CN116937219A - 用于电气部件测试的插座 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括：插座本体，插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，插座本体的底部设置有凹槽，凹槽与第二探针收纳部连通，凹槽的槽壁设置有第二导电层，信号探针与第二导电层之间设置有间距；接触探针，接触探针包括接地探针以及信号探针，接地探针收纳于第一探针收纳部，信号探针收纳于第二探针收纳部；导向件，导向件固定安装于插座本体，导向件上设置有导向部，导向部用于对信号探针进行导向。在本申请实施例中，通过在凹槽的槽壁设置第二导电层，使第二导电层与信号探针的距离较小，进而改善信号探针的高频特性。

Description

用于电气部件测试的插座

技术领域

本申请涉及电气部件测试技术领域，特别涉及一种用于电气部件测试的插座。

背景技术

在例如IC(Integrated Circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其进行性能测试。该测试设备一般包括与另一电气部件(例如布线基板)电性连接的插座。

相关技术中的一种插座，包括插座主体和接触探针，其中，插座主体上形成有可容纳第一电气部件的容纳部，另外，插座主体上还形成有探针收纳孔，接触探针收纳于探针收纳孔。接触探针为金属材质，接触探针的一端用于与第一电气部件接触，另一端用于与第二电气部件接触，从而建立起第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。

接触探针分为接地探针和信号探针，在收纳接地探针的探针收纳孔的孔壁设置有导电层，接地探针与导电层连接并接地。信号探针用于传递测试信号，信号探针与插座主体的接触部分为绝缘材料，以防止产生泄漏电流。但是导电层会对信号探针的高频特性产生一定的影响，信号探针与接地探针之间设置有一定的距离，使得信号探针与导电层之间距离较大，进而导致信号探针的高频特性不太理想，电气测试的可靠性较差。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种用于电气部件测试的插座，以改善信号探针的高频特性，从而提高电气测试的可靠性。具体技术方案如下：

本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括：插座本体，所述插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，所述第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，所述插座本体的底部设置有凹槽，所述凹槽与所述第二探针收纳部连通，所述凹槽的槽壁设置有第二导电层；接触探针，所述接触探针包括接地探针以及信号探针，所述接地探针收纳于所述第一探针收纳部，所述信号探针收纳于所述第二探针收纳部，所述信号探针与所述第二导电层之间设置有间距；导向件，所述导向件固定安装于所述插座本体，所述导向件上设置有导向部，所述导向部用于对所述信号探针进行导向。

在本申请实施例中，插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，其中，第一探针收纳部用于容纳接地探针，第二探针收纳部用于容纳信号探针，第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，接地探针与第一导电层接触并接地。插座本体的底部设置有凹槽，第二探针收纳部与凹槽连通，使得信号探针的一部分位于第二探针收纳部，另一部分位于凹槽内。凹槽的槽壁设置有第二导电层，信号探针与第二导电层之间设置有间距，以避免产生泄漏电流。与第一导电层相比较，通过在凹槽的槽壁设置第二导电层，使第二导电层与信号探针的距离较小，进而在电气测试过程中，改善信号探针的高频特性，提高电气测试的可靠性。另外，在上述结构中，第二探针收纳部与凹槽连通，意味着第二探针收纳部的长度缩短，由于第二探针收纳部用于对信号探针的轴向移动起导向作用，第二探针收纳部的长度缩短，使得第二探针收纳部对信号探针的导向作用减弱，从而导致信号探针的靠近第二电气部件的一端容易歪斜。为了减少在改善信号探针的高频特性时所出现的信号探针容易歪斜的情况，在本申请实施例中，插座本体还包括导向件，导向件固定安装于插座本体，导向件上设置有导向部，导向部对信号探针起导向作用。通过导向部的导向作用与第二探针收纳部的导向作用相配合，有效减少在改善信号探针的高频特性时所出现的信号探针容易歪斜的情况。

另外，根据本申请实施例的用于电气部件测试的插座，还可具有如下附加的技术特征：

在本申请的一些实施例中，所述插座本体包括第一本体部和第二本体部，所述第一本体部位于所述插座本体的上部，所述第二本体部位于所述插座本体的下部，所述凹槽位于所述第二本体部且贯穿所述第二本体部，所述第一探针收纳部贯穿所述第一本体部与所述第二本体部，所述第二探针收纳部贯穿所述第一本体部。

在本申请的一些实施例中，所述信号探针包括管状结构以及柱塞，所述管状结构的内部形成有容纳腔，所述管状结构的第一端用于与第一电气部件接触，所述柱塞以可滑动的方式与所述管状结构连接，所述柱塞从所述管状结构的第二端伸出，所述柱塞用于与第二电气部件接触。

在本申请的一些实施例中，所述导向件为绝缘板，所述导向件固定在所述插座本体的底部，所述导向部为导向孔，所述导向孔用于供所述信号探针的柱塞穿过。

在本申请的一些实施例中，所述导向件上设置有多个导向孔，所述接地探针与所述信号探针的结构相同，所述导向孔还用于供所述接地探针的柱塞穿过。

在本申请的一些实施例中，所述导向件的表面设置有用于与所述接地探针以及所述第二导电层电连接的镀层。

在本申请的一些实施例中，所述导向孔与所述信号探针的管状结构的第二端止挡配合。

在本申请的一些实施例中，所述导向件固定在所述凹槽内，所述导向件为绝缘块，所述导向部为导向孔，所述导向孔用于供所述信号探针的管状结构通过。

在本申请的一些实施例中，一个所述导向件上设置有多个导向孔，所述多个导向孔用于供多个所述信号探针的管状结构通过。

在本申请的一些实施例中，所述信号探针的管状结构上设置有凸起，所述凸起用于与所述导向孔止挡配合。

当然，实施本申请的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的实施例。

图1为本申请实施例的插座的结构示意图；

图2为本申请一种实施例的插座的剖面示意图；

图3为本申请另一种实施例的插座的剖面示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员基于本申请所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

如背景技术中描述，在相关技术中，接触探针分为接地探针和信号探针，在收纳接地探针的探针收纳孔的孔壁设置有导电层，接地探针与导电层连接并接地。信号探针用于传递测试信号，信号探针与插座本体的接触部分为绝缘材料，以防止测试信号间产生漏电流现象。但是导电层会对信号探针的高频特性产生一定的影响，信号探针与接地探针之间设置有一定的距离，使得信号探针与导电层之间距离较大，进而导致信号探针的高频特性不太理想。

针对该技术问题，本申请实施例提出了一种用于电气部件测试的插座，以改善信号探针的高频特性，从而提高电气测试的可靠性。

在本申请实施例中，电气部件包括但不限于IC封装体或半导体封装体。在一些实施例中，IC封装体例如为BGA(Ball Grid Array，球珊阵列封装体)，该BGA的下表面具有呈格子状排列、并朝下突出的多个球状端子。在进行电气测试时，将BGA置于插座主体的接触收纳部，使多个球状端子与接触收纳部电性接触，进而通过接触探针实现与第二电气部件(如布线基板)的电性连接。在此状态下，可开展对BGA的性能测试。其中，性能测试的内容包括但不限于电气性能测试(如电压、电流、频率等方面的测试)及电气可靠性测试(如抗磁、抗静电、抗干扰等方面的测试)等。

如图1至图3所示，本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座10，插座10包括插座本体100、接触探针200以及导向件300。其中，插座本体100的内部设置有第一探针收纳部104以及第二探针收纳部105，第一探针收纳部104的内壁设置有第一导电层106，插座本体100的底部设置有凹槽103，凹槽103与第二探针收纳部105连通，凹槽103的槽壁设置有第二导电层107。接触探针200包括接地探针210以及信号探针220，接地探针210收纳于第一探针收纳部104，信号探针220收纳于第二探针收纳部105，信号探针220与第二导电层107之间设置有间距；导向件300固定安装于插座本体100，导向件300上设置有导向部，导向部用于对信号探针220进行导向。

在本申请实施例中，插座本体100的内部设置有第一探针收纳部104以及第二探针收纳部105，其中，第一探针收纳部104用于容纳接地探针210，第二探针收纳部105用于容纳信号探针220，第一探针收纳部104的内壁设置有第一导电层106，接地探针210与第一导电层106接触并接地。插座本体100的底部设置有凹槽103，第二探针收纳部105与凹槽103连通，使得信号探针220的一部分位于第二探针收纳部105，另一部分位于凹槽103内。凹槽103的槽壁设置有第二导电层107，信号探针220与第二导电层107之间设置有间距，以避免产生泄漏电流。与第一导电层106相比较，通过在凹槽103的槽壁设置第二导电层107，使第二导电层107与信号探针220的距离较小，进而在电气测试过程中，改善信号探针220的高频特性，提高电气测试的可靠性。另外，在上述结构中，第二探针收纳部105与凹槽103连通，意味着第二探针收纳部105的长度缩短，由于第二探针收纳部105用于对信号探针220的轴向移动起导向作用，第二探针收纳部105的长度缩短，使得第二探针收纳部105对信号探针220的导向作用减弱，从而导致信号探针220的靠近第二电气部件的一端容易歪斜。为了减少在改善信号探针220的高频特性时所出现的信号探针220容易歪斜的情况，在本申请实施例中，插座本体100还包括导向件300，导向件300固定安装于插座本体100，导向件300上设置有导向部，导向部对信号探针220起导向作用。通过导向部的导向作用与第二探针收纳部105的导向作用相配合，有效减少在改善信号探针220的高频特性时所出现的信号探针220容易歪斜的情况。

需要说明的是，插座本体100的底部是指插座本体100的用于与第二电气部件(例如布线基板)接触的一端。第一探针收纳部104和第二探针收纳部105分别为形成于插座本体100内部的中空结构，第一探针收纳部104用于为接地探针210提供容纳空间，第二探针收纳部105用于为信号探针220提供容纳空间。具体地，第一探针收纳部104和第二探针收纳部105可以为形成于插座本体100内部的收纳孔或者收纳槽。

在本申请的一些实施例中，插座本体100包括第一本体部101和第二本体部102，第一本体部101位于插座本体100的上部，第二本体部102位于插座本体100的下部，凹槽103位于第二本体部102且贯穿第二本体部102，第一探针收纳部104贯穿第一本体部101与第二本体部102，第二探针收纳部105贯穿第一本体部101。在本实施例中，通过设置第一本体部101和第二本体部102，使凹槽103位于第二本体部102且贯穿第二本体部102，从而方便凹槽103的加工；使第二探针收纳部105贯穿第一本体部101，从而方便第二探针收纳部105的加工，最终使整个插座本体100的加工制造更加简单。

在本申请的一些实施例中，信号探针220包括管状结构221以及柱塞222，管状结构221的内部形成有容纳腔，管状结构221的第一端用于与第一电气部件接触，柱塞222以可滑动的方式与管状结构221连接，柱塞222从管状结构221的第二端伸出，柱塞222用于与第二电气部件接触。

具体地，管状结构221的第一端设置有用于与第一电气部件接触的接触部，管状结构221的容纳腔内设置有弹簧，柱塞222的一端与弹簧相抵接，柱塞222的另一端从管状结构221的第二端伸出。在电气测试过程中，当管状结构221的第一端与第一电气部件的端子接触并且柱塞222与第二电气部件接触时，可建立起第一电气部件与第二电气部件(例如为布线基板)之间的电性连接。

如图2所示，在本申请的一些实施例中，导向件300为绝缘板，导向件300固定在插座本体100的底部，导向部为导向孔301，导向孔301用于供信号探针220的柱塞222穿过。在本实施例中，导向件300为绝缘板，导向件300的结构简单且方便固定在插座本体100上。通过将导向件300固定在插座本体100的底部，并将信号探针220的柱塞222穿入导向孔301中，使得导向孔301对信号探针220的柱塞222起导向作用，进而通过与第二探针收纳部105的导向作用相配合，有效减少信号探针220容易歪斜的情况。

在本申请的一些实施例中，导向件300上设置有多个导向孔301，接地探针210与信号探针220的结构相同，导向孔301还用于供接地探针210的柱塞212穿过。由此，导向孔301不仅供信号探针220的柱塞222穿过，还用于供接地探针210的柱塞212穿过，使得导向件300可以仅由一个绝缘板构成，从而减少装配件的数量，方便导向件300与插座本体100的固定，节省装配时间。在电气测试过程中，如图2所示，接地探针210通过管状结构211与第一探针收纳部104的第一导电层106连接并接地。

在本申请的其他实施例中，导向孔301仅用于供信号探针220的柱塞222穿过。由于信号探针220与接地探针210在插座本体100上间隔分布，因此，导向件300的布置需要避开接地探针210的位置，导向件300包括多个间隔布置的绝缘板。

在本申请的一些实施例中，导向件300的表面设置有用于与接地探针210以及第二导电层107电连接的镀层302。在本实施例中，接地探针210通过与第二电气部件接触从而获得接地电位，通过将镀层302分别与接地探针210以及第二导电层107电连接，从而使第二导电层107获得与接地探针210相同的接地电位，进而有利于改善信号探针220的高频特性，提高电气测试的可靠性。需要说明的是，导向件300表面的镀层302不与信号探针220接触，以避免产生泄漏电流。

在本申请的其他实施例中，导向件300的表面设置有用于与接地探针210以及第二导电层107电连接的镀层302，镀层302还用于与第二电气部件的接地端电连接。在本实施例中，通过使镀层302与第二电气部件的接地端电连接，从而实现接地探针210以及第二导电层107的接地。由于导向件300设置在插座本体100的底部，因此镀层302与第二电气部件的接地端连接较为方便，进而使得整个插座10的接地设置方便。需要说明的是，导向件300表面的镀层302不与信号探针220接触，以避免产生泄漏电流。

如图2所示，在本申请的一些实施例中，导向孔301与信号探针220的管状结构221的第二端止挡配合。由此，可以避免信号探针220脱离插座本体100。在一个具体的实施例中，导向孔301为圆孔，导向孔301的直径小于信号探针220的管状结构221的直径，从而使导向孔301与管状结构221的第二端的端面止挡配合。

如图3所示，在本申请的一些实施例中，导向件300固定在凹槽103内，导向件300为绝缘块，导向部为导向孔301，导向孔301用于供信号探针220的管状结构221通过。在本实施例中，通过将导向件300固定在凹槽103内，使得整个插座10更加小型化，方便插座10的使用。导向孔301用于供信号探针220的管状结构221通过，使得导向孔301对信号探针220的管状结构221起导向作用，进而通过与第二探针收纳部105的导向作用相配合，有效减少信号探针220容易歪斜的情况。

优选地，导向件300固定在凹槽103的靠近插座本体100的底部的一端，由此导向孔301靠近管状结构221的第二端，使第二探针收纳部105和导向孔301分别对管状结构221的第一端和第二端起导向作用，从而使信号探针220可以保持理想的竖直状态，有利于提高电气测试的可靠性。

在本申请的一些实施例中，一个导向件300上设置有多个导向孔301，多个导向孔301用于供多个信号探针220的管状结构221通过。由此，可以减少导向件300的数量，方便导向件300与插座本体100的装配，节省装配时间。

在本申请的其他实施例中，一个导向件300上设置有一个导向孔301。由此，一个导向件300仅与一个信号探针220相配合，从而对导向件300的制造精度要求较低，节省导向件300的加工成本。

如图3所示，在本申请的一些实施例中，信号探针220的管状结构221上设置有凸起，凸起2211用于与导向孔301止挡配合。在本实施例中，通过在信号探针220的管状结构221上设置凸起2211，使凸起2211与导向孔301止挡配合，从而避免信号探针220与插座本体100的脱离。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上仅为本申请的较佳实施例，并非用于限定本申请的保护范围。凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本申请的保护范围内。

Claims (10)

1.一种用于电气部件测试的插座，其特征在于，包括：

插座本体，所述插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，所述第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，所述插座本体的底部设置有凹槽，所述凹槽与所述第二探针收纳部连通，所述凹槽的槽壁设置有第二导电层；

接触探针，所述接触探针包括接地探针以及信号探针，所述接地探针收纳于所述第一探针收纳部，所述信号探针收纳于所述第二探针收纳部，所述信号探针与所述第二导电层之间设置有间距；

导向件，所述导向件固定安装于所述插座本体，所述导向件上设置有导向部，所述导向部用于对所述信号探针进行导向。

2.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述插座本体包括第一本体部和第二本体部，所述第一本体部位于所述插座本体的上部，所述第二本体部位于所述插座本体的下部，所述凹槽位于所述第二本体部且贯穿所述第二本体部，所述第一探针收纳部贯穿所述第一本体部与所述第二本体部，所述第二探针收纳部贯穿所述第一本体部。

3.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述信号探针包括管状结构以及柱塞，所述管状结构的内部形成有容纳腔，所述管状结构的第一端用于与第一电气部件接触，所述柱塞以可滑动的方式与所述管状结构连接，所述柱塞从所述管状结构的第二端伸出，所述柱塞用于与第二电气部件接触。

4.根据权利要求3所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述导向件为绝缘板，所述导向件固定在所述插座本体的底部，所述导向部为导向孔，所述导向孔用于供所述信号探针的柱塞穿过。

5.根据权利要求4所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述导向件上设置有多个导向孔，所述接地探针与所述信号探针的结构相同，所述导向孔还用于供所述接地探针的柱塞穿过。

6.根据权利要求5所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述导向件的表面设置有用于与所述接地探针以及所述第二导电层电连接的镀层。

7.根据权利要求4所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述导向孔与所述信号探针的管状结构的第二端止挡配合。

8.根据权利要求3所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述导向件固定在所述凹槽内，所述导向件为绝缘块，所述导向部为导向孔，所述导向孔用于供所述信号探针的管状结构通过。

9.根据权利要求8所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，一个所述导向件上设置有多个导向孔，所述多个导向孔用于供多个所述信号探针的管状结构通过。

10.根据权利要求8所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述信号探针的管状结构上设置有凸起，所述凸起用于与所述导向孔止挡配合。