CN116803551A - 电子部件测试用分选机的适配器 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种电子部件测试用分选机的适配器。根据本发明的电子部件测试用分选机的适配器具有能够适当地夹持具有多种制造公差、长度的电子部件,并能够适当地保持电子部件的安置状态的结构。根据本发明,在制造过程中,多种具有制造公差和长度的电子部件都能够适当地安置并夹持于适配器,同时还能够维持安置姿势,因此电子部件能够准确地电连接于测试仪,从而提高了针对分选机的可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及一种可在电子部件测试用分选机使用的适配器。
背景技术
生产的电子部件(例如,半导体元件、基板、SSD等)借由测试仪而进行测试后分为良品和不良品,且只有良品出库。
电子部件只有电连接于测试仪才能进行测试,此时,通过将电子部件电连接于测试仪来支持电子部件能够进行测试的设备为电子部件测试用分选机(以下简称为“分选机”)。
分选机随着新的电子部件的开发而被提出并制作,并且为了稳定化,正在进行多种后续开发。
近来,作为搭载有多个电子元件的大型电子部件的固态驱动器(SSD:Solid StateDrive)的普及正在呈扩大的趋势。
最初,由于对SSD的需求较少而仅进行少量生产时,借由手动操作将SSD直接电连接于测试仪并解除其连接,但随着需求的剧增,难以借由手动操作来支持测试。
但是,由于SSD的厚度、结构及重量等与现有的电子部件不同而无法直接应用现有的分选机,因此,开发了适合于支持诸如SSD之类的大型电子部件的测试的分选机,并在韩国公开专利10-2019-0050483号及10-2019-0061291号提出。
SSD可以根据所搭载的电子元件的种类或其专用用途等而具有多种规格,需要一种用于支持针对这种多种规格的电子元件的测试的分选机。但是,由于分选机价格高且其规模较大,因此,考虑到生产费用及设置场所等,需要一种能够在一个分选机中处理具有多种规格的电子部件的测试的技术。
并且,为了测试规格分别不同的电子部件,需要更换符合对应该电子部件的规格的部件,即使不需要更换部件,也需要用于供应新的电子部件的休止时间。据此,由于分选机和测试仪的运行率下降且产生繁杂的人力损失,因此,需要一种即使在分选机的一个周期运行或连续运行时也不需要额外的休止时间的分选机。
另外,在现有的小品种批量生产产品的半导体元件的情况下,采用如下的方式:配备可装载数百个以上的半导体元件的测试托盘,并利用多个拾取器直接夹持半导体元件并插入到测试托盘的插入件。在这种系统中,由于可以在插入件中确保半导体元件的精确位置,并且也可以在与测试仪的连接过程中确保其位置,因此即使精确度稍微降低也不会存在问题。
但是,诸如SSD之类的具有包括半导体元件的多个电子元件的电子部件对应于应用装置的多样性而呈多品种少量生产化的趋势,而且会发生需要经过多种测试的情况,由于并非所有测试仪的测试插座都存在于相同的位置,因此,需要按电子部件的种类或测试仪的种类制作高价格的测试托盘并配备与其相匹配的分选机。通过之前的研究发现,在不考虑上述问题的情况下,在用夹持器(Gripper)直接夹持电子部件的状态下将电子部件连接到测试插座存在相当大的问题。
例如,电子部件不仅具有多种种类,还具有多种长度和宽度,由于制作的特性,即使是相同种类的电子部件也因加工误差等原因而难以将其大小制作成100%一致。然而,在不考虑这种状况而使用夹持器夹持电子部件的情况下,由于未能准确夹持电子部件而可能会丢失,或者电子部件可能由于非常强的加压力而损坏。当然,即使调整夹持器而很好地夹持电子部件,也确认到了如下缺点:根据夹持电子部件的哪个部位、其夹持的强度多少而发生电子部件在夹持的同时被扭曲或旋转等的情况,从而用夹持器夹持的电子部件难以精确地接触测试插座。为了改善这种情况,驱动部需要能够精确地控制,并需要与所有电子部件相对应,因此驱动轴也需要非常长。并且,为了防止破损或扭曲、不需要的旋转,需要使用能够按情况进行扭矩控制的高价格的马达。然而,这种问题要求设备的大型化且较高的生产成本,因此没有实效性。并且,需要进行用于设定借由夹持器的电子部件的准确的夹持位置等的自动校准来实现精确的接触,这是实际上需要巨大的费用和技术力的部分。
通常,在SSD的情况下,无论种类如何,其宽度在加工误差范围内相同,但其长度根据搭载的电子元件的数量或大小等按种类而多种多样。
因此,本发明的申请人先前在专利申请10-2020-0073725号中提出了在分选机配备适配器的发明(以下称为“在先申请技术”),以便能够实现具有通用性的分选机。适配器被设计为用作将电子部件供应到测试仪的载体,并且通过使分选机能够适应多种不同大小的电子部件,从而增加了分选机的通用性。
在与适配器相关的部分中最重要的情形如下。
第一,适配器应能够适当地夹持具有由制造公差而产生的误差范围内的宽度的所有SSD的两端。
第二,应能够夹持在所谓SSD的电子部件所能具有的通常长度范围(从最短的SSD到最长的SSD为止的范围)内的所有SSD。
第三,需要一种能够在适配器上准确地安置SSD的特征结构。在此,特征结构可能是针对适配器周边的结构,但也要求针对适配器自身的结构。如果SSD的安置发生不良,则其可能会成为之后妨碍SSD和测试仪之间进行适当地电连接的原因。
第四,应准确地维持安置于适配器的SSD的姿势。通常情况下,分选机会产生各种操作冲击,而且适配器需要以具有电子部件的状态移动。然而,如果由于操作冲击或移动过程中的晃动等原因而无法维持SSD进行适当地安置,从而产生不良,则这最终会导致SSD和测试仪之间的电连接不良。
因此,需要持续地针对考虑到上述所有情形的适配器进行研究。
发明内容
本发明是出于针对如下技术的考虑而提出的:与误差范围内的制作公差或长度无关地,适配器都可以适当地夹持多种电子部件。
并且,本发明还是出于针对如下技术的考虑而提出的:可以准确地将电子部件安置于适配器,并在安置后能够持续适当地维持其状态。
根据本发明的一种电子部件测试用分选机的适配器,包括:一对夹持杆,相互对向,并沿相互之间的间隔变窄或变宽的方向进行直线移动,从而在两端夹持电子部件的后端部位或解除夹持;设置框架,设置为使所述一对夹持杆能够直线移动;间隔操作器件,设置于所述设置框架,用于对所述一对夹持杆施加操作力使所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变宽的方向移动;以及操作部件,对所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变窄的方向施加压力,从而若借由所述间隔操作器件而施加于所述一对夹持杆的操作力被解除,则使所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变窄的方向移动,其中,在所述一对夹持杆上,在彼此面对的面上形成有用于电子部件的两端夹持及前后方向的移动引导的引导槽,所述引导槽沿前后方向细长地形成。
所述间隔操作器件以能够沿前后方向进行直线移动的方式设置于所述设置框架,所述间隔操作器件包括:操作部分,配备为两端与所述一对夹持杆接触,并且当借由外力向后方进行直线移动时,沿所述一对夹持杆之间的间隔变宽的方向对所述一对夹持杆施加操作力,并且随着移除外力而向前方进行直线移动时,解除操作力。
在所述一对夹持杆的彼此面对的面,在与所述操作部分接触的部位形成有操作槽,所述操作槽形成为具有凹陷的深度趋向后方而变浅的倾斜面,所述操作部分具有与所述操作槽对应的突出部位且所述突出部位接触于所述倾斜面,从而根据所述操作部分的位置来改变所述一对夹持杆之间的间隔。
所述操作部件包括:弹性部件,设置为一侧被所述设置框架支撑,另一侧接合于所述一对夹持杆。
所述设置框架在左右两侧分别具有至少一个能够插入到用于使所述适配器移动的测试手的位置设定槽中的至少一个位置设定突起。
在所述设置框架的前端部位形成有能够收容电子部件的前端部位的收容槽,在形成所述收容槽的左右壁体形成有能够支撑电子部件的前端部位的两侧端的支撑台,从而能够以电子部件的前端部位插入到形成所述收容槽的左右壁体之间并借由所述支撑台支撑的结构进行对齐。
包括所述引导槽和所述收容槽的安置电子部件的安置空间在前后方向上开放。
所述引导槽包括:水平维持区间,使以卧状的状态夹持的电子部件保持水平;宽度增加区间,上下方向的宽度从所述水平维持区间的前端趋向前方而逐渐变宽;开放区间,朝向所述宽度增加区间的后方具有大于或等于所述宽度增加区间的前端的宽度。
所述适配器还包括:支撑部件,具有用于支撑电子部件的下端的一对支撑突起,其中,在所述一对支撑突起上形成有用于防止以卧状安置的电子部件的下方脱离的支撑台,在所述一对夹持杆上形成有能够使所述支撑突起通过的贯通槽。
在所述设置框架,在左右两侧分别形成有能够插入用于放置所述适配器的支架的位置固定销的至少一个位置固定槽。
根据本发明,具有如下的效果。
第一,即使在制造过程中存在制造公差的情况下,电子部件也能够以适当地夹持的状态安置于适配器。
第二,具有多种长度的电子部件均可以适当地安置于适配器,从而提高分选机的通用性。
第三,借由因弹性部件的夹持杆的紧密夹持、借由引导槽及支撑台的阶梯结构而在姿势变换过程中也能够支撑电子部件等情形,能够适当地维持电子部件的安置状态。
第四,在引导槽的水平维持区间,电子部件的后端部位能够精确地维持平整,从而使电子部件与测试仪之间的电连接中发生不良的可能性最小化,由此提高了分选机的可靠性。
附图说明
图1是用于说明电子部件与测试仪之间的电连接结构的参照图。
图2是针对根据本发明的一实施例的将应用适配器的电子部件测试用分选机的概念性的结构图。
图3是针对图2的分选机的示意性的立体图。
图4是针对根据本发明的第一实施例的适配器的结合立体图。
图5是针对图4的适配器的分解立体图。
图6是针对应用于图4的适配器的夹持杆的截取图。
图7是针对位于图6的夹持杆的引导槽的虚拟截取图。
图8是用于说明图7的引导槽的作用的参照图。
图9是用于说明图4的适配器与测试手的关系的参照图。
附图标记说明
100:电子部件测试用分选机的适配器 111、112:夹持杆
GG:引导槽 HM:水平维持区间
WG:宽度增加区间 OS:开放区间
OG:操作槽 TH:通孔
TG:贯通槽 120:设置框架
121:位置设定突起 125、126:引导杆
AG:收容槽 J:支撑台
130:间隔操作器件 131:操作部分
141、142、143、144:弹性部件 R:滚动辊
具体实施方式
参照附图对根据本发明的优选实施例进行说明,为了简洁的说明,尽可能省略或压缩对重复或实质上相同的构成的说明。
<针对电子部件与测试仪的电连接的说明>
应用根据本发明的适配器的分选机更加适合应用诸如SSD之类的电子部件的接触端子侧的部位插入到测试仪的测试槽的方式的情况。
例如,如图1所示,具有如下结构:在测试仪TESTER配备有测试槽S,并在该测试槽S插入电子部件ED的接触端子T侧部位,从而电子部件ED与测试仪TESTER电连接。
<针对分选机的总体构成的示意性的说明>
图2是针对可使用根据本发明的电子部件测试用分选机的适配器(以下简称为“适配器”)的分选机HR的示意性的平面图,图3是针对图2的分选机HR的示意性的立体图。
根据本实施例的分选机HR包括连接部分CP、堆叠器部分SP及移送装置TA。
连接部分CP从客户托盘CT取出待测试的电子部件ED并提供给测试仪TESTER,或者从测试仪TESTER回收测试结束的电子部件ED并装载到客户托盘CT。根据本发明的适配器用于该连接部分CP。
堆叠器部分SP为了向连接部分CP供应装载有待测试的电子部件ED的客户托盘CT而保管搬入到分选机HR的客户托盘CT,或者从连接部分CP回收装载有测试结束的电子部件ED的客户托盘CT并在从分选机HR搬出之前进行保管。并且,堆叠器部分SP将正在保管的装载有待测试的电子部件ED的客户托盘CT供应到移送装置TA,或者从移送装置TA回收装载有测试结束的电子部件ED的客户托盘CT。
移送装置TA在连接部分CP与堆叠器部分SP之间移送客户托盘CT。即,装载有待测试的电子部件ED的客户托盘CT借由移送装置TA而从堆叠器部分SP传递到连接部分CP,装载有测试结束的电子部件ED的客户托盘CT借由移送装置TA而从连接部分CP传递到堆叠器部分SP。
<针对适配器所涉及的电子部件的示意性的流程的说明>
关于分选机HR,由于在在先申请技术中进行了详细说明,因此示意性地说明以适配器为主的流程。
在适配器安置于支架的状态下,移动手(未图示)从客户托盘CT取出电子部件ED并安置于适配器。此时,开放器(未图示)开放适配器,使得移动手可将电子部件ED安置于适配器。
安置有电子部件ED的适配器与支架一起从设定位置向夹持位置移动,并借由旋转而竖立。测试手(未图示)夹持竖立状态的适配器后进行移动,并将电子部件ED电连接于测试仪TESTER。此后,若对电子部件ED的测试结束,则经过相反的操作而将测试结束的电子部件ED装载到客户托盘CT。
<针对根据第一实施例的适配器的说明>
图4是针对根据本发明的第一实施例的适配器100的结合立体图,图5是针对图4的适配器100的分解立体图。
适配器100包括一对夹持杆111、112、设置框架120、间隔操作器件130、弹性部件141、142、143、144以及支撑部件150。
一对夹持杆111、112可以配备为相互对向,可以借由设置于设置框架120的引导杆125、126而被引导,并可以沿相互之间的间隔变窄或变宽的左右方向进行直线移动。因此,若一对夹持杆111、112之间的间隔变窄,则一对夹持杆111、112处于从两端夹持卧状的电子部件ED的后端部位的状态。并且,若一对夹持杆111、112之间的间隔变宽,则一对夹持杆111、112处于解除对电子部件ED的夹持的开放状态。因此,如果要想借由移动手将电子部件ED安置于适配器100或从适配器100取出,则一对夹持杆111、112应处于解除对电子部件ED的夹持的开放状态。
如图6的截取图所示,在一对夹持杆111、112的彼此对向的表面分别形成有两个操作槽OG。
操作槽OG形成于夹持杆111、112与间隔操作器件130接触的部位。分别位于同一夹持杆111、112的两个操作槽OG沿着前后方向并排形成。并且,操作槽OG形成为具有凹陷的深度趋向后方而变浅的倾斜面。
并且,如图6所示,在一对夹持杆111、112的相互面对的面且操作槽OG的上侧,沿着前后方向细长地形成有引导槽GG。该引导槽GG在电子部件ED沿前后方向移动的过程中(例如,待测试的电子部件为了与测试仪电连接而移动的过程或测试结束的电子部件从测试仪取出并向适配器移动的过程)引导电子部件ED的移动。更进一步,在一对夹持杆111、112处于夹持电子部件ED后端部位的两端的状态的情况下,由于电子部件ED的两端插入并沿着上下方向卡定在引导槽GG,因此引导槽GG还具有夹持电子部件ED的功能。
如图7的虚拟截取图所示,引导槽GG从后方向前方依次具有水平维持区间HM、宽度增加区间WG、贯通区间TS及开放区间OS。
水平维持区间HM的宽度较窄,其上下宽度几乎与电子部件ED的上下厚度相同,从而形成为在适当地夹持电子部件ED的两端的同时,能够维持在电子部件ED后端的接触端子T所在部位的水平。
宽度增加区间WG形成为宽度从水平维持区间HM的前端趋向前方而逐渐变宽。由此,在安置电子部件ED的过程中,即使在被移动手吸附夹持的部位以外的区域发生因重力而下落的现象,也能够借由两个夹持杆111、112而适当地夹持电子部件ED的两端。
贯通区间TS形成为从宽度增加区间WG的前端沿着前后方向具有预定的宽度,并与后述的支撑部件150的左右两侧支撑突起可通过的贯通槽TG的前后方向上的宽度相对应。
开放区间OS形成为具有至少与宽度增加区间WG的前端相同或更宽的宽度。
并且,引导槽GG在前后方向上开放。
如图8的放大图所示,即使在电子部件ED向预定的方向弯曲的情况下,具有如图7所示形态的引导槽GG使适配器100在夹持电子部件ED时也不会出现问题,同时使后端的接触端子T侧部位维持其水平度,从而有助于接触端子T侧部位准确地插入于测试槽S。
设置框架120用于设置并支撑夹持杆111、112、间隔操作器件130、弹性部件141至144及支撑部件150而配备。
设置框架120在其前端部位的左右两侧分别具有向左侧及右侧突出的位置设定突起121。
如图9的参照图所示,位置设定突起121与形成于测试手400的夹持面的位置设定槽SG相关。即,当测试手400夹持设置框架120并最终夹持适配器100时,位置设定突起121插入到位置设定槽SG。因此,在之后测试手400夹持适配器100的状态下,即使对适配器100施加沿前后方向的外力,也能够固定并维持设置框架120的位置,从而最终可以固定并维持适配器100的位置。这种位置设定突起121只要设置至少一个即可。当然,根据实施方式,也可以在设置框架120形成有位置设定槽,并在测试手400形成有位置设定突起。
并且,设置框架120为了引导一对夹持杆111、112在左右方向上的直线移动而具有沿着左右方向细长的形态的引导杆125、126。当然,在夹持杆111、112上形成有供引导杆125、126插入通过的通孔TH。
并且,在设置框架120的前端部位上形成有能够收容电子部件ED的前端部位的收容槽AG。并且,在形成收容槽AG的左右墙体上形成有能够支撑电子部件的前端部位的两侧端的支撑台J。因此,在电子部件ED的前端部位两侧被支撑台J支撑的同时,还能够精准地插入于两壁体之间而形成为对齐的结构,从而实现电子部件ED的适当安置与适当安置的维持。由此,即使在卧状的状态下,电子部件ED也可以适当地对齐,并且即使在通过姿势转换而形成为竖立状的状态下,电子部件ED也可以适当地对齐。
与引导槽GG相同,收容槽AG也在前后方向上开放。这意味着安置电子部件的适配器100的安置空间在前后方向上开放。即,包括引导槽GG和收容槽AG的安置空间在前后方向上开放。因此,多种长度的电子部件ED可以不受其长度的限制而全部横跨安置于引导槽GG和收容槽AG。
间隔操作器件130设置于设置框架120,并对一对夹持杆111、112施加操作力,以使一对夹持杆111、112向相互间的间隔变宽的方向移动。为此,间隔操作器件130以能够向前后方向移动的方式设置于设置框架120,并包括操作部分131、推板132及传递杆133。
操作部分131在左右两侧分别具有两个滚动辊R,并且滚动辊R形成向左右两侧的外侧突出的突出部位。
滚动辊R配备于与操作槽OG的位置对应的位置。因此,滚动辊R以其一部分插入于操作槽OG的状态接触于构成操作槽OG的面。即,间隔操作器件130的操作部分131的两端通过滚动辊R而接触于夹持杆111、112。因此,当间隔操作器件130向后方移动时,滚动辊R随着移动而与操作槽OG的凹陷深度变浅的倾斜面接触,因此,间隔操作器件130自然地向两个夹持杆111、112之间的间隔变宽的方向对两个夹持杆111、112施加操作力。
相反,当间隔操作器件130向前方移动时,随着间隔操作器件130移动,滚动辊R与操作槽OG的凹陷深度变深的倾斜面接触,因此,自然地解除施加于两个夹持杆111、112的操作力。
推板132借由开放器(未图示)接收沿着正方向施加到间隔操作器件130的外力。即,开放器通过推板132向后方施加力,从而供应间隔操作器件130能够向后方移动的驱动力,并借由这种开放器的驱动力使间隔操作器件130向后方移动。
传递杆133的前端固定结合于推板132,后端固定结合于操作部分131侧,从而将向后方推动推板132的开放器的外力传递到操作部分131。
弹性部件141至144设置成其一侧与设置框架120相接,其另一侧与夹持杆111、112相接。因此,弹性部件141至144向一对夹持杆111、112之间的间隔变窄的方向对一对夹持杆111、112施加弹力。据此,若移出借由间隔操作器件130而施加于一对夹持杆111、112的操作力,则一对夹持杆111、112借由弹性部件141至144的弹力而向相互间的间隔变窄的方向移动,从而夹持电子部件ED。从这种观点来看,弹性部件141至144起到产生并维持一对夹持杆111、112可夹持电子部件ED的加压力的操作部件的功能,并进一步起到封闭适配器100的功能。当然,作为操作部件,可以考虑马达或气缸等,但为了在不存在单独设置的情况下应对加工误差范围内的电子部件的所有宽度,最优选地,利用诸如弹簧的弹性部件构成操作部件。
弹性部件141至144根据其压缩程度而确定一对夹持杆111、112之间的间隔。而且,这种事实意味着弹性部件141至144还起到改变一对夹持杆111、112之间的夹持宽度(一对夹持杆为了夹持电子部件而需要隔开的宽度)的功能的可变元件。即,根据弹性部件141至144的压缩程度,夹持杆111、112能够夹持具有多种宽度的电子部件ED。
支撑部件150为了在一对夹持杆111、112处于解除对电子部件ED的夹持的状态时防止以卧状安置的电子部件ED向下方脱离而配备。因此,在支撑部件150具有在左右两侧向上方突出的支撑突起,并且在该支撑突起形成有用于支撑电子部件ED的下端的支撑台151。
支撑部件150大致形成为或U字形态并固定于设置框架120,左右两端的支撑突起向上方突出并穿过贯通槽TG,在支撑突起的上侧区域具有支撑台151。作为参考,在本实施例中,支撑部件150一体地设置于设置框架120,但根据实施例,可以设置为借由固定装置固定于设置框架120或可以从设置框架120拆卸。
接着,对如上所述的适配器100的操作进行说明。
随着更换初始或待测试的电子部件ED,操作者将与待测试的电子部件ED的规格匹配的适配器100安置于支架200。之后,当移动手要将从客户托盘取出的电子部件ED安置于适配器100时,开放器向后方推动间隔操作器件130。此时,由于设置框架120借由位置固定槽(未示出)固定于支架,因此只有间隔操作器件130借由开放器的加压力而向后方移动。在此过程中,滚动辊R以与操作槽OG的倾斜面相接触的状态向后方移动的同时向夹持杆111、112施加左右方向的力,从而在两个夹持杆111、112之间的间隔变宽的同时开放适配器100。
当适配器100的开放完成时,移动手将电子部件ED安置于适配器100。此时,电子部件ED的后端部位放置于作为支撑部件150的支撑台151,电子部件ED的前端部位放置于支撑台J,从而电子部件ED在维持准确地水平状态的状态下被安置于适配器100。
之后,若移动手解除对电子部件ED的夹持之后移动到另一位置,则开放器解除施加到间隔操作器件130的外力。然后,借由弹性部件141至144的弹力,两个夹持杆111、112之间的间隔缩小,并且间隔操作器件130也被推向前方。在此过程中,电子部件ED的左右两端插入到夹持杆111、112的引导槽GG,从而完成借由适配器100的对电子部件ED的夹持。此时,根据加工误差范围内的电子部件ED的左右宽度,弹性部件141至144的压缩/膨胀程度会自然地发生变化。
此时,由于引导槽GG的形状,电子部件ED的后端部位可以维持平整。并且,即使电子部件ED弯曲一定程度,电子部件也可以通过引导槽GG而被夹持杆111、112适当地夹持。此外,即使在电子部件ED的左右宽度上存在更宽的公差,由于收容槽AG的宽度足够宽,因而也不会发生电子部件ED的后端部位卡定在构成收容槽AG的壁上的情况。
另外,安置于支架200的适配器100以垂直的方式竖立。此时,以垂直的方式竖立的电子部件ED的下端借由引导槽GG构成支撑台J的壁面支撑,从而适当地维持其安置状态。
以垂直的方式竖立的适配器100借由测试手400夹持,在此过程中,位置设定突起121插入于位置设定槽SG。据此,适配器100被夹持在测试手400,使得适配器100位于准确的设定位置。并且,由于设置框架120的位置在之后施加到适配器100的外力下也能够被固定和维持,因此适配器100的位置最终也可以被固定和维持。
接着,若测试手400使适配器100向测试仪TESTER侧移动而准确地设定适配器100与测试槽S之间的位置,则测试手4中的开放元件细微地推动间隔操作器件130而细微地扩大两个夹持杆111、112之间的间隔,在该状态下,测试手400中的连接元件将电子部件ED推向测试插座侧,从而使电子部件ED的接触端子T所在的后端部位插入到位于测试插座的测试槽S。
并且,当测试结束时,适配器100被操作为固定电子部件ED的状态,接着,随后借由测试手400而从测试槽S取出电子部件ED。取出的电子部件ED经过相反的过程而移动,最终被装载到客户托盘CT。
如上所述,通过参照附图的实施例对本发明进行了具体说明,但上述实施例仅对本发明的优选实施例进行了说明,因此不应理解为本发明仅局限于上述实施例,本发明的权利范围应理解为权利要求范围及其等同范围。
Claims (10)
1.一种电子部件测试用分选机的适配器,包括:
一对夹持杆,相互对向,并沿相互之间的间隔变窄或变宽的方向进行直线移动,从而在两端夹持电子部件的后端部位或解除夹持;
设置框架,设置为使所述一对夹持杆能够直线移动;
间隔操作器件,设置于所述设置框架,用于对所述一对夹持杆施加使所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变宽的方向移动的操作力;以及
操作部件,对所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变窄的方向施加压力,从而若借由所述间隔操作器件而施加于所述一对夹持杆的操作力被解除,则使所述一对夹持杆沿相互之间的间隔变窄的方向移动,
其中,在所述一对夹持杆上,在彼此面对的面上形成有用于电子部件的两端夹持及前后方向的移动引导的引导槽,
所述引导槽沿前后方向细长地形成。
2.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机的适配器,其中,
所述间隔操作器件以能够沿前后方向进行直线移动的方式设置于所述设置框架,
所述间隔操作器件包括:
操作部分,配备为两端与所述一对夹持杆接触,并且当借由外力向后方进行直线移动时,沿所述一对夹持杆之间的间隔变宽的方向对所述一对夹持杆施加操作力,并且随着移除外力而向前方进行直线移动时,解除操作力。
3.根据权利要求2所述的电子部件测试用分选机的适配器,其中,
在所述一对夹持杆的彼此面对的面,在与所述操作部分接触的部位形成有操作槽,
所述操作槽形成为具有凹陷的深度趋向后方而变浅的倾斜面,
所述操作部分具有与所述操作槽对应的突出部位,且所述突出部位接触于所述倾斜面,从而根据所述操作部分的位置来改变所述一对夹持杆之间的间隔。
4.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机的适配器,其中,
所述操作部件包括:弹性部件,设置为一侧被所述设置框架支撑,另一侧接合于所述一对夹持杆。
5.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机的适配器,其中,
所述设置框架在左右两侧分别具有能够插入到用于使所述适配器移动的测试手的位置设定槽中的至少一个位置设定突起。
6.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机的适配器,其中,
在所述设置框架的前端部位形成有能够收容电子部件的前端部位的收容槽,
在形成所述收容槽的左右壁体形成有能够支撑电子部件的前端部位的两侧端的支撑台,从而能够以电子部件的前端部位插入到形成所述收容槽的左右壁体之间并借由所述支撑台支撑的结构进行对齐。
7.根据权利要求6所述的电子部件测试用分选机的适配器,其中,
包括所述引导槽和所述收容槽的安置电子部件的安置空间在前后方向上开放。
8.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机的适配器,其中,
所述引导槽包括:
水平维持区间,使以卧状的状态夹持的电子部件保持水平;
宽度增加区间,上下方向的宽度从所述水平维持区间的前端趋向前方而逐渐变宽;
开放区间,朝向所述宽度增加区间的后方具有大于或等于所述宽度增加区间的前端的宽度。
9.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机的适配器,还包括:
支撑部件,具有用于支撑电子部件的下端的一对支撑突起,
其中,在所述一对支撑突起上形成有用于防止以卧状安置的电子部件的下方脱离的支撑台,
在所述一对夹持杆上形成有能够使所述支撑突起通过的贯通槽。
10.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机的适配器,其中,
在所述设置框架,在左右两侧分别形成用于放置所述适配器的支架的位置固定销能够插入的至少一个位置固定槽。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020220035973A KR20230138212A (ko) | 2022-03-23 | 2022-03-23 | 전자부품 테스트용 핸들러의 어댑터 |
| KR10-2022-0035973 | 2022-03-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116803551A true CN116803551A (zh) | 2023-09-26 |
Family
ID=88078983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310293387.3A Pending CN116803551A (zh) | 2022-03-23 | 2023-03-23 | 电子部件测试用分选机的适配器 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20230138212A (zh) |
| CN (1) | CN116803551A (zh) |
| TW (1) | TWI861778B (zh) |
Cited By (1)
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Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116511098A (zh) * | 2020-02-10 | 2023-08-01 | 泰克元有限公司 | 电子部件测试用分选机 |
-
2022
- 2022-03-23 KR KR1020220035973A patent/KR20230138212A/ko active Pending
-
2023
- 2023-03-23 TW TW112110926A patent/TWI861778B/zh active
- 2023-03-23 CN CN202310293387.3A patent/CN116803551A/zh active Pending
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20230138212A (ko) | 2023-10-05 |
| TW202401028A (zh) | 2024-01-01 |
| TWI861778B (zh) | 2024-11-11 |
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|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |