CN115112701A - 核磁共振样品检测系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种核磁共振样品检测系统，涉及核磁共振技术领域，其包括透光进样表盘、图像获取模块、光源以及处理模块；通过图像获取模块得到透光进样表盘的样品状态图像，并在样品状态图像中形成亮度区域和非亮度区域，以此为基础，处理模块根据预设参数可以识别出进样槽的对应编号及其是否存在核磁共振样品；可以以光学手段一次性识别出进样槽的对应编号及其是否存在核磁共振样品，避免了检测结果受到强磁场的干扰，不仅提高了检测结果的准确性，还提高了识别效率，也避免了传感器的安装及其布线工作。

Description

核磁共振样品检测系统

技术领域

本申请涉及核磁共振技术领域，具体涉及一种核磁共振样品检测系统。

背景技术

核磁共振(Nuclear Magnetic Resonance)作为一种重要的分析检测手段，已经在药物研发、食品安全、医学诊断、代谢组学等领域，取得了重要的应用。为加快样品的检测效率，样品的自动及批量检测是现代核磁共振仪的重要特征，这就要求核磁共振检测仪器具备一系列的自动检测及自动控制技术，包括进出样、调谐、匀场、锁场等自动化检测控制技术。

现代核磁共振波谱仪普遍配备了自动进样系统，被测样品放置在自动进样器的样品槽中，然后由自动进样器的传动装置，将被测样品传送或抓取至样品管上方，然后由自动进样系统中的气动装置控制被测样品缓慢下降至目标检测位置。在自动进样系统中，批量被测样品被放置以后，所有被测样品的检测可全自动进行，不需要任何人工干预。实现自动进样的前提条件是，准确地判断自动进样器的各样品槽中是否存在有被测样品。

但是，传统技术方案中，通过在样品槽中安装对应的传感器，来检测自动进样器的各样品槽中是否存在有被测样品，这样得到的检测结果不仅容易受到强磁场的干扰，还增加了传感器的安装及其布线这种实施难度，也降低了判断各样品槽中是否存在有被测样品的识别效率。

发明内容

本申请提供一种核磁共振样品检测系统，缓解了判断各进样槽中是否存在有被测样品的检测结果容易受到强磁场干扰的技术问题。

本申请提供一种核磁共振样品检测系统，其包括透光进样表盘、图像获取模块、光源以及处理模块；透光进样表盘设置有不透光定位块和至少一个环状分布的进样槽，进样槽用于承载非透光转子，非透光转子中装载有核磁共振样品，不透光定位块用于定位一个初始编号进样槽，初始编号进样槽为进样槽中的一个；图像获取模块位于透光进样表盘一侧，且位于透光进样表盘的中心线上，用于获取透光进样表盘的样品状态图像；光源位于透光进样表盘的另一侧，用于在样品状态图像中形成亮度区域和非亮度区域；处理模块与图像获取模块连接，用于根据预设参数和接收到的样品状态图像，识别出对应编号的进样槽是否存在核磁共振样品。

可选地，不透光定位块为等边三角形；不透光定位块的第一顶点、透光进样表盘的圆心以及初始编号进样槽的圆心位于同一直线上；直线与不透光定位块的底边垂直；底边与第一顶点不相交。

可选地，预设参数包括第一距离、透光进样表盘的半径、进样槽的半径、不透光定位块的边长以及图像缩放比例中的至少一个；第一距离为图像获取模块至透光进样表盘的距离；图像缩放比例为核磁共振样品检测系统中任一实物的实际尺寸与样品状态图像中实物的图像尺寸的比值；且第一距离与图像缩放比例为线性关系。

可选地，预设参数还包括预设灰度阈值；处理模块根据样品状态图像中各像素点的灰度值与预设灰度阈值的比较结果，二值化处理样品状态图像，得到处理后的样品状态图像；处理后的样品状态图像中每一像素点的灰度值为第一灰度值和第二灰度值中的一种，第一灰度值为0灰度值，第二灰度值为255灰度值。

可选地，处理模块根据第一数量比值和不透光定位块在处理后的样品状态图像中的多个第一预估位置范围，确定不透光定位块在处理后的样品状态图像中的第一实际位置范围；第一数量比值为具有第一灰度值的像素点数量与第一预估位置范围内的像素点数量的相除结果。

可选地，预设参数还包括第二距离；处理模块根据相邻两个进样槽的间隔角度、第二距离、图像缩放比例以及第一实际位置范围，确定进样槽在处理后的样品状态图像中的至少一个第二实际位置范围；第二距离为进样槽的圆心至透光进样表盘的圆心之间的距离。

可选地，处理模块根据第一实际位置范围与第二实际位置范围之间的相对位置关系，在处理后的样品状态图像中确定进样槽中的一个为初始编号进样槽。

可选地，处理模块根据编号排列方向和初始编号进样槽在处理后的样品状态图像中的定位，确定除初始编号进样槽之外的进样槽的对应编号；编号排列方向为顺时针方向和逆时针方向中的一种。

可选地，处理模块根据第二数量比值和多个第二预估位置范围，确定进样槽是否存在核磁共振样品；第二数量比值为具有第一灰度值的像素点数量与第二预估位置范围内的像素点数量的相除结果。

可选地，处理模块基于多个第一预估位置范围获得多个对应的第一数量比值，且确定多个第一数量比值中较大的一个所对应的第一预估位置范围为第一实际位置范围。

本申请提供的核磁共振样品检测系统，通过图像获取模块得到透光进样表盘的样品状态图像，并在样品状态图像中形成亮度区域和非亮度区域，以此为基础，处理模块根据预设参数可以识别出进样槽的对应编号及其是否存在核磁共振样品；可以以光学手段一次性识别出进样槽的对应编号及其是否存在核磁共振样品，避免了检测结果受到强磁场的干扰，不仅提高了检测结果的准确性，还提高了识别效率，也避免了传感器的安装及其布线工作。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请实施例提供的核磁共振样品检测系统的一种结构示意图。

图2为本申请实施例提供的核磁共振样品检测系统的另一种结构示意图。

图3为本申请实施例提供的核磁共振样品检测系统中透光进样表盘的第一种结构示意图。

图4为本申请实施例提供的核磁共振样品检测系统的流程示意图。

图5为本申请实施例提供的核磁共振样品检测系统中透光进样表盘的第二种结构示意图。

图6为本申请实施例提供的核磁共振样品检测系统中透光进样表盘的第三种结构示意图。

图7为本申请实施例提供的核磁共振样品检测系统中透光进样表盘的第四种结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

请参阅图1至图7，如图1和图2所示，本实施例提供了一种核磁共振样品检测系统，其包括透光进样表盘20、图像获取模块30、光源10以及处理模块40。透光进样表盘20设置有不透光定位块60和至少一个环状分布的进样槽21，进样槽21用于承载非透光转子，非透光转子中装载有核磁共振样品22，不透光定位块60用于定位一个初始编号进样槽，初始编号进样槽为进样槽21中的一个。图像获取模块30位于透光进样表盘20一侧，且位于透光进样表盘20的中心线上，用于获取透光进样表盘20的样品状态图像。光源10位于透光进样表盘20的另一侧，用于在样品状态图像中形成亮度区域和非亮度区域。处理模块40与图像获取模块30连接，用于根据预设参数和接收到的样品状态图像，识别出对应编号的进样槽21是否存在核磁共振样品22。

可以理解的是，本实施例提供的核磁共振样品检测系统，通过图像获取模块30得到透光进样表盘20的样品状态图像，并在样品状态图像中形成亮度区域和非亮度区域，以此为基础，处理模块40根据预设参数可以识别出进样槽21的对应编号及其是否存在核磁共振样品22；可以以光学手段一次性识别出进样槽21的对应编号及其是否存在核磁共振样品22，避免了检测结果受到强磁场的干扰，不仅提高了检测结果的准确性，还提高了识别效率，也避免了传感器的安装及其布线工作。

需要进行说明的是，透光进样表盘20可以但不限于为圆型，也可以为矩形或者长方形。当透光进样表盘20为圆型时，其中心即为圆心。当透光进样表盘20为矩形或者长方形时，其中心为对角线的交叉点。

图像获取模块30可以但不限于摄像头或者摄像机，还可以为数码照相机等。处理模块40可以但不限于为内置有图像识别软件的计算机，也可以为具有能够执行本申请中各种图像处理的芯片。

在其中一个实施例中，核磁共振样品检测系统还可以包括自动进样器200和支撑机构50。透光进样表盘20置于自动进样器200中，光源10位于自动进样器200的底部与透光进样表盘20之间。支撑机构50的一端固定于自动进样器200的一侧，支撑机构50的另一端与图像获取模块30连接。具体地，支撑机构50与图像获取模块30可拆卸连接。

在其中一个实施例中，不透光定位块60可拆卸地设置于透光进样表盘20的表面。例如，可以采用不透光胶层制作成为等边三角形，然后粘接于透光进样表盘20的表面。还可以采用不透光材质制作为等边三角形结构，然后通过胶粘层粘接于透光进样表盘20的表面。其中，胶粘层可以为双面胶。

在其中一个实施例中，不透光定位块60为等边三角形；不透光定位块60的第一顶点、透光进样表盘20的圆心A以及初始编号进样槽的圆心位于同一直线上；直线与不透光定位块60的底边垂直；底边与第一顶点不相交。

在其中一个实施例中，预设参数包括第一距离、透光进样表盘20的半径、进样槽21的半径、不透光定位块60的边长以及图像缩放比例中的至少一个；第一距离为图像获取模块30至透光进样表盘20的距离；图像缩放比例为核磁共振样品检测系统中任一实物的实际尺寸与样品状态图像中实物的图像尺寸的比值；且第一距离与图像缩放比例为线性关系。

综上所述，传统检测系统由于一个传感器仅能检测一个透光进样表盘20中的样品状态，降低了样品的放置和检测效率。基于此，本实施例则是通过光线采集和图片处理方式提高了样品状态的检测效率。

如图1和图2所示，该核磁共振样品检测系统的工作过程为:摄像机获取透光进样表盘20的光学信息。可以理解的是，自动进样器200包括透光进样表盘20；然后，响应于计算机的请求，摄像机输出对应的样品状态图像至计算机中；最后，计算机根据该样品状态图像识别出不同编号的进样槽21中是否装载有核磁共振样品22。

需要进行说明的是，整个装置结构也相对简单，在自动进样器200底部放置一个光源10，自动进样器200的上方安装一台摄像头，该摄像头连接一台处理图像信息的计算机即可。

如图2所示，该核磁共振样品检测系统包括自动进样器200、外置型光源10、摄像头以及计算机这四个主要部件。其中，自动进样器200用来盛放待检测的核磁共振样品22。外置型光源10放置在自动进样器200的内部，用于增加自动进样器200内部环境亮度。摄像头则安装在自动进样器200的正上方，用于拍摄自动进样器200的样品状态图像。计算机则与摄像头相连，可以通过安装在计算机中的图像识别软件或者处理指令，来处理摄像头拍摄的样品状态图像，以实现进样槽状态的识别作用。该系统通过发送摄像头拍摄自动进样器200的样品状态图像给计算机进行处理，计算机通过图像识别软件可以定位出不透光定位块60的位置。

如图3所示，在自动进样器200中的透光进样表盘20的表面设置一个可拆卸的不透光定位块60，该不透光定位块60为等边三角形结构，该不透光定位块60可以放置在透光进样表盘20的表面并指向1号进样槽，用于图像识别过程中确定进样槽21的排序。例如，该定位块指向的是1号进样槽，所以根据实物与图片的比例，则可定位出图片中1号进样槽的位置，而进样槽21是按顺序均匀分布在一个圆形上，计算机也可以通过计算得出剩下的进样槽21的具体位置。由于进样槽21有核磁共振样品22后无法将内部的光源10的光线穿透上去，因此，可以在样品状态图像中形成对应的亮度区域和/或非亮度区域，计算机则通过样品状态图像中的明暗信息判断进样槽21有无核磁共振样品22。具体方式可以为，计算机计算进样槽21区域内灰度值为0的像素点数量占单个进样槽21区域内整个像素点数量的比例值，当比例值大于阈值时则判定为有核磁共振样品22。同理上述不透光定位块60也可以以此方式为基础进行识别，至此计算机便可以确定出进样槽21的状态和编号。

如图4所示，该核磁共振样品检测系统的工作流程为:首先，进行系统初始化。然后，图像获取模块30拍摄图片，并将得到的样品状态图像传输至处理模块40，处理模块40对样品状态图像进行二值化处理。然后，处理模块40根据二值化处理后的样品状态图像，进行不透光定位块60的识别和进样槽21的标识。最后，处理模块40计算进样槽21状态，得到进样槽21的编号和状态。

可以理解的是，本实施例中摄像头拍照利用的是光学检测，能够不受自动进样器200所处强磁场的影响。且采用图像识别的方式，可以对所有进样槽21一次识别，避免了需要安装多台传感设备。

具体地，如图5所示，本实施例中可以采用12位的透光进样表盘20即透光进样表盘20有1至12个编号的进样槽21，并且在1、4和5号进样槽21中放置了核磁共振样品22，该核磁共振样品检测系统的系统初始化具体如下：

调整摄像头位置，使摄像头的中心轴线和透光进样表盘20的中心轴线重合，其中，摄像头至透光进样表盘20的高度H，通过摄像头拍摄一张照片，处理模块40中的图像识别软件可以测量出该照片中透光进样表盘20的半径r，EFG为不透光定位块60的三个顶点。其中，1号进样槽的圆心、不透光定位块60的顶点E以及透光进样表盘20的圆心A在同一条直线上，且不透光定位块60的底边FG垂直于此直线。在计算机中输入不透光定位块60的实际边长L、不透光定位块60至圆心A的实际距离D、透光进样表盘20的实际半径R、进样槽21的实际半径R1以及进样槽21的圆心到透光进样表盘20的圆心A的实际距离D1。然后根据透光进样表盘20在样品状态图像中的半径r和其实际半径R的比值，得到与高度H对应的一个图像缩放比例a＝r/R，可以理解的是，同一高度H仅需一次即可获得。然后，基于该图像缩放比例并换算出对应尺寸在样品状态图像中的长度，例如，不透光定位块60在样品状态图像中边长l＝a*L。定位块至圆心A在样品状态图像中的距离d＝a*D。进样槽21在样品状态图像中半径r1＝a*R1。进样槽21的圆心至透光进样表盘20的圆心A在样品状态图像中的距离d1＝a*D1。例如，在其中一个实施例中，H＝40cm，a＝0.5，R＝30cm，R1＝2.5cm，L＝8cm，D＝12cm，D1＝27cm。

在其中一个实施例中，预设参数还包括预设灰度阈值；处理模块40根据样品状态图像中各像素点的灰度值与预设灰度阈值的比较结果，二值化处理样品状态图像，得到处理后的样品状态图像；处理后的样品状态图像中每一像素点的灰度值为第一灰度值和第二灰度值中的一种，第一灰度值为0灰度值，第二灰度值为255灰度值。

具体地，二值化处理的具体方式可以为：摄像头拍摄新照片，将新照片中每个像素点进行灰度值的重新计算并赋值。例如，预设灰度阈值T为175灰度值，赋值新照片中灰度值大于T的像素点的灰度值为255，可以理解的是，对于灰度值为255的像素点在新照片中显示为白色；赋值新照片中灰度值小于或者等于T的像素点的灰度值为0(黑)，可以理解的是，对于灰度值为0的像素点在新照片中显示为黑色。通过该二值化处理方式后，彩色的新图片会被处理为黑白图片。

在其中一个实施例中，处理模块40根据第一数量比值和不透光定位块60在处理后的样品状态图像中的多个第一预估位置范围，确定不透光定位块60在处理后的样品状态图像中的第一实际位置范围；第一数量比值为具有第一灰度值的像素点数量与第一预估位置范围内的像素点数量的相除结果。

在其中一个实施例中，处理模块40基于多个第一预估位置范围获得多个对应的第一数量比值，且确定多个第一数量比值中较大的一个所对应的第一预估位置范围为第一实际位置范围。

具体地，如图6所示，可以根据上述得到的黑白图片识别到不透光定位块60在黑白图片中的位置。首先，定位到图片的中心即透光进样表盘20的圆心A，根据图像缩放比例可以计算出d和l在黑白图片中的具体值，然后在图片中获取初始位置P处的等边三角形结构内的像素点，此等边三角形表示定位块在图片中可能出现的位置并且计算机将此位置记录为0(等边三角形中垂线相对水平线AB的角度)，然后统计此位置等边三角形范围内像素点的灰度值信息，方式为计算灰度值为0(黑)的像素点数量在等边三角形范围内像素点数量中所占的比例值，并保存此比例值ratio1和角度信息position1。运算结束后计算机将以A为中心，等边三角形顺时针旋转2度，得到第2个等边三角形可能出现的位置，将此角度信息记录为2，同上述方式，计算和保存第二组数据ratio2和position2，直至等边三角形旋转了360°得到了180组数据。定位块由于是黑色不透光材料而自动进样器200表盘是透光材料，所以，180组数据中将会有一组数据中的ratio＝1，表示等边三角形区域内所有像素点的灰度值全等于0，那么该组数据对应的即为不透光定位块60在图片中的真实位置。但由于误差存在的关系，将会在180组数据中心筛选出比例值ratio最大的一组数据并得到角度信息position，该角度信息position则为不透光定位块60的实际角度，基于此，可以确定不透光定位块60的位置。例如，在本实例中，可以得到最大的比例值ratio＝0.9972，角度信息position＝180度。

在其中一个实施例中，预设参数还包括第二距离；处理模块40根据相邻两个进样槽21的间隔角度、第二距离、图像缩放比例以及第一实际位置范围，确定进样槽21在处理后的样品状态图像中的至少一个第二实际位置范围；第二距离为进样槽21的圆心至透光进样表盘20的圆心A之间的距离。

在其中一个实施例中，处理模块40根据第一实际位置范围与第二实际位置范围之间的相对位置关系，在处理后的样品状态图像中确定进样槽21中的一个为初始编号进样槽。

在其中一个实施例中，处理模块40根据编号排列方向和初始编号进样槽在处理后的样品状态图像中的定位，确定除初始编号进样槽之外的进样槽21的对应编号；编号排列方向为顺时针方向和逆时针方向中的一种。

具体地，如图7所示，标识黑白图片中进样槽21的位置：同理，根据图像缩放比例计算黑白图片中进样槽21的半径r1＝R1*a、进样槽21的圆心至透光进样表盘20的圆心A的距离d1＝D1*a；同时，根据上述得到的角度信息position，可以确认1号进样槽的位置，并且可以在黑白图片中标示出1号进样槽，其为半径r1的圆形。以黑白图片的中心为圆心，将标示出的1号进样槽以顺时针方向旋转α度，可以标识出第二个圆形，该第二个圆形的编号可以定义为2。以此类推，直至旋转360度，可以标示出n个圆，这n个圆即为识别出的n个编号的进样槽21。例如，在本实例中，n＝12，α＝30。

在其中一个实施例中，处理模块40根据第二数量比值和多个第二预估位置范围，确定进样槽21是否存在核磁共振样品22；第二数量比值为具有第一灰度值的像素点数量与第二预估位置范围内的像素点数量的相除结果。

具体地，判定进样槽21有无核磁共振样品22：可以将上述标示出的n个圆分别进行判断，每个圆的计算方式为计算圆内所有像素点中灰度值为0的像素点的比例值。由于进样槽21放置核磁共振样品22后不透光，不同状态的进样槽21的比例值会有明显的差异，以此可以识别出进样槽21中是否有核磁共振样品22。例如，可以取阈值为β，即当计算的比例值小于β时，判断为没有核磁共振样品22。当大于或者等于β时，判定有核磁共振样品22。本实例中β＝0.5，1号进样槽所在区域的比例值等于0.742，4号进样槽所在区域的比例值等于0.651，5号进样槽所在区域的比例值等于0.642，其余进样槽21所在区域的比例值均小于0.5，以此判定1、4和5号进样槽21有核磁共振样品22。至此，各进样槽21的状态信息识别完成。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例所提供的核磁共振样品检测系统进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种核磁共振样品检测系统，其特征在于，包括：

透光进样表盘，所述透光进样表盘设置有不透光定位块和至少一个环状分布的进样槽，所述进样槽用于承载非透光转子，所述非透光转子中装载有核磁共振样品，所述不透光定位块用于定位一个初始编号进样槽，所述初始编号进样槽为所述进样槽中的一个；

图像获取模块，所述图像获取模块位于所述透光进样表盘一侧，且位于所述透光进样表盘的中心线上，用于获取所述透光进样表盘的样品状态图像；

光源，所述光源位于所述透光进样表盘的另一侧，用于在所述样品状态图像中形成亮度区域和非亮度区域；以及

处理模块，与所述图像获取模块连接，用于根据预设参数和接收到的所述样品状态图像，识别出对应编号的所述进样槽是否存在所述核磁共振样品。

2.根据权利要求1所述的核磁共振样品检测系统，其特征在于，所述不透光定位块为等边三角形；所述不透光定位块的第一顶点、所述透光进样表盘的圆心以及所述初始编号进样槽的圆心位于同一直线上；所述直线与所述不透光定位块的底边垂直；所述底边与所述第一顶点不相交。

3.根据权利要求2所述的核磁共振样品检测系统，其特征在于，所述预设参数包括第一距离、所述透光进样表盘的半径、所述进样槽的半径、所述不透光定位块的边长以及图像缩放比例中的至少一个；所述第一距离为所述图像获取模块至所述透光进样表盘的距离；所述图像缩放比例为所述核磁共振样品检测系统中任一实物的实际尺寸与所述样品状态图像中所述实物的图像尺寸的比值；且所述第一距离与所述图像缩放比例为线性关系。

4.根据权利要求3所述的核磁共振样品检测系统，其特征在于，所述预设参数还包括预设灰度阈值；所述处理模块根据所述样品状态图像中各像素点的灰度值与所述预设灰度阈值的比较结果，二值化处理所述样品状态图像，得到处理后的样品状态图像；所述处理后的样品状态图像中每一像素点的灰度值为第一灰度值和第二灰度值中的一种，所述第一灰度值为0灰度值，所述第二灰度值为255灰度值。

5.根据权利要求4所述的核磁共振样品检测系统，其特征在于，所述处理模块根据第一数量比值和所述不透光定位块在所述处理后的样品状态图像中的多个第一预估位置范围，确定所述不透光定位块在所述处理后的样品状态图像中的第一实际位置范围；所述第一数量比值为具有所述第一灰度值的像素点数量与所述第一预估位置范围内的像素点数量的相除结果。

6.根据权利要求5所述的核磁共振样品检测系统，其特征在于，所述预设参数还包括第二距离；所述处理模块根据相邻两个所述进样槽的间隔角度、所述第二距离、所述图像缩放比例以及所述第一实际位置范围，确定所述进样槽在所述处理后的样品状态图像中的至少一个第二实际位置范围；所述第二距离为所述进样槽的圆心至所述透光进样表盘的圆心之间的距离。

7.根据权利要求6所述的核磁共振样品检测系统，其特征在于，所述处理模块根据所述第一实际位置范围与所述第二实际位置范围之间的相对位置关系，在所述处理后的样品状态图像中确定所述进样槽中的一个为所述初始编号进样槽。

8.根据权利要求7所述的核磁共振样品检测系统，其特征在于，所述处理模块根据编号排列方向和所述初始编号进样槽在所述处理后的样品状态图像中的定位，确定除所述初始编号进样槽之外的进样槽的对应编号；所述编号排列方向为顺时针方向和逆时针方向中的一种。

9.根据权利要求8所述的核磁共振样品检测系统，其特征在于，所述处理模块根据第二数量比值和多个所述第二预估位置范围，确定所述进样槽是否存在所述核磁共振样品；所述第二数量比值为具有所述第一灰度值的像素点数量与所述第二预估位置范围内的像素点数量的相除结果。

10.根据权利要求5所述的核磁共振样品检测系统，其特征在于，所述处理模块基于多个所述第一预估位置范围获得多个对应的所述第一数量比值，且确定多个所述第一数量比值中较大的一个所对应的所述第一预估位置范围为所述第一实际位置范围。

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