CN108009062A - 一种企业级ssd系统掉电功能测试方法、装置及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种企业级SSD系统掉电功能测试方法，包括：MCU接收掉电功能测试指令；MCU根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制SSD系统的上下电，进行掉电功能测试；其中，SSD系统包括MCU和电控开关。可见，该方法通过增加SSD系统内部的MCU对主供电电源的开关控制，以通过MCU控制主供电电源的通断，进而不使用外加测试设备，实现SSD系统掉电功能的测试，且由于每个SSD系统均有各自独立的MCU，则可同时批量进行掉电功能测试，效率较高，成本较低。此外，本发明还公开了一种企业级SSD系统掉电功能测试装置、系统及一种计算机可读存储介质，同样具有上述有益效果。

Description

一种企业级SSD系统掉电功能测试方法、装置及系统

技术领域

本发明涉及存储技术领域，特别涉及一种企业级SSD系统掉电功能测试方法、装置、系统及一种计算机可读存储介质。

背景技术

企业级SSD不同于消费级SSD，其对于性能、数据的可靠性的要求更高。因此，企业级SSD一般在进行系统设计时，均会采用DRAM进行缓存数据，从而提高产品的读写性能，进而带来更好的用户体验。

然而，DRAM属于易失性存储介质，在系统异常掉电时，DRAM中的数据就会随着掉电而丢失。一般地，企业级SSD系统均会支持掉电保护功能，即，系统在异常掉电时，备电电路可以支撑SSD系统将DRAM中的缓存刷新到NAND Flash中，从而保证再次上电时，SSD可以正常启动并且没有丢失任何数据。

目前，为了验证在异常情况下掉电保护功能的可靠性，需要外部专业的测试工具来对SSD进行成百上千次的频繁上下电、热插拔模拟操作，使得测试成本增加。

发明内容

本发明的目的是提供一种企业级SSD系统掉电功能测试方法、装置、系统及一种计算机可读存储介质，以不使用外加测试设备，实现企业级SSD系统的掉电功能的测试，且可在同时批量测试，效率较高，成本较低。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种企业级SSD系统掉电功能测试方法，包括：

MCU接收掉电功能测试指令；

所述MCU根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制所述SSD系统的上下电，进行掉电功能测试；

其中，所述SSD系统包括所述MCU和所述电控开关。

可选地，所述MCU根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制所述SSD系统的上下电，进行掉电功能测试，包括：

所述MCU根据预存储的单次上下电时间参数和循环次数参数，通过控制所述主供电电源的电子保险的使能管脚，控制所述电子保险的通断，以控制所述主供电电源的通断，进行掉电功能测试；

其中，当所述电子保险处于导通状态时，所述SSD系统正常通电，当所述电子保险处于关断状态，所述SSD系统由掉电保护电源供电。

可选地，在所述MCU接收掉电功能测试指令之前，还包括：

MCU接收用户设置的所述单次上下电时间参数和所述循环次数参数，并将所述单次上下电时间参数和所述循环次数参数进行持久化存储。

一种企业级SSD系统掉电功能测试装置，集成于SSD系统的MCU端，包括：

指令接收模块，用于接收掉电功能测试指令；

上下电控制模块，用于根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制所述SSD系统的上下电，进行掉电功能测试。

可选地，所述上下电控制模块包括：

使能管脚通断控制子模块，用于根据预存储的单次上下电时间参数和循环次数参数，通过控制所述主供电电源的电子保险的使能管脚，控制所述电子保险的通断，以控制所述主供电电源的通断，进行掉电功能测试；

其中，当所述电子保险处于导通状态时，所述SSD系统正常通电，当所述电子保险处于关断状态，所述SSD系统由掉电保护电源供电。

可选地，还包括：

参数接收模块，用于接收用户设置的所述单次上下电时间和所述循环次数，并将所述单次上下电时间参数和所述循环次数参数进行持久化存储。

一种企业级SSD系统，包括：MCU、电控开关、DC-DC、DRAM、ASIC及掉电保护电源；

所述MCU、所述DRAM和所述ASIC均通过DC-DC与所述电控开关的第一端相连，所述MCU直接与所述电控开关的第二端相连，所述电控开关的第三端接主供电电源，所述掉电保护电源并接于所述电控开关的第二端和第三端；

所述MCU用于根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制所述SSD系统的上下电，进行掉电功能测试。

可选地，所述电控开关为电子保险；

所述MCU具体根据预存储的单次上下电时间参数和循环次数参数，通过控制所述主供电电源的电子保险的使能管脚，控制所述电子保险的通断，以控制所述主供电电源的通断，进行掉电功能测试；

所述ASIC用于根据所述SSD系统的上下电，记录测试日志信息；

其中，当所述电子保险处于导通状态时，所述SSD系统正常通电，当所述电子保险处于关断状态，所述SSD系统由掉电保护电源供电。

一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有企业级SSD系统掉电功能测试程序，所述企业级SSD系统掉电功能测试程序被SSD系统的MCU执行时实现如上述任一项所述企业级SSD系统掉电功能测试方法的步骤。

本发明提供的一种企业级SSD系统掉电功能测试方法，包括：MCU接收掉电功能测试指令；MCU根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制SSD系统的上下电，进行掉电功能测试；其中，SSD系统包括MCU和电控开关。可见，该方法通过增加SSD系统内部的MCU对主供电电源的开关控制，以通过MCU控制主供电电源的通断，进而不使用外加测试设备，实现SSD系统掉电功能的测试，且由于每个SSD系统均有各自独立的MCU，则可同时批量进行掉电功能测试，效率较高，成本较低。此外，本发明提供的一种企业级SSD系统掉电功能测试装置、系统及一种计算机可读存储介质同样具有上述有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种企业级SSD系统掉电功能测试方法的具体实施方式的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的企业级SSD系统掉电功能测试装置的结构示意框图；

图3为本发明实施例提供的企业级SSD系统的供电简要示意框图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考图1，图1为本发明实施例提供的一种企业级SSD系统掉电功能测试方法的具体实施方式的流程示意图，该方法包括以下步骤：

步骤101、MCU接收掉电功能测试指令。

步骤102、MCU根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制SSD系统的上下电，进行掉电功能测试；其中，SSD系统包括MCU和电控开关。

可以理解，上述测试参数可以具体包括但不限于单次上下电时间参数和循环次数参数。上述电控开关可以具体为但不限于电子保险，该电控开关为主供电电源的控制开关，通过该电控开关的通断，主供电电源也会相应的通断。

在一些实施方式中，步骤102可以具体为：MCU根据预存储的单次上下电时间参数和循环次数参数，通过控制主供电电源的电子保险的使能管脚，控制电子保险的通断，以控制主供电电源的通断，进行掉电功能测试；其中，当电子保险处于导通状态时，SSD系统正常通电，当电子保险处于关断状态，SSD系统由掉电保护电源供电。

具体地，当电子保险的使能管脚达到规定的电压后，例如，高电平，则使能管脚使能，电子保险处于导通状态，此时，SSD系统内部的相应模块的供电由主供电电源通过该电子保险供给；当电子保险的使能管脚被拉低，例如，大概降为0V时，电子保险处于关断状态，此时，整个SSD系统掉电，没有外部主供电电源供电，SSD系统内部的各个模块则有系统的掉电保护电源供电。

MCU预先设定的单次上下电的时间间隔以及上下电次数等测试参数，通过控制电子保险的使能管脚，以控制外部主供电电源的通断，进而模拟上下电过程，这样，即可以在不利用外部测试设备，不增加额外的元器件。通过增加MCU对电子保险的使能管脚控制，即可实现企业级SSD系统的上下电测试。

测试参数可以预先存储的，也可以是用户实时配置的，故在一些实施方式中，在上述MCU接收掉电功能测试指令之前，还可以包括：MCU接收用户设置的单次上下电时间参数和循环次数参数，并将单次上下电时间参数和循环次数参数进行持久化存储。

具体地，用户可以SSD系统的MCU外接的Debug接口，建立PC端与MCU间的通信，然后通过PC端设置SSD供电的上下电时间间隔和次数，MCU端接收到用户所设置的测试参数后，会将这些测试参数进行持久化存储。

在测试完成后，可以通过PC端查看SSD系统的ASIC的Debug接口的打印信息，即可获得所需的测试数据，通过查看测试日志数据，即可判断出该SSD系统是否存在异常数据，得出测试结果。

本实施例中，该方法通过增加SSD系统内部的MCU对主供电电源的开关控制，以通过MCU控制主供电电源的通断，进而不使用外加测试设备，实现SSD系统掉电功能的测试，且由于每个SSD系统均有各自独立的MCU，则可同时批量进行掉电功能测试，效率较高，成本较低。

下面对本发明实施例提供的企业级SSD系统掉电功能测试装置进行介绍，下文描述的企业级SSD系统掉电功能测试装置与上文描述的企业级SSD系统掉电功能测试方法可相互对应参照。

请参考图2，图2为本发明实施例提供的企业级SSD系统掉电功能测试装置的结构示意框图，该装置具体集成于SSD系统的MCU端，该装置包括：

指令接收模块100，用于接收掉电功能测试指令；

上下电控制模块200，用于根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制SSD系统的上下电，进行掉电功能测试。

在一些实施方式中，上下电控制模块200包括：

使能管脚通断控制子模块，用于根据预存储的单次上下电时间参数和循环次数参数，通过控制主供电电源的电子保险的使能管脚，控制电子保险的通断，以控制主供电电源的通断，进行掉电功能测试；

其中，当电子保险处于导通状态时，SSD系统正常通电，当电子保险处于关断状态，SSD系统由掉电保护电源供电。

在一些实施方式中，该装置还可以包括：

参数接收模块，用于接收用户设置的单次上下电时间和循环次数，并将单次上下电时间参数和循环次数参数进行持久化存储。

本实施例中，通过指令接收模块100，接收掉电功能测试指令，通过上下电控制模块200，根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制SSD系统的上下电，进行掉电功能测试。这样，通过增加SSD系统内部的MCU对主供电电源的开关控制，以通过MCU控制主供电电源的通断，进而不使用外加测试设备，实现SSD系统掉电功能的测试，且由于每个SSD系统均有各自独立的MCU，则可同时批量进行掉电功能测试，效率较高，成本较低。

本发明实施例提供一种企业级SSD系统，参见图3示出的企业级SSD系统的供电简要示意框图，该系统可以包括：MCU31、电控开关32、DC-DC33、DRAM34、ASIC35及掉电保护电源36；

MCU、DRAM和ASIC均通过DC-DC与电控开关的第一端相连，MCU直接与电控开关的第二端相连，电控开关的第三端接主供电电源，掉电保护电源并接于电控开关的第二端和第三端；

MCU用于根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制SSD系统的上下电，进行掉电功能测试。

其中，当电子保险处于导通状态时，SSD系统正常通电，当电子保险处于关断状态，SSD系统由掉电保护电源供电。

可以理解，该电控开关为电子保险eFuse，此时，MCU具体根据预存储的单次上下电时间参数和循环次数参数，通过控制主供电电源的电子保险的使能管脚，控制电子保险的通断，以控制主供电电源的通断，进行掉电功能测试；ASIC用于根据SSD系统的上下电，记录测试日志信息。这样，与MCU端相连的PC端即可查看ASIC的日志信息，查看掉电测试数据是否存在异常。

具体地，SSD内部经过电子保险eFuse后，通过开关电源DC-DC等电源模块，转换为相应的电压供内部各芯片工作时使用。正常供电使用时，SW1处于断开状态，即整个SSD内部供电由外部Host的12V提供，当外部供电12V掉电时，SW1关闭，即掉电保护模块供电给SSD系统，以供DRAM中的缓存数据下发到Nand Flash中，以便下次上电时没有数据丢失的情况发生

外部正常供电的时候，MCU的供电有两种方式，12V通过DC-DC转换供给MCU和外部Host直接3.3V_AUX供电，因而在12V掉电的时候，3.3V_AUX有电，MCU还是可以正常工作的；故可以通过MCU控制eFuse的EN管脚，实现对SSD系统的上下电控制

需要说明，本实施例与上述两个实施例的相似之处可相互参照，在此不再赘述。

本实施例提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有企业级SSD系统掉电功能测试程序，企业级SSD系统掉电功能测试程序被SSD系统的MCU执行时实现如上述任一项企业级SSD系统掉电功能测试方法的步骤。

可以理解，该计算机可读存储介质具体可以设置于SSD系统内部，更具体地，也可以设置于MCU内部。

需要说明，本实施例与上述各个实施例之间的相似之处可相互参照，在此不再赘述。

说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

以上对本发明所提供的企业级SSD系统掉电功能测试方法、装置、系统及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (9)

1.一种企业级SSD系统掉电功能测试方法，其特征在于，包括：

MCU接收掉电功能测试指令；

所述MCU根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制所述SSD系统的上下电，进行掉电功能测试；

其中，所述SSD系统包括所述MCU和所述电控开关。

2.根据权利要求1所述的企业级SSD系统掉电功能测试方法，其特征在于，所述MCU根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制所述SSD系统的上下电，进行掉电功能测试，包括：

所述MCU根据预存储的单次上下电时间参数和循环次数参数，通过控制所述主供电电源的电子保险的使能管脚，控制所述电子保险的通断，以控制所述主供电电源的通断，进行掉电功能测试；

其中，当所述电子保险处于导通状态时，所述SSD系统正常通电，当所述电子保险处于关断状态，所述SSD系统由掉电保护电源供电。

3.根据权利要求1或2所述的企业级SSD系统掉电功能测试方法，其特征在于，在所述MCU接收掉电功能测试指令之前，还包括：

MCU接收用户设置的所述单次上下电时间参数和所述循环次数参数，并将所述单次上下电时间参数和所述循环次数参数进行持久化存储。

4.一种企业级SSD系统掉电功能测试装置，其特征在于，集成于SSD系统的MCU端，包括：

指令接收模块，用于接收掉电功能测试指令；

上下电控制模块，用于根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制所述SSD系统的上下电，进行掉电功能测试。

5.根据权利要求4所述的企业级SSD系统掉电功能测试装置，其特征在于，所述上下电控制模块包括：

使能管脚通断控制子模块，用于根据预存储的单次上下电时间参数和循环次数参数，通过控制所述主供电电源的电子保险的使能管脚，控制所述电子保险的通断，以控制所述主供电电源的通断，进行掉电功能测试；

其中，当所述电子保险处于导通状态时，所述SSD系统正常通电，当所述电子保险处于关断状态，所述SSD系统由掉电保护电源供电。

6.根据权利要求4或5所述的企业级SSD系统掉电功能测试装置，其特征在于，还包括：

参数接收模块，用于接收用户设置的所述单次上下电时间和所述循环次数，并将所述单次上下电时间参数和所述循环次数参数进行持久化存储。

7.一种企业级SSD系统，其特征在于，包括：MCU、电控开关、DC-DC、DRAM、ASIC及掉电保护电源；

所述MCU、所述DRAM和所述ASIC均通过DC-DC与所述电控开关的第一端相连，所述MCU直接与所述电控开关的第二端相连，所述电控开关的第三端接主供电电源，所述掉电保护电源并接于所述电控开关的第二端和第三端；

所述MCU用于根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制所述SSD系统的上下电，进行掉电功能测试。

8.根据权利要求7所述的企业级SSD系统，其特征在于，所述电控开关为电子保险；

所述MCU具体根据预存储的单次上下电时间参数和循环次数参数，通过控制所述主供电电源的电子保险的使能管脚，控制所述电子保险的通断，以控制所述主供电电源的通断，进行掉电功能测试；

所述ASIC用于根据所述SSD系统的上下电，记录测试日志信息；

其中，当所述电子保险处于导通状态时，所述SSD系统正常通电，当所述电子保险处于关断状态，所述SSD系统由掉电保护电源供电。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有企业级SSD系统掉电功能测试程序，所述企业级SSD系统掉电功能测试程序被SSD系统的MCU执行时实现如权利要求1至3任一项所述企业级SSD系统掉电功能测试方法的步骤。