[go: up one dir, main page]

CN103076344A - 显示面板的缺陷检测方法及其检测装置 - Google Patents

显示面板的缺陷检测方法及其检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN103076344A
CN103076344A CN2012105806034A CN201210580603A CN103076344A CN 103076344 A CN103076344 A CN 103076344A CN 2012105806034 A CN2012105806034 A CN 2012105806034A CN 201210580603 A CN201210580603 A CN 201210580603A CN 103076344 A CN103076344 A CN 103076344A
Authority
CN
China
Prior art keywords
display panel
gtg
defective
described display
different colours
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2012105806034A
Other languages
English (en)
Inventor
林勇佑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN2012105806034A priority Critical patent/CN103076344A/zh
Priority to PCT/CN2013/070005 priority patent/WO2014101304A1/zh
Priority to US13/809,007 priority patent/US8908170B2/en
Publication of CN103076344A publication Critical patent/CN103076344A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8845—Multiple wavelengths of illumination or detection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513—Liquid crystal panels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

本发明提供了一种显示面板的缺陷检测方法及其检测装置。该检测方法包括：使用多种不同颜色的光依次照射显示面板；获取显示面板在多种不同颜色的光照射时，对应的多个灰阶图；判断显示面板是否具有缺陷，若多个灰阶图出现灰阶差异，则判定显示面板具有缺陷。通过上述方式，本发明能够提升光学缺陷检查机对显示面板的缺陷检测能力，防止漏检。

Description

显示面板的缺陷检测方法及其检测装置
技术领域
本发明涉及显示面板检测技术领域，具体而言涉及一种显示面板的缺陷检测方法及其检测装置。
背景技术
随着时代的发展，高品质图像显示的液晶显示面板已变得越来越流行。然而根据现有的显示面板的制造技术，完全避免显示缺陷的发生是十分困难也是不现实的，因此在显示面板的制造工序中，对显示面板进行显示缺陷检查的工序是十分必要的。
现有技术中，一般采用白光照射显示面板，并获取对应的灰阶图，继而根据灰阶图是否出现灰阶差异来判定显示面板是否具有缺陷。然而，由于某些类型的缺陷在白光照射显示面板时对应灰阶图的灰阶差异较小，不容易分辨，因此光学缺陷检查机极易漏检，从而降低对显示面板的缺陷检测能力。
综上所述，有必要提供一种显示面板的缺陷检测方法及其检测装置，以解决上述问题。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种显示面板的缺陷检测方法及其检测装置，以提升光学缺陷检查机对显示面板的缺陷检测能力，防止漏检。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种显示面板的缺陷检测方法，包括：使用多种不同颜色的光依次照射显示面板；获取显示面板在多种不同颜色的光照射时，对应的多个灰阶图；判断显示面板是否具有缺陷，若多个灰阶图出现灰阶差异，则判定显示面板具有缺陷。
其中，获取显示面板在多种不同颜色的光照射时，对应的多个灰阶图的步骤包括：通过拍摄获取显示面板在多种不同颜色的光照射时，对应的像素电极图像；根据像素电极图像获取对应的多个灰阶图。
其中，不同颜色的光是红光、绿光和蓝光，显示面板在红光、绿光和蓝光照射时对应第一灰阶图、第二灰阶图和第三灰阶图。
其中，检测方法进一步包括：使用白光照射显示面板；获取显示面板在白光照射时的第四灰阶图；根据第四灰阶图判断显示面板是否具有缺陷；若第四灰阶图未出现灰阶差异，则判定显示面板不具有缺陷，并进行使用红光、绿光以及蓝光依次照射显示面板的步骤。
其中，根据第四灰阶图判断显示面板是否具有缺陷的步骤还包括：若第四灰阶图出现灰阶差异，则判定显示面板具有缺陷。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种显示面板的缺陷检测装置，包括：光源模块，分别使用不同颜色的光照射显示面板；获取模块，获取显示面板在光源模块使用不同颜色的光照射时，对应多个灰阶图；处理模块，根据获取模块获取的多个灰阶图，判断显示面板是否具有缺陷，若多个灰阶图出现灰阶差异，则判定显示面板具有缺陷。
其中，检测装置还包括拍摄模块，拍摄模块用于拍摄获取显示面板在不同颜色的光照射时对应的像素电极图像，获取模块根据拍摄模块获取的像素电极图像获取对应的灰阶图。
其中，不同颜色的光是红光、绿光和蓝光，显示面板在红光、绿光和蓝光照射时对应第一灰阶图、第二灰阶图和第三灰阶图。
其中，光源模块进一步用于使用白光照射显示面板，拍摄模块获取显示面板在白光照射时的像素电极图像，获取模块根据拍摄模块获取的白光照射时的像素电极图像获取对应的第四灰阶图。
其中，处理模块根据第四灰阶图判断显示面板是否具有缺陷，若第四灰阶图未出现灰阶差异，则处理模块判定显示面板不具有缺陷，若第四灰阶图出现灰阶差异，则处理模块判定显示面板具有缺陷。
本发明的有益效果是：本发明通过使用多种不同颜色的光依次照射显示面板，并获取对应的多个灰阶图，进而根据灰阶图出现灰阶差异判定并检测具有缺陷的显示面板。本发明能够提升光学缺陷检查机对显示面板的缺陷检测能力，防止漏检。
附图说明
图1是本发明显示面板的缺陷检测方法一实施例的流程示意图；
图2是本发明一实施例的显示面板的缺陷检测第一步骤示意图；
图3是本发明一实施例的显示面板的缺陷检测第二步骤示意图；
图4是本发明一实施例的显示面板的缺陷检测第三步骤示意图；
图5是显示面板在红光、绿光和蓝光照射时的灰阶正常的灰阶图；
图6是显示面板在红光、绿光和蓝光照射时的灰阶差异的灰阶图；
图7是本发明显示面板的缺陷检测方法另一实施例的流程示意图；
图8是显示面板在白光照射时的灰阶差异的灰阶图；
图9是本发明显示面板的缺陷检测装置一实施例的流程示意图。
具体实施方式
本发明提供一种显示面板的缺陷检测方法及其检测装置。具体而言，本发明的缺陷检测方法主要通过使用多种不同颜色的光依次照射所述显示面板，并获取对应的多个灰阶图，进而根据灰阶图出现灰阶差异判定并检测具有缺陷的显示面板。其中，缺陷包括像素粒子脱落、像素分布不均匀、水残和ITO残等类型的显示缺陷，并且各个类型的缺陷在不同颜色的光照射显示面板时的灰阶反应不相同。
下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。
图1是本发明显示面板的缺陷检测方法一实施例的流程示意图。如1图所示，本实施例的检测方法包括以下步骤：
步骤S101：使用多种不同颜色的光依次照射显示面板；
图2、图3和图4是本发明一实施例的显示面板的缺陷检测示意图。结合图2、图3和图4所示，在本实施例中，将待检测的显示面板210上载至检测平台220后，光学缺陷检查机（SCAN光机）230开始工作并发出不同颜色的光依次照射显示面板210。
在本实施例中，为节约成本以及最大程度的提高对显示面板的缺陷检测能力，优选不同颜色的光是红光、绿光和蓝光。在其他实施例中，也可以使用三者中的任意两种或其他颜色的光，只要满足至少两种不同颜色的光即可。并且，在本发明中，并不限定不同颜色的光的照射顺序，可随意排列。
步骤S102：获取显示面板在多种不同颜色的光照射时，对应的多个灰阶图；
图5是显示面板在红光、绿光和蓝光照射时的灰阶图。参阅图2和图5，在本实施例中，光学缺陷检查机230发出红光照射显示面板210，而后检测人员或传送装置沿箭头a所示方向、以满足检测要求的移动速度移动显示面板210。
在显示面板210移动的同时，设置于检测平台220的拍摄装置（图未视），例如CCD摄像机，拍摄获取显示面板210在红光照射时对应的第一像素电极图像，继而根据第一像素电极图像获取对应的第一灰阶图510。
参阅图3和图5，在获取第一灰阶图510后，光学缺陷检查机230发出绿光照射显示面板210，而后沿与箭头a所示方向相反的箭头b所示方向移动显示面板210。同时，拍摄装置获取显示面板210在绿光照射时对应的第二像素电极图像，继而根据第二像素电极图像获取对应的第二灰阶图520。
参阅图4和图5，在获取第二灰阶图520后，光学缺陷检查机230发出蓝光照射显示面板210，而后沿与箭头b所示方向相反的箭头c所示方向移动显示面板210。同时，拍摄装置获取显示面板210在蓝光照射时对应的第三像素电极图像，继而根据第三像素电极图像获取对应的第三灰阶图530。
值得注意的是，在本发明的其他实施例中，也可以在获取第一像素电极图像、第二像素电极图像和第三像素电极图像后，再获取对应的第一灰阶图510、第二灰阶图520和第三灰阶图530。其中，由像素电极图像获取灰阶图的具体过程和原理，可参照现有技术，本发明不再赘述。另外，对于红光、绿光和蓝光的先后照射显示面板210的顺序，可以调整，并不仅限于本实施例所示。
步骤S103：判断显示面板是否具有缺陷，若多个灰阶图出现灰阶差异，则判定显示面板具有缺陷。
在本实施例中，若第一灰阶图510、第二灰阶图520和第三灰阶图530三者中至少一个出现灰阶差异，如图6所示的绿光照射显示面板时的第二灰阶图520出现灰阶差异，则判定显示面板210具有缺陷，并且根据灰阶差异的具体状况还可以判定此缺陷为水残；若三者均未出现灰阶差异，则判定显示面板210不具有缺陷，满足显示要求。
综上，本实施例通过使用红光、绿光和蓝光依次照射显示面板，并获取对应的第一灰阶图510、第二灰阶图520和第三灰阶图530，进而根据三者中是否出现灰阶差异来判定并检测显示面板是否具有缺陷，因此能够提升光学缺陷检查机230对显示面板的缺陷检测能力，防止漏检。
图7是本发明显示面板的缺陷检测方法另一实施例的流程示意图。如图7所示，本实施例的检测方法与图1所示实施例的主要区别在于是否首先使用白光进行缺陷检测。详细而言，包括以下步骤：
步骤710：使用白光照射显示面板；
步骤720：获取显示面板在白光照射时的第四灰阶图；
步骤730：根据第四灰阶图判断显示面板是否具有缺陷；
若第四灰阶图出现灰阶差异，则判定显示面板具有缺陷，此时即没有必要再使用不同颜色的光照射显示面板，进行缺陷的检测。
若第四灰阶图未出现灰阶差异，则判定显示面板不具有缺陷，则进行步骤S740；
步骤S740：使用多种不同颜色的光依次照射显示面板；
步骤S750：获取显示面板在多种不同颜色的光照射时，对应的多个灰阶图；
步骤S760：判断显示面板是否具有缺陷，若多个灰阶图出现灰阶差异，则判定显示面板具有缺陷，此次检测结束。
在本实施例中，对于首先选择白光照射显示面板，而后再进行红光、绿光和蓝光等不同颜色的光依次照射显示面板，其主要原理是：经过白光照射时获取的显示面板的灰阶图（如图8所示）可以检测出像素粒子脱落和像素分布不均匀等类型的一般性缺陷，而后再使用不同颜色的光检测出水残和ITO残等类型的特殊性缺陷。
本实施例首先使用白光照射进行显示面板的缺陷检测，再对检测后的显示面板进行红光、绿光和蓝光的照射检测，因此同样能够提升光学缺陷检查机对显示面板的缺陷检测能力，防止漏检。
图9是本发明显示面板的缺陷检测装置一实施例的流程示意图。如图9所示，本实施例的缺陷检测装置900包括：光源模块910、拍摄模块920、获取模块930以及处理模块940。
在本实施例中，光源模块910分别使用不同颜色的光照射显示面板950。其中，本实施例优选不同颜色的光是红光、绿光和蓝光。
拍摄模块920用于拍摄获取显示面板950在红光、绿光和蓝光照射时对应的像素电极图像。
获取模块930用于根据拍摄模块920获取的像素电极图像获取对应的第一灰阶图、第二灰阶图和第三灰阶图。
处理模块940用于根据获取模块930获取的第一灰阶图、第二灰阶图和第三灰阶图，判断显示面板950是否具有缺陷，若所述三个灰阶图中至少一个出现灰阶差异，则判定显示面板950具有缺陷。
此外应理解，在本发明的另一实施例中，光源模块910首先使用白光照射显示面板950，拍摄模块920获取显示面板950在白光照射时的像素电极图像，获取模块930根据拍摄模块920获取的白光照射时的像素电极图像获取对应的第四灰阶图，处理模块940根据第四灰阶图判断显示面板950是否具有缺陷，若第四灰阶图未出现灰阶差异，则处理模块940判定显示面板950不具有缺陷，若第四灰阶图出现灰阶差异，则处理模块判定显示面板950具有缺陷，不再使用其他颜色的光照射显示面板950进行缺陷检测。
综上所述，本发明通过使用多种不同颜色的光依次照射显示面板，并获取对应的多个灰阶图，进而根据灰阶图出现灰阶差异判定并检测具有缺陷的显示面板。本发明能够提升光学缺陷检查机对显示面板的缺陷检测能力，防止漏检。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：
使用多种不同颜色的光依次照射所述显示面板；
获取所述显示面板在所述多种不同颜色的光照射时，对应的多个灰阶图；
判断所述显示面板是否具有缺陷，若所述多个灰阶图出现灰阶差异，则判定所述显示面板具有缺陷。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述获取所述显示面板在所述多种不同颜色的光照射时，对应的多个灰阶图的步骤包括：
通过拍摄获取所述显示面板在所述多种不同颜色的光照射时，对应的像素电极图像；
根据所述像素电极图像获取对应的多个灰阶图。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述不同颜色的光是红光、绿光和蓝光，所述显示面板在所述红光、绿光和蓝光照射时对应第一灰阶图、第二灰阶图和第三灰阶图。
4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法进一步包括：
使用白光照射所述显示面板；
获取所述显示面板在白光照射时的第四灰阶图；
根据所述第四灰阶图判断所述显示面板是否具有缺陷；
若所述第四灰阶图未出现灰阶差异，则判定所述显示面板不具有缺陷，并进行使用红光、绿光以及蓝光依次照射所述显示面板的步骤。
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述第四灰阶图判断所述显示面板是否具有缺陷的步骤还包括：
若所述第四灰阶图出现灰阶差异，则判定所述显示面板具有缺陷。
6.一种显示面板的缺陷检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：
光源模块，分别使用不同颜色的光照射所述显示面板；
获取模块，获取所述显示面板在所述光源模块使用所述不同颜色的光照射时，对应多个灰阶图；
处理模块，根据所述获取模块获取的所述多个灰阶图，判断所述显示面板是否具有缺陷，若所述多个灰阶图出现灰阶差异，则判定所述显示面板具有缺陷。
7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括拍摄模块，所述拍摄模块用于拍摄获取所述显示面板在所述不同颜色的光照射时对应的像素电极图像，所述获取模块根据所述拍摄模块获取的所述像素电极图像获取对应的所述灰阶图。
8.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述不同颜色的光是红光、绿光和蓝光，所述显示面板在所述红光、绿光和蓝光照射时对应第一灰阶图、第二灰阶图和第三灰阶图。
9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述光源模块进一步用于使用白光照射所述显示面板，所述拍摄模块获取所述显示面板在白光照射时的像素电极图像，所述获取模块根据所述拍摄模块获取的白光照射时的所述像素电极图像获取对应的第四灰阶图。
10.根据权利要求9所述的检测装置，其特征在于，所述处理模块根据所述第四灰阶图判断所述显示面板是否具有缺陷，若所述第四灰阶图未出现灰阶差异，则所述处理模块判定所述显示面板不具有缺陷，若所述第四灰阶图出现灰阶差异，则所述处理模块判定所述显示面板具有缺陷。
CN2012105806034A 2012-12-27 2012-12-27 显示面板的缺陷检测方法及其检测装置 Pending CN103076344A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012105806034A CN103076344A (zh) 2012-12-27 2012-12-27 显示面板的缺陷检测方法及其检测装置
PCT/CN2013/070005 WO2014101304A1 (zh) 2012-12-27 2013-01-04 显示面板的缺陷检测方法及其检测装置
US13/809,007 US8908170B2 (en) 2012-12-27 2013-01-04 Method for detecting defect of display panel and related detecting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012105806034A CN103076344A (zh) 2012-12-27 2012-12-27 显示面板的缺陷检测方法及其检测装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103076344A true CN103076344A (zh) 2013-05-01

Family

ID=48152946

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2012105806034A Pending CN103076344A (zh) 2012-12-27 2012-12-27 显示面板的缺陷检测方法及其检测装置

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN103076344A (zh)
WO (1) WO2014101304A1 (zh)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104392432A (zh) * 2014-11-03 2015-03-04 深圳市华星光电技术有限公司 基于方向梯度直方图的显示面板缺陷检测方法
CN105486687A (zh) * 2014-10-07 2016-04-13 东友精细化工有限公司 触摸面板检查装置和方法
CN105938088A (zh) * 2016-04-14 2016-09-14 明基材料有限公司 隐形眼镜的颜色瑕疵的检测方法及检测系统
CN107144993A (zh) * 2017-06-30 2017-09-08 惠科股份有限公司 一种显示面板检测方法及装置
CN107966836A (zh) * 2017-11-29 2018-04-27 南昌工程学院 一种tft-lcd缺陷光学自动检测系统
CN108369194A (zh) * 2015-12-16 2018-08-03 株式会社理光 检查系统及检查方法
CN108449976A (zh) * 2015-10-19 2018-08-24 永友Dsp有限公司 面板表面检查装置
CN108663371A (zh) * 2018-04-04 2018-10-16 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种检测显示面板灰尘异物的方法及系统
CN109900705A (zh) * 2019-03-18 2019-06-18 合肥京东方光电科技有限公司 一种基板检测装置和检测方法
CN109946858A (zh) * 2017-12-20 2019-06-28 咸阳彩虹光电科技有限公司 一种Mura缺陷检测方法及装置
CN110044294A (zh) * 2018-01-17 2019-07-23 欧姆龙株式会社 图像检查装置及照明装置
CN110415663A (zh) * 2019-07-24 2019-11-05 深圳市华星光电技术有限公司 监视显示面板色偏的警示方法及其警示装置
CN111474181A (zh) * 2020-03-31 2020-07-31 成都数之联科技有限公司 一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统
CN112345546A (zh) * 2020-11-27 2021-02-09 常州信息职业技术学院 一种手机屏幕缺陷检测装置及检测方法
CN112394069A (zh) * 2020-12-04 2021-02-23 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板的异常检测方法及装置
CN112461838A (zh) * 2019-09-09 2021-03-09 芯恩（青岛）集成电路有限公司 晶圆缺陷检测装置及方法
CN119310088A (zh) * 2024-12-17 2025-01-14 深圳市全洲自动化设备有限公司 一种全透彩膜lcd内污检测方法及装置
US12379324B1 (en) 2024-03-08 2025-08-05 AUO Corporation Defect inspection system

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114002232B (zh) * 2021-09-23 2022-10-11 京东方科技集团股份有限公司 一种液晶显示面板切割检测方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000105200A (ja) * 1998-09-29 2000-04-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画面検査方法
CN101666923A (zh) * 2008-09-02 2010-03-10 北京京东方光电科技有限公司 液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备
CN101889197A (zh) * 2007-12-06 2010-11-17 株式会社尼康 检查装置和检查方法
CN102759531A (zh) * 2012-07-25 2012-10-31 深圳市华星光电技术有限公司 自动光学检测装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IL132817A (en) * 1999-11-08 2003-11-23 Orbotech Schuh Gmbh & Co Illumination and image acquisition system
US6781687B2 (en) * 2002-09-26 2004-08-24 Orbotech Ltd. Illumination and image acquisition system
JP4778755B2 (ja) * 2005-09-09 2011-09-21 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査方法及びこれを用いた装置
JP2008292398A (ja) * 2007-05-28 2008-12-04 Omron Corp 部品電極の浮き不良の検査方法および基板検査装置
JP4910939B2 (ja) * 2007-08-15 2012-04-04 凸版印刷株式会社 回折像を用いたカラーフィルターの検査方法および装置
CN101887030A (zh) * 2009-05-15 2010-11-17 圣戈本玻璃法国公司 用于检测透明基板表面和/或其内部的缺陷的方法及系统
CN201707304U (zh) * 2010-06-08 2011-01-12 惠州市德赛西威汽车电子有限公司 一种产品表面自动光学检查设备
CN102520537B (zh) * 2011-12-02 2015-02-11 深圳市华星光电技术有限公司 一种自动光学检测方法和光学自动检测设备

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000105200A (ja) * 1998-09-29 2000-04-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画面検査方法
CN101889197A (zh) * 2007-12-06 2010-11-17 株式会社尼康 检查装置和检查方法
CN101666923A (zh) * 2008-09-02 2010-03-10 北京京东方光电科技有限公司 液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备
CN102759531A (zh) * 2012-07-25 2012-10-31 深圳市华星光电技术有限公司 自动光学检测装置

Cited By (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105486687A (zh) * 2014-10-07 2016-04-13 东友精细化工有限公司 触摸面板检查装置和方法
CN105486687B (zh) * 2014-10-07 2020-05-15 东友精细化工有限公司 触摸面板检查装置和方法
CN104392432A (zh) * 2014-11-03 2015-03-04 深圳市华星光电技术有限公司 基于方向梯度直方图的显示面板缺陷检测方法
CN108449976A (zh) * 2015-10-19 2018-08-24 永友Dsp有限公司 面板表面检查装置
CN108369194A (zh) * 2015-12-16 2018-08-03 株式会社理光 检查系统及检查方法
CN105938088B (zh) * 2016-04-14 2019-05-24 明基材料有限公司 隐形眼镜的颜色瑕疵的检测方法及检测系统
CN105938088A (zh) * 2016-04-14 2016-09-14 明基材料有限公司 隐形眼镜的颜色瑕疵的检测方法及检测系统
CN107144993A (zh) * 2017-06-30 2017-09-08 惠科股份有限公司 一种显示面板检测方法及装置
WO2019000726A1 (zh) * 2017-06-30 2019-01-03 惠科股份有限公司 一种显示面板检测方法及装置
CN107144993B (zh) * 2017-06-30 2020-05-05 惠科股份有限公司 一种显示面板检测方法及装置
CN107966836A (zh) * 2017-11-29 2018-04-27 南昌工程学院 一种tft-lcd缺陷光学自动检测系统
CN109946858B (zh) * 2017-12-20 2022-03-11 咸阳彩虹光电科技有限公司 一种Mura缺陷检测方法及装置
CN109946858A (zh) * 2017-12-20 2019-06-28 咸阳彩虹光电科技有限公司 一种Mura缺陷检测方法及装置
CN110044294A (zh) * 2018-01-17 2019-07-23 欧姆龙株式会社 图像检查装置及照明装置
CN108663371A (zh) * 2018-04-04 2018-10-16 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种检测显示面板灰尘异物的方法及系统
CN108663371B (zh) * 2018-04-04 2021-01-29 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种检测显示面板灰尘异物的方法及系统
CN109900705B (zh) * 2019-03-18 2022-06-10 合肥京东方光电科技有限公司 一种基板检测装置和检测方法
CN109900705A (zh) * 2019-03-18 2019-06-18 合肥京东方光电科技有限公司 一种基板检测装置和检测方法
WO2021012369A1 (zh) * 2019-07-24 2021-01-28 Tcl华星光电技术有限公司 监视显示面板色偏的警示方法及其警示装置
US11321825B2 (en) 2019-07-24 2022-05-03 Tcl China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Alerting method and alerting device for monitoring color shift of display panel
CN110415663A (zh) * 2019-07-24 2019-11-05 深圳市华星光电技术有限公司 监视显示面板色偏的警示方法及其警示装置
CN112461838A (zh) * 2019-09-09 2021-03-09 芯恩（青岛）集成电路有限公司 晶圆缺陷检测装置及方法
CN112461838B (zh) * 2019-09-09 2023-03-10 芯恩（青岛）集成电路有限公司 晶圆缺陷检测装置及方法
CN111474181A (zh) * 2020-03-31 2020-07-31 成都数之联科技有限公司 一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统
CN112345546A (zh) * 2020-11-27 2021-02-09 常州信息职业技术学院 一种手机屏幕缺陷检测装置及检测方法
CN112394069A (zh) * 2020-12-04 2021-02-23 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板的异常检测方法及装置
US12379324B1 (en) 2024-03-08 2025-08-05 AUO Corporation Defect inspection system
TWI893696B (zh) * 2024-03-08 2025-08-11 友達光電股份有限公司 缺陷檢測系統
CN119310088A (zh) * 2024-12-17 2025-01-14 深圳市全洲自动化设备有限公司 一种全透彩膜lcd内污检测方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2014101304A1 (zh) 2014-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103076344A (zh) 显示面板的缺陷检测方法及其检测装置
EP3531114B1 (en) Visual inspection device and illumination condition setting method of visual inspection device
KR101949257B1 (ko) 디스플레이 모듈 검사장치 및 검사방법
KR101246958B1 (ko) 멀티라인센서 카메라와 다중조명을 사용한 시편 고속검사장치
CN103792705B (zh) 检测基板缺陷的检测方法及检测装置
CN105486690A (zh) 光学检测装置
CN103913459B (zh) 一种灯泡头焊锡触点合格率检测装置及方法
CN103245670B (zh) 一种光学元件的缺陷检测装置及其缺陷检测方法
CN104330749A (zh) 正发光led灯条测试装置和方法
CN105277574B (zh) 应用重复曝光的多曝光影像混合的检测方法
KR100863341B1 (ko) 중복 영상을 이용한 에프피디 기판 및 반도체 웨이퍼검사시스템
CN104568977A (zh) 平面玻璃表面缺陷自动检测系统和检测方法
KR101496993B1 (ko) 디스플레이 패널 검사방법
KR20140067785A (ko) 표시패널의 색감차 얼룩 자동 검사 장치 및 방법
JP5634390B2 (ja) ガラス容器の欠陥検査方法及び装置
US7800568B2 (en) Apparatus and method for inspecting liquid crystal display
CN102156106A (zh) 太阳能晶圆快速检测系统
KR100902709B1 (ko) 유리기판의 진행 방향측 에지면의 결함 검출장치
KR101129708B1 (ko) 프로브 유닛의 블럭 베이스 검사장치, 및 이를 이용한 프로브 유닛의 블럭 베이스 검사방법
TWI477768B (zh) 平面基板之自動光學檢測方法及其裝置
JP2012189351A (ja) 表面異物検査装置
KR20100070966A (ko) 유리기판의 진행 방향측 에지면의 결함 검출장치
KR20140031687A (ko) 기판 표면 검사 시스템 및 검사 방법
CN102865836A (zh) 一种扫描式图像检测方法
CN111665260B (zh) 显示面板检查装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20130501