CN115407238A - 一种线材开短路测试装置、方法及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种线材开短路测试装置、方法及存储介质。该装置包括：控制模块、测量模块和测试模块；其中，测试模块包括若干开关和若干基座；若干开关包括第一开关，若干基座包括第一基座；第一基座的第一端通过第一电阻接地，第一基座的第二端通过第一开关与控制模块相连；第一基座用于安装待测线材，控制模块用于通过控制第一开关的状态，控制加载到待测线材两端的电压；测量模块用于测量第一基座两端的电压；控制模块用于通过电压的数值大小，判断线材的开短路情况。该装置结构简单，能够实现线材中多个线路的开短路测试，有利于提升测试效率，有利于降低测试成本。本申请可广泛应用于测试技术领域内。

Description

一种线材开短路测试装置、方法及存储介质

技术领域

本申请涉及测试技术领域，尤其是一种线材开短路测试装置、方法及存储介质。

背景技术

线材在电子产品中有着广泛的应用，厂家在生成线材时，需要对线材的开短路情况进行测试。相关技术中，线材的开短路测试装置测试速度慢、成本高，无法满足生产线需求。

发明内容

本申请的目的在于至少一定程度上解决现有技术中存在的技术问题之一。

为此，本发明的目的在于提供一种高效的线材开短路测试装置、方法及存储介质。

为了达到上述技术目的，本申请实施例所采取的技术方案包括：

一方面，本申请实施例提供了一种线材开短路测试装置，包括：控制模块、测量模块和测试模块；所述测试模块通过所述测量模块与所述控制模块相连；其中，所述测试模块包括若干开关和若干基座；所述若干开关包括第一开关，所述若干基座包括第一基座；所述第一基座的第一端通过第一电阻接地，所述第一基座的第二端通过所述第一开关与所述控制模块相连；所述第一基座用于安装待测线材，所述控制模块用于通过控制所述第一开关的状态，控制加载到所述待测线材的电压；所述测量模块用于测量所述第一基座的第一端的电压，记为第一电压；所述测量模块用于测量所述第一基座的第二端的电压，记为第二电压；所述控制模块用于判断通过所述第一电压和所述第二电压的数值大小，进而判断线材的开短路情况。上述装置结构简单，通过设置多个基座，通过控制模块的测量策略配置，能够实现线材中多个线路的开短路测试，有利于提升测试效率，有利于降低测试成本。

另外，根据本申请上述实施例的线材开短路测试装置，还可以具有以下附加的技术特征：

进一步地，本申请实施例的线材开短路测试装置，所述线材包括LED线材，所述测试装置还包括：电源模块，所述电源模块包括第一电源；所述若干基座包括第二基座；

所述测试模块还包括第二电阻，第三电阻、第四电阻、第二开关和第三开关；所述第一电源的第一端连接所述第二电阻的第一端，所述第二电阻的第二端通过所述第二开关与所述第二基座的第一端相连，所述第二基座的第二端通过所述第三开关与所述第一电源的第二端相连；所述第二基座的第一端通过所述第三电阻接地；所述第二基座的第二端通过所述第四电阻接地；

所述测量模块用于测量所述第二电阻的第一端的电压，记为第三电压；所述测量模块用于测量所述第二电阻的第二端的电压，记为第四电压；

所述控制模块用于根据所述第三电压、所述第四电压和所述第二电阻的阻值，判断经过所述第二电阻的电流大小，进而判断所述LED线材的开路情况；

进一步地，在本申请的一个实施例中，所述线材包括二极管线材，所述测试装置还包括：电源模块，所述电源模块包括恒流源；所述若干基座包括第三基座；

所述测试模块还包括第五电阻，第六电阻、第四开关和第五开关；所述恒流源的第一端通过所述第四开关连接所述第三基座的第一端，所述第三基座的第二端通过所述第五开关与所述恒流源的第二端相连；所述第三基座的第一端通过所述第五电阻接地，所述第三基座的第二端通过所述第六电阻接地；

所述恒流源用于输出恒定电流；所述测量模块用于测量所述恒流源的第一端的电压，记为第五电压；所述控制模块用于判断所述第五电压的数值大小，进而判断所述二极管线材的断路情况。

进一步地，在本申请的一个实施例中，所述测试装置还包括：显示模块，所述显示模块用于显示线材的开短路测试结果。

进一步地，在本申请的一个实施例中，所述测试装置还包括：转换模块，所述转换模块用于实现与上位机的通信连接。

另一方面，本申请实施例提出了一种线材开短路测试方法，应用于上述的线材开短路测试装置，所述线材包括若干线路，所述方法包括：

将奇数位线路的第二端加高电平，偶数位线路的第二端加低电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断奇数位线路的开路情况，偶数位线路相对于奇数位线路的短路情况；所述第一端为靠近接地的一端，所述第二端为靠近控制模块的一端；

将偶数位线路的第二端加高电平，奇数位线路的第二端加低电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断偶数位线路的开路情况，奇数位线路相对于偶数位线路的短路情况；

将相邻两个线路组成线路组，每个线路组加相同的电平且相邻的线路组加不同类型的电平，测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断奇数位线路之间和偶数位线路之间的短路情况；

根据所述若干线路的开路情况和短路情况，确定线材的开短路情况。

进一步地，本申请实施例的线材开短路测试方法，其中一个奇数位线路装于第五基座，其中一个偶数位线路装于第六基座；所述将偶数位线路的第二端加高电平，奇数位线路的第二端加低电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断偶数位线路的开路情况，奇数位线路相对于偶数位线路的短路情况这一步骤，包括：

若测量结果为所述第五基座的第二端为高电平且所述第五基座的第一端为低电平，确定安装于所述第五基座的线路开路；

若测量结果为所述第六基座的第一端和所述第六基座的第二端均为高电平，确定安装于所述第六基座的线路导通。

进一步地，本申请实施例的线材开短路测试方法，所述线材包括LED线材，所述方法还包括：

测量第二电阻的第一端的电压，记为第三电压；

测量所述第二电阻的第二端的电压，记为第四电压；

根据所述第三电压、所述第四电压和所述第二电阻的阻值，得到所述第二电阻的电流；

若所述电流在预设电流范围内，确定所述LED线材开路。

进一步地，本申请实施例的线材开短路测试方法，线材包括二极管线材，所述方法还包括：

测量恒流源的第一端的电压，记为第五电压；

若所述第五电压不在预设电压范围内，确定所述二极管线材开路。

另一方面，本申请实施例提供了一种存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于实现上述的任一种线材开短路测试方法。

本申请实施例提供的测试装置结构简单，通过设置多个基座，通过控制模块的测量策略配置，能够实现线材中多个线路的开短路测试，有利于提升测试效率，有利于降低测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或者现有技术中的技术方案，下面对本申请实施例或者现有技术中的相关技术方案附图作以下介绍，应当理解的是，下面介绍中的附图仅仅为了方便清晰表述本申请的技术方案中的部分实施例，对于本领域的技术人员来说，在无需付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获取到其他附图。

图1为本申请提供的线材开短路测试装置的一种实施例的结构示意图；

图2为本申请提供的线材开短路测试装置的另一种实施例的结构示意图；

图3为本申请提供的LED线材开短路测试装置的一种实施例的结构示意图；

图4为本申请提供的二极管线材开短路测试装置的一种实施例的结构示意图；

图5为本申请提供的开关和基座的连接的一种实施例的结构示意图；

图6为本申请提供的LED线材测试电路的一种实施例的电路图；

图7为本申请提供的二极管线材测试电路的一种实施例的电路图；

图8为本申请提供的测量模块的一种实施例的电路图；

图9为本申请提供的转换模块的一种实施例的电路图；

图10为本申请提供的电源模块的一种实施例的电路图；

图11为本申请提供的DAC电路的一种实施例的电路图；

图12为本申请提供的线材开短路测试方法的一种实施例的流程示意图；

图13为本申请提供的多线路开短路测试方法的一种实施例的线路结构示意图；

图14为本申请提供的线材开短路测试系统的一种实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。对于以下实施例中的步骤编号，其仅为了便于阐述说明而设置，对步骤之间的顺序不做任何限定，实施例中的各步骤的执行顺序均可根据本领域技术人员的理解来进行适应性调整。

为了更好的理解本申请的技术方案，首先，对本申请中设计的技术名词进行解释：

开短路测试：开短路测试(OPEN/SHORT测试，O/S测试)，主要是用于测试电子器件的连接情况。开短路测试就是测试电子器件的开路与短路，具体地，测试一个电子器件应该连接的地方是否连接，如果没有连接上就是开路；如果不应该连接的地方连接了就是短路。

开路测试：即测试线路该连通的地方是否有断开。

短路测试：即测试线路该断开的地方是否有连通。

DAC：DAC是数字模拟转换器(Digital to analog converter，DAC)是一种将数字信号转换为模拟信号(以电流、电压或电荷的形式)的设备。在很多数字系统中(例如计算机)，信号以数字方式存储和传输，而数字模拟转换器可以将这样的信号转换为模拟信号，从而使得它们能够被外界(人或其他非数字系统)识别。

ADC(Analog-to-Digital Converter，ADC)指模/数转换器或者模拟/数字转换器。将连续变量的模拟信号转换为离散的数字信号的器件。模拟信号，例如温度、压力、声音或者图像等，需要转换成更容易储存、处理和发射的数字形式。模/数转换器可以实现这个功能，应用广泛。

恒流源：恒流源、交流恒流源、直流恒流源、电流发生器、大电流发生器又叫电流源、稳流源，是一种宽频谱，高精度交流稳流电源，具有响应速度快，恒流精度高、能长期稳定工作，适合各种性质负载(阻性、感性、容性)等优点。主要用于检测热继电器、塑壳断路器、小型短路器及需要设定额定电流、动作电流、短路保护电流等生产场合。

电压源：电压源，即理想电压源，是从实际电源抽象出来的一种模型，在其两端总能保持一定的电压而不论流过的电流为多少。电压源具有两个基本的性质：第一，它的端电压定值U或是一定的时间函数U(t)与流过的电流无关。第二，电压源自身电压是确定的，而流过它的电流是任意的。

单片机：(Microcontrollers)是一种集成电路芯片，是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O口和中断系统、定时器/计数器等功能(可能还包括显示驱动电路、脉宽调制电路、模拟多路转换器、A/D转换器等电路)集成到一块硅片上构成的一个小而完善的微型计算机系统，在工业控制领域广泛应用。

TFT屏：(Thin Film Transistor)薄膜晶体管。TFT式显示屏是各类笔记本电脑和台式机上的主流显示设备，该类显示屏上的每个液晶像素点都是由集成在像素点后面的薄膜晶体管来驱动，因此TFT式显示屏也是一类有源矩阵液晶显示设备。是最好的LCD彩色显示器之一，TFT式显示器具有高响应度、高亮度、高对比度等优点，其显示效果接近CRT式显示器。

随着电子产品的发展，各种电子电气元件离不开线材的连通作用。各大厂商开始生产各种通信及供电线材。为了保证线材的质量，各厂都在引进线材测试技术；但是现阶段各公司生产的线路开短路测试板卡测试速度慢或成本高不适合大量列装到生产线。且传统线材开短路测试机器存在体积大，测试速度慢，价格高等问题。

下面参照附图详细描述根据本申请实施例提出的线材开短路测试装置和测试方法，首先参照附图描述根据本申请实施例提出的一种线材开短路测试装置。

图1是本申请一个实施例的线材开短路测试装置结构示意图，所述系统具体包括：

包括：控制模块、测量模块和测试模块；所述测试模块通过所述测量模块与所述控制模块相连；其中，所述测试模块包括若干开关和若干基座；所述若干开关包括第一开关，所述若干基座包括第一基座；参照图2所示，所述第一基座的第一端通过第一电阻接地，所述第一基座的第二端通过所述第一开关与所述控制模块相连；所述第一基座用于安装待测线材，所述控制模块用于通过控制所述第一开关的状态，控制加载到所述待测线材的电压；所述测量模块用于测量所述第一基座的第一端的电压，记为第一电压；所述测量模块用于测量所述第一基座的第二端的电压，记为第二电压；所述控制模块用于判断通过所述第一电压和所述第二电压的数值大小，进而判断线材的开短路情况。

在一些可能的实施方式中，通过设置多个基座，多个开关，设置测试策略或测试方法，对多个线材或线路的开短路情况进行测试。示例性地，如图5中的接线方式，J1为基座，用于放置待测线材。开关可以是MOS管，通过MOS管控制切换到J1和J2不同线路上。具体地，可以设置20个MOS管，配置两个基座，用于同时测试20条线材或线路的开短路情况。

可选地，本申请实施例的线材开短路测试装置，所述线材包括LED线材，参照图3所示，所述测试装置还包括：电源模块，所述电源模块包括第一电源；所述若干基座包括第二基座；

所述测试模块还包括第二电阻，第三电阻、第四电阻、第二开关和第三开关；所述第一电源的第一端连接所述第二电阻的第一端，所述第二电阻的第二端通过所述第二开关与所述第二基座的第一端相连，所述第二基座的第二端通过所述第三开关与所述第一电源的第二端相连；所述第二基座的第一端通过所述第三电阻接地；所述第二基座的第二端通过所述第四电阻接地；

所述测量模块用于测量所述第二电阻的第一端的电压，记为第三电压；所述测量模块用于测量所述第二电阻的第二端的电压，记为第四电压；

所述控制模块用于根据所述第三电压、所述第四电压和所述第二电阻的阻值，判断经过所述第二电阻的电流大小，进而判断所述LED线材的开路情况；

具体地，参照图6所示的电路图，通过该电路测试LED线材的接通情况是否良好。

可选地，在本申请的一个实施例中，所述线材包括二极管线材，参照图4所示，所述测试装置还包括：电源模块，所述电源模块包括恒流源；所述若干基座包括第三基座；

所述测试模块还包括第五电阻，第六电阻、第四开关和第五开关；所述恒流源的第一端通过所述第四开关连接所述第三基座的第一端，所述第三基座的第二端通过所述第五开关与所述恒流源的第二端相连；所述第三基座的第一端通过所述第五电阻接地，所述第三基座的第二端通过所述第六电阻接地；

所述恒流源用于输出恒定电流；所述测量模块用于测量所述恒流源的第一端的电压，记为第五电压；所述控制模块用于判断所述第五电压的数值大小，进而判断所述二极管线材的断路情况。

具体地，参照图7所示的电路图，通过该电路图，测试二极管线材的接通情况是否良好。

具体地，参照图8所示的电路图，通过ADC芯片，实现电压的采集，即测量模块的功能。

进一步地，在本申请的一个实施例中，所述测试装置还包括：显示模块，所述显示模块用于显示线材的开短路测试结果。

进一步地，参照图9所示，在本申请的一个实施例中，所述测试装置还包括：转换模块，所述转换模块用于实现与上位机的通信连接。

可选地，参照图10所示，在本申请的一个实施例中，本申请的电源模块还包括电压转换子单元，用于获得3.3V电压，供给相关芯片或电路器件使用。

可选地，参照图11所示，本申请的实施例中的测试装置还包括DAC模块，用于根据控制模块的指令，生成不同的电信号至不同的线材；配合测量模块的数据读取，通过逻辑判断，实现线材的开短路测试。

其次，将参照附图描述根据本申请实施例提出的线材开短路测试方法。

参照图12，本申请实施例中提供一种线材开短路测试方法，本申请实施例中的线材开短路测试方法，可应用于终端中，也可应用于服务器中，还可以是运行于终端或服务器中的软件等。终端可以是平板电脑、笔记本电脑、台式计算机等，但并不局限于此。服务器可以是独立的物理服务器，也可以是多个物理服务器构成的服务器集群或者分布式系统，还可以是提供云服务、云数据库、云计算、云函数、云存储、网络服务、云通信、中间件服务、域名服务、安全服务、CDN、以及大数据和人工智能平台等基础云计算服务的云服务器。本申请实施例中的线材开短路测试方法应用于上面所述的线材开短路测试装置，所述线材包括若干线路，所述方法包括：

步骤S110：将奇数位线路的第二端加高电平，偶数位线路的第二端加低电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断奇数位线路的开路情况，偶数位线路相对于奇数位线路的短路情况；所述第一端为靠近接地的一端，所述第二端为靠近控制模块的一端；

步骤S120：将偶数位线路的第二端加高电平，奇数位线路的第二端加低电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断偶数位线路的开路情况，奇数位线路相对于偶数位线路的短路情况；

步骤S130：将相邻两个线路组成线路组，每个线路组加相同的电平且相邻的线路组加不同类型的电平，测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断奇数位线路之间和偶数位线路之间的短路情况；

步骤S140：根据所述若干线路的开路情况和短路情况，确定线材的开短路情况。

参照图13所示，以线材包括4个线芯线路为例，通过控制MOS管的接通和闭合，控制线路上的电压。具体地，第一步，给线路1，3高电平，给线路2，4低电平。然后读取V1-V8电压就可以得出，线路1，3是否有开路情况，1和2，4是否有短路；3和2，4是否有短路。第二步，给线路2，4高电平，给线路1，3低电平。然后读取V1-V8电压就可以得出线路2，4是否有开路情况。2和1，3是否有短路；4和1，3是否有短路；第三步，给线路1，2高电平，给线路3，4低电平。然后读取V5-V8电压就可以得出，1和3是否有短路；2和4是否有短路。通过上述几步的测试，可以测试线路是否正常。而常规方法要线路1，2，3，4两端分别要各测试一次，才能判断线路1，2，3，4是否有开路，1和2，3，4分别各测一次；2和3，4分别各测一次；3和4测一次才能够判断是否有短路，共需要10次测量与判断过程，每次测试时间约60mS，合计时间60x10＝600mS。而本申请提出的测量逻辑，一个电压点是1ms，总时间为：8(个点)x1(ms)x2(次)+4(个点)＝20ms。因此，本申请提出的测试方法，有利于降低测试时间，提升测试效率。具体地，第一开关处于闭合位置时，对应的奇数位线路的第二端加高电平；第一开关处于断开位置时，对应的奇数位线路的第二端加低电平。在一些可能的实现方式中，不同的线材配合不同的DAC模块，给奇数位线路的第二端施加不同电压数值的高电平。示例性地，高电平可以是0.3V至3V之间，低电平可以是小于0.3V。具体地，也可以根据不同的DAC模块，设定高电平为B时，低电平为0-0.3B。本申请并不限制高电平和低电平的具体数值范围。

在一些可能的实现方式中，上述方法可以是，将奇数位线路的第二端加第六电平，偶数位线路的第二端加第七电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断奇数位线路的开路情况，偶数位线路相对于奇数位线路的短路情况；所述第一端为靠近接地的一端，所述第二端为靠近控制模块的一端；第六电平的电压大于第七电平的电压；

将偶数位线路的第二端加第八电平，奇数位线路的第二端加第九电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断偶数位线路的开路情况，奇数位线路相对于偶数位线路的短路情况；第八电平的电压大于第九电平的电压；

将相邻两个线路组成线路组，每个线路组加相同的电平且相邻的线路组加不同类型的电平，测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断奇数位线路之间和偶数位线路之间的短路情况；

根据所述若干线路的开路情况和短路情况，确定线材的开短路情况。

进一步地，本申请实施例的线材开短路测试方法，其中一个奇数位线路装于第五基座，其中一个偶数位线路装于第六基座；所述将偶数位线路的第二端加高电平，奇数位线路的第二端加低电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断偶数位线路的开路情况，奇数位线路相对于偶数位线路的短路情况这一步骤，包括：

若测量结果为所述第五基座的第二端为高电平且所述第五基座的第一端为低电平，确定安装于所述第五基座的线路开路；

若测量结果为所述第六基座的第一端和所述第六基座的第二端均为高电平，确定安装于所述第六基座的线路导通。

具体地，以图2所示的测试示意图为例，测试线路N和线路M是否短路；控制模块控制将QN闭合(高电平)，QM断开(低电平)，那么线路N上为DAC输出的高电平，线路M未导通到DAC输出上，由于10K电阻的下拉表现为低电平。即V1，V3为高电平，V2，V4为低电平。如果线路N和M短路则线路M会被线路N拉成高电平，读取到V1,V2,V3,V4都为高电平，由此判断线路N和M短路。

在一些可能的实现方式中，若测试线路N是否开路；控制模块控制将QN闭合，那么线路N上为DAC输出的高电平，即V1，V3为高电平。如果在V1上读到是高电平，V3上面读取到的是低电平，则表示线路开路。

进一步地，本申请实施例的线材开短路测试方法，所述线材包括LED线材，所述方法还包括：

测量第二电阻的第一端的电压，记为第三电压；

测量所述第二电阻的第二端的电压，记为第四电压；

根据所述第三电压、所述第四电压和所述第二电阻的阻值，得到所述第二电阻的电流；

若所述电流在预设电流范围内，确定所述LED线材开路。

进一步地，本申请实施例的线材开短路测试方法，线材包括二极管线材，所述方法还包括：

测量恒流源的第一端的电压，记为第五电压；

若所述第五电压不在预设电压范围内，确定所述二极管线材开路。

可见，上述系统实施例中的内容均适用于本方法实施例中，本方法实施例所具体实现的功能与上述系统实施例相同，并且达到的有益效果与上述系统实施例所达到的有益效果也相同。

参照图14，本申请实施例提供了一种线材开短路测试系统，包括：

至少一个处理器1410；

至少一个存储器1420，用于存储至少一个程序；

当所述至少一个程序被所述至少一个处理器1410执行时，使得所述至少一个处理器1410实现所述的线材开短路测试方法。

同理，上述方法实施例中的内容均适用于本装置实施例中，本装置实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同，并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器1410可执行的程序，处理器1410可执行的程序在由处理器1410执行时用于执行上述的线材开短路测试方法。

同理，上述方法实施例中的内容均适用于本存储介质实施例中，本存储介质实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同，并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。

在一些可选择的实施例中，在方框图中提到的功能/操作可以不按照操作示图提到的顺序发生。例如，取决于所涉及的功能/操作，连续示出的两个方框实际上可以被大体上同时地执行或所述方框有时能以相反顺序被执行。此外，在本申请的流程图中所呈现和描述的实施例以示例的方式被提供，目的在于提供对技术更全面的理解。所公开的方法不限于本文所呈现的操作和逻辑流程。可选择的实施例是可预期的，其中各种操作的顺序被改变以及其中被描述为较大操作的一部分的子操作被独立地执行。

此外，虽然在功能性模块的背景下描述了本申请，但应当理解的是，除非另有相反说明，功能和/或特征中的一个或多个可以被集成在单个物理装置和/或软件模块中，或者一个或多个功能和/或特征可以在单独的物理装置或软件模块中被实现。还可以理解的是，有关每个模块的实际实现的详细讨论对于理解本申请是不必要的。更确切地说，考虑到在本文中公开的装置中各种功能模块的属性、功能和内部关系的情况下，在工程师的常规技术内将会了解该模块的实际实现。因此，本领域技术人员运用普通技术就能够在无需过度试验的情况下实现在权利要求书中所阐明的本申请。还可以理解的是，所公开的特定概念仅仅是说明性的，并不意在限制本申请的范围，本申请的范围由所附权利要求书及其等同方案的全部范围来决定。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干程序用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行程序的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供程序执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从程序执行系统、装置或设备取程序并执行程序的系统)使用，或结合这些程序执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供程序执行系统、装置或设备或结合这些程序执行系统、装置或设备而使用的装置。

计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的程序执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

在本说明书的上述描述中，参考术语“一个实施方式/实施例”、“另一实施方式/实施例”或“某些实施方式/实施例”等的描述意指结合实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本申请的实施方式，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本申请的原理和宗旨的情况下可以对这些实施方式进行多种变化、修改、替换和变型，本申请的范围由权利要求及其等同物限定。

以上是对本申请的较佳实施进行了具体说明，但本申请并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本申请精神的前提下还可做作出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。

Claims (10)

1.一种线材开短路测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：控制模块、测量模块和测试模块；

所述测试模块通过所述测量模块与所述控制模块相连；其中，所述测试模块包括若干开关和若干基座；所述若干开关包括第一开关，所述若干基座包括第一基座；所述第一基座的第一端通过第一电阻接地，所述第一基座的第二端通过所述第一开关与所述控制模块相连；所述第一基座用于安装待测线材，所述控制模块用于通过控制所述第一开关的状态，控制加载到所述待测线材的电压；

所述测量模块用于测量所述第一基座的第一端的电压，记为第一电压；所述测量模块用于测量所述第一基座的第二端的电压，记为第二电压；所述控制模块用于判断通过所述第一电压和所述第二电压的数值大小，进而判断线材的开短路情况。

2.根据权利要求1所述的线材开短路测试装置，其特征在于，所述线材包括LED线材，所述测试装置还包括：电源模块，所述电源模块包括第一电源；所述若干基座包括第二基座；

所述测试模块还包括第二电阻，第三电阻、第四电阻、第二开关和第三开关；所述第一电源的第一端连接所述第二电阻的第一端，所述第二电阻的第二端通过所述第二开关与所述第二基座的第一端相连，所述第二基座的第二端通过所述第三开关与所述第一电源的第二端相连；所述第二基座的第一端通过所述第三电阻接地；所述第二基座的第二端通过所述第四电阻接地；

所述测量模块用于测量所述第二电阻的第一端的电压，记为第三电压；所述测量模块用于测量所述第二电阻的第二端的电压，记为第四电压；

所述控制模块用于根据所述第三电压、所述第四电压和所述第二电阻的阻值，判断经过所述第二电阻的电流大小，进而判断所述LED线材的开路情况。

3.根据权利要求1所述的线材开短路测试装置，其特征在于，所述线材包括二极管线材，所述测试装置还包括：电源模块，所述电源模块包括恒流源；所述若干基座包括第三基座；

所述测试模块还包括第五电阻，第六电阻、第四开关和第五开关；所述恒流源的第一端通过所述第四开关连接所述第三基座的第一端，所述第三基座的第二端通过所述第五开关与所述恒流源的第二端相连；所述第三基座的第一端通过所述第五电阻接地，所述第三基座的第二端通过所述第六电阻接地；

所述恒流源用于输出恒定电流；所述测量模块用于测量所述恒流源的第一端的电压，记为第五电压；所述控制模块用于判断所述第五电压的数值大小，进而判断所述二极管线材的断路情况。

4.根据权利要求1所述的线材开短路测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：显示模块，所述显示模块用于显示线材的开短路测试结果。

5.根据权利要求1所述的线材开短路测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：转换模块，所述转换模块用于实现与上位机的通信连接。

6.一种线材开短路测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1所述的线材开短路测试装置，所述线材包括若干线路，所述方法包括：

将奇数位线路的第二端加高电平，偶数位线路的第二端加低电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断奇数位线路的开路情况，偶数位线路相对于奇数位线路的短路情况；所述第一端为靠近接地的一端，所述第二端为靠近控制模块的一端；

将偶数位线路的第二端加高电平，奇数位线路的第二端加低电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断偶数位线路的开路情况，奇数位线路相对于偶数位线路的短路情况；

将相邻两个线路组成线路组，每个线路组加相同的电平且相邻的线路组加不同类型的电平，测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断奇数位线路之间和偶数位线路之间的短路情况；

根据所述若干线路的开路情况和短路情况，确定线材的开短路情况。

7.根据权利要求6所述的线材开短路测试方法，其特征在于，其中一个奇数位线路装于第五基座，其中一个偶数位线路装于第六基座；所述将偶数位线路的第二端加高电平，奇数位线路的第二端加低电平，分别测量每个线路的第一端和第二端的电压，并判断偶数位线路的开路情况，奇数位线路相对于偶数位线路的短路情况这一步骤，包括：

若测量结果为所述第五基座的第二端为高电平且所述第五基座的第一端为低电平，确定安装于所述第五基座的线路开路；

若测量结果为所述第六基座的第一端和所述第六基座的第二端均为高电平，确定安装于所述第六基座的线路导通。

8.根据权利要求6所述的线材开短路测试方法，其特征在于，所述线材包括LED线材，所述方法还包括：

测量第二电阻的第一端的电压，记为第三电压；

测量所述第二电阻的第二端的电压，记为第四电压；

根据所述第三电压、所述第四电压和所述第二电阻的阻值，得到所述第二电阻的电流；若所述电流在预设电流范围内，确定所述LED线材开路。

9.根据权利要求6所述的线材开短路测试方法，其特征在于，线材包括二极管线材，所述方法还包括：

测量恒流源的第一端的电压，记为第五电压；

若所述第五电压不在预设电压范围内，确定所述二极管线材开路。

10.一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，其特征在于：所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于实现如权利要求6-9中任一项所述的线材开短路测试方法。

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