CN116978297A - 一种检测电路及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供的一种检测电路及电子设备，所述检测电路包括：第一系统级芯片SOC、时序控制器及第一电源模块；所述第一SOC与所述时序控制器连接，所述第一SOC用于响应于测试指令，将第一测试信号发送至所述时序控制器；所述第一电源模块与所述时序控制器连接；所述时序控制器，用于外接显示模块，根据所述第一测试信号控制所述第一电源模块为所述显示模块提供电信号，并根据所述第一测试信号生成测试显示信号，并将所述测试显示信号发送至所述显示模块。用以降低测试成本。

Description

一种检测电路及电子设备

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体地涉及一种检测电路及电子设备。

背景技术

目前，随着科技的发展，消费级电子产品已经进入人们生活的方方面面，而消费级电子产品的可靠性相较于车载器件、航空器件等，其器件耐受性规格和使用寿命，都相对薄弱。为了降低成本，生产、检查和测试等环节不断精简，又对由多个模组器件组成的整机寿命产生了冲击。

基于此，在消费级电子产品中，尤其是使用期限在1年以上的电子产品，如电视、手机、冰箱、空调等，都需要有效的潜在性故障激发和远程维护方案，以降低维护成本并避免偶然风险导致的批量召回事件。

在一些技术中，通过老化测试对电子产品的潜在性故障进行激发。例如，针对电子产品的不同模组设置不同的用于老化测试的时序控制器，通过控制时序控制器向待测模组发送HVS(High voltage stress，高电压激发)数据和驱动电流/电压，加速激发待测模组的潜在性故障的发生，筛选出失效器件，提高产品的可靠性。示例性的，如图1a所示，在对电子产品中的显示面板老化测试时，需要预先设置用于显示面板内的不同模组进行老化测试的时序控制器。在对每个模组进行老化测试时，通过12V(伏)电源为时序控制器提供电压，并通过PG(Pattern Generator，图像发生器)向每个模组对应的时序控制器发送HVS图像信号及驱动电流/电压，以便对每个模组内可能存在的潜在性故障进行快速激发，例如，在对显示屏模组进行老化测试时，激发出因显示屏(Open-Cell，OC)异物而引起的故障，或者对COF(Chip on film，柔性薄膜集成芯片)模组进行老化测试时，激发出COF模组原生缺陷等。通过上述老化测试，可以在显示面板的各个模组中筛选出失效器件，提高显示面板的可靠性及良品率。

但是，现有的老化测试方法需要针对不同模组设置不同的时序控制器，并且该时序控制器仅是用于老化测试，使得老化测试的成本较高。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种检测电路及电子设备，以利于解决现有技术中测试成本高的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种检测电路，应用于电子设备，所述检测电路包括：第一系统级芯片SOC、时序控制器及第一电源模块；

所述第一SOC与所述时序控制器连接，所述第一SOC用于响应于测试指令，将第一测试信号发送至所述时序控制器；

所述第一电源模块与所述时序控制器连接；所述时序控制器，用于外接显示模块，根据所述第一测试信号控制所述第一电源模块为所述显示模块提供电信号，并根据所述第一测试信号生成测试显示信号，并将所述测试显示信号发送至所述显示模块。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述第一测试信号包括第一测试控制信号、第一测试图像信号及第一侦测表征信号中的至少一种；

在所述第一测试信号包括第一测试控制信号时，所述第一SOC用于通过第一通道与所述时序控制器传输所述第一测试控制信号；或者，

在所述第一测试信号包括第一测试图像信号时，所述第一SOC用于通过第二通道向所述时序控制器发送所述第一测试图像信号；或者，

在所述第一测试信号包括第一侦测表征信号时，所述第一SOC用于通过第三通道与所述时序控制器传输所述第一侦测表征信号。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述第一SOC还用于通过所述第一通道接收所述时序控制器发送的控制响应信号。

在第一方面的一种可能的实现方式中，还包括：第二电源模块及第一电压转换模块；

所述第二电源模块与所述第一电压转换模块的输入端连接；所述第一电压转换模块的输出端与所述第一电源模块连接；

所述第一电压转换模块，用于将所述第一电源模块提供的第一电压信号转换为所述第二电源模块的工作电压信号。

在第一方面的一种可能的实现方式中，还包括：与所述第一SOC连接的第一存储模块；

所述第一SOC，用于获取测试信息，并将所述测试信息存储至所述第一存储模块中；以及响应于测试指令，从所述第一存储模块中获取所述测试指令对应的测试信息并根据所述测试指令对应的测试信息生成第一测试信号，将所述第一测试信号发送至所述时序控制器。

在第一方面的一种可能的实现方式中，还包括：与所述第一SOC连接的第二存储模块；所述第二存储模块用于存储所述第一测试信号；

所述第一SOC，用于响应于测试指令，在所述第二存储模块中获取所述测试指令对应的第一测试信号，将所述第一测试信号发送至所述时序控制器。

在第一方面的一种可能的实现方式中，还包括：计数器；

所述第一SOC，还用于在检测到异常信息时，在预设时间段内将所述时序控制器的状态信号由第一数值切换为第二数值，并重新向所述时序控制器发送所述异常信息对应的目标信号；所述目标信号为所述第一SOC发送至所述时序控制器的信号中的任一信号；

所述计数器与所述第一SOC连接，用于检测到所述时序控制器的状态信号由第一数值切换为第二数值时，更新记录的错误信号发生次数。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述计数器，还用于在接收到关闭信号时，清除记录的错误信号发生次数。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述时序控制器，还用于在检测到异常信息时，向所述第一SOC返回所述异常信息。

在第一方面的一种可能的实现方式中，所述第一SOC，还用于向所述时序控制器发送运行状态获取信号；

所述时序控制器，还用于响应于运行状态获取信号，获取运行状态信息，向所述第一SOC返回所述运行状态信息；

所述第一SOC，还用于根据所述运行状态信息检测是否存在异常信息。

在第一方面的一种可能的实现方式中，还包括：

所述第一SOC，还用于获取用户触发的更新指示信息，并根据所述更新指示信息更新所述更新指示信息指示的目标数据。

第二方面，本申请实施例提供了一种检测电路，应用于电子设备，所述检测电路包括：第二系统级芯片SOC、第三电源模块；其中，所述第二SOC与所述第三电源模块连接；

所述第二SOC，用于外接显示模块，响应于测试指令，确定测试信号，根据所述测试信号控制所述第三电源模块向所述显示模块提供电信号，并根据所述测试信号生成测试显示信号，将所述测试显示信号发送至所述显示模块。

在第二方面的一种可能的实现方式中，所述第二测试信号包括第二测试图像信号及第二侦测表征信号中的至少一种；

在所述第二测试信号包括第二测试图像信号时，所述第二SOC用于根据所述第二测试图像信号生成测试显示图像信号，并通过第四通道向所述显示模块发送所述测试显示图像信号；或者，

在所述第二测试信号包括第二侦测表征信号时，所述第二SOC用于根据所述第二侦测表征信号生成测试侦测表征信号，并通过第五通道与所述显示模块传输所述测试侦测表征信号。

在第二方面的一种可能的实现方式中，还包括：第四电源模块及第二电压转换模块；所述第二电压转换模块的输入端与所述第四电源模块连接，所述第二电压转换模块的输出端与所述第三电源模块；

所述第二电压转换模块，用于将第四电源模块提供的第二电压信号转换为第三电源模块的工作电压。

在第二方面的一种可能的实现方式中，还包括：与所述第二SOC连接的第三存储模块；

所述第二SOC，用于获取测试信息，并将所述测试信息存储至所述第三存储模块中；以及响应于测试指令，从所述第三存储模块中获取所述测试指令对应的测试信息并根据所述测试指令对应的测试信息生成第二测试信号。

在第二方面的一种可能的实现方式中，还包括：与所述第二SOC连接的第四存储模块；所述第四存储模块用于存储所述第二测试信号；

所述第二SOC，用于响应于测试指令，在所述第四存储模块中获取所述测试指令对应的第二测试信号。

在第二方面的一种可能的实现方式中，所述第二测试信号还包括：第二测试控制信号；

在所述第二测试信号包括第二测试控制信号时，所述第二SOC用于通过第六通道向所述第四电源模块发送所述第二测试控制信号；所述第四电源模块用于根据所述第二测试控制信号向所述显示模块提供电信号。

在第二方面的一种可能的实现方式中，所述第二测试信号还包括：第二测试控制信号；第三电源模块与所述第四存储模块连接；

在所述第二测试信号包括第二测试控制信号时，所述第三电源模块用于在所述第四存储模块中获取所述第二测试控制信号，并根据所述第二测试控制信号向所述显示模块提供电信号。

在第二方面的一种可能的实现方式中，所述第二SOC，还用于获取用户触发的更新指示信息，并根据所述更新指示信息更新所述更新指示信息指示的目标数据。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括上述第一方面任一项或第二方面任一项所述的检测电路及显示模块。

采用本申请实施例所提供的方案，包括第一SOC及时序控制器，第一SOC与时序控制器连接，第一SOC用于响应于测试指令，将第一测试信号发送至时序控制器；时序控制器用于外接显示模块，根据第一测试信号生成测试显示信号，并将测试显示信号发送至显示模块。这样一来，在本申请实施例中，通过第一SOC控制时序控制器发送测试显示信号至显示模块，以便对显示模块进行相应的测试。即为，在本申请中，通过使用电子设备中的第一SOC及时序控制器即可对显示模块的测试，无需针对不同的模组设置不同的测试器件，大大降低了测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1a为本申请实施例提供的一种老化测试的场景示意图；

图1b为本申请实施例提供的另一种老化测试的场景示意图；

图2为本申请实施例提供的一种检测电路的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图6a为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图6b为本申请实施例提供的一种检测电路的信号输出的场景示意图；

图7为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图8为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图9为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图10为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图11为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图12为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图13为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图14a为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图14b为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图15为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；

图16为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图。

具体实施方式

为了更好的理解本申请的技术方案，下面结合附图对本申请实施例进行详细描述。

应当明确，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，甲和/或乙，可以表示：单独存在甲，同时存在甲和乙，单独存在乙这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

在对本申请实施例进行具体介绍之前，首先对本申请实施例应用或可能应用的术语进行解释。

V-By-One，简称VBO，是一种面向图像信息传输的数字接口标准技术。因该技术最大可以支持4.0Gbps高速信号传输，并且由于其特有的编码方式避免了接收端数据与时钟间的时滞问题，所以VBO技术广泛应用于超高清液晶电视领域，使得超薄超窄电视成为可能。

在一些技术中，为了降低维护成本并避免偶然风险导致的批量召回事件，通常通过老化测试对电子产品的潜在性故障进行激发。例如，针对电子产品的不同模组设置不同的用于老化测试的时序控制器，通过控制时序控制器向待测模组发送HVS(High voltagestress，高电压激发)数据和驱动电流/电压，加速激发待测模组的潜在性故障的发生，筛选出失效器件，提高产品的可靠性。示例性的，如图1a及图1b所示，在对电子产品中的显示面板老化测试时，需要预先设置用于显示面板内的不同模组进行老化测试的时序控制器。在对每个模组进行老化测试时，通过12V(伏)电源为时序控制器提供电压，并通过PG(PatternGenerator，图像发生器)向每个模组对应的时序控制器发送HVS图像信号及驱动电流/电压，以便对每个模组内可能存在的潜在性故障进行快速激发，例如，在对显示屏模组进行老化测试时，激发出因显示屏(Open-Cell，OC)异物而引起的故障，或者对COF(Chip on film，柔性薄膜集成芯片)模组进行老化测试时，激发出COF模组原生缺陷等。通过上述老化测试，可以在显示面板的各个模组中筛选出失效器件，提高显示面板的可靠性及良品率。

由于现有的老化测试方法需要针对不同模组设置不同的时序控制器，并且该时序控制器仅是用于老化测试，使得老化测试的成本较高。

针对上述问题，本申请实施例提供了一种检测电路，包括第一SOC及时序控制器，第一SOC与时序控制器连接，第一SOC用于响应于测试指令，将第一测试信号发送至时序控制器；时序控制器用于外接显示模块，根据第一测试信号生成测试显示信号，并将测试显示信号发送至显示模块。这样一来，在本申请实施例中，通过第一SOC控制时序控制器发送测试显示信号至显示模块，以便对显示模块进行测试。例如在进行老化测试时，仅需通过第一SOC控制时序控制器向显示模块发送对应的老化测试显示信号，以便对显示模块中潜在性的故障进行激发。即为，在本申请中，通过使用电子设备中的第一SOC及时序控制器即可对显示模块的潜在性的故障进行激发，无需针对不同的模组设置不同的时序控制器，大大降低了测试成本。以下进行详细说明。

参见图2，为本申请实施例提供的一种检测电路的结构示意图。本申请实施例提供的一种检测电路应用于电子设备中。如图2所示，检测电路包括：第一SOC(system on chip，系统级芯片)21、时序控制器22及第一电源模块23。

其中，第一SOC21与时序控制器22连接，第一SOC21用于响应于测试指令，将第一测试信号发送至时序控制器22中。

第一电源模块23与时序控制器22连接；时序控制器22，用于外接显示模块，根据第一测试信号控制第一电源模块23为显示模块提供电信号，并根据第一测试信号生成测试显示信号，将测试显示信号发送至显示模块。

需要说明的是，本申请实施例是通过检测电路对显示模块进行相应的测试。该测试可以是老化测试，也可以是寿命测试，或者是温湿度工作驱动测试或者其他相关测试等，本申请对此不作限制。在本申请下述实施例中，以对显示模块进行老化测试为例进行说明。当然还可以是其他测试，可以参考老化测试，本申请不再赘述。

在本申请实施例中，检测电路中包含第一SOC21、时序控制器22及第一电源模块23。时序控制器22用于连接显示模块。即为，由于时序控制器22外接显示模块，并且可以向显示模块发送控制信号及需显示的图像信号，因此，在需要对显示模块进行老化测试时，可以通过时序控制器22将老化测试相关的信号发送至显示模块。第一电源模块23用于外接显示模块，在时序控制器22的控制下为显示模块提供电信号。即为，显示模块在启工作时，需要第一电源模块23为其提供各种电信号，而第一电源模块23根据时序控制器22的控制指令对显示模块提供各种电信号。基于此，用户触发测试指令后，第一SOC21获取到测试指令，响应于测试指令，第一SOC21确定测试指令对应的第一测试信号，并将该第一测试信号发送至时序控制器22。时序控制器22根据第一测试信号生成测试显示信号，将测试显示信号发送至显示模块，以便显示模块根据测试显示信号进行图像的显示。并且，时序控制器22根据第一测试信号，确定第一电源模块23需输出的电信号，进而控制第一电源模块23输出为显示模块提供的电信号。

需要说明的是，第一测试信号的不同，其对应的显示模块的电信号不同，因此时序控制器22可以根据获取的第一测试信号确定第一电源模块23需输出的电信号。

例如，用户触发老化测试指令，第一SOC21获取到老化测试指令，响应于老化测试指令，第一SOC21获取相应的老化测试信号，并将老化测试信号发送至时序控制器22。其中，第一SOC21发送的老化测试信号可以是输出HVS(High voltage stress，高电压激发)图像显示信号的控制信号，也可以直接是HVS图像显示信号及显示模块所需的电信号。时序控制器22接收到老化测试信号后，若老化测试信号为输出HVS图像显示信号的控制信号，则可以根据该控制信号生成HVS图像显示信号，并确定显示模块所需的电信号，将HVS图像显示信号作为测试显示信号发送至显示模块，并将显示模块所需的电信号传输至第一电源模块23，第一电源模块23根据显示模块所需的电信号为显示模块提供电信号，以对显示模块内潜在性失效或缺陷进行快速激发。或者，时序控制器22接收到老化测试信号后，若老化测试信号为HVS图像显示信号及显示模块所需的电信号，则时序控制器22可以将HVS图像显示信号转换为显示模块对应的显示信号，将HVS图像显示信号转换的显示信号作为测试显示信号发送至显示模块。并将显示模块所需的电信号传输至第一电源模块23，第一电源模块23根据显示模块所需的电信号为显示模块提供电信号。

需要说明的是，在本申请实施例中，第一SOC21与时序控制器22间的通信可以采用VBO(V-by-One，图像传输数字接口标准)信号传输协议，而时序控制器22与显示模块间的通信采用LVDS(Low-Voltage Differential Signaling，低电压差分信号)传输协议。因此，时序控制器22在接收到第一SOC21传输的第一测试信号时，在该第一测试信号为测试图像信号时，需要将该第一测试信号进行相应的协议格式转换，并不能直接进行转发。

作为一种可能的实现方式，第一测试信号包括第一测试控制信号、第一测试图像信号及第一侦测表征信号中的至少一种；在第一测试信号包括第一测试控制信号时，第一SOC21用于通过第一通道与时序控制器22传输所述第一测试控制信号；或者，在第一测试信号包括第一测试图像信号时，第一SOC21用于通过第二通道向时序控制器22发送第一测试图像信号；或者，在测试信号包括侦测表征信号时，第一SOC21用于通过第三通道与时序控制器22传输第一侦测表征信号，如图3所示。

在本申请实施例中，为了方便不同类型测试信号的传输，第一SOC21与时序控制器22间通过不同的通道进行连接，用以传输不同类型的测试信号。第一测试信号包括第一测试控制信号、第一测试图像信号及第一侦测表征信号中的至少一种，因此，第一SOC21与时序控制器22间通过第一通道、第二通道及第三通道进行连接，以分别传输第一测试控制信号、第一测试图像信号及第一侦测表征信号。即为，在第一测试信号包括第一测试控制信号时，第一SOC21通过第一通道向时序控制器22发送第一测试控制信号。在第一测试信号包括第一测试图像信号时，第一SOC21通过第二通道向时序控制器22发送第一测试图像信号。在第一测试信号包括第一侦测表征信号时，第一SOC21用于通过第三通道与时序控制器22传输第一侦测表征信号。

其中，第一侦测表征信号用于表征第一SOC21与时序控制器22间的信号传输是否存在异常。在第一侦测表征信号为第三数值时，则表征第一SOC21与时序控制器22间的信号传输没有异常，在侦测表征信号为第四数值时，则表征第一SOC21与时序控制器22间的信号传输异常。

其中，第三数值及第四数值是预先设置的，例如第三数值为0，第四数值为1，当然还可以是其他数值，本申请对此不作限制。

也就是说，在需要实现第一SOC21对时序控制器22的控制时，可以在第一SOC21与时序控制器22之间建立第一通道，以通过第一通道发送相关的控制信号，通过该控制信号实现第一SOC21对时序控制器22的控制。例如，在进行老化测试时，需要对时序控制器22的时序信号进行调整，此时，第一SOC21获取时序调整控制信号，并将时序调整控制信号作为第一测试控制信号通过第一通道发送至时序控制器22。时序控制器22根据接收的时序调整控制信号对时序信号进行相应的调整，并可以将调整后的响应信号通过第一通道返回至第一SOC21。

或者，在实现时序控制器22控制显示模块显示图像信号，需要第一SOC21将需显示的图像信号发送至时序控制器22时，可以在第一SOC21与时序控制器22间建立第二通道，以使得第一SOC21通过第二通道向时序控制器22发送第一测试图像信号。例如，在进行老化测试时，第一SOC21响应于老化测试，确定出老化测试对应的显示模块需显示的HVS图像信号，第一SOC21可以将HVS图像信号通过第二通道发送至时序控制器22。时序控制器22在接收到HVS图像信号后，可以将HVS图像信号转换为与显示模块间的数据传输通道对应的协议格式，并通过与显示模块间的数据传输通道发送协议格式转换后的HVS图像信号，以使得显示模块进行相应的图像显示。

或者，在需要实现第一SOC21对时序控制器22或显示模块的运行状态进行侦测时，可以在第一SOC21与时序控制器22间建立第三通道，以通过第三通道发送侦测表征信号，通过该侦测表征信号，用以表征第一SOC21与时序控制器22间传输的信号是否存在异常。而第一SOC21可以通过第一通道向时序控制器22发送运行状态的获取信号，以获取时序控制器22或显示模块的运行状态信息，进而监测时序控制器22或显示模块是否存在异常。例如，在进行老化测试时，第一SOC21可以通过第一通道向时序控制器22发送运行状态的获取信号，时序控制器22可以根据该运行状态的获取信号获取其自身或显示模块的运行状态信息，并将时序控制器22自身的运行状态信息或显示模块的运行状态信息作为响应信号通过第一通道返回至第一SOC21，以使得第一SOC21根据获取的运行状态信息检测时序控制器22或显示模块是否异常，若存在异常，则可以通过第三通道向时序控制器22发送第四数值的侦测表征信号。若不存在异常，则通过第三通道向时序控制器22发送第三数值的侦测表征信号。例如，第一SOC21可以将获取的显示模块的运行状态与预设的对应门限值进行比较，从而确定显示模块是否存在异常。

需要说明的是，第一通道，第二通道及第三通道为不同的通道。

作为一种可能的实现方式，上述第一通道包括为I2C(Inter-IntegratedCircuit，两线式串行总线)通道。上述第二通道包括data(数据)通道。上述第三通道包括HTPDN(Hot Plug Detect Signal，热插拔检测控制角)通道或LOCKN(CDR Lock Signal，时钟锁定控制角)通道，即为侦测表征信号为HTPDN信号或LOCKN信号。

其中，第一测试控制信号通常需包含时钟信号及控制数据信号，此时上述第一通道包含有第一子通道及第二子通道。第一SOC21通过第一子通道向时序控制器22传输时钟信号，通过第二子通道传输控制数据信号。例如，在进行老化测试时，若需要调整时序控制器22的时序信号。此时，第一SOC21可以通过第一子通道发送调整时序信号的时钟信号，并通过第二子通道发送时序信号的调整值。

时序控制器22在接收到不同类型的测试信号后，根据第一测试信号生成测试显示信号，生成的测试显示信号包括显示控制信号、显示图像信号、显示侦测表征信号中的至少一种。其中，显示模块的驱动电信号包括显示同步信号、显示时钟信号、灰阶电压信号、共电压信号中的至少一种。当然，测试显示信号还可以包含其他发送至显示模块的信号，本申请对此不作限制。

需要说明的是，第一测试信号中可以包含有显示模块所需的电信号，也可以根据第一测试信号的不同预先设置不同第一测试信号对应的显示模块所需的电信号，本申请对此不作限制。这样一来，时序控制器22可以根据第一测试信号确定出第一电源模块23需为显示模块提供的电信号。

时序控制器22与显示模块间设置有不同的通道，用以传输不同类型的测试显示信号。例如，时序控制器22与显示模块通过data通道传输显示图像信号，通过SPI(SerialPeripheral Interface，串行外设接口)通道传输显示控制信号，并通过LOCKN通道传输侦测表征信号，当然还可以在时序控制器22与显示模块之间设置其他通道传输测试显示信号，本申请对此不作限制。

作为一种可能的实现方式，第一SOC21还用于通过第一通道接收时序控制器22发送的控制响应信号。

作为一种可能的实现方式，时序控制器22可以通过第三通道向第一SOC21传输侦测表征信号。

即为，第一通道及第三通道均为双向传输的通道。时序控制器22向第一SOC21返回控制响应信号时，通过第一通道向第一SOC21发送。时序控制器22也可以向第一SOC21发送侦测表征信号，此时可以通过第三通道向第一SOC21发送。

需要说明的是，在本申请实施例中，侦测表征信号用于第一SOC21与时序控制器22间的信号传输是否异常。在第一SOC21检测出存在异常时，可以将侦测表征信号由第三数值切换为第四数值，通过第三通道传输至时序控制器22。在时序控制器22检测出异常时，可以将侦测表征信号由第三数值切换为第四数值，通过第三通道传输至第一SOC21。在异常消除后，可以将侦测表征信号由第四数值切换回第三数值。

在检测电路启动工作时，第一SOC21将侦测表征信号设置为第三数值，并通过第三通道传输至时序控制器22。这样，第一SOC21及时序控制器22可以实时的侦测是否存在异常信息，且在检测出异常信时，将侦测表征信号由第三数值切换为第四数值，并通过第三通道传输至对端，以告知对端存在异常信息。在异常消除后，可以将侦测表征信号由第四数值切换回第三数值。

作为一种可能的实现方式，如图4所示，上述检测电路还包括：与第一SOC21连接的第一存储模块24。

第一SOC21，用于获取第一测试信息，并将第一测试信息存储至第一存储模块24中；以及响应于测试指令，从第一存储模块24中获取测试指令对应的测试信息并根据所述测试指令对应的测试信息生成第一测试信号，将第一测试信号发送至时序控制器22。

本申请实施例中，用户可以根据实际需求预先设置测试信息，将测试信息传输至第一SOC21。第一SOC21接收到测试信息后，可以将测试信息存储至第一存储模块24中。用户将测试信息传输至第一SOC21时，可以先在外部设备中预先设置测试信息，并触发外部设备将测试信息传输至第一SOC21。此时，外部设备可以通过HDMI(High DefinitionMultimedia Interface，高清多媒体接口)接口或网口或无线通信或其他方式将测试信息传输至第一SOC21。第一SOC21在接收到测试信息时，可以将测试信息存储至第一存储模块24中。测试信息是预先设置的测试的相关信息。第一SOC21在接收到测试指令时，获取该测试指令在测试信息中确定出该测试指令对应的测试信息，进而根据测试指令对应的测试信息生成第一测试信号。例如，在测试信息中记录有测试参数，目标地址，使用的通道等信息，且不同测试指令对应的测试信息可以不同。第一SOC21在接收到测试指令后，可以找到测试指令对应的测试信息，进而根据该测试指令对应的测试信息，根据使用的通道所需的协议格式，将测试信息中的测试参数及目标地址等信息封装为该通道对应的协议格式信号，即为第一测试信号。

在上述方式中，第一存储模块24中存储的测试信息并不是已根据传输通道对应的协议格式要求，封装好的第一测试信号。第一SOC21需要进行自行封装，增加了第一SOC21的工作负载。为了减少第一SOC21的处理负载，可以在外部设备中完成不同指令对应的测试信息的协议封装，生成不同测试指令对应的第一测试信号，此时，检测电路中仅需存储测试信号即可。基于此，上述检测电路，如图5所示，还包括：与第一SOC21连接的第二存储模块25。第二存储模块25中存储有不同的测试指令对应的第一测试信号。第一SOC21，用于响应于测试指令，从第二存储模块25中获取测试指令对应的第一测试信号，将第一测试信号发送至时序控制器22。这样一来，第一SOC21可以在接收到测试指令后，根据测试指令在第二存储模块25存储的第一测试信号中查找出测试指令对应的第一测试信号，第一SOC21可以直接从第二存储模块25中获取到测试指令对应的第一测试信号，并将所一测试信号发送至时序控制器22。

需要说明的是，在第二存储模块25存储了第一测试信号时，第一SOC21在获取了第一测试信号，将第一测试信号传输至时序控制器21时，可以通过检测第一测试信号的协议格式，获知采用哪个通道进行第一测试信号的传输，也可以在测试指令中指示出传输第一测试信号的通道，本申请对此不作限制。

作为一种可能的实现方式，第一SOC21与第一存储模块24或第二存储模块25间通过SPI通道连接。

作为一种可能的实现方式，如图6a所示，上述检测电路还包括：第二电源模块26，第一电源模块23及第一电压转换模块27。

第二电源模块26与第一电压转换模块27的输入端连接；第一电压转换模块27的输出端与第一电源模块23连接；时序控制器22与第一电源模块23连接。

第一电压转换模块27，用于将第二电源模块26提供的第一电压信号转换为第一电源模块23的工作电压信号。

时序控制器22，还用于控制第一电源模块23为显示模块提供电信号。

在本申请实施例中，第一电源模块23用于为显示模块提供电信号。在第一电源模块23可以接收外部电压，将外部电压转换为显示模块提供电信号时，则无需第一电源模块23连接其他供电模块。而在第一电源模块23无法直接连接外部电源时，则需要供电模块为第一电源模块23提供工作电压。此时，检测电路中的第二电源模块26为第一电源模块23提供工作电压。由于第二电源模块26提供的第一电压可能大于或小于第一电源模块23所需的电压，此时，需要第一电压转换模块27进行电压的转换。即为，第一电压转换模块27的输入端与第二电源模块26连接，第一电压转换模块27的输出端与第一电源模块23连接，用于将第二电源模块26提供的第一电压信号转换为第一电源模块23的工作电压信号，提供至第一电源模块23。时序控制器22根据接收的第一测试信号，确定第一电源模块23需输出的电信号，进而控制第一电源模块23输出为显示模块提供的电信号。

作为一种可能的实现方式，由于显示模块在进行图像显示时，至少需要电源电压，公共电压，灰阶(Gamma)电压及公共电压。此时，第一电源模块23需要为显示模块至少提供电源电压，公共电压，灰阶电压及公共电压。因此，第一电源模块23内包含有电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块。由于每个子模块所需的工作电压不同，此时，第一电压转换模块27在将第二电源模块26输出的第一电压信号转换为第一电源模块23的工作电压信号时，是将第二电源模块26输出的第一电压信号分别转换为第一电源模块23内包含的电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块的工作电压。时序控制器22在接收到第一测试信号后，根据第一测试信号可以确定出第一电源模块23的内包含的电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块的需输出的电信号，时序控制器22将确定出的第一电源模块23的内包含的电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块的需输出的电信号发送至第一电源模块23。第一电源模块23接收到时序控制器22发送的第一电源模块23的内包含的电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块的需输出的电信号后，可以根据电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块的需输出的电信号，调整电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块输出的电信号，从而将电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块调整后输出的电信号传输至显示模块，为显示模块供电。

作为一种可能的实现方式，第二电源模块26与第一SOC21集成在一个主板上，这样通过该主板为第一电源模块23供电，无需其他电源。这样第一SOC21所在的主板可以为时序控制器22提供电源信号、控制信号及测试图像信号等信号，如图6b所示。

作为一种可能的实现方式，时序控制器22与第一电源模块23集成在一个主板上。

作为一种可能的实现方式，参考图6a所示，上述检测电路中还包括：第五存储模块28。第五存储模块28与时序控制器22连接，用于存储预先设置的不同第一测试信号对应的第一电源模块23输出的电信号。这样，时序控制器22在接收到测试信号后，可以根据第一测试信号在第五存储模块28中确定出接收的第一测试信号对应的第一电源模块23输出的电信号。

作为一种可能的实现方式，如图7所示，上述检测电路还包括：计数器29。

第一SOC21，还用于在检测到异常信息时，在预设时间段内将时序控制器22的状态信号由第一数值切换为第二数值，并重新向时序控制器22发送异常信息对应的目标信号；目标信号为第一SOC21发送至时序控制器22的信号中的任一信号。

计数器29与第一SOC21连接，用于检测到时序控制器22的状态信号由第一数值切换为第二数值时，更新记录的错误信号发生次数。

其中，第一数值及第二数值是预先设置的数值，例如第一数值为0，第二数值1，或者第一数值为1，第二数值为0，当然还可以是其他数值，本申请对此不作限制。

在本申请实施例中检测电路还可以侦测时序控制器22和/或显示模块的运行状态。在侦测到时序控制器22或显示模块的运行状态存在异常时，例如unlock异常、误码、或者时序控制器22接收的信号为错误信号时，第一SOC21可以检测出存在异常信息。此时，第一SOC21可以通过获取时序控制器22或显示模块的运行状态检测出异常信息，也可以通过时序控制器22或显示模块的上报获取异常信息。第一SOC21在检测出异常信息后，可以在将时序控制器22的状态信号由第一数值切换为第二数值，并重新发送该错误信息对应的正确信号，以使得时序控制器22重新接收该错误信息对应的目标信号。此时，第一SOC21可以将第一侦测表征信号由第三数值切换为第四数值，以告知时序控制器22信号存在异常。计数器29检测时序控制器22的状态信号是否由第一数值切换为第二数值，若检测到时序控制器22的状态信号是否由第一数值切换为第二数值，则更新其内记录的错误信号发生的次数，例如将其内记录的错误信号发生的次数累计1。在时序控制器22重新接收该错误信息对应的目标信号时，若重新接收的目标信号为正确的信号，则向第一SOC21返回响应信号，此时第一SOC21将时序控制器22的状态信号由第二数值切换为第一数值，并继续进行数据的传输。若重新接收的目标信号仍为错误信号，则时序控制器22向第一SOC21重新返回错误信息。

作为一种可能的实现方式，上述计数器29为移位计数器，这样可以更详细的记录错误信息。

这样一来，在显示模块发生错误时，维护人员可以根据计数器内的记录的错误次数检测出当前错误信息是因器件故障原因而产生，还是因其他环境原因而产生，便于维护。

作为一种可能的实现方式，计数器29，还用于在接收到关闭信号时，清除记录的错误信号发生次数。这样计数器可以仅记录当前显示时间内的错误次数，便于维护人员对当前显示时间的错误信息产生的原因进行检测，避免因重复统计而使维护人员无法对当前显示时间错误信息产生的原因进行检测。

作为一种可能的实现方式，时序控制器22，还用于在检测到异常信息时，向第一SOC21返回异常信息。例如，时序控制器22无法解析出接收的目标信号时，则向第一SOC21返回异常信息。

作为一种可能的实现方式，第一SOC21，还用于向时序控制器22发送运行状态获取信号；时序控制器22，还用于响应于运行状态获取信号，获取运行状态信息，向第一SOC21返回所述运行状态信息；第一SOC21，还用于根据运行状态信息检测是否存在异常信息。即为，第一SOC21通过获取时序控制器22的运行状态信息检测时序控制器22的运行状态信息是否存在异常信息。

作为一种可能的实现方式，在检测电路中，还包括状态寄存器30，如图8所示。状态寄存器与第一SOC21连接，第一SOC21可以将时序控制器22的状态信号的数值存储至状态寄存器30中。

作为一种可能的实现方式，第一数值的时序控制器22的状态信号为低电平信号，第二数值的时序控制器22的状态信号为高电平信号。

图9所示为一种检测电路的工作时序图。参考图9所示，检测电路工作时不同工作时序第一SOC21与时序控制器22间的传输信号不同。其中，T1表示电源供电电压的响应能力，要求10％～90％抬升的延迟在0.5～10ms(毫秒)之间。T2表示供电通路启动后，第一SOC21给时序控制器22传输测试图像信号的延迟时间，例如T2不能低于40ms。T3表示第一SOC21发送测试图像信号给到时序控制器22之后，第一SOC21与时序控制器22之间完成数据格式校验并握手成功的等待时间，例如T3不低于640ms。T4表示显示模块内背光单元关闭之后，第一SOC21对时序控制器22持续推送黑画面的时间，避免背光余辉效应导致显示模块的屏幕出现画面显示。例如T4不低于100ms。T5表示第一SOC21结束对时序控制器22发送测试图像信号之后到电源关闭的延迟时间，要求控制在0～50ms之间。T6表示电源供电关闭后，到下一次电源上电，之间必须留出来的保护时间，避免快速下电和快速下电导致其他信号尚未完成关闭或者初始化，导致显示异常。例如，T6不低于1000ms。T7表示电源供电后到LOCKN信号下降沿来临的时间，用以管控上电初始化时长，避免长时间无法开机，导致消费者误认为故障。例如，T7不超过500ms。T8表示图像数据显示后，I2C命令可以传输的相对延迟时间，用以监控I2C稳定传输。例如T8需大于0ms。T9表示I2C命令传输时间，由命令长度和延时决定，一般不会单次使用很长时间。

这样，第一SOC21及时序控制器22可以参考上述工作时序，获取相应的状态信息，进而检测是否存在异常。例如，第一SOC21可以获取第一SOC21与时序控制器22之间完成数据格式校验并握手成功的等待时间，检测是否大于640ms，若大于则确定没有异常。若小于，则确定存在异常。

作为一种可能的实现方式，第一SOC21，还用于获取用户触发的更新指示信息，并根据更新指示信息更新更新指示信息指示的目标数据。

在本申请实施例中，第一SOC21在检测到异常信息时可以将异常信息反馈至用户，用户在获取到异常信息时，可以分析引起该异常的原因，并在需要更新检测电路内的数据时，向检测电路发送更新指示信息。第一SOC21获取用户触发的更新指示信息，并根据该更新指示信息更新该更新指示信息指示的目标数据，以便消除异常信息。例如，预先设置了第一电源模块23与显示模块间的电信号的门限值。此时，可以第一电源模块23可以实时检测第一电源模块23与显示模块间的电流或电压是否超过门限值，若达到了，则第一电源模块23停止为显示模块提供电信号。若没有达到，则继续为显示模块提供电信号。当显示模块发送短路时，则将导致第一电源模块23与显示模块间的电流信号变大，如图10所示，若门限值设置不合理，导致变大后的电流信号并未大于门限值，则第一电源模块23会继续为显示模块提供电信号，则导致显示模块发热。此时，第一SOC21可以检测到显示模块发热异常，并可以将该异常反馈至用户。用户通过分析可以获知是由于电流门限值设置不合理引起的，此时，设置更新电流门限值的更新指示信息，并发送至检测电路。此时第一SOC21在接收到用户触发的更新指示信息时，可以根据该更新指示信息更新存储的电流门限值。

在本申请实施例中，通过第一SOC控制时序控制器发送测试显示信号至显示模块，以便对显示模块中潜在性的故障进行激发。即为，在本申请中，通过使用电子设备中的第一SOC及时序控制器即可对显示模块的潜在性的故障进行激发，无需针对不同的模组设置不同的时序控制器，大大降低了测试成本。

参考图11为本申请实施例提供的另一种检测电路的结构示意图。本申请实施例提供的检测电路应用于电子设备中。本申请实施例与上述实施例间的区别在于将时序控制器的功能集成在第一SOC中实现。如图11所示，该检测电路包括：第二SOC11、第三电源模块12。其中，第二SOC11与第三电源模块12连接。

第二SOC11，用于外接显示模块，响应于测试指令，确定第二测试信号，根据第二测试信号控制第三电源模块12向显示模块提供电信号，并根据第二测试信号生成测试显示信号，将测试显示信号发送至显示模块。

在本申请实施例中，在需要对电子设备进行测试时，可以将第二SOC11外接待测试的显示模块，并且在显示模式进行显示时，需要为其提供电信号。此时，检测电路内包含有第三电压模块12，用以在时第二SOC11的控制下为显示模块提供电信号。

第二SOC11外接显示模块，在接收到用户触发的测试指令时，响应于测试指令确定第二测试信号，并根据第二测试信号控制第三电源模块12为显示模块提供电信号，且根据第二测试信号生成测试显示信号，将测试显示信号发送至显示模块，以便对显示模块进行相应的测试。

在本申请实施例中，第二SOC11如何根据第二测试信号控制第三电源模块12为显示模块提供电信号，可参考上述实施例中的时序控制器22根据第一测试信号控制第一电源模块23为显示模块提供电信号，在此不再赘述。第二SOC11在接收到测试指令后，可以根据测试指令确定到相应的第二测试信号，根据第二测试信号生成显示模式所需数据格式的测试显示信号，将测试显示信号发送至显示模块进行相应的图像信号的显示。其中，第二SOC11如何获取第二测试信号可以参考上述实施例中第一SOC确定第一测试信号的过程，在此不再赘述。

需要说明的是，第二SOC11获取的第二测试信号与传输至显示模块的测试显示信号的协议格式不同，因此在确定出第二测试信号时，需要先将第二测试信号的协议格式转换为显示模块对应的协议格式，得到测试显示信号，从而将测试显示信号发送至显示模块。

作为一种可能的实现方式，第二测试信号包括第二测试图像信号及第二侦测表征信号中的至少一种。

在第二测试信号包括第二测试图像信号时，第二SOC11用于根据第二测试图像信号生成测试显示图像信号，并通过第四通道向显示模块发送测试显示图像信号，如图12所示。或者，

在第二测试信号包括第二侦测表征信号时，第二SOC11用于根据第二侦测表征信号生成测试侦测表征信号，并通过第五通道与显示模块传输测试侦测表征信号，如图12所示。

第二SOC11外接显示模块时，可以向显示模块发送图像数据信号，可以向显示模块发送侦测表征信号。为了方便信号的传输，可以针对不同类型的数据，建立与显示模块间的不同通道，以传输不同类型的信号。基于此，第二测试信号包括第二测试图像信号及第二侦测表征信号中的至少一种。此时，第二SOC11与显示模块间建立有第四通道和/或第五通道。在第二测试信号包括第二测试图像信号时，第二SOC11可以根据第二测试图像信号生成测试显示图像信号，并将测试显示图像信号通过第四通道发送至显示模块。在第二测试信号包括第二侦测表征信号时，可以根据第二侦测表征信号生成测试侦测表征信号，将测试侦测表征信号通过第五通道发送至显示模块。

由于不同通道对应的协议封装格式不同，因此第二SOC11在获取了第二测试信号后，需要根据与显示模块间的传输通道对第二测试信号进行相应的协议封装，得到测试显示信号。而不同的第二测试信号需使用哪些通道进行传输可以是预先设置的，第二SOC11可以在获取了第二测试信号后，根据预设的信息可以确定出相应的传输通道，进而对第二测试信号进行相应的协议封装得到对应的测试显示信号。通过对应的传输通道将测试显示信号传输至显示模块。

作为增益可能的实现方式，如图13所示，上述检测电路还包括：第四电源模块13及第二电源转换模块14。其中，第二电压转换模块14的输入端与第四电源模块13连接，第二电压转换模块14的输出端与第三电源模块12连接。

第二电压转换模块14，用于将第四电源模块13提供的第二电压信号转换为第三电源模块12的工作电压。

在本申请实施例中，第四电源模块13用于为第三电源模块12提供工作电压。由于第三电源模块12的工作电压与第四电源模块13提供的电压信号不同，因此设置有第二电压转换模块14。第二电压转换模块14的输入端与第四电源模块13连接，第二电压转换模块14的输出端与第三电源模块12连接。第二电压转换模块将第四电源模块13提供的第二电压信号转换为第三电源模块12的工作电压。

作为一种可能的实现方式，如图14a所示，上述检测电路还包括：与第二SOC11连接的第三存储模块15。

第二SOC11，用于获取测试信息，并将测试信息存储至第三存储模块15中；以及响应于测试指令，从第三存储模块15中获取测试指令对应的测试信息并根据测试指令对应的测试信息生成第二测试信号。

在本申请实施例中，在第三存储模块15存储测试信息时，需要第二SOC11生成第二测试信号，可参考第一SOC21根据测试信息生成第二测试信号，在此不再赘述。

作为一种可能的实现方式，如图14b所示，上述检测电路还包括：与第二SOC11连接的第四存储模块16；第四存储模块16用于存储第二测试信号。第二SOC11，用于响应于测试指令，在第四存储模块中获取测试指令对应的第二测试信号。

此时，第二SOC11可以直接从第四存储模块16中获取到测试指令对应的第二测试信号，无需自己生成第二测试信号，降低了第二SOC11的工作负载。

作为一种可能的实现方式，由于第二SOC11需控制第三电源模块12为显示模块提供电信号，因此，第二测试信号还包括：第二测试控制信号。

在第二测试信号包括第二测试控制信号时，第二SOC11用于通过第六通道向第三电源模块12发送第二测试控制信号；第三电源模块12用于根据第二测试控制信号向显示模块提供电信号。

在本申请实施例中，第二SOC11需向第三电源模块12发送控制信号，因此在第二SOC11与第三电源模块12间建立有第六通道，如图15所示。测试信号中包含有第二测试控制信号，第二测试控制信号用于指示出第三电源模块12需为显示模块提供的电信号的大小。例如，在第三电源模块12包含有电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块，此时第二测试控制信号需指示出第三电源模块12内包含的电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块各自需提供的电信号的大小。第二SOC12将第二测试控制信号同第六通道发送至第三电源模块12，第三电源模块12根据第二测试控制信号控制其内的电源电压子模块，公共电压子模块，灰阶电压子模块及公共电压子模块提供对应的电信号，并传输至显示模块。

在上述实现方式中，第二SOC11需要向先从第三存储模块15或第四存储模块16中获取第二控制测试信号，在将第二控制测试信号发送至第三电源模块12，操作复杂。将为了降低操作的复杂性，可以使第三电源模块12直接从存储模块中获取第二测试控制信号。基于此，作为一种可能的实现方式，第二测试信号还包括：第二测试控制信号；第三电源模块12与第四存储模块16连接，如图16所示；在第二测试信号包括第二测试控制信号时，第三电源模块12用于在第四存储模块16中获取第二测试控制信号，并根据第二测试控制信号向显示模块提供电信号。

即为，在第四存储模块16中直接存储了测试信号时，第二SOC11可以向第四存储模块16发送第二控制信号的读取指令，以便第二SOC11读取出第二测试控制信号。第三电源模块12与第四存储模块16间建立连接，此时，第三电源模块12可以直接从第四存储模块16中获取第二测试控制信号，并根据第二测试控制信号向显示模块提供电信号，无需通过第二SOC11发送第二测试控制信号。

作为一种可能的实现方式，第二SOC11，还用于获取用户触发的更新指示信息，并根据更新指示信息更新更新指示信息指示的目标数据。

具体可参数上述实施例中第一SOC21获取用户触发的更新指示信息，并根据更新指示信息更新更新指示信息指示的目标数据，在此不再赘述。

与上述实施例相对应，本申请还提供了一种电子设备，包括上述实施例所述的检测电路及显示模块。

作为一种可能的实现方式，上述电子设备还包括音频模块、电源模块、摄像模块、结构支撑模块等。

作为一种可能的实现方式，在检测电路工作时，电子设备处于在线工作模式。其中，电子设备处于在线工作模式是指电子设备处于带电工作模式。

本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明实施例中的技术可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明实施例中的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

本说明书中各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。尤其，对于装置实施例和终端实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例中的说明即可。

Claims (20)

1.一种检测电路，其特征在于，应用于电子设备，所述检测电路包括：第一系统级芯片SOC、时序控制器及第一电源模块；

所述第一SOC与所述时序控制器连接，所述第一SOC用于响应于测试指令，将第一测试信号发送至所述时序控制器；

所述第一电源模块与所述时序控制器连接；所述时序控制器，用于外接显示模块，根据所述第一测试信号控制所述第一电源模块为所述显示模块提供电信号，并根据所述第一测试信号生成测试显示信号，将所述测试显示信号发送至所述显示模块。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一测试信号包括第一测试控制信号、第一测试图像信号及第一侦测表征信号中的至少一种；

在所述第一测试信号包括第一测试控制信号时，所述第一SOC用于通过第一通道与所述时序控制器传输所述第一测试控制信号；或者，

在所述第一测试信号包括第一测试图像信号时，所述第一SOC用于通过第二通道向所述时序控制器发送所述第一测试图像信号；或者，

在所述测试信号包括第一侦测表征信号时，所述第一SOC用于通过第三通道与所述时序控制器传输所述第一侦测表征信号。

3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，

所述第一SOC还用于通过所述第一通道接收所述时序控制器发送的控制响应信号。

4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括：第二电源模块及第一电压转换模块；

所述第二电源模块与所述第一电压转换模块的输入端连接；所述第一电压转换模块的输出端与所述第一电源模块连接；

所述第一电压转换模块，用于将所述第一电源模块提供的第一电压信号转换为所述第二电源模块的工作电压信号。

5.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括：与所述第一SOC连接的第一存储模块；

所述第一SOC，用于获取测试信息，并将所述测试信息存储至所述第一存储模块中；以及响应于测试指令，从所述第一存储模块中获取所述测试指令对应的测试信息并根据所述测试指令对应的测试信息生成第一测试信号，将所述第一测试信号发送至所述时序控制器。

6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括：与所述第一SOC连接的第二存储模块；所述第二存储模块用于存储所述第一测试信号；

所述第一SOC，用于响应于测试指令，在所述第二存储模块中获取所述测试指令对应的第一测试信号，将所述第一测试信号发送至所述时序控制器。

7.根据权利要求1-6任一项所述的检测电路，其特征在于，还包括：计数器；

所述第一SOC，还用于在检测到异常信息时，将所述时序控制器的状态信号由第一数值切换为第二数值，并重新向所述时序控制器发送所述异常信息对应的目标信号；所述目标信号为所述第一SOC发送至所述时序控制器的信号中的任一信号；

所述计数器与所述第一SOC连接，用于检测到所述时序控制器的状态信号由第一数值切换为第二数值时，更新记录的错误信号发生次数。

8.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，

所述计数器，还用于在接收到关闭信号时，清除记录的错误信号发生次数。

9.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，

所述时序控制器，还用于在检测到异常信息时，向所述第一SOC返回所述异常信息。

10.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，

所述第一SOC，还用于向所述时序控制器发送运行状态获取信号；

所述时序控制器，还用于响应于运行状态获取信号，获取运行状态信息，向所述第一SOC返回所述运行状态信息；

所述第一SOC，还用于根据所述运行状态信息检测是否存在异常信息。

11.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，还包括：

所述第一SOC，还用于获取用户触发的更新指示信息，并根据所述更新指示信息更新所述更新指示信息指示的目标数据。

12.一种检测电路，其特征在于，应用于电子设备，所述检测电路包括：第二系统级芯片SOC、第三电源模块；其中，所述第二SOC与所述第三电源模块连接；

所述第二SOC，用于外接显示模块，响应于测试指令，确定第二测试信号，根据所述第二测试信号控制所述第三电源模块向所述显示模块提供电信号，并根据所述第二测试信号生成第二测试显示信号，将所述第二测试显示信号发送至所述显示模块。

13.根据权利要求12所述的检测电路，其特征在于，所述第二测试信号包括第二测试图像信号及第二侦测表征信号中的至少一种；

在所述测试信号包括第二测试图像信号时，所述第二SOC用于根据所述第二测试图像信号生成测试显示图像信号，并通过第四通道向所述显示模块发送所述测试显示图像信号；或者，

在所述第二测试信号包括第二侦测表征信号时，所述第二SOC用于根据所述第二侦测表征信号生成测试侦测表征信号，并通过第五通道与所述显示模块传输所述测试侦测表征信号。

14.根据权利要求12所述的检测电路，其特征在于，还包括：第四电源模块及第二电压转换模块；所述第二电压转换模块的输入端与所述第四电源模块连接，所述第二电压转换模块的输出端与所述第三电源模块；

所述第二电压转换模块，用于将第四电源模块提供的第二电压信号转换为第三电源模块的工作电压。

15.根据权利要求12所述的检测电路，其特征在于，还包括：与所述第二SOC连接的第三存储模块；

所述第二SOC，用于获取测试信息，并将所述测试信息存储至所述第三存储模块中；以及响应于测试指令，从所述第三存储模块中获取所述测试指令对应的测试信息并根据所述测试指令对应的测试信息生成第二测试信号。

16.根据权利要求12所述的检测电路，其特征在于，还包括：与所述第二SOC连接的第四存储模块；所述第四存储模块用于存储所述第二测试信号；

所述第二SOC，用于响应于测试指令，在所述第四存储模块中获取所述测试指令对应的第二测试信号。

17.根据权利要求12-16任一项所述的检测电路，其特征在于，所述第二测试信号还包括：第二测试控制信号；

在所述第二测试信号包括第二测试控制信号时，所述第二SOC用于通过第六通道向所述第四电源模块发送所述第二测试控制信号；所述第四电源模块用于根据所述第二测试控制信号向所述显示模块提供电信号。

18.根据权利要求16所述的检测电路，其特征在于，所述第二测试信号还包括：第二测试控制信号；第三电源模块与所述第四存储模块连接；

在所述第二测试信号包括第二测试控制信号时，所述第三电源模块用于在所述第四存储模块中获取所述第二测试控制信号，并根据所述第二测试控制信号向所述显示模块提供电信号。

19.根据权利要求12所述的检测电路，其特征在于，

所述第二SOC，还用于获取用户触发的更新指示信息，并根据所述更新指示信息更新所述更新指示信息指示的目标数据。

20.一种电子设备，其特征在于，包括显示模块及权利要求1-11任一项或12-19任一项所述的检测电路。