较器电路。在一个实施例中，来自不同的相应输出数据线DOL的输出信号在一帧期间(例如，消隐时段的部分时段)被裂纹确定部640接收。
图5是示出了包括在图1的显示装置1000中的数据线的连接关系的示例的图。
参照图1、图3、图4和图5，输入数据线DILk和输出数据线DOLk可以通过裂纹检测开关CSWk彼此连接，并且形成导电回路。
在实施例中，输入数据线DILk可以连接到数据驱动器300。数据驱动器300可以在显示时段中输出对应于灰阶的数据电压。数据驱动器300可以在包括在垂直消隐时段的部分时段中的裂纹检测时段中输出裂纹检测信号。即，输入数据线DILk可以在显示时段中接收数据电压，并且可以在裂纹检测时段中接收裂纹检测信号。
在实施例中，数据驱动器300可以在感测时段期间对应于感测目的输出预设的感测电压。
在实施例中，输出数据线DOLk可以选择性地连接到数据驱动器300和裂纹检测电路600。输出数据线DOLk可以在显示时段中连接到数据驱动器300以接收数据电压。输出数据线DOLk可以在垂直消隐时段的裂纹检测时段中连接到裂纹检测电路600以将输出信号提供到裂纹检测电路600。
即，裂纹检测开关CSW可以连接到输出数据线DOLk的一端，并且用来将输出数据线DOLk连接到数据驱动器300和/或裂纹检测器605的开关可以连接到输出数据线DOLk的另一端。
如上所述，输入数据线DILk和输出数据线DOLk可以具有不同的连接关系。因此，可以减少用于将数据驱动器300和裂纹检测器605连接到数据线的开关和线的数量。此外，数据驱动器300可以选择性地输出数据电压、感测电压和裂纹检测信号。
图6是示出了图1的显示装置的操作的示例的图。
参照图1、图4、图5和图6，显示装置1000可以沿着像素线顺序地写入数据电压并且沿着像素线顺序地发光。
在实施例中，显示装置1000可以包括图4的像素P。扫描信号S1至Sn可以在显示时段DISPLAY期间被顺序地写入到像素线，并且像素线可以对应于被写入的数据电压顺序地发射具有一定灰阶的光。
垂直消隐时段VBLANK的部分时段可以被限定为裂纹检测时段。检测控制信号CS可以在裂纹检测时段期间具有栅极导通电压。因此，可以接通裂纹检测开关CSW。在实施例中，裂纹检测时段可以被预设为具有在大约1H时段至大约2H时段的范围内的持续时间。例如，如果以120Hz驱动显示装置1000，则裂纹检测时段可以非常短，约8μs或更小。
在实施例中，当数据线具有图5的连接结构时，数据驱动器300可以在裂纹检测时段中输出对应于裂纹检测信号CDS的电压。裂纹检测信号CDS可以被同时地供应到所有的输入数据线DIL。
在实施例中，当数据线具有图4的连接结构时，包括在裂纹检测电路600中的信号供应部620可以在裂纹检测时段中输出裂纹检测信号CDS。
同时，在实施例中，可以在垂直消隐时段VBLANK的部分时段中对像素线中的一些执行迁移率感测。由于裂纹检测时段可以对应于非常短的时间间隔，因此裂纹检测时段和迁移率感测时段不彼此叠置。
图7是示出了根据本公开的实施例的用于驱动显示装置的方法的流程图。该方法可以包括在垂直消隐时段期间接通用于将输入数据线和输出数据线电连接的裂纹检测开关(S100)，并且将裂纹检测信号供应到输入数据线(S200)。可以通过裂纹确定部(包括至少一个比较器)来接收裂纹检测信号作为从输出数据线供应的输出信号(S220)。然后，该方法可以确定输出信号的水平是否超出阈值(S300)(例如，阈值设定在对不存在裂纹的情况下对应的数据线对的正常操作所预期的范围的边缘处或刚好超出所述范围)。当输出信号水平未超出阈值时，可以显示下一帧的图像(S400)。当输出信号水平超出阈值时，可以输出裂纹数据(S500)。
继续参照图7，可以在垂直消隐时段期间接通用于电连接输入数据线和输出数据线的裂纹检测开关(S100)。其中裂纹检测开关接通的时段可以对应于裂纹检测时段。例如，裂纹检测时段可以具有大约1H时段至大约2H时段的范围内的持续时间。
在实施例中，包括在显示装置1000中的所有数据线的一半可以是输入数据线，并且另一半可以是输出数据线。因此，裂纹检测开关的数量可以是数据线的数量的一半。
在实施例中，当裂纹检测开关接通时，裂纹检测信号可以供应到输入数据线，并且可以输出来自输出数据线的输出信号(S200、S220)。在实施例中，裂纹检测信号可以对应于预设的测试电流。
其后，可以执行输出信号与阈值(预设的参考值)的比较(S300)。参考值可以是通过考虑诸如线电阻的一般电压降低或电压升高因素而获得的偏移值。
当源自于裂纹检测信号的输出信号未超出阈值时，可以确定在显示面板中没有出现裂纹。因此，显示装置可以正常地操作。例如，当输出信号电压不小于与参考值对应的电压时，可以正常地显示下一帧的图像(S400)。
当输出信号水平在参考值以下时，可以确定在显示面板中已经出现裂纹。因此，可以输出裂纹数据(S500)。裂纹数据可以包括裂纹出现信息和裂纹位置信息。
在实施例中，可以响应于裂纹数据从显示装置1000输出警告信号或警告图像。可选择地，可以响应于裂纹数据断开显示装置的电力。
在实施例中，裂纹数据可以存储在预定的存储器中。由于因诸如静电的外部因素造成的突然的电压波动，导致可能无意地出现裂纹数据。为了使错误的确定最小化，当裂纹数据累积到超过预设的阈值时，可以确定在对应的位置处已经最终出现裂纹。
当确定已经出现裂纹时，可以输出故障出现图像(裂纹感测图像)，或者可以断开显示装置的电力。
图8是示出了根据本公开的实施例的用于驱动显示装置1000的方法的流程图，在该方法中使用测试电流来测试裂纹。如图8中所示，裂纹检测电流可以被供应到输入数据线，并且可以从输出数据线输出输出信号(输出电流)(S210)。在实施例中，裂纹检测电流可以对应于预设的测试电流。
可以从对应于裂纹检测电流的输出电流来计算检测电阻。如图8中所示，可以将检测电阻和预设的参考电阻进行比较(S310)。
当检测电阻等于或小于参考电阻时，可以确定在显示面板中没有出现任何裂纹。因此，显示装置可以正常地操作。例如，当检测电阻等于或小于参考电阻时，可以正常地显示下一帧的图像(S410)。
当检测电阻超过参考电阻时，可以确定在显示面板中已经出现裂纹。因此，可以输出裂纹数据(S500)。
已经参照图1至图6描述了图7和图8的方法，因此，省略了它们的重复描述。
如上所述，在根据本公开的实施例的显示装置和用于驱动该显示装置的方法中，确定显示面板是否已经出现裂纹，如果已经出现，则可以使用所有的数据线用相对简单的构造精确地检测出裂纹位置。因此，可以提高裂纹检测精度，并且可以相当大地改善产品可靠性。
发明构思可以应用于包括显示装置的任何适合的电子装置。例如，本公开可以应用于HMD装置、TV、数字TV、3D TV、PC、家用电器、笔记本电脑、平板电脑、移动电话、智能电话、PDA、PMP、数码相机、音乐播放器、便携式游戏控制台、导航系统、可穿戴显示器等。
在根据发明构思的裂纹检测器、包括该裂纹检测器的显示装置和驱动该显示装置的方法中，确定显示面板是否已经出现裂纹，如果已经出现，则可以利用施加到所有数据线的电压或电流用相对简单的构造精确地检测出裂纹位置。此外，可以在垂直消隐时段的短时间间隔对显示面板的整个区域执行裂纹检测。因此，可以提高裂纹检测精度，并且可以相当大地改善产品可靠性。
这里已经公开了示例实施例，并且尽管采用了特定的术语，但是它们仅以通用的和描述性的意义来使用和解释，而不是出于限制的目的。在一些情况下，对于截止到本申请提交时的本领域普通技术人员将明显的是，除非另外具体指出，否则结合具体实施例描述的特征、特性和/或元件可以单独使用，或者可以与结合其它实施例描述的特征、特性和/或元件组合使用。因此，本领域技术人员将理解的是，在不脱离如权利要求中所阐述的本公开的精神和范围的情况下，可以进行在形式上和细节上的各种改变。

Claims (10)

1.一种裂纹检测器，所述裂纹检测器包括：
多个裂纹检测开关，用于使显示面板的数据线彼此连接/断开；
信号供应部，被构造为供应用于控制所述多个裂纹检测开关的闭合/打开的检测控制信号，并且被构造为将裂纹检测信号供应到所述数据线中的第一数据线；以及
裂纹确定部，被构造为通过对输出信号与预设的参考值进行比较来确定所述显示面板的裂纹，所述输出信号是从所述数据线中的通过所述多个裂纹检测开关的第一裂纹检测开关连接到所述第一数据线的第二数据线供应的。
2.如权利要求1所述的裂纹检测器，其中，所述多个裂纹检测开关中的每个使两条数据线彼此电连接或断开。
3.如权利要求2所述的裂纹检测器，其中，所述数据线中的每条具有近端和远端，并且所述多个裂纹检测开关中的每个连接所述两条数据线的远端，其中，所述两条数据线彼此相邻。
4.如权利要求1所述的裂纹检测器，其中，所述多个裂纹检测开关的数目j是所述显示面板的所述数据线的数目m的一半；
所述检测控制信号使所述多个裂纹检测开关中的每个同时闭合，并从而电连接所述数据线中的相应对的输入数据线和输出数据线。
5.如权利要求1所述的裂纹检测器，其中，所述裂纹检测信号对应于预设的测试电压，
其中，所述参考值是超出了对于无裂纹条件的输出信号的预期范围的电压，其中，所述范围的边缘是从所述测试电压偏移的预设电压。
6.如权利要求5所述的裂纹检测器，其中，当所述输出信号在所述参考值的所述范围之外时，所述裂纹确定部输出指示存在影响所述第一数据线和所述第二数据线的裂纹的裂纹数据。
7.如权利要求1所述的裂纹检测器，其中，所述裂纹检测信号对应于预设的测试电流，
其中，所述参考值对应于预设的线电阻范围。
8.如权利要求7所述的裂纹检测器，其中，当从所述输出信号计算的电阻值在所述线电阻范围之外时，所述裂纹确定部输出指示存在影响所述第一数据线和所述第二数据线的裂纹的裂纹数据。
9.一种显示装置，所述显示装置包括：
显示面板，包括连接到多条扫描线和多条数据线的多个像素；
扫描驱动器，被构造为将扫描信号供应到所述多条扫描线中的每条；
数据驱动器，被构造为将数据信号供应到所述多条数据线中的每条；以及
裂纹检测器，被构造为基于供应到所述多条数据线的裂纹检测信号来检测所述显示面板的裂纹，
其中，所述裂纹检测器包括：
多个裂纹检测开关，用于使所述数据线彼此连接/断开；
信号供应部，被构造为供应用于控制所述多个裂纹检测开关的闭合/打开的检测控制信号；以及
裂纹确定部，被构造为通过对从所述数据线供应的输出信号与预设的参考值进行比较来确定所述显示面板的裂纹。
10.如权利要求9所述的显示装置，其中，所述多条数据线中的每条具有近端和远端，并且所述多个裂纹检测开关中的每个在所述显示面板的一侧处连接到彼此相邻的两条数据线的远端，
其中，所述多个裂纹检测开关在包括在垂直消隐时段中的裂纹检测时段期间闭合，并且
其中，所述多个裂纹检测开关在1H至2H的范围内的时间间隔期间同时闭合，其中，H是由所述显示装置当前使用的用于显示一帧的一行的水平时段。
CN201910925871.7A 2018-10-05 2019-09-27 裂纹检测器和具有其的显示装置 Active CN111009201B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2018-0119235 2018-10-05
KR1020180119235A KR102576801B1 (ko) 2018-10-05 2018-10-05 크랙 검출부, 표시 장치 및, 표시 장치의 구동 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111009201A true CN111009201A (zh) 2020-04-14
CN111009201B CN111009201B (zh) 2025-01-17

Family

ID=70052406

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910925871.7A Active CN111009201B (zh) 2018-10-05 2019-09-27 裂纹检测器和具有其的显示装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10997883B2 (zh)
KR (1) KR102576801B1 (zh)
CN (1) CN111009201B (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112736064A (zh) * 2020-12-30 2021-04-30 维沃移动通信有限公司 显示装置和显示屏裂纹检测方法
CN112951133A (zh) * 2021-02-20 2021-06-11 京东方科技集团股份有限公司 显示模组、显示装置、检测方法、存储介质及计算机设备
CN113889038A (zh) * 2020-07-02 2022-01-04 乐金显示有限公司 显示装置和驱动电路
CN115100986A (zh) * 2022-07-19 2022-09-23 集创北方(珠海)科技有限公司 显示面板及其裂纹检测方法以及显示装置
CN115359746A (zh) * 2022-08-25 2022-11-18 京东方科技集团股份有限公司 边缘缺陷检测模组、显示面板及边缘缺陷检测方法
TWI820804B (zh) * 2022-07-19 2023-11-01 大陸商集創北方（珠海）科技有限公司 面板破片偵測方法、面板破片偵測電路及oled顯示器

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102601650B1 (ko) * 2016-07-26 2023-11-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
US11417257B2 (en) * 2019-12-26 2022-08-16 Lg Display Co., Ltd. Display device
CN110992861B (zh) * 2019-12-31 2023-05-05 武汉天马微电子有限公司 显示面板以及显示装置
CN113870745A (zh) * 2020-06-30 2021-12-31 硅工厂股份有限公司 用于驱动显示面板的装置
CN112164711B (zh) * 2020-09-29 2023-05-05 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、制备方法以及显示装置
CN117037650A (zh) * 2020-11-27 2023-11-10 武汉天马微电子有限公司 一种显示面板及其检测方法和显示装置
KR102830681B1 (ko) * 2021-01-05 2025-07-07 주식회사 엘엑스세미콘 크랙저항 측정회로를 포함하는 디스플레이 장치 및 디스플레이 패널 크랙측정 방법
WO2022151392A1 (en) * 2021-01-15 2022-07-21 Boe Technology Group Co., Ltd. Display panel, display apparatus, and method of detecting crack in display panel
TWI795971B (zh) * 2021-10-29 2023-03-11 友達光電股份有限公司 偵測裝置及偵測方法
KR20230102047A (ko) 2021-12-29 2023-07-07 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN115561571B (zh) * 2022-01-13 2023-12-08 深圳荣耀智能机器有限公司 一种裂纹检测电路、系统以及集成电路、电子设备
KR20230110407A (ko) 2022-01-14 2023-07-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치 검사 방법
WO2024262795A1 (ko) * 2023-06-20 2024-12-26 삼성전자 주식회사 플렉서블 디스플레이를 포함하는 전자 장치 및 이의 동작 방법

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020101173A1 (en) * 2000-12-19 2002-08-01 Au Optronics Corp. Crack detecting device for plasma display panel
KR20160017845A (ko) * 2014-08-06 2016-02-17 삼성디스플레이 주식회사 표시장치와 그의 제조방법
US20160232826A1 (en) * 2015-02-06 2016-08-11 Samsung Display Co., Ltd. Display device
US20170256188A1 (en) * 2016-03-02 2017-09-07 Au Optronics Corporation Display panel and method for verifying data lines thereon
US20170270842A1 (en) * 2016-03-15 2017-09-21 Samsung Display Co., Ltd. Display device
US20180033355A1 (en) * 2016-07-26 2018-02-01 Samsung Display Co., Ltd. Display device with crack-sensing line
CN107680481A (zh) * 2016-08-01 2018-02-09 三星显示有限公司 显示装置
US20180053466A1 (en) * 2016-08-19 2018-02-22 Apple Inc. Electronic Device Display With Monitoring Circuitry
CN107767801A (zh) * 2016-08-22 2018-03-06 三星显示有限公司 显示设备
US20180138412A1 (en) * 2016-11-11 2018-05-17 Samsung Display Co., Ltd. Display device and method of inspecting the same
CN108154800A (zh) * 2016-12-05 2018-06-12 三星显示有限公司 显示装置
CN108172593A (zh) * 2016-12-08 2018-06-15 三星显示有限公司 显示装置
US20180174505A1 (en) * 2016-08-19 2018-06-21 Apple Inc. Electronic Device Display With Monitoring Circuitry
US20180197445A1 (en) * 2017-01-12 2018-07-12 Boe Technology Group Co., Ltd. Device and method for detection of display panel
CN108492768A (zh) * 2018-03-23 2018-09-04 京东方科技集团股份有限公司 一种面板裂纹检测结构及检测方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6138480B2 (ja) * 2012-12-20 2017-05-31 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
KR102047005B1 (ko) * 2013-05-31 2019-11-21 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 패널
KR102400302B1 (ko) * 2015-09-08 2022-05-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 이의 점등 검사선 형성 방법
KR102559370B1 (ko) 2015-12-30 2023-07-26 삼성디스플레이 주식회사 크랙 검출 장치 및 크랙 검출 장치의 구동 방법
KR102269400B1 (ko) * 2016-11-09 2021-06-25 한국조선해양 주식회사 선박
KR102565299B1 (ko) * 2018-05-04 2023-08-09 엘지디스플레이 주식회사 데이터 구동 회로, 디스플레이 패널 및 디스플레이 장치
CN110503907B (zh) * 2018-05-17 2024-04-05 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020101173A1 (en) * 2000-12-19 2002-08-01 Au Optronics Corp. Crack detecting device for plasma display panel
KR20160017845A (ko) * 2014-08-06 2016-02-17 삼성디스플레이 주식회사 표시장치와 그의 제조방법
US20160232826A1 (en) * 2015-02-06 2016-08-11 Samsung Display Co., Ltd. Display device
US20170256188A1 (en) * 2016-03-02 2017-09-07 Au Optronics Corporation Display panel and method for verifying data lines thereon
US20170270842A1 (en) * 2016-03-15 2017-09-21 Samsung Display Co., Ltd. Display device
US20180033355A1 (en) * 2016-07-26 2018-02-01 Samsung Display Co., Ltd. Display device with crack-sensing line
CN107680481A (zh) * 2016-08-01 2018-02-09 三星显示有限公司 显示装置
US20180053466A1 (en) * 2016-08-19 2018-02-22 Apple Inc. Electronic Device Display With Monitoring Circuitry
US20180174505A1 (en) * 2016-08-19 2018-06-21 Apple Inc. Electronic Device Display With Monitoring Circuitry
CN107767801A (zh) * 2016-08-22 2018-03-06 三星显示有限公司 显示设备
US20180138412A1 (en) * 2016-11-11 2018-05-17 Samsung Display Co., Ltd. Display device and method of inspecting the same
CN108154800A (zh) * 2016-12-05 2018-06-12 三星显示有限公司 显示装置
CN108172593A (zh) * 2016-12-08 2018-06-15 三星显示有限公司 显示装置
US20180197445A1 (en) * 2017-01-12 2018-07-12 Boe Technology Group Co., Ltd. Device and method for detection of display panel
CN108492768A (zh) * 2018-03-23 2018-09-04 京东方科技集团股份有限公司 一种面板裂纹检测结构及检测方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113889038A (zh) * 2020-07-02 2022-01-04 乐金显示有限公司 显示装置和驱动电路
CN113889038B (zh) * 2020-07-02 2024-05-10 乐金显示有限公司 显示装置和驱动电路
CN112736064A (zh) * 2020-12-30 2021-04-30 维沃移动通信有限公司 显示装置和显示屏裂纹检测方法
CN112951133A (zh) * 2021-02-20 2021-06-11 京东方科技集团股份有限公司 显示模组、显示装置、检测方法、存储介质及计算机设备
CN112951133B (zh) * 2021-02-20 2023-10-31 京东方科技集团股份有限公司 显示模组、显示装置、检测方法、存储介质及计算机设备
CN115100986A (zh) * 2022-07-19 2022-09-23 集创北方(珠海)科技有限公司 显示面板及其裂纹检测方法以及显示装置
TWI820804B (zh) * 2022-07-19 2023-11-01 大陸商集創北方（珠海）科技有限公司 面板破片偵測方法、面板破片偵測電路及oled顯示器
CN115100986B (zh) * 2022-07-19 2025-04-25 集创北方(珠海)科技有限公司 显示面板及其裂纹检测方法以及显示装置
CN115359746A (zh) * 2022-08-25 2022-11-18 京东方科技集团股份有限公司 边缘缺陷检测模组、显示面板及边缘缺陷检测方法
CN115359746B (zh) * 2022-08-25 2025-10-21 京东方科技集团股份有限公司 边缘缺陷检测模组、显示面板及边缘缺陷检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR102576801B1 (ko) 2023-09-12
US10997883B2 (en) 2021-05-04
KR20200039896A (ko) 2020-04-17
CN111009201B (zh) 2025-01-17
US20200111395A1 (en) 2020-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111009201B (zh) 裂纹检测器和具有其的显示装置
US11574567B2 (en) Display panel, display apparatus and crack detection method therefor
KR102527995B1 (ko) 단락 검사 회로 및 이를 포함하는 표시 장치
CN107799061B (zh) 数据驱动器、有机发光显示装置及其驱动方法
KR102371182B1 (ko) 표시장치, 패널 결함 검출 시스템 및 패널 결함 검출 방법
KR102456724B1 (ko) 타이밍 컨트롤러, 표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법
KR20180025522A (ko) 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법
US20140176524A1 (en) Organic light emitting display device and driving method thereof
WO2019196925A1 (zh) 像素电路单元及驱动方法、显示面板、显示装置
KR20180014308A (ko) 유기발광표시패널, 유기발광표시장치, 구동 회로, 컨트롤러 및 구동방법
KR20190045780A (ko) 유기발광표시장치 및 그 구동 방법
US10726785B2 (en) OLED display device and optical compensation method thereof
CN113409712B (zh) 显示装置的检测方法
CN107799558B (zh) 有机发光显示装置和控制器
KR20170064163A (ko) 유기발광표시장치 및 그 구동방법
KR102347837B1 (ko) 컨트롤러, 유기발광표시장치 및 그 구동방법
US20230419873A1 (en) Display device and driving method for the same
KR20190078780A (ko) 유기발광표시장치 및 그 구동방법
US11900843B2 (en) Display device and display driving method
US11817058B2 (en) Light emitting display device and method of driving the same
CN118366398A (zh) 像素电路、驱动方法、检测方法、显示面板及显示装置
KR20240119497A (ko) 발광표시장치
KR20170080902A (ko) 타이밍 컨트롤러, 유기발광표시장치 및 그 결함 관리 방법
US12154518B2 (en) Display device and method of driving the same
KR20240106045A (ko) 표시 장치, 패널 결함 검출 회로 및 패널 결함 검출 방법

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant