CN116930556A - 用于电气部件测试的插座 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括：插座本体，插座本体的内部设置有第一探针收纳部和第二探针收纳部，第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，插座本体的底部设置有凹槽，凹槽与第二探针收纳部连通，凹槽的槽壁设置有第二导电层；接触探针，接触探针包括接地探针和信号探针，接地探针收纳于第一探针收纳部，信号探针收纳于第二探针收纳部，信号探针与第二导电层之间设置有间距；基板，基板设置在插座本体的底部，基板包括绝缘层和第一贯穿电极，第一贯穿电极的一端与信号探针的第一端接触，第一贯穿电极在靠近插座本体的一侧设置有容纳区域，容纳区域用于容纳信号探针的第一端。

Description

用于电气部件测试的插座

技术领域

本申请涉及电气部件测试技术领域，特别涉及一种用于电气部件测试的插座。

背景技术

在例如IC(Integrated Circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其进行性能测试。该测试设备一般包括与另一电气部件(例如布线基板)电性连接的插座。

相关技术中的一种插座，包括插座主体和接触探针，其中，插座主体上形成有可容纳第一电气部件的容纳部，另外，插座主体上还形成有探针收纳孔，接触探针收纳于探针收纳孔。接触探针为金属材质，接触探针的一端用于与第一电气部件接触，另一端用于与第二电气部件接触，从而建立起第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。

接触探针分为接地探针和信号探针，在收纳接地探针的探针收纳孔的孔壁设置有导电层，接地探针与导电层连接并接地。信号探针用于传递测试信号，信号探针与插座主体的接触部分为绝缘材料，以防止产生泄漏电流。但是导电层会对信号探针的高频特性产生一定的影响，信号探针与接地探针之间设置有一定的距离，使得信号探针与导电层之间距离较大，进而导致信号探针的高频特性不太理想，电气测试的可靠性较差。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种用于电气部件测试的插座，以改善信号探针的高频特性。具体技术方案如下：

本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括插座本体，所述插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，所述第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，所述插座本体的底部设置有凹槽，所述凹槽与所述第二探针收纳部连通，所述凹槽的槽壁设置有第二导电层；接触探针，所述接触探针包括接地探针以及信号探针，所述接地探针收纳于所述第一探针收纳部，所述信号探针收纳于所述第二探针收纳部，所述信号探针与所述第二导电层之间设置有间距；基板，所述基板设置在所述插座本体的底部，所述基板包括绝缘层以及安装在所述绝缘层上的第一贯穿电极，所述第一贯穿电极的一端与所述信号探针的第一端接触，所述第一贯穿电极在靠近所述插座本体的一侧设置有容纳区域，所述容纳区域用于容纳所述信号探针的第一端。

在本申请实施例中，插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，其中，第一探针收纳部用于容纳接地探针，第二探针收纳部用于容纳信号探针，第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，接地探针与第一导电层接触并接地。插座本体的底部设置有凹槽，第二探针收纳部与凹槽连通，使得信号探针的一部分位于第二探针收纳部，另一部分位于凹槽内。凹槽的槽壁设置有第二导电层，信号探针与第二导电层之间设置有间距，以避免产生泄漏电流。与第一导电层相比较，通过在凹槽的槽壁设置第二导电层，使第二导电层与信号探针的距离较小，进而在电气测试过程中，改善信号探针的高频特性，提高电气测试的可靠性。

另外，在上述结构中，第二探针收纳部与凹槽连通，意味着第二探针收纳部的长度缩短，由于第二探针收纳部用于对信号探针的轴向移动起导向作用，第二探针收纳部的长度缩短，使得第二探针收纳部对信号探针的导向作用减弱，从而导致信号探针的第一端容易歪斜。为了减少在改善信号探针的高频特性时所出现的信号探针容易歪斜的情况，在本申请实施例中，插座本体还包括基板，基板包括绝缘层以及安装在绝缘层上的第一贯穿电极，第一贯穿电极的一端与信号探针的第一端接触，利用第一贯穿电极的导电性能，实现信号探针与第二电气部件的电性连接。第一贯穿电极固定在绝缘层上，以防止产生泄漏电流。第一贯穿电极在靠近插座本体的一侧设置有容纳区域，容纳区域用于容纳信号探针的第一端，通过设置容纳区域对信号探针的第一端的移动范围进行限定，从而使信号探针处于较理想的竖直状态，减少在改善信号探针的高频特性时所出现的信号探针容易歪斜的情况，提高电气测试的可靠性。

在本申请的一些实施例中，所述第一贯穿电极包括第一接触部、第二接触部以及导电连接体，所述导电连接体穿设所述绝缘层，所述第一接触部设置在所述导电连接体的靠近所述插座本体的一侧，所述第二接触部设置在所述导电连接体的远离所述插座本体的一侧。

在本申请的一些实施例中，所述第一接触部包括第一平板以及设置在所述第一平板上的凸起，所述第一平板用于与所述信号探针接触，所述凸起设置有多个，各所述凸起到所述信号探针的距离相等，所述容纳区域由多个所述凸起的靠近所述信号探针的一侧围成。

在本申请的一些实施例中，所述凸起的靠近所述信号探针的一侧的形状与所述信号探针的端部的形状相适配。

在本申请的一些实施例中，所述第一接触部包括第一平板，所述第一平板上设置有限位槽，所述容纳区域由所述限位槽构成。

在本申请的一些实施例中，所述限位槽贯穿所述第一平板且延伸至所述导电连接体。

在本申请的一些实施例中，所述限位槽贯穿所述第一平板、所述导电连接体以及所述第二接触部，以使所述信号探针直接与第二电气部件接触。

在本申请的一些实施例中，所述基板还包括安装在所述绝缘层上的第二贯穿电极，所述第二贯穿电极的一端与所述接地探针的第一端接触。

在本申请的一些实施例中，所述第二贯穿电极在靠近所述插座本体的一侧设置有容纳区域，所述容纳区域用于容纳所述接地探针的第一端。

在本申请的一些实施例中，所述插座本体包括第一本体部和第二本体部，所述第一本体部位于所述插座本体的上部，所述第二本体部位于所述插座本体的下部，所述凹槽位于所述第二本体部且贯穿所述第二本体部，所述第一探针收纳部贯穿所述第一本体部与所述第二本体部，所述第二探针收纳部贯穿所述第一本体部。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的实施例。

图1为本申请实施例的插座的结构示意图；

图2为本申请一种实施例的插座的剖视图；

图3为图2的A部分的放大图；

图4为本申请另一种实施例的插座的剖视图；

图5为图4的B部分的放大图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员基于本申请所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

如背景技术中描述，在相关技术中，接触探针分为接地探针和信号探针，在收纳接地探针的探针收纳孔的孔壁设置有导电层，接地探针与导电层连接并接地。信号探针用于传递测试信号，信号探针与插座本体的接触部分为绝缘材料，以防止产生泄漏电流。但是导电层会对信号探针的高频特性产生一定的影响，信号探针与接地探针之间设置有一定的距离，使得信号探针与导电层之间距离较大，进而导致信号探针的高频特性不太理想。

针对该技术问题，本申请实施例提出了一种用于电气部件测试的插座，以改善信号探针的高频特性，从而提高电气测试的可靠性。

在本申请实施例中，电气部件包括但不限于IC封装体或半导体封装体。在一些实施例中，IC封装体例如为BGA(Ball Grid Array，球珊阵列封装体)，该BGA的下表面具有呈格子状排列、并朝下突出的多个球状端子。在进行电气测试时，将BGA置于插座主体的接触收纳部，使多个球状端子与接触收纳部电性接触，进而通过接触探针实现与第二电气部件(如布线基板)的电性连接。在此状态下，可开展对BGA的性能测试。其中，性能测试的内容包括但不限于电气性能测试(如电压、电流、频率等方面的测试)及电气可靠性测试(如抗磁、抗静电、抗干扰等方面的测试)等。

如图1至图5所示，本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座10，插座10包括插座本体100、接触探针200以及基板300。其中，插座本体100的内部设置有第一探针收纳部101以及第二探针收纳部102，第一探针收纳部101的内壁设置有第一导电层104，插座本体100的底部设置有凹槽103，凹槽103与第二探针收纳部102连通，凹槽103的槽壁设置有第二导电层107。接触探针200包括接地探针220以及信号探针210，接地探针220收纳于第一探针收纳部101，信号探针210收纳于第二探针收纳部102，信号探针210与第二导电层107之间设置有间距；基板300设置在插座本体100的底部，基板300包括绝缘层320以及安装在绝缘层320上的第一贯穿电极310，第一贯穿电极310的一端与信号探针210的第一端211接触，第一贯穿电极310在靠近插座本体100的一侧设置有容纳区域，容纳区域用于容纳信号探针210的第一端211。

在本申请实施例中，插座本体100的内部设置有第一探针收纳部101以及第二探针收纳部102，其中，第一探针收纳部101用于容纳接地探针220，第二探针收纳部102用于容纳信号探针210，第一探针收纳部101的内壁设置有第一导电层104，接地探针220与第一导电层104接触并接地。插座本体100的底部设置有凹槽103，第二探针收纳部102与凹槽103连通，使得信号探针210的一部分位于第二探针收纳部102，另一部分位于凹槽103内。凹槽103的槽壁设置有第二导电层107，信号探针210与第二导电层107之间设置有间距，以避免产生泄漏电流。与第一导电层104相比较，通过在凹槽103的槽壁设置第二导电层107，使第二导电层107与信号探针210的距离较小，进而在电气测试过程中，改善信号探针210的高频特性，提高电气测试的可靠性。

另外，在上述结构中，第二探针收纳部102与凹槽103连通，意味着第二探针收纳部102的长度缩短，由于第二探针收纳部102用于对信号探针210的轴向移动起导向作用，第二探针收纳部102的长度缩短，使得第二探针收纳部102对信号探针210的导向作用减弱，从而导致信号探针210的第一端211容易歪斜。为了减少在改善信号探针210的高频特性时所出现的信号探针210容易歪斜的情况，在本申请实施例中，插座本体100还包括基板300，基板300包括绝缘层320以及安装在绝缘层320上的第一贯穿电极310，第一贯穿电极310的一端与信号探针210的第一端211接触，利用第一贯穿电极310的导电性能，实现信号探针210与第二电气部件的电性连接。第一贯穿电极310固定在绝缘层320上，以防止产生泄漏电流。第一贯穿电极310在靠近插座本体100的一侧设置有容纳区域，容纳区域用于容纳信号探针210的第一端211，通过设置容纳区域对信号探针210的第一端211的移动范围进行限定，从而使信号探针210处于较理想的竖直状态，减少在改善信号探针210的高频特性时所出现的信号探针210容易歪斜的情况，提高电气测试的可靠性。

需要说明的是，插座本体100的底部是指插座本体100的用于与第二电气部件(例如布线基板)接触的一端。第一探针收纳部101和第二探针收纳部102分别为形成于插座本体100内部的中空结构，第一探针收纳部101用于为接地探针220提供容纳空间，第二探针收纳部102用于为信号探针210提供容纳空间。具体地，第一探针收纳部101和第二探针收纳部102可以为形成于插座本体100内部的收纳孔或者收纳槽。基板300可以是柔性板或者刚性板。

在本申请的一些实施例中，第一贯穿电极310包括第一接触部311、第二接触部312以及导电连接体313，导电连接体313穿设绝缘层320，第一接触部311设置在导电连接体313的靠近插座本体100的一侧，第二接触部312设置在导电连接体313的远离插座本体100的一侧。在本申请实施例中，通过设置导电连接体313，方便第一贯穿电极310与绝缘层320的安装；通过在导电连接体313的远离插座本体100的一端设置第一接触部311，使第一接触部311与信号探针210接触；通过在导电连接体313的靠近插座本体100的一端设置第二接触部312，使第二接触部312与第二电气部件接触，从而实现信号探针210与第二电气部件的电性连接。可以理解的是，第一贯穿电极310的第一接触部311、第二接触部312以及导电连接体313均由导电材料制成。优选地，第一贯穿电极310的第一接触部311、第二接触部312以及导电连接体313均由铜制成，且第一接触部311以及第二接触部312的表面设置有镀金层或者镀镍层。

在本申请的一些实施例中，第一接触部311包括第一平板3111以及设置在第一平板3111上的凸起3112，第一平板3111用于与信号探针210接触，凸起3112设置有多个，各凸起3112到信号探针210的距离相等，容纳区域由多个凸起3112的靠近信号探针210的一侧围成。在本申请实施例中，信号探针210通过与第一平板3111接触从而实现信号探针210与第一贯穿电极310的连接。信号探针210的第一端211被容纳在多个凸起3112所围成的容纳区域内，由此，信号探针210的第一端211被限制在容纳区域内，从而减少信号探针210的倾斜现象，提高电气测试的可靠性。

如图2和图3所示，在本申请的一些实施例中，凸起3112的靠近信号探针210的一侧的形状与信号探针210的第一端211的形状相适配。由此，可以加强容纳区域对于信号探针210的第一端211的限定作用，使信号探针210保持理想的竖直状态。在一个具体的实施例中，信号探针210的第一端211的端部为台体，凸起3112的靠近信号探针210的一侧的形状为斜面，凸起3112的斜面与台体的侧面相适配，从而进一步限制信号探针210的第一端211在容纳区域内的移动，使信号探针210保持理想的竖直状态。

在本申请的一些实施例中，凸起3112为椎体、柱体或台体。由此，凸起3112形状规则，方便加工。

在本申请的一些实施例中，凸起3112的数量为两个、三个或者更多。

如图4和图5所示，在本申请的另外一些实施例中，第一接触部311包括第一平板3111，第一平板3111上设置有限位槽314，容纳区域由限位槽314构成。在本申请实施例中，通过在第一平板3111上设置限位槽314，并使信号探针210的第一端211位于限位槽314内，从而实现信号探针210与第一贯穿电极310的连接。通过限位槽314限制信号探针210的第一端211的移动范围，从而改善信号探针210的歪斜情况，提高电气测试的可靠性。

在本申请的一些实施例中，限位槽314贯穿第一平板3111且延伸至导电连接体313。由此，限位槽314在信号探针210的轴线方向的尺寸较大，可以进一步加强限位槽314对信号探针210的第一端211的限制作用。

在本申请的另外一些实施例中，限位槽314贯穿第一平板3111、导电连接体313以及第二接触部312，以使信号探针210直接与第二电气部件接触。由此，在第一贯穿电极310的尺寸较小的情况下，增大限位槽314在信号探针210的轴线方向的尺寸，保证限位槽314对信号探针210的第一端211的限制作用。另外，限位槽314贯穿第一平板3111、导电连接体313以及第二接触部312，使限位槽314加工方便。可以理解的是，由于信号探针210直接与第二电气部件接触，因此，第二电气部件与信号探针210接触的部分不设孔位，以避免信号探针210的下垂。

如图2至图5所示，在本申请的一些实施例中，基板300还包括安装在绝缘层320上的第二贯穿电极330，第二贯穿电极330的一端与接地探针220的第一端221接触。由此，通过利用第二贯穿电极330的导电性能，实现接地探针220与第二电气部件的电性连接。

如图2至图5所示，在本申请的一些实施例中，第二贯穿电极330在靠近插座本体100的一侧设置有容纳区域，容纳区域用于容纳接地探针220的第一端221。在本申请实施例中，通过设置容纳区域对接地探针220的第一端221的移动范围进行限定，从而使接地探针220处于较理想的竖直状态。

进一步地，第二贯穿电极330与第一贯穿电极310的结构相同。由此，方便第一贯穿电极310以及第二贯穿电极330的加工，降低加工成本，也方便第一贯穿电极310以及第二贯穿电极330与基板300的固定。

在本申请的一些实施例中，插座本体100包括第一本体部105和第二本体部106，第一本体部105位于插座本体100的上部，第二本体部106位于插座本体100的下部，凹槽103位于第二本体部106且贯穿第二本体部106，第一探针收纳部101贯穿第一本体部105与第二本体部106，第二探针收纳部102贯穿第一本体部105。在本申请实施例中，通过设置第一本体部105和第二本体部106，使凹槽103位于第二本体部106且贯穿第二本体部106，从而方便凹槽103的加工；使第二探针收纳部102贯穿第一本体部105，从而方便第二探针收纳部102的加工，最终使整个插座本体100的加工制造更加简单。

在本申请的一些实施例中，第二接触部312包括第二平板。通过第一平板3111和第二平板对绝缘层320的夹持作用，使第一贯穿电极310可以稳固地安装在绝缘层320上。

在本申请的一些实施例中，第一接触部311、第二接触部312以及导电连接体313为一体式结构。由此，既可以减少装配零件的数量，方便第一贯穿电极310的装配，又使第一贯穿电极310的结构稳定，保证信号探针210与第二电气部件的电性连接效果。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种用于电气部件测试的插座，其特征在于，包括：

插座本体，所述插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，所述第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，所述插座本体的底部设置有凹槽，所述凹槽与所述第二探针收纳部连通，所述凹槽的槽壁设置有第二导电层；

接触探针，所述接触探针包括接地探针以及信号探针，所述接地探针收纳于所述第一探针收纳部，所述信号探针收纳于所述第二探针收纳部，所述信号探针与所述第二导电层之间设置有间距；

基板，所述基板设置在所述插座本体的底部，所述基板包括绝缘层以及安装在所述绝缘层上的第一贯穿电极，所述第一贯穿电极的一端与所述信号探针的第一端接触，所述第一贯穿电极在靠近所述插座本体的一侧设置有容纳区域，所述容纳区域用于容纳所述信号探针的第一端。

2.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第一贯穿电极包括第一接触部、第二接触部以及导电连接体，所述导电连接体穿设所述绝缘层，所述第一接触部设置在所述导电连接体的靠近所述插座本体的一侧，所述第二接触部设置在所述导电连接体的远离所述插座本体的一侧。

3.根据权利要求2所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第一接触部包括第一平板以及设置在所述第一平板上的凸起，所述第一平板用于与所述信号探针接触，所述凸起设置有多个，各所述凸起到所述信号探针的距离相等，所述容纳区域由多个所述凸起的靠近所述信号探针的一侧围成。

4.根据权利要求3所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述凸起的靠近所述信号探针的一侧的形状与所述信号探针的第一端的形状相适配。

5.根据权利要求2所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第一接触部包括第一平板，所述第一平板上设置有限位槽，所述容纳区域由所述限位槽构成。

6.根据权利要求5所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述限位槽贯穿所述第一平板且延伸至所述导电连接体。

7.根据权利要求5所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述限位槽贯穿所述第一平板、所述导电连接体以及所述第二接触部，以使所述信号探针直接与第二电气部件接触。

8.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述基板还包括安装在所述绝缘层上的第二贯穿电极，所述第二贯穿电极的一端与所述接地探针的第一端接触。

9.根据权利要求8所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第二贯穿电极在靠近所述插座本体的一侧设置有容纳区域，所述容纳区域用于容纳所述接地探针的第一端。

10.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述插座本体包括第一本体部和第二本体部，所述第一本体部位于所述插座本体的上部，所述第二本体部位于所述插座本体的下部，所述凹槽位于所述第二本体部且贯穿所述第二本体部，所述第一探针收纳部贯穿所述第一本体部与所述第二本体部，所述第二探针收纳部贯穿所述第一本体部。