CN109946858A - 一种Mura缺陷检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种Mura缺陷检测方法，应用于检测面板，所述检测面板上交替设置有至少两种待检测像素点，包括：以第一频率交替发送至少两种检测信号到待检测区域；以第一频率依次接收从所述待检测区域反射的所述至少两种检测信号，并形成对应于所述检测信号的原始检测图像；处理所述原始检测图像，判断所述检测面板的Mura缺陷。本发明的Mura缺陷检测方法能够在一次检测流程中实现多种显示色彩显示的检测，相比现有方案节省了检测时间、减少了检测设备的使用量，简化了检测流程，进而降低了检测成本。

Description

一种Mura缺陷检测方法及装置

技术领域

本发明属于面板检测领域，具体涉及一种Mura缺陷检测方法及装置。

背景技术

Mura是指显示器亮度不均匀,造成各种痕迹的现象。Mura缺陷会造成图像失真等现象，甚至会对人眼造成伤害。因此在生产过程中，需要对显示设备的Mura缺陷进行检测，以防止有缺陷的产品进入到市场。

然而，目前的Mura检测设备在一次检测中只能针对单一色彩进行检测，检测效率较低，需要多台设备在不同检测时间依次配合才能实现对显示面板进行一次完整的检测，其检测效率低，资源占用大，造成生产成本及人力资源的浪费。

发明内容

为了解决现有技术中存在的上述问题，本发明提供了一种Mura缺陷检测方法及装置。本发明要解决的技术问题通过以下技术方案实现：

本发明实施例提供了一种Mura缺陷检测方法，应用于检测面板，所述检测面板上交替设置有至少两种待检测像素点，包括：

以第一频率交替发送至少两种检测信号到待检测区域；

以第一频率依次接收从所述待检测区域反射的所述至少两种检测信号，并形成对应于所述检测信号的原始检测图像；

处理所述原始检测图像，判断所述检测面板的Mura缺陷。

在一个具体实施例中，所述检测面板以第一速度移动，使所述像素点依次经过所述待检测区域。

在一个具体实施例中，所述第一频率的大小由所述第一速度的大小确定。

在一个具体实施例中，所述检测信号为对应于所述待检测像素点的光信号。

在一个具体实施例中，处理所述原始检测图像包括：

按照所述检测信号的种类对所述原始检测图像进行分类，得到对应于所述至少两种检测信号的至少两组待检测图像。

本发明还提供了一种Mura缺陷检测装置，应用于检测面板，所述检测面板上交替设置有至少两种待检测像素点，包括：

信号发送模块，用于以第一频率交替发送至少两种检测信号到待检测区域；

信号接收模块，用于以第一频率接收从所述待检测区域反射的所述至少两种检测信号，并形成对应于所述检测信号的原始检测图像；

信号处理模块，用于处理所述原始检测图像，判断所述检测面板的Mura缺陷。

在一个具体实施例中，所述检测面板以第一速度移动，使所述像素点依次经过所述待检测区域。

在一个具体实施例中，所述第一频率的大小由所述第一速度的大小确定。

在一个具体实施例中，所述检测信号为对应于所述待检测像素点的光信号。

在一个具体实施例中，所述信号处理模块还用于：按照所述检测信号的种类对所述原始检测图像进行分类，得到对应于所述至少两种检测信号的至少两组待检测图像。

与现有技术相比，本发明的有益效果：

本发明的Mura缺陷检测方法能够在一次检测流程中实现多种显示色彩显示的检测，相比现有方案节省了检测时间、减少了检测设备的使用量，简化了检测流程，进而降低了检测成本。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种Mura缺陷检测方法流程图；

图2为本发明实施例提供的一种Mura缺陷检测装置示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明做进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。

实施例一

请参见图1，图1为本发明实施例提供的一种Mura缺陷检测方法流程图，应用于检测面板，所述检测面板上交替设置有至少两种待检测像素点，包括：

以第一频率交替发送至少两种检测信号到待检测区域；

以第一频率依次接收从所述待检测区域反射的所述至少两种检测信号，并形成对应于所述检测信号的原始检测图像；

处理所述原始检测图像，判断所述检测面板的Mura缺陷。

检测面板为液晶显示面板(TFT LCD)时，其由两片玻璃组成，分别为上基板和下基板，上基板上设置有彩色滤光板，下极板上设置TFT，上基板和下基板之间夹着一层液晶层，外围再搭配偏光板、背光板、光源、驱动电路等元件形成显示器。彩色滤光板由几种不同颜色的滤光单元组成，每种滤光单元为具有一种颜色的滤光板，并对应为一个子像素。以传统的三基色显示器为例，彩色滤光板由红、绿、蓝三种颜色的滤光片组成，一个像素由一个红色子像素、一个绿色子像素、一个蓝色子像素构成，多个像素呈矩形排列形成完整的显示面板。本发明所说的至少两种待检测像素点即为至少两种颜色的子像素，具体来看，交替设置有至少两种待检测像素点，即为红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素依次交替设置。当然，滤光板的子像素颜色的数量根据实际情况而定，可以为3种、4种等。

仍然以红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素三种像素点为例。

在传统检测方式中，通常设置一种颜色的光源，该光源以一定角度照射到待检测的检测面板上，经过面板反射后，利用一个CCD去接收反射后的光源并形成图像，通过对拍摄的图像进行判断，来检测是否存在Mura缺陷及缺陷种类等信息，从而对应进行修复等操作。一般的，检测面板通常设置在检测平台上，该平台的大小依照检测面板的大小而确定，在检测时，检测平台以一定速度进行移动，并带动检测面板移动，由于光源位置及照射角度一般是固定的，光源只照射到固定的区域，通过检测面板的移动使待检测的像素移动到光源照射的区域，从而进行检测。

例如设置红色光源，红色光源持续照射到检测面板，检测面板在移动时，会依次经过红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素，红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素共同构成一个像素。而在绿色子像素、蓝色子像素经过时，由于检测光源为红色，其无法进行采集并检测这两块区域的Mura情况，因此每隔两个像素的移动时间才能再次进行采集，对应的CCD会根据该移动频率对应只采集红色子像素经过时的图像信号，在该方式下，一个检测设备只能检测其中的一种颜色下的Mura缺陷，在进行其他颜色检测时，只能等该检测流程检测完成后，替换到其他的检测设备中再进行检测，例如，替换为绿色光源对应的设备再次进行检测，如此，不仅检测时间慢、检测流程繁琐，而且需要多种设备相互配合才能完成一次完整的Mura检测，检测效率低，检测复杂，检测成本高。

鉴于此，本发明采用闪频技术，通过设定的频率交替发送至少两种颜色的光源，例如，以第一频率交替发送红色和蓝色的光源，或者第一频率交替发送红色、蓝色、绿色的光源。这里需要说明的是，由于检测过程中，检测的速度比较快，因此对应的频闪频率较高，而此时CCD由于图像采集频率的限制，可能无法匹配较高的闪频速率，在实际情况中可对应进行调整。

例如，设置检测平台的流片为333mm/s，解析度为500um，按照上述设置规则，以现有技术的方案进行计算，可知CCD采集频率为666次/s，以这种采集频率可以对应采集到需要检测的子像素。对应到本申请，例如以两种光源切换为例，由于检测面板的彩色滤光板像素的排列方式依次为红色、绿色、蓝色、红色、绿色、蓝色交替设置，因此子像素在移动到待检测区域时，依次按照上述规则移动，现有方案的CCD采集频率为666次/s即表明，每间隔1/666s正好移动下一个同一颜色的子像素位置，因此，每次都能采集到相同颜色对应的图像。

相对于现有技术中的一个采集时刻，本发明需要采集两次图像，因此为了更好的适应取像频率，本实施例需要对应缩短取像时间，隔一个像素进行取像，例如取红色和蓝色，对应的，以第一频率交替发送红色和蓝色的光源，对应的采集频率变为1332次/s，330mm/s为330000um/s，

采集图像的第一次面积为330000um/s÷1332次/s＝247.45um，由于本申请为两次采集图像，因此，两次光的面积为494.9um，作为500um的解析度是可以满足上述需求。

这里要说的是，上述实例只是为了更好的说明采集方式进行的举例，对应于不同的检测设备或者不同的检测面板其对应参数是不同的，但均可根据上述实例的计算原理进行对应得出结论。

为了更好的说明本发明方案的实施方法，以三种灯光进行切换为例，相比现有方案，需要三倍于现有技术方案的采集图像频率，对应的，也需要对应频率的光源进行交替发送。以第一频率为例，在第一时刻发送红色光源，此时对应到检测面板移动到待检测区域的像素正好是红色子像素，CCD采集此刻经过检测面板反射的信号，生成对应的红色检测图像；在第二时刻发送绿色光源，此时对应到检测面板移动到待检测区域的像素正好是绿色子像素，CCD采集此刻经过检测面板反射的信号，生成对应的绿色检测图像；在第一时刻发送蓝色光源，此时对应到检测面板移动到待检测区域的像素正好是蓝色子像素，CCD采集此刻经过检测面板反射的信号，生成对应的蓝色检测图像；依次类推，依次接收到一系列检测信号，生成原始检测图像。最后处理原始检测图像，判断所述检测面板的Mura缺陷。

当然，上述示例仅仅是针对设计原理进行的简化描述，具体到实际的应用场景，为了清楚的体现本方案相比现有技术的优势，列举如下参数进行说明，本发明方案使用的机台长度短，具体，传统方案机台长度为12000mm×40000mm，本方案为8000mm×4100mm；本发明方案使用的光学站数少，传统方案为5站，本方案为2站；由于一次就能完成传统方案需要多次的检测量，因此相机数量和光源也成倍的减少，对应的节约的成本也是成倍的降低。

在一个具体实施例中，所述检测面板以第一速度移动，使所述像素点依次经过所述待检测区域。所述第一频率的大小由所述第一速度的大小确定。

根据本发明实施例一的进一步说明，灯光切换频率、CCD采集频率、流片速度是相互关联的，第一速度可以认为是流片中的检测面板移动速度。

在一个具体实施例中，所述检测信号为对应于所述待检测像素点的光信号。

在一个具体实施例中，处理所述原始检测图像包括：

按照所述检测信号的种类对所述原始检测图像进行分类，得到对应于所述至少两种检测信号的至少两组待检测图像。

由于本发明在一次检测流程中，采集了至少两种子像素的待检测图像，因此在实际处理时，需要先对图像进行分割，即拆图步骤，如果采集的是两种子像素的待检测图像，因此对原始检测图像按照采集时间交替提取两种图像，并单独进行存储；如果采集的是三种子像素的待检测图像，因此对原始检测图像需要按照采集时间交替提取三种图像，并单独进行存储，以便后续进行对应分析。

本发明的Mura缺陷检测方法能够在一次检测流程中实现多种显示色彩显示的检测，相比现有方案节省了检测时间、减少了检测设备的使用量，简化了检测流程，进而降低了检测成本。

实施例二

请参见图2，图2为本发明实施例提供的一种Mura缺陷检测装置示意图，本发明还提供了一种Mura缺陷检测装置，应用于检测面板，所述检测面板上交替设置有至少两种待检测像素点，包括：

信号发送模块1，用于以第一频率交替发送至少两种检测信号到待检测区域4；

信号接收模块2，用于以第一频率接收从所述待检测区域4反射的所述至少两种检测信号，并形成对应于所述检测信号的原始检测图像；

信号处理模块3，用于处理所述原始检测图像，判断所述检测面板的Mura缺陷。

在一个具体实施例中，所述检测面板以第一速度移动，使所述像素点依次经过所述待检测区域4。

在一个具体实施例中，所述第一频率的大小由所述第一速度的大小确定。

在一个具体实施例中，所述检测信号为对应于所述待检测像素点的光信号。

在一个具体实施例中，所述信号处理模块3还用于：按照所述检测信号的种类对所述原始检测图像进行分类，得到对应于所述至少两种检测信号的至少两组待检测图像。

本发明的Mura缺陷检测装置能够在一次检测流程中实现多种显示色彩显示的检测，相比现有方案节省了检测时间、减少了检测设备的使用量，简化了检测流程，进而降低了检测成本。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种Mura缺陷检测方法，应用于检测面板，所述检测面板上交替设置有至少两种待检测像素点，其特征在于，包括：

以第一频率交替发送至少两种检测信号到待检测区域；

以第一频率依次接收从所述待检测区域反射的所述至少两种检测信号，并形成对应于所述检测信号的原始检测图像；

处理所述原始检测图像，判断所述检测面板的Mura缺陷。

2.根据权利要求1所述的Mura缺陷检测方法，其特征在于，所述检测面板以第一速度移动，使所述像素点依次经过所述待检测区域。

3.根据权利要求2所述的Mura缺陷检测方法，其特征在于，所述第一频率的大小由所述第一速度的大小确定。

4.根据权利要求1所述的Mura缺陷检测方法，其特征在于，所述检测信号为对应于所述待检测像素点的光信号。

5.根据权利要求1所述的Mura缺陷检测方法，其特征在于，处理所述原始检测图像包括：

按照所述检测信号的种类对所述原始检测图像进行分类，得到对应于所述至少两种检测信号的至少两组待检测图像。

6.一种Mura缺陷检测装置，应用于检测面板，所述检测面板上交替设置有至少两种待检测像素点，其特征在于，包括：

信号发送模块，用于以第一频率交替发送至少两种检测信号到待检测区域；

信号接收模块，用于以第一频率接收从所述待检测区域反射的所述至少两种检测信号，并形成对应于所述检测信号的原始检测图像；

信号处理模块，用于处理所述原始检测图像，判断所述检测面板的Mura缺陷。

7.根据权利要求6所述的Mura缺陷检测装置，其特征在于，所述检测面板以第一速度移动，使所述像素点依次经过所述待检测区域。

8.根据权利要求7所述的Mura缺陷检测装置，其特征在于，所述第一频率的大小由所述第一速度的大小确定。

9.根据权利要求6所述的Mura缺陷检测装置，其特征在于，所述检测信号为对应于所述待检测像素点的光信号。

10.根据权利要求6所述的Mura缺陷检测装置，其特征在于，所述信号处理模块还用于：按照所述检测信号的种类对所述原始检测图像进行分类，得到对应于所述至少两种检测信号的至少两组待检测图像。