CN118157700A - 直流偏移校正装置及其直流偏移校正方法 - Google Patents

Abstract

一种直流偏移校正装置及方法，用于校正待校正单元的直流偏移。直流偏移校正装置包含信号产生单元、待校正单元、测量单元及补偿单元。直流偏移校正方法包括使待校正单元输出因信号饱和现象而产生的截波信号，接收与截波信号有关的接收信号，其中接收信号包括起因于截波信号的偶数次谐波，测量偶数次谐波的强度，根据偶数次谐波的强度计算获得直流偏移调整值，及根据直流偏移调整值调整待校正单元，以校正其直流偏移。

Description

直流偏移校正装置及其直流偏移校正方法

技术领域

本发明关于电子电路，特别是一种直流偏移校正装置及其直流偏移校正方法。

背景技术

在电子电路中，信号常由于阻抗值误差等因素而发生直流偏移，进而造成信号失真，使得电路可能无法维持于较佳操作状态。在相关技术中，可在通讯装置的信号传送路径中配置直流偏移测量电路，藉以测量及侦测传送信号的直流偏移，且据此对直流偏移进行校正或补偿。然而，这可能导致电路的复杂度增加及电路面积增加。此外，在一些电路设计中，可不在信号传送路径中配置直流偏移测量电路，在此情形中，可手动调整以直流偏移，然而此举速度缓慢且常无法如期望有效的消除直流偏移。

发明内容

本发明实施例提供一种直流偏移校正装置，包括信号产生单元、待校正单元、测量单元及补偿单元。信号产生单元提供第一信号。待校正单元耦接于信号产生单元，可接收第一信号且据此输出第二信号，其中第二信号为截波信号。测量单元耦接于待校正单元，可接收与第二信号有关的接收信号，其中接收信号包括由截波信号产生的偶数次谐波，测量单元测量偶数次谐波的强度。补偿单元耦接于测量单元及待校正单元，可用以根据偶数次谐波的强度来计算获得直流偏移调整值，且根据直流偏移调整值调整待校正单元。

本发明实施例提供一种直流偏移校正方法，用于校正待校正单元的直流偏移。直流偏移校正方法包括：使待校正单元输出第二信号，其中第二信号因待校正单元的信号饱和现象而发生截波，且其中第二信号更因校正单元的直流偏移发生非对称截波；接收与第二信号有关的接收信号，其中接收信号包括起因于非对称截波的偶数次谐波；测量偶数次谐波的强度；根据偶数次谐波的强度计算获得直流偏移调整值；及根据直流偏移调整值调整待校正单元，以校正直流偏移。

附图说明

图1为本发明实施例的一种通讯电路的模块图。

图2为图1的直流偏移校正装置的直流偏移校正方法的流程图。

图3为本发明实施例的对称截波的波形图。

图4显示图3的对称截波的频率成分。

图5为本发明实施例的不对称截波的波形图。

图6显示图5的不对称截波的频率成分。

图7为使用第一间距的偶数次谐波的直流偏移反应。

图8为使用第二间距的偶数次谐波的直流偏移反应。

【符号说明】

1:通讯电路

10:直流偏移校正装置

11:信号产生单元

110:信号产生器

112:信号放大器

12:待校正单元

120:直流偏移校正电路

122:数字模拟转换器

13:测量单元

130:模拟数字转换器

132:谐波测量电路

14:补偿单元

140:计算电路

142:存储器

15:传送器

16:传送天线

17:接收天线

18:接收器

200:直流偏移校正方法

S200至S208:步骤

Mag,M1,M2,M3,Mmin1,Mmin2:偶数次谐波的强度

OFST:直流偏移调整值

v1～v5:直流偏移调整值

d1,d2:扫描间距

RF1,RF2:无线信号

Sref:参考信号

Sa:第一信号

Sa’:中间信号

Sc:第二信号

Sd:数字信号

Sr,Srx:接收信号

Stx:传送信号

V:电压

t:时间

n:频率索引

dB:分贝

具体实施方式

图1为本发明实施例的一种通讯电路1的模块图。通讯电路1包括直流偏移校正装置10、传送器15、传送天线16、接收天线17及接收器18。举例而言，传送天线16及/或接收天线17可包括常见的射频天线，例如，按照工作频段不同，天线可包括短波天线、超短波天线及微波天线，按方向性不同，天线可包括全向天线及定向天线，以及按外形不同，天线可包括线状天线及面状天线，本发明对此不加限制。

在一些实施例中，直流偏移校正装置10可包括信号产生单元11、待校正单元12、测量单元13及补偿单元14，其中信号产生单元11、待校正单元12、传送器15及传送天线16可依序耦接，以形成信号的传送路径。接收天线17、接收器18、测量单元13及补偿单元14可依序耦接，以形成信号的接收路径。换句话讲，信号产生单元11及待校正单元12可设置在信号的传送路径中，且测量单元13及补偿单元14可设置在信号的接收路径中。在一些实施例中，测量单元13及补偿单元14可整合在一起。

在上述实施例中，信号产生单元11可提供第一信号Sa。待校正单元12可耦接于信号产生单元11，且接收第一信号Sa。根据第一信号Sa，待校正单元12可输出第二信号Sc，其中第二信号Sc可发生截波，亦即第二信号Sc可为截波信号，且进一步讲，截波信号包括对称截波信号及不对称截波信号，分别如图3及图5所示，在后续段落中会解释。测量单元13可耦接于待校正单元12，且接收与第二信号Sc有关的接收信号Sr，其中接收信号Sr包括由截波信号产生的偶数次谐波。测量单元13可测量偶数次谐波的强度Mag。补偿单元14可耦接于测量单元13，且可根据偶数次谐波的强度Mag计算获得直流偏移调整值OFST。补偿单元14可进一步耦接于待校正单元12，使得待校正单元12接收直流偏移调整值OFST，且据此加以调整待，以减少或消除待校正单元12的直流偏移。

在一些实施例中，举例而言，信号产生单元11可包括信号产生器110及信号放大器112。待校正单元12可包括直流偏移校正电路120及待校正电路122。信号产生器110、信号放大器112、直流偏移校正电路120、待校正电路122及传送器15可依序耦接。

在上述实施例中，信号产生器110可产生参考信号Sref。在一些实施例中，信号产生器110可包括正弦波产生器，且参考信号Sref可包括正弦波。信号放大器112可接收参考信号Sref，及根据预定增益放大参考信号Sref，以输出第一信号Sa。在一些实施例中，第一信号Sa可具有第一振幅。信号放大器112可包括增益可调放大器。信号放大器112的增益可根据不同的待校正单元而设定为不同。举例而言，可设定信号放大器112的增益，以放大信号产生器110产生的参考信号Sref，使得放大后所产生的第一信号Sa的第一振幅超过待校正单元12的线性工作范围，亦即使待校正单元12发生饱和。因此，待校正单元12的输出信号(亦即第二信号Sc)发生截波(clipping)。在该实施例中，针对不同的待校正单元12，信号放大器112可具有不同的预定增益，且如此之预定增益例如可储存于信号放大器112的内部缓存器。当针对待校正单元12进行直流偏移校正时，信号放大器112可从内部缓存器读取对应的预定增益，及依据该预定增益对参考信号Sref进行放大。在一些实施例中，亦可使用信号放大器112的最大增益作为预定增益。在一些实施例中，第二信号Sc可具有第二振幅，如上所述，由于第一信号Sa的第一振幅超过待校正单元12的线性工作范围，使得其输出的第二信号Sc发生截波。

在一些实施例中，在待校正单元12中，待校正电路122可为数字模拟转换器(DAC)，其可用以将数字信号转换为模拟信号。惟本发明不限于此，在其他实施例中，待校正电路122亦可包括模拟数字转换器(ADC)、混频器(mixer)、功率放大器(PA)、低噪声放大器(LNA)、运算放大器(OP)、及其组合。进一步讲，在待校正电路122包含功率放大器(PA)的实施例中，功率放大器例如可包括可变增益放大器(Variable Gain Amplifier，VGA)及转导放大器(transconductance amplifier)。

在一些实施例中，待校正单元12输出的第二信号Sc可为模拟信号。如图1所示，第二信号Sc可经由传送器15及传送天线16发送出去，以形成第一无线信号RF1。具体而言，传送器15可包括混频器、滤波器、及功率放大器。混频器可将第二信号Sc上转换至射频范围，功率放大器可放大上转换后的信号，及滤波器可对上转换后的信号或放大后的信号进行滤波，以使传送器15输出传送信号Stx。传送天线16可发送传送信号Stx以形成第一无线信号RF1。

在一些实施例中，接收天线17可接收与第一无线信号RF1有关的第二无线信号RF2，且根据第二无线信号RF2产生接收信号Srx，接收器18可根据信号Srx产生接收信号Sr。具体而言，接收器18可包含低噪声放大器、混频器及滤波器。在接收器18中，低噪声放大器可将信号Srx放大，滤波器可过滤放大后信号中的噪声，且混频器可对滤波后信号进行下转换以产生接收信号Sr。在此情形中，接收信号Sr相关于与第二信号Sc。

在一些实施例中，举例而言，测量单元13可包括模拟数字转换器130及谐波测量电路132。补偿单元14可包括计算电路140及存储器142。接收器18、模拟数字转换器130、谐波测量电路132及计算电路140可依序耦接。详细而言，补偿单元14的计算电路140可耦接于待校正单元12的直流偏移校正电路120，且补偿单元14的存储器142可耦接于计算电路140。

在另一些实施例中，测量单元13的模拟数字转换器130亦可耦接于待校正单元12的待校正电路122，以从待校正电路122接收第二信号Sc，在此情形中，第二信号Sc即为接收信号Sr。

在进一步的实施例中，测量单元13的模拟数字转换器130将接收信号Sr由模拟转换为数字形式，以产生数字信号Sd，且谐波测量电路132可基于数字信号Sd获得偶数次谐波的强度Mag。举例而言，谐波测量电路132可对数字信号Sd使用快速傅立叶变换或其他离散傅立叶变换来进行时域至频域转换，以获得基频及复数个谐波的强度，如图4及图6所示，在后续段落中会解释。复数个谐波可包括偶数次谐波，例如直流组成(0次谐波)、2次谐波、4次谐波等。

在上述实施例中，补偿单元14的计算电路140可根据强度Mag进行计算，以获得直流偏移调整值OFST。进一步讲，待校正单元12的直流偏移校正电路120例如可根据直流偏移调整值OFST来改变待校正电路122的直流准位，从而改变待校正单元12的直流准位。举例而言，直流偏移校正电路120可包括可变电阻，其可根据直流偏移调整值OFST来改变阻值，从而改变待校正单元12的直流准位。在另一些实施例中，直流偏移校正电路120可包括直流补偿电路，其可根据直流偏移调整值OFST提供校正值，以补偿待校正单元12的直流准位。

在上述实施例中，根据直流偏移调整值OFST，直流偏移校正电路120调整待校正单元12，使得测量单元13测量到的下一偶数次谐波的强度Mag降低，例如降低到等于或小于预设值。举例而言，在时间点t1，测量单元13测量偶数次谐波的强度为第一强度，计算电路140据此获得直流偏移调整值OFST为第一直流偏移调整值，直流偏移校正电路120根据第一直流偏移调整值调整待校正单元12，使得在后续的时间点t2，测量单元13测量偶数次谐波的强度为第二强度，其中第二强度小于第一强度。在上述实施例中，偶数次谐波的强度的变化趋势可用以辅助判断直流偏移的校正方向。例如，在上述调整过程中，以直流偏移校正电路120为可变电阻为例，其根据第一直流偏移调整值(例如，初始的直流偏移调整值)增加阻值，使得在时间点t1之后的时间点t3，测量单元13测量偶数次谐波的强度为第三强度，若第三强度大于第一强度，可判定作为直流偏移校正电路120的可变电阻的校正方向错误。据此，可变更校正方向，例如降低可变电阻的阻值，从而达到降低偶数次谐波强度的目的。

在上述实施例中，存储器142可储存预设值、偶数次谐波的强度Mag、及直流偏移调整值OFST。举例而言，存储器142可储存选定偶数次谐波的强度Mag，例如2次谐波的强度、4次谐波的强度、6次谐波的强度、或全部的偶数次谐波之强度。当偶数次谐波的强度Mag大于或等于预设值时，判定需对待校正单元12的直流偏移进行校正。计算电路140可输出直流偏移调整值OFST至直流偏移校正电路120，以达成直流偏移补偿；当偶数次谐波的强度Mag小于预设值时，判定无需对待校正单元12的直流偏移进行校正，计算电路140可不输出直流偏移调整值OFST或输出等于零的直流偏移调整值OFST至直流偏移校正电路120。

在一些实施例中，上述预设值系根据测量单元13的灵敏度加以设定，或根据直流偏移校正电路120所应用的通讯装置的通讯系统规格加以设定。详细而言，以测量单元13的灵敏度为例，测量单元13本身可具有一噪声位准(noise level)，噪声位准越低，测量单元13的灵敏度越高。预设值可设定为等于或高于该噪声位准。以预设值等于该噪声位准为例，当测量单元13测量到的偶数次谐波的强度Mag大于噪声位准时，判定测得偶数次谐波，进而判定需对待校正单元的直流偏移进行校正。在校正过程中，根据直流偏移调整值OFST调整待校正单元12，直到测量单元13测量到的偶数次谐波的强度Mag等于或小于噪声位准。当测量单元13测量之偶数次谐波的强度小于灵敏度时，判定该偶数次谐波的强度值不可靠，进而判定无需对待校正单元的直流偏移进行校正。

在一些实施例中，计算电路140可以预设间距(step size)扫过预设范围的所有直流偏移调整值OFST，将直流偏移调整值OFST及偶数次谐波的强度Mag储存于存储器142。举例而言，预设间距可为500毫伏(mV)，预设范围可为-1000mV至1000mV之间，计算电路140可间隔500mV扫过-1000mV至1000mV之间的5个直流偏移调整值OFST。分别根据这5个直流偏移调整值OFST，对待校正单元12的直流偏移进行校正，使得测量单元后续分别获得5个对应的校正后的强度Mag。将这5个直流偏移调整值OFST及5个校正后的强度Mag储存于存储器142。之后，将对应于最小强度Mag的直流偏移调整值OFST输出至直流偏移校正电路120以进行直流偏移补偿。

下文结合图3～图6进行说明。若待校正单元12存在直流偏移，第二信号Sc可发生不对称截波，亦即，波峰与波谷被截波的程度不同，在此情形中，接收信号Sr包含偶数次谐波。反之，若待校正单元12无直流偏移，第二信号Sc可发生对称截波，亦即，波峰与波谷被截波的程度相同，在此情形中，接收信号Sr不包含偶数次谐波，例如仅包含奇数次谐波。不对称截波导致产生接收信号Sr中的偶数次谐波，因此可依据接收信号Sr中是否存在偶数次谐波来判定是否发生不对称截波，从而判定待校正单元12是否存在直流偏移。换句话说，接收信号Sr中的偶数次谐波系起因于待校正单元12的直流偏移。

图3为对称截波之波形图，其中横轴为以微秒(μs)为单位的时间t，纵轴为以伏特为单位的电压V。如图3所示，待校正单元12无直流偏移，其输出信号(亦即，第二信号Sc)发生对称截波，波峰位置(大约于1.5微秒至3.5微秒之间)与波谷位置(大约于6.5微秒至8.5微秒之间)被截波的程度相同。图4显示图3的对称截波的频率成分，其中横轴为以频率索引n，纵轴为以db为单位的强度。图4显示频率组成41、43、45及47具有较大强度，且分别代表基频、3次谐波、5次谐波、7次谐波，在此情形中，偶数次谐波的强度极小或无法测得。

图5为不对称截波之波形图。如图5所示，待校正单元12存在直流偏移，其输出信号(亦即，第二信号Sc)发生不对称截波，波峰位置(大约于1.8微秒至3.2微秒之间)与波谷位置(大约于6微秒至9微秒之间)被截波的程度不同。图6显示图5之对称截波的频率成分，其显示频率组成60至67具有较大强度，其中频率组成61、63、65及67分别代表基频、3次谐波、5次谐波、7次谐波，频率组成60、62、64及66分别代表直流组成、2次谐波、4次谐波及6次谐波。因此，当待校正单元12存在直流偏移时，测量单元12可侦测到偶数次谐波。此外，无论对称截波或不对称截波，测量单元12皆可侦测到奇数次谐波。

在上述实施例中，在通讯电路1的传送路径上，并未设置直流偏移测量电路来消除直流偏移(DC offset)。通讯电路1利用接收路径的测量单元及补偿单元来辅助消除传送路径上之待校正单元的直流偏移，可减少电路面积及减少制造费用。

图2为直流偏移校正装置10的直流偏移校正方法200的流程图。方法200包括步骤S200至S208，步骤S200及S201用以产生截波信号，步骤S202至S208用以根据偶数次谐波的强度对待校正单元的直流偏移进行校正。任何合理的步骤改变或调整都落在本公开内容的范围内。步骤S200至S208解释如下：

步骤S200:藉由信号产生单元11，产生参考信号Sref并放大该参考信号Sref，以输出第一信号Sa；

步骤S201:藉由待校正单元12接收第一信号Sa以输出第二信号Sc，其中第二信号Sc因待校正单元12的信号饱和现象发生截波，其中第二信号Sc更因校正单元12的直流偏移发生非对称截波；

步骤S202:藉由测量单元13接收与第二信号Sc有关的接收信号Sr，其中接收信号Sr包括起因于非对称截波的偶数次谐波；

步骤S204:藉由测量单元13测量偶数次谐波的强度Mag；

步骤S206:藉由补偿单元14，根据偶数次谐波的强度Mag计算获得直流偏移调整值OFST；步骤S208:藉由直流偏移校正电路120，根据直流偏移调整值OFST调整待校正单元12，以校正直流偏移。

步骤S200的解释可于前面段落找到，在此不再赘述。以下参考图7及图8对步骤S201至S208进行解释。图7及图8分别为使用第一间距及的第二间距所产生的偶数次谐波的直流偏移反应，其中横轴代表直流偏移调整值OFST，纵轴代表强度Mag。

参考图7，可循环执行步骤S201及S204，以获得第一预设范围之内的最小强度。计算电路140可以第一间距扫过第一预设范围以获得偶数次谐波的粗略最小强度。举例而言，第一预设范围可介于v1至v5之间，第一间距可为d1，偶数次谐波可为2次谐波。在第一循环中，计算电路140将直流偏移调整值OFST设定至v1，直流偏移校正电路120据此改变待校正单元12的直流准位。待校正单元12输出发生截波的第二信号Sc。测量单元13接收与第二信号Sc有关的接收信号Sr(步骤S202)，以及测量获得2次谐波的强度M1(步骤S204)。类似的进行第二至第五循环，分别获得直流偏移调整值OFST分别为v2、v3、v4及v5时的2次谐波的强度，例如分别为M2、Mmin1、M2及M1，藉以完成第一预设范围的2次谐波的强度扫描。在本实施例中，存储器142可储存第一预设范围内的5个直流偏移调整值OFST(v1、v2、v3、v4及v5)及对应之2次谐波的5个强度(M1、M2、Mmin1、M2及M1)。

由于强度Mmin1小于强度M1、M2，因此可判定强度Mmin1为第一预设范围内的最小强度，且较佳的直流偏移调整值OFST落在v3附近。根据第一预设范围的结果，判定第二预设范围，其中第二预设范围小于第一预设范围，且涵盖最小强度Mmin1对应的直流偏移调整值OFST(亦即，v3)。

参考图8，计算电路140可继续以第二间距扫过第二预设范围以获得2次谐波的精细最小强度。举例而言，第二预设范围可介于v2至v4之间，第二间距可为d2，第二间距d2可小于第一间距d1。类似于上述内容，可分别获得直流偏移调整值OFST分别为v2、v3-1、v3-2、v3-3及v4时的2次谐波的强度，例如分别为M2、M3、Mmin2、M3及M2，藉以完成第二预设范围的2次谐波的强度扫描。

由于强度Mmin2小于强度M2、M3，因此可判定强度Mmin2为第二预设范围内的最小强度，且较佳的直流偏移调整值OFST落在v3-2附近。计算电路140可将强度Mmin2与预设值作比较，若强度Mmin2等于或小于预设值，则可输出v3-2作为较佳的直流偏移调整值OFST至直流偏移校正电路120(步骤S206)。

在上述实施例中，可省略第二预设范围的强度扫描，在此情形中，计算电路140可将强度Mmin1与预设值作比较，若强度Mmin1等于或小于预设值，则可输出v3作为较佳的直流偏移调整值OFST至直流偏移校正电路120。在其他实施例中，直流偏移校正方法200可依据前述原则以更小间距扫过更小预设范围以获得2次谐波的更精细的最小强度，直到到达直流偏移调整值OFST的最小调整间距为止。

在步骤S208，直流偏移校正电路120根据直流偏移调整值OFST调整待校正单元12以校正直流偏移。

在本发明实施例揭露的直流偏移校正装置及直流偏移校正方法中，可不在通讯电路1的传送路径上设置直流偏移测量电路来消除直流偏移(DC offset)。通讯电路1利用接收路径的测量单元及补偿单元来辅助消除传送路径上的待校正单元的直流偏移，可减少电路面积及减少制造费用。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请权利要求所做的等同变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。

Claims (20)

1.一种直流偏移校正装置，其特征在于，包括：

一信号产生单元，提供一第一信号；

一待校正单元，耦接于该信号产生单元，该待校正单元用以接收该第一信号且据此输出一第二信号，其中该第二信号为一截波信号；

一测量单元，耦接于该待校正单元，该测量单元用以接收与该第二信号有关的一接收信号，其中该接收信号包括由该截波信号产生的一偶数次谐波，该测量单元测量该偶数次谐波的一强度；及

一补偿单元，耦接于该测量单元及该待校正单元，该补偿单元用以根据该偶数次谐波的该强度计算获得一直流偏移调整值，且根据该直流偏移调整值调整该待校正单元。

2.如权利要求1所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中信号产生单元包括：

一信号产生器，用以产生一参考信号；及

一信号放大器，耦接该信号产生器，该信号放大器用以接收该参考信号，且放大该参考信号，以输出该第一信号。

3.如权利要求2所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中：

该信号产生器包括一正弦波产生器，且该参考信号包括一正弦波；及

该信号放大器包括一增益可调放大器。

4.如权利要求1所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中该接收信号为该第二信号。

5.如权利要求1所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中：

该第二信号利用一传送天线发送出去，以形成一第一无线信号；及

利用一接收天线接收与第一无线信号有关的一第二无线信号，且根据该第二无线信号产生该接收信号。

6.如权利要求1所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中该测量单元包括：

一模拟数字转换器，该模拟数字转换器根据该接收信号产生一数字信号；及

一谐波测量电路，耦接于该模拟数字转换器，且基于该数字信号获得该偶数次谐波的该强度。

7.如权利要求1所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中待校正单元包括：

一待校正电路；及

一直流偏移校正电路，耦接于该待校正电路，且该根据该直流偏移调整值改变该待校正电路的一直流准位。

8.如权利要求7所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中：

该直流偏移校正电路包括一可变电阻，该直流偏移校正电路用以根据该直流偏移调整值改变该可变电阻的一阻值，以改变该待校正电路的该直流准位。

9.如权利要求7所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中：

该直流偏移校正电路包括一直流补偿电路，该直流补偿电路用以根据该直流偏移调整值提供一校正值，以补偿该待校正电路的该直流准位。

10.如权利要求7所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中该待校正电路包括一数字模拟转换器、一模拟数字转换器、一混频器、一功率放大器、一低噪声放大器、或一运算放大器。

11.如权利要求10所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中该功率放大器包括一可变增益放大器及/或一转导放大器。

12.如权利要求1所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中该信号产生单元、该待校正单元设置在一传送路径中，且该测量单元设置在一接收路径中。

13.如权利要求1所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中该补偿单元根据该直流偏移调整值调整该待校正单元，以降低该测量单元测量到的一下一偶数次谐波的一强度。

14.如权利要求13所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中该补偿单元根据该直流偏移调整值调整该待校正单元，使得该测量单元测量到的该下一偶数次谐波的该强度等于或小于一预设值。

15.如权利要求14所述的直流偏移校正装置，其特征在于，其中：

该预设值相关于该测量单元的一灵敏度，或相关于该直流偏移校正装置所应用的一通讯装置的一通讯系统规格；及

该补偿单元包括一存储器，该存储器用以储存该直流偏移调整值及该预设值。

16.一种直流偏移校正方法，其特征在于，用于校正一待校正单元的直流偏移，该直流偏移校正方法包括：

使该待校正单元输出一第二信号，其中该第二信号因该待校正单元的一信号饱和现象发生截波，且其中该第二信号更因该校正单元的该直流偏移发生非对称截波；

接收与该第二信号有关的一接收信号，其中该接收信号包括起因于该非对称截波的一偶数次谐波；

测量该偶数次谐波的一强度；

根据该偶数次谐波的该强度计算获得一直流偏移调整值；及

根据该直流偏移调整值调整该待校正单元以校正该直流偏移。

17.如权利要求16所述的方法，其特征在于，还包括：

产生一参考信号；

将该参考信号放大，以输出一第一信号；及

该待校正单元接收该第一信号且据此输出该第二信号。

18.如权利要求16所述的方法，其特征在于，还包括：

利用一传送天线将该第二信号发送出去，以形成一第一无线信号；及

利用一接收天线接收与该第一无线信号有关的一第二无线信号，且根据该第二无线信号产生该接收信号。

19.如权利要求16所述的方法，其特征在于，其中根据该直流偏移调整值调整该待校正单元包括：

根据该直流偏移调整值改变一可变电阻的一阻值，以改变该待校正单元的一直流准位；

或

根据该直流偏移调整值提供一校正值，以补偿该待校正单元的该直流准位。

20.如权利要求16所述的方法，其特征在于，其中根据该直流偏移调整值调整该待校正单元包括：根据该直流偏移调整值调整该待校正单元以降低该测量单元测量到的一下一偶数次谐波的一强度，直至该测量单元测量到的该下一偶数次谐波的该强度等于或小于一预设值。