CN102155927A - 一种基于激光自准直的二维微角度测量装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于激光自准直的二维微角度测量装置。它包括半导体激光器、偏振分光棱镜、1/4波片、透镜、被测物体或反光镜、四象限光电探测器、底座、信号处理器;在底座上固定有半导体激光器、偏振分光棱镜、1/4波片、透镜、四象限光电探测器,半导体激光器发出的光束经偏振分光棱镜后分为两束,其中一束光入射在被测物体表面,反射光经偏振分光棱镜后由四象限光电探测器接收并转化为四路电信号,该信号经信号处理器的I-V转换器、数字滤波器、数据采集器、数据存储器后,在计算机中完成信号分析并显示。本发明实现二维微角度的同时测量,结构简单、体积小、精度高、分辨力和测量范围可调、动态响应好。
Description
技术领域
本发明涉及一种基于激光自准直的二维微角度测量装置,属于光学非接触的微角度测量技术领域。
背景技术
角度测量是几何量计量技术的重要组成部分,微角度测量在精密加工、微机电系统、在线检测、军事、航空航海以及通讯等许多领域都具有极其重要的作用。光学测角法由于具有非接触、高准确度和高灵敏度的特点而备受人们重视,尤其是稳定的激光光源的发展使工业现场测量成为可能,因此光学测角法的应用越来越广。
目前常用的光学微角度测量方法主要有:光学自准直法、光学内反射法、激光干涉法、环形激光法等。这些测量方法中尤其以激光干涉测角技术为主,该方法的最大优点是测量精度高,微小角度测量已经达到了极高的准确度。目前应用比较广泛的微角度测量仪器如激光干涉仪或自准直仪,虽然能提供较高的测量精度,但基于此设计的测量系统结构比较复杂、体积较大,大部分只能进行一维测量,要实现二维角度的测量,就需要两套测量系统结合,其结果是系统更加庞大,因而在工业实际应用中具有较大的局限性,特别是很难与精密平台结合用于在线测量。因此,开发体积小、测量精度和分辨率高、稳定性好的非接触式二维微角度测量装置以适应在线实时测量的要求十分必要。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的不足,提供一种基于激光自准直的二维微角度测量装置。
基于激光自准直的二维微角度测量装置包括半导体激光器、偏振分光棱镜、1/4波片、透镜、被测物体或反光镜、四象限光电探测器、底座、信号处理器;在底座上固定有半导体激光器、偏振分光棱镜、1/4波片、透镜、四象限光电探测器,半导体激光器发出的光束经偏振分光棱镜后分为两束,其中一束光入射在被测物体表面,反射光经偏振分光棱镜后由四象限光电探测器接收并转化为四路电信号,该信号经信号处理器的I-V转换器、数字滤波器、数据采集器、数据存储器后,在计算机中完成信号分析并显示。
所述的透镜是短焦距透镜。所述的四象限光电探测器采用微离焦法放置。
本发明的优点在于利用四象限光电二极管的二维微位移探测能力实现二维微角度的同时测量,系统采用一个激光源和短焦距物镜,结构简单、体积小、精度高、分辨力和测量范围可调、动态响应好,装置体积为25×20×13 mm,测量范围为±1200 arcsec,分辨率为0.1 arcsec。
附图说明
图1为基于激光自准直的二维微角度测量装置结构示意图;
图2为本发明所用四象限光电探测器表面示意图;
图3为本发明的信号处理器电路框图;
图4为采用本发明进行微角度测量示意图;
图中,半导体激光器1、偏振分光棱镜2、1/4波片3、透镜4、被测物体或反光镜5、底座6、四象限光电探测器7、信号处理器8。
具体实施方式
如图1所示,基于激光自准直的二维微角度测量装置包括半导体激光器1、偏振分光棱镜2、1/4波片3、透镜4、被测物体或反光镜5、底座6、四象限光电探测器7、信号处理器8;在底座6上固定有半导体激光器1、偏振分光棱镜2、1/4波片3、透镜4、四象限光电探测器7;半导体激光器1发出的光束经过偏振分光棱镜2后分为两束,其中P偏振光透过偏振分光棱镜2,经1/4波片3后变为圆偏振光,入射到被测物体5表面,被反射后二次通过1/4波片3转变成S偏振光,此时不能通过偏振分光棱镜2,而是被偏振分光棱镜2反射后,由微离焦放置的四象限光电探测器7接收,四象限光电探测器7将光信号转化为电信号后输入信号处理器8,其中偏振分光棱镜2和1/4波片3结合作为光隔离器,防止反射光返回到半导体激光器1,从而得到稳定的输出。此装置中透镜4是短焦距透镜,角度测量装置的灵敏度可以用装置的输出对入射角的比值表示,根据本发明装置特点经分析计算后其灵敏度为入射光束直径对入射光波长的比值,与所选透镜焦距无关,因此选用短焦距透镜实现装置小型化。
其中I A ,I B ,I C ,I D 分别为A、B、C、D四个象限产生的电流输出,正比于照射在各个象限中光斑的面积。角度测量中当被测物体5绕X轴转动时,入射在四象限光电探测器7上的光斑会沿Y轴方向移动,当被测物体5绕Y轴转动时,入射在四象限光电探测器7上的光斑会沿X轴方向移动,当被测物体5存在一个二维的角度变化时,四象限光电探测器7表面的光斑将产生相应的X、Y两个方向的微位移,这样二维角度变化可以被同时探测,从而实现了二维微角度的测量。因四象限光电探测器7各个象限区域间存在微小缝隙,为了使入射光斑的大小大于探测器象限的缝隙大小,同时提高角度测量装置的分辨率和测量范围,通过仿真实验后将四象限光电探测器7采用微离焦放置。
如图3所示,基于激光自准直的二维微角度测量装置的信号处理器包括I-V转换器、数字滤波器、数据采集器、数据存储器。由四象限光电探测器7输出的微安级电流进入集成了高性能运放的I-V转换器,实现微电流到电压的转换放大;进而通过数字滤波器,隔离干扰信号,提高目标信号稳定性;经过滤波的信号分别由数据采集器和数据存储器完成信号的采集及存储,并输入计算机显示。
下面举一个例子进行说明。
如图4所示,按照二维微角度测量装置结构图放置好各元器件,打开半导体激光器1,使出射激光垂直照射在被测物体表面,设定此时角度测量装置初始输出信号为零,令被测物体5绕Y轴顺时针转过一个微小角度θ,经被测物体5反射的光束角度发生相应变化,被偏振分光棱镜反射后,照射在四象限光电探测器7上的光斑位置不再位于原点,而是沿X轴正方向移动,此时A、D象限光斑面积变大,电流输出增大;B、C象限光斑面积减小,电流输出减小,A、B、C、D四路微电流信号经I-V转换器后由微电流信号转变为可探测的电压信号,四路信号由数字滤波器消除电路中的噪声干扰,然后通过数据采集器完成A/D转换后采集到计算机中,在计算机完成信号分析后,即可显示被测物体的角度变化值θ。
Claims (3)
1.一种基于激光自准直的二维微角度测量装置,其特征在于包括半导体激光器1、偏振分光棱镜2、1/4波片3、透镜4、被测物体或反光镜5、底座6、四象限光电探测器7、信号处理器8;在底座(6)上固定有半导体激光器(1)、偏振分光棱镜(2)、1/4波片(3)、透镜(4)、四象限光电探测器(7),半导体激光器(1)发出的光束经偏振分光棱镜(2)后分为两束,其中一束光入射在被测物体(5)表面,反射光经偏振分光棱镜(2)后由四象限光电探测器(7)接收并转化为四路电信号,该信号经信号处理器(8)的I-V转换器、数字滤波器、数据采集器、数据存储器后,在计算机中完成信号分析并显示。
2.根据权利1所述的一种基于激光自准直的二维微角度测量装置,其特征在于所述的透镜4是短焦距透镜。
3.根据权利1所述的一种基于激光自准直的二维微角度测量装置,其特征在于所述的四象限光电探测器7采用微离焦法放置。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20110817 |