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CN101814571B - 用有机硅树脂密封的光半导体装置 - Google Patents

用有机硅树脂密封的光半导体装置 Download PDF

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CN101814571B CN2010101253288A CN201010125328A CN101814571B CN 101814571 B CN101814571 B CN 101814571B CN 2010101253288 A CN2010101253288 A CN 2010101253288A CN 201010125328 A CN201010125328 A CN 201010125328A CN 101814571 B CN101814571 B CN 101814571B
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silicone resin
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Abstract

本发明的目的在于提供一种由有机硅树脂密封的光半导体装置，该光半导体装置不会发生引线变色，且具有优异的耐热冲击性。为此，本发明提供一种光半导体装置，其具备光半导体元件和用来密封该光半导体元件的有机硅树脂组合物的固化物，其中，对该固化物进行固体29Si-DD/MAS分析而求出的(ΦSiO3/2)单元(其中，Φ代表苯基)的量为0.13mol/100g～0.37mol/100g。

Description

用有机硅树脂密封的光半导体装置
技术领域
本发明涉及一种具有用有机硅树脂固化物密封的光半导体元件的光半导体装置、特别涉及一种发光二极管(LED)装置，具体而言，涉及一种光半导体装置，该光半导体装置由于在有机硅树脂固化物中包含指定量的(ΦSiO3/2)单元(其中，Φ代表苯基)，因而不会发生引线(リ一ド)表面的变色，并且具有优异的耐热冲击性。
背景技术
光半导体装置具备光半导体元件，所述光半导体元件介由芯片接合剂等粘接剂承载于下述引线上，所述引线是由银或含银合金制成的引线、或在铁、铜等制成的基体表面施加了镀银的引线。作为用以保护光半导体元件免受外界侵蚀的包覆材料或密封材料，使用的是有机硅树脂组合物、特别是加成固化型硅橡胶组合物，这是由于，这类有机硅树脂组合物具有优异的耐候性、耐热性、硬度、伸长率等橡胶性质(专利文献1、2)。可是，近年来，因环境中的腐蚀性气体通过这些密封材料侵入到光半导体元件内部而引起的引线变色成为了问题点。
一般而言，有机硅树脂具有高气体透过性。因此，作为用以解决上述变色问题的方法，可考虑用气体透过性低的环氧树脂来代替有机硅树脂的方法，或者是，即使使用有机硅树脂也采用硬质材料的方法。可是，这些树脂的固化物坚硬且容易发生开裂，因而存在可能会损害半导体装置的耐热冲击性的问题。
现有技术文献
专利文献1：日本特开2004-339482号公报
专利文献2：日本特开2005-76003号公报
发明内容
发明要解决的问题
基于上述背景，本发明的目的在于提供一种由有机硅树脂密封的光半导体装置，该装置不会发生引线变色、并且具有优异的耐热冲击性。
解决问题的方法
本发明人为解决上述问题而进行了深入研究，结果发现：通过在密封树脂固化物中包含特定量的(ΦSiO3/2)单元(其中，Φ代表苯基)，可使上述问题得以解决。即，本发明涉及一种光半导体装置，其具备光半导体元件和用来密封该光半导体元件的有机硅树脂组合物的固化物，其中，对该固化物进行固体29Si-DD/MAS分析而求出的(ΦSiO3/2)单元(其中，Φ代表苯基)的量为0.13mol/100g～0.37mol/100g。
发明的效果
本发明的光半导体装置由于采用具有特定量的(ΦSiO3/2)单元的固化物进行密封，因而不仅不会发生引线变色，并且具有优异的耐热冲击性。
附图说明
图1是示出了光半导体装置的一例的立体示意图。
图2是图1所示光半导体装置的平面示意图。
图3是沿图2中的X-X线的该光半导体装置的截面示意图。
图4是固体29Si-DD/MAS的NMR谱图的一例。
符号说明
10光半导体元件
11保护元件
20包封件
21引线
30密封部件
40芯片接合部件
50金属线
60荧光物质
发明的具体实施方式
结合附图对本发明的光半导体装置的一例进行说明。图1是示出了光半导体装置的一例的立体示意图、图2是平面示意图。图3是将图2的光半导体装置沿X-X线切开的截面示意图。光半导体装置具有光半导体元件10、用来承载光半导体元件10的包封件20、以及用来覆盖光半导体元件10的密封部件30。包封件20具备具有导电性的引线21(具体为四个引线：21a、21b、21c及21d)。包封件20具有包括底面和侧面的杯状凹部，引线21的表面露出在其底面上。引线21由银或含银合金制成、或者通过在由铁、铜等制成的基体表面施加镀银而形成。光半导体元件10介由芯片接合部件40(由于为薄层，因此在图3中将其省略)与引线21a接合，并且，介由金属线50a与另一引线21c接合，介由50b与引线21d接合。在另一引线21b上，还可以承载齐纳(Zener，ツエナ一)等保护元件11。作为密封部件30，其包含指定量的(ΦSiO3/2)单元(其中，Φ代表苯基)，上述凹部由该密封部件30填满。密封部件30中还可以含有荧光物质60，该荧光物质60用来吸收来自光半导体元件10的光，并将该光的波长加以改变。
作为光半导体元件10，可使用包含氮化镓(GaN)类半导体的发蓝光的LED芯片、发紫光的LED芯片、激光二极管等。此外，还可以使用通过例如MOCVD法等在基板上形成InN、AlN、InGaN、AlGaN、InGaAlN等氮化物半导体作为发光层得到的光半导体元件。可使用面朝上安装的光半导体元件、倒装式安装的光半导体元件中的任一种。此外，图1～3中示出的光半导体元件10是n侧电极和p侧电极在同一平面上的光半导体元件的例子，但也可以使用一面具有n侧电极、反面具有p侧电极的光半导体元件。
作为包封件20，可以使用与引线21成形为一体的包封件、以及在成型包封件之后通过镀敷等方式设置了引线21作为电路配线的包封件。作为包封件20的凹部的底部形状，可采用平板状等各种形式。作为构成包封件的树脂，优选使用耐光性、耐热性优异的电绝缘性树脂，例如，可以使用聚邻苯二甲酰胺等热塑性树脂、环氧树脂等热固性树脂、玻璃纤维环氧树脂、陶瓷等材料。此外，为了使来自于光半导体元件10的光被有效反射，可以向这些树脂中混合氧化钛等白色颜料等。作为包封件的成形方法，可以采用在将上述引线预先设置在金属模具内之后进行的嵌件成形、注塑成形、挤出成形、传递成形等方法。
引线21要与光半导体元件达成电连接，例如，可以是插入到包封件中的板状引线、形成于玻璃纤维环氧树脂、陶瓷等基板上的导电图案(導電パタ一ン)。作为引线的材料，除了银或含银合金之外，还可以使用在以铜、铁等为主成分的引线的一部分上镀敷有银或含银合金的材料。
密封部件30中还可以含有荧光物质及光漫射材料等。作为荧光物质，只要是能够吸收来自于光半导体元件的光并发出荧光、从而改变光波长的物质即可。优选为选自下组中的至少一种以上荧光体：主要以Eu、Ce等镧系元素激活的氮化物类荧光体或氮氧化物类荧光体，主要以Eu等镧系、Mn等过渡金属系元素激活的碱土金属卤化物磷灰石荧光体、碱土金属硼酸卤化物荧光体、碱土金属铝酸盐荧光体、碱土金属硅酸盐荧光体、碱土金属硫化物荧光体、碱土金属硫代棓酸盐荧光体、碱土金属氮化硅荧光体、锗酸盐荧光体，主要以Ce等镧系元素激活的稀土金属铝酸盐荧光体、稀土金属硅酸盐荧光体，或主要以Eu等镧系元素激活的有机及无机络合物等。更优选使用(Y，Gd)3(Al，Ga)5O12:Ce、(Ca，Sr，Ba)2SiO4:Eu、(Ca，Sr)2Si5N8:Eu、CaAlSiN3:Eu等。
密封部件30不仅可使来自光半导体元件10的光有效透过至外部，还能够保护光半导体元件、金属线等免受外力、尘埃等的侵蚀。除了这些效果之外，本发明的密封部件30还能防止腐蚀性气体向装置内的侵入。由此，可防止因引线的银受到腐蚀而引起其光反射效率的降低。该密封部件由有机硅树脂组合物的固化物形成，对该固化物进行固体29Si-DD/MAS分析而求出的(ΦSiO3/2)单元(其中，Φ为苯基)的量为0.13mol/100g～0.37mol/100g，优选为0.17mol/100g～0.25mol/100g。如果(ΦSiO3/2)单元、即下述“T-Φ单元”的量低于上述下限值，则其抑制引线变色的效果不足，另一方面，如果超过上述上限值，则会导致其耐热冲击性劣化。
在本发明中，按照下述方法求算T-Φ单元量(mol/100g)。
固体29Si-DD/MAS(Dipolar Decoupling/Magic Angle Spinning(偶极去偶/魔角自旋))按下述方式测定：使用核磁共振装置(AVANCE 700，BRUKER公司制造)，将固体试样(聚硅氧烷固化物)约100mg装入到外径4mm的氧化锆制回转器中，在使其以9,000Hz旋转的同时，以30秒钟间隔照射30度脉冲，积分约1000次，由此进行了测定。得到的29Si-DD/MAS谱的一例如图4所示。由上述获得29Si-DD/MAS谱，针对构成试样的所有种类的硅氧烷单元求出了每种硅氧烷单元中所含的硅原子的比例(mol％)。该硅原子的比例与该种硅氧烷单元的比例(mol％)相同。同样地，求出了所有种类的硅氧烷单元的比例(mol％)。然后，分别将求出的各种硅氧烷单元的mol％与其硅氧烷单元的式量[例如，对于T-Φ单元，为130(＝29+77+16×3/2)]相乘，求出了相应种类的硅氧烷单元的质量标准的比。然后，将T-Φ单元的mol％除以对所有种类硅氧烷单元求出的质量比的和，再乘以100，从而求出了T-Φ单元量(mol/100g)。如下表1所示，从原料中的浓度测定4种T-Φ单元的理论量已知的固化物，可以确定，所得结果基本与理论量相符。
[表1]
  试样序号   T-Φ单元理论量(mol/100g)   T-Φ中的Si原子(mol％)   T-Φ单元量测定值(mol/100g)
  1   0.240   27.3   0.238
  2   0.255   28.6   0.248
  3   0.269   32.4   0.273
  4   0.268   32.4   0.271
可通过例如使用包含下述A、B及C成分的组合物来实现本发明的范围的T-Φ单元量。以下，针对各成分进行说明。
A成分包含A-1和A-2成分，
A-1是以下述平均组成式(1)表示的含脂肪族不饱和基团的有机硅树脂，
R1 aR2 bR3 c(OX)dSiO(4-a-b-c-d)/2        (1)
(R1独立地代表甲基、乙基、丙基或环己基、优选甲基，R2代表苯基，R3代表脂肪族不饱和基团，X代表氢原子或碳原子数1～6的烷基，(OX)介由其氧原子与硅相键合，a为0.4～1.6，b为1.6～3.6，c为0.4～0.8，d为0～0.05，且0＜a+b+c+d＜4。)
A-2是以下述式(2)表示的直链状有机聚硅氧烷，该有机聚硅氧烷在25℃下的粘度为10～500,000mPa·s，且在其两末端具有脂肪族不饱和基团。
[化学式1]
Figure GSA00000034156900051
(R4及R5各自独立地代表甲基、乙基、丙基、环己基或苯基，R6代表乙烯基或烯丙基，k、l分别代表0～1,000的整数，且k+l为10～1,000、(l/k+l≤0.5，x代表1～3的整数。)
在代表A-1的式(1)中，R1优选为甲基，R3代表例如乙烯基或烯丙基，X为氢原子或碳原子数1～6的烷基(即，此时OX为烷氧基)。作为碳原子数1～6的烷基，可列举例如甲基、乙基、丙基、丁基、戊基、己基，优选甲基。
式(1)中，如果b低于上述下限值，则其防止引线腐蚀的效果不足，另一方面，如果超过上述上限值，则可能导致固化物的耐热冲击性不良。另外，如果c低于上述范围的下限值，则固化性不足，另一方面，如果超过上述范围的上限值，则会存在不易对粘度进行调节的问题，故非优选。如果d超过上述上限值，则固化物表面会表现出粘性，故非优选。
此外，由凝胶渗透色谱法(GPC)测定的该A-1成分的聚苯乙烯换算重均分子量为500～100,000mPa·s、特别是1,000～10,000mPa·s范围，从组合物的粘度方面考虑，上述分子量为优选范围。
具有上述树脂结构的有机聚硅氧烷通过下述方法合成：将用以构成所述有机聚硅氧烷的各硅氧烷单元的原料氯硅烷化合物或烷氧基硅烷化合物以指定摩尔比组合，并在例如酸存在下进行共水解缩合来合成有机聚硅氧烷。
作为(RSiO3/2)单元、即T单元的原料，可列举MeSiCl3、EtSiCl3、PhSiCl3、丙基三氯硅烷、环己基三氯硅烷等氯硅烷类、与这些氯硅烷类分别对应的甲氧基硅烷类等烷氧基硅烷类等。
此外，作为其它单元的原料，可列举Me2ViSiCl、MeViSiCl2、Ph2ViSiCl、PhViSiCl2等氯硅烷类、与这些氯硅烷类分别对应的甲氧基硅烷类等烷氧基硅烷类等。
作为代表A-2成分的上述式(2)的有机聚硅氧烷，可列举下述结构。
[化学式2]
Figure GSA00000034156900061
[化学式3]
Figure GSA00000034156900062
[化学式4]
Figure GSA00000034156900071
[化学式5]
Figure GSA00000034156900072
[化学式6]
(在上述各式中，k及l分别代表0～1,000的整数，并且是满足10≤k+l≤1,000、优选90≤k+l≤800，同时满足0≤1/(k+l)≤0.5的整数。)
A-1和A-2的质量比为20∶80～80∶20，优选为40∶60～70∶30。
B成分为下述式(3)表示的B-1成分和后述B-2成分的混合物，其中，B-1是直链状有机氢化聚硅氧烷，B-2是支链状有机氢化聚硅氧烷。
[化学式7]
Figure GSA00000034156900074
(R7各自独立地代表甲基、乙基、丙基、环己基或苯基，p、q分别代表0～100的整数，x和y独立地代表0、1、2或3，且p+q在3以上、x+y+p为2以上的整数。)
每1分子该直链状有机氢化聚硅氧烷具有至少2个、优选至少3个、更优选3～10个与硅原子键合的氢原子。每1分子中的硅原子数(即聚合度)优选为5～500、更优选为5～300。作为该直链状有机氢化聚硅氧烷，可列举下述结构。
[化学式8]
Figure GSA00000034156900081
(其中，n＝1～100的整数。)
[化学式9]
Figure GSA00000034156900082
(其中，m＝1～100的整数，n＝1～100的整数。)
[化学式10]
Figure GSA00000034156900083
(Ph代表苯基。)
每1分子B-2支链状有机氢化聚硅氧烷中具有至少1个支链、优选1～20个支链，同时，每1分子B-2支链状有机氢化聚硅氧烷中具有至少2个、优选至少3个、更优选3～10个与硅原子键合的氢原子。支链由所述的T单元和/或Q单元形成。分子的整体结构可以是带支链的链状或环状，还可以是链状和环状的组合。每1分子中的硅原子数(即聚合度)优选为3～100、更优选为3～10。作为所述B-2成分，可列举下述结构。
[化学式11]
Figure GSA00000034156900084
[化学式12]
[化学式13]
Figure GSA00000034156900092
[化学式14]
Figure GSA00000034156900093
B-1直链状有机氢化聚硅氧烷/B-2支链状有机氢化聚硅氧烷的质量比为70/30～98/2、优选为90/10～97/3。如果该质量比过小，则防止引线变色的效果不足，如果该质量比过大，则可能导致固化物出现粘性(发粘(べたつき))。
关于B成分的有机氢化聚硅氧烷的混合量，优选其所具有的与硅原子键合的氢原子相对于A成分中的脂肪族不饱和基团，以摩尔比计为0.5～4.0、更优选为0.7～2.0。
C成分是为了促进A成分和B成分的加成固化反应而混合的铂族金属类催化剂。作为该催化剂，包括铂类、钯类、铑类，如果从成本等方面考虑，可列举铂、铂黑、氯铂酸等铂类催化剂，如H2PtCl6·mH2O、K2PtCl6、KHPtCl6·mH2O、K2PtCl4、K2PtCl4·mH2O、PtO2·mH2O(其中，m为1以上的整数)，以及这些催化剂与烯烃等烃、醇、或含乙烯基的有机聚硅氧烷形成的络合物等。这些催化剂可单独使用，也可以将2种以上组合使用。
作为C成分的混合量，只要是用于固化的有效量即可，通常，相对于上述A、B成分的总量，C成分的混合量以铂族金属的质量计，优选为0.1～500ppm，尤其优选在0.5～100ppm范围。
除了上述A～C成分以外，还可以以不破坏本发明目的的范围的用量混合公知的各种添加剂、如无机填充剂、粘接助剂、固化抑制剂等。
作为无机填充剂，可列举气相二氧化硅、气相二氧化钛等增强性无机填充剂；碳酸钙、硅酸钙、二氧化钛、氧化铁、碳黑、氧化锌等非增强性无机填充剂等。相对于A～C成分的总量100质量份，可适当混合的上述无机填充剂的总量可以在0～600质量份范围。
不过，对于要求固化物具有透明性的情况，在不破坏透明性的范围内，优选使用诸如AEROSIL这样的超微细二氧化硅。由于与固化后的有机硅树脂组合物具有相同折射率的无机填充剂可以用来提高机械强度、调节膨胀系数，因此可适当混合这类无机填充剂。
作为粘接助剂，可列举例如硅原子数为4～50、优选为4～20个左右、且每1分子中含有至少2种、优选2种或3种选自下述官能团的直链状或环状的有机硅氧烷低聚物，所述官能团为：键合在硅原子上的氢原子(SiH基)、键合在硅原子上的链烯基(例如Si-CH＝CH2基)、烷氧基甲硅烷基(例如三甲氧基甲硅烷基)、环氧基(例如环氧丙氧基丙基、3，4-环氧基环己基乙基)；下述通式(4)表示的有机氧基甲硅烷基改性的异氰尿酸酯化合物和/或其水解缩合物(有机硅氧烷改性的异氰尿酸酯化合物)等。
[化学式15]
[式(4)中，R8为下述式(5)表示的有机基团、或含有脂肪族不饱和键的一价烃基，且R8中的至少1个为式(5)表示的有机基团。
[化学式16]
Figure GSA00000034156900112
(式(5)中，R9为氢原子或碳原子数1～6的一价烃基，v为1～6、优选1～4的整数。)]
作为含有脂肪族不饱和键的一价烃基，可列举乙烯基、烯丙基、丙烯基、异丙烯基、丁烯基、异丁烯基、戊烯基、己烯基等碳原子数2～8、特别是2～6的烯基，环己烯基等碳原子数6～8的环烯基等。此外，作为式(5)中R9表示的一价烃基，可列举例如甲基、乙基、丙基、异丙基、丁基、异丁基、叔丁基、戊基、己基、环己基等烷基、作为上述R8所列举的烯基及环烯基、以及苯基等芳基等碳原子数1～8、特别是1～6的一价烃基，优选烷基。
此外，作为粘接助剂，可列举1-环氧丙氧基丙基-1，3，5，7-四甲基环四硅氧烷、1，5-环氧丙氧基丙基-1，3，5，7-四甲基环四硅氧烷、1-环氧丙氧基丙基-5-三甲氧基甲硅烷基乙基-1，3，5，7-四甲基环四硅氧烷、以及以下式表示的化合物。
[化学式17]
Figure GSA00000034156900121
(式中，g和h彼此独立地代表0～100范围的整数，且g+h满足2～50、优选满足4～20。)
[化学式18]
Figure GSA00000034156900122
[化学式19]
Figure GSA00000034156900131
在上述有机硅化合物中，从能够为所得固化物带来非常良好的粘接性方面考虑，优选在每分子中具有与硅原子键合的烷氧基和链烯基、或每分子中具有与硅原子键合的烷氧基和与硅原子键合的氢原子(SiH基)。
相对于A成分100质量份，粘接助剂的混合量通常在10质量份以下、优选0.1～8质量份、更优选0.2～5质量份左右。如果混合量过多，则会给固化物的硬度带来不良影响，或者，可能导致固化物表面粘性增强。
固化抑制剂用于在常温下将组合物以良好的保存性保存于液态。作为该固化抑制剂，可列举例如四甲基四乙烯基环四硅氧烷等高含量含有乙烯基的有机聚硅氧烷、三烯丙基异氰尿酸酯、马来酸烷基酯、乙炔醇类及其硅烷改性物及硅氧烷改性物、氢过氧化物、四甲基乙二胺、苯并三唑、以及上述固化抑制剂的混合物。相对于A成分100质量份，添加的固化抑制剂的量通常为0.001～1.0质量份、优选0.005～0.5质量份。
通过将上述各成分混合均匀，可制备出上述有机硅树脂组合物。通常，为了防止在保存时发生固化，可通过将A成分和B成分分成2种溶液保存、在使用时再将2种溶液混合来进行固化。也可以通过添加少量固化抑制剂而制备成1种溶液。虽然可以在常温下使该组合物发生固化，但通常是利用固化抑制剂来抑制常温下的固化、在必要时再进行加热使其立即固化来进行制备。
也可以使用该组合物利用例如分配器(デイスペンス)进行涂布来涂敷在光半导体元件上。就操作性而言，分成双液形式保管后使用可提高生产性。作为混合方式，在使用前利用混合器、螺旋搅拌器等混合装置进行直接混合后，将该混合物注入到成形装置中进行成形。需要说明的是，对于固化条件并无特殊限制，可根据有机硅树脂组合物的固化性进行选择，可以在40℃～180℃的温度下使其固化30秒钟～4小时。
实施例
以下，结合实施例对本发明进行说明。
[合成例1]A-1成分的合成
对加热至80℃的水250g及甲苯100g的混合溶剂进行搅拌，同时用1小时向其中滴加苯基三氯硅烷148.1g(70mol％)和二甲基乙烯基氯硅烷36.15g(30mol％)的混合物。滴加结束后，通过使其进行2小时回流而得到了共水解缩合物的甲苯溶液。静置该溶液，冷却至室温并除去水层之后，对甲苯层进行水洗、直至洗涤废水达到中性。向得到的有机聚硅氧烷的甲苯溶液(有机层1)中添加KOH(以当量计，相当于氯成分的20倍)，并进行了2小时回流。反应后，用三甲基氯硅烷进行中和，并进行水洗直至甲苯层达到中性(有机层2)。使用无水硫酸钠对有机层2进行脱水之后，过滤除去杂质。从所得滤液中除去甲苯(减压下)，得到了固态树脂(以下称其为树脂A-1a)。
[合成例2]A-1成分的合成
对加热至80℃的水250g及甲苯100g的混合溶剂进行搅拌，同时用1小时向其中滴加苯基三氯硅烷116.3g(55mol％)、二甲基二氯硅烷19.35g(15mol％)及甲基乙烯基二氯硅烷42.3g(30mol％)的混合物。滴加结束后，通过使其进行2小时回流而得到了共水解缩合物的甲苯溶液。静置该溶液，冷却至室温并除去水层之后，对甲苯层进行水洗、直至洗涤废水达到中性。向得到的有机聚硅氧烷的甲苯溶液(有机层1)中添加KOH(以当量计，相当于氯成分的20倍)，并进行了2小时回流。反应后，用三甲基氯硅烷进行中和，并进行水洗直至甲苯层达到中性(有机层2)。使用无水硫酸钠对有机层2进行脱水之后，过滤除去杂质。从所得滤液中除去甲苯(减压下)，得到了固态树脂(以下称其为树脂A-1b)。
[合成例3]粘接助剂的合成
在加料3-环氧丙氧基丙基甲基二甲氧基硅烷(信越化学制造，KBM-402)67.7g、二甲氧基二甲基硅烷370g、乙烯基甲基二甲氧基硅烷20g、异丙醇3,000ml后，添加氢氧化四甲基铵的25％水溶液25g、水270g，在室温下搅拌3小时。反应结束后，向体系内添加甲苯1,000ml，并用磷酸二氢钠水溶液进行了中和。采用分液漏斗，用热水对残渣进行了清洗。减压下除去甲苯，得到了目标粘接助剂。
[比较例1]
将下述各组分利用加温至60℃的行星式混合器进行充分搅拌，制备了比较组合物1。其中，所述各组分为：合成例2的含乙烯基的树脂(树脂A-1b)23g、下述(6)表示的25℃下粘度为4,000mPa·s的直链状乙烯基硅氧烷70g；下述式(7)表示的有机氢化硅氧烷11.8g；下述式(8)表示的有机氢化硅氧烷3g；作为反应抑制剂的乙炔醇类化合物乙炔基环己醇0.2g及氯铂酸的辛醇改性溶液(铂催化剂)0.1g。将该比较组合物浇注到施加了特氟隆涂层的深2mm、长17cm、宽13cm的金属模具中，并在150℃下固化4小时，得到了固化物。其中，相对于上述含乙烯基的树脂及上述直链状乙烯基硅氧烷中的脂肪族不饱和基团，上述有机氢化聚硅氧烷中与硅原子键合的氢原子以摩尔比计为1.9。
[化学式20]
Figure GSA00000034156900151
[化学式21]
Figure GSA00000034156900152
[化学式22]
Figure GSA00000034156900161
[实施例1]
除了分别将树脂A-1b的量变更为31g、将上述式(6)表示的直链状乙烯基硅氧烷的量变更为36g、并将上述式(7)表示的有机氢化硅氧烷的量变更为14.1g以外，按照与比较例1相同的方法得到了组合物1。利用与比较例1相同的方法对该组合物1进行加热，得到了固化物。其中，相对于上述含乙烯基的树脂及上述直链状乙烯基硅氧烷中的脂肪族不饱和基团，上述有机氢化聚硅氧烷中与硅原子键合的氢原子以摩尔比计为1.5。
[实施例2]
除了使用100g合成例1的含乙烯基的树脂(树脂A-1a)代替树脂A-1b、并分别将上述式(6)表示的直链状乙烯基硅氧烷的量变更为100g、将上述式(7)表示的有机氢化硅氧烷的量变更为79g以外，按照与比较例1相同的方法得到了组合物2。利用与比较例1相同的方法对该组合物2进行加热，得到了固化物。其中，相对于上述含乙烯基的树脂及直链状乙烯基硅氧烷中的脂肪族不饱和基团，上述有机氢化聚硅氧烷中与硅原子键合的氢原子以摩尔比计为2.4。
[实施例3]
除了使用60g合成例1的树脂A-1a代替树脂A-1b、并分别将上述式(6)表示的直链状乙烯基硅氧烷的量变更为40g、将上述式(7)表示的有机氢化硅氧烷的量变更为32.4g、将上述式(8)表示的有机氢化硅氧烷的量变更为2.3g以外，按照与比较例1相同的方法得到了组合物3。利用与比较例1相同的方法对该组合物3进行加热，得到了固化物。其中，相对于上述含乙烯基的树脂及直链状乙烯基硅氧烷中的脂肪族不饱和基团，上述有机氢化聚硅氧烷中与硅原子键合的氢原子以摩尔比计为1.7。
[实施例4]
除了使用71.4g合成例1的树脂A-1a代替树脂A-1b、并分别将上述式(6)表示的直链状乙烯基硅氧烷的量变更为30g、将上述式(7)表示的有机氢化硅氧烷的量变更为43.2g、将上述式(8)表示的有机氢化硅氧烷的量变更为1.5g以外，按照与比较例1相同的方法得到了组合物4。利用与比较例1相同的方法对该组合物4进行加热，得到了固化物。其中，相对于上述含乙烯基的树脂及直链状乙烯基硅氧烷中的脂肪族不饱和基团，上述有机氢化聚硅氧烷中与硅原子键合的氢原子以摩尔比计为2.0。
[实施例5]
除了使用76.9g合成例1的树脂A-1a代替树脂A-1b、并分别将上述式(6)表示的直链状乙烯基硅氧烷的量变更为40g、将上述式(7)表示的有机氢化硅氧烷的量变更为34.44g、将上述式(8)表示的有机氢化硅氧烷的量变更为1.5g以外，按照与比较例1相同的方法得到了组合物5。利用与比较例1相同的方法对该组合物5进行加热，得到了固化物。其中，相对于上述含乙烯基的树脂及直链状乙烯基硅氧烷中的脂肪族不饱和基团，上述有机氢化聚硅氧烷中与硅原子键合的氢原子以摩尔比计为1.5。
[比较例2]
除了使用40.1g合成例1的树脂A-1a代替树脂A-1b、并将上述式(8)表示的有机氢化硅氧烷的量变更为15.2g以外，按照与比较例1相同的方法得到了比较组合物2。利用与比较例1相同的方法对该比较组合物2进行加热，得到了固化物。其中，相对于上述含乙烯基的树脂及直链状乙烯基硅氧烷中的脂肪族不饱和基团，上述有机氢化聚硅氧烷中与硅原子键合的氢原子以摩尔比计为1.2。
对实施例及比较例的各组合物及其固化物进行了下述测定。其结果如表2所示。
1)组合物的粘度(25℃)
利用BL型旋转粘度计进行了测定。
2)固化物的机械物性
按照JIS K 6301测定了拉伸强度(0.2mm厚)、硬度(使用A型弹簧试验机进行了测定)及伸长率(0.2mm厚)。
3)T-Φ单元量的测定
使用核磁共振装置(AVANCE 700，BRUKER公司制造)，将从固化物上削下的试样约100mg装入到外径4mm的氧化锆制回转器中，在使其以9,000Hz旋转的同时，以30秒钟间隔照射30度脉冲，并积分约1000次，进行了固体29Si-DD/MAS测定。
4)半导体装置回流焊试验
通过使半导体装置在回流焊炉中通过，进行了用来调查有无开裂的回流焊试验。作为半导体装置的包封件，使用了型号为NSSW108(日亚化学工业株式会社制造)的制品。光半导体元件由芯片接合剂承载于包封件凹部内的引线框上，并通过金属线与电极相连。向该凹部中注入各组合物，并以150℃/4小时的条件进行固化，从而对光半导体元件及金属线进行了密封。使10个由此得到的半导体装置在最高温度为260℃的IR回流焊炉中通过之后，用显微镜观察(倍率×10)对开裂的发生进行了观察。在表2中，○代表未观察到开裂、×代表观察到了开裂。
5)引线的变色试验
按照与上述4)相同的方法制作了10个光半导体装置，并将这10个装置在25℃的密闭容器中、H2S气体0.1ppm的气体氛围内保存了1个月，然后进行了光度测定。以装置刚制成时的光度为100％，求出了光度保持率。该保持率越高，则代表变色越少。
[表2]
  比较例1   实施例1   实施例2   实施例3   实施例4   实施例5   比较例2
 组合物的粘度(25℃，Pa·s)   7.4   8.0   3.0   2.8   2.3   14.8   4.0
 硬度(A型)   48   67   48   39   55   52   58
 T-Φ量(mol/100g)   0.109   0.145   0.216   0.269   0.294   0.334   0.381
 伸长率(％)   70   60   40   60   45   80   25
 拉伸强度(MPa)   1.2   2.2   1.1   1.0   2.5   3.0   1.1
 引线变色试验   88   92   95   95   96   97   94
 半导体装置回流焊试验   ○   ○   ○   ○   ○   ○   ×
如表2所示，具有指定T-Φ量的密封材料的实施例1～5的装置，其光度保持率在90％以上，且回流焊试验中也未发生开裂，显示出了良好的气体屏蔽性和耐回流焊性。与此相对，密封材料的T-Φ量过少的比较例1的装置因发生了引线腐蚀而导致光度保持率降低，而T-Φ量过高的比较例2的装置在回流焊试验中发生了开裂。
工业实用性
本发明的光半导体装置可被用于有光度保持方面要求的各种用途，例如液晶显示器、移动电话或信息终端等的背光灯、LED显示器及室内外照明等。此外，在本发明中使用的有机硅树脂密封材料不仅可用于LED、激光二极管等发光元件，还能够用于有防止腐蚀要求的光敏器件、LSI、IC等光半导体元件以外的光半导体元件的密封。

Claims (4)

1.一种光半导体装置，其具备光半导体元件和用来密封该光半导体元件的有机硅树脂组合物的固化物，其中，对该固化物进行固体29Si-DD/MAS分析而求出的ΦSiO3/2单元的量为0.13mol/100g～0.37mol/100g，在ΦSiO3/2单元中，Φ代表苯基，其中，所述有机硅树脂组合物中包含下述成分A、B和C： 
A成分为含有脂肪族不饱和基团的有机聚硅氧烷，其包含A-1和A-2， 
A-1为以下述平均组成式(1)表示的含脂肪族不饱和基团的有机硅树脂， 
R1 aR2 bR3 c(OX)dSiO(4-a-b-c-d)/2    (1) 
式(1)中，R1独立地代表甲基、乙基、丙基或环己基，R2代表苯基，R3代表脂肪族不饱和基团，X代表氢原子或碳原子数1～6的烷基，(OX)介由其氧原子与硅相键合，a为0.4～1.6，b为1.6～3.6，c为0.4～0.8，d为0～0.05，且0＜a+b+c+d＜4： 
A-2为以下述式(2)表示的直链状有机聚硅氧烷，该有机聚硅氧烷在25℃下的粘度为10～500,000mPa·s，且在其两末端具有脂肪族不饱和基团， 
Figure FSB0000112493870000011
式(2)中，R4及R5各自独立地代表甲基、乙基、丙基、环己基或苯基，R6代表乙烯基或烯丙基，k、l分别代表0～1,000的整数，且k+1为10～1,000、(l/k+l)≤0.5，x代表1～3的整数； 
B成分为有机氢化聚硅氧烷，其包含B-1和B-2， 
B-1为以下述式(3)表示的直链状有机氢化聚硅氧烷， 
Figure FSB0000112493870000012
式(3)中，R7各自独立地代表甲基、乙基、丙基、环己基或苯基，p、q分别代表0～100的整数，x和y独立地代表0、1、2或3，且p+q在3以上、x+y+p为2以上的整数； 
B-2为支链状有机氢化聚硅氧烷； 
C为铂族金属类催化剂。 
2.根据权利要求1所述的光半导体装置，其中，ΦSiO3/2单元的量为0.17mol/100g～0.25mol/100g，在ΦSiO3/2单元中，Φ代表苯基。 
3.根据权利要求1或2所述的光半导体装置，其中，所述光半导体装置为发光二极管。 
4.根据权利要求1所述的光半导体装置，其中，所述组合物中还含有粘接助剂。 
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